Claims (4)
디스크를 포커싱시키기 위해 광픽업 베이스의 레이저 다이오드부로부터 미러부착면에 평행광을 방출시키기 위해 홀로그램소자가 설치되는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 있어서, 상기 장치는 광픽업 베이스(10)가 놓이는 메인 베이스(20)의 상면에 상기 광픽업 베이스(10)가 끼워져서 회전되지 않도록 형성된 보스(21)와, 상기 보스(21)에 끼워진 광픽업 베이스(10)에 레이저빔을 방출하도록 메인 베이스(20)의 일측 단턱부(23)에 설치된 스테이지(41)에 삼차원적으로 조정되도록 고정된 레이저(40)와, 상기 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 삽입되는 패럴렐미러(12)를 지지하고, 이송시키도록 상기 메인 베이스(20)의 상면에 설치된 레이저(40)와 보스(21) 사이의 소정 위치에 설치된 에어실린더(30)와, 웨지(WEDGE)가 몇초 이하로 형성되고, 레이저빔이 입사되는 하면부(13)는 레이저(40)의 파장에서 직각반사가 일어나도록 두개의 직각프리즘(l8)으로 구성된 페럴렐 빔 스플리트(12)에 입사된후 직각으로 반사된 반사빔을 읽도록 상기 메인 베이스(20)의 에어실린더(30)에 설치된 직각프리즘(18) 후방에 설치된 씨씨디(60)와, 상기 씨씨디(60)에 입력된 것을 화면에 디스플레이시켜 틸트각을 판정하도록 상기 씨씨디(60)에 연결된 모니터(61)로 구성된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.A hologram element mounting portion tilt inspection apparatus of an optical pick-up base, in which a hologram element is installed to emit parallel light from the laser diode portion of the optical pickup base to the mirror attaching surface for focusing the disk, the apparatus comprises an optical pickup base (10). The boss 21 is formed so that the optical pickup base 10 is not rotated by being inserted into the upper surface of the main base 20 on which is placed, and the laser beam is emitted to the optical pickup base 10 fitted to the boss 21. The laser 40 is fixed to the stage 41 installed on one side step portion 23 of the main base 20 and inserted into the hologram element mounting portion 11 of the optical pickup base 10. The air cylinder 30 and the wedge (WEDGE) installed at a predetermined position between the laser 40 and the boss 21 installed on the upper surface of the main base 20 to support and transport the parallel mirror 12 are several seconds. Mold below When the laser beam is incident, the lower surface portion 13 is incident to the parallel beam split 12 composed of two rectangular prisms l8 so that rectangular reflection occurs at the wavelength of the laser 40 and then is reflected at right angles. CD 60 installed behind the right angle prism 18 installed in the air cylinder 30 of the main base 20 to read the reflected beam, and input to the CD 60 to display on the screen tilt Holographic element installation unit tilt automatic inspection device of the optical pickup base, characterized in that consisting of a monitor (61) connected to the CD (60) to determine the angle.
제1항에 있어서, 상기 패럴렐 빔 스플리트(12)는 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 탄성적으로 접촉되어 조립되도록 판스프링(16)에 의해 지지체(17)에 매달려 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.The parallel beam split (12) is suspended from the support (17) by the leaf spring (16) such that the parallel beam split (12) is elastically in contact with the hologram element mounting portion (11) of the optical pickup base (10). Holographic device installation unit tilt automatic inspection device of the optical pickup base.
제1항에 있어서, 상기 레이저빔이 입사되는 직각면(51)의 반대측인 변부면의 모서리가 보스(21)에 접촉되어 지지되도록 직각면(51)과 평행한 작은 직각면(52)이 형성되 있는 직각프리즘(50)을 메인 베이스(20)에 올려 놓은 후 상기 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 수평으로 레이저빔을 발광시켜 상기 레이저(40)를 조정하는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.The small rectangular plane 52 in parallel with the rectangular plane 51 is formed so that the edge of the side of the side opposite to the rectangular plane 51 to which the laser beam is incident is supported by contacting the boss 21. After placing the right angle prism 50 on the main base 20, the laser beam is emitted horizontally to the hologram element mounting portion 11 of the optical pickup base 10, characterized in that for adjusting the laser 40 Holographic element installation unit tilt automatic inspection device of the optical pickup base.
제1항에 있어서, 상기 홀로그램소자설치부(11)의 기준면에 끼워지는 상면부(14)의 하부와 하면부(13)의 상면이 먼저 접촉되지 않도록 상면부(14)의 하부와 하면부(13)의 상부사이에 경사부(15)가 형성되 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.The lower and lower surfaces of the upper surface portion 14 according to claim 1, so that the lower portion of the upper surface portion 14 fitted to the reference surface of the hologram element mounting portion 11 and the upper surface of the lower surface portion 13 do not contact first. Holographic element installation unit tilt automatic inspection device of the optical pickup base, characterized in that the inclined portion (15) is formed between the upper portion of the 13).
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.