PL120144B1 - Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh - Google Patents

Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh Download PDF

Info

Publication number
PL120144B1
PL120144B1 PL21151678A PL21151678A PL120144B1 PL 120144 B1 PL120144 B1 PL 120144B1 PL 21151678 A PL21151678 A PL 21151678A PL 21151678 A PL21151678 A PL 21151678A PL 120144 B1 PL120144 B1 PL 120144B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
sign
semiconductor
probes
determination
amplifier
Prior art date
Application number
PL21151678A
Other languages
English (en)
Other versions
PL211516A1 (pl
Inventor
Czeslaw Szypowski
Jan Staskiewicz
Original Assignee
Wyzsza Szkola Inzynierska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wyzsza Szkola Inzynierska filed Critical Wyzsza Szkola Inzynierska
Priority to PL21151678A priority Critical patent/PL120144B1/pl
Publication of PL211516A1 publication Critical patent/PL211516A1/xx
Publication of PL120144B1 publication Critical patent/PL120144B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do okres¬ lania znaku nosników ladunku w materialach pól¬ przewodnikowych, sluzacym da okreslania wlasnosci elektrofizycznych tych materialów.Znak nosników ladunku okresla sie na podsta¬ wie pomiarów zjawisk Halla lub na podstawie pomiaru znaku termo-SEM Seebecka. Znane sa rozwiazania konstrukcyjne przyrzadów do okresla¬ nia znaku nosników ladunku w materialach pól¬ przewodnikowych, pracujace na zasadzie wykorzys¬ tania do tego cehi zjawiska Seebecka — Z Soltys, E. Stolarski „Przyrzad do okreslania typu prze¬ wodnictwa pólprzewodników". Arch. Elektrot. 15,2.1966, L Wójcik „Przyrzad do okreslania typu przewodnosci materialów pólprzewodnikowych", Prace ITE, W-wa 1972. Przyrzady te posiadaja duze gabaryty utrudniajace poslugiwanie sie nimi bez¬ posrednio na stanowiskach technologicznych.O wymiarach tych przyrzadów w duzym stopniu decyduja uzyte do ich konstrukcji czule galwano- rnetry o znacznych gabarytach.Okreslenie znaku nosników w pólprzewodniku metoda badania znaku termo-SEM, przeprowadza sie dotykajac do powierzchni pólprzewodnika sonda metalowa ogrzewana od temperatury 50°C do 70°C W pewnym oddaleniu od ogrzanej sondy znaj¬ duje sie majaca kontakt elektryczny z pólprzewod¬ nikiem, druga sonda lub styk niepunktowy posia¬ dajacy temperature otoczenia. Powstajaca sila ter- 10 u 20 25 moelektryczna jest mierzona przez podlaczenie obu sond do galwanpmetru lub uczulajacego wzmacnia¬ cza pomiarowego. Nosniki ladunku w badanym materiale uzyskuja w obszarze ogrzanym przez goraca sonde dodatkowa energie i odplywaja z tego obszaru, przez co uzyskuje on ladunek elektryczny o znaku przeciwnym do znaku odplywajacych nos¬ ników. Dla okreslenia znaku nosników ladunku wystarczajace jest okreslenie znaku powstajacej termo-SEM.Stosowanie do okreslenia znaku termo-SEM gal- wanometru lub prostego ukladu wzmacniajacego w znanych rozwiazaniach powoduje, ze przyrzady te posiadaja niewielka opornosc wejsciowa rzedu kilkudziesieciu kQ uniemozliwiajaca jeclnoznaczne okreslenie znaku nosników ladunku w materialach o podwyzszonej rezystywnosci. Wykorzystywanie w znanych rozwiazaniach czulych, wrazliwych na wstrzasy galwanornetrów, koniecznych ze wzgledu na pomiar niskich napiec, nie pozwala tak wyko¬ nanych przyrzadów traktowac jako przyrzady prze¬ nosne.Przyrzad do okreslania znaku nosników ladunku w materialach pólprzewodnikowych wedlug wyna¬ lazku zawiera dwie sondy pomiarowe, uklad wzmacniajacy i odczytowy. Jedna z sond zaopa¬ trzona jest w grzejnik. Uklad pomiarowy sklada sie z wtórnika wejsciowego zbudowanego na parze tranzystorów polowych na wspólnym podlozu i na wzmacniaczu operacyjnym. Wejscia wzmacniacza 120 1443 120 144 4 operacyjnego polaczone sa ze zródlami pierwszego i drugiego tranzystora polowego a wyjscie z bram¬ ka drugiego tranzystora polowego oraz z jednym z wejsc drugiego wzmacniacza operacyjnego, sta¬ nowiacego wzmacniacz napiecia. Wskaznik znaku dolaczony jest do wyjscia drugiego wzmacniacza.Przyrzad jest maly i posiada przez to charakter przyrzadu podrecznego i w zwiazku z niewrazli- woscia na wstrzasy równiez przenosnego. Zastoso¬ wanie ukladu elektronicznego zasilanego bateryj¬ nie umozliwia dzieki bardzo duzej odpornosci wej¬ sciowej okreslanie znaku nosników w materialach pólprzewodnikowych o róznych koncentracjach nosnjkfor.**—» —-^^ Prte^tótiWjmiilykjnjest uwidoczniony w przy¬ kladowym wykonaniu na rysunku przedstawiaja¬ cym' schemat elektryczny przyrzadu. Przyrzad sklada sie* T^onti? pomiarowyeh SI, S2, wtórnika weiscUfTre^^^zlai^^Stipgo na parze tranzystorów polowych Tl, T2 oraz wzmacniaczu operacyjnym Wl, wzmacniacza napiecia, wskaznika znaku nos¬ nika ladunku oraz ukladu kontroli stanu baterii zasilajacych. Sonda SI zaopatrzona jest w grzej¬ nik G. Zródla tranzystorów polowych Tl, T2 o wspólnym podlozu polaczone sa z wejsciami wzmacniacza operacyjnego Wl, którego wyjscie do¬ laczone jest do bazy tranzystora polowego T2, oraz poprzez opornik R2 do jednego z wejsc wzmacnia¬ cza operacyjnego W2. Opornik R3 znajduje sie w obwodzie sprzezenia zwrotnego wzmacniacza ope¬ racyjnego W2, wyjscie którego polaczone jest z diodowym wskaznikiem «-numerycznym D5-i-D15.Dwa siedmiosegmentowe uklady diod D5-HD9 oraz D10-T-D15 wchodzace w sklad wskaznika a-nu- merycznego polaczone sa równolegle z ukladem oporników R4, R5, R6, R7, do których równolegle przylaczony jest uklad kontroli stanu baterii za¬ silajacych zbudowany na tranzystorze T3, do któ¬ rego kolektora dolaczona jest dioda elektrolumi¬ nescencyjna D16. Do bazy tranzystora polowego Tl dolaczony jest uklad poprzedzajacy skladajacy sie z opornika Rl i równolegle polaczonych diod Dl, D2.Diody D3, D4 znajduja sie na wyjsciu ukladu kon¬ troli stanu baterii zasilajacych.Przyrzad posiada dwa zródla zasilania bateryj¬ nego BI, B2. Istnieje mozliwosc zasilania przyrzadu równiez z zewnetrznego zródla zasilania. Uklad zasilania wlaczany jest wlacznikiem z jednym po¬ lozeniem stabilnym. Po zakonczeniu pomiaru nie istnieje mozliwosc pozostawienia przyrzadu z wla¬ czonym zasilaniem.Para tranzystorów polowych Tl i T2 na wspól¬ nym podlozu, wraz ze wzmacniaczem operacyj¬ nym Wl stanowi wtórnik wejsciowy przyrzadu.Uklad ten zapewnia duza opornosc wejsciowa przy¬ rzadu umozliwiajaca okreslania znaku nosników ladunku w materialach pólprzewodnikowych o róz¬ nych koncentracjach nosników. Potencjometr PI sluzy do zerowania ukladu. Stanowi wyzerowania ukladu odpowiada wygaszenie wskazników znaku D5-HD9, 1J10-HD15, Opornik Rl i diody Dl i D2 zabezpieczaja wzmacniacz przed przypadkowym wlaczeniem zródla napiecia o wartosciach przekra¬ czajacych +0,67 V lub —0,67V. Z wyjscia wtórnika wejsciowego mierzone napiecie podawane jest na 5 wejscia wzmacniacza odwracajacego zbudowanego na wzmacniaczu operacyjnym W2. Wartosc wzmoc¬ nienia wzmacniacza odwracajacego decyduje o czu¬ losci calego ukladu pomiarowego. Wzmocnienie to jest równe stosunkowi opornosci w obwodzie 10 sprzezenia zwrotnego R3 do opornosci wejscio¬ wej R2. Oporniki R4 do R7 stanowia dzielniki na¬ piec wstepnie polaryzujace diody D5^-D9, D10-KD15.Uklad kontroli stanu baterii zasilajacych, wyko¬ nany jest na tranzystorze T3, którego obciazenie u stanowi pojedyncza dioda elektroluminescencyjna D16. Emituje ona swiatlo jezeli suma napiec z obu baterii nie spadnie ponizej wartosci gwarantujacej poprawna prace ukladu pomiarowego. Diody D3 i D4 zabezpieczaja uklad przed wlaczeniem odwrot- 29 nej polaryzacji napiec zasilajacych.Róznica temperatur sond zimnej i goracej rzedu 30 do 50°C przy uwzglednieniu, ze wspólczynnik Seebecka dla wiekszosci pólprzewodników miesci sie w granicach 100 do 1000 ^V/°C, pozwala zorien- 25 towac sie o wielkosci napiec wejsciowych poda¬ wanych z sond na przyrzad. Napiecia te (rzedu ulamka lub kilku do kilkunastu miliwoltów) musza byc wzmocnione przez przyrzad do poziomu za¬ pewniajacego wysterowanie wskazników typu * przewodnosci.Zastosowanie optoelektronicznych wskazników typu przewodnosci badanych materialów pólprze¬ wodnikowych czyni przyrzad odpornym na wstrza¬ sy, umozliwia prace w dowolnej pozycji i umoz- 35 liwia nadanie mu charakteru podrecznego przy¬ rzadu przenosnego. Opornosc wejsciowa przyrzadu rzedu kilku MQ umozliwia Okreslenie typu prze¬ wodnosci pólprzewodników w szerokim zakresie koncentracji nosników ladunku. Konstrukcja me- 40 chaniczna przyrzadu umozliwia stosowanie wymia¬ ny sond jak równiez mozliwosc podlaczenia sond pomiarowych za posrednictwem przewodów ekra¬ nowanych z czescia pomiarowa przyrzadu. Pozwala to na latwe przystosowanie przyrzadu do spotyka- 45 nych w praktyce warunków pomiarów.Zastrzezenie patentowe Przyrzad do okreslania znaku nosników ladunku w materialach pólprzewodnikowych zawierajacy wymienne sondy pomiarowe z ukladem wzmacnia- m jacym i odczytowym, przy czym jedna z sond za¬ opatrzona jest w grzejnik, znamienny tym, ze uklad pomiarowy sklada sie z wtórnika wejscio¬ wego zbudowanego na parze tranzystorów polo¬ wych (Tl, T2) na wspólnym podlozu i na wzmac- 55 niaczu operacyjnym (Wl), którego wejscia pola¬ czone sa ze zródlami tranzystorów polowych (Tl, T2) a wyjscie z bramka tranzystora (T2) oraz z jednym z wejsc wzmacniacza operacyjnego (W2) stanowiacego wzmacniacz napiecia, do wyjscia któ¬ rego dolaczony jest wskaznik znaku.120 144 £3 R1 di a? Tl TT ^ b5+fi PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do okreslania znaku nosników ladunku w materialach pólprzewodnikowych zawierajacy wymienne sondy pomiarowe z ukladem wzmacnia- m jacym i odczytowym, przy czym jedna z sond za¬ opatrzona jest w grzejnik, znamienny tym, ze uklad pomiarowy sklada sie z wtórnika wejscio¬ wego zbudowanego na parze tranzystorów polo¬ wych (Tl, T2) na wspólnym podlozu i na wzmac- 55 niaczu operacyjnym (Wl), którego wejscia pola¬ czone sa ze zródlami tranzystorów polowych (Tl, T2) a wyjscie z bramka tranzystora (T2) oraz z jednym z wejsc wzmacniacza operacyjnego (W2) stanowiacego wzmacniacz napiecia, do wyjscia któ¬ rego dolaczony jest wskaznik znaku.120 144 £3 R1 di a? Tl TT ^ b5+fi PL
PL21151678A 1978-12-06 1978-12-06 Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh PL120144B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21151678A PL120144B1 (en) 1978-12-06 1978-12-06 Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21151678A PL120144B1 (en) 1978-12-06 1978-12-06 Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL211516A1 PL211516A1 (pl) 1980-07-28
PL120144B1 true PL120144B1 (en) 1982-02-27

Family

ID=19993021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21151678A PL120144B1 (en) 1978-12-06 1978-12-06 Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL120144B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL211516A1 (pl) 1980-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3440883A (en) Electronic semiconductor thermometer
GB909413A (en) Apparatus for the detection of electrically active components in an ambient
US3872386A (en) Test device
US3196682A (en) Humidity sensing circuit
US4930134A (en) Precision temperature sensor
PL120144B1 (en) Apparatus for determination of charge carrier sign in semiconductor materialsprovodnikocykh materialakh
US3267376A (en) Electric measurement apparatus using a pair of oppositely poled thermoelectric junctions in parallel and diode stabilizing means
US3181364A (en) Apparatus for measuring differential temperature
US3781660A (en) Conductivity meter for measuring distillate hydrocarbon fuels
Yau et al. Thermal emission rates and activation energies of electrons and holes at silver centers in silicon
Sargeant Note on the use of junction diodes as temperature sensors
RU2095799C1 (ru) Психрометрический измеритель влажности
RU2112940C1 (ru) Устройство для измерения разности температур
RU2124707C1 (ru) Способ определения температуры контактного взаимодействия при трении и резании
CA1251948A (en) Improvements relating to solid state anemometers and temperature gauges
RU2254584C1 (ru) Устройство контроля защиты от электромагнитного поля
US3983415A (en) Semiconductor switching circuit
SU1204967A1 (ru) Устройство дл измерени температуры
SU565220A1 (ru) Термочувствительный элемент датчика температуры
Datta A new semiconductor thermometer for geothermal measurements
Kundu et al. Photovoltaic measurement of optical density on a linear scale
SU782640A1 (ru) Полупроводниковый магниточувствительный прибор
SU838413A1 (ru) Устройство дл преобразовани измен -ющЕйС НЕэлЕКТРичЕСКОй ВЕличиНы B элЕК-ТРичЕСКОЕ НАпР жЕНиЕ
SU396637A1 (ru) Измеритель сопротивления
SU648855A2 (ru) Устройство дл компенсации термоэдс холодных спаев термопар