PL112998B1 - Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions - Google Patents

Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions Download PDF

Info

Publication number
PL112998B1
PL112998B1 PL20256377A PL20256377A PL112998B1 PL 112998 B1 PL112998 B1 PL 112998B1 PL 20256377 A PL20256377 A PL 20256377A PL 20256377 A PL20256377 A PL 20256377A PL 112998 B1 PL112998 B1 PL 112998B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
benchmark
bracket
base
arm
vertical
Prior art date
Application number
PL20256377A
Other languages
English (en)
Other versions
PL202563A1 (pl
Inventor
Wojciech Janusz
Roman Ostrowski
Stefan Zykubek
Original Assignee
Inst Geodezji I Kartografii
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Geodezji I Kartografii filed Critical Inst Geodezji I Kartografii
Priority to PL20256377A priority Critical patent/PL112998B1/pl
Publication of PL202563A1 publication Critical patent/PL202563A1/pl
Publication of PL112998B1 publication Critical patent/PL112998B1/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

Przedmiotem niniejszego wynalazku jest sposób i urzadzenie do wyznaczania pionowych odleglosci w warunkach ograniczonego miejsca.W dziedzinie geodezji do precyzyjnego pomiaru odleglosci pionowych najczesciej stosowana jest ni¬ welacja geometryczna za pomoca niwelatora precy¬ zyjnego i lat niwelacyjnych z podzialem wykona¬ nym na tasmie inwarowej. Ten rodzaj niwelacji stosowany jest w warunkach, gdy istnieje mozliwosc takiego rozmieszczenia stanowisk instrumentu i lat, aby odleglosci celowania byly wieksze od najmniej¬ szej celowej jaka mozna uzyskac luneta niwelatora oraz aby odleglosci byly mniejsze od odleglosci, przy których nastepuje obnizenie dokladnosci celo¬ wania. Na ogól warunki te daja sie spelnic w gra¬ nicach odleglosci od 2 do 25 m.Dalszym waznym warunkiem jest, aby na kazdym stanowisku instrumentu odleglosci poziome od lat do instrumentu byly w przyblizeniu jednakowe i aby w ciagu pomiarowym kazde stanowisko laty z wyjatkiem pierwszego i ostatniego bylo jednocze¬ snie stanowiskiem dla laty „wstecz" i dla laty „w przód". Warunki takie nie sa mozliwe do spel¬ nienia w ciasnych pomieszczeniach wewnatrz budo¬ wli, gdzie odleglosci pionowe lub róznice wysokosci trzeba zmierzyc przez pionowy szyb ^ lub klatke schodowa o nieduzych gabarytach w planie. Sa one równiez trudne do spelnienia przy pomiarach pro¬ wadzonych w glebokich i rozleglych wykopach.W takich trudnych przypadkach dotychczas po¬ lo 15. 20 25 30 miary przy uzyciu lat zastepuje sie pomiarami za pomoca -pionowo zawieszanych tasm, przy których koncach dolnym i górnym, przytwierdza sie krótkie podzialki. Pomiary przy uzyciu tasm sa mozliwe do stosowania przy nieduzych wymaganiach dokladno- sciowych, natomiast nie spelniaja one wymagan dokladnosciowych stawianych niwelacji precyzyj¬ nej. Wada sposobu pomiaru przy uzyciu tasm jest to, ze tasmy l^omparowane sa w pozycji poziomej a uzywa sie ich do pomiaru w pozycji pionowej, co przyczynia sie do znieksztalcania wyników pomiaru.Celem wynalazku jest opracowanie takiego spo¬ sobu pomiaru i urzadzenia, które zlikwiduja wyzej omówione wady i trudnosci oraz umozliwia pomiar pionowych odleglosci w warunkach ograniczonego miejsca z wysoka dokladnoscia.Cel ten zoatal osiagniety przez opracowanie spo¬ sobu, który polega na tym, ze po wyznaczeniu róz¬ nic wysokosci pomiedzy reperami czolowymi, roz¬ mieszczonymi w przyblizeniu na jednym poziomie wykonuje sie odczyt „wstecz" na lacie, pozostawio¬ nej na reper^e czolowym, za pomoca mikroniwela- tora przytwierdzonego do wspornika zastabilizowa- nego w scianie i przy zlozonym reperze uchylnym znajdujacym sie nad reperem czolov/ymNw zasiegu dlugosci laty. Nastepnie late ustawia sie na odchy¬ lonym do poziomu ramieniu reperu i wykonuje mi- kroniwelatorem na lacie odczyt „w przód". Czyn¬ nosci te powtarza sie kolejno az do koncowego reperu uchylnego, na którym wykonuje sie mikro- 1129983 112998 4 niwelatorem ostatni odczyt „w przód". Za pomoca niwelatora precyzyjnego wyznacza sie nastepnie róznice wysokosci pomiedzy reperem uchylnym • a reperem czolowym na górnym koncu mierzonej odleglosci. Róznica sum wszystkich odczytów 5 „wstecz" i „w przód" daje pionowa odleglosc po¬ miedzy poczatkowym i koncowym reperem czolo¬ wym.Do zrealizowania sposobu wedlug wynalazku slu¬ zy urzadzenie, które sklada sie ze stabilizowanych 10 w scianie budowli podstaw, do których sa przymo¬ cowane pary wsporników. Do wspornika dolnego przytwierdzone jest uchylnie na osi ramie reperu zas wspornik górny jest wyposazony na jednej cze¬ sci ramienia w jarzmo do unieruchamiania laty 15 niwelacyjnej, a na drugiej czesci ramienia w tuleje.W tuleje jest wstawiony korpus mikroniwelatora unieruchamiany sruba sprzegajaca. Z korpusem jest , sprzegnieta suwliwie w linii pionowej os poziomej podstawy, do której jest przytwierdzona przesuwnie 20 luneta. ' Sposób wedlug wynalazku umozliwia wykonanie pomiaru pionowych odleglosci przy- uzyciu lat do niwelacji precyzyjnej oraz urzadzenia.pomiarowego w postaci mikroniwelatora o malej odleglosci celo- 25 wania zastepujacego niwelator precyzyjny w miejs¬ cach, gdzie uzycie niwelatora jest niemozliwe.Wynalazek"zostal przykladowo wyjasniony na ry¬ sunku, na którym fig. 1—4 przedstawia schemat po¬ miaru, fig. 5 — podstawe urzadzenia w widoku 30 z góry, a fig. 6 — podstawe urzadzenia wraz z lata niwelacyjna i mikroniwelatorem w widoku z boku.Sposób poslugiwania sie urzadzeniem- jest naste¬ pujacy: W scianie budowli, w linii pionu i w odstepach 35 mniejszych niz dlugosc laty stosowanej do niwelacji precyzyjnej, stabilizuje sie podstawy urzadzenia z reperami uchylnymi i wspornikami sluzacymi do przytwierdzania mikroniwelatora. Nastepnie wyzna¬ cza sie w znany sposób róznice wysokosci pomiedzy 40 poczatkowymi reperami czolowymi, po czym na lacie nadal stojacej na reperze czolowym 1 w linii pionowej zastabilizowanych w scianie podstaw i przy zlozonym ramieniu pierwszego reperu uchyl¬ nego wykonuje sie odczyt „wstecz" mikroniwelato- 45 rem umocowanym na pierwszym wsporniku najniz¬ szej podstawy. Po odchyleniu ramienia pierwszego reperu uchylnego, ustawia sie na nim late i wyko¬ nuje odczyt „w przód" mikroniwelatorem stojacym w tej samej pozycji na pierwszym wsporniku. Po- 50 wyzsze czynnosci powtarza sie kolejno az do kon- % cowego reperu uchylnego, na którym w tej samej pozycji ustawionej laty wykonuje sie odczyt „w przód" mikroniwelatorem umocowanym na kon¬ cowym wsporniku oraz w znany sposób za pomoca 55 niwelatora precyzyjnego wyznacza sie róznice wy¬ sokosci pomiedzy ostatnim reperem uchylnym a re¬ perem czolowym i po obliczeniu róznicy pomiedzy sumami odczytów „wstecz" i „w przód" z niwela¬ tora precyzyjnego i mikroniwelatora otrzymuje sie 60 pionowa odleglosc pomiedzy poczatkowym i konco¬ wym reperem czolowym.Jak wskazano na fig. 5 i 6 urzadzenie do reali¬ zowania sposobu wedlug wynalazku sklada sie z podstawy 17, do której sa przymocowane dwa 65 wsporniki 2 i 4. Do wspornika 2 przytwierdzone jest uchylnie na osi 13 ramie; 3 reperu 16. Wspor¬ nik 4 jest wyposazony na jednej czesci ramienia w jarzmo 12 do Unieruchamiania laty niwelacyjnej 7, a na drugiej czesci w tuleje 11, w która jest wstawiony wraz z czujnikiem 10 korpus 6 unieru¬ chamiany sruba sprzegajaca 14.Z korpusem 6, jest sprzegnieta suwliwie w linii pionowej os poziomej podstawy 8, do której jest przytwierdzona przesuwnie luneta mikroniwelato¬ ra 9. Os nózki czujnika 10 jest równolegla do piono¬ wej osi podstawy 8, z która styka sie stopka nózki czujnika 10. Kiedy luneta mikroniwelatora przesu¬ wana jest ku dolowi odczyty na tarczy czujnika wzrastaja. Gdy luneta przesuwana jest do góry od¬ czyty maleja.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wyznaczania pionowych odleglosci w warunkach ograniczonego miejsca za pomoca lat do niwelacji precyzyjnej, znamienny tym, ze naj¬ pierw stabilizuje sie w scianie budowli w linii pionu i w odstepach mniejszych niz dlugosc laty niwela¬ cyjnej, podstawy urzadzenia z reperami uchylnymi i wspornikami do zamocowywania mikroniwelatora, po czym wyznacza sie w znany sposób róznice wy¬ sokosci pomiedzy poczatkowymi reperami czolowy¬ mi a nastepnie na lacie nadal stojacej na reperze czolowym w linii pionowej zastabilizowanych w scianie podstaw i przy zlozonym ramieniu pierw¬ szego reperu uchylnego wykonuje sie odczyt „wstecz" mikroniwelatorem umocowanym na pierw¬ szym wsporniku najnizszego korpusu po czym od¬ chyla sie ramie pierwszego reperu uchylnego, ustawia na nim late i wykonuje odczyt „w przód" mikroni¬ welatorem umocowanym na pierwszym wsporniku, a nastepnie kolejno powtarza sie czynnosci az do koncowego reperu uchylnego, na którym w tej sa¬ mej pozycji ustawionej laty wykonuje sie odczyt „w przód" mikroniwelatorem umocowanym na kon¬ cowym wsporniku oraz w znany sposób za pomoca niwelatora precyzyjnego wyznacza sie róznice wy¬ sokosci pomiedzy ostatnim reperem uchylnym a re¬ perem czolowym i po obliczeniu róznicy pomiedzy sumami odczytów „wstecz" i „w przód" z niwelatora precyzyjnego i mikroniwelatora otrzymuje sie pio¬ nowa odleglosc pomiedzy poczatkowym i koncowym reperem czolowym. 2. Urzadzenie do wyznaczania pionowych odleglo¬ sci w warunkach ograniczonego miejsca, znamienne tym, ze sklada sie ze stabilizowanej w scianie bu-* dowli podstawy 17, do której sa przymocowane dwa wsporniki 2 i 4, przy czym do wspornika 2 przy¬ twierdzone jest uchylnie na osi 13 ramie 3 reperu, 16, zas wspornik 4 jest wyposazony na jednej czesci ramienia w jarzmo 12 do unieruchamiania laty ni¬ welacyjnej 7, a na drugiej czesci ramienia w tuleje 11, w która jest wstawiony wraz z czujnikiem 10 korpus 6 unieruchamiany sruba sprzegajaca 14, zas z korpusem 6 jest sprzegnieta suwliwie w linii pio¬ nowej os poziomej podstawy 8, do której jest przy¬ twierdzona przesuwnie luneta mikroniwelatora 9, przy czym os nózki czujnika 10 jest równolegla do pionowej osi podstawy 8, z która styka sie stopka nózki czujnika 10.112098 'A yA 'A \L U L i.'a.l ///7////// fi* * */'A fig.'5 M 4 M m \] II N \ \ / r^n Ml. 1, Ir. y_ fr Ht \ \ \ \ \ \ N n.* Fig .5 J_ f"\ M- 4<^y//-/v//A$ PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wyznaczania pionowych odleglosci w warunkach ograniczonego miejsca za pomoca lat do niwelacji precyzyjnej, znamienny tym, ze naj¬ pierw stabilizuje sie w scianie budowli w linii pionu i w odstepach mniejszych niz dlugosc laty niwela¬ cyjnej, podstawy urzadzenia z reperami uchylnymi i wspornikami do zamocowywania mikroniwelatora, po czym wyznacza sie w znany sposób róznice wy¬ sokosci pomiedzy poczatkowymi reperami czolowy¬ mi a nastepnie na lacie nadal stojacej na reperze czolowym w linii pionowej zastabilizowanych w scianie podstaw i przy zlozonym ramieniu pierw¬ szego reperu uchylnego wykonuje sie odczyt „wstecz" mikroniwelatorem umocowanym na pierw¬ szym wsporniku najnizszego korpusu po czym od¬ chyla sie ramie pierwszego reperu uchylnego, ustawia na nim late i wykonuje odczyt „w przód" mikroni¬ welatorem umocowanym na pierwszym wsporniku, a nastepnie kolejno powtarza sie czynnosci az do koncowego reperu uchylnego, na którym w tej sa¬ mej pozycji ustawionej laty wykonuje sie odczyt „w przód" mikroniwelatorem umocowanym na kon¬ cowym wsporniku oraz w znany sposób za pomoca niwelatora precyzyjnego wyznacza sie róznice wy¬ sokosci pomiedzy ostatnim reperem uchylnym a re¬ perem czolowym i po obliczeniu róznicy pomiedzy sumami odczytów „wstecz" i „w przód" z niwelatora precyzyjnego i mikroniwelatora otrzymuje sie pio¬ nowa odleglosc pomiedzy poczatkowym i koncowym reperem czolowym.
  2. 2. Urzadzenie do wyznaczania pionowych odleglo¬ sci w warunkach ograniczonego miejsca, znamienne tym, ze sklada sie ze stabilizowanej w scianie bu-* dowli podstawy 17, do której sa przymocowane dwa wsporniki 2 i 4, przy czym do wspornika 2 przy¬ twierdzone jest uchylnie na osi 13 ramie 3 reperu, 16, zas wspornik 4 jest wyposazony na jednej czesci ramienia w jarzmo 12 do unieruchamiania laty ni¬ welacyjnej 7, a na drugiej czesci ramienia w tuleje 11, w która jest wstawiony wraz z czujnikiem 10 korpus 6 unieruchamiany sruba sprzegajaca 14, zas z korpusem 6 jest sprzegnieta suwliwie w linii pio¬ nowej os poziomej podstawy 8, do której jest przy¬ twierdzona przesuwnie luneta mikroniwelatora 9, przy czym os nózki czujnika 10 jest równolegla do pionowej osi podstawy 8, z która styka sie stopka nózki czujnika 10.112098 'A yA 'A \L U L i.'a.l ///7////// fi PL
PL20256377A 1977-12-01 1977-12-01 Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions PL112998B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20256377A PL112998B1 (en) 1977-12-01 1977-12-01 Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20256377A PL112998B1 (en) 1977-12-01 1977-12-01 Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL202563A1 PL202563A1 (pl) 1979-06-18
PL112998B1 true PL112998B1 (en) 1980-11-29

Family

ID=19985890

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20256377A PL112998B1 (en) 1977-12-01 1977-12-01 Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL112998B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL202563A1 (pl) 1979-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5749549A (en) Satellite positioning system antenna supporting tripod
US3810312A (en) Alignment instrument
CN109855600B (zh) 一种坡度测量装置及其测量方法
PL112998B1 (en) Method and device for determination of vertical distances within limited space conditions
CN111879281B (zh) 一种长程转角精密距离测量装置及测量方法
CN210086324U (zh) 一种视准线法测量基坑桩顶水平位移变化的高精度标尺装置
CN216408303U (zh) 一种光学经纬仪用水平金属三脚架
CN219624691U (zh) 一种国土空间规划地形测绘装置
CN105698752B (zh) 适用于组合式水准标尺的精密测定标高方法
US5224271A (en) Leveling test apparatus and method for optical instrument
CN111102960A (zh) 一种建筑测量用便于调平水气泡的遮阳式水准仪
CN208635827U (zh) 一种新型建筑工程测量仪器
CN113587896B (zh) 一种任意地形条件下树高树干长冠长高精度测量方法
CN217738284U (zh) 一种用于学校建筑施工的室内地坪标高测量装置
US2896327A (en) Surveying apparatus
CN212321832U (zh) 防强光型激光测距仪
SU1383093A1 (ru) Способ барометрического нивелировани
CN217424392U (zh) 一种装配式建筑钢结构安装用垂直度校准装置
CN207050707U (zh) 一种便于调节高度的建筑工程用经纬仪支架
CN221802913U (zh) 高清高倍率工程测量仪
CN223204919U (zh) 一种路基边坡坡度的测量装置及测量系统
CN217155267U (zh) 一种用于市政工程的测量装置
CN220366226U (zh) 一种工程测量用水准仪平移结构
CN217504776U (zh) 用于地铁盾构断面放样的测量装置
CN220647294U (zh) 一种现场测量标杆