PL107966B1 - Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts - Google Patents
Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts Download PDFInfo
- Publication number
- PL107966B1 PL107966B1 PL19444276A PL19444276A PL107966B1 PL 107966 B1 PL107966 B1 PL 107966B1 PL 19444276 A PL19444276 A PL 19444276A PL 19444276 A PL19444276 A PL 19444276A PL 107966 B1 PL107966 B1 PL 107966B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- counter
- measuring
- contacts
- micro
- circuit
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- VAYOSLLFUXYJDT-RDTXWAMCSA-N Lysergic acid diethylamide Chemical compound C1=CC(C=2[C@H](N(C)C[C@@H](C=2)C(=O)N(CC)CC)C2)=C3C2=CNC3=C1 VAYOSLLFUXYJDT-RDTXWAMCSA-N 0.000 description 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru mi¬ kroprzerw zestyków slabopradowych, spowodowanych drganiami zestyków w procesie przelaczania, przezna¬ czony zwlaszcza do badania zestyków klawiatur do urza¬ dzen przetwarzania danych takich jak np. kieszonkowe kalkulatory elektroniczne.Znane uklady do pomiaru mikroprzerw opisane sa w normach zwlaszcza dotyczacych kontaktronów i prze¬ kazników. Uklady te znane sa z normy brytyjskiej Bri- tish Standar«L9200 i amerykanskiej SC 83.25-1967. Ukla¬ dy opisane w tych normach zbudowane sa na ukladach cyfrowych, z mozliwoscia obserwacji i rejestracji mikro¬ przerw na oscyloskopie. Uklady te nie daja jednak do¬ kladnej informacji o ilosciach mikroprzerw a jedynie sygnalizuja ich wystepowanie oraz umozliwiaja pomiar trwania mikroprzerw, przy czym pomiar ten jest nie do¬ kladny.Istota ukladu do pomiaru mikroprzerw zestyków sta- lopradowych, zwlaszcza do badania zestyków klawiatur do urzadzen przetwarzania danych, zbudowanego na cyfrowych ukladach scalonych polega na tym, ze ba¬ dany element stykowy dolacza sie do zacisków sondy, która polaczona jest z licznikiem mikroprzerw oraz ukla¬ dem bramkujacym I, do którego dolaczony jest licznik A i licznik B oraz generator wysokiej czestotliwosci, przy czym wyjscie licznika A i wyjscie licznika B polaczone jest z przelicznikiem impulsów poprzez uklad bramku¬ jacy II.Dzieki takiemu rozwiazaniu, uklad bedacy przedmio¬ tem wynalazku pozwala na pomiar, oprócz ilosci mi- 10 15 20 25 30 kroprzerw spowodowanych drganiami styków, równiez czasu pomiedzy pierwsza a ostatnia zarejestrowana przer¬ wa.Przyklad wykonania ukladu wedlug wynalazku uwi¬ doczniony jest na rysunku, który przedstawia schemat blokowy ukladu do pomiaru mikroprzerw zestyków.W sklad ukladu wchodzi badany element stykowy 1, sonda 2, licznik przerw 3, uklad wyswietlajacy 4, uklad bramkujacy 15, licznik A 6, licznik B 7, generator wy¬ sokiej czestotliwosci 8, uklad bramkujacy II 9, przelicz¬ nik impulsów 10, uklad zerujacy 11. Zasada dzialania ukladu polega na tym, ze badany element stykowy 1 do¬ lacza sie do sondy 2 w postaci tranzystora, na baze któ¬ rego podaje sie napiecie rzedu kilku woltów.Przerwy spowodowane drganiami zestyków w proce¬ sie przelaczania zostaja zamienione na impulsy prosto¬ katne i zliczone w Hczniku przerw 3 a ich ilosc zostaje wyswietlona na wyswietlaczu 4.Jednoczesnie pierwszy zliczony impuls powoduje o- twarcie ukladu bramkujacego I 5, który wysyla impuls startu do licznika A 6 i licznika B 7, tak ze oba liczniki zliczaja impulsy z generatora wysokiej czestotliwosci 8, przy czym kazdy kolejny impuls sondy bedacy wyni¬ kiem drgan styków powoduje zerowanie licznika B 7, co oznacza, ze licznik 6 liczy impulsy nieprzerwanie, a licz¬ nik B 7 liczy dopiero od ostatniego impulsu sondy 2 a wiec od ostatniej przerwy spowodowanej drganiami sty¬ ków.Zapelnienie licznika A 6 powoduje otwarcie ukladu bramkujacego II 9. Od tego momentu przelicznik im- 107 966107 966 pulsów 10 zaczyna zliczac impulsy z generatora wysokiej czestotliwosci 8. Zapelnienie licznika B 7 powoduje zam¬ kniecie dostepu do przelicznika impulsów 10 z genera¬ tora wysokiej czestotliwosci 8. Wobec tego przelicznik 10 zlicza impulsy wysokiej czestotliwosci w odstepie cza¬ su pomiedzy wystapieniem pierwszej i ostatniej przerwy spowodowanej drganiami zestyków.Znajac czestotliwosc drgan generatora wysokiej cze¬ stotliwosci 8, mozna okreslic czas pomiedzy wystapie¬ niem pierwszej i ostatniej przerwy ze wzoru: t = Ta gdzie: T — okres drgan generatora wysokiej czestoli- wosci a — stan przelicznika impulsów Przy pomocy ukladu bedaceg3 przedmiotem wynalaz¬ lo 15 ku mozna mierzyc mikroprzerwy rzedu do kilku nsek., co uzaleznione jest od makymalnej czestotliwosci pracy stosowanych ukladów scalonych.Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru mikroprzerw zestyków slabopra- dowych, zwlaszcza do badania zestyków klawiatur do urzadzen przetwarzania danych, znamienny tym, ze ma sonde (2), która polaczona jest z licznikiem mikro¬ przerw (3) oraz ukladem bramkujacym I (5), do którego dolaczony jest licznik A (6) i licznik B (7) oraz gene¬ rator wysokiej czestotliwosci (8), przy czym wyjscie licznika A (6) i wyjscie licznika B (7) polaczone jest z przelicznikiem impulsów (10) poprzez uklad bramku¬ jacy II (9).LZG Z-d 3, z. 522/1400/80, n. 115+20 egz. P. A4 Cena 45 zl PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru mikroprzerw zestyków slabopra- dowych, zwlaszcza do badania zestyków klawiatur do urzadzen przetwarzania danych, znamienny tym, ze ma sonde (2), która polaczona jest z licznikiem mikro¬ przerw (3) oraz ukladem bramkujacym I (5), do którego dolaczony jest licznik A (6) i licznik B (7) oraz gene¬ rator wysokiej czestotliwosci (8), przy czym wyjscie licznika A (6) i wyjscie licznika B (7) polaczone jest z przelicznikiem impulsów (10) poprzez uklad bramku¬ jacy II (9). LZG Z-d 3, z. 522/1400/80, n. 115+20 egz. P. A4 Cena 45 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL19444276A PL107966B1 (pl) | 1976-12-15 | 1976-12-15 | Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL19444276A PL107966B1 (pl) | 1976-12-15 | 1976-12-15 | Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL194442A1 PL194442A1 (pl) | 1978-06-19 |
| PL107966B1 true PL107966B1 (pl) | 1980-03-31 |
Family
ID=19979867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL19444276A PL107966B1 (pl) | 1976-12-15 | 1976-12-15 | Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL107966B1 (pl) |
-
1976
- 1976-12-15 PL PL19444276A patent/PL107966B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL194442A1 (pl) | 1978-06-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4675597A (en) | Circuit analyzer for measuring pulse repetition rate and pulse width | |
| CA2347236A1 (en) | Integrated multi-channel analog test instrument architecture | |
| US4168467A (en) | Measurement of pulse duration | |
| US3843893A (en) | Logical synchronization of test instruments | |
| PL107966B1 (pl) | Circuit for measuring microgaps of low-current conuklad do pomiaru mikroprzerw zestykow slabopradowych tacts | |
| US4301405A (en) | Interval-to-rate converter | |
| US3803480A (en) | Interval timing system for contacts of circuit switching devices having one or more poles and series resistor modules | |
| SU824122A1 (ru) | Устройство дл определени параметровпРОцЕССА дРЕбЕзгА KOHTAKTOB | |
| SU632093A1 (ru) | Устройства дл обнаружени первого событи | |
| SU892413A2 (ru) | Измеритель интервалов между серединами импульсов | |
| SU1670670A1 (ru) | Устройство дл измерени продолжительности контактировани синхроконтакта фотоаппарата | |
| SU1501095A2 (ru) | Устройство дл моделировани графа | |
| RU6922U1 (ru) | Устройство для счета временных интервалов | |
| SU708253A1 (ru) | Устройство дл измерени временных интервалов | |
| SU1444703A1 (ru) | Устройство дл измерени временных параметров реле | |
| SU1012271A1 (ru) | Устройство дл определени вариации сигналов | |
| SU443321A1 (ru) | Устройство дл контрол электрических параметров | |
| SU1251119A2 (ru) | Устройство дл измерени плотности веро тностей | |
| SU708507A1 (ru) | Измеритель временных характеристик переходных процессов | |
| SU911383A1 (ru) | Устройство дл динамических испытаний цифровых элементов | |
| RU2020498C1 (ru) | Устройство контроля контактирования интегральных схем | |
| SU733100A1 (ru) | Устройство дл определени длительности переходного процесса | |
| JPS5741709A (en) | Operation monitor device | |
| SU920788A1 (ru) | Устройство дл регистрации времени работы оборудовани | |
| RU2020488C1 (ru) | Устройство для обнаружения и измерения максимума сигнала |