MD443Z - Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления - Google Patents

Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
MD443Z
MD443Z MDS20110039A MDS20110039A MD443Z MD 443 Z MD443 Z MD 443Z MD S20110039 A MDS20110039 A MD S20110039A MD S20110039 A MDS20110039 A MD S20110039A MD 443 Z MD443 Z MD 443Z
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
glass
laser radiation
band
rayleigh scattering
sheet glass
Prior art date
Application number
MDS20110039A
Other languages
English (en)
Romanian (ro)
Inventor
Владимир АБАШКИН
Елена АКИМОВА
Original Assignee
Институт Прикладной Физики Академии Наук Молдовы
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Прикладной Физики Академии Наук Молдовы filed Critical Институт Прикладной Физики Академии Наук Молдовы
Priority to MDS20110039A priority Critical patent/MD443Z/ru
Publication of MD443Y publication Critical patent/MD443Y/mo
Publication of MD443Z publication Critical patent/MD443Z/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Изобретение относится к способам неразрушающего контроля и диагностике технического состояния объектов из листового стекла поляризационно-оптическим методом.Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле включает освещение торцевой поверхности стекла поляризованным и коллимированным лазерным излучением и регистрацию Рэлеевского рассеяния лазерного излучения. Освещение торцевой поверхности стекла осуществляют вдоль него лазерным излучением, коллимированным в виде полоски, направленной под углом 45° к плоскости стекла. Регистрацию Рэлеевского рассеяния проводят одновременно по всей толщине стекла по направлению лазерного излучения и нормально к полоске лазерного излучения. На основе компьютерного анализа зарегистрированного изображения вычисляют профиль остаточных напряжений по всей толщине стекла.Установка для измерения остаточных напряжений в листовом стекле (5) содержит источник лазерного освещения (1), поляризатор (2), коллиматор (3), расположенные последовательно, и видеокамеру (4) для регистрации Рэлеевского рассеяния лазерного излучения, соединенную с компьютером для обработки Рэлеевского рассеяния. Коллиматор (3) выполнен с возможностью формирования полоски лазерного излучения, обеспечивающего ширину полоски, равную толщине стекла.
MDS20110039A 2011-02-24 2011-02-24 Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления MD443Z (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20110039A MD443Z (ru) 2011-02-24 2011-02-24 Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20110039A MD443Z (ru) 2011-02-24 2011-02-24 Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD443Y MD443Y (en) 2011-11-30
MD443Z true MD443Z (ru) 2012-06-30

Family

ID=45815322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDS20110039A MD443Z (ru) 2011-02-24 2011-02-24 Способ измерения остаточных напряжений в листовом стекле и установка для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD443Z (ru)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1265472A1 (ru) * 1985-07-16 1986-10-23 Предприятие П/Я Г-4937 Устройство дл измерени контура сечени прозрачных оптических элементов
SU1787266A3 (ru) * 1990-12-28 1993-01-07 Иhctиtуt Paдиotexhиkи И Элektpohиkи Ah@ Cccp Устройство для измерения оптической разности хода
RU2240501C2 (ru) * 2002-10-17 2004-11-20 Открытое акционерное общество "Раменское приборостроительное конструкторское бюро" Способ и установка для определения остаточных напряжений в монокристаллических материалах поляризационно-оптическим методом
RU2319941C1 (ru) * 2006-05-02 2008-03-20 Федор Андреевич Егоров Средство определения напряжений
RU2353925C1 (ru) * 2007-09-27 2009-04-27 Борис Максович Бржозовский Устройство для бесконтактного высокоточного измерения физико-технических параметров объекта
RU2373504C2 (ru) * 2007-06-22 2009-11-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток") Способ измерения напряжений в полом изделии и толщины его стенки поляризационно-оптическим методом и устройство для его осуществления
MD172Z (ru) * 2009-11-05 2010-10-31 Институт Прикладной Физики Академии Наук Молдовы Оптоволоконный датчик для регистрации инфракрасного излучения
  • 2011

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1265472A1 (ru) * 1985-07-16 1986-10-23 Предприятие П/Я Г-4937 Устройство дл измерени контура сечени прозрачных оптических элементов
SU1787266A3 (ru) * 1990-12-28 1993-01-07 Иhctиtуt Paдиotexhиkи И Элektpohиkи Ah@ Cccp Устройство для измерения оптической разности хода
RU2240501C2 (ru) * 2002-10-17 2004-11-20 Открытое акционерное общество "Раменское приборостроительное конструкторское бюро" Способ и установка для определения остаточных напряжений в монокристаллических материалах поляризационно-оптическим методом
RU2319941C1 (ru) * 2006-05-02 2008-03-20 Федор Андреевич Егоров Средство определения напряжений
RU2373504C2 (ru) * 2007-06-22 2009-11-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток") Способ измерения напряжений в полом изделии и толщины его стенки поляризационно-оптическим методом и устройство для его осуществления
RU2353925C1 (ru) * 2007-09-27 2009-04-27 Борис Максович Бржозовский Устройство для бесконтактного высокоточного измерения физико-технических параметров объекта
MD172Z (ru) * 2009-11-05 2010-10-31 Институт Прикладной Физики Академии Наук Молдовы Оптоволоконный датчик для регистрации инфракрасного излучения

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Abaşkin Vladimir. PhD Thesis from Mechanical Department of Universita Polytecnica delle Marche. Development of Innovative Laser Technique for Secure Glass Production and Quality Control Using Laser Techniques, Ancona, Italy, 2006 *

Also Published As

Publication number Publication date
MD443Y (en) 2011-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201144791A (en) Surface inspection method and apparatus for steel plate with resin coating film
MX2013013471A (es) Dispositivo y metodo para determinar la posicion de dos ejes acoplados entre si.
BR112015025407A2 (pt) método e dispositivo para testar um transformador
GB2527988A (en) Pipe outer surface inspection apparatus
MX2015004816A (es) Aparato y metodo para determinar la desviacion de posicion objetivo de dos cuerpos.
WO2013116256A9 (en) Method and apparatus for recycling electronic devices
BR112013022668A2 (pt) aparelho e método para gerar uma imagem, e, mídia de gravação
EP2780547A4 (en) MEASURING DEVICE, METHOD, AND SYSTEMS WITH IMPROVED RESISTANCE
EP2707096A4 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING A NEURONAL RESPONSE - A
BR112012011440A2 (pt) dispositivo para determinar o tamanho de partículas
EP3889590A3 (en) Apparatus for inspecting a substrate for a foreign substance
WO2011122007A3 (en) Imaging apparatus and imaging method
MX2016005635A (es) Metodo y aparato para detectar materia.
GB201220371D0 (en) Photoelectric autocollimation method and apparatus based on beam drift compensation
MY156072A (en) Apparatus and method for inspecting an object with increased depth of field
WO2013151421A3 (en) Integrated optical and charged particle inspection apparatus
BR112014009334A2 (pt) dispositivo e método de monitoramento do movimento e orientação de pessoas; processador para uso em dispositivos de monitoramento do movimento e orientação de pessoas; método de processamento para uso em dispositivos de monitoramento do movimento e orientação de pessoas; e programa de computador
WO2012014092A3 (en) Apparatus and method for three dimensional inspection of wafer saw marks
WO2014076128A3 (de) Messung einer faserrichtung eines kohlefaserwerkstoffes und herstellung eines objekts in kohlefaserverbundbauweise
WO2012177659A3 (en) Part evaluation system/method using both resonance and surface vibration data
BR112014032123A2 (pt) aparelho de processamento de dados do detector, método de processamento de dados do detector, sistema de imagem por raios x, elemento de programa de computador para controlar um aparelho, e meio legível por computador
EP2918968A3 (en) Optical shape measuring apparatus with diffraction grating and method of manufacturing article
WO2013158039A3 (en) Method and system for real time inspection of a silicon wafer
EP2639572A3 (en) Resin detection system
MX338030B (es) Dispositivo para determinar la ubicacion de elementos mecanicos.

Legal Events

Date Code Title Description
KA4Y Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)