Przedmiotem wynalazku jest Uklad ge.neraicyj.ny wielkiej czestotliwosci do badania charakterysitylk teimperaitorowyoh czesto¬ tliwosci i rezystancji rezonatorów kwarcowych.Stan techniki. Znany jest uklad generacyjny wielkiej czestotliwosci do badania parametrów rezonatorów kwarccwycn zlozony l elementu wzmacniajacego i lUklaCAi dodatniego sprzezenia zwrotnego. Uklad sprzezenia zwrotnego zlozony jest z diwóch wspólbieznie przestrajanych obwo¬ dów rezonansowych, miedlzy które wlaczany jest jako element sprzegajacy badamy rezonator. Cze¬ stotliwosc dJrgan eleiktryciznych wytwarzanych przez omawiany uklad jest zblizona do rezonan¬ sowej czestotliwosci rezonatora, a ich amplituda zwiazana jest z równowazna rezystancja strat re¬ zonatora. Zmieniajac temperature badanego re- zonaitoira, przy jednoczesnej kontroli czestotliwcsci i ampliltudy drgan generowanych w ukladzie, moz¬ na uzyskac temperaturowe ohairalkterystyjki czesto¬ tliwosci i rezystancji /rezonatora.Opisany wyzej u/klad generacyjny wykorzysty¬ wany do pomiaru charakterystyk temperaturo- wych rezonatoró'w kwarcowych wymaga, dlla uzy¬ skania dostatecznej dokladnosci pomiaru, bezpo¬ sredniego dolaczenia badanego rezonatora do ukla¬ du wzbudzajacego. W konsekwencji prowadzi to, przy duzej liczbie jednoczesnie badanych elemen¬ tów, do powaznej rozbudowy stanowiska pomia¬ rowego i (mozliwosci wystapienia znacznych ble- 15 25 30 2 dów pomiaru. Rozbudowa stanowiska zwiazana jest z koniecznoscia przypcirizadkowanda kazdemu z badanych rezonatorów ukladu wzbudzajacego.Koniecznosc bezposredniego dolaczenia rezonatora do ukladu wzbudzajacego wymaga umieszczenia w zmiennych warunkach temperaturowych rezo¬ natora wraz z ukladem, co moze powodowac powstanie znacznych znieksztalcen charakterystyki temperaturowej badanego rezonatora. Umieszczenie dkladu wzbudzajacego poza komora termiczna za¬ wierajaca badany rezonator, przy zapewnieniu bardzo malych odleglosci rrjiedzy rezonatorem a Ukladem, prowadzi do powaznych bledów pomia¬ ru temperatury zwiazanych z niedostatecznym od- izoilowaniem badanego rezonatora od wplywów zewnetrznych.Dla unilkniecia wyzej wspomnianych riiedogod-. nosci opracowano generacyjny uklad pomiarowy, zapewniajacy pomiar charakterystyk temperaturo¬ wych rezonatorów 'kwarcowych wielkiej czestotli¬ wosci umieszczonych z dala od ukladu pomiaro¬ wego w przestrzeni o programowanej, stabilnej i dokladnie ofkreslonej temperaturze.Istota wynalazku. Uklad generacyjny wedlug wynalazku zawiera uklad wzmacniajacy i wspól¬ pracujacy z nim Uklad sprzezenia, awroltnego z badanym rezonatorem charakteryzujacy sie tym, ze rezonator wlaczony jest lancuchowo miedzy dwa odcinki asymetrycznych elementów transmi¬ syjnych wielkiej czestotliwosci, korzystnie odciin- 112 6393 112G39 4 ków linii koncentrycznej. Kazdy z tych odcinków ma dlugosc elektryczna k-X, gdzie wartosc k zawiera sie w granicach 0,35—0,65, a X oznacza dlugosc fali elektromagnetycznej w omawianych elementach transmisyjnych. Jedna z elektrod rezo- naltoira polaczona jest z koncem wewnetrznego przewodu jednego z (odcinków linii, a druga ele¬ ktroda z 'koncem weiwnetrznego przewodu dru¬ giego z tych odcinków. Konce zewnetrznych prze¬ wodów obu odcinków polaczone sa ze soba, nato¬ miast pozostale konce: odcinlków linii dolaczone sa do pazo^stólej czesci ukladlu sprzezenia zwrotnego.Korzystne skutki wynalazku. Dla czestotliwosci lezacych w pasmie czestotliwosci, dla których dlu¬ gosc elektryczna omawtLanych odcinków linii kon¬ centrycznej równa jest kA, 0,35 ^ k ^ 0,65, uzy¬ skuje sie duza dclkladnosc pomiaru temperaturowej dharakterysfcyki czestotliwosci rezonatora.. Dla re¬ zonatorów w. oz. o typowych parametrach jest ona irzedu ± 10-7. Umozliwia to zastawanie oma¬ wianego ukladu generacyjnego w stosunkowo sze¬ rokim pasanie czestotliwosci, bez koniecznosci zmiany dlugosci odcinlków linii koncentrycznej.Zdefiniowane polaczenie badanego rezonatora z ukladam pomcarowyim stosunkowo' dlugim odcin¬ kiem linii koncentrycznej umozliwia calkowita konitirole temperatury rezonatora, zwlaszcza po¬ przez umieszczenie go wewnatrz komory o stabil¬ nej i precyzyjnie nastawianej temperaturze. Po¬ woduje to w efekcie istotne zmniejszenie bledu pomiaru spowodowanego niedokladna znajomoscia temperatury rezonaifcara. Pozwala to równiez na (Zmniejszenie co najmniej o rzad wplywu znacz¬ nych zmian temperatury, jakim poddawane sa -badane rezonatory, na uklad generacyjny, który moze byc w tym przypadku skutecznie odizolo¬ wany termicznie od i^rzestrzeni zawierajacej- ba¬ dane obiekty.Objasnienie rysunku. Pirzedrnliot wynalazku jest'uwidoczniony w przykladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat elektryczny ukladlu.Przyklad wykonania wynalazku. Uklad genera¬ cyjny zlozony jest z nieliniowego elementu wzmacniajacego W, do wejscia i wyjscia którego dolaczony jest liniowy uklad sprzezenia zwrotne¬ go. Uklad sprzezenia zwrotnego sklada sie z dwóch wspólbieznie przesttmajattiych obwodów re¬ zonansowych L, C wspólpracujacych z odcinkami asymetrycznej linii transmisyjnej Ax i A2 miedzy które w sposób lancuchowy wlaczony jest badany .rezonator Q. W kazdym z obwodów szeregowo z indukcyjnoscia L od sitrony masy wlaczony jest rezystor R.Rezonator Q znajduje sie wewnatrz komory K o regulowanej i stabilizowanej temperaturze za pomoca ukladu termoregulacji T.Przestraijajac obwody rezonansowe, uzysikuje sie warunek wzbudzenia drgan, to znaczy laczne prze¬ suniecie fazy ukladu sprzezenia zwrotnego i nie¬ liniowego elementu wzmacniajacego równe jest 360°, a iloczyn tlumienia, ukladu sprzezenia zwrot¬ nego i wzmocnienia elementu wzmacniajacego jest wieksze od jednosci. Amplituda drigan w ukladzie ustala sie na wartosci, przy której, wskutek nieli¬ niowosci elementu wzmacniajacego, wzmocnienie w petli osiaga wartosc 1.Przy dos/trojemiu obwodów rezonansowych do maksymalnej amplitudy drgan, czestotliwosc tych drgan jest zblizona do rezonansowej czestotliwosci badanego rezonatora.. Natomiast maksymalna am¬ plituda dffigan jest miara równowaznej rezystancji strat rezonatora, przy czym zaleznosc amplitudy od rezystancji mozna wyznaczyc np. poprzez pod¬ stawienie w miejsce badanego rezonatora szeregu bezrealktancyjnych rezystorów o rezysitancjach z zaikresem równowaznych rezystancji rezonatorów.Dla pomiaru chara'kterysty1ki temperaturowych zmian czestotliwosci i rezystancji rezonatcra kwar¬ cowego nalezy zatem, po ustaleniu temperatury rezonatora, dokonac pomiaru czesfbottliiwosci drgan generowanych w ukladzie przy maksymalnej amplitudzie tych drgan oraz zmierzyc amplitude drgan, której odpowiada okreslona wartosc rów¬ nowaznej rezystancji rezonatora. Nastepnie nalezy powtórzyc w/w proces pomiarowy, zmieniajac temperature badanego rezonatora wedlug okres¬ lonego programu w calym zakresie interesujacych temperatur.Zastrzezenie patentowe Uklad generacyjny wielkiej czestotliwosci do badania charakterystyk temperaturowych czesto¬ tliwosci i rezystancji rezonatorów kwarcowych zawierajacy -uklad .wzmacniajacy i wspólpracujacy z nim Uklad sprzezenia zwrotnego zawierajacy badany rezonator, znamienny *tym, ze rezonator wlaczony jest lancuchowo miedzy dwa odcinki asymetrycznych elementów (transmisyjnych wiel¬ kiej czestotliwosci korzystnie odcinków linii kon¬ centrycznej (Aj d A2) kazdy o dlugosci elektrycznej k. X gdzie wartosc k zawiera sie w granicach 0,35 -i- 0,65 a X t/o dlugosc fali elektromagnetycznej w tych elementach, przy czym elektroda (1) re¬ zonatora polaczona jest z koncem (3) wewnetrzne¬ go przewodu odcinka (Aj) a druga elektroda (2) z koncem <5) wewnetrznego przewodu odcinka obu odcinków linii pjoilaczone sa ze soba, natomiast pozostale konce odcinków linii (AJ dolaczone sa do pozostalej czesci ukladu sprzezenia zwrotnego generatora. 10 15 20 25 30 35 40 45 50112 639 ri--| Xli *I I HI—o (1 L lT PLThe subject of the invention is a high-frequency general frequency and resistance geometry system for testing the frequency and resistance characteristics of quartz resonators. State of the art. There is a known high-frequency generator system for studying the parameters of quartz-resonators composed of the amplifying element and the positive feedback. The feedback circuit is composed of two concurrently tuned resonance circuits, between which the resonator is connected as a coupling element. The frequency of the electromagnetic vibrations produced by the discussed system is close to the resonant frequency of the resonator, and their amplitude is related to the equivalent resistance of the resonator losses. By changing the temperature of the tested resonator, with the simultaneous control of the frequency and amplitude of vibrations generated in the system, it is possible to obtain temperature disturbances of frequency and resistance / resonator. The generation sequence described above is used to measure the temperature characteristics of the resonator. in order to obtain sufficient accuracy of the measurement, the direct connection of the tested resonator to the excitation system is required. As a consequence, with a large number of simultaneously tested elements, it leads to a serious expansion of the measuring stand and (the possibility of significant measurement errors. The development of the test stand is related to the necessity to add stress to each of the tested exciter system resonators. direct connection of the resonator to the excitation system requires placing the resonator together with the system under varying temperature conditions, which may result in significant distortions of the temperature characteristics of the tested resonator. In this system, it leads to serious errors in temperature measurement related to insufficient isolation of the tested resonator from external influences. In order to avoid the abovementioned inconveniences, a generational measurement system has been developed, ensuring the measurement of temperature characteristics of high frequency quartz resonators placed away from the measuring system in a space of programmable, stable and precisely defined temperature. SUMMARY OF THE INVENTION. The generator circuit according to the invention comprises an amplifying circuit and a coupling circuit cooperating with it. A coupling circuit with the investigated resonator, characterized by the fact that the resonator is connected in a chain between two sections of asymmetric high-frequency transmission elements, preferably cut-off of the concentric line 112 6393 112G39 . Each of these sections has an electric length k-X, where the value of k is within the range 0.35-0.65, and X is the length of the electromagnetic wave in the discussed transmission elements. One of the resonaltoir electrodes is connected to the end of the inner conductor of one of the line sections, and the other electrode to the end of the inner conductor of the other section. The ends of the outer conductors of both sections are connected to each other, while other ends: line sections are connected to the half-table part of the feedback system. Advantageous effects of the invention. For frequencies lying in the frequency band, for which the electrical length of the concentric line sections in question is equal to kA, 0.35 k ^ 0 65, a high accuracy of the temperature measurement of the resonator frequency is obtained. For the resonators of the oz. Typical parameters it is the order of ± 10-7. This enables the discussed generation system to be found in a relatively wide frequency sweep. , without the need to change the length of the concentric line segments. Defined connection of the tested resonator with the configuration of a relatively long the centric axis is made possible by the total temperature conitirole of the resonator, especially by placing it inside a chamber with a stable and precisely set temperature. This has the effect of significantly reducing the measurement error caused by the inaccurate knowledge of the resonance temperature. It also allows (Reducing at least an order of magnitude the effect of significant temperature changes to which the tested resonators are subjected to the generation system, which in this case can be effectively thermally insulated from the space containing the studied objects. EXPLANATION OF THE DRAWING The scope of the invention is shown in the example of the embodiment in the drawing, which shows the circuit diagram of the circuit. Embodiment of the invention The generator circuit is composed of a non-linear amplifier W, to the input and output of which a linear feedback circuit is connected. The feedback circuit consists of two concurrently transient resonance circuits L, C cooperating with sections of the asymmetric transmission line Ax and A2 between which the tested resonator Q is connected in a chain manner. In each of the circuits, the inductance L is connected in series with the inductance L from the ground sieve. resistor R. The resonator Q is located inside the chamber K with adjustable and stabilized temperature by means of the thermoregulation system T. By running the resonant circuits, the condition for excitation of vibrations is obtained, i.e. the total phase shift of the feedback system and the non-linear amplifying element is equal to 360 °, and the product of damping, feedback and amplification the strengthening element is greater than unity. The amplitude of the vibrations in the system is set at the value at which, due to the non-linearity of the reinforcing element, the gain in the loop reaches the value of 1. With three resonant circuits up to the maximum vibration amplitude, the frequency of these vibrations is close to the resonant frequency of the tested resonator. the maximum dffigan amplitude is a measure of the resonator's equivalent loss resistance, and the dependence of the amplitude on the resistance can be determined, for example, by substituting a series of non-realctance resistors with resistances with a range of equivalent resonator resistances for the measurement of temperature characteristics and frequency changes. Therefore, after determining the resonator temperature, one should measure the vibrations generated in the system at the maximum amplitude of these vibrations and measure the vibration amplitude, which corresponds to a specific value equal to the resonator resistance. Then, the above-mentioned measurement process should be repeated, changing the temperature of the tested resonator according to a specific program in the entire range of temperatures of interest. Patent disclaimer. High-frequency generation system for testing the temperature characteristics of the frequency and resistance of quartz resonators, including an amplifying and cooperating system with it. The feedback circuit containing the examined resonator, characterized in that the resonator is connected in a chain between two sections of asymmetric elements (high-frequency transmission elements, preferably sections of the concentric line (Aj d A2) each with an electrical length k. X where the value of k is within 0.35-and 0.65 a X is the length of the electromagnetic wave in these elements, the resonator electrode (1) connected to the end (3) of the inner conductor of the section (Aj) and the second electrode (2) ending <5) of the inner conductor of the section of both line sections are connected to each other, while the rest of the line segments (AJ are connected to the rest of the generator feedback. 10 15 20 25 30 35 40 45 50 112 639 ri-- | Xli * I I HI — o (1 L lT PL