KR960005684Y1 - One-shot pulse generator - Google Patents
One-shot pulse generator Download PDFInfo
- Publication number
- KR960005684Y1 KR960005684Y1 KR2019930030187U KR930030187U KR960005684Y1 KR 960005684 Y1 KR960005684 Y1 KR 960005684Y1 KR 2019930030187 U KR2019930030187 U KR 2019930030187U KR 930030187 U KR930030187 U KR 930030187U KR 960005684 Y1 KR960005684 Y1 KR 960005684Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- terminal
- input
- circuit
- logic
- gate
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
Abstract
내용없음.None.
Description
제 1 도는 종래의 원 숏 펄스 발생회로의 일례를 도시한 회로도.1 is a circuit diagram showing an example of a conventional one short pulse generation circuit.
제 2 도는 제 1 도의 출력 파형도.2 is an output waveform diagram of FIG.
제 3 도는 앤드 게이트에 더미 핀을 구성한 본 고안의 심볼 상태도.3 is a symbol state diagram of the present invention in which a dummy pin is formed in an end gate.
제 4 도는 제 3 도의 입력과 출력에 대한 진리 상태도.4 is a true state diagram of the input and output of FIG.
제 5 도는 본 고안에 의한 입력 앤드 게이트의 물리적 레이아웃도.5 is a physical layout diagram of an input and gate according to the present invention.
제 6 도는 본 고안의 원 숏 펄스 발생 전용 셀을 사용한 회로 설계 실시예도.6 is a circuit design embodiment using the one-shot pulse generation dedicated cell of the present invention.
제 7 도는 제 6 도에 도시된 로직 회로도의 레이아웃도.7 is a layout diagram of the logic circuit diagram shown in FIG.
제 8 도는 본 고안에 의한 각 논리 게이트의 출력 파형도.8 is an output waveform diagram of each logic gate according to the present invention.
본 고안은 논리회로 설계시에 많이 사용되는 원 숏 펄스 발생회로(one shot pulse generator)에 관한 것으로, 어떤 신호가 발생되면 그 신호에 의해 동기되어서 일정 폭의 엑티브 로우(active low) 또는 액티브 하이(active high) 펄스 신호를 출력하는 회로에 관한 것이다.The present invention relates to a one shot pulse generator circuit which is frequently used in logic circuit design, and when a signal is generated, it is synchronized by the signal to generate a certain width of active low or active high ( active high) circuit for outputting a pulse signal.
셀 라이브러리(cell library)를 이용한 로직회로 설계에 있어서, 원 숏 펄스 발생회로는 게이트 어레이 셀(gate array cell) 혹은 스탠다드 셀라이브러리(standard cell library)를 사용하여 간단히 설계될 수가 있는데, 이것은 두 입력 낸드 게이트(NAND gate) 혹은 앤드 게이트(AND gate)에 입력되는 두 입력 신호의 시간 지연차를 이용하여 출력 단자에 하나의 펄스 신호를 발생시킨다.In logic circuit design using a cell library, the one-short pulse generation circuit can be simply designed using a gate array cell or a standard cell library, which is a two input NAND. One pulse signal is generated at an output terminal by using a time delay difference between two input signals input to a NAND gate or an AND gate.
제 1 도는 종래의 원 숏 펄스 발생회로의 일례를 도시한 회로도이고, 제 2 도는 제 1 도의 입력신호와 출력신호를 도시한 파형도이다. 출력(OUT) 파형의 펄스 폭은 제 1 도에서 입력신호(IN)가 세 개의 반전 게이트(G1내지 G3)에 의해 지연된 시간만큼 에 해당된다.FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a conventional one short pulse generation circuit, and FIG. 2 is a waveform diagram showing the input signal and the output signal of FIG. The pulse width of the output OUT waveform corresponds to the time delayed by the three inverting gates G1 to G3 in FIG. 1.
그러나, 상기 제 1도에 도시된 원 숏 펄스 발생회로를 사용하게 되면 다음과 같은 기술적인 문제가 발생한다.However, when the one short pulse generation circuit shown in FIG. 1 is used, the following technical problem occurs.
첫째, 공정 변수로서 회로를 구성하는 금속선(matal wire)의 저항 혹은 기생 캐패시턴스(capacitance) 및 트랜지서터의 길이(length)와 넓이(width)의 오차 등, 각종 요인이 지연시간에 변화를 초래하고,First, various factors, such as resistance or parasitic capacitance of a metal wire constituting a circuit as a process variable, and errors in length and width of a transistor, cause a change in delay time. ,
둘째, 제 1 도를 자동 레이아웃 툴(layout tool)로 자동 배치 배선을 실시하면 입력단자(N1)에서 두 입력 앤드 게이트의 단자(B)로 가는 금속선의 길이가 단자(N1)에서 반전 게이트(G1)의 입력단으로 가는 금속선의 길이 보다 상대적으로 상당히 길어질 수가 있다. 이러한 경우에는 두 입력 앤드 게이트 단자(B)에 도달하는 신호의 지연시간이 반전 게이트 지연 효과를 반감 내지는 상쇄시키지 때문에 설계자가 원하는 안정한 펄스 폭을 얻을 수 없다.Second, when the automatic layout wiring is performed with the automatic layout tool in FIG. 1, the length of the metal wire from the input terminal N1 to the terminal B of the two input and gates is equal to the inversion gate G1 at the terminal N1. It can be considerably longer than the length of the metal wire to the input terminal. In this case, the stable pulse width desired by the designer cannot be obtained because the delay time of the signal reaching the two input and gate terminals B half or cancels the inversion gate delay effect.
상기의 두 가지 형성은 마이크론(micron) 이하의 공정기술로 갈수록 더욱 심해지기 때문에 일반 로직 설계 개념상 제 1 도의 회로 구성은 가급적 피하거나, 트랜지스터 레벨의 시뮬레이션(simulation)을 실시하여 반드시 검증을 하는데, 이 경우 또한 회로마다 검증을 해야하는 불편함이 따른다.As the above two formations become more severe with the micron or less process technology, the circuit configuration of FIG. 1 is avoided as much as possible in the general logic design concept, or must be verified by performing a transistor level simulation. In this case, too, it is inconvenient to verify each circuit.
따라서, 본 고안의 목적은 상술한 문제점을 해결하여 회로 설계시 적은 로직 게이트로 효율적인 로직 설계를 할 수 있고 좀더 빠른 동작을 요구하는 회로 설계에 적합한 원 숏 펄스 발생회로를 제공하기 위한 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a one-shot pulse generation circuit suitable for a circuit design that can efficiently design logic with fewer logic gates and requires faster operation by solving the above problems.
상기 목적달성을 위한 본 고안의 원 숏 펄스 발생회로는 동기된 신호를 입력으로 하여 일정 폭의 액티브 로우 또는 액티브 하이 펄스 신호를 출력하는 원 숏 펄스 발생회로에 있어서,In the one short pulse generation circuit of the present invention for achieving the above object is a one short pulse generation circuit for outputting an active low or active high pulse signal of a predetermined width by inputting a synchronized signal,
제 1, 제 2 입력단자와 하나의 출력단자를 구비하는 논리연산수단과, 상기 논리연산수단의 제 1 입력단자에 접속되는 더미단자와,A logic operation means having first and second input terminals and one output terminal, a dummy terminal connected to the first input terminal of the logic operation means,
상기 더미단자가 접속된 제 1입력단자와 제 1 입력단자 사이에 접속되는 자연수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.And natural means connected between the first input terminal and the first input terminal to which the dummy terminal is connected.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 고안의 특징 및 이점을 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해 질 것이다.The above and other objects and features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings.
이하, 첨부도면을 참고로 하여 본 고안의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제 3 도는 일반적인 앤드 게이트 심볼에 여분의 더미 핀(DUM)을 형성한 것으로서, 화살표는 더미 핀(DUM)이 내부에서 단자(B)와 연결되었음을 나타내는 것이다.3 is a diagram illustrating an additional dummy pin DUM formed in a general AND gate symbol, and an arrow indicates that the dummy pin DUM is connected to a terminal B therein.
제 4 도는 제 3 도 논리회로의 진리표를 나타낸 것이다.4 shows the truth table of the logic circuit of FIG.
제 5 도는 물리적 레이아수 셀을 도시한 것으로, 단자(B) 바로 옆에 더미 핀(DUM)을 설치하고 단자(B)와 더미 핀(DUM)을 금속선으로 연결한다. 이렇게 해서 자동 레이아웃 툴에서는 더미 핀(DUM)을 비롯해서 전부 네 개의 핀 타켓(pin target)을 인식할 수 있도록 준비한다.5 is a diagram illustrating a physical layer of a lay cell, and a dummy pin DUM is installed next to the terminal B, and the terminal B and the dummy pin DUM are connected by a metal wire. In this way, the auto layout tool prepares to recognize all four pin targets, including the dummy pin (DUM).
제 6 도는 제 3 도의 로직 심볼을 사용해서 원 숏 펄스 응용회로를 전부 네 개의 핀 타켓(pin target)을 인식할 수 있도록 준비한다.FIG. 6 prepares the one-short pulse application circuit to recognize all four pin targets using the logic symbols of FIG.
제 6 도는 제 3 도의 로직 심볼을 사용해서 원 숏 펄스 응용회로를 구성한 것이고, 제 7 도는 제 6 도의 물리적 레이아웃을 나타낸 것이다.FIG. 6 illustrates a one-shot pulse application circuit using the logic symbols of FIG. 3. FIG. 7 illustrates the physical layout of FIG.
제 7 도의 자동 레이아웃 배치 배선 구조를 보면 단자(IN)에 입력되는 신호는 반전게이트(G1) 입구에 도달하기 위해서는 단자(B)를 반드시 통과해야만 하는데 이것은 앤드 게이트 입력단자(B)는 반전 게이트(G1)의 입력단자(A) 보다 동일한 시점 혹은 보다 빨리 로직하이, 로직로우 전압에 도달하기 때문에 과도한 금속선 지연으로 인한 반전 게이트 지연 상쇄가 없어진다.Referring to the automatic layout arrangement wiring structure of FIG. 7, the signal input to the terminal IN must pass through the terminal B in order to reach the inlet of the inverting gate G1, which means that the AND gate input terminal B is the inverting gate ( Since the logic high voltage is reached at the same time point or faster than the input terminal A of G1), the inversion gate delay cancellation due to excessive metal line delay is eliminated.
제 5 도의 물리적 레이아웃 셀은 여분의 실리콘 사용없이 종래의 물리적 레이아웃에서 핀 타켓만 설정하여 사용할 수 있고, 로직 심볼 역시 진리 상태도에 맞추어서 동작을 서술하면 된다.The physical layout cell of FIG. 5 can only be used by setting pin targets in a conventional physical layout without using extra silicon, and logic symbols can also be described in accordance with the true state diagram.
상기 실시예에서는 앤드 게이트만을 예로서 설명하였는데 오아(OR), 노아(NOR), 낸드(NAND), 익스클루 시브 오아(XOR), 익스클루시브 노아(XNOR) 게이트도 동일한 방법으로 로직 심볼 및 대응하는 물리적 레이아웃을 구성하면 제 8 도에 도시된 바와 같이 다양한 펄스를 얻게 된다.In the above embodiment, only the AND gate has been described as an example, and the OR, the NOR, the NAND, the exclusive OR, the XOR, and the XNOR gate are the same in the same way. When the physical layout is configured, various pulses are obtained as shown in FIG.
안전한 펄스 폭을 얻기 위해서는 보통 크럭신호에 의해 동기되는 카운터 회로를 사용하게 되는데, 이러한 방법은 많은 게이트의 사용을 요구하기 때문에 설계나 복잡하거나 칩 사이즈가 커지고 테스트 시에도 많은 시간이 필요하게 된다.To achieve a safe pulse width, a counter circuit is usually used, which is synchronized by a clock signal. This method requires the use of a large number of gates, which requires a lot of time in design, complexity, chip size, and test.
본 고안의 회로를 사용하게 되면, 회로 설계시 적은 로직 게이트로 효율적인 로직 설계가 가능하고 어떤 신호가 인가되면 즉시 반응하기 때문에 좀더 빠른 동작을 요구하는 회로 설게에 적합한 효과를 얻게 된다.By using the circuit of the present invention, it is possible to design an efficient logic with few logic gates in the circuit design, and it reacts immediately when a signal is applied, which is suitable for designing a circuit requiring faster operation.
본 고안의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 첨부된 실용신안등록 청구의 범위에 개시된 본 고안의 사상과 범위를 통해 각종 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이다.Preferred embodiments of the present invention are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art will be able to make various modifications, changes, substitutions, and additions through the spirit and scope of the present invention disclosed in the appended claims.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019930030187U KR960005684Y1 (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | One-shot pulse generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019930030187U KR960005684Y1 (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | One-shot pulse generator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950021777U KR950021777U (en) | 1995-07-28 |
KR960005684Y1 true KR960005684Y1 (en) | 1996-07-11 |
Family
ID=19373203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2019930030187U KR960005684Y1 (en) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | One-shot pulse generator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960005684Y1 (en) |
-
1993
- 1993-12-28 KR KR2019930030187U patent/KR960005684Y1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR950021777U (en) | 1995-07-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5258660A (en) | Skew-compensated clock distribution system | |
JP5073193B2 (en) | Semiconductor device | |
US6914462B2 (en) | Power-on reset circuit and method | |
JP3335537B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US6397374B1 (en) | Zero hold time circuit for high speed bus applications | |
US6456561B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device | |
KR100303040B1 (en) | Data input circuit of semiconductor memory device | |
EP0266873B1 (en) | Programmable logic array | |
KR20000023473A (en) | Internal clock multiplication for test time reduction | |
US4694197A (en) | Control signal generator | |
US6980036B2 (en) | Semiconductor device comprising frequency multiplier of external clock and output buffer of test data and semiconductor test method | |
JPH07181234A (en) | Device to examine skew between two clock signals | |
EP0463243B1 (en) | Semiconductor integrated circuit including a detection circuit | |
US6260181B1 (en) | Integrated circuit and the design method thereof | |
KR19980018036A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR960005684Y1 (en) | One-shot pulse generator | |
US5920222A (en) | Tunable pulse generator based on a wave pipeline | |
US4780627A (en) | Testing programmable logic arrays | |
WO2017199790A1 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US6335645B1 (en) | Semiconductor integrated circuit having built-in self-test circuit | |
US6222393B1 (en) | Apparatus and method for generating a pulse signal | |
US6812750B1 (en) | Divided clock generation | |
US6400188B1 (en) | Test mode clock multiplication | |
US6292411B1 (en) | Delay control circuit synchronous with clock signal | |
KR100422349B1 (en) | Clock signal generator |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
REGI | Registration of establishment | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20050620 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |