PL112891B2 - Strain gauge - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest czujnik tensometryczny do pomiaru naprezen na powkrzchni poddanej dzialaniu zmiennych sil.Znane sposoby pomiaru naprezen wystepujacych na powierzchniach modeli i konstrukcji rzeczywistych dokonywane sa za pomoca piezometrów lub tensome- trów. Pomiary dokonywane przy uzyciu tych czujników nie daja pelnego i ciaglego obrazu rzeczywistego roz¬ kladu sil dzialajacych na badana powierzchnie, oraz z powodu ich bezwladnosci, nie zapewniaja dostatecznej precyzji pomiaru sil szybko zmieniajacych sie w czasie.Wad tych pozbawiony jest czujnik tensometryczny wedlug wynalazku, który pozwala na obserwacje i ciagly pomiar naprezen powierzchniowych, powstajacych pod wplywem sil dzialajacych na badana powierzchnie. Czuj¬ nik ten umozliwia równiez obserwacje i pomiarnaprezen zmieniajacych sie w czasie oraz daje obraz rozkladu naprezen na calej badanej powierzchni, w przeciwien¬ stwie do czujników dotychczas stosowanych, które ze wzgledu na ich skonczone wymiary nie zapewniaja pok¬ rycia badanej powierzchni dostatecznie gesta siecia punktów pomiarowych.Czujnik tensometryczny wedlug wynalazku stanowi cienka warstwa cieklego krysztalu umieszczona pomie¬ dzy dwiema przezroczystymi foliami, np. z polietylenu powleczonymi od strony warstwy cieklego krysztalu sub¬ stancja sprzyjajaca jego orientacji, taka jak lecytyna.Czujnik taki mozna przymocowac do badanej powierz¬ chni, a w przypadku, gdy prowadzona jest ciagla obser¬ wacja wystepujacych naprezen, np. przy zaporach wodnych, warstwe cieklego krysztalu mozna nakladac bezposrednio na badana powierzchnie pokryta jedynie substancja sprzyjajacajego orientacji, taka jak lecytyna i tylko zewnterzna powierzchnie cieklego krysztalu zabez¬ piecza sie przezroczysta folia powleczona od strony war¬ stwy cieklego krysztalu substancja sprzyjajaca jego orientacji.Obserwacje i pomiar naprezen powierzchniowych pro¬ wadzi sie w swietle spolaryzowanym przechodzacymlub odbitym, w zaleznosci odjakosci badanego podloza. Pod * wplywem przylozonego naprezenia samorzutnie zorien¬ towane krysztaly reorientujasie wywolujac dwójlomnosc czujnika. Lokalna wartosc dwójlomnosci, objawiajaca sie powstawaniem prazków interferencyjnych jest pro¬ porcjonalna do dzialajacych sil.Powstajacy w sposób powyzej okreslony, obraz izo- chrom i izoklin mozna rejestrowac za pomoca aparatu fotograficznego a przy naprezeniach szybkozmiennych za pomoca aparatu filmowego.Wartosci bezwzgledne mierzonych naprezen mogabyc okreslane za pomoca odpowiedniego, wyskalowanego czujnika.Zastrzezenia patentowe 1. Czujnik tensometryczny, znamienny tya, ze sta¬ nowi go warstwa cieklego krysztalu umieszczona pomie-3 112891 4 dzy dwiema przezroczystymi foliami, powleczonymi od strony warstwy cieklego krysztalu substancjasprzyjajaca jego orientacji. 2. Czujnik tensometryczny, znamienny tym, ze sta¬ nowi go warstwa cieklego krysztalu naniesiona na badana powierzchnie, pokryta substancja sprzyjajaca jego orientacji, a z zewnetrznej strony zabezpieczona przezroczysta folia równiez powleczona od strony war¬ stwy cieklego krysztalu substancja sprzyjajaca jego orientacji.Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz.Cena 45 zl PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Czujnik tensometryczny, znamienny tya, ze sta¬ nowi go warstwa cieklego krysztalu umieszczona pomie-3 112891 4 dzy dwiema przezroczystymi foliami, powleczonymi od strony warstwy cieklego krysztalu substancjasprzyjajaca jego orientacji.
2. 2. Czujnik tensometryczny, znamienny tym, ze sta¬ nowi go warstwa cieklego krysztalu naniesiona na badana powierzchnie, pokryta substancja sprzyjajaca jego orientacji, a z zewnetrznej strony zabezpieczona przezroczysta folia równiez powleczona od strony war¬ stwy cieklego krysztalu substancja sprzyjajaca jego orientacji. Prac. Poligr. UP PRL. Naklad 120 + 18 egz. Cena 45 zl PL