Przedmiotem wynalazku jest uklad fotoelektryczny wykrywania barwy, nalezacy do dziedziny techniki pomiaru barwy za pomoca elektrycznych czujników promieniowania.Stan techniki. Znane sa uklady fotoelektryczne wykrywania barwy zawierajace fotoelementy uczulone na rózne zakresy widma, na przyklad za pomoca filtrów optycznych i polaczone z elementem porównawczym.Uklad taki znany jest na przyklad z polskiego opisu patentowego nr 78 232 przedstawiajacego absorpcjometr, w którym swiatlo przechodzi przez badana substancje i pada na fotoelementy uczulone na rózne zakresy widma. Za pomoca tego absorpcjometru okresla sie zabarwienie badanej substancji, a zaklócenia wynikajace ze zmian natezenia oswietlenia, na przyklad wskutek zmetnienia badanej substancji lub obecnosci w niej pecherzyków powietrza, eliminuje sie na drodze elektrycznej.Te znane uklady nie zapewniaja jednak dokladnosci pomiaru przy zastosowaniu prostych ukladów elektrycznych porównywania sygnalów z fotoelementów.Jedna z przyczyn bledów pomiaru jest fakt, ze fotoelementy uczulone na rózne zakresy widma maja na ogól niejednakowe wspólczynniki proporcjonalnosci miedzy natezeniem oswietlenia a dawanym sygnalem. Na przyklad, fotooporniki jednego typu lecz zasloniete róznymi filtrami optycznymi wykazuja na ogól róznice przebiegu opornosci w funkcji natezenia swiatla, w zale¬ znosci od charakterystyk filtrów którymi sa zasloniete. Tanieidentycznosc czulosci fotoelementów uniemozliwia zastosowanie prostych róznicowych ukladów porównywania sygnalów, gdyz róznice miedzy sygnalami zaleza od natezenia swiatla, nawet ilorazowy uklad porównywania sygnalów, czesto stosowany w ukladach pomiaru barwy, nie zapewnia dokladnosci pomiaru, poniewaz wspólczynniki proporcjonalnosci miedzy natezeniem oswietlenia a sygnalem z fotoelementów moga nie byc stale, ze wzgledu na nieliniowosc charakterystyk fotoelementów uwidaczniajaca sie zwlaszcza w szerokim zakresie zmian natezenia oswietlenia.Co prawda, jednakowy przebieg charakterystyk obu fotoelementów, w funkcji natezenia swiatla, mozna osiagnac za pomoca doboru charakterystyki przepuszczalnosci filtrów, na co sklada sie tez dobór ich grubosci. Jest to jednak czesto niedogodne i stwarza trudnosci w zakresie2 122 620 doboru filtrów do indywidualnych wlasnosci fotoelementów, orazprzy okresowych regulacjach na przyklad w zwiazku ze starzeniem sie fotoelementów.Istota wynalazku. Uklad fotoelektryczny wedlug wynalazku posiada co najmniej jeden fotoele- ment dodatkowy, stanowiacy fotoelement korekcyjny, uczulony na inny zakres widma niz fotoele- menty pomiarowe. Wszystkie fotoelementy sa ze soba tak polaczone, ze sygnal z ukladu wszystkich fotoelementów sklada sie z sygnalu porównawczego fotoelementów pomiarowych i z sygnalu korekcyjnego fotoelementu dodatkowego. Przez odpowiednie dobranie wielkosci sygnalu korek¬ cyjnego eliminuje sie wplyw zmian natezenia oswietlenia na sygnal z ukladu wszystkich fotoelemen¬ tów. Dzieki temu, na wynik pomiaru barwy swiatla nie ma wplywu natezenie mierzonego swiatla.Fotoelementy moga byc uczulone na rózne zakresy widma przez zasloniecie ich odpowiednimi filtrami optycznymi.Powierzchnia fotoelementu korekcyjnegomoze byc wykonanajako czesc powierzchni fotoele¬ mentu pomiarowego, w celu uproszczenia konstrukcji.Filtr fotoelementu pomiarowego moze posiadac niejednorodnosc wlasnosci optycznych swej powierzchni. Dzieki temu, czesc powierzchni fotoelementu pod ta niejednorodnoscia stanowi powierzchnie fotoelementu korekcyjnego.W szczególnosci, niejednorodnosc filtru optycznego moze byc szczelina. Kompensacja zmian natezenia swiatla moze byc osiagana przez regulacje szerokosci szczeliny.Wedlug alternatywy wykonania ukladu, niejednorodnosc filtru uzyskana jest za pomoca przyslony zaslaniajacej czesciowo powierzchnie fotoelementu. Kompensacje zmian natezenia swiatla mozna osiagac za pomoca przesuwania przyslony.Przyslona ta moze byc zupelnie nieprzez¬ roczysta i wtedy wyrównywanie czulosci fotoelementów osiaga sie przez dobór pola oswietlonej powierzchni fotoelementu.Wedlug alternatywy wykonania ukladu, niejednorodnosc filtru moze polegac na zmiennej jego grubosci. Umozliwia to osiagniecie kompensacji przez przesuwanie filtru tak, aby korzystnie dobrac grubosc tej czesci filtru, która zaslania fotoelement.Zaleta ukladu wedlug wynalazku jest to, ze pozwala on na pomiar barwy swiatla niezaleznie od natezenia mierzonego swiatla, przy prostej budowie, a zwlaszcza przy prostej budowie ukladu porównywania sygnalów.Objasnienie figur rysunku. Wynalazek zostanie blizej objasniony na podstawie przykladów wykonania wynalazku przedstawionych na rysunku, na którym fig. 1, 2 i 3 przedstawiaja alterna¬ tywne rozwiazania ukladu wedlug wynalazku.Przyklady wykonania wynalazku. W ukladzie przedstawionym na fig. 1, fotooporniki pomia¬ rowe 1 i 2 umieszczone sa, korzystnie ze wzgledu na kompensacje temperaturowa, na wspólnej plytce 3 stanowiacej swiatloczule podloze elektrod fotooporników.Fotooporniki 1 i 2 zasloniete sa odpowiednio filtrami optycznymi 4 i 5. Filtr optyczny 5 posiada szczeline 6 o szerokosci a.Fotooporniki 1 i 2 polaczone sa w ukladzie mostkowym z opornikami Rl i R2. Z ukladem mostkowym polaczone jest zródlo zasilania 7 i woltomierz 8, który mierzy napiecie U niezrówno- wazenia mostka. Na fotooporniki 1 i 2, poprzez filtry optyczne 4 i 5, pada wiazka swiatla o natezeniu E.Szerokosc a szczeliny 6 jest tak dobrana, ze napiecie u niezrównowazenia mostka nie zmienia sie przy zmianach natezenia E swiatla. Dzieje sie tak dlatego, ze czesc powierzchni fotoopornika 2 znajdujaca sie pod szczelina 6 stanowi fotoopornik korekcyjny, który kompensuje nieproporcjo- nalnosc zmian opornosci fotoopornika 2 w stosunku do fotoopornika 1. Dzieki tej kompensacji mozna wykrywac zmiany barwy swiatla w interesujacych zakresach widma zaleznych od zastoso¬ wanych filtrów optycznych 4 i 5, z wyeliminowaniem wplywu zmian natezenia E swiatla.W ukladzie wedlug wynalazku przedstawionym na fig. 2, fotoopornik 2 zasloniety jest czes¬ ciowo przyslona 9. Powierzchnia fotoopornika pod ta przyslona stanowi fotoopornik korekcyjny, którego powierzchnie mozna dobierac przez przesuwanie przyslony 9. Przyslona 9 moze byc zupelnie nieprzezroczysta i wtedy wyrównywanie czulosci fotoelementów 1 i 2 osiaga sie przez dobór pola oswietlonej powierzchni fotoelementu 2.W ukladzie wedlug wynalazku przedstawionym na fig. 3, filtr 5 ma zmienna grubosc. Regula¬ cja grubosci filtru zaslaniajacego fotoopornik umieszczony na plytce 3, dokonuje sie przez przesu¬ wanie filtru 5.122620 3 Zastrzezenia patentowe 1. Uklad fotoelektryczny wykrywania barwy zawierajacy dwa fotoelementy uczulone na rózne zakresy widma, ewentualnie za pomoca filtrów optycznych, polaczone w ukladzie porówny¬ wania sygnalów, znamienny tym, ze co najmniej jeden fotoelement zaslonietyjest przyslona, która posiada powierzchnie o róznej przepuszczalnosci swiatla w obrebie swiatloczulej powierzchni fotoelementu i powoduje niejednakowe oswietlenie tej swiatloczulej powierzchni. 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze przyslone stanowi filtr optyczny (5) ze szczelina (6). 3. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze przyslona (9) czesciowo zaslania powierzchnie swiatloczula fotoelementu (2). 4. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze przyslone stanowi filtr optyczny (5) o niejedna¬ kowej grubosci.122620 Fig-1 5 Fig.3 Pracownia Poligraficzna UP PKI.. Naklad 120 cgz.Cena 100 zl PL