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Priority to KR1019950040741ApriorityCriticalpatent/KR970028573A/ko
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반도체 소자의 테스트 장치에 관하여 개시하고 있다. 튜브를 이용하여 패킹된 반도체 소자를 테스트하기 위한 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 장치 중 튜브를 경사지게 들어올려 자재저장부에 자재를 내려주는 장치인 덤프장치의 소정부위에, 상기 튜브에 고정되어 있는 튜브 핀을 자동으로 제거하기 위해, 전체적인 모양은 원통형이고, 원통의 상면 또는 배면의 단면구조로 볼 때 두께가 일정하지 않으며, 원통의 측면 단면구조로 볼 때 사다리꼴의 홈이 형성된 핀 오프너를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 장치가 제공된다. 따라서, 작업환경을 단순화할 수 있으며, 불필요한 인력의 낭비를 방지하고, 자재분실로 인한 손실을 방지할 수 있는 장점이 있다.
Description
핀 오프너를 구비한 반도체 소자의 테스트 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 패킹에 사용되는 일반적인 튜브의 형태를 도시한 도면,
제2도 내지 제3도는 본 발명의 일실시예에 따른 핀 오프너를 이용한 튜브 핀 제거방법을 설명하기 위해 도시한 도면.
Claims (3)
튜브를 이용하여 패킹된 반도체 소자를 테스트하기 위한 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 장치 중 튜브를 경사지게 들어올려 자재저장부에 자재를 내려주는 장치인 덤프장치의 소정부위에, 상기 튜브에 고정되어 있는 튜브 핀을 자동으로 제거하기 위해, 전체적인 모양은 원통형이고, 원통의 상면 또는 배면의 단면구조로 볼 때 두께가 일정하지 않으며, 원통의 측면 단면구조로 볼 때 사다리꼴의 홈이 형성된 핀 오프너를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 핀 오프너는 그 측면의 소정부위에 상기 튜브 핀의 머리부분이 들어갈 수 있는 크기의 구멍이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 장치.
제1항에 있어서, 상기 테스트 장치는 상기 핀 오프너와 연결된 회전 구동장치를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 테스트 장치.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950040741A1995-11-101995-11-10핀 오프너를 구비한 반도체 소자의 테스트 장치
KR970028573A
(ko)
"un metodo y un dispositivo para montar los pilotes asociados con la instalacion de una plataforma apoyada sobre pilotes y destinada a trabajar costa afuera".
Struttura superficiale di manicotti di serraggio con scarico delle perdite di olio per difetto di tenuta, sul sistema idraulico di serraggio di una pressa idraulica a corsa rapida.
Havbunnforankring og anordning til bruk ved penetrering av en i begge ender Õpen hulsylinder i en havbunn, samt hulsylinder beregnet til bruk som et i havbunnen penetrert anker