Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filedfiledCritical
Priority to NL7209857ApriorityCriticalpatent/NL154328B/xx
Publication of NL7209857ApublicationCriticalpatent/NL7209857A/xx
Publication of NL154328BpublicationCriticalpatent/NL154328B/xx
G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
G01R31/317—Testing of digital circuits
G01R31/3181—Functional testing
G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
Landscapes
Engineering & Computer Science
(AREA)
General Engineering & Computer Science
(AREA)
Physics & Mathematics
(AREA)
General Physics & Mathematics
(AREA)
NL7209857A1972-07-171972-07-17Werkwijze voor het testen van een geintegreerde logische keten van het type ttl of dtl en behorende tot een verscheidene geintegreerde logische ketens omvattende schakeling.
NL154328B
(nl)
Werkwijze voor het testen van een geintegreerde logische keten van het type ttl of dtl en behorende tot een verscheidene geintegreerde logische ketens omvattende schakeling.
Werkwijze voor het testen van een geintegreerde logische keten van het type ttl of dtl en behorende tot een verscheidene geintegreerde logische ketens omvattende schakeling.
Werkwijze voor het testen van een geintegreerde logische keten van het type ttl of dtl en behorende tot een verscheidene geintegreerde logische ketens omvattende schakeling.