Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do pomiaru odksztalcen i rejestracji wielkosci odksztalcenia bada¬ nego elementu na rozciaganie lub sciskanie w oparciu o tensometry elektrooporowe.Pomiar odksztalcen dokonywany jest obecnie za pomoca róznego rodzaju przetworników tensometry- cznych — rezystancyjnych, indukcyjnych, pojemnoscio¬ wych tensometrów strunowych i innych wspólpracuja¬ cych najczesciej z rejestratorami.Do najbardziej rozpowszechnionych tensometrów pomiarowych naleza przetworniki rezystancyjne napre- zne, tensometry elektrooporowe. Tensometry elektroo¬ porowe nakleja sie bezposrednio na badany element, dokonujac nastepnie rejestracji wielkosci odksztalcen tego elementu wywolanych dzialaniem obciazenia, za posrednictwem mostka tensometrycznego.Wada tego pomiaru odksztalcen jest niszczenie tenso¬ metrów w czasie badania, jak równiez maly zakres pomiaru odksztalcen.Istota wynalazku polega na tym, ze na próbce osa¬ dzone sa dwa oddzielne specjalne uchwyty, dojednego z nich przytwierdzone sa sztywne listwy, równolegle do osi próbki, a do drugiego przymocowane sa elementy sprezy¬ ste, których wolne konce znajduja sie miedzy koncami sztywnej listwy a próbka. Na kazdej plaszczyznie ele¬ mentu naklejony jest tensometr elektrooporowy a na sztywnej listwie umieszczony jest trzpien regulujacy.Zaleta przyrzadu jest zwiekszenie stopnia wykorzysta¬ nia tensometrów elektrooporowych do pomiaru wiek¬ szych wartosci odksztalcen badanych próbek, szczegól¬ nie materialów o znacznej zdolnosci do odksztalcen sprezystych i plastycznych. Zaletajegojest takze stworze¬ nie mozliwosci dokonywania wielokrotnego pomiaru odksztalcen bez niszczenia tensometrów, wyeliminowa¬ nia koniecznosci kazdorazowego naklejania tensome¬ trów na kazdy badany element oraz zwiekszenie dokladnosci pomiarów odksztalcen materialów niejed¬ norodnych na przyklad zeliwa, poprzez pomiar odksztal¬ cen na duzej bazie pomiarowej co dotychczas nie bylo mozliwe za pomoca bezposredniego naklejania tensome¬ trów na próbce.Przyklad rozwiazania wedlug wynalazku, uwido¬ czniony jest na rysunku, na którym fig. 1 — przedstawia przyrzad w widoku z przodu a fig. 2 — przyrzad w widoku z góry.Przyrzad sklada sie ze specjalnie skonstruowanych dwóch jednakowych uchwytów górnego 2 i dolnego 3 zamocowanych na próbce 1. Uchwyty dociskane sa do próbki za pomoca obejmy 8 sprezyny 11 i trzpienia 10. W uchwycie 2 zamocowanajest listwa 4, do której wkrecany jest trzpien regulacyjny 5. W uchwycie 3 zamocowanyjest element sprezysty 6, na który nakleja sie najkorzystniej dwa tensometry elektrooporowe 7, podlaczone do mier¬ nika 9. Elementy 6 wstepnie odksztalcane sa za pomoca trzpienia regulacyjnego 5. Wielkosc ugiecia listwy 6 uza¬ lezniona jest od wlasnosci mechanicznych badanej próbki 1. Im material jest bardziej sprezysty i plastyczny" tym wieksza jest wartosc ugiecia wstepnego listwy 6. Pod3 113441 4 wplywem obciazenia próbka 1 wydluza sie powodujac przemieszczanie sie uchwytu górnego 2 i dolnego 3. Na skuktek tego zmienia sie wartosc wielkosci ugiecia listwy 6, a tym samym i wielkosc jej odksztalcenia odpowiednio do wartosci odksztalcenia próbki 1 co rejestrowane jest na mierniku 9, poprzez tensometry 7. Na podstawie róz¬ nicy wskazan miernika oblicza sie w znany sposób odksz¬ talcenia listwy 6 a nastepnie odksztalcenie badanej próbki 1.Zastrzezenia patentowe 1. Przyrzad do pomiaru odksztalcen, zawierajacy ten¬ sometry, znamienny tym, ze na próbce (1) osadzone sa dwa oddzielne specjalne uchwyty {2) i (3), a do jednego z nich przytwierdzone sa sztywne listwy (4), równolegle do osi próbki (1), a do drugiego przymocowane sa elementy sprezyste (6), których wolne konce znajduja sie miedzy koncami listwy (4) a próbka (1), przy czym na kazdej plaszczyznie elementu sprezystego (6) naklejony jest ten- sometr elektrooporowy (7). 2. Przyrzad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze kazda z lrstew (4) ma trzpien regulujacy (5). f.g? Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl h PL