NL1037191A - SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. - Google Patents
SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. Download PDFInfo
- Publication number
- NL1037191A NL1037191A NL1037191A NL1037191A NL1037191A NL 1037191 A NL1037191 A NL 1037191A NL 1037191 A NL1037191 A NL 1037191A NL 1037191 A NL1037191 A NL 1037191A NL 1037191 A NL1037191 A NL 1037191A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- tunnel
- strip
- shaped
- particles
- subsequent
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/6776—Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
Semiconductor tunnel—opstelling, bevattende meerdere inrichtingen ten behoeve van het daarmede bewerkstelligen van een (sub) nanometer hoge laag van deeltjes van een vaste substantie op de opvolgende, ononderbroken erdoorheen verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes.Semiconductor tunnel arrangement, comprising a plurality of devices for thereby effecting a (sub) nanometer-high layer of particles of a solid substance on the subsequent, continuously moving semiconductor substrate portions therethrough.
De semiconductor substraat transfer/behandelings-tunnelopstelling volgens de uitvinding bevat mede typisch een aantal stripvormige medium-toevoer inrichtingen, welke in hoofdzaak zijn opgenomen in het boventunnelblok ervan ten behoeve van het tijdens de werking ervan daarin ononderbroken toevoeren van de combinatie van vloeibaar draagmedium en deeltjes van een vaste semiconductor substantie, waarbij daarin tevens typisch de opname van een tweetal opvolgende meng-inrichtingen ten behoeve van in de eerste meng-inrichting ervan het mengen van een hoog percentage van een vloeibaar draagmedium met tenminste mede zulk een substantie en in de tweede daarop-volgende , typisch er onder-gelegen meng-inrichting, het mengen van deze combinatie met wederom een hoog percentage vloeibaar draagmedium plaats vindt.The semiconductor substrate transfer / treatment tunnel arrangement according to the invention also typically comprises a number of strip-shaped medium supply devices, which are mainly included in its upper tunnel block for the purpose of continuously supplying the combination of liquid carrier medium and particles therein during its operation therein of a solid semiconductor substance, wherein there is also typically included therein two successive mixing devices for mixing in the first mixing device a high percentage of a liquid carrier medium with at least partly such a substance and in the second one thereafter the next mixing device, which is typically located below it, the mixing of this combination with again a high percentage of liquid carrier medium takes place.
In de gelijktijdig door de aanvrager ingediende Nederlandse Octrooi-aanvrage voor zulk een semiconductor tunnel-opstelling is reeds zulk een stripvormige medium-toevoer-inrichting aangegeven ten behoeve van de ononderbroken toevoer erdoorheen van de combinatie van typisch laag-kokend vloeibaar draagmedium en deeltjes van een semiconductor substantie in een vloeibare of vaste vorm ervan.In the Dutch Patent Application for such a semiconductor tunnel arrangement simultaneously submitted by the applicant, such a strip-shaped medium-supply device has already been indicated for the continuous supply therethrough of the combination of typical low-boiling liquid carrier medium and particles of a semiconductor substance in a liquid or solid form thereof.
Bij een breedte van de tunnel-door gang van circa 200 mm en een verplaatsings-snelheid van de opvolgende, zich erdoorheen verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes van typisch slechts 2 mm per seconde en zulks in combinatie met typisch een minder dan 500 nanometer hoge op te bouwen laag van zulk een vloeibare hecht-substantie is aldus het ononderbroken toegevoerde volume ervan beperkt tot typisch minder dan 0,2 mm3 per seconde.With a width of the tunnel passage of about 200 mm and a speed of movement of the subsequent semiconductor substrate portions moving through it, typically only 2 mm per second and this in combination with typically less than 500 nanometers high. Thus, a layer of such a liquid adhesive substance has its continuously supplied volume limited to typically less than 0.2 mm 3 per second.
Hierdoor is een zeer hoog percentage van dit vloeibare draagmedium gewenst, met typisch een meng-verhouding van circa 2500 : 1 en waarbij dan een ononderbroken toevoer erdoorheen van circa 500 mm3 per seconde van zulk een combinatie plaats vindt.As a result, a very high percentage of this liquid carrier medium is desired, with a mixing ratio of approximately 2500: 1 and in which case a continuous supply therethrough of approximately 500 mm 3 per second of such a combination takes place.
Aldus vindt nu met behulp van deze tweetal aanvullende meng-inrichtingen in zulk een stripvormige medium-toevoerinrichting een voldoende verdunning van deze vloeibare hecht-substantie plaats.Thus, with the aid of these two additional mixing devices, a sufficient dilution of this liquid adhesive substance takes place in such a strip-shaped medium feed device.
Daarbij onder de daarop-volgende, in het boventunnelblok opgenomen stripvormige tril/verdampings-inrichting door verdamping van het laag-kokende vloeibare draagmedium de vorming van de combinatie van dampvormig medium en deeltjes van deze vaste substantie onder de neerslag ervan op de boven-topography van de opvolgende eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes en zulks mede onder tril-conditie van deze tril/verdampings-inrichting.The formation of the combination of vaporous medium and particles of this solid substance below the subsequent strip-shaped vibrator / evaporator device included in the upper tunnel block by means of evaporation of the low-boiling liquid carrier medium on top of the topography of the successive semiconductor substrate sections moving underneath it and this also under the vibrating condition of this vibrating / evaporating device.
Aldus een optimaal semiconductor neerslag-proces met behulp van deze combinatie van deeltjes van deze vaste substantie en zulk een zeer hoog percentage van het verdampbare vloeibare draagmedium.Thus an optimum semiconductor precipitation process using this combination of particles of this solid substance and such a very high percentage of the evaporable liquid carrier medium.
Daarbij vindt tevens een uiterst snelle verdamping van dit laag-kokende vloeibare draagmedium in de onder deze tril/ verdampings -inrichting gelegen bovenspleet-sectie plaats, met daardoor slechts een geringe benodigde breedte van zulk een inrichting in de lengte-richting van deze tunnel, typisch minder dan 50 mm, en waar bij een ononderbroken afvoer van deze gevormde damp in de daarop-volgende stripvormige af voer-inrichting in het boventunnelblok.An extremely rapid evaporation of this low-boiling liquid carrier medium also takes place in the upper slit section below this vibrating / evaporating device, with as a result only a small required width of such a device in the longitudinal direction of this tunnel, typically less than 50 mm, and where there is an uninterrupted discharge of this formed vapor in the subsequent strip-shaped discharge device in the upper tunnel block.
Als een uiterst gunstige tril/verwarmings-inrichting daar bij typisch de toepassing van een stripvormige transducer-opstelling, welke is opgenomen in het boventunnelblok onmiddellijk achter deze medium-toevoerinrichting.As an extremely favorable vibration / heating device there is typically the use of a strip-shaped transducer arrangement which is incorporated in the upper tunnel block immediately behind this medium supply device.
Daarbij in een gunstige tr il-conditie ervan het tevens onderhouden van de combinatie van een snelle neerwaartse -en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing van deze trillingen ten behoeve van het bijdragen in zulk een optimaal neerslag-proces.Thereby, in a favorable tri-condition thereof, also maintaining the combination of a rapid downward and a subsequent slow upward displacement of these vibrations for the purpose of contributing to such an optimum precipitation process.
In een volgende gunstige werkwijze het in deze medium-toevoer inrichting tevens toepassen van een hoog-kokend vloeibaar draagmedium, waarbij dan typisch in dit boventunnelblok de opname van een tweede stripvormige tril/ verdampings-inrichting achter deze eerste combinatie van een tri1/verdampings-inrichting en medium-afvoer inrichting en waarin dan het ononderbroken plaatsvinden van verdamping van dit hoger-kokende vloeibare draagmedium.In a further favorable method, also using a high-boiling liquid carrier medium in this medium-supply device, wherein in this upper tunnel block typically the accommodation of a second strip-shaped vibrator / evaporator is behind this first combination of a tri1 / evaporator. and medium discharge device and in which then the continuous occurrence of evaporation of this higher-boiling liquid carrier medium takes place.
Tevens vindt mogelijk typisch mede een zeer beperkte ongunstige neerslag van zulke deeltjes van deze Jba.ste_ substantie tegen tenminste het onderwand-gedeelte van deze inrichting plaats, waardoor dan tevens .mogelijk een neerslag op deze onderwand zich uitstrekt tot deze daaropvolgende stripvormige afvoer-inrichting, welke eveneens is opgenomen in het boventunnelblok.It is also possible that a very limited, unfavorable precipitation of such particles of this Jba.stastic substance at least takes place against at least the bottom wall part of this device, as a result of which possibly also a precipitation on this bottom wall extends to this subsequent strip-shaped discharge device. which is also included in the upper tunnel block.
In een gunstige uitvoering van deze tunnel-opstelling vindt daarbij daartoe in een daarop-volgende stripvormige toevoer-inrichting de ononderbroken toevoer van vloeibaar reinigings-medium naar deze afvoer-inrichting plaats ten behoeve van het daarin mede afvoeren vandez.e deeltjes vaste substantie op waarbij typisch daarachter de opname van een stripvormige inrichting voor typisch gasvormig slot-medium, waardoor daarachter een schoon onderwand-gedeelte van dit boventunnelblok wordt onderhouden.In a favorable embodiment of this tunnel arrangement, the continuous supply of liquid cleaning medium to this discharge device takes place for this purpose in a subsequent strip-shaped supply device for the purpose of co-discharging said particles of solid substance, typically behind it the inclusion of a strip-shaped device for typical gaseous lock medium, thereby maintaining a clean bottom wall portion of this upper tunnel block.
Indien benodigd ten behoeve van de bewerkstelliging van een ultra gelijkmatige hoogte van zulk een bewerkstelligde laag van de vaste substantie, in dit boventunnelblok achter deze tweede af voer-inrichting de opname van nog een derde stripvormige tril-inrichting.If required for the purpose of achieving an ultra-uniform height of such an effected layer of the solid substance, the inclusion of another third strip-shaped vibrator in this upper tunnel block behind this second discharge device.
De totale lengte van zulk een tunnel-gedeelte, waarin het opbrengen van zulk een nanometer hoge laag van deeltjes, inclusief zelfs een drietal tril/verwarmings-inrichtingea, bedraagt daarbij typisch toch nog minder dan 70 cm.The total length of such a tunnel section, in which the application of such a nanometer-high layer of particles, including even three vibrating / heating devices, is typically still less than 70 cm.
In een gunsige semiconductor werkwijze vindt in tenminste één opwekinrichting boven deze tunnel-opstelling de bewerkstelliging van ionen als nanometer grote deeltjes van een vaste substantie, welke reeds algemeen worden toegepast in de bestaande semiconductor installaties onder de gebruikmaking van wafers, plaats en waarbij in een eronder gelegen meng-inrichting de opname van deze ionen in typisch laag-kokend vloeibaar draagmedium met een hoger percentage ervan plaats.In a favorable semiconductor process, in at least one generating device above this tunnel arrangement, the realization of ions as nanometer-sized particles of a solid substance, which are already commonly used in existing semiconductor installations using wafers, takes place and in which there is an underneath In a mixing device, the incorporation of these ions into typically low-boiling liquid carrier medium with a higher percentage thereof.
Daarbij vindt via tenminste één toevoer leiding de ononderbroken toevoer ervan naar de eerste meng-inrichting van deze medium-toevoerinrichting plaats ten behoeve van de menging ervan met een hoog percentage typisch gelijksoortig vloeibaar draagmedium en met afvoer van deze gemengde substantie naar de daarop-volgende, eronder gelegen tweede meng-inrichting en waarin de menging van deze combinatie plaats vindt in wederom een hoog percentage van typisch eveneens hetzelfde laag-kokende vloeibare draagmedium geschiedt, met vervolgens afvoer van deze gemengde combinatie via een aantal kanalen naar het stripvormige toevoer-gedeelte in de onderwand van deze stripvormige toevoer-inrichting.The continuous supply thereof takes place via at least one supply line to the first mixing device of this medium supply device for the purpose of mixing it with a high percentage of typically similar liquid carrier medium and with discharge of this mixed substance to the subsequent, second mixing device located below it and in which the mixing of this combination takes place in a high percentage of the same low-boiling liquid carrier medium again, with subsequent discharge of this mixed combination via a number of channels to the strip-shaped feed section in the bottom wall of this strip-shaped feed device.
Daarbij vervolgens in het bovenspleet-gedeelte onder zulk een trillende transducer, welke tevens fungeert als een voldoende warmte—bron, de bewerkstelliging van een dampvormig draagmedium voor deze ionen onder een optimale inwerking ervan op de boventopography van de opvolgende, eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes, zoals onder andere het daarmede plaatsvinden van een implantage/ doping-proces met behulp van deze ionenNext, in the upper slit portion below such a vibrating transducer, which also acts as a sufficient heat source, the creation of a vaporous carrier medium for these ions while optimally acting on the upper topography of the subsequent semiconductor substrate portions moving underneath it , such as, among other things, the implementation of an implantation / doping process with the aid of these ions
Tevens in een ander proces het geledelijk vullen met deze ionen van de in een voorgaand tunnel-gedeelte bewerkstelligde nanometer brede uitsparingen (crevices).Also in another process the filling of these ions of the nanometer wide recesses (crevices) realized in a previous tunnel section with these ions.
Mede ten behoeve van een optimaal semiconductor behandelings-proces daartoe voor deze transducer-trillingen een snelle neerwaartse en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing van de onder-trilwand ervan ten behoeve van het optimaal indringen van deze ionen.Partly for the purpose of an optimum semiconductor treatment process for this transducer vibration, a rapid downward and a subsequent slow upward movement of its lower vibrating wall for the purpose of optimally penetrating these ions.
Indien benodigd, in opvolgende tunnel-gedeeltes het plaatsvinden van een aantal herhalingen van zulke semiconductor behandelingen.If required, the occurrence of a number of repetitions of such semiconductor treatments in subsequent tunnel sections.
Verder- is deze tunnel-opstelling zodanig uitgevoerd en bevattende zodanige middelen, dat daarbij daarin tevens de mogelijke toepassing van meerdere van de middelen en werkwijzen van de semiconductor faciliteit, - installatie, - tunnel-opstellingen en - inrichtingen, welke door de aanvrager zijn aangegeven en omchreven in de door hem recent ingediende Nederlandse Octrooi-aanvragen betreffende zulk een semiconductor tunnel-opstelling.Furthermore, this tunnel arrangement is designed and contains such means that it also includes the possible application of several of the means and methods of the semiconductor facility, installation, tunnel arrangements and devices indicated by the applicant. and described in the Dutch Patent Applications recently submitted by him concerning such a semiconductor tunnel arrangement.
veraei is aeze tunnel-opstelling zodanig uitgevoerd en bevattende zodanige middelen, dat daarbij daarin mogelijk de toepassing van alle reeds algemeen gebruikt wordende semiconductor behandelingen voor wafers in semiconductor modules, ook welke reeds zijn omschreven in Octrooien, indien daarin de vermelding in de tekst en Conclusies van het navolgende: a) een individuele semiconductor wafer of - substraat; of b) een al dan niet individuele semiconductor processing-module .In addition, this tunnel arrangement has been designed and includes such means that it may include the use of all semiconductor treatments that are already generally used for wafers in semiconductor modules, including those already described in Patents, if the mention thereof in the text and Conclusions of the following: a) an individual semiconductor wafer or substrate; or b) an individual or non-individual semiconductor processing module.
Verder is deze tunnel-opstelling zodanig uitgevoerd en bevattende zodanige middelen, dat daarbij de in deze Octrooiaanvrage omschreven middelen en werkwijzen tevens toepasbaar zijn in deze boven-vermelde semiconductor tunnel-opstellingen.Furthermore, this tunnel arrangement is designed and contains such means that the means and methods described in this Patent Application can also be used in these semiconductor tunnel arrangements mentioned above.
De uitvinding zal hieronder nader worden uiteengezet aan de hand van de in de Figuren weergegeven uitvoerings-voorbeelden van de constructies volgens de uitvinding.The invention will be explained in more detail below with reference to the exemplary embodiments of the constructions according to the invention shown in the Figures.
Figuur 1 toont wederom de in de Figuur 1 van deze eerste aanvage aangegeven semiconductor tunnel-opstelling, met daarin een stripvormige medium-toevoer inrichting, waarin het plaatsvinden van een ononderbroken toevoer van de combinatie van vloeibaar draagmedium en deeltjes van de nanometer grote deeltjes substantie in een vaste vorm ervan en waarbij daarin in het bovenste gedeelte ervan de opname van een eerste typisch cilindrische meng-inrichting ten behoeve van het daarin mengen van een laag percentage van tenminste mede zulk een semiconductor substantie met een typisch hoger percentage vloeibaar draagmedium en waarbij deze meng-inr ichting aan de onderzijde ervan via typisch een aantal naast elkaar gelegen medium-toevoer kanalen is aangesloten op een tweede, eveneens typisch cilindrische meng-inrichting, met daarin eveneens de toevoer van een aanzienlijk hoger percentage van typisch hetzelfde vloeibare draagmedium ten behoeve van het in benedenwaartse richting afvoeren van deze combinatie van dit draagmedium en zulke deeltjes van een semiconductor substantie naar het eronder-gelegen stripvormige toevoer-gedeelte van de bovenspleet boven de ononderbroken erdoorheen verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes.Figure 1 again shows the semiconductor tunnel arrangement shown in Figure 1 of this first claim, with a strip-shaped medium-supply device therein, in which the uninterrupted supply of the combination of liquid carrier medium and particles of the nanometer-large particle substance into a solid form thereof and wherein therein accommodates in the upper part thereof a first typically cylindrical mixing device for mixing therein a low percentage of at least partly such a semiconductor substance with a typically higher percentage of liquid carrier medium and wherein said mixing device on its underside is connected via a number of adjacent medium-supply channels to a second, also typically cylindrical mixing device, which also contains therein the supply of a considerably higher percentage of typically the same liquid carrier medium for the purpose of discharge this comb downwards introduction of this carrier medium and such particles from a semiconductor substance to the underlying strip-shaped feed portion of the upper slit above the continuous semiconductor substrate portions moving therethrough.
Figuur 2 toont in deze tunnel-opstelling achter deze medium-toevoerinrichting een in het boventunnelblok opgenomen uitwisselbare stripvormige transducer-opstelling, waarbij in het compartiment ervan de opname van een transducer ten behoeve van typisch het daarmede verdampen van het laag-kokende vloeibare draagmedium onder neerslag van de deeltjes semiconductor substantie op de opvolgende, ononderbroken eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes en waarbij via het erboven gelegen bovenspleet-gedeelte met een toenemende hoogte ervan afvoer van het gevormde dampvormige medium naar de daarop-volgende stripvormige afvoer-inrichting, welke eveneens is opgenomen in dit boventunnelblok.Figure 2 shows in this tunnel arrangement behind this medium supply device an interchangeable strip-shaped transducer arrangement included in the upper tunnel block, wherein in its compartment the accommodation of a transducer for the purpose of thereby evaporating the low-boiling liquid carrier medium under precipitation of the particulate semiconductor substance on the successive, continuously moving semiconductor substrate portions therebetween and wherein via the supernatant slit portion with an increasing height thereof discharge of the formed vaporous medium to the subsequent strip-shaped discharge device, which is also included in this upper tunnel block.
Daarbij dus typisch uitsluitend de toepassing van laag-kokend vloeibaar draagmedium.Thereby, therefore, typically only the use of low-boiling liquid carrier medium.
Figuren 2^ t,/in ^ tonen zeer sterk vergroot de opvolgende phasen van het neerslag-proces van deze deeltjes vaste substantie op de opvolgende, ononderbroken eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes.Figs. 2 to 3 greatly increase the successive phases of the deposition process of these solid substance particles on the successive, continuously moving semiconductor substrate sections underneath it.
Figuren 2E> F en G tonen zeer sterk vergroot de neerslag van deze deeltjes vaste substantie op een metalen di-electrische - en kunststof-onder laag.Figures 2E> F and G show a very strong increase in the precipitation of these particles of solid substance on a metal, dielectric and plastic layer.
Figuur 3 toont achter deze transducer-opstelling een stripvormige toevoer-inrichting voor reinigingsmedium, met afvoer ervan via deze afvoer-inrichting ten behoeve van het gereinigd houden van tenminste het tussen-gelegen onderwand-gedeelte van het boventunnelblok.Figure 3 shows behind this transducer arrangement a strip-shaped supply device for cleaning medium, with discharge thereof via this discharge device for the purpose of keeping at least the intermediate lower wall part of the upper tunnel block clean.
Figuur 4 toont achter de in de Figuur 2 mede aangegeven eerste transducer-opstelling een tweede transducer-opstelling ten behoeve van het typisch met behulp van het trillen ervan het plaatsvinden van een egalisatie-proces van. deze opgebrachte laag van zulke deeltjes van een vaste substantie, zoals sterk vergroot is aangegeven in de Figuur 4a.Figure 4 shows behind the first transducer arrangement also shown in Figure 2 a second transducer arrangement for the purpose of typically using an oscillation to effect an equalization process of. this applied layer of such particles of a solid substance, as greatly enlarged is indicated in Figure 4a.
Daarachter wederom zulk een stripvormige afvoergroef voor tenminste mede nog verdampt vloeibaar draagmedium en daarachter wederom zulk een stripvormige toevoergroef voor reinigings—medium en een daarop-volgende stripvormige toevoergroef voor gasvormig slotmedium.Behind it again such a strip-shaped discharge groove for at least co-evaporated liquid carrier medium and again behind such a strip-shaped feed groove for cleaning medium and a subsequent strip-shaped feed groove for gaseous lock medium.
Figuur 5 toont als alternatief voor zulk een stripvormige transducer-opste1ling de opname in het boventunnelblok van een stripvormige roterende nokkenas-opstelling onder het daarbij tijdens de werking ervan onderhouden van typisch een snelle neerwaartse verplaatsing en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing van het stripvormige drukwand-gedeelte ervan ten behoeve van het eveneens bewerkstelligen van een optimaal vlakke conditie van de neergeslagen deeltjes van zulk een vaste semiconductor substantie.Fig. 5 shows, as an alternative to such a strip-shaped transducer arrangement, the incorporation into the upper tunnel block of a strip-shaped rotating camshaft arrangement while maintaining typically a rapid downward displacement and a subsequent slow upward displacement of the strip-shaped pressure wall during its operation. part thereof for the purpose of also achieving an optimum flat condition of the precipitated particles of such a solid semiconductor substance.
Daarbij in dit dr ukwand-gedeelte de opname van een dunwandige stripvormige electrische verwarmings-inrichting ten behoeve van het daarmede tevens verdampen van het toegevoerde laag-kokende vloeibare draagmedium en het daaronder steeds verder plaatsvinden van zulk een neerslag-proces van deze deeltjes van een vaste semiconductor substantie, zoals sterk vergroot is aangegeven in de Figuren 5A t/m D) onder het tenslotte opgebouwd zijn van een typisch nanometer hoge laag van deze deeltjes op de opvolgende, eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes, zoals is aangegeven in de Figuur 5®,The inclusion of a thin-walled strip-shaped electric heating device for the purpose of thereby also evaporating the supplied low-boiling liquid carrier medium and the continuous occurrence of such a precipitation process of these particles of a solid semiconductor substance, as strongly enlarged is indicated in Figures 5A to D), finally being built up of a typical nanometer-high layer of these particles on the subsequent, semiconductor substrate portions moving along it, as indicated in Figure 5® ,
Figuur 6 toont vergroot een gedeelte van een onder-nokkenasopstelling, welke is opgenomen in het ondertunnelblok.Figure 6 is an enlarged view of a portion of a lower camshaft arrangement included in the sub-tunnel block.
Figuur 7 toont daarbij zeer sterk vergroot een gedeelte van deze tunnel-opstelling en waarbij boven deze trillende drukwand-sectie ervan de opvolgende, zich ononderbroken erbovenlangs verplaatsende en mede erdoor eveneens trillende opvolgende substraat-gedeeltes, met mede de combinatie van een snelle opwaartse - en een daarop-volgende langzame neerwaartse verplaatsing ervan, en daarboven zulk een trillend transducer-gedeelte met typisch een snelle neerwaartse - en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing van het onderwand-gedeelte ervan.Figure 7 shows a highly enlarged part of this tunnel arrangement and in which above this vibrating pressure wall section its successive, continuously moving along it and partly also vibrating successive substrate sections, including the combination of a rapid upward and a subsequent slow downward displacement thereof, and above such a vibrating transducer portion with typically a fast downward - and a subsequent slow upward displacement of its lower wall portion.
Zulks ten behoeve van een optimaal snel vullen van de in een voorgaand tunnel-gedeelte bewerkstelligde, typisch minder dan 30 nanometer brede uitsparingen/crevices in de bovenlaag van deze opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes, zoals uiterst vergroot is aangegeven in de Figuren 8A en 8B en waarbij in de Figuur 8A het tonen van de maximale bewerkstelligde hoogte van het tussen-liggende bovenspleet-gedeelte, en in de Figuur 8® de minimale bewerkstelligde hoogte ervan tijdens zulke tril-condities van deze onder-nokkenasopstelling en deze boven-transducer-opstelling.For the purpose of optimum rapid filling of the recesses / crevices, typically less than 30 nanometer wide, achieved in a preceding tunnel section in the upper layer of these successive semiconductor substrate sections, as is shown extremely enlarged in Figures 8A and 8B and wherein in Figure 8A showing the maximum effected height of the intermediate top gap portion, and in Figure 8®, the minimum effected height thereof during such vibrating conditions of this lower camshaft arrangement and this upper transducer arrangement.
Figuur 9 toont een meng-inrichting, waarbij daarin in het bovenste gedeelte ervan het ononderbroken mengen plaats vindt van de toegevoerde combinatie van deeltjes van een vaste semiconductor substantie met een hoog percentage laag—kokend vloeibaar draagmedium 16 en in het onderste gedeelte ervan het ononderbroken mengen van deze combinatie met een hoog percentage hoog-kokend vloeibaar draagmedium.Figure 9 shows a mixing device in which there is continuous mixing in the upper part thereof of the supplied combination of particles of a solid semiconductor substance with a high percentage of low-boiling liquid carrier medium 16 and in the lower part thereof continuous mixing of this combination with a high percentage of high-boiling liquid carrier medium.
Figuur 10 toont in een gedeelte van deze tunnel-opstelling de toepassing in het boventunnelblok ervan een eerste stripvormige transducer-opstelling ten behoeve van het daarmede mede ononderbroken plaatsvinden van verdamping van het laag-kokende vloeibare draagmedium en onder de daaropvolgende tweede transducer-opstelling het daarmede plaatsvinden van verdamping van het hoger-kokende vloeibare draagmedium met daarbij, indien benodigd, achter zulk een stripvormige afvoer-inrichting voor het verdampte vloeibare draagmedium wederom zulk een stripvormige toevoer-inrichting voor reinigings-medium en de daarop-volgende toevoer-inrichting voor gasvormig slot-medium ten behoeve van het gereinigd houden van het daarop-volgende onderwand-gedeelte van dit boventunnelblok.Figure 10 shows in a part of this tunnel arrangement the application in its upper tunnel block a first strip-shaped transducer arrangement for the co-continuous occurrence of evaporation of the low-boiling liquid carrier medium and underneath the subsequent second transducer arrangement evaporation of the higher-boiling liquid carrier medium including, if necessary, behind such a strip-shaped discharge device for the evaporated liquid carrier medium, again such a strip-shaped supply device for cleaning medium and the subsequent supply device for gaseous lock medium for keeping the subsequent bottom wall portion of this upper tunnel block cleaned.
Daarbij achter deze tweede transducer in het boventunnelblok de opname van een stripvormig electrisch verwarmingselement ten behoeve van het daarmede smelten van deze deeltjes van zulk een vaste substantie onder de vorming van een vloeibare laag ervan en daarachter de opname van een stripvormige afkoel-inrichting ten behoeve van het vormen van een vaste laag ervan.In addition, the inclusion of a strip-shaped electric heating element behind this second transducer in the upper tunnel block for melting these particles of such a solid substance with it, thereby forming a liquid layer thereof and behind that the inclusion of a strip-shaped cooling device for the purpose of forming a solid layer thereof.
Figuur llA toont daarbij het begin van het verhoogde bovenspleet-ge deel te onmiddellijk achter het stripvormige medium-toevoergedeelte van deze medium-toevoerinrichting en waarbij de Figuren 11®> C en D opvolgende gedeeltes van de bovenspleet onder deze beide transducers tonen, met daarin het aangeven van een sterk vergrootte hoogte ervan nabij de beide stripvormige afvoer-inrichtingen achter deze transducer-opstellingen.Figure 11A thereby shows the start of the raised upper slit portion immediately after the strip-shaped medium supply portion of this medium supply device and where Figures 11®> C and D show successive portions of the upper slit below both of these transducers, with the indicating a greatly increased height thereof near the two strip-shaped discharge devices behind these transducer arrangements.
Figuur 12 toont zeer sterk vergroot in het gedeelte achter deze tweede transducer-opstelling wederom de vulling met nanometer grote deeltjes van een vaste semiconductor substantie van de bewerkstelligde crevices, welke zijn opgenomen in de semiconductor bovenlaag van deze opvolgende, eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes.Figure 12 shows, greatly enlarged in the portion behind this second transducer arrangement, again the nanometer-sized particle filling of a solid semiconductor substance of the accomplished crevices, which are included in the semiconductor upper layer of these subsequent semiconductor substrate portions moving alongside it.
Figuur 13 toont na het tenminste mede vullen van deze crevices met deze deeltjes van een metalen substantie,met behulp van zulk een electrische verwarmings-inrichting een bewerkstelligde vloeibare laag van deze substantie.Figure 13 shows, after at least co-filling these crevices with these particles of a metal substance, with the aid of such an electric heating device, a liquid layer of this substance obtained.
Figuur 14 toont het af gekoeld zijn van deze vloeibare laag onder de vorming van een vaste conditie van tenminste mede de vulling van deze crevices.Figure 14 shows the cooling of this liquid layer with the formation of a solid condition of at least the filling of these crevices.
Figuur 15 toont daar bij in deze tunnel-op stel ling de toepassing van opvolgende gedeeltes van een daarin in de ingangszijde ervan ononderbroken toegevoerde kunststof-f olie, waarbij in de bovenlaag ervan het tenminste mede bewerkstelligd zijn van zulke, met een metaal gevulde crevices.Figure 15 also shows in this tunnel arrangement the use of successive portions of a plastic film continuously supplied therein at the entrance side thereof, wherein in its upper layer at least co-effect of such metal-filled crevices is achieved.
Figuur 16 toont daarbij in deze tunnel-opstelling de toepassing van opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes en waarbij in de di-electrische bovenlaag ervan tenminste mede het bewerkstelligd zijn van zulke, met een metalen substantie gevulde crevices.Fig. 16 shows the use of successive semiconductor substrate sections in this tunnel arrangement and wherein in its dielectric upper layer at least also the effect of such crevices filled with a metal substance is achieved.
Figuur 17 toont nog achter deze beide transducer-opsteHingen in het boventunnelblok een derde transducer-opstelling ten behoeve van het daarmede wederom plaatsvinden van een egalisatie-proces van deze opgebrachte, typisch nanometer hoge laag van deeltjes van zulk een vaste semiconductor substantie, zoals sterk vergroot is aangegeven in de Figuren 18^ en 18B, en zulks ten behoeve van het in de daarop-volgende tunnel-gedeeltes plaatsvinden van zulk een ononderbroken verwarmings—proces onder de vorming van een nanometer hoge vloeibare laag van deze semiconductor substantie, en het daarop-volgende afkoel-proces van deze vloeibare laag onder de vorming van een vaste conditie ervan.Figure 17 shows behind these two transducer arrangements in the upper tunnel block a third transducer arrangement for the purpose of again taking place an equalization process of this applied, typically nanometer high layer of particles of such a solid semiconductor substance, such as greatly increased is shown in Figures 18 ^ and 18B, and for the purpose of the occurrence of such a continuous heating process in the subsequent tunnel sections to form a nanometer-high liquid layer of this semiconductor substance, and the subsequent subsequent cooling process of this liquid layer to form a solid condition thereof.
De Figuur 1 toont nog een inrichting ten behoeve van de bewerkstelliging van typisch minder dan 5 nanometer grote deeltjes van een vaste, typisch metalen substantie en waarbij daaronder een meng-inrichting ten behoeve van het mengen van deze deeltjes met typisch een hoger percentage laag-kokend vloeibaar draagmedium ten behoeve van de ononderbroken toevoer ervan naar deze bovenste meng-inrichting van deze medium-toevoerinrichting.Figure 1 shows another device for producing typically less than 5 nanometer large particles of a solid, typically metal substance, and below which is a mixing device for mixing these particles with typically a higher percentage of low-boiling liquid carrier medium for the uninterrupted supply thereof to this upper mixing device of this medium supply device.
De uitvinding zal hieronder nader worden uiteengezet aan de hand van de in deze Figuren aangegeven inrichtingen ten behoeve van de opbouw van een nanometer hoge laag van vaste deeltjes op de opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes.The invention will be explained in more detail below with reference to the devices shown in these Figures for the construction of a nanometer-high layer of solid particles on the subsequent semiconductor substrate portions.
Figuur 1 toont in het boventunnelblok 12 van de semiconductor tunnel-opstelling 10 de opname van de stripvormige medium-toevoerinrichting 14, waarin het plaatsvinden van een ononderbroken toevoer van de combinatie van vloeibaar draagmedium 16 en deeltjes 18 van een vaste semiconductor substantie en waarbij daarin in het bovenste gedeelte ervan de opname van typisch de eerste cilindrische meng-inrichting 20 ten behoeve van het daarin mengen van een laag percentage van tenminste mede zulke deeltjes 18 met een hoog percentage vloeibaar draagmedium, welke daarbij typisch gelijk kan zijn aan dit draagmedium 16, en waarbij deze meng-inrichting 20 aan de onderzijde ervan via typisch een aantal naast elkaar gelegen mediuis-afvoerkanalen 24 is aangesloten op een tweede, eveneens typisch cilindrische meng-inrichting 26, met daarin eveneens de continue toevoer van een aanzienlyk hoger percentage van typisch hetzelfde vloeibare draagmedium 16 ten behoeve van het in benedenwaartse richting afvoeren van deze combinatie draagmedium 16 en zulke deeltjes 18 van deze semiconductor substantie via een groot aantal naast elkaar gelegen kanalen 28 naar het eronder gelegen stripvormige toevoer-gedeelte 30 van de bovenspleet 32 van deze tunnel-opstelling 10 boven de eveneens tijdens de werking van deze tunnel-opstelling ononderbroken erdoorheen verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes 34.Figure 1 shows in the upper tunnel block 12 of the semiconductor tunnel arrangement 10 the incorporation of the strip-shaped medium supply device 14, in which there is a continuous supply of the combination of liquid carrier medium 16 and particles 18 of a solid semiconductor substance and in which therein the upper part thereof the accommodation of typically the first cylindrical mixing device 20 for mixing therein a low percentage of at least such particles 18 with a high percentage of liquid carrier medium, which can thereby typically be equal to this carrier medium 16, and said mixing device 20 being connected at its underside via typically a number of adjacent media discharge channels 24 to a second, likewise typically cylindrical mixing device 26, also containing therein the continuous supply of a substantially higher percentage of typically the same liquid carrier medium 16 for discharging downwards of this combination of carrier medium 16 and such particles 18 of this semiconductor substance via a large number of adjacent channels 28 to the underlying strip-shaped supply part 30 of the upper gap 32 of this tunnel arrangement 10 above the also during the operation of this tunnel arrangement of continuous semiconductor substrate portions passing therethrough 34.
Figuur 2 toont in deze tunnel-opstelling 10 achter deze medium-toevoerinrichting 14 de in het boventunnelblok 12 opgenomen uitwisselbare stripvormige transducer-opstelling 38, waarbij in het compartiment 40 ervan de opname van de stripvormige transducer 42 ten behoeve van typisch het daarmede verdampen van het laag-kokende vloeibare draagmedium onder neerslag van deze deeltjes 18 op de opvolgende, ononderbroken eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes 34 onder tril-conditie ervan en waarbij via het erboven gelegen gedeelte 44 met een toenemende hoogte ervan af voer van het gevormde dampvormige medium 46 plaats vindt naar de daarop-volgende stripvormige afvoer-inrichting 48, welke eveneens is opgenomen in dit boventunnelblok 12.Figure 2 shows in this tunnel arrangement 10 behind this medium supply device 14 the interchangeable strip-shaped transducer arrangement 38 accommodated in the upper tunnel block 12, in which compartment 40 thereof accommodates the strip-shaped transducer 42 for the purpose of typically evaporating the same with it. low-boiling liquid carrier medium with precipitation of these particles 18 on the successive, continuously moving semiconductor substrate portions 34 thereof under vibratory condition and wherein the vapor-shaped medium 46 formed with increasing height from the superimposed portion 44 to the subsequent strip-shaped discharge device 48, which is also included in this upper tunnel block 12.
Figuren 2^> B en C tonen zeer sterk vergroot de neerslag van de combinatie van de d?eeitjes van de vaste substantie 18 en vloeibaar draa-gmedium 16 op de opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes 34, welke worden meeverplaatst door de metalen band 36 onder daarbij een afnemende hoogte van deze combinatie.Figures 2> B and C show greatly increased precipitation of the combination of the particles of the solid substance 18 and liquid carrier medium 16 on the subsequent semiconductor substrate portions 34, which are co-displaced by the metal strip 36 underneath thereby decreasing the height of this combination.
Figuur 2^ toont zeer sterk vergroot de neerslag van uitsluitend deze deeltjes van de vaste substantie 18 op deze opvolgende substraat-gedeeltes 34 ter plaatse van het achter-gedeelte van deze transducer 42.Figure 2 shows very greatly increased precipitation of only these particles of the solid substance 18 on these successive substrate portions 34 at the rear portion of this transducer 42.
Figuur 2^ toont daarbij zeer sterk vergroot de neerslag van uitsluitend deze deeltjes van de vaste substantie 18 op de metalen semiconductor onderlaag 76.Figure 2 ^ shows a very large increase in the precipitation of only these particles of the solid substance 18 on the metal semiconductor substrate 76.
Figuur 2F toont zulk een neerslag van deze deeltjes vaste substantie op de di-electrische bovenlaag 78 van de opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes 34.Figure 2F shows such a deposit of these particles of solid substance on the dielectric top layer 78 of the subsequent semiconductor substrate portions 34.
Figuur 2^ toont zulk een neerslag van deze vaste substantie 18 op de kunststof bovenlaag 80 van de opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes.Figure 2 shows such a deposit of this solid substance 18 on the plastic top layer 80 of the subsequent semiconductor substrate portions.
In de Figuur 3 is achter deze afvoer-inrichting 62 de stripvormige toevoer-inrichting 64 voor typisch reinigings-medium 66 aangegeven, met mede afvoer ervan via deze afvoer-inrichting ten behoeve van het gereinigd/schoonhouden van het tussengelegen onderwand-gedeelte 68 van het boventunnelblok 12.Figure 3 shows behind this discharge device 62 the strip-shaped feed device 64 for typical cleaning medium 66, including its discharge via this discharge device for the purpose of cleaning / keeping the intermediate lower wall portion 68 of the upper tunnel block 12.
Zulk een toevoer-inrichting voor reinigings-medium is onder andere gewenst bij toepassing van de via deze toevoer- inrichting toegevoerde deeltjes van de substantie 18', waarbij het mogelijk tevens plaatsvinden van een beperkte neerslag van deeltjes op het voorgaande onderwand-gedeelte 68.Such a supply device for cleaning medium is desirable inter alia when using the particles of the substance 18 'supplied via this supply device, whereby it is possible that a limited precipitation of particles on the preceding bottom wall portion 68 may also take place.
Achter deze toevoer-inrichting 64 de opname van de stripvormige toevoer-inrichting 70 ten behoeve van het ononderbroken toevoeren van gasvormig medium 72, met mede afvoer ervan via deze af voer-inrichting 62 ten behoeve van het tevens onderhouden van zulk een schoonhouden van tevens het tussen-gelegen onderwand-gedeelte 74 van dit blok 12.Behind this supply device 64 the accommodation of the strip-shaped supply device 70 for the continuous supply of gaseous medium 72, including its discharge via this discharge device 62 for the purpose of also maintaining such a cleaning of the intermediate bottom wall portion 74 of this block 12.
Figuur 4 toont achter de in de Figuur 2 mede aangegeven eerste transducer-opstelling 38 een tweede transducer-opstelling 52 ten behoeve van het typisch met behulp van het trillen ervan het plaatsvinden van een egalisatie-proces van deze opgebrachte laag van zulke deeltjes 18 van een vaste substantie, zoals sterk vergroot is aangegeven in de Figuur 4a.Figure 4 shows behind the first transducer arrangement 38 co-indicated in Figure 2 a second transducer arrangement 52 for the purpose of typically using a vibration thereof to effect a leveling process of this applied layer of such particles 18 of a solid substance, as greatly enlarged is indicated in Figure 4a.
Daarbij het onderhouden van een minimale micrometer hoogte van de opvolgende bovenspleet-gedeeltes 44 ten behoeve van zulk een egalisatie-proces van de opgebrachte, typisch nanometer hoge laag van deze deeltjes 18.Thereby maintaining a minimum micrometer height of the subsequent upper slit portions 44 for such a smoothing process of the applied, typically nanometer high layer of these particles 18.
Daarachter wederom zulk een stripvormige afvoer-opstelling 62 voor tenminste mede nog verdampt vloeibaar draagmedium 66 en daarachter wederom zulk een stripvormige toevoergroef-opstelling 64 voor reinigings-medium 68 em de daarop-volgende stripvormige toevoergroef-opstelling 70 voor gasvormig slotmedium 72.Behind again such a strip-shaped discharge arrangement 62 for at least co-evaporated liquid carrier medium 66 and behind this again such a strip-shaped feed slot arrangement 64 for cleaning medium 68 and the subsequent strip-shaped feed slot arrangement 70 for gaseous lock medium 72.
Figuur 5 toont als alternatief voor zulk een stripvormige transducer-opstelling de opname in het boventunnelblok 12 van een stripvormige roterende nokkenas-opstelling 98 onder daarbij tijdens de werking ervan het aangegeven zijn van het onderhouden van typisch een snelle neerwaartse verplaatsing en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing van het stripvormige drukwand-gedeelte van de nokkenas 100 ten behoeve van het daarmede eveneens bewerkstelligen van een optimaal vlakke conditie van de neergeslagen deeltjes 18 van zulk een vaste semiconductor substantie.Figure 5 shows, as an alternative to such a stripe-shaped transducer arrangement, the incorporation into the upper tunnel block 12 of a stripe-shaped rotary camshaft arrangement 98 while indicating, during its operation, that it typically maintains a rapid downward movement and a subsequent slow downward movement. upward displacement of the strip-shaped pressure wall portion of the camshaft 100 for thereby also achieving an optimally flat condition of the precipitated particles 18 of such a solid semiconductor substance.
Daarbij in dit drukwand-gedeelte 102 de opname van een dunwandige stripvormige electrische verwarmings-inrichting 104 ten behoeve van het daarmede tevens verdampen van het vloeibare draagmedium onder het plaatsvinden van zulk neerslag-proces van deze deeltjes 18 van de vaste semiconductor substantie, zoals zeer sterk vergroot is aangegeven in de Figuren 5^ t/m D> onder het tenslotte op gebouwd zijn van een typisch nanometer hoge laag van deze deeltjes 18 op de opvolgende eronderlangs verplaatsende metalen folie-gedeeltes 106, zoals is aangegeven in de Figuur 5®.The inclusion of a thin-walled strip-shaped electric heating device 104 in this pressure wall portion 102 for thereby also evaporating the liquid carrier medium while taking place such a precipitation process of these particles 18 of the solid semiconductor substance, such as very strong Figs. 5 ^ to D> are enlarged while finally building a typical nanometer high layer of these particles 18 on the subsequent metal foil sections 106 moving therebetween, as shown in Fig. 5®.
Verder vindt via de toevoer-leiding 108 de ononderbroken toevoer van vloeibaar medium 110 naar het nokkenas-compartiment 112 plaats, met de ononderbroken afvoer ervan via de afvoer-leiding 114.Further, via the supply line 108, the continuous supply of liquid medium 110 to the camshaft compartment 112 takes place, with its uninterrupted discharge via the discharge line 114.
Verder is nog in de Figuur 1 de opname aangegeven van de inrichting 116, waarin tijdens de werking ervan de ononderbroken bewerkstelliging van typisch minder dan 5 nanometer grote deeltjes van zulk een vaste, typisch veelal metalen semiconductor substantie 18 en waarbij deze inrichting via typisch een aantal toevoer-leidingen 118 is aangesloten op de eronder gelegen meng-inrichting 120 , en waarin het ononderbroken plaatsvinden van het mengen ervan met een daarop ononderbroken toegevoerd hoger percentage van typisch eveneens het laag-kokende vloeibare draagmedium 16.Furthermore, Figure 1 also shows the recording of the device 116, in which during its operation the uninterrupted realization of typically less than 5 nanometer large particles of such a solid, typically mostly metal semiconductor substance 18 and wherein this device via typically a number of supply lines 118 are connected to the underlying mixing device 120, and in which the uninterrupted occurrence of their mixing with a continuously supplied higher percentage of the low-boiling liquid carrier medium 16 is also continuously supplied.
Daarbij het via typisch eveneens meerdere naast elkaar gelegen leidingen 122 ononderbroken toevoer ervan naar deze medium-toevoerinrichting 14.Thereby the continuous supply thereof via typically also several adjacent pipes 122 to this medium supply device 14.
Figuur 6 toont vergroot aangegeven een gedeelte van de toegepaste onder-nokkenasopstelling 124, welke is opgenomen in het ondertunnelblok 14.Figure 6 shows an enlarged view of a portion of the applied lower camshaft arrangement 124, which is included in the sub-tunnel block 14.
Daarbij met behulp van deze roterende nokkenas-opstelling het ononderbroken op- en neerwaarts verplaatsen van het stripvormige drukwand-gedeelte 126.Thereby, with the aid of this rotating camshaft arrangement, the continuous up and down movement of the strip-shaped pressure wall portion 126.
Deze nokkenas-opstelling bevat daarbij de nokken 128, welke daarbij typisch bestaan uit het relatief korte gedeelte 130 en het relatief lange gedeelte 132 en waarbij tijdens het verdraaien ervan met behulp van deze opvolgende nokken een opvolgend op- en neerwaarts verplaatsen van dit drukwand-gedeelte 126 plaats vindt, met daarbij een snelle opwaartse-en een daarop-volgende langzame neerwaartse verplaatsing ervan en tevens met behulp van dit drukwand-gedeelte het ononderbroken op- en neerwaartse verplaatsing van de ononderbroken erbovenlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes 34, zoals is aangegeven in de Figuur 7 en zeer sterk vergroot in de Figuren 8A en 8®.This camshaft arrangement herein includes the cams 128, which typically consist of the relatively short portion 130 and the relatively long portion 132 and wherein during their rotation with the aid of these successive cams a successive up and down movement of this pressure wall portion 126 takes place with a rapid upward and a subsequent slow downward movement thereof and also with the aid of this pressure wall part the continuous up and down movement of the continuous semiconductor substrate parts 34 moving along it, as indicated in Figure 7 and greatly enlarged in Figures 8A and 8®.
Verder in het boventunnelblok 12 de opname van de stripvormige transducer 42 en waar bij de trillingen ervan typisch een snelle neerwaartse- en een daarop-volgende langzame opwaartse verplaatsing hebben, zoals eveneens is aangegeven in deze Figuur 7.Further, in the upper tunnel block 12, the incorporation of the strip-shaped transducer 42 and where its vibrations typically have a fast downward and a subsequent slow upward movement, as also indicated in this Figure 7.
Zulks mede ten behoeve van een optimaal snel vullen van de in een voorgaand tunnel-gedeelte bewerkstelligde, typisch minder dan 30 nanometer brede uitsparingen/crevices 134 in de di-electrische bovenlaag 136 van deze opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes 34, zoals uiterst vergroot is aangegeven in de Figuren 8A en 8® en waarbij in de Figuur 8a het tonen van de maximale bewerkstelligde hoogte van het tussen-liggende bovenspleet-gedeelte 46, en in de Figuur 8® de minimale bewerkstelligde hoogte ervan tijdens zulke tril-condities van deze onder-nokkenasopstelling en deze boven-transduceropstelling.Partly for the purpose of an optimum rapid filling of the recesses / crevices 134 in the previous tunnel section, typically less than 30 nanometers wide, in the dielectric top layer 136 of these successive semiconductor substrate sections 34, as indicated in an extremely enlarged manner in Figures 8A and 8®, and in Figure 8a showing the maximum effected height of the intermediate upper slit portion 46, and in Figure 8® the minimum effected height thereof during such vibration conditions of these lower camshaft arrangement and this top transducer arrangement.
Figuur 9 toont de meng-inrichting 140, waarbij daarin in het bovenste gedeelte ervan het ononderbroken mengen plaats vindt van de toegevoerde combinatie van deeltjes van een vaste semiconductor substantie 18 met een hoog percentage laag-kokend vloeibaar draagmedium 16 en in het onderste gedeelte ervan het ononderbroken mengen van deze combinatie met een hoog percentage hoog-kokend vloeibaar draagmedium 142.Figure 9 shows the mixing device 140, in which in the upper part thereof there is continuous mixing of the supplied combination of particles of a solid semiconductor substance 18 with a high percentage of low-boiling liquid carrier medium 16 and in the lower part thereof. continuous mixing of this combination with a high percentage of high-boiling liquid carrier medium 142.
Figuur 10 toont in een gedeelte van deze tunnel-opstelling 10 de toepassing in het boventunnelblok 12 ervan een eerste stripvormige transducer-opstelling 144 ten behoeve van het daarmede ononderbroken plaatsvinden van verdamping van het laag-kokende vloeibare draagmedium 16 en onder de daarop-volgende tweede transducer-opstelling 146 het daarmede plaatsvinden van verdamping van het hoger-kokende vloeibare draagmedium 142 met daarbij, indien benodigd, achter zulk een stripvormige afvoer-inrichting 62 voor het verdampte vloeibare draagmedium wederom zulk een stripvormige toevoer-inrichting voor reinigings-medium en de daarop-volgende toevoer-inrichting voor gasvormig slotmedium ten behoeve van het gereinigd houden van het daaropvolgende onderwand-gedeelte van dit boventunnelblok en zoals is aangegeven in de Figuur 3.Figure 10 shows in a portion of this tunnel arrangement 10 the use in its upper tunnel block 12 a first strip-shaped transducer arrangement 144 for the uninterrupted occurrence of evaporation of the low-boiling liquid carrier medium 16 and below the subsequent second transducer arrangement 146 with this the evaporation of the higher-boiling liquid carrier medium 142 including, if necessary, behind such a strip-shaped discharge device 62 for the evaporated liquid carrier medium again such a strip-shaped supply device for cleaning medium and the cleaning medium thereon - following supply device for gaseous lock medium for keeping the subsequent bottom wall portion of this upper tunnel block clean and as indicated in Figure 3.
Achter deze tweede afvoer-inrichting in dit blok 12 de opname van een stripvormig electrisch verwarmingselement 148 ten behoeve van het daarmede smelten van deze deeltjes 16 van zulk een vaste substantie onder de vorming van de vloeibare laag 150 ervan en daarachter de opname van de stripvormige afkoel-inrichting 152 ten behoeve van het vormen van de vaste laag 154 ervan.Behind this second discharge device in this block 12 the accommodation of a strip-shaped electric heating element 148 for melting these particles 16 of such a solid substance with it, forming the liquid layer 150 thereof and thereafter the accommodation of the strip-shaped cooling device 152 for forming its solid layer 154.
Figuur llA toont daarbij het begin van het verhoogde bovenspleet-gedeelte 156 onmiddellijk achter het stripvormige medium-toevoergedee1 te 158 van deze medium-toevoer inrichting 140 en waarbij de Figuren 11®» ^ en ® de opvolgende gedeeltes 160, 162 en 164 van de bovenspleet onder deze beide transducers 144 en 146 tonen, met daarin het aangeven van de sterk toenemende hoogtes ervan.Figure 11A thereby shows the beginning of the raised upper slit portion 156 immediately after the strip-shaped medium supply portion 158 of this medium supply device 140 and wherein Figures 11® and® the successive portions 160, 162 and 164 of the upper slit 144 and 146 below these two transducers, indicating the strongly increasing heights.
Figuur 12 toont zeer sterk vergroot in het gedeelte achter deze tweede transducer-opstelling 146 wederom de vulling met nanometer grote deeltjes 18 van deze vaste semiconductor substantie van de bewerkstelligde crevices 166, welke zijn opgenomen in de semiconductor bovenlaag 168 van deze opvolgende, eronderlangs verplaatsende semiconductor substraat-gedeeltes 34·Figure 12 shows, greatly enlarged in the portion behind this second transducer arrangement 146, again the nanometer-sized particle filling 18 of this solid semiconductor substance of the crevices 166 effected, which are contained in the semiconductor upper layer 168 of this successive semiconductor moving below it substrate portions 34 ·
Figuur 13 toont na het tenminste mede vullen van deze crevices 166 met deze deeltjes 18 van een metalen substantie, met behulp van zulk een electrische verwarmings-inrichting 148 de bewerkstelligde vloeibare laag 150 van deze substantie.Figure 13, after at least co-filling these crevices 166 with these particles 18 of a metal substance, with the aid of such an electric heating device 148, the liquid layer 150 of this substance achieved.
Figuur 14 toont het afgekoeld zijn van deze vloeibare laag 150 onder de vorming van de vaste laag 152 en onder het daarmede tenminste mede gevuld zijn van deze crevices.Figure 14 shows the cooling of this liquid layer 150 while forming the solid layer 152 and at least filling these crevices with it.
Figuur 15 toont daarbij in deze tunnel-opstelling 10 de toepassing van opvolgende gedeeltes van de daarin in de ingangszijde ervan ononderbroken toegevoerde kunststof-folie 170, waarbij in de bovenlaag 172 ervan het tenminste mede bewerkstelligd zijn van zulke, met een metaal gevulde crevices 166.Figure 15 shows in this tunnel arrangement 10 the use of successive portions of the plastic film 170 continuously supplied therein at the entrance side thereof, wherein in the upper layer 172 thereof at least co-effect of such metal-filled crevices 166 are achieved.
Figuur 16 toont daar bij in deze tunnel-opstelling de toepassing van opvolgende semiconductor substraat-gedeeltes 34 en waar bij in de di-electrische bovenlaag 174 ervan tenminste mede het bewerkstelligd zijn van zulke, met een metalen substantie gevulde crevices 166.Figure 16 shows the use of successive semiconductor substrate portions 34 in this tunnel arrangement and, at least in the dielectric upper layer 174 thereof, that such crevices 166 filled with a metal substance have been achieved.
Figuur 17 toont nog achter deze beide transducer-opstellingen 144 en 146 in het boventunnelblok 12 de opname van de derde transducer-opstelling 176 ten behoeve van het daarmede wederom plaatsvinden van een egalisatie-proces van deze opgebrachte, typisch nanometer hoge laag 178 van deeltjes 18 van zulk een vaste semiconductor substantie, zoals sterk vergroot is aangegeven in de Figuren 18A en 18B> en zulks ten behoeve van het in de daarop-volgende tunnel-gedeeltes plaatsvinden van zulk een ononderbroken verwarmings-proces met behulp van zulk een electrische verwarmings-inrichting 148 onder de vorming van de nanometer hoge vloeibare laag 180 van deze semiconductor substantie 18, en in de daarop-volgende afkoel-inrichting 152 plaatsvinden van een afkoel-proces van deze vloeibare laag onder de vorming van de vaste laag 182 ervan.Figure 17 still shows behind these two transducer arrangements 144 and 146 in the upper tunnel block 12 the incorporation of the third transducer arrangement 176 for the purpose of again taking place an equalization process of this applied, typically nanometer-high layer 178 of particles 18 of such a solid semiconductor substance, as greatly enlarged is indicated in Figures 18A and 18B> and for the purpose of such a continuous heating process taking place in the subsequent tunnel sections with the aid of such an electric heating device 148 with the formation of the nanometer-high liquid layer 180 of this semiconductor substance 18, and in the subsequent cooling device 152, a cooling process of this liquid layer takes place to form its solid layer 182.
Verder is deze tunnel-opstelling zodanig uitgevoerd en bevattende zodanige middelen, dat daarbij daarin tevens de mogelijke toepassing van meerdere van de middelen en werkwijzen van de semiconductor faciliteit, -installatie, -tunnel-opstellingen en - inrichtingen, welke zijn aangegeven en omschreven in de recent door de aanvrager ingediendeFurthermore, this tunnel arrangement is designed and contains such means that it also includes the possible application of several of the means and methods of the semiconductor facility, installation, tunnel arrangements and devices, which are indicated and described in the recently submitted by the applicant
Nederlandse Octrooi-aanvragen betreffende zulk een semiconductor tunnel-opstelling.Dutch Patent Applications concerning such a semiconductor tunnel arrangement.
Verder, dat daarbij daarin de mogelijke toepassing van alle reeds algemeen gebruikt wordende semiconductor behandelingen voor wafers in semiconductor modules, ook welke reeds zijn omschreven in Octrooien, indien daarin de vermelding in de tekst en Conclusies van het navolgende: a) een individuele semiconductor wafer of - substraat; of bj een al dan niet individuele semiconductor module.Furthermore, the possible application of all semiconductor treatments that are already generally used for wafers in semiconductor modules, including those already described in Patents, if therein the mention in the text and Conclusions of the following: a) an individual semiconductor wafer or - substrate; or bj an individual or non-individual semiconductor module.
Verder, dat daarbij de in deze Octrooi-aanvrage omschreven middelen en werkwijzen tevens toepasbaar zijn in deze andere semiconductor tunnel-opstellingen, welke zijn aangegeven en omschreven in deze andere Octrooi-aanvragen van de aanvrager .Furthermore, the means and methods described in this Patent Application are also applicable to these other semiconductor tunnel arrangements, which are indicated and described in these other Patent applications of the applicant.
Claims (76)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1037191A NL1037191C2 (en) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1037191 | 2009-08-11 | ||
NL1037191A NL1037191C2 (en) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL1037191A true NL1037191A (en) | 2011-02-14 |
NL1037191C2 NL1037191C2 (en) | 2011-11-23 |
Family
ID=43646056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL1037191A NL1037191C2 (en) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
NL (1) | NL1037191C2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL1039188C2 (en) * | 2011-11-24 | 2013-05-27 | Edward Bok | A NUMBER OF FOLLOWING INDIVIDUAL SEMICONDUCTOR DEVICES, INCLUDING IN THE FIRST DEVICE THE INCLUSION OF A FOIL STORAGE ROLE AND IN THE FOLLOWING DEVICES THE FOLLOW-UP INDIVIDUAL SEQUENCE SECTOR INSERTED IN THE FOLLOWING SECTION. POTATO CHIPS. |
NL1039189C2 (en) * | 2011-11-24 | 2013-05-27 | Edward Bok | SEMICONDUCTOR CHIP, MANUFACTURED IN A NUMBER OF FOLLOWING INDIVIDUAL SEMICONDUCTOR DEVICES AND INCLUDING IN THE FIRST DEVICE THE INCLUSION OF A FOIL STORAGE ROLE, INCLUDING A VERY LONG FOIL, IN THE FOLLOWING DEFECTIVE SECTOR IN THE FOLLOWING SECTOR THEREFORE. DEVICE BY FOLLOWING SHARES THEREOF FROM OBTAINING THEREOF. |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL1039461C2 (en) * | 2012-03-13 | 2013-09-16 | Edward Bok | SEMICONDUCTOR INSTALLATION, INCLUDING THE RECORDING OF A TUNNEL SETUP, AND INCLUDING IN A SECTION THEREOF THE RECORDING OF AN EXTREMELY ULTRA VIOLET LITHOGRAPHY SYSTEM FOR THE USE OF AN EUV RADIATION OF A DISCUSSION OF A CONCLUSION UNINTERRUPTED SUBSTRATE. |
NL1039462C2 (en) * | 2012-03-13 | 2013-09-16 | Edward Bok | SEMICONDUCTOR TUNNEL SET-UP, INCLUDING IN A SECTION THEREOF THE INCLUSION OF AN EXTREMELY ULTRA VIOLET LITHOGRAPHY SYSTEM FOR THE USE OF THE EUV RAYS IN THE LIGHT OF THE EXCESS THAT THEY WERE CONSEQUENTLY CONCERNED. |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004071970A (en) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Manufacturing method and manufacturing system of silicon substrate for solar cell |
WO2008104346A2 (en) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Continuous coating installation and methods for producing crystalline thin films and solar cells |
-
2009
- 2009-08-11 NL NL1037191A patent/NL1037191C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004071970A (en) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Manufacturing method and manufacturing system of silicon substrate for solar cell |
WO2008104346A2 (en) * | 2007-02-27 | 2008-09-04 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Continuous coating installation and methods for producing crystalline thin films and solar cells |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL1039188C2 (en) * | 2011-11-24 | 2013-05-27 | Edward Bok | A NUMBER OF FOLLOWING INDIVIDUAL SEMICONDUCTOR DEVICES, INCLUDING IN THE FIRST DEVICE THE INCLUSION OF A FOIL STORAGE ROLE AND IN THE FOLLOWING DEVICES THE FOLLOW-UP INDIVIDUAL SEQUENCE SECTOR INSERTED IN THE FOLLOWING SECTION. POTATO CHIPS. |
NL1039189C2 (en) * | 2011-11-24 | 2013-05-27 | Edward Bok | SEMICONDUCTOR CHIP, MANUFACTURED IN A NUMBER OF FOLLOWING INDIVIDUAL SEMICONDUCTOR DEVICES AND INCLUDING IN THE FIRST DEVICE THE INCLUSION OF A FOIL STORAGE ROLE, INCLUDING A VERY LONG FOIL, IN THE FOLLOWING DEFECTIVE SECTOR IN THE FOLLOWING SECTOR THEREFORE. DEVICE BY FOLLOWING SHARES THEREOF FROM OBTAINING THEREOF. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL1037191C2 (en) | 2011-11-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL1037191A (en) | SEMICONDUCTOR TUNNEL INSTALLATION, INCLUDING MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSE OF PROCESSING A (SUB) NANOMETER HIGH LAYER OF PARTICLES OF A FIXED SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED, SEVERAL SACRED. | |
McCreery et al. | A model potential for chemisorption: H2+ W (001) | |
CN100492560C (en) | Laminated body, capacitor, electronic part, and method and device for manufacturing the same | |
Muralt | Texture control and seeded nucleation of nanosize structures of ferroelectric thin films | |
CN106548928B (en) | Method for the structural body and manufacture of the radio frequency applications structural body | |
CN101573772B (en) | Mim capacitor | |
CN1644608A (en) | Acrylate coating methods | |
KR100733181B1 (en) | Atomic layer deposition methods | |
TW201016474A (en) | Method and system for non-contact materials deposition | |
TW200301310A (en) | Method and device for forming semiconductor wiring, method and device for producing semiconductor component, and wafer | |
NL1037192C2 (en) | SEMICONDUCTOR TUNNEL SET-UP, INCLUDING IN THE TOP TUNNEL BLOCK, MULTIPLE DEVICES FOR THE PURPOSES OF A NANOMETER OF HIGH LIQUID HOF-MATERIAL SUBSTANCE ON THE FOLLOWING, UNINTERRUPTED SEVERALIZED SUBSTANCE OF THE UNSUPTED. | |
US20200402904A1 (en) | Energy storing interposer device and manufacturing method | |
Yao et al. | Effects of starting powder and thermal treatment on the aerosol deposited BaTiO 3 thin films toward less leakage currents | |
Kim et al. | Relation between electrical properties of aerosol-deposited BaTiO 3 thin films and their mechanical hardness measured by nano-indentation | |
CN103492107A (en) | Method for preparing metal particles | |
NL1037060C2 (en) | SEMICONDUCTOR INSTALLATION, INCLUDING AT LEAST A LONG NARROW SEMICONDUCTOR SUBSTRATE TRANSFER / TUNNING TUNNEL SETUP FOR THE FUNCTIONING OF THE UNINTERRUPTED PLACE OF A TOTAL SEMICONDUCTOR DISCONTINUATION OF DISCONTINUATION OF DISCONTINUATION OF DISCLAIMER. | |
US11701820B2 (en) | Recoaters with gas flow management | |
Gerhards et al. | Self-organized nanoscale multilayer growth in hyperthermal ion deposition | |
NL1037473C2 (en) | SEMICONDUCTOR TUNNEL ESTABLISHMENT WHICH THE PLACE OF SUCCESSIVE SEMICONDUCTOR TREATMENT OF SUCCESSIVE traveling therethrough SEMICONDUCTOR SUBSTRATE-SECTIONS AND WHICH ALSO IN IT MORE STRIP-SHAPED MEDIUM FEED ESTABLISHMENTS IN AT LEAST THE TOP OF TUNNEL BLOCK WILL BE INCLUDED FOR A CONTINUOUS SUPPLY OF AT LEAST ALSO THE COMBINATION OF PARTICLES A CARRYING MEDIUM IN A GAS-SHAPED OR VAPORABLE LIQUID FORM. | |
NL1037063C2 (en) | SEMICONDUCTOR CHIP, WHICH IS MANUFACTURED IN A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE TRANDFER / TUNING TUNNEL INSTALLATION FOR THE PURPOSE OF OPERATING THERE FOR THE UNINTERRUPTED PLACE OF A TOTAL SEMICONDUCTOR DEPARTMENTAL DISPRODUCTIONAL DEPROCESSIONAL DISPRODUCTIONAL DEPROCESSIONAL DEPROCESSIONAL DISPRODUCTIONAL DEPROCESSIONAL DISPRODUCTION DEPROCESSED SEPARATION DEPROCESSING SEPARATE DEPROCESSING SEPARATE SEPARATE DISPRODUCTION DEPROCESSIONAL SEPARATE SEPARATE SEPARATE DISPRODUCTION DEPROCESSED SEPARATE SEMICONDUCTOR CHIP. | |
NL1037069C2 (en) | SEMICONDUCTOR SUBSTRATE TRANSFER / TUNNEL TREATMENT SET-UP, INCLUDING AT LEAST IN THE UPPER AND / OR UNDER TUNNEL BLOCK THE RECORDING OF A SIDE-IN-DIRECTION DIRECTION OF THE STRENGTHENING OF THE EXERCISE OF THE REMEDY ON THE EXCESS OF THE REMEDY ON THE EXERCISE OF THE REMEDY ON THE EXCESS OF THE REMEDY ON THE EXERCISE OF THE REMEDY ON THE EXERCISE OF THE REMEDY ON THE EXERCISE OF THE REMEDY ON THE EXCLUSION OF THE EXTENT STRIPPED PRESSURE PLATE-PART THEREOF. | |
Akca et al. | Comparison of electron and hole charge-discharge dynamics in germanium nanocrystal flash memories | |
JP2001152343A (en) | Vaporizer | |
US7869556B2 (en) | Method and device for the operation of a plasma device | |
WO2011145920A1 (en) | Semiconductor chip and substrate transfer/processing tunnel -arrangement extending in a linear direction |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SD | Assignments of patents |
Effective date: 20120919 |
|
V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 20140301 |