PL109492B1

PL109492B1 - Method of eliminating statistic fluctuations during measurement of nuclear radiation intensity

Info

Publication number: PL109492B1
Application number: PL19718877A
Authority: PL
Inventors: Benedykt Kaminski
Original assignee: Inst Elektrotechniki
Priority date: 1977-04-04
Filing date: 1977-04-04
Publication date: 1980-06-30
Also published as: PL197188A1

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób eliminacji fluktuacji statystycznych w pomiarach natezenia promieniowania jadrowego.The subject of the invention is a method for eliminating statistical fluctuations in the measurements of the intensity of nuclear radiation.

Do chwili obecnej nie znane sa sposoby elimi¬ nacji fluktuacji statystycznych w pomiarach na¬ tezenia promieniowania jadrowego. Samo zjawisko fluktuacji statystycznych zwiazane jest z tym, ze w kazdym zródle promieniowania jadrowego roz¬ pad pojedynczego atomu, któremu towarzyszy wy- promieniowanie czastki elementarnej alfa, beta lub fotonu gamma, jest zjawiskiem niezaleznym od rozpadów atomów sasiednich, przez co wypadko¬ wy przebieg rozpadów promieniotwórczych wszy¬ stkich atomów wchodzacych w sklad zródla pro¬ mieniowania posiada charakter statystyczny. W de¬ tektorach promieniowania padajace czastki ele¬ mentarne lub fotony zamieniane sa na impulsy elektryczne, których rozklad w czasie równiez ma charakter statystyczny. Impulsy te moga byc w detektorze od razu zamieniane na sygnal analo¬ gowy, co ma miejsce na przyklad w komorach jo¬ nizacyjnych lub przekazywane do mierników cze¬ stosci impulsów, tak zwanych integratorów o ana¬ logowym sygnale wyjsciowym proporcjonalnym do czestosci impulsów.To date, there are no known methods of eliminating the statistical fluctuations in the measurements of the nuclear radiation intensity. The very phenomenon of statistical fluctuations is related to the fact that in each source of nuclear radiation, the decay of a single atom, accompanied by the radiation of the alpha, beta or gamma elementary particle, is a phenomenon independent of the decay of neighboring atoms, thus the accidental course of decay radioactive all atoms constituting the radiation source is of a statistical nature. In radiation detectors, incident elementary particles or photons are converted into electrical impulses, the distribution of which is also statistical in time. These pulses can be immediately converted in the detector into an analog signal, which is the case, for example, in ionization chambers, or transmitted to pulse rate meters, so-called integrators with an analog output signal proportional to the pulse frequency.

W teorii statystycznej integratora (William J.In the statistical theory of an integrator (William J.

Price — Detekcja promieniowania jadrowego — rozdzial 3) wynikajacej z prawa rozkladu Poisso- na najwiekszy blad wzgledny pojedynczego od- okreslony z prawdopo- 10 25 80 AU m czytu wynosi ± — = Uo \/2Nt dobienstwem 0,68 dla m = 1 (blad sredni), z praw¬ dopodobienstwem 0,95 dla m = 2 i z prawdopodo¬ bienstwem 0,9973 dla m = 3. Najwieksza bezwzgled¬ na wartosc fluktuacji statystycznych wokól war¬ tosci sredniej napiecia wyjsciowego z integratora m AU = + U0 v/2Ni ¦ gdzie N jest srednia czestoscia impulsów sterujacych integrator, t — stala cza¬ sowa obwodu kumulujacego, a U0 — srednim na¬ pieciem ustalonym na obwodzie kumulujacym in¬ tegratora.Price - Detection of nuclear radiation - chapter 3) resulting from the Poisso decomposition law - the largest relative error of a single determined with the probability of 10 25 80 AU m reading is ± - = Uo \ / 2Nt with an approximation of 0.68 for m = 1 (error mean), with a probability of 0.95 for m = 2 and with a probability of 0.9973 for m = 3. The highest absolute value of statistical fluctuations around the mean value of the output voltage from the integrator m AU = + U0 v / 2Ni Where N is the average frequency of the control pulses of the integrator, t is the time constant of the accumulator circuit, and U0 is the average voltage established on the accumulator circuit of the integrator.

Cecha charakterystyczna znanych sposobów po¬ miaru natezenia promieniowania jadrowego jest wystepowanie bledu statystycznego. W przypadku pomiarów za pomoca integratorów przy stalej ge¬ ometrii zródlo promieniowania — detektor, ob¬ jawia sie to fluktuacjami napiecia wyjsciowego wokól wartosci sredniej.A characteristic feature of the known methods of measuring the intensity of nuclear radiation is the occurrence of a statistical error. In the case of measurements with integrators with a constant geometry of the radiation source - detector, this is manifested by fluctuations in the output voltage around the mean value.

Celem wynalazku jest umozliwienie pomiaru od¬ powiadajacego faktycznemu natezeniu promienio¬ wania jadrowego.The object of the invention is to enable the measurement of the actual intensity of the nuclear radiation.

Sposób bedacy przedmiotem wynalazku polega na tym, ze z'dwóch integratorów o tych samych zakresach pomiarowych i stalej czasowej pierw¬ szego integratora wiekszej od stalej czasowej dru¬ giego integratora, sterowanych z jednego detek¬ tora promieniowania jadrowego, otrzymuje sie syg- 109 492109 492 3 nal róznicowy pomiedzy zapamietana wartoscia szczytowa napiecia z integratora drugiego a zapa¬ mietana wartoscia szczytowa napiecia z integra¬ tora pierwszego, który po wzmocnieniu do warto- 1 sci K = —==— i odjeciu od juz zapamietanej war- Yi a-i T2 tosci szczytowej napiecia z integratora pierwszego jest zapamietana wartoscia szczytowa napiecia wyj¬ sciowego bez fluktuacji statystycznych. Nastepnie sygnal wyjsciowy wykorzystany jest do ustawia¬ nia punktu pracy funkcyjnego ogranicznika na¬ piecia ograniczajacego napiecie wyjsciowe wzmac¬ niacza sygnalu róznicowego do wartosci propor¬ cjonalnej do pierwiastka kwadratowego tego syg¬ nalu. Poza tym sygnal wyjsciowy po porównaniu z sygnalem wyjsciowym drugiego integratora uru¬ chamia detektor przejscia przez zero z logicz¬ nym ukladem sterujacym, na którego wyjsciu w przypadku wartosci bezwzglednej napiecia integra¬ tora drugiego wiekszej od wartosci bezwzglednej napiecia wyjsciowego pojawia sie pierwsza para impulsów próbkujacych zalaczajaca w ukladach próbkujacych z pamiecia wartosci szczytowych na¬ piec z integratora pierwszego i z integratora dru¬ giego oraz napiecia wyjsciowego gotowosc pomia¬ ru i zapamietania szczytu rosnacego oddalajacego sie od wartosci zerowej, a w przypadku wartosci bezwzglednej napiecia z integratora drugiego mniej¬ szej '* od wartosci bezwzglednej napiecia wyjscio¬ wego pojawia sie druga para impulsów próbkuja¬ cych zalaczajaca w tych ukladach gotowosc po¬ miaru i zapamietania szczytu malejacego zblizaja¬ cego sie do wartosci zerowej.The method of the invention consists in the fact that two integrators with the same measurement ranges and the time constant of the first integrator greater than the time constant of the second integrator, controlled by one detector of nuclear radiation, receive the signal 109 492 109 492. 3 is the difference between the stored peak voltage value from the second integrator and the peak peak voltage value from the first integrator, which after amplification to the value of K = - == - and subtracting the peak value from the already stored value and T2 The voltage from the first integrator is stored at the peak value of the output voltage without statistical fluctuations. The output signal is then used to set the operating point of the functional voltage limiter limiting the output voltage of the differential signal amplifier to a value proportional to the square root of that signal. In addition, the output signal, after comparing with the output signal of the second integrator, activates the zero crossing detector with a logical control circuit, at the output of which, in the case of the absolute value of the second integrator voltage greater than the absolute value of the output voltage, the first pair of pulses switching on the sample appears in systems sampling from the memory of peak values of the voltages from the first integrator and the second integrator and the output voltage, readiness to measure and store the rising peak away from the zero value, and in the case of the absolute value of the voltage from the second integrator lower than the value of The second pair of sampling pulses appears in these systems, enabling the readiness to measure and store the decreasing peak approaching zero in these systems.

W przypadku przejscia wartosci' bezwzglednej napiecia z integratora drugiego z wartosci wiek¬ szej od wartosci bezwzglednej napiecia wyjscio¬ wego na mniejsza natychmiast wylaczana jest pierwsza para impulsów próbkujacych i 'z opóz¬ nieniem zalaczany jest z drugiej pary najpierw impuls pierwszy sterujacy uklad próbkujacy z pa¬ miecia wartosci szczytowej napiecia z integratora drugiego, a nastepnie drugi impuls sterujacy jed¬ noczesnie ukladami próbkujacymi z pamiecia war- 45 tdsci szczytowych napiecia z integratora pierw¬ szego i napiecia wyjsciowego oraz , odwrotnie w przypadku*^przejscia wartosci bezwzglednej napie¬ cia z integratora drugiego z wartosci mniejszej "" od wartosci bezwzglednej napiecia wyjsciowego na w .wieksza natychmiast wylaczana jest druga para impulsów próbkujacych i z opóznieniem zalacza¬ ny jest z pierwszej pary najpierw impuls pierw¬ szy sterujacy uklad próbkujacy z pamiecia war¬ tosci szczytowej napiecia z integratora drugiego, a nastepnie drugi impuls sterujacy jednoczesnie ukladami próbkujacymi z pamiecia wartosci szczy¬ towych napiecia z integratora pierwszego i na¬ piecia wyjsciowego.In the case of the transition of the absolute value of the voltage from the integrator of the second from the value greater than the absolute value of the output voltage to the lower one, the first pair of sampling pulses is immediately switched off and with a delay, the first pulse from the second pair is first controlled by the sampling system The peak voltage value from the second integrator, and then the second pulse controlling simultaneously the sampling systems from the peak voltage value memory from the first integrator and the output voltage and, conversely, in the case of the transfer of the absolute value of the voltage from the integrator the second of the lower value "" from the absolute value of the output voltage to the greater value, the second pair of sampling pulses is immediately turned off and with a delay, the first pair of the first pair is switched on, first the first control pulse of the sampling system from the peak voltage memory of the second integrator, then a second control impulse they are simultaneously sampling circuits from the memory of the peak voltage values from the first integrator and the output voltage.

Zastosowanie wynalazku rozszerza mozliwosci prowadzenia badan podstawowych w fizyce jadro¬ wej oraz wykorzystania promieniowania jadrowe¬ go w technice.The application of the invention extends the possibilities of basic research in nuclear physics and the use of nuclear radiation in technology.

Sposób eliminacji fluktuacji statystycznych w po¬ miarach natezenia promieniowania jadrowego za 10 15 20 25 30 35 40 55 60 65 pomoca integratorów bedzie objasniony na pod¬ stawie dzialania przykladowego ukladu" do po¬ miaru natezenia promieniowania jadrowego, któ¬ rego schemat przedstawiono na zalaczonym ry¬ sunku.The method of elimination of statistical fluctuations in the measurements of the intensity of nuclear radiation with the help of integrators will be explained on the basis of the operation of an exemplary system "for measuring the intensity of nuclear radiation, the diagram of which is presented in the attached figure. ¬ sun.

Do dwóch integratorów Ii i I2 doprowadzone sa za posrednictwem ukladu formujacego F impulsy z de¬ tektora promieniowania jadrowego, które zamieniane sa na sygnaly analogowe pradu stalego. Napiecie "wyjsciowe z integratora pierwszego Ii o stalej cza- mUp sowej ti wynosi Ui = U0 ± r = U0 ± A Ui, a z V2Nti o stalej czasowej t2 < Ti -=U0±AU2. W przebie- integratora drugiego I2 wynosi U2 = U0 + U0- V^2Nt2 gach czasowych sygnalów Ui i U2 musza wystepo¬ wac w stanie ustalonym kolejno_po sobie warto¬ sci maksymalne + AUi i + A U2 i minimalne — A Ui i —AU2, które sa wartosciami ekstremal¬ nymi ± A Ui i ± A U2. Amplitudy tych kolejno wy¬ stepujacych wartosci ekstremalnych zawarte sa w 3 przedziale od zera do wartosci równej "Uo ^=^^- }/2N t okreslonej z prawdopodobienstwem 0,9973. Ze wzgledu na rózne stale czasowe obu integrato¬ rów Ii i I2 wielkosci tych amplitud sa niejedna¬ kowe oraz przesuniete wzgledem siebie w czasie.To the two integrators Ii and I2, pulses from the nuclear radiation detector are supplied via the system forming F, which are converted into analog signals of direct current. The output voltage from the first integrator Ii with a constant time constant ti is Ui = U0 ± r = U0 ± A Ui, and from V2Nti with a time constant t2 <Ti - = U0 ± AU2. In the waveform of the second integrator I2 is U2 = U0 + U0- V ^ 2Nt2 time ranges of signals Ui and U2 must occur in a steady state one after another maximum values + AUi i + A U2 and minimum values - A Ui i -AU2, which are extreme values ± A Ui i ± A U2 The amplitudes of these successively overlapping extreme values are in the 3 range from zero to the value equal to "Uo ^ = ^^ -} / 2N t with a probability of 0.9973. Due to the different time constants of both integrators Ii and I2, the values of these amplitudes are non-uniform and are shifted in time.

Stosunek tych amplitud jest wartoscia stala i wy¬ nosi ± AU2 m m /"- ^=T = U0 —= : Uo —= - 1/ IL ±AUi V2Nt2 V2NT! \ t2 ±AU2 = ±T/ 1L Aui skad W celu otrzymania i zapamietania wartosci eks¬ tremalnych sygnaly wyjsciowe Ui i U2 z integra¬ torów Ii i I2 doprowadzane sa do ukladów prób¬ kujacych z pamiecia wartosci szczytowych Mi i M2. Odejmujac od wartosci ekstremalnej sygnalu U2 wartosc ekstremalna sygnalu Ui — co jest zre¬ alizowane w ukladzie sumujacym S otrzymujemy: U0±l/iL - AUi-(U0±AUi) =±Yi •AUi-(±AUi) = ± J|/lL -ljAUl A wiec na wyjsciu ukladu sumujacego S dosta¬ jemy wartosc ekstremalna fluktuacji statystycz¬ nych ± A Ui integratora pierwszego Ii pomnozona w- przez wspólczynnik a= I/—— 1. Mnozac te war- V t2 tosc przez odwrotnosc wspólczynnika a co jest zrealizowane we wzmacniaczu A o wzmocnieniu 1 K — oraz odejmujac ja w ukladzie sumujacym & — S od wartosci ekstremalnej sygnalu wyjscio¬ wego integratora pierwszego otrzymamy dla sta¬ nu ustalonego eliminacje fluktuacji statystycznych, a mianowicie Ui- ±A*(/i-i) 1 1 Yl~: = U0 ± A Ui - (± A Ux) = U*5 109 492 6 Wartosc ta doprowadzona do ukladu próbkuja¬ cego z pamiecia wartosci szczytowej M8 jest w tym ukladzie zapamietywana i stanowi na jego wyjsciu sygnal wyjsciowy U0. Uklady próbkujace z pamiecia wartosci szczytowych Mi, M2 i M8 po¬ siadaja mozliwosc wybierania rodzajów szczytów dodatnich lub ujemnych za pomoca par impulsów próbkujacych pi i qi, p2 i q2. W przypadku braku impulsów próbkujacych uklady te Mi, M2 i M8 pa¬ mietaja ostatnio wprowadzona do nich wartosc. > Do wysylania odpowiednich impulsów próbkuja¬ cych ¦ wykorzystany jest detektor przejscia przez zero z logicznym ukladem sterujacym D. Stero¬ wany on jest róznica sygnalów pomiedzy napie¬ ciem wyjsciowym z integratora drugiego U2 a na¬ pieciem wyjsciowym U0. Jesli wartosc bezwzgledna U2 jest wieksza od wartosci bezwzglednej U0 wów¬ czas na wyjsciu detektora przejscia przez zero z lo¬ gicznym ukladem sterujacym D pojawia sie pierwsza para impulsów próbkujacych pi i qi zalaczajaca w ukladach Mi, M2, M8 gotowosc pomiaru i za¬ pamietania szczytu dodatniego, a dla wartosci bez¬ wzglednej U2 mniejszej od wartosci bezwzglednej U0 pojawia sie druga para impulsów* próbkuja¬ cych p2 i q2 zalaczajaca w ukladach Mi, M2 i M8 gotowosc pomiaru i zapamietania szczytu ujemne¬ go.The ratio of these amplitudes is a constant value and amounts to ± AU2 mm / "- ^ = T = U0 - =: Uo - = - 1 / IL ± AUi V2Nt2 V2NT! \ T2 ± AU2 = ± T / 1L Aui composition. and remembering the extreme values, the output signals Ui and U2 from the integrators Ii and I2 are fed to the sampling circuits from the memory of peaks Mi and M2. Subtracting from the extreme value of the signal U2 the extreme value of the signal Ui - which is implemented in in the summing system S we get: U0 ± l / iL - AUi- (U0 ± AUi) = ± Yi • AUi- (± AUi) = ± J | / lL -ljAUl So at the output of the summing system S we get the extreme value of statistical fluctuations ¬nych ± A Ui of the first integrator Ii multiplied w- by the factor a = I / —— 1. Multiply this value V t2 by the reciprocal of the factor a, which is realized in the amplifier A with the gain 1 K - and subtracting it in the summing system & - S from the extreme value of the output signal of the first integrator, we get elimination of statistical fluctuations for a steady state ych, namely Ui ± A * (/ ii) 1 1 Yl ~: = U0 ± A Ui - (± A Ux) = U * 5 109 492 6 This value fed to the sampling system from the peak memory M8 is it is stored in this system and constitutes the output signal U0 at its output. The sampling circuits from the peak memory Mi, M2 and M8 have the possibility to select the types of positive or negative peaks using pairs of sampling pulses pi and qi, p2 and q2. In the absence of sampling pulses, these Mi, M2 and M8 remember the last value entered into them. > A zero-crossing detector with logic control circuit D is used to send the appropriate sampling pulses. The signal difference between the output voltage of the second integrator U2 and the output voltage U0 is controlled. If the absolute value of U2 is greater than the absolute value of U0, then at the output of the zero crossing detector with the logic control circuit D there appears the first pair of pulses sampling pi and qi, which includes in the systems Mi, M2, M8 readiness to measure and remember the peak positive, and for the absolute value U2 lower than the absolute value U0 there appears a second pair of sampling pulses p2 and q2, which in the systems Mi, M2 and M8 enable readiness to measure and store the negative peak.

W celu wyeliminowania mozliwosci wprowadze¬ nia do ukladu próbkujacego z,pamiecia wartosci szczytowych M8 falszywych sygnalów, które po-"' jawiaja sie w chwili przelaczenia rodzaju szczy¬ tów, konieczna jest odpowiednia kolejnosc zala¬ czania impulsów próbkujacych. W przypadku przej¬ scia wartosci bezwzglednej U2 z wartosci wiekszej od wartosci bezwzglednej U0 na mniejsza, natych¬ miast wylaczone sa impulsy próbkujace Pi i qi i z opóznieniem zalaczany jest najpierw impuls p2 ste¬ rujacy ukladem próbkujacym z pamiecia wartosci szczytowej M2, a nastepnie q2 sterujacy jednoczesnie ukladami próbkujacymi z pamiecia wartosci szczy¬ towej Mi i M2 oraz odwrotnie w przypadku przej¬ scia wartosci bezwzglednej U2 z wartosci mniej¬ szej od wartosci bezwzglednej U0 na wieksza, na¬ tychmiast wylaczone sa impulsy próbkujace p2 i q2 i z opóznieniem zalaczany jest najpierw im¬ puls pi sterujacy ukladem M2 a nastepnie qi ste¬ rujacy jednoczesnie ukladami Mi i M8.In order to eliminate the possibility of introducing to the sampler the memory of the peaks M8 false signals that appear at the moment of switching the type of peaks, the appropriate sequence of switching on the sampling pulses is necessary. of the absolute value U2 from a value greater than the absolute value of U0 to a smaller value, immediately the sampling pulses Pi and qi are turned off and with a delay, first the impulse p2 controlling the sampling system from the peak memory M2, and then q2 controlling simultaneously the sampling circuits with the peak value Mi and M2, and vice versa, in the case of the transition of the absolute value U2 from a value lower than the absolute value U0 to a larger value, the sampling pulses p2 and q2 are switched off immediately and with a delay, first the pulse pi controlling the system M2 is switched on and then qi which controls Mi and M8 simultaneously.

Dla umozliwienia pomiaru zmian natezenia pro¬ mieniowania jadrowego wykorzystany jest sygnal wyjsciowy U0 ustawiajacy punkt pracy funkcyj¬ nego ogranicznika napiecia L ograniczajacego bez¬ wzgledna wartosc napiecia wyjsciowego wzmacnia¬ li m cza A do wartosci bezwzglednej —— ^U0# / ^ Ui |/2Nt Dzieki temu ograniczeniu do ukladu próbkujace¬ go z pamiecia wartosci szczytowych M8 natych¬ miast sa wprowadzane wartosci zmian natezenia promieniowania o wielkosciach wiekszych od do¬ puszczalnych zmian zwiazanych z fluktuacjami sta¬ tystycznymi bez dodatkowych opóznien znieksztal¬ cajacych przebieg badanych zmian w czasie.To measure changes in the intensity of nuclear radiation, the output signal U0 is used, which sets the operating point of the functional voltage limiter L limiting the absolute value of the output voltage amplifying the M link A to the absolute value —— ^ U0 # / ^ Ui | / 2Nt Due to this limitation to the sampling system from the memory of peak values M8, the values of changes in radiation intensity of magnitudes greater than the allowable changes associated with statistical fluctuations are immediately introduced without additional delays distorting the course of the studied changes in time.

Sposób eliminacji fluktuacji statystycznych we¬ dlug wynalazku mozna stosowac we wszystkich' u- kladach przeznaczonych do pomiarów natezenia promieniowania jadrowego za pomoca detektorów promieniowania o dzialaniu impulsowym.The method of eliminating statistical fluctuations according to the invention can be used in all systems designed to measure the intensity of nuclear radiation by means of pulsed radiation detectors.

Za str z er zenie patentowe 5 Sposób eliminacji fluktuacji statystycznych w pomiarach natezenia promieniowania jadrowego, znamienny tym, ze z dwóch integratorów (Ii, I2) o tych samych zakresach pomiarowych i stalej 10 czasowej x± pierwszego integratora wiekszej od stalej czasowej t2 drugiego integratora, sterowa¬ nych z jednego detektora promieniowania jadro¬ wego otrzymuje sie sygnal róznicowy (r) pomie¬ dzy zapamietana wartoscia szczytowa (m2) napie- 15 cia z integratora drugiego a zapamietana warto¬ scia szczytowa (mi) napiecia z integratora pierwsze¬ go, który pc wzmocnieniu do wartosci K= i odjeciu od juz zapamietanej wartosci szczyto¬ wej (mi) napiecia z integratora pierwszego jest zapamietana wartoscia szczytowa napiecia wyjscio¬ wego (U0) i stanowi punkt pracy funkcyjnego ogra- 25 nicznika napiecia (L) ograniczajacego napiecie wyj¬ sciowe wzmacniacza sygnalu róznicowego (A) do wartosci proporcjonalnej do pierwiastka kwadra¬ towego tego sygnalu (U0) oraz sluzy po porówna¬ niu z sygnalem wyjsciowym (U2) integratora dru- 3fr giego (I2) do uruchamiania detektora przejscia przez zero z logicznym ukladem sterujacym (D), na któ¬ rego wyjsciu w przypadku wartosci bezwzglednej napiecia z integratora drugiego (U2) wiekszej od wartosci bezwzglednej napiecia wyjsciowego (U0). j5 pojawia sie pierwsza para impulsów próbkujacych (Pi i qi) zalaczajaca w ukladach próbkujacych z pamiecia wartosci szczytowych (Mi, M2, M8),. na¬ piec (mi) z integratora pierwszego i (m2) z inte¬ gratora drugiego oraz napiecia wyjsciowego (U0), 40 gotowosc pomiaru i zapamietania szczytu rosna¬ cego oddalajacego sie od wartosci zerowej, a w przypadku wartosci bezwzglednej napiecia (U2) z integratora drugiego mniejszej od wartosci bez¬ wzglednej napiecia wyjsciowego (U0) pojawia sie « druga para impulsów próbkujacych p2 i q2 za¬ laczajaca w tych ukladach próbkujacych z pa¬ miecia wartosci szczytowych (Mi, M2, M8) goto¬ wosc pomiaru i zapamietania szczytu malejacego zblizajacego sie do wartosci zerowej, zas w przy- 50 padku przejscia wartosci bezwzglednej napiecia (U2) z integratora drugiego z wartosci wiekszej od wartosci bezwzglednej napiecia wyjsciowego (U0) na mniejsza, natychmiast jest wylaczana pier¬ wsza para impulsów próbkujacych (Pi, qi) i z 55 opóznieniem zalaczany jest z drugiej pary naj¬ pierw pierwszy impuls próbkujacy (p2) ^sterujacy uklad próbkujacy z pamiecia wartosci szczytowej (M2) i napiecia (m2) z integratora drugiego, a na¬ stepnie drugi impuls próbkujacy (q2) sterujacy jed- M noczesnie ukladami próbkujacymi z pamiecia war¬ tosci szczytowych (Mi i M8) napiecia (mi) z inte¬ gratora pierwszego i napiecia wyjsciowego (U0) oraz odwrotnie w przypadku przejscia wartosci bezwzglednej napiecia (U2) z integratora drugiego w z wartosci mniejszej od wartosci bezwzglednej na-7 109 492 S piecia wyjsciowego (U0) na wieksza natychmiast jest wylaczana druga para impulsów próbkujacych (Pj Qs) i z opóznieniem zalaczany jest z pierwszej pary najpierw pierwszy impuls (Pi) sterujacy uklad próbkujacy z pamiecia wrartosci szczytowej (M2) napiecia (m2) z integratora drugiego, a nastepnie drugi impuls (ou) sterujacy jednoczesnie uklada¬ mi próbkujacymi z pamiecia wartosci szczytowych (Mi i M3) napiecia (mi) z integratora pierwszego i napiecia wyjsciowego (U0).Patent p. 5 The method of elimination of statistical fluctuations in the measurements of nuclear radiation intensity, characterized by that of two integrators (Ii, I2) with the same measurement ranges and the time constant x ± of the first integrator greater than the time constant t2 of the second integrator, controlled from one nuclear radiation detector, the difference signal (r) is obtained between the stored voltage peak (m2) from the second integrator and the stored voltage peak (mi) from the first integrator, which pc of amplification to the value of K = and subtraction from the already remembered peak value (mi) of the voltage from the first integrator is the remembered peak value of the output voltage (U0) and is the operating point of the functional voltage limiter (L) limiting the output voltage of the differential signal amplifier (A) to a value proportional to the square root of this signal (U0) and is used after the comparison with the output signal (U2) of the second integrator (I2) to start the zero crossing detector with the logic control circuit (D), at the output of which in the case of the absolute value of the voltage from the second integrator (U2) greater than the absolute value of the output voltage ( U0). j5, the first pair of sampling pulses (Pi and qi) appear, joining the sampling circuits from the peak memory (Mi, M2, M8). the voltage (mi) from the first integrator and (m2) from the second integrator and the output voltage (U0), 40 readiness to measure and store the rising peak away from the zero value, and in the case of the absolute value of the voltage (U2) from the integrator second, lower than the absolute value of the output voltage (U0), there is a second pair of sampling pulses p2 and q2, connecting in these sampling systems with the peak value band (Mi, M2, M8), readiness to measure and store the descending peak approaching the zero value, while in the case of the transition of the voltage absolute value (U2) from the integrator of the second value greater than the output voltage absolute value (U0) to the lower value, the first pair of sampling pulses (Pi, qi) is immediately turned off and with a delay, first the first sampling pulse (p2) is switched on from the second pair of the control system from the peak value memory (M2) and voltage (m2) with the integrator and the second, and then the second sampling pulse (q2), which simultaneously controls the sampling systems from the memory of peak values (Mi and M8) of the voltage (mi) from the first integrator and the output voltage (U0) and vice versa in the case of the transition of the absolute value of the voltage (U2) from the second integrator from a value smaller than the absolute value at -7 109 492 S of the output five (U0) to a larger one, the second pair of sampling pulses (Pj Qs) is immediately turned off and with a delay the first pair is switched on first (Pi) a control sampling system from the peak value memory (M2) of the voltage (m2) from the second integrator, and then the second pulse (ou) simultaneously controlling the sampling systems from the voltage peak memory (Mi and M3) from the first integrator and the output voltage (U0).

He —A I Af# -(U0'-AUt) !jsLa> ?' % Pt\ \Pz u*h /r?ta UptAU, */ -5 A/2 ^^•^1^'^'f >4 H U(i jf ^ L> «l 11 1?' 1* i? WZGraf. Z-d 2, zam. nr 20/81, nakl. 95 Cena 45 zlHe —A I Af # - (U0'-AUt)! JsLa>? ' % Pt \ \ Pz u * h / r? Ta UptAU, * / -5 A / 2 ^^ • ^ 1 ^ '^' f> 4 HU (i jf ^ L> «l 11 1? '1 * i? WZGraf. Zd 2, order No. 20/81, certificate 95 Price PLN 45