PL108590B2 - Device for measuring profile of beam of charged particles - Google Patents

Device for measuring profile of beam of charged particles Download PDF

Info

Publication number
PL108590B2
PL108590B2 PL20581778A PL20581778A PL108590B2 PL 108590 B2 PL108590 B2 PL 108590B2 PL 20581778 A PL20581778 A PL 20581778A PL 20581778 A PL20581778 A PL 20581778A PL 108590 B2 PL108590 B2 PL 108590B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
rods
bundle
charged particles
profile
cross
Prior art date
Application number
PL20581778A
Other languages
English (en)
Other versions
PL205817A1 (pl
Inventor
Stanislaw Ugniewski
Original Assignee
Inst Badan Jadrowych
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Badan Jadrowych filed Critical Inst Badan Jadrowych
Priority to PL20581778A priority Critical patent/PL108590B2/pl
Publication of PL205817A1 publication Critical patent/PL205817A1/pl
Publication of PL108590B2 publication Critical patent/PL108590B2/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do pomiaru profilu wiazki czastek naladowanych. Wynalazek ma zastosowanie w konstrukcji akceleratorów, implantatorów jonów, kineskopów, spawarek elektronowiazkowych i w dziedzinach zblizonych. Znane dotychczas metody wyznaczania profilu wiazki czastek naladowanych pole¬ gaja na przemiataniu przekroju wiazki przy pomocy sond drutowych oraz rejestracji pradu zbieranego przez te sondy. Przykladem sondy drutowej jest uklad rejestrujacy róznice pradów dwóch równoleglych pretów o nieco róznych dlugosciach, usytuowanych tak, ze prety przemiataja wspólnie polowe przekroju wiazki przy czym konce pretów przemieszczaja sie wzdluz srednicy wiazki (J.G.Sieikman at al, Joum. of Phys,E: Scientific Instr. 8, 391-395, 1975). Prety te umocowane sa w obrotowym uchwycie. Jeden z pretów w znanym urzadzeniu pola¬ czony jest poprzez tlumik z jednym z wejsc oscyloskopu róznicowego natomiast drugi z pretów polaczony jest poprzez element opózniajacy z drugim wejsciem oscyloskopu. : W urzadzeniu wedlug wynalazku sonde stanowia dwa jednakowe prety umocowane we wspólnym uchwy¬ cie. Prety sa tak dlugie, ze sonda przemiata caly przekrój wiazki. Kazdy z pretów polaczony jest poprzez rezystor do masy. Spadki napiecia z rezystorów doprowadzone sa do dwu wejsc elementu róznicowego.Zaleta urzadzenia wedlug wynalazku w porównaniu ze znanym urzadzeniem jest prostota ukladu, brak linii opózniajacej i ukladu kompensacji tlumienia przez nia wprowadzanego.Wynalazek jest blizej objasniony w przykladzie wykonania odtworzonym na rysunku przedstawiajacym schemat blokowy urzadzenia.Pole przekroju wiazki czastek naladowanych 1 przemiatane jest w kierunku x zespolem dwóch pretów 2 umieszczonych we wspólnym uchwycie 3. Spadki napiec na rezystorach 4 wywolane przez prady kazdego z pretów sa doprowadzone do obu wejsc elementu róznicowego, stanowiacego wzmacniacz róznicowy 5, a naste¬ pnie steruja plytki odchylania pionowego oscyloskopu 6. Rozklad radialny gestosci pradu j(r) wiazki czastek naladowanych obliczany jest przy pomocy równania. •o /dx r 1 Cl /x/d j/r/ =-™yv£rr? j/1 gdzie (I(x) jest pradem sondy, t oznacza grubosc preta, natomiast w jest odlegloscia miedzy pretami.2 108 590 Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru profilu wiazki czastek naladowanych z zastosowaniem dwóch równoleglych pretów przemiatajacych pole przekroju wiazki,z n a m i e n n e t y m, ze prety (2) sa jednakowe, a ich dlugosc jest dobrana tak, ze sonda przemiata caly przekrój badanej wiazki.Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru profilu wiazki czastek naladowanych z zastosowaniem dwóch równoleglych pretów przemiatajacych pole przekroju wiazki,z n a m i e n n e t y m, ze prety (2) sa jednakowe, a ich dlugosc jest dobrana tak, ze sonda przemiata caly przekrój badanej wiazki. Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL
PL20581778A 1978-04-05 1978-04-05 Device for measuring profile of beam of charged particles PL108590B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20581778A PL108590B2 (en) 1978-04-05 1978-04-05 Device for measuring profile of beam of charged particles

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20581778A PL108590B2 (en) 1978-04-05 1978-04-05 Device for measuring profile of beam of charged particles

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL205817A1 PL205817A1 (pl) 1978-12-04
PL108590B2 true PL108590B2 (en) 1980-04-30

Family

ID=19988457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20581778A PL108590B2 (en) 1978-04-05 1978-04-05 Device for measuring profile of beam of charged particles

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL108590B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL205817A1 (pl) 1978-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Bleakney A new method of positive ray analysis and its application to the measurement of ionization potentials in mercury vapor
US2331189A (en) Mass spectrometer
Misakian Generation and measurement of dc electric fields with space charge
Raja et al. Calibrating the energy of a 50× 50 GeV muon collider using spin precession
Benn et al. Determination of lifetime and ground-state energy of 8Be by α-α elastic scattering at 184 keV
PL108590B2 (en) Device for measuring profile of beam of charged particles
US4455486A (en) Method and apparatus for detecting magnetism by means of electron spin polarization measurements through dielectronic transition
Amemiya et al. Ion temperature measuring probe in a strongly magnetized plasma
US4628258A (en) Method and apparatus for electrical testing of microwired structures with the assistance of particle probes
US4864236A (en) Wire inhomogeneity detector having a core with opposing pole pieces and guide pieces adjacent the opposing pole pieces
US4639602A (en) System for deflecting a beam of charged particles
Gott On the electric charge collected by water drops falling through ionized air in a vertical electric field
DE1673223B2 (de) Verfahren und vorrichtung zum trennen von ionen mit verschie denem verhaeltnis ladung masse
Riddiford et al. Some proton synchrotron beam studies with the induction electrode
Mandel The β-ray absorption spectrum of 147Pm61 and its application to thickness measurement
Jonassen The effect of electric fields on 222Rn daughter products in indoor air
Akisada et al. Conceptual design of proton computed tomography with magnetic spectrometer
Elben Enhancing the effectiveness of DC-PD measurements on polymer insulated cable systems by use of pulsed X-ray
Scott Measurement of the Energy of a Beta-Ray of Radium B
Singer et al. Stray electric field due to the carbon foil resistance in hydrogen beam-foil-spectroscopy measurements
Byrne et al. A new method for determining the electron-antineutrino angular correlation coefficient a in neutron beta decay from the spectrum of recoil protons stored in a charged particle trap
DE952369C (de) Messsonde zur Bestimmung der Feldstaerke an Magneten
SU754983A1 (ru) УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ 1 ί
SU79605A1 (ru) Электронный флюксметр
PL167778B1 (pl) Analizator energii elektronów