PL100927B1 - Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych - Google Patents

Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych Download PDF

Info

Publication number
PL100927B1
PL100927B1 PL17697674A PL17697674A PL100927B1 PL 100927 B1 PL100927 B1 PL 100927B1 PL 17697674 A PL17697674 A PL 17697674A PL 17697674 A PL17697674 A PL 17697674A PL 100927 B1 PL100927 B1 PL 100927B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
sample
thermocouples
temperature
thermoelectric properties
automatic measurement
Prior art date
Application number
PL17697674A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL17697674A priority Critical patent/PL100927B1/pl
Publication of PL100927B1 publication Critical patent/PL100927B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialów pólprzewod¬ nikowych, na przyklad zaleznosci sily termoelektrycznej od róznicy temperatur na koncach próbki, wspólczynnika Seebecka w funkcji temperatury sredniej próbki, przewodnictwa elektrycznego w funkcji tempe¬ ratury. « Przy wyznaczaniu parametrów charakteryzujacych elektryczne wlasnosci pólprzewodnika nalezy miedzy innymi okreslic wielkosci charakteryzujace procesy transportu nosników pradu na przyklad ruchliwosc i koncentracje swobodnych nosników ladunku.Okreslenie tych wielkosci, wazne jest zarówno z punktu widzenia podstawowych badan jak i praktycznego zastosowania materialów pólprzewodnikowych.
Dotychczas powyzsze parametry charakteryzujace wlasnosci elektryczne pólprzewodników, okreslano przede wszystkim na podstawie badan magnetycznych, efektu Halla, które znieksztalcaly procesy transportu nosników pradu obecnoscia czynników zewnetrznych, a tym samym nie pozwalaly na dokladne okreslenie badanych wielkosci. Dokladne okreslenie tych wielkosci jest mozliwe przy badaniu wlasnosci termoelektrycz¬ nych materialów pólprzewodnikowych, ale niestety w tym przypadku jest ono bardzo pracochlonne i drogie. » Celem wynalazku jest skonstruowanie przyrzadu, który by umozliwil badanie wlasnosci termoelektrycz nych materialów pólprzewodnikowych, w sposób automatyczny, w mozliwie krótkim czasie, rzedu kilkunastu minut i przy malym nakladzie pracy.
Powyzszy cel zostal osiagniety dzieki zastosowaniu przyrzadu, który jest przedmiotem niniejszego wynalazku.
Istota wynalazku polega na tym, ze przyrzad sklada sie z dwóch czlonów, czlonu pomiarowego, i czlonu sterujacego automatycznie proces pomiarowy. Czlon pomiarowy sklada sie z dwóch przesuwnie osadzonych elementów grzejnych, pomiedzy którymi umieszcza sie badana próbke, zaopatrzonych w przewody pomiarowe, oraz w co najmniej po dwie termopary, przy czym dwie termopary umieszczone po obu stronach próbki sa polaczone szeregowo, a pozostale dwie termopary sa polaczone róznicowo. Ozlon sterujacy automatycznie2 100 927 pcoces pomiarowy sklada sie z elektronicznego zasilacza elementów grzejnych, sterowanego elektronicznie poprzez uklad szeregowo lub róznicowo polaczonych termopar.
Taka konstrukcja przyrzadu ma te wielka ceche i zalete, ze pozwala nie tylko na stabilizacje temperatury sredniej próbki (T$r-—^ ), przy równoczesnej zmianie w czasie róznicy temperatur (T = ±(Ti -T2))na próbce, co ma wielkie znaczenie przy pomiarze na przyklad zaleznosci sily termoelektrycznej od róznicy temperatur, ale równiez umozliwia stabilizacje róznicy temperatur na próbce przy równoczesnej zmianie w czasie temperatury sredniej próbki, co pozwala na bezposrednie otrzymanie zaleznosci na przyklad wspólczynnika Seebecka i przewodnictwa elektrycznego od temperatury. Ponadto urzadzenie do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialów pólprzewodnikowych, pozwala na liniowy wzrost temperatury próbki w czasie, co ma bardzo istotne znaczenie, na przyklad przy badaniu pradów stymulowanych termicznie.
Przyrzad-wedlug wynalazku jest uwidoczniony schematycznie w sposób przykladowy na rysunku. > Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych sklada sie z dwóch czlonów, pomiarowego czlonu A i sterujacego automatycznie proces pomiarowy czlon B.
Czlon A ma przesuwnie osadzone grzejne elementy 1, 2, zaopatrzone w odizolowane od nich miniaturowe elektryczne grzalki 3, 4 w przewody pomiarowe 5, oraz w co najmniej po dwie termopary 6, 7 i 8, 9 równiez odizolowane elektrycznie od elementów grzejnych, pomiedzy którymi umieszcza sie badana próbke 10. Ponadto w czlonie pomiarowym A znajduje sie glówna grzalka 11, zapewniajaca temperature odniesienia. Dwie termo* pary 6 i 8 umieszczone po obu stronach próbki 10 sa polaczone szeregowo, a wiec wskazuja sume temperatur (Ti + T2) a dwie pozostale termopary 7 i 9 sa polaczone róznicowo, wskazuja wiec róznice temperatur obu stron próbki (Ti — T2).
Pomiary wlasnosci termoelektrycznych materialów pólprzewodnikowych wymagaja, aby temperatura srednia próbki pozostawala stala, a zmieniala sie w czasie róznica temperatur na próbce, lub odwrotnie, aby róznica temperatur na próbce pozostawala stala, a zmieniala sie w czasie temperatura srednia próbki. Oba te zadania spelnia czlon B, sterujacy automatycznie procesy pomiarowe. Moze on byc wykonany w róznych wariantach konstrukcyjnych. W jednym z prostszych rozwiazan czlon B moze skladac sie z regulowanych zasilaczy tyrystorowych 12, 12a, 12b zasilajacych grzalki 3, 4, 11, sterowanych przy pomocy ukladów elektronicznych. Sterujacy uklad elektroniczny sklada sie z dwóch czesci, z ukladu kompensatora K i galwano- metru G okreslajacego punkt pracy przyrzadu oraz z ukladów fotorezystorów 13a i 13b, wzmacniaczy 14, 14a i 14b, silników 15,15a i 15b sterujacych za pomoca zmiany oporu halipotów 16, 16a i 16b moc tyrystorowych zasilaczy 12,12a i 12b. , < Wyzej opisany przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialów pólprze¬ wodnikowych dziala w nastepujacy sposób. Badana próbke 10 umieszcza sie miedzy dwoma elementami grzejnymi 1, 2, wlacza glówna grzalke 11, zapewniajaca srednia temperature ukladu pomiarowego A oraz ustala na pewnym poziomie wyjsciowym moc miniaturowych grzalek 3, 4. « Pomiar wspólczynnika Seebecka wdanej temperaturze wymaga, aby róznica temperatur AT = ±(Ti—T2) na próbce 10 ulegala zmianom w czasie trwania pomiaru, a temperatura srednia próbki pozostawala stala. W tym przypadku uklad szeregowo polaczonych termopar 6 i 8 jest wlaczony do czlonu B, który powoduje, ze temperatura srednia próbki pozostaje stala, a zmienia sie w czasie róznica temperatur na próbce. » Na jedna z osi rejestratora XY podaje sie napiecie z ukladu róznicowo polaczonych termopar 7 i 9 proporcjonalne do róznicy temperatur na próbce AT = ± (T/ — Ta), a na druga os rejestratora XY za pomoca przewodów pomiarowych 5 podaje sie sile termoelektryczna E powstajaca w badanej próbce 10. Na rejestratorze XY otrzymuje sie zaleznosc E = f (AT)Tsr = const' której kat nachylenia jest miara wspólczynnika Seebecka w danej temperaturze sredniej.
Pomiar wspólczynnika Seebecka {&) w zaleznosci od sredniej temperatury Tsr, wymaga aby róznica temperatur na próbce 10 pozostawala stala. (AT = const), natomiast temperatura srednia próbki ulegala wolnym zmianom w czasie trwania pomiaru. Zmiane temperatury sredniej próbki w czasie zapewnia sterowany elektro¬ nicznie zasilacz tyrystorowy 12 zasilajacy glówna grzalke 11. W celu stabilizacji zadanej róznicy temperatur na próbce (AT=Ti—T2), uklad róznicowo polaczonych termopar 7, 9 wlacza sie po zmianie polozenia przelacznika 17 do czlonu B, który, stabilizujac prad w grzalce 4, automatycznie steruje prad w grzalce 3 w ten sposób, ze róznica temperatur na próbce pozostaje stala, a zmienia sie temperatura srednia próbki. Przy stalej róznicy temperatur na próbce sila termoelektryczna jest proporcjonalna do wspólczynnika Seebecka. Podajac na jedna z osi rejestratora XY napiecie z ukladu szeregowo polaczonych termopar 6 i 8, proporcjonalne do100 927 3 T + T temperatury sredniej próbki (Tsr = ' 2 ') a na druga os rejestratora XY za pomoca przewodów pomiarowych sile termoelektryczna, proporcjonalna, przy stalej róznicy temperatur, do wspólczynnika Seebecka (a) otrzymuje sie zaleznosc wspólczynnika Seebecka od temperatury sredniej a = f(Tsr). Ponadto nalezy zaznaczyc, ze przyrzad ten pozwala miedzy innymi otrzymac zaleznosc przewodnicka elektrycznego od temperatury.
W tym celu na kompensatorze K nalezy ustawic róznice temperatur równa zero (AT = 0), oraz w obwód pomiarowy wlaczyc dodatkowo zródlo pradu. •

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialów pólprzewodnikowych, znamienny tym, ze ma dwa czlony, pomiarowy czlon (A) i sterujacy automatycznie procesy pomiarowe czlon (B), z których czlon (A) sklada sie z dwóch przesuwnie osadzonych grzejnych elementów (1, 2), pomiedzy którymi umieszcza sie badana próbke (10), zaopatrzonych w pomiarowe przewody (5), oraz w co najmniej po dwie termopary (6, 7 i 8, 9), przy czym dwie termopary (6,8) umieszczone po obu stronach próbki sa polaczone szeregowo, a pozostale dwie termopary (7,9) sa polaczone róznicowo, natomiast czlon (B), sklada sie z elektronicznych zasilaczy (12a, 12b) grzejnych elementów (1, 2), sterowanych elektronicznie, poprzez uklad termopar (6, 8) polaczonych szeregowo lub uklad termopar (7,9) polaczonych róznicowo. «
PL17697674A 1974-12-30 1974-12-30 Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych PL100927B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17697674A PL100927B1 (pl) 1974-12-30 1974-12-30 Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL17697674A PL100927B1 (pl) 1974-12-30 1974-12-30 Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL100927B1 true PL100927B1 (pl) 1978-11-30

Family

ID=19970397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL17697674A PL100927B1 (pl) 1974-12-30 1974-12-30 Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL100927B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7252194B2 (ja) ヒータシステムの性能を測定及び制御するためのセンサシステム及び一体型ヒータ-センサ
US3733887A (en) Method and apparatus for measuring the thermal conductivity and thermo-electric properties of solid materials
US5081869A (en) Method and apparatus for the measurement of the thermal conductivity of gases
US3738174A (en) Temperature calibration system
Hermach AC-DC comparators for audio-frequency current and voltage measurements of high accuracy
US4918974A (en) Method and apparatus for the measurement of the thermal conductivity of gases
US10088439B2 (en) Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus
US5091698A (en) Circuit for measuring the internal resistance of a lambda probe
PL100927B1 (pl) Przyrzad do automatycznego pomiaru wlasnosci termoelektrycznych materialow polprzewodnikowych
US2834937A (en) Conductivity bridges
RU2707757C1 (ru) Способ снижения погрешности измерения температуры электрическим мостом
US3355666A (en) R. f. measuring device using a solid state heat pump calorimeter
SU1718081A1 (ru) Устройство дл измерени теплопроводности материалов
GB687427A (en) An improved instrument for measuring temperature, air velocities, rate of cooling and the thermal conductivity of gases
Aguirre et al. Temperature controlled measurement system for precise characterization of electronic circuits and devices
US2680224A (en) Standard sources of electromotive force
RU189683U1 (ru) Прибор для проведения токового отжига микропроводов с удаленным контролем температуры
RU1787271C (ru) Устройство дл сн ти характеристик термоэлектрических материалов
Kalliomaki et al. Measurement of surface temperature with a thermally compensated probe
Noakes et al. Initial Susceptibility of Ferromagnetic Iron and Iron‐Vanadium Alloys just above Their Curie Temperatures
US1726182A (en) Manfred j
SU1330530A1 (ru) Устройство дл измерени влажности
Clifford et al. A thermal conductivity apparatus for dilute gases
SU389452A1 (pl)
MADHAVI FURNACE TEMPERATURE INDICATOR CUM CONTROLLER