LU82230A1 - SURFACE QUALITY CONTROL PROCESS - Google Patents

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LU82230A1
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shutter
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transparent
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opaque
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LU82230A
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J Crahay
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Centre Rech Metallurgique
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces

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Description

t 2.UÔ3 ; C 201S/3003.t 2.UÔ3; C 201S / 3003.

ιί j •j ’i « il Ί ,:i j * , Ί ? j il CENTRE DE RECHERCHES METALLURGIQUES -CENTRUM VOOR RESEARCH IN DE METALLURGIE,ιί j • j ’i" il Ί,: i j *, Ί? j he METALLURGICAL RESEARCH CENTER -CENTRUM VOOR RESEARCH IN DE METALLURGIE,

Association sans but lucratif - vereniging sonder v: in s toogrr.erk : à BRUXELLES, (Belgique) .Non-profit association - vereniging sonder v: in s toogrr.erk: in BRUXELLES, (Belgium).

ί î; j) Procédé de contrôle de la qualité ces surfaces, j ^ — — _ —— _ ~~ J 4ί î; j) Quality control process for these surfaces, j ^ - - _ —— _ ~~ J 4

! V! V

'•j La présente invention se rapporte à un procédé ce j; contrôle de la qualité ces surfaces, eue celles-ci soient ou nor.The present invention relates to a method ce j; quality control of these surfaces, whether they are either nor.

ï i revêtues d'une ou t> lus leur, couches c ‘ un enduit en ceinture cuel- f! ~ - ·.. . conque, et quelle que sert leur ferre. Le procédé s'applique éce- J 1 eirtent lorsque les objets font les surfaces sont ê r.esurer, sor.r j en mouvement.ï i coated with one or all of them, layers c ‘a cuel- f belt coating! ~ - · ... conch, and whatever their iron serves. The process is also applied when the objects making the surfaces are to be measured, released in motion.

TT

titre c eueiiipus non imitât ir, us prc·. t ·.... os _ 1 tr.vsr. t j or. t ' ît—' " ' :/ olxcuant s toute esolce de sur ’sce ce cuelau'étendue. · / if- 2.-title c eueiiipus non imitât ir, us prc ·. t · .... os _ 1 tr.vsr. t j or. t 'ît—' "': / olxcuant s any solce of on’ sce this cuelau' extent. · / if- 2.-

La qualité c$s tôles métalliques peut se concevoir dans deux directions, d'une part, celle oui concerne la matière elle-même de la tôle, qui doit présenter des propriétés bien définies au point de vue mécanique, structure, homogénéité et isotropie et d'antre part, celle, concernée par la présente invention, se rapportant à l'aspect de sa surface revêtue ou non, d'un enduit ou de peinture.The quality c $ s metal sheets can be conceived in two directions, on the one hand, that yes concerns the material itself of the sheet, which must have well defined properties from the mechanical point of view, structure, homogeneity and isotropy and on the other hand, that, concerned by the present invention, relating to the appearance of its surface coated or not, with a coating or paint.

Cette qualité de surface est en liaison directe avec son aspect plus ou moins lisse ou brillant, ainsi qu'avec son ho-. mogénéité et sa constance dans le dit aspect.This surface quality is directly linked to its more or less smooth or shiny appearance, as well as to its ho-. homogeneity and its consistency in the said aspect.

En ce qui concerne les surfaces revêtues et notamment les surfaces métalliques peintes eue l'on produit en grandes quantités en carrosserie automobile, il faut que les differentes surfaces d'un assemblage non seulement soient les plus brillantes ; ossibles, mais aussi possèdent la même brillance pour que leur qualité soit considérée comme satisfaisante. Il est donc nécessaire ce pouvoir juger ce la brillance c'une surface peinte, indépendamment de la couleur utilisée, pour contrôler ce telles productions.With regard to coated surfaces and in particular painted metal surfaces that have been produced in large quantities in automobile bodywork, the different surfaces of an assembly must not only be the brightest; bones, but also have the same gloss so that their quality is considered satisfactory. It is therefore necessary this power to judge this the shine that a painted surface, regardless of the color used, to control such productions.

Dans ce domaine, on a déjà utilisé des méthodes basées sur le pouvoir de résolution ce la surface peinte employée comme miroir. Cependant, les résultats ainsi obtenus dépendant de l'appréciation ce l'operateur avec tous les inconvé-niants bien connus c'une pratique de ce genre.In this field, methods have already been used based on the power of resolution of the painted surface used as a mirror. However, the results thus obtained depend on the appreciation of the operator with all the well-known disadvantages of this practice.

En ce qui concerne les surfaces non revêtues et ' notamment celles ces tôles métalliques donc la surface se préserves à l'échelle microscopique sous la forma c'une succession ce pics et de vallées, en sait que leur morphologie dont eu connaît ''importance, est caractérisée par différents paramètres tels eue rugosité arithmeticue moyenne, nombre 6e pics par unité ce Ion- ff n _ — ^ *ï î _ . «i p / y ν-» » 4With regard to the uncoated surfaces and 'in particular those these metal sheets therefore the surface is preserved on a microscopic scale in the forma a succession of peaks and valleys, knows that their morphology which had known' 'importance, is characterized by different parameters such as average arithmetic roughness, number 6th peaks per unit ce Ion- ff n _ - ^ * ï î _. "I p / y ν-" "4

Dans ce domaine/ la même demanderesse a déjà présenté un procédé permettant de remédier aux inconvénients ci-cessjs mentionnés/ procédé caractérisé en ce eue l'on dirige vers la sur-4 face un faisceau lumineux du type laser de faible puissance sons une incidence de préférence oblique, en ce que l'en détermine, dans des conditions appropriées, l'angle d'ouverture du cône de ! lumière réfléchie et en ce que l'on en déduit la qualité de la j dite surface en ce sens qu'à un plus grand angle d'ouverture cor respond une plus grande irrégularité de la surface.In this field / the same applicant has already presented a method making it possible to remedy the above-mentioned drawbacks / method characterized in that a light beam of the laser type of low power is directed towards the on-face, an incidence of preferably oblique, in so far as it determines, under appropriate conditions, the opening angle of the cone! reflected light and in that we deduce the quality of the j said surface in the sense that a larger opening angle corresponds to a greater irregularity of the surface.

s La présente invention a pour objet de révéler une v autre méthode grâce à laquelle on peut, de façon particulièrement facilitée, mettre en oeuvre le procédé déjà susmentionné, imaginé par la demanderesse, surtout dans les cas où l'on a affaire à des surfaces courbes ou mobiles pa.jL uT cDuur t 3UX G îSODSit IIS 06 FT;6: S\XX *3 i i. i.s The object of the present invention is to reveal a v other method by which it is possible, in a particularly facilitated manner, to implement the process already mentioned, imagined by the applicant, especially in cases where we are dealing with surfaces curved or mobile pa.jL uT cDuur t 3UX G îSODSit IIS 06 FT; 6: S \ XX * 3 i i. i.

utilisés.used.

Le procédé susmentionné étant basé sur la mesure de l'intensité d'un faisceau réfléchi par la tôle dont on vent mesurer la brillance, il apparaît certaines difficultés pratiques quand on veut mesurer 1'intensité réfléchie dans un angle â'ou-! verture faible au centre du faisceau, ou cétermi"-r, au moyen c ‘ un écran, l'angle d'ouverture eu faisceau réfléchi. Ce dernier cas nécessite soit un écran de grande dimension et donc coûteux, soit un dispositif auxiliaire précis pour faire rapprocher de 1' : ’ écran de mesure le faisceau réfléchi.The above-mentioned method being based on the measurement of the intensity of a beam reflected by the sheet whose brightness is to be measured, there appear certain practical difficulties when it is desired to measure the intensity reflected in an angle â'or-! weak vertex in the center of the beam, or cetermi "-r, by means of a screen, the opening angle of the reflected beam. The latter case requires either a large and therefore expensive screen, or a precise auxiliary device for bring the reflected beam closer to 1 ': measurement screen.

ii

Le procédé, objet de la présente invention, selon ► lequel on projette un rayon laser sur la surface dont on veut me- I surer les propriétés ce réflectivité et de brillance, est esser.- . ’ t tellement caractérisé en ce que le r a y or.u amer, t réfléchi par le dite surface, sous la forme d'un faisceau plus ou moins évasé, est reçu dans sa majeure partie, et de préférence cens se totalité, par un détecteur photosensible, en passant au travers d'une ou plusieurs ces zen es crans par en . as c ‘ un obturateur su mouv eme.nt, comportant ces alternances ce zones opaques et ce menés crans- / Garantes et en ce eue l'on mie sure la cornue s a te alternatits euThe process, object of the present invention, according to which ► a laser beam is projected onto the surface whose properties one wants to measure, this reflectivity and of brightness, is tested. 't so characterized in that the bitter or.u ray, t reflected by the said surface, in the form of a more or less flared beam, is received for the most part, and preferably as a whole, by a detector photosensitive, passing through one or more of these notches zen by. as c ‘a shutter su mov eme.nt, comprising these alternations this opaque zones and this leds notches / Guarantors and in this we put on the retort s has te alternatits eu

FF

» 4.- siynal produit par le détecteur photosensible, le dit signal étant représentatif de la brillance cherchée de la tôle.4.- siynal produced by the photosensitive detector, the said signal being representative of the desired brightness of the sheet.

Suivant le procédé de 1'invention, le mouvement ce l'obturateur est tel que le faisceau réfléchi rencontre successivement au moins une zone transparente et une zone opaque, et de préférence successivement plusieurs alternances ce zones opaques et transparentes.According to the method of the invention, the movement of the shutter is such that the reflected beam successively encounters at least one transparent zone and one opaque zone, and preferably successively several alternations, this opaque and transparent zones.

Selon les caractéristiques ce l'obturateur et la qualité de la surface soumise à mesures, plusieurs cas peuvent se présenter : a. l'obturateur est constitué d'une sÆrie ce zones alternativement transparentes et opaques, et dont la largeur est sensiblement égale au diamètre que présente, à l'encroit du dit obturateur, un faisceau réfléchi par une tôle dont la surface est considérée comme très brillante et très régulière, bans cette hypothèse, la zone de la surface sensible du récepteur frappée par le faisceau peut recevoir au cours du temps un éclairement représentât le par le diagramme de la figure 1, le passage d'une zone opaque de 1'obturateur se traduisant par une intensité quasi nulle de l'éclairement,· la composante alternative du signal est représentée par Ay sur la rigare 1.Depending on the characteristics of the shutter and the quality of the surface to be measured, several cases may arise: a. the shutter consists of a series of alternately transparent and opaque zones, the width of which is substantially equal to the diameter which, at the angle of said shutter, presents a beam reflected by a sheet whose surface is considered to be very shiny and very regular, in this hypothesis, the area of the sensitive surface of the receiver hit by the beam can receive, over time, an illumination represented by the diagram of FIG. 1, the passage of an opaque area of the shutter is translating by an almost zero intensity of the illumination, · the alternative component of the signal is represented by Ay on rigare 1.

Si, avec ce type d'obturateur, on a affaire à une surface dont las qualités de brillance et/ou de régularité sont nettement moins bonnes,le diamètre eu faisceau réfléchi sera sensiblement plus grand à l'endroit ce l'obturateur et le récepteur enregistrera, en fonction du temps, un ciagr antre du genre ce celui du signal A de la fleure 2.If, with this type of shutter, we are dealing with a surface of which the qualities of brightness and / or regularity are clearly less good, the diameter of the reflected beam will be appreciably larger at the location of the shutter and the receiver will record, as a function of time, a ciagr antre of the kind that that of signal A of flower 2.

La comparaison des diagrammes permet ce conclure si une tele est plus brillante qu'une autre, ou si elle présente ces caractéristiques de brillances acceptables, eu éosrc à un étalon / * ~ f G ΟΠΠ0 · /, 5.- b. L'obturateur est constitué d'une série de zones alternativement transparentes et opaques, et dont la largeur des zones transparentes est nettement plus petite que le diamètre c'un spot réfléchi par une surface considérée corrüiie brillante et lisse.The comparison of the diagrams allows this to conclude if one tele is brighter than another, or if it has these characteristics of acceptable brilliance, eu eosrc to a standard / * ~ f G ΟΠΠ0 · /, 5.- b. The shutter is made up of a series of alternately transparent and opaque zones, the width of the transparent zones of which is much smaller than the diameter of a spot reflected by a surface considered to be bright and smooth.

Dans cette hypothèse, la zone ce la surface sensible au récepteur frappée par le faisceau de petit diamètre (correspondant à une tôle lisse), peut recevoir au cours du temps un i ^ éclairement représentable par le diagramme de la figure 3, le pas- i ” saae d'une zone ooaaue à la zone suivante se traduisant par l'en- i ] registrement d'un signal très analogue à une impulsion (C^) - ' Si d'autre part, avec un tel obturateur, le diamètre du faisceau s réfléchi est sensiblement plus grand que dans le cas précédent, et même parfois plus grand que la largeur de la bande opaque de 11cb- , turateur, la zone de la surface sensible ou récepteur frappée par l le faisceau réfléchi au cours du déplacement de l'obturateur se ; traduit par 1'enregistrement d'un signal eu genre ce celui repris * à la figure 4 (dont la valeur alternative C„ est repérée sur le dessin) .In this hypothesis, the area that the surface sensitive to the receiver struck by the beam of small diameter (corresponding to a smooth sheet), can receive over time an i ^ illumination representable by the diagram of Figure 3, the pass- i ”Saae from one zone to the next zone resulting in the recording of a signal very analogous to a pulse (C ^) - 'If on the other hand, with such a shutter, the diameter of the reflected beam is appreciably larger than in the previous case, and even sometimes greater than the width of the opaque strip of 11cb-, turator, the area of the sensitive or receiving surface struck by the reflected beam during the displacement of the shutter itself; translated by the recording of a signal such as that shown * in Figure 4 (whose alternative value C „is identified in the drawing).

Le oroeédé faisant 1'ebiet ce la rrasente lutentier. ; présente l'avantage de faciliter considérablement la mesure ce 1' éclairement dû au faisceau réfléchi, laquelle peut se faire aisé-; 4 ment dans une ouverture angulaire de 10e, alors eue selon les pro- \ ‘ cédés connus, on devait effectuer des mesures au centre du fais ceau réfléchi, par exemple suivant une ouverture de l'ordre de ( 1/50) ° .The oroeédé making the ebiet this the straight lutentier. ; has the advantage of considerably facilitating the measurement of the illumination due to the reflected beam, which can be done easily; 4 ment in an angular opening of 10th, then had according to known methods, measurements had to be made in the center of the reflected beam, for example according to an opening of the order of (1/50) °.

Selon l'invention, il y a différants moyens ce ' concevoir un obturateur remplissant les cc-niitior.s requises pou la mise en oeuvre du procédé ci-dessus,* toutefois, la préférante j; est donnée à un obturateur sous forme ce disque à fentes (avec réceptrice à 1'intérieur eu cylindre - figures 7 et 8). / ' 6 . -According to the invention, there are different means that 'design a shutter filling the cc-niitior.s required pou the implementation of the above process, * however, the preferred j; is given to a shutter in the form of this slotted disc (with receiver inside the cylinder - Figures 7 and 8). / '6. -

Suivant une modalite intéressante du procédé ce 1' invention, on reesure en outre l'intensité réfléchie totale de la tôle à l'endroit considéré, ce qui percer de déterminer sa brillance (rapport ou différence entre les grandeurs mesurées selon le procédé susmentionné et l'intensité totale réfléchie). Deux méthodes peuvent alors être utilisées avec intérêt : - soit la mesure de la composante continue ces signaux reçus au travers des obturateurs, - soit en déviant une partie du faisceau réfléchi, vers une seconde cellule photométrique, au moyen d'une lame semi- - transparer. . -j, située en amont de l'obturateur (par rapport au chemin du rayonnement réfléchi) .According to an advantageous modalite of the method of the invention, the total reflected intensity of the sheet is further measured at the point considered, which makes it possible to determine its brightness (ratio or difference between the quantities measured according to the above-mentioned method and the 'total reflected intensity). Two methods can then be used with interest: - either the measurement of the continuous component these signals received through the shutters, - or by deflecting part of the reflected beam, towards a second photometric cell, by means of a semi-plate - show through. . -j, located upstream of the shutter (relative to the path of the reflected radiation).

Suivant une autre modalité intéressante du procédé décrit dans la présente invention, quand on a affaire à des surfaces dont la position relative peut varier dans de grandes limites, on peut diminuer les variations en direction et en position du faisceau réfléchi en faisant passer le rayonnement laser successivement sur deux miroirs plans avant d'atteindre la surface dont la réflectivité est à mesurer, le premier de ces miroirs étant fixe par rapport au laser, le se rond étant parallèle à la SUIIc:C6 G0 £ct ςΟΊ6 6Π ίτ »-ΓΪ pO 1*1C ÛS mSSUXS, .According to another advantageous modality of the method described in the present invention, when we are dealing with surfaces whose relative position can vary within wide limits, we can reduce the variations in direction and position of the reflected beam by passing the laser radiation successively on two flat mirrors before reaching the surface whose reflectivity is to be measured, the first of these mirrors being fixed with respect to the laser, the round being parallel to the SUIIc: C6 G0 £ ct ςΟΊ6 6Π ίτ "-ΓΪ pO 1 * 1C ÛS mSSUXS,.

Le parallélisme obligé entre les rayons frappant le 'second miroir et ceux réfléchis par la cite surface se traduit, en cas de déplacement ce la cite surface, par un simple déplacement du faisceau réfléchi, lequel reste tris sensiblement parallèle à lui-même, au cours de son déplacement, ce cul facilite la mesure à effectuer.The obligatory parallelism between the rays striking the second mirror and those reflected by the surface surface results, in the event of displacement of the surface surface, by a simple displacement of the reflected beam, which remains very substantially parallel to itself, during of its movement, this ass facilitates the measurement to be made.

Laus le cas où l’on a affaire à une surface particulièrement lisse et brillant e, la très faible divergence du faisceau laser peut être artificiellement augmentée, en faisant masser m· îz. ~ ^ v tT s .c >" c ^ * n * ·-* «f- et ~ »t. c. r“” ^ -c. — t - »- ~ ~ -n rt r l— *»-»«- <*; » »-* i-ï w, v* i’ «-a. w »... »_ ·_ ÇC «· v* ^___ ... „ ______ ^ Cà _ ~ w -L — w* laser) or. a la relation : divergence sortie = divergence entrée x c: -re ---- -In the case where we are dealing with a particularly smooth and shiny surface, the very small divergence of the laser beam can be artificially increased, by massaging m · îz. ~ ^ v tT s .c> "c ^ * n * · - *" f- et ~ "tc r“ ”^ -c. - t -” - ~ ~ -n rt rl— * ”-” “- < *; »» - * i-ï w, v * i '«-a. W» ... »_ · _ ÇC« · v * ^ ___ ... „______ ^ Cà _ ~ w -L - w * laser) or. to relation: output divergence = input divergence xc: -re ---- -

" ctT 'b S Γ *1 2 S"ctT 'b S Γ * 1 2 S

C‘3 ;.T J. 1. licCiXj.tS JL3. uC6C!SiCn CSS rèSirit, _C_l h” i-h. c χ.3, C ôr. £ S'C 21 £ L CC Π éC‘3; .T J. 1. licCiXj.tS JL3. uC6C! SiCn CSS reSirit, _C_l h ”i-h. c χ.3, C ôr. £ S'C 21 £ L CC Π é

Claims (8)

1. Procédé de contrôle de la qualité des surfaces, i selon lequel on projette un rayon laser sur la surrace dont on veut mesurer les propriétés de réflectivité et ce brillance, caractérisé en ce que le rayonnement reriecni par is oite surrace, sous la forme d'un faisceau plus ou moins évasé est reçu dans sa majeure partie, et de preference cens sa totalité, par un c<é<_ec— 1. teur ühotcsensible, en passant au travers d'une ou plusieurs ces i zones transparentes, d'un obturateur en mouvement, comportant des alternances de zones opaques et de zones transparentes, et en ce aue l'on mesure la composante alternative du signal fourni par le détecteur photosensible.1. Method for controlling the quality of surfaces, i according to which a laser beam is projected onto the surface of which the properties of reflectivity and this brightness are to be measured, characterized in that the radiation reriecni by is orite surface, in the form of a more or less flared beam is received for the most part, and preferably for all of it, by a sensitive sensor, passing through one or more of these transparent zones, a shutter in motion, comprising alternations of opaque zones and transparent zones, and in this aue the alternating component of the signal supplied by the photosensitive detector is measured. 2. Procédé suivant la revendication 1, caractérisé en ce que le mouvement de l'obutrateur es: tel eus le faisceau réfléchi rencontre successivement au moins une zone transparente et une zone opaaue, et ce préférence successivement plusieurs alternances ce zones opaques et transparences. : <!2. Method according to claim 1, characterized in that the movement of the shutter is: such had the reflected beam successively meets at least one transparent area and an opaque area, and this preferably successively several alternations this opaque and transparent areas. : <! 3. Procédé suivant les revendications 1 en 2, caractérisé en ce que l'obturateur est constitué d'une série de zones, alternativement transparentes et opac_ss et dont la. largeur est sensiblement égale au diamètre que presente, e i enaroiu du un. - obturateur, un faisceau réfléchi par une tore dont la surface re considérée comme très brillante et r··-gu .·. .: e. & Procédé guiVant X £ S Γ 6 b Γ: G î C a è i D Γ. £ ·*· ~ ractérisé en ce que l'obturateur est constitué d'une série ce zones alternativement transparentes et opaques, et cor.t la largeur d'un faisceau réfléchi car uns surface considérée cc-mme brt.y t / Xante et lisse. /*/- / 8.-3. Method according to claims 1 to 2, characterized in that the shutter consists of a series of zones, alternately transparent and opac_ss and of which the. width is substantially equal to the diameter presented, e i enaroiu du un. - shutter, a beam reflected by a torus whose surface is considered to be very shiny and r ·· -gu. ·. .: e. & GuiVant X £ S Γ 6 b Γ: G î C a è i D Γ. £ · * · ~ characterized in that the shutter is made up of a series of alternately transparent and opaque areas, and cor.t the width of a reflected beam because of a surface considered cc-same brt.yt / Xante and smooth . / * / - / 8.- 5. Procédé suivant l'une ou l'autre ces revendications 1 à 4/ caractérisé en ce que l'obturateur présente la forme de disque à fentes.5. Method according to either of these claims 1 to 4 / characterized in that the shutter has the form of slotted disc. 6. Procédé suivant l'une ou l'autre ces revendications 1 à 4, caractérisé en ce que l'obturateur présente la rorme d'un cylindre pourvu de fentes.6. Method according to either of claims 1 to 4, characterized in that the shutter has the shape of a cylinder provided with slots. 7. Procédé suivant l'une ou l'autre des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'en plus, on mesure l'intensité * réfléchie totale de la tôle à l’endroit considéré.7. Method according to either of claims 1 to 6, characterized in that in addition, the total reflected intensity * of the sheet is measured at the location considered. 8. Procédé suivant la revendication 7, caractérisé en ce qu'on divise l'une par l'autre ou soustrait l'une de l'au-Lie les mesures oocenues o une part, selon les revendications 1 a 6, et d'autre part selon la revendication 7 B. Procédé suivant les t A 0 revendications / ou S, térisé en ce eue la dite mesure oe ISk. .. , . , _ „ p-iLensite totale reilecms est obtenue par la mesure de la comos-_ * ^nte continue ces signaux reçus au travers des obturateurs. 1Ö* irJCOC0G6 S'JlVâTïC ^ irevenoications 7 ou 3/ Cs" racterisés en ce oue la mesure de l'in*. . ^ . __ ‘ ^tensite totale réfléchie e-- obtenue en dévient une oartie du fais<->-·· “ *"v^=u réfléchi vers une s®" conde cellule r-hotométricue, au nov.~- , . _ “ c ‘ une lame semi-transparent« située en amont de l'obturateur (par ^apport au chemin du rayonnement réfléchi) . »J.. i^rOCSG^ 1 ? m - Ou i d\j.— C0S cations 1 à 10, caractérisé en ce eue "* lorsqu'on a affaire à ess surfaces dont la oosifcion relative, r,~. . rapport à 1 * instruisant ·- - IffwSUr’S oe’ûC ’vcri^r Ccr.Γ:S CS C-Ccr.-dsî r ·--jT &νθΓιΠ0Γ^0Πΰ £. 3 2Γ SC.CCSSS1 V -SÛT.-ΒΓ.Ci SUS -t v^>; ir.ircirs plar.s, a*- ar- ~ d'atteindre la surface dont la ré fier** . ~'ivité est à mesurer, l&X / r s / ,· .* t / ο ~ · premier de ces miroirs étant fixe par rapport au laser, le second étant parallèle à la surface de la tôle en son point ce mesure.8. Method according to claim 7, characterized in that one divides one by the other or subtracts one from the au-Lie oocenue measures o a share, according to claims 1 to 6, and on the other hand according to claim 7 B. Method according to t A 0 claims / or S, terized in this eue said measurement oe ISk. ..,. , _ „P-iLensite total reilecms is obtained by measuring the comos-_ * ^ nte continuous these signals received through the shutters. 1Ö * irJCOC0G6 S'JlVâTïC ^ irevenoications 7 or 3 / Cs "taken into account the measurement of the in *... ^. __ '^ reflected total tension e-- obtained by deviating from it a part of the do · “*" V ^ = u reflected towards a s® "conde r-hotometricue cell, in Nov. ~ -,. _“ C 'a semi-transparent blade “located upstream of the shutter (by ^ contribution to the path of reflected radiation). "J .. i ^ rOCSG ^ 1? m - Or id \ j.— C0S cations 1 to 10, characterized in this eue" * when dealing with ess surfaces whose relative oosifcion, r, ~. . compared to 1 * instructing · - - IffwSUr’S oe’ûC vcri ^ r Ccr.Γ: S CS C-Ccr.-dsî r · --jT & νθΓιΠ0Γ ^ 0Πΰ £. 3 2Γ SC.CCSSS1 V -SÛT.-ΒΓ.Ci SUS -t v ^>; ir.ircirs plar.s, a * - ar- ~ to reach the surface to be trusted **. ~ 'ivity is to be measured, l & X / r s /, ·. * t / ο ~ · first of these mirrors being fixed relative to the laser, the second being parallel to the surface of the sheet at its point this measurement. 12. Procédé suivant l'une ou l'autre des revendi- i v cations 1 à 11, caractérisé en ce que, quand on a affaire à une ! surface particulièrement lisse ou brillante, on fait passer le ï rayon laser au travers d'un télescope, avant qu'il ne fraooe la surface sensible du récepteur, et ce préférence aussi avant qu'il n'atteigne la surface à mesurer. , t ! i ii ! » 'ί 11 j - ,___. λ π - π £"19 .ο .. .* ‘ tr« » — ,v ι , y ----- - - o 00ΓΗ ..·*.............. F ~ - .....? é..... " \ . . - r.vtno-caio'c ... Λ-' " / . . ; . - . _descriptif ; .. >. > *· : " : -- ' 1 -··· · i i * i \ j12. Method according to one or the other of claims i v cations 1 to 11, characterized in that, when one is dealing with one! particularly smooth or shiny surface, the laser beam is passed through a telescope, before it touches the sensitive surface of the receiver, and this preference also before it reaches the surface to be measured. , t! i ii! »'Ί 11 d -, ___. λ π - π £ "19 .ο ... * 'tr" "-, v ι, y ----- - - o 00ΓΗ .. · * .............. F ~ - .....? É ..... "\. . - r.vtno-caio'c ... Λ- '"/..;. -. _descriptif; ..>.> * ·:": -' 1 - ··· · i i * i \ j
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