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본 발명은 보드칩 테스트용 소켓에 관해 게시한다. 종래에는 보드칩의 전기적 테스트를 위해 수작업을 했으나, 본 발명의 소켓을 사용하면 보드칩을 자동 테스트핸들러를 이용하여 전기적 테스트를 실시할 수 있다.The present invention relates to a board chip test socket. Conventionally, the manual operation was performed for the electrical test of the board chip, but by using the socket of the present invention, the board chip may be electrically tested using an automatic test handler.
Description
보드칩(CHIP ON BOARD) 테스트용 소켓CHIP ON BOARD TEST SOCKET
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음As this is a public information case, the full text was not included.
제3도는 상기 제2도의 보드칩의 자동 테스트를 위한 본 발명의 소켓의 평면도,3 is a plan view of the socket of the present invention for the automatic test of the board chip of FIG.
제4도는 상기 제3도의 소켓의 측면도.4 is a side view of the socket of FIG.
Claims (2)
자동 테스트핸들러를 이용한 보드칩 테스트시 보디칩을 홀딩(holding)할수 있는 보드 및 상기 보드에 고정된 포고핀을 포함 하는 것을 특징으로 하는 보드칩 자동 테스트용 소켓.And a pogo pin fixed to the board and a board capable of holding the body chip during the board chip test using the automatic test handler.제1항에 있어서, 상기 보드는 보드칩을 홀딩할 수 있는 보드푸셔바를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 보드칩 자동 테스트용 소켓.The board chip automatic test socket according to claim 1, wherein the board further comprises a board pusher bar capable of holding the board chip.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
KR1019950057018A1995-12-261995-12-26
CHIP ON BOARD TEST SOCKET
KR970048547A
(en)
Testing apparatus of prepackage singulated semiconductor die, has test unit in movable communication with electrical contact pad to make electrical contact with contact pad during testing of die