Claims (7)
결함이 없고 기록밀도가 높은 실린더의 위치를 찾는 단계; 신뢰도 높은 그룹 지연값을 얻기 위하여 최적의 실험조건을 설정하는 단계; 상기 조건에 의거하여 양의 그룹 지연값 및 음의 그룹 지연값을 설정하는 단계; 그리고 설정된 양의 그룹 지연값 및 음의 그룹 지연값의 중간값을 구하는 단계;를 포함한 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.Finding a location of a cylinder free of defects and having a high recording density; Setting optimum experimental conditions to obtain a reliable group delay value; Setting a positive group delay value and a negative group delay value based on the condition; And obtaining an intermediate value between the set positive group delay value and the negative group delay value.
제1항에 있어서, 상기 실린더의 위치를 찾는 단계는, 기준실린더를 설정하는 과정; 데이터 판독 실험을 수행하는 과정; 판독 오류가 발생되면 인접 실린더에서 데이터 판독 실험을 반복수행하는 과정; 그리고 판독 오류가 없는 실린터의 위치를 테스트 실린더의 위치로서 입력시키는 과정;을 포함한 것을 그 특징으로 하는하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the finding of the position of the cylinder comprises: setting a reference cylinder; Performing a data reading experiment; Repeating data reading experiments in adjacent cylinders when reading errors occur; And inputting a position of a cylinder without a read error as a position of a test cylinder.
제1항에 있어서, 상기 실험조건은, 하드디스크 드라이브 내의 마이크로프로세서가 기록/판독 소자를 제어하는 파라메터들 중에서 단수 또는 복수의 파라메터들이 적용된 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the experimental condition is one or a plurality of parameters applied from among parameters for controlling a write / read device by a microprocessor in the hard disk drive.
제1항에 있어서, 상기 양의 그룹 지연값을 설정하는 단계는, 양의 그룹 지연값의 기준치를 설정하여 상기 테스트 실린더에서 인가 오프 트랙값에 의하여 데이터 판독 실험을 수행하는과정; 판독 오류 회수가 소정의 기준치를 초과하는 경우, 양의 그룹 지연값을 순차적으로 증대시키면서 테이터 판독 실험을 반복 수행하는 과정; 그리고 판독 오류 회수가 소정의 기준치 이하인 경우, 양의 그룹 지연값으로 입력시키는 과정;을 포함한 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the setting of the positive group delay value comprises: setting a reference value of the positive group delay value and performing a data readout experiment on an applied off track value in the test cylinder; If the number of reading errors exceeds a predetermined reference value, repeating the data reading experiment while sequentially increasing the positive group delay value; And inputting a positive group delay value when the number of read errors is less than or equal to a predetermined reference value.
제1항에 있어서, 상기 음의 그룹 지연값을 설정하는 단계는, 음의 그룹 지연값의 기준치를 설정하여 상기 테스트 실린더에서 인가 오프 트랙값에 의하여 테이터 판독 실험을 수행하는과정; 판독 오류 회수가 소정의 기준치를 초과하는 겅우, 음의 그룹 지연값을 순차적으로 증대시키면서 데이터 판독 실험을 반복 수행하는 과정; 그리고 판독 오류 회수가 소정의 기준치 이하인 경우, 음의 그룹 지연값으로 입력시키는 과정;을 포함한 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the setting of the negative group delay value comprises: setting a reference value of the negative group delay value and performing a data readout experiment based on an applied off track value in the test cylinder; If the number of reading errors exceeds a predetermined reference value, repeating the data reading experiment while sequentially increasing the negative group delay value; And inputting a negative group delay value when the number of read errors is less than or equal to a predetermined reference value.
제1항에 있어서, 상기 그룹 지연값 설정방법은, 하드디스크 드라이브의 결함을 검출하는 번인(Burn-In)과정과 함께 실행되는 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the group delay value setting method is performed together with a burn-in process of detecting a defect of a hard disk drive.
제1항에 있어서, 상기 실험 조건을 설정하는 단계는, 기준 오프 트랙값을 설정하는 과정; 테스트 실린더에서 현 오프 트랙값에 의하여 데이터 판독 실험을 수행하는 과정; 발생된 판독 오류 회수가 소정의 기준치와 비교하여 크면 오프 트랙값을 순차적으로(1%) 감소시키고, 적으면 순차적으로(1%) 증가시켜서 데이터 판독 실험을 반복 수행하는 과정; 그리고 발생된 판독 오류 회수가 소정의 기준치와 같으면 현 오프 트랙값을 인가 오프 트랙값으로서 입력시키는 과정;을포함한 것을 그 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 그룹 지연값 설정방법.The method of claim 1, wherein the setting of the experimental condition comprises: setting a reference off track value; Performing a data readout experiment based on the current off track value in the test cylinder; Repeating the data readout experiment by decreasing the off track value sequentially (1%) when the number of read errors generated is large compared to the predetermined reference value, and increasing it sequentially (1%) when the number of reading errors generated is large; And inputting a current off track value as an applied off track value if the number of read errors generated is equal to a predetermined reference value.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.