Claims (2)
레이저빔을 대물렌즈(54)로서 빔을 집광하여 디스크(55)상에 신호를 기록하고, 그 기록된 정보를 전기신호로 재생시티는 광 픽-업장치에 있어서, 다수의 광학소자가 안치되는 실리콘기판(61), 소정의 파장으로 레이저 빔을 발생하는 레이저 다이오드(63), 상기 실리콘기판(63)가 안치되며 방열기능을 갖는 지지체(62), 상기 지지체(62) 내부 소정위치에 일체로 집적 형성되어 디스크의 광정보를 검출하는 광검출기(66), 상기 실리콘기판(61)의 타측 상부에 형성되어 상기 레이저 다이오드(63)로부터 방출되는 빔을 투과하는 프리즘(64), 상기프리즘(64)의 중앙부에 대각선 방향으로 형성되어 레이저 빔을 반사, 투과시키고 디스크의 광정보로서 포커스 에러 검출을 위해 비점수차를 발생시키는 반사형 프레즈넬소자(65), 상기 프리즘(64)의 상부에 형성되어 레이저빔을 쓰러짐으로 분리하여 트랙킹에러를 발생시키는 회절격자(67), 상기 회절격자(67)와 대물렌즈(54) 사이에 설치되어 입사되는 빔의 상광선(P파)은 이상광선(S파)으로, 이상광선(S파)은 상광선(P파)으로 전환시키는 파장변환부(68)로 이루어진 일체형 광 픽-업장치.In an optical pick-up apparatus in which a laser beam is used as an objective lens 54 to condense a beam, and a signal is recorded on the disc 55, and the recorded information is reproduced as an electrical signal, a plurality of optical elements are placed. The silicon substrate 61, the laser diode 63 for generating a laser beam at a predetermined wavelength, the silicon substrate 63 are placed therein, the support 62 having a heat dissipation function, and integrally at a predetermined position inside the support 62. A photodetector 66 which is integrally formed to detect optical information of the disk, a prism 64 formed on the other side of the silicon substrate 61 and transmitted through a beam emitted from the laser diode 63, and the prism 64 Is formed on the upper portion of the reflective Fresnel element 65 and the prism 64, which are formed diagonally in the center of the center to reflect and transmit the laser beam and to generate astigmatism for focus error detection as optical information of the disk. Laser beam The diffraction grating 67 that separates the fall and generates the tracking error, and the image beam P of the beam that is installed between the diffraction grating 67 and the objective lens 54 as an extraordinary ray S wave, The abnormal light beam (S wave) is an integrated optical pick-up device consisting of a wavelength conversion portion 68 for converting into an ordinary light (P wave).
제1항에 있어서, 상기 반사형 프레즈넬소자(65)는, 상기 프리즘(64)의 중앙부분에 형성되어 빔을 투과시키는 투과층(65a)과, 상기 투과층(65a)의 상면에 형성되어 입사되는 빔의 상광선(P파)는 반사, 이상광선(S파)은 투과하는 편광 빔스플리트(65b)와, 상기 투과층(65a)의 하면에 형성되어 입사빔을 반사시켜 상기 광검출기(66)로 조사하는 바사막(65d)과, 상기 반사막(65d)의 상면에 형성되어 디스크의 광정보에 포커스에러를 검출하기 위해 비점수차를 발생하는 프레즈넬렌즈(65c)로 구성된 것을 특징으로 하는 일체형 광 픽-업장치.The reflective Fresnel element (65) according to claim 1, wherein the reflective Fresnel element (65) is formed in a central portion of the prism (64) and is formed on a transmissive layer (65a) for transmitting a beam and on an upper surface of the transmissive layer (65a). The image beam P of the incident beam is reflected, and the polarized beam split 65b through which the abnormal beam S is transmitted, and is formed on the lower surface of the transmission layer 65a to reflect the incident beam so that the photodetector ( 66 and a Fresnel lens 65c formed on the upper surface of the reflective film 65d and irradiating astigmatism to detect a focus error in the optical information of the disk. Integrated optical pick-up device.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.