Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Benemerita Univ Autonoma De PueblafiledCriticalBenemerita Univ Autonoma De Puebla
Priority to MX2014010297ApriorityCriticalpatent/MX362910B/es
Publication of MX2014010297ApublicationCriticalpatent/MX2014010297A/es
Publication of MX362910BpublicationCriticalpatent/MX362910B/es
Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults
(AREA)
Abstract
La presente invención proporciona un circuito analógico que, mediante la técnica de cargar un capacitor, permite efectuar la medición de corrientes pequeñas (nA). Adicionalmente, este circuito permite graficar la I-V de diferentes dispositivos en condición de baja corriente. Esta función se obtiene, midiendo el voltaje y la corriente del dispositivo bajo prueba en forma simultánea.
MX2014010297A2014-08-272014-08-27Interfaz analógica para graficar la curva i-v de diferentes dispositivos en condición de baja corriente.
MX362910B
(es)
METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING THE VOLTAGE THRESHOLD OF A BATTERY BY MEASURING THE INTERNAL RESISTANCE OF THE BATTERY AND CORRESPONDING METHOD AND SENSOR CIRCUIT FOR MEASURING THE INTERNAL RESISTANCE OF THE BATTERY