PL111639B2 - Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics - Google Patents

Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics Download PDF

Info

Publication number
PL111639B2
PL111639B2 PL20616278A PL20616278A PL111639B2 PL 111639 B2 PL111639 B2 PL 111639B2 PL 20616278 A PL20616278 A PL 20616278A PL 20616278 A PL20616278 A PL 20616278A PL 111639 B2 PL111639 B2 PL 111639B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
objects
frequency
phase
optical
minimum
Prior art date
Application number
PL20616278A
Other languages
English (en)
Other versions
PL206162A1 (pl
Inventor
Aleksander Latka
Andrzej Met
Original Assignee
Politechnika Slaska Im Wincent
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Slaska Im Wincent filed Critical Politechnika Slaska Im Wincent
Priority to PL20616278A priority Critical patent/PL111639B2/pl
Publication of PL206162A1 publication Critical patent/PL206162A1/pl
Publication of PL111639B2 publication Critical patent/PL111639B2/pl

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do wyznaczania charakterystyki czestotliwosciowej fazowej obiek¬ tów, zwlaszcza minimalnofazowych. Przyrzad znajduje zastosowanie przy projektowaniu ukladów elektronicz¬ nych, ukladów automatyki, regulacji i sterowania oraz w miernictwie klasycznym.Obiekty sa calkowicie zdefiniowane, gdy znane sa ich charakterystyki czestotliwosciowe, to jest amplitudowa i fazowa. Pomiar charakterystyki fazowej jest bardzo trudny, a w niektórych przypadkach nawet niemozliwy. W przypadkach obiektów elektrycznych charakterystyke czestotliwosciowa fazowa mierzy sie niekiedy fazomierzami, a w przypadku obiektów innego rodzaju np. mechanicznych, pneumatycznych czy hydraulicznych do pomiarów fazy stosuje sie indywidualne skomplikowane metody. Z tego wzgledu dane w katalogach róznych obiektów zawieraja tylko charakterystyki czestotliwosciowe, amplitudowe na podstawie których nie mozna scisle okreslic charakterystyk czestotliwosciowych fazowych.Przyrzad wedlug wynalazku sklada sie ze zródla swiatla, dwóch ukladów optycznych, fotoelementu, elektronicznego ukladu przesuwajacego, wskaznika wielkosci wyjsciowej- ma filtr optyczny o charakterystyce krzywej wazacej polaczony z przesuwnym szablonem w postaci pochodnej charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej obiektu fotoelementu. Filtr optyczny polaczony jest z jednym ukladem optycznym, z którego pada strumien swietlny a przesuwny szablon polaczony jest z drugim ukladem, optycznym, na który przechodzi strumien swietlny.Przyrzad wedlug wynalazku cechuje prostota budowy i dzialania, a takze nieogranicznosc zastosowania ze wzgledu na zakres pomiarowy czestotliwosci.Wynalazek pokazano w przykladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy przyrzadu.Przyrzad sklada sie ze zródla swiatla 1, pierwszego ukladu optycznego 2, z którego pada równolegly strumien swietlny na filtr optyczny 3 o charakterystyce krzywej wazacej, przesuwnego szablonu 4 w postaci pochodnej charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej, z którego przechodzi strumien swietlny na drugi2 111639 uklad optyczny 5. Ponadto, ma fotoelement 6 polaczony z elektronicznym ukladem przesuwajacym 7 oraz wskaznikiem 8 wiekosci wyjsciowej. W sklad przyrzadu wchodzi takze zestaw szablonów do wzorcowania.Dzialanie przyrzadu polega na wyznaczaniu charakterystki czestotliwosciowej fazowej obiektów na podstawie ich charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej. Wyznaczanie charaktersytyki czestotliwosciowej fazowej odbywa sie na drodze fotoelektrycznej. Szablon 4 w postaci pochodnej charakterystyki czestotliwoscio¬ wej amplitudowej przesuwa sie wzdluz filtru optycznego 3 o charakterystyce krzywej wazacej, oswietlonego równolegla wiazka swiatla. Tak uformowany sygnal swietlny jest odbierany przez fotoelement 6. Sygnal elektryczny z fotoelementu jest poddawany obróbce w elektronicznym ukladzie przesuwajacym 7 i zostaje potem wyswietlony w jednostkach katowych fazy na mierniku wyjsciowym 8. Dzieki uzyciu szablonu przesuwnego charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej mozna ja zamodelowac w dowolnym zadanym zakresie czestotliwosci pracy.Zastrzezenie patentowe Przyrzad do wyznaczania charakterystyki czestotliwosciowej fazowej obiektów, zwlaszcza minimalnofazo- wych, skladajacy sie ze zródla swiatla, dwóch ukladów optycznych, fotoelementu, elektronicznego ukladu przesuwajacego oraz wskaznika wielkosci Wyjsciowej, znamienny tym, ze ma filtr optyczny (3) o charakterystyce krzywej wazacej polaczony z przesuwnym szablonem (4) w postaci pochodnej charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej obiektu, przy czym filtr optyczny (3) polaczony jest z ukladem optycznym (2), z którego pada równolegly strumien swietlny a przesuwny szablon (4) polaczony jest z drugim ukladem optycznym (5), na który przechodzi strumien swietlny. 1 I ' 3 4: , I 5 6 EZi 6 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do wyznaczania charakterystyki czestotliwosciowej fazowej obiektów, zwlaszcza minimalnofazo- wych, skladajacy sie ze zródla swiatla, dwóch ukladów optycznych, fotoelementu, elektronicznego ukladu przesuwajacego oraz wskaznika wielkosci Wyjsciowej, znamienny tym, ze ma filtr optyczny (3) o charakterystyce krzywej wazacej polaczony z przesuwnym szablonem (4) w postaci pochodnej charakterystyki czestotliwosciowej amplitudowej obiektu, przy czym filtr optyczny (3) polaczony jest z ukladem optycznym (2), z którego pada równolegly strumien swietlny a przesuwny szablon (4) polaczony jest z drugim ukladem optycznym (5), na który przechodzi strumien swietlny. 1 I ' 3 4: , I 5 6 EZi 6 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
PL20616278A 1978-04-17 1978-04-17 Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics PL111639B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20616278A PL111639B2 (en) 1978-04-17 1978-04-17 Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20616278A PL111639B2 (en) 1978-04-17 1978-04-17 Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL206162A1 PL206162A1 (pl) 1979-02-26
PL111639B2 true PL111639B2 (en) 1980-09-30

Family

ID=19988745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20616278A PL111639B2 (en) 1978-04-17 1978-04-17 Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL111639B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL206162A1 (pl) 1979-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2417753A1 (fr) Systeme de mesure optique a distance et de controle d'un objet subissant une transformation physique
ATE56537T1 (de) Laengenmessvorrichtung nach dem zweistrahl-laser- interferometerprinzip.
SE8402289L (sv) Med mikrovag arbetande fuktighetsindikator
DK0451330T3 (da) Fremgangsmåde til automatisk justering eller efterjustering af målinger af en fysisk størrelse
US3988591A (en) Photometric method for the quantitative determination of a material or substance in an analysis substance and photoelectric photometer for the performance of the aforesaid method
US3332153A (en) Temperature compensating system
Pryor et al. The diffractographic strain gage: Small strains can be accurately measured using the diffraction of light through an aperture which is fixed to a structure so that its size is a function of strain
PL111639B2 (en) Device for determination of frequency and phase response of some objects in particular those with minimum phasecharacteristics
DE58901703D1 (de) Messzirkel.
CH622927B (fr) Montre electronique permettant la mesure du temps de reaction.
SU763699A1 (ru) Способ бесконтактного измерени температуры
SU585450A1 (ru) Измерительный мост
SU1171748A1 (ru) Способ настройки реле времени
SU1257416A1 (ru) Пьезооптический преобразователь
SU781555A1 (ru) Цифровой автоматический многоточечный тензометрический прибор
SU1567893A1 (ru) Пирометр
SU1211603A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
SU1700510A1 (ru) Способ определени прозрачности среды
SU1538031A1 (ru) Индуктивный измеритель перемещений
SU1402979A1 (ru) Устройство дл автоматического считывани показаний со шкал повер емых приборов
SU381885A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство для измерения шероховатости металлической поверхности
JPS55103414A (en) Aural output electronic measuring unit
SU1428968A1 (ru) Фокометр
RU2077023C1 (ru) Способ измерения электрических и неэлектрических величин
RO83884B (ro) DISPOZITIV DE PRELUAT VALOAREA MASURATA îN SPECIAL PENTRU POZITIONAREA PIESELOR

Legal Events

Date Code Title Description
LICE Declarations of willingness to grant licence

Effective date: 20100322