KR970010939B1 - Apparatus for measuring s/n - Google Patents
Apparatus for measuring s/n Download PDFInfo
- Publication number
- KR970010939B1 KR970010939B1 KR1019940028525A KR19940028525A KR970010939B1 KR 970010939 B1 KR970010939 B1 KR 970010939B1 KR 1019940028525 A KR1019940028525 A KR 1019940028525A KR 19940028525 A KR19940028525 A KR 19940028525A KR 970010939 B1 KR970010939 B1 KR 970010939B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- signal
- noise ratio
- measuring
- laser diode
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/22—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means
- G01J1/24—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0444—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using means for replacing an element by another, e.g. for replacing a filter or grating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
Description
제 1 도는 종래의 신호대 잡음비(S/N) 측정장치 구성도.1 is a block diagram of a conventional signal-to-noise ratio (S / N) measuring apparatus.
제 2 도는 본 발명의 신호대 잡음비 측정장치 구성도.2 is a block diagram of a signal-to-noise ratio measuring apparatus of the present invention.
제 3 도는 제 2 도의 각 부를 모듈화시킨 상태도.3 is a state diagram in which each part of FIG. 2 is modularized.
제 4 도는 제 2 도에서 계측부의 구성원리도.4 is a member diagram of the measurement unit in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
51 : 레이저 다이오드 구동부 52 : 계측부51 laser diode driving unit 52 measuring unit
52-1 : 어발란치 포토다이오드 52-2 : 핀 포토다이오드52-1: avalanche photodiode 52-2: pin photodiode
53 : ND필터 54 : 되돌이광 발생기53: ND filter 54: return light generator
본 발명은 신호대 잡음비(S/N)를 측정하기 위한 측정장치에 관한 것으로, 특히 소형으로 모듈화하여 진동에 강하고 다른 장비에 일체화가 가능하도록 함으로써 파장과 광출력을 동시에 측정할 수 있도록 한 모듈화된 신호대 잡음비 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a measuring device for measuring the signal-to-noise ratio (S / N), and in particular, modularized signal band that can measure wavelength and light output at the same time by making it compact and modular, resistant to vibration and integrated with other equipment A noise ratio measuring apparatus.
종래의 신호대 잡음비 측정장치 구성은 제 1 도에 도시된 바와 같이 각 부의 동작을 제어하며 측정데이타를 디스플레이하는 제어수단과, 레이저 다이오드(LD)의 방출광을 각 계측부로 분리하여 보내고 되돌이광을 받아들이는 메인수단과, 상기 메인수단을 통해 입사한 광을 아이솔레이터(ISOLATOR)를 통해 입력받은 광중 교류성분은 소정레벨로 증폭하여 상기 제어수단의 스펙트럼 분석기로 직류성분은 디지탈 멀티-미터로 출력토록 하는 계측수단과, 되돌이광을 만들어 상기 메인수단으로 출력함과 아울러 그 만든 되돌이광의 광량을 측정하는 되돌이광 측정수단으로 구성된다.The conventional signal-to-noise ratio measuring device configuration controls the operation of each unit as shown in FIG. 1 and displays control data, and separates the emitted light of the laser diode LD to each measuring unit to receive the returned light. Is a main means, and the light incident through the main means amplifies the AC component of the light input through the isolator (ISOLATOR) to a predetermined level so that the DC component to the spectrum analyzer of the control means to output the digital multi-meter Means and a return light measuring means for generating the return light and outputting it to the main means and measuring the amount of light of the generated return light.
그리고, 상기에서 메인수단은 레이저 다이오드(LD)를 구동하여 레이저광을 발사시키도록 하는 레이저 다이오드 구동부와, 상기 레이저 다이오드(LD)로 부터 발사되는 방출광을 평행광으로 만들어주는 빔 스프리터와, 상기 빔 스프리터를 통한 평행광에 대하여 필터링하는 ND필터로 구성된다.In addition, the main means is a laser diode driver for driving a laser diode (LD) to emit a laser light, a beam splitter for making the emission light emitted from the laser diode (LD) into parallel light, and And an ND filter for filtering parallel light through the beam splitter.
이와같이 구성된 종래의 기술에 대하며 살펴보면 다음과 같다.Looking at the conventional technology configured as described above are as follows.
제어부(40)에서 레이저 다이오드(LD)를 구동시키기 위한 제어선호가 출력되면 이를 입력받는 메인부(1)의 레이저 다이오드 구동부(11)에서 레이저 다이오드를 구동하여 레이저 광을 빔 스프리터(12)를 방출시키면, 상기 빔 스프리터(12)는 입사되는 레이저 광을 평행광으로 만들어 ND필터(13)로 출력시킴과 아울러 계측부(20)로 각각 출력시킨다.When a control preference for driving the laser diode LD is output from the control unit 40, the laser diode driving unit 11 of the main unit 1 which receives the laser diode is driven to emit the laser light beam splitter 12. In this case, the beam splitter 12 converts the incident laser light into parallel light and outputs it to the ND filter 13, and outputs the same to the measurement unit 20.
그러면 상기 ND필터(13)는 평행광에 대하며 필터링하여 되돌이광 측정부(30)의 반사판(31)으로 출력시킴에 따라 상기 반사판(31)은 입사된 광에 의거하여 되돌이광을 만들어 다시 ND필터(13)로 전달하면, 이 ND필터(13)는 반사광에 대한 영향을 제거하며 빔 스프리터(12)와 시준렌즈(32)를 통해 PIN 포토 다이오드(33)에서 되돌이광의 광량을 측정하여 제어부(40)로 전달하여 준다.Then, the ND filter 13 filters the parallel light and outputs the filtered light to the reflecting plate 31 of the return light measuring unit 30. As a result, the reflecting plate 31 makes the return light based on the incident light. The ND filter 13 removes the influence on the reflected light and measures the amount of light returned from the PIN photodiode 33 through the beam splitter 12 and the collimating lens 32 to control the control unit (13). To 40).
이때, 빔 스프리터(12)를 통해 입사된 평행광에 대하여 수광소자의 반사를 막기 위해 계측부(20)의 아이솔레이터(21)가 분리한 광을 어발란치 포토다이오드(22)로 입사시킨다. 여기서 상기 어발란치 포토다이오드 입사광의 교류성분은 증폭기에서 26dB 증폭되어 상기 제어부(40)의 스펙트럼 분석기로 입력되고, 직류성분은 디지탈 멀티-미터(Multi-Meter)로 입력되며 그 입력되는 직류성분에 대한 교류성분의 비가 신호대 잡음비(S/N) 가 된다.At this time, the light separated by the isolator 21 of the measuring unit 20 is incident to the avalanche photodiode 22 in order to prevent reflection of the light receiving element with respect to the parallel light incident through the beam splitter 12. Here, the AC component of the avalanche photodiode incident light is amplified by 26dB in an amplifier and input to the spectrum analyzer of the controller 40, and the DC component is input to the digital multi-meter and is input to the DC component. The ratio of AC components to the signal to noise ratio (S / N) becomes.
따라서 상기 제어부(40)는 입력되는 직류성분에 대한 교류성분이 비인 신호대 잡음비(S/N)를 측정하여 그 측정데이타를 디스플레이함과 아울러 메인부(1)를 제어하여 신호대 잡음비(S/N)를 조절하여 나간다.Therefore, the controller 40 measures the signal-to-noise ratio (S / N) in which the AC component is a ratio of the input DC component, displays the measured data, and controls the main unit 1 to control the signal-to-noise ratio (S / N). Adjust to go out.
그러나, 상기에서와 같은 종래의 신호대 잡음비 측정장치의 경우 현재 사용하는 일반적인 장치로서 광테이블 위에 각 유니트(UNIT)들이 분산되어 위치함에 따라 광에 대한 정확한 배치가 이루어지지 않으면 측정자체가 성립되지 않으며, 또한 한번 정확한 배치가 이루어져도 측정용 레이저다이오드(LD) 입출력시에 진동등에 의해서 배치가 틀어져 버리므로 매 측정시마다 배치를 다시 행하여야 하며, 각 유니트가 분산되어 있어 부피가 매우 크므로 다른 측정장비와 접속시키기가 어렵다.However, in the conventional signal-to-noise ratio measuring device as described above, as a general device currently used, each unit (UNIT) is dispersed and positioned on the optical table so that the measurement itself is not established unless the correct arrangement of the light is made. In addition, even if the correct arrangement is made once, the arrangement is distorted due to vibration at the time of input / output of the laser diode (LD) for measurement. Therefore, the arrangement must be repeated every measurement. Difficult to connect
아울러 메인부 중앙의 빔 스프러터는 2개의 포트 다이오드가 레이저 다이오드 방출광의 수직방향에 존재하므로 소자들도 많이 들고, 광학계의 청결의 유지문제도 무시할 수 없는 문제점이 있다.In addition, the beam sputter in the center of the main part has a problem that two port diodes exist in the vertical direction of the laser diode emitting light, and thus, many devices are held and the problem of maintaining the cleanliness of the optical system cannot be ignored.
따라서, 본 발명의 목적은 모듈화하여 다른 장비에 일체화할 수 있도록 한 모듈화된 신호대 잡음비 측정장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a modular signal-to-noise ratio measuring device that can be modularized and integrated into other equipment.
본 발명의 다른 목적은 소형으로 구현하며 부피를 줄여 차지하는 면적을 줄이고, 진동에 강하도록 한 모듈화된 신호대 잡음비 측정장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a modular signal-to-noise ratio measuring apparatus which is implemented in a small size, reduces the volume to occupy, and is resistant to vibration.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 레이저 광을 발산하는 레이저 다이오드를 구동시키기 위한 레이저다이오드 구동수단과, 상기 레이저 다이오드를 통해 입사되는 광의 직류성분과 교류성분의 비인 신호대 잡음비를 측정함과 아울러 되돌이광량을 측정하는 계측수단과, 반사광의 영향을 차단하고 되돌이광량을 변화시키기 위한 ND필터와, 상기 계측수단을 통해 입사되는 광에 의거하여 되돌이광을 발생시키는 되돌이광 발생수단과, 상기 각 부의 동작을 제어하는 제어수단으로 구성한다.The present invention for achieving the above object is a laser diode driving means for driving a laser diode that emits laser light, and measuring the signal-to-noise ratio which is the ratio of the direct current component and the alternating current component of the light incident through the laser diode and return Measuring means for measuring the amount of light, an ND filter for blocking the influence of reflected light and changing the amount of returned light, return light generating means for generating return light based on light incident through the measuring means, It comprises a control means for controlling the operation.
이와같이 구성된 본 발명의 작용 및 효과에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation and effects of the present invention configured as described above in detail.
제어부(55)에서 레이저 다이오드(이하, 엘디라 칭함)를 구동하기 위한 제어신호가 출력되면 이를 레이저다이오드 구동부(51)에서 입력받아 동작하는데, 상기 레이저 다이오드 구동부(51)는 반고정된 온도조절부와 엘디 소켓으로 이루어져 있으며 엘디의 구동전류와 엘디에 장착된 포토다이오드의 모니터 전류를 처리하게 된다.When the control unit 55 outputs a control signal for driving a laser diode (hereinafter referred to as ELD), the laser diode driver 51 receives the input signal and operates the laser diode driver 51. The laser diode driver 51 is a semi-fixed temperature controller. It consists of LED and LED socket and handles the driving current of LED and monitor current of photodiode mounted on LED.
엘디(LD)는 일반적으로 캔 타입 패키지(can type package) 상에 조립됨에 따라 엘디구동시의 온도란 캔타입 패키지의 온도를 말하는 것으로, 이러한 온도를 조절하기 위하여는 패키지 자체를 밀착시켜 사용할 수있는 온도조절부가 필요하게 되며, 이를 구현하기 위하여 흔히 캡(cap)의 형태에 따른 원형의 구멍을 갖는 온도조절부에 패키지를 밀착시키고 온도를 조절하게 된다.As the LD is generally assembled on a can type package, the temperature at which the ELD is driven refers to the temperature of the can type package. In order to control the temperature, the LD itself can be used in close contact with the package itself. The temperature control unit is required, and in order to realize this, the package is closely attached to the temperature control unit having a circular hole according to the shape of the cap and the temperature is adjusted.
그리고, 엘디 소켓은 패키지의 형태와 엘디 조립방식등에 의해 그 수가 좌우되지만 2개이상의 핀연결이 가능하게 되어 있으며 그중 한개는 공통으로 다른 한개는 엘디 구동으로 사용되며, 포토다이오드가 패키지안에 장착되어 있을때 포토다이오드를 위해 l개를 더 사용하기도 한다.And, the number of LED sockets depends on the type of package and the assembly method of the LED, but two or more pins can be connected. Another l is used for the photodiode.
상기 엘디 소켓은 시스템상의 다른 부분과 전기쇼트(short)를 방지하기 위하여 절연재료를 이용하여 제작한다.The LED socket is fabricated using an insulating material to prevent electrical shorts with other parts of the system.
이상에서와 같이 엘디 구동부(51)의 온도조절부와 엘디 소켓에 의해 엘디의 구동전류와 전압을 제어하여 온도와 엘디의 광출력을 제어하며, 이 제어중인 전압과 전류치를 모니터할 수 있는 판넬이 장착되어 있어서 제어부(55)에서 온도조절용 콘트롤러는 현재 패키지의 주변온도를 모니터하게 되고, 엘디용 콘트롤러는 엘디의 구동전류와 모니터링 포토다이오드의 전류를 모니터하게 된다.As described above, the temperature control unit and the LED socket of the LED driving unit 51 control the driving current and voltage of the LED to control the temperature and the optical output of the LED, and a panel capable of monitoring the voltage and the current value being controlled. The controller 55 for controlling the temperature at the controller 55 monitors the ambient temperature of the current package, and the controller for the LED monitors the driving current of the LED and the current of the monitoring photodiode.
상기 엘디 구동부(51)에 의해 엘디로 부터 광이 입사되면 계측부(52)에서 신호대 잡음비(S/N)를 측정하게 되는데, 상기 계측부(52)는 어발란치 포토마이오드(APD:52-1)와 PIN 포토다이오드(52-2)로 이루어지고, 다시 어발란치 포토다이오드(52-1)는 이에 바이어스를 인가할 파워서플라이와 직류신호를 읽을 디지탈 멀티-미터와 교류신호를 읽을 스펙트럼 분석기로 구성됨에 있어 파워서플라이에서 바이어스를 건 상태에서 상기 엘디로부터 방출광이 입사되면 디지탈 멀티-미터가 그 방출광의 교류신호를 읽어들이고 스펙트럼 분석기가 직류신호를 읽어와 그 신호에 대한 직류에 의한 교류의 신호비인 신호대 잡음비를 측정한다.When light is incident from the LED by the LED driver 51, the measurement unit 52 measures the signal-to-noise ratio S / N. The measurement unit 52 measures an avalanche photodiode (APD: 52-1). ) And PIN photodiode (52-2), and the avalanche photodiode (52-1) is a power supply to apply a bias, a digital multi-meter to read a DC signal, and a spectrum analyzer to read an AC signal. In the configuration, when the emission light is incident from the LED under bias in the power supply, the digital multimeter reads the AC signal of the emitted light, and the spectrum analyzer reads the DC signal, and the signal of the AC by DC for the signal. Measure the signal-to-noise ratio, which is non-
이때 신호는 엘디의 방출광이 어발란치 포토다이오드(52-1)의 슬릿(Slit)과 PlN 포토다이오드(52-2)의슬릿을 통과하여 ND필터(53)를 거친 후 되돌이광 발생기(54)에서 반사되어 들아오는 광으로부더 읽어내게 됨에 따라 상기 어발란치 포토다이오드(52-1)는 엘디구동부(51)쪽이 아니라 되돌이광 발생기(54)쪽이 수광부가 되게 된다.At this time, the signal of the ELD passes through the slit of the avalanche photodiode 52-1 and the slit of the PlN photodiode 52-2, passes through the ND filter 53, and then returns to the light generator 54. As it is read out from the light reflected from the ()), the avalanche photodiode 52-1 is not the LED driver 51, but the return light generator 54 is the light receiving part.
그리고 PIN 포토다이오드(52-2)는 되돌이광의 광량을 측정하기 위한 포토다이오드 상기 ND필터(53)에서 필터된 광이 되돌이광 발생기(54)를 거쳐 얼마나 돌아오는지를 측정함에 있어, 그 측정된 값은 광디스크드라이버(ODD)상의 디스크표면에서 반사되는 광량에 따른 신호대 잡음비(S/N)를 측정하고, 엘디에서 좁은 의미의 신호대 잡음비값은 바로 반사율에 의한 신호대 잡음비를 의미한다.The PIN photodiode 52-2 measures the amount of light returned from the ND filter 53 by the photodiode for measuring the amount of light returned from the ND filter 53. The value measures the signal-to-noise ratio (S / N) according to the amount of light reflected from the disk surface on the optical disk driver (ODD), and the signal-to-noise ratio in the narrow sense of the LED means the signal-to-noise ratio due to reflectance.
여기서 상기 PIN 포토다이오드(52-2)의 제어는 자체적인 콘트롤러를 가져도 무방하나 보통 엘디용 콘트롤러를 같이 사용한다.In this case, the PIN photodiode 52-2 may have its own controller. However, the controller for the PIN photodiode 52-2 may be used together.
상기에서 설명한 계측부의 구성원리에 대하여 제 4 도에 의거하여 살펴보면, 엘디의 방출광은 엘디의 특성에 의해 엘디의 접합과 수직/수평 방향으로의 방사각의 비가 최소 2 : 1 이상이 되는 타원형인데, 되돌이광발생기(54)를 거쳐서 다시 입사하게 되는 광은 엘디의 벽개면에서 거의 수직으로 방출된 광일 것이므로 결국 방출되는 광의 대부분은 반사에 의해서 손실될 것이다.Referring to FIG. 4 for the members of the measurement unit described above, the emission light of the ELD is an elliptical shape in which the ratio of the angle of radiation in the vertical / horizontal direction of the ELD is at least 2: 1 due to the characteristics of the LED. However, the light that is incident again through the return light generator 54 will be almost vertically emitted from the cleaved surface of the LED, so that most of the light emitted will eventually be lost by reflection.
이러한 손실광을 슬릿을 가지고 있는 포토다이오드를 이용하여 측정하면 모든 부분이 일직선상에 놓여 광학적 배열은 초기에 세팅되어 바꾸지 않아도 되게 되며, 부품들을 하나의 모듈로 집속시키므로 소형화되고 아울러 진동에 영향을 덜 받게 된다.The lossy light is measured using a photodiode with a slit so that all parts are in a straight line so that the optical arrangement is initially set and does not need to be changed. Will receive.
ND필터(53)는 디스크형의 필터로 기준각에서 100%로 투과를 시킨다면 각도가 증가함에 따라 반사율이 커지게 되며, 반사광이 측정장치에 재입사하는 것을 막기 위해 엘디 방출광과 수직이 아닌 일정각을 이루고 있는데, 이 필터는 디스크형이기 때문에 반사율을 변환시키기 위해서는 회전을 시켜야 한다.The ND filter 53 is a disk-shaped filter that transmits at 100% from the reference angle, and the reflectance increases as the angle increases. The ND filter 53 is not perpendicular to the EL emission light to prevent the reflected light from reentering the measuring device. The filter is disc-shaped, so the filter must be rotated to change the reflectance.
또한 되돌이광 발생기(54)는 엘디 방출광이 광디스크 표면에 반사되어 재입사하는 현상을 구현해 주는 것으로, 반사막은 피에조현상을 이용한 세라믹으로 이루어진다.In addition, the return light generator 54 implements a phenomenon in which the EL emission light is reflected on the surface of the optical disk and reincident, and the reflective film is made of ceramic using piezoelectric phenomenon.
상기에서와 같은 구성을 갖는 각 부의 상호동작에 대하여 제 2 도와 모듈화된 제 3 도에 의거하여 살펴보면, 제어부(55)에서 엘디를 구동하기 위한 제어선호를 출력하면 엘디구동부(51)가 동작하여 엘디(51-1)를 구동하기 시작한다.Referring to FIG. 2 and FIG. 3 of the modularized operation of each unit having the configuration as described above, when the control unit 55 outputs the control preference for driving the LED, the LED driving unit 51 operates to operate the LED. It starts to drive 51-1.
상기 엘디(51-1)가 구동하여 광을 방출하면, 그 방출광은 어발란치 포토다이오드(52-1)와 PIN 포토다이오드(52-2)의 슬릿 및 ND필터(53)를 통해 되돌이광 발생기(54)는 그의 광디스크 표면에 입사하는 광을 반사시켜 다시 ND필터(53)로 보내면, 상기 ND필터(53)는 반사되는 광의 광량을 필터링하여 변환시켜 PlN포토다이오드(52-2)로 전달함에 따라 상기 PIN 포토다이오드(52-2)는 상기 되돌이광 발생기(54)를 거쳐 얼마나 되돌아오는지를 측정하여 제어부(55)로 전달한다.When the LEDs 51-1 are driven to emit light, the emitted light is returned through the slits of the avalanche photodiode 52-1 and the PIN photodiode 52-2 and the ND filter 53. The generator 54 reflects the light incident on the surface of the optical disk and sends it back to the ND filter 53. The ND filter 53 filters and converts the amount of reflected light to the PlN photodiode 52-2. As a result, the PIN photodiode 52-2 measures how much is returned through the return light generator 54 and transmits the measured amount to the control unit 55.
그러면 상기 제어부(55)는 측정값을 가지고 광디스크 드라이버(ODD)의 디스크 표면에서 반사되는 광량에 따른 신호대 잡음비(S/N)를 측정하는데 사용한다.Then, the controller 55 uses the measured value to measure the signal-to-noise ratio (S / N) according to the amount of light reflected from the disk surface of the optical disk driver (ODD).
아울러 어발란치 포토다이오드(52-1)는 상기 PlN 포로다이오드(52-1)를 통해 되들아오는 광을 그 내부의 디지탈 멀티-미터에서 교류신호를 읽고 스펙트럼 분석기에서 직류신호를 읽어 그 직류신호에 대한 교류신호의 비로서 신호대 잡음비(S/N)를 구하여 제어부(55)로 전달하여 준다.In addition, the avalanche photodiode 52-1 reads the light returned through the PlN porodediode 52-1 from an internal digital multimeter and reads a direct current signal from a spectrum analyzer. The signal-to-noise ratio (S / N) is obtained as the ratio of the AC signal to and transferred to the controller 55.
상기에서 어발란치 포토다이오드(52-1)와 PIN 포토다이오드(52-2)의 슬릿은 직사각형 모양이 아니라 원형이나 기타 단순도형 모양의 것이라도 무관한데, 그 이유는 슬릿모양이 광의 통로를 만들어주는 정도의 역할외에 특정역할을 하지 않기 때문이다.In the above, the slits of the avalanche photodiode 52-1 and the PIN photodiode 52-2 are not rectangular, but may be circular or other simple shapes, because the slit forms a light path. This is because the state does not play a specific role other than the degree of role.
이상에서 상세히 설명한 바와같이 본 발명은 소형으로 모듈화가 가능하기 때문에 진동에 강하고, 다른장치에 일체화가 가능하기 때문에 파장과 광출력을 동시에 출력할 수 있는 장비등에 응용이 용이하도록 한 효과가 있다.As described in detail above, the present invention has the effect of making it easy to be applied to equipment capable of simultaneously outputting wavelength and light output because it is compact and modular, and resistant to vibration, and can be integrated with other devices.
Claims (4)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940028525A KR970010939B1 (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Apparatus for measuring s/n |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940028525A KR970010939B1 (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Apparatus for measuring s/n |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR960018617A KR960018617A (en) | 1996-06-17 |
| KR970010939B1 true KR970010939B1 (en) | 1997-07-02 |
Family
ID=19396833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019940028525A KR970010939B1 (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Apparatus for measuring s/n |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970010939B1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7377461B2 (en) | 2004-11-09 | 2008-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Tape-end sensor and a magnetic recording and reproducing apparatus having the same |
-
1994
- 1994-11-01 KR KR1019940028525A patent/KR970010939B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7377461B2 (en) | 2004-11-09 | 2008-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Tape-end sensor and a magnetic recording and reproducing apparatus having the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR960018617A (en) | 1996-06-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7482589B2 (en) | Method and system for noise control in semiconductor spectroscopy system | |
| US7767947B2 (en) | Semiconductor light source with optical feedback | |
| US11258226B2 (en) | Optical device | |
| KR101203249B1 (en) | Control of spectral content of a laser diode light source | |
| JP2005524223A (en) | Frequency fixator | |
| JP2014165497A (en) | Small packaged wavelength tunable laser assembly | |
| EP0292957A2 (en) | Temperature stabilization of laser diodes and light emitting diodes | |
| CA2386150A1 (en) | Wavelength reference device | |
| CA3167740A1 (en) | Amplitude-modulated laser | |
| US7324569B2 (en) | Method and system for spectral stitching of tunable semiconductor sources | |
| US20060072632A1 (en) | Semiconductor laser with tilted fabry-perot tunable filter | |
| US5036278A (en) | Radiation source for helium magnetometers | |
| JP2004153149A (en) | Light emitting module | |
| KR970010939B1 (en) | Apparatus for measuring s/n | |
| US5399858A (en) | Photo-semiconductor module having thermo-element | |
| US6827502B2 (en) | Twin VCSEL array for separate monitoring and coupling of optical power into fiber in an optical subassembly | |
| US5025449A (en) | Optical pumping-type solid-state laser apparatus with a semiconductor laser device | |
| JP6866976B2 (en) | Method for determining operating conditions for semiconductor laser devices | |
| JP3690321B2 (en) | Wavelength detection device, multimode semiconductor laser module, wavelength stabilization device, and Raman amplifier | |
| US6560255B1 (en) | Method and apparatus for characterizing laser modules | |
| US7496120B2 (en) | Compact laser output monitoring using reflection and diffraction | |
| US7406107B2 (en) | Semiconductor spectroscopy system | |
| US5013971A (en) | Temperature stabilization of laser diodes and light emitting diodes | |
| Mikel et al. | Stabilization of VCSEL laser source for absolute laser interferometry | |
| US20180159301A1 (en) | Redundant Optical Radiant Energy Source and Redundant Optical Device, Especially for Metrology Applications |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| G160 | Decision to publish patent application | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |