KR960002663B1

KR960002663B1 - CRT Tester

Info

Publication number: KR960002663B1
Application number: KR1019930005025A
Authority: KR
Inventors: 천세기
Original assignee: 오리온전기주식회사; 엄길용
Priority date: 1993-03-30
Filing date: 1993-03-30
Publication date: 1996-02-24
Also published as: KR940022631A

Abstract

내용 없음.No content.

Description

CRT Tester

제1도는 종래의 검사장치를 보이는 블록도.1 is a block diagram showing a conventional inspection apparatus.

제2도는 본 발명에 의한 검사장치를 보이는 블록도.2 is a block diagram showing an inspection apparatus according to the present invention.

제3도는 본 발명 검사장치의 모드별 작동을 보이는 블록도 들이다.3 is a block diagram showing the mode-specific operation of the inspection apparatus of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

μC : 마이크로컴퓨터(micro computer)μC: micro computer

PLC : 프로그래머블 로직 콘트롤러(programmable logic controller)PLC: Programmable Logic Controller

POS1∼POS3 : 검사포지션(inspection position)POS1 to POS3: Inspection position

BUS1∼US3 : 데이타 버스(data bus)BUS1 to US3: data bus

SW1,SW2 : 스위치(switch)SW1, SW2: switch

본 발명은 브라운관 제조에 관한 것으로 더 상세히는 완성된 브라운관의 특성을 검사하는 검사방법 및 이 방법의 구현에 적합한 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to the production of CRTs, and more particularly to an inspection method for inspecting the properties of a finished CRT and an inspection apparatus suitable for the implementation of the method.

브라운관이 완성되고 나면 브라운관의 여러가지 특성이 검사되어야 하는데, 특히 브라운관은 수십 KV의 높은 사용전압하에서 등작하게 되므로 내전압특성이 매우 중요하며 화상표시에 사용되므로 제어특성도 또한 중요하다. 이에 따라 브라운관의 최종적인 출하에 앞서 내전압특성이나 화상특성, 기타 외관 등에 대한 여러가지 검사가 이루어지게 된다. 이러한 특성검사는 브라운관에 각 검사항목마다 다른 측정전압을 인가시켜 여러가지 검사치를 측정해 내어야 하는 복잡한 과정이므로 일반적으로는 제1도에 도시된 바와같이 자동화된 검사장치가 사용된다.After the CRT is completed, various characteristics of the CRT should be examined. In particular, the CRT is equalized under a high working voltage of several tens of KV, so the breakdown voltage characteristic is very important and the control characteristic is also important as it is used for image display. Accordingly, various inspections are performed on the withstand voltage characteristics, image characteristics, and other appearances before final shipment of the CRT. This characteristic test is a complicated process of measuring various test values by applying different measurement voltages to each test item to the CRT, and thus, an automated test apparatus is generally used as shown in FIG.

이 장치는 각각의 검사항목을 측정하는 측정단계를 측정전압의 종류에 따라 각 검사포지션(POS1, POS2, POS3, …)에 배열하고, 검사 카아트(inspection cart)에 탑재된 브라운관(T)이 각 검사포지션(POS1∼)을 이동하며 검사가 진행되도록 구성된다. 각 검사포지션(POS1∼)에는 측정전압을 공급하는 전원 공급장치(Power Supply ; PS)가 설치되고 측정전압의 인가에 따른 브라운관(T)의 대응값을 측정해내는 하나 또는 복수의 측정 유닛(measurement unit ; MU)들이 구비된다. 각 검사포지션(POS1∼)은 각각 프로그래머블 로직 컨트롤러(programmable Logic Controller ; 이하 PLC로 약칭함)에 의해 제어되는데, 각 검사포지션(POS1∼)의 PLC들은 데이타 버스(BUS1)를 통해 하나의 마이크로컴퓨터(μC)로 통괄적으로 제어되도록 되어 있다. 한편 각 검사포지션(POS1∼)의 PLC들은 데이타 버스(BUS1)를 통해 하나의 마이크로컴퓨터(μC)에 측정데이타를 송신하고, 마이크로컴퓨터(μC)는 이 측정데이타를 저장 및 출력하며 양부(良否)를 판단하게 된다.The device arranges the measurement steps for measuring each inspection item in each inspection position (POS1, POS2, POS3, ...) according to the type of measurement voltage, and the CRT mounted on the inspection cart is Each inspection position POS1-is moved, and it is comprised so that an inspection may progress. Each inspection position (POS1 to) is provided with a power supply (PS) for supplying a measurement voltage and measuring one or more measurement units (measurement) to measure the corresponding value of the CRT according to the application of the measurement voltage. unit (MUs) are provided. Each inspection position (POS1 ~) is controlled by a programmable logic controller (hereinafter, abbreviated as PLC), each PLC of each inspection position (POS1 ~) through a data bus (BUS1) one microcomputer ( μC) to be controlled collectively. On the other hand, the PLCs in each inspection position POS1 to transmit the measurement data to one microcomputer (μC) via the data bus (BUS1), and the microcomputer (μC) stores and outputs the measured data and sends Will be judged.

그런데 이러한 종래의 검사장치에 있어서는 전 검사장치가 하나의 마이크로컴퓨터(μC)에 의해 통괄적으로 제어되도록 되어 있으므로 많은 문제점을 야기하고 있다. 즉, 마이크로컴퓨터(μC)자체에 이상이 발생된 경우 뿐 아니라 어느 한 검사포지션(POS1∼)에서 이상이 발생된 경우에도 전제검사장치가 셧다운(shut-down) 되므로 검사공정이 준단되는 문제가 빈발하게 된다. 또한, 전자파 노이즈(noise)가 발생되기 쉬운 공장환경에서 사용되므로 데이타 버스(BUS1, BUS2)에 노이즈가 잘 유입되는데, 이러한 데아타 상의 에러(error)에 의해 실제로는 각 검사포지션(POS1∼)에는 전혀 이상이 없음에도 마이크로컴퓨터(μC)가 검사장치를 셧다운시켜 검사공정을 중단시키는 경우도 많았다. 특히 이 경우에는 공정 셧다운이 데이타 노이즈에 의한 것인지 실제검사포지션(POS1∼)들의 문제인지, 또는 마이크로컴퓨터(μC)자체의 문제인지 판단하기 곤란하여 검사장치의 원상회복에 많은 시간이 소요되었다.However, in such a conventional inspection apparatus, all the inspection apparatuses are collectively controlled by one microcomputer (μC), which causes many problems. That is, the entire inspection device shuts down not only when an abnormality occurs in the microcomputer (μC) but also when an abnormality occurs in any one inspection position (POS1 to). Done. In addition, since it is used in a factory environment where electromagnetic noise is likely to occur, noise flows into the data buses BUS1 and BUS2 well. Due to the error on the data, each inspection position POS1 to In many cases, the microcomputer (μC) shuts down the inspection device and interrupts the inspection process even if there is no abnormality at all. In this case, it is difficult to determine whether the process shutdown is caused by data noise, actual inspection positions (POS1 to), or a problem of the microcomputer (μC) itself.

본 발명은 이러한 종래의 문제점을 감안하여, 종래와 같이 자동적으로 검사를 수행하면서도 셧다운이 발생된 경우 그 원인을 파악할 수 있고, 일부 검사포지션이나 마이크로컴퓨터에 이상이 발생된 경우에도 여타검사포지션의 검사를 진행시킬 수 있는 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In view of such a conventional problem, the present invention can determine the cause of the shutdown when the shutdown occurs while performing the automatic inspection as in the prior art, and the inspection of other inspection positions even when an abnormality occurs in some inspection positions or the microcomputer. An object of the present invention is to provide an inspection method that can proceed.

본 발명의 다른 목적은 이러한 본 발명 검사방법의 구현에 적절한 브라운관 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a CRT test apparatus suitable for the implementation of such a test method of the present invention.

상술한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 브라운관 검사방법은 브라운관의 각 검사항목을 측정하는 복수의 검사포지션을 구비하고, 각 검사포지션을 각각 한 PLC가 제어하며, 마이크로컴퓨터가 각 검사포지션의 PLC를 제어하며, 각 검사포지션의 측정데이타를 수신하여 브라운관의 양부를 검사하는 브라운관의 검사방법에 있어서, 마이크로컴퓨터의 제어를 선택적으로 차단하여 각 검사포지션의 제어를 PLC가 수행할 수 있도록 된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the CRT inspection method according to the present invention includes a plurality of inspection positions for measuring each inspection item of the CRT, each PLC controlling each inspection position, and the microcomputer is a PLC of each inspection position. In the CRT inspection method for receiving the measurement data of each inspection position and inspecting the quality of the CRT, the control of each inspection position can be performed by the PLC by selectively blocking the control of the microcomputer. It is done.

이러한 방법을 구현하기 위한 본 발명 검사장치는 브라운관에 측정전압을 공급하는 전원 공급장치와 측정전압의 인가에 따른 브라운관의 특성치를 측정하는 하나 또는 복수의 측정유닛과 전원 공급장치를 제어하는 PLC를 각각 구비하는 복수의 검사포지션들과, 각 검사포지션들의 PLC 및 측정유닛과 데이타 버스를 통해 지령 및 데이타를 송수하는 마이크로컴퓨터를 구비하는 브라운관 검사장치에 있어서, 각 검사포지션과, 마이크로컴퓨터간의 데이타 버스를 선택적으로 접속 및 차단하는 제1스위치와, 각 검사 포지션에서 측정유닛으로부터 PLC로 측정데이타를 송출하는 제3데이타 버스와, 제3데이타버스를 선택적으로 접속 및 차단하는 제2스위치를 구비하는 것을 특징으로 한다.The test apparatus of the present invention for implementing such a method includes a power supply for supplying a measurement voltage to the CRT, one or more measurement units for measuring characteristic values of the CRT according to the application of the measurement voltage, and a PLC for controlling the power supply, respectively. A CRT test apparatus comprising a plurality of inspection positions provided, a microcomputer for transmitting commands and data through a PLC and a measuring unit of each inspection position and a data bus, wherein each inspection position and a data bus between the microcomputers are provided. A first switch for selectively connecting and disconnecting, a third data bus for sending measurement data from the measuring unit to the PLC at each inspection position, and a second switch for selectively connecting and disconnecting the third data bus; It is done.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제2도에서, 본 발명에 의한 검사장치는 종래와 같이 복수의 검사포지션(POS1, POS2, POS3,…)들과 이들을 제어하는 마이크로컴퓨터(μC)를 구비하여 구성된다. 각 검사포지션(POS1∼)은 검사카아트에 탑재되어 이송되어온 브라운관(T)에 측정전압을 공급하는 전원 공급장치(PS)와, 이 측정전압의 인가에 따른 대응값을 측정하는 하나 또는 복수의 측정유닛(MU)과, 각 검사포지션(POS1∼)을 제어하는 PLC를 구비하여 구성된다.In FIG. 2, the inspection apparatus according to the present invention comprises a plurality of inspection positions POS1, POS2, POS3, ... and a microcomputer (μC) for controlling them as conventionally. Each of the inspection positions POS1 to 1 includes a power supply PS for supplying a measurement voltage to the C tube mounted on the inspection car art, and one or a plurality of measurement values corresponding to the application of the measurement voltage. The measuring unit MU and the PLC which controls each test position POS1-are comprised.

각 검사포지션(POS1∼)의 PLC와 측정유닛(MU)들은 데이타 버스(BUS1, BUS2)를 통해 마이크로컴퓨터(μC)에 연결되는데, 종래와 다른 점은 이 데이타 버스(BUS1, BUS2)에 접속 및 차단가능한 스위치(SWI)가 구비되는 점이다. 또한, 각 검사포지션(POS1∼)의 측정유닛(MU)들은 데이타 버스(BUS3)를 통해 해당 포지션의 제어 PLC와 연결되며, 이 데이타 버(8BUS3)에도 접속 및 차단 가능한 스위치(SW2)가 구비된다.The PLCs and measuring units MU of the inspection positions POS1 to MU are connected to the microcomputer μC through the data buses BUS1 and BUS2, which are different from the prior art by connecting to the data busses BUS1 and BUS2. A switchable switch SWI is provided. In addition, the measuring units MU of the respective inspection positions POS1 to are connected to the control PLC of the corresponding position via the data bus BUS3, and the switch SW2 that can be connected to and disconnected from the data server 8BUS3 is provided. .

이와같은 구성에 따라 본 발명 검사장치는 자동모드(automatic mode)와 수동모드(manual mode), 그리고 병행모드의 세가지 모드로 작동될 수 있다. 이하 각 모드의 작동에 대해 순차적으로 살펴보기로 한다.According to such a configuration, the inspection apparatus of the present invention can be operated in three modes, an automatic mode, a manual mode, and a parallel mode. Hereinafter, the operation of each mode will be described sequentially.

먼저 제3a도에서, 제1스위치(SW1)가 접속되어 제1 및 제2데이타 버스(BUS1, BUS2)가 개통되고 제2스위치(SW2)가 차단되어 제3데이타버스(BUS3)가 차단되면 본 발명 검사장치는 자동모드로 작동된다. 이 자동모드는 제1도에 도시된 종래 장치와 동일하게 동작한다. 즉, PLC에서 제1데이타 버스(BUS1)를 통해 브라운관(T)의 이동확인신호를 수신하면 마이크로컴퓨터(μC)는 PLC에 전원공급 개시 지령을 하게 되고, 이에 따라 PLC는 브라운관(T)의 관종과 검사항목 등에 따른 해당전압이 브라운관(T)에 공급되도록 전원 공급장치(PS)를 제어한다. 이 상태에서 마이크로컴퓨터(μC)는 적절한 타이밍(timing)에 측정신호를 송추로할 것을 지령하는 송출신호(acknowledge signal)를 측정유닛(MU)에 송신하며, 이에따라 측정유닛(MU)은 마이크로컴퓨터(μC)에 측정데이타를 송출한다. 해당 검사항목의 측정데이타 수신이 완료되면 마이크로컴퓨터(μC)는 PLC에 브라운관(T)이 탑재된 검사카아트를 이동시킬 것을 지령하며 이에따라 PLC는 검사 카아트를 이동시킨 후 이동확인신호를 마이크록컴퓨터(μC)에 회신함으로써 자동모드에서 한 사이클(cycle)의 측정이 완료된다.First, in FIG. 3A, when the first switch SW1 is connected, the first and second data buses BUS1 and BUS2 are opened, and the second switch SW2 is shut off and the third data bus BUS3 is shut off. The invention inspection device is operated in automatic mode. This automatic mode operates in the same manner as the conventional apparatus shown in FIG. That is, when the PLC receives the movement confirmation signal of the CRT via the first data bus BUS1, the microcomputer (μC) commands the PLC to start supplying power, and accordingly, the PLC is the tube type of the CRT. Control the power supply (PS) so that the corresponding voltage according to the inspection item and the like is supplied to the C. In this state, the microcomputer (μC) transmits an acknowledgment signal to the measuring unit MU which instructs the measurement signal to be tuned at an appropriate timing, so that the measuring unit MU is a microcomputer ( Send measurement data to μC). When the measurement data of the corresponding test item is received, the microcomputer (μC) instructs the PLC to move the inspection carart equipped with the CRT, and accordingly, the PLC moves the inspection carart and then moves the confirmation signal to the microphone lock. Returning to the computer (μC) completes one cycle of measurement in the automatic mode.

이러한 자동모드가 마이크로 컴퓨터(μC)의 이상이나 일부 검사포지션의 이상 등으로 셧다운 되는 경우, 또는 기타 필요에 따라 각 검사포지션(POS1∼)들은 각각 수동모드로 동작할 수 있다.When the automatic mode is shut down due to an abnormality of the microcomputer (μC), an abnormality of some inspection positions, or the like, or each other, the inspection positions POS1 to each may be operated in the manual mode.

이것은 제3b도와 같이 제1스위치(SW1)로 마이크로컴퓨터(μC)로의 데이타버스(BUS1, BUS2)를 차단하고 제2스위치(SW2)로 제3데이타버스(BUS3)를 개방함으로써, 마이크로컴퓨터(μC)에 의한 전체 검사포지션(POS1∼)들의 통괄적인 제어대신 각 검사포지션(POS1∼)의 제어 PLC에 의한 분산적(分散的)제어를 행하는 것이다.As shown in FIG. 3B, the microcomputer (μC) is cut off by breaking the data buses BUS1 and BUS2 to the microcomputer μC with the first switch SW1 and opening the third data bus BUS3 with the second switch SW2. Instead of the general control of the entire inspection positions POS1 to, the control of each inspection position POS1 to the distributed PLC is performed.

이러한 수동모드에서는 각 검사포지션(POS1∼)의 제어 PLC가 데이타 버스(BUS3)를 통해 측정유닛(MU)들로부터 측정데이타를 수신하게 된다. 이 제3데이타 버스(BUS3)를 통해 PLC로 수신되는 측정데이타는 제2데이타버스(BUS2)를 통해 마이크로컴퓨터(μC)로 송출되는 측정데이타와는 그 성격이 다르다. 즉 제2데이타버스(BUS2)를 통해 마이크로컴퓨터(μC)로 송출되는 측정데이타는 아날로그(analog)신호인 반면 제3데이타 버스(BUS3)를 통해 PLC로 송출되는 측정데이타는 디지탈(digital)신호이다. 이것은 PLC로 송출되는 측정데이타는 디지탈(digital) 신호이다. 이것은 PLC가 하드웨어(hardware)적인 ON/OFF접점 어레이(contact array)이므로 그 특성상 ON/OFF 또는 0/1, HIGH/LOW 신호밖에 인식할 수 없기 때문이다. 이에따라 제3데이타 버스(BUS3)로는 PLC에 의해 기(旣)설정된 기준값에 대한 양ㆍ부(OK/NG)또는 HIGH/LOW를 나타내는 디지탈 접점신호(contact sgnal)가 송출된다.In this manual mode, the control PLC of each inspection position POS1 to receives the measurement data from the measuring units MU via the data bus BUS3. The measurement data received by the PLC via the third data bus BUS3 is different from the measurement data transmitted to the microcomputer μC through the second data bus BUS2. That is, the measurement data sent to the microcomputer (μC) through the second data bus BUS2 is an analog signal, while the measurement data sent to the PLC through the third data bus BUS3 is a digital signal. . This measurement data sent to the PLC is a digital signal. This is because the PLC is a hardware ON / OFF contact array, so it can recognize only ON / OFF or 0/1, HIGH / LOW signals. Accordingly, a digital contact signal indicating positive / negative (OK / NG) or high / low with respect to the reference value preset by the PLC is sent to the third data bus BUS3.

즉, 수동모드에서 PLC는 프로그램된 로직에 따라 전압공급장치(P5)로 하여금 측정전압을 브라운관(T)에 인가하도록 제어하고, 이에따라 측정유닛(MU)들의 측정치를 디지탈 접점신호로 수신받게 된다. 일반적으로 PLC는 제어유닛(contraol unit)과 입출력유닛(L/O unit), 기억유닛(memory unit)의 세부분으로 구성되는바, 송출된 디지탈 접점신호는 입출력유닛을 통해 표시램프등으로 표시하고 그 측정치를 기억유닛에 일시저장하였다가 마이크로컴퓨터가 복구되었을 때 이에 송출하여 기억 또는 출력하도록 할 수 있다.That is, in the manual mode, the PLC controls the voltage supply device P5 to apply the measurement voltage to the C tube according to the programmed logic, and thus receives the measurement value of the measurement units MU as the digital contact signal. Generally PLC is composed of control unit, input / output unit (L / O unit), and memory unit (memory unit) .The digital contact signal sent out is displayed on display lamp through input / output unit. The measured values may be temporarily stored in the storage unit, and then sent out to be stored or output when the microcomputer is restored.

한편 제3c도와 같이 각 스위치(SW1, SW2)가 모두 접속되어 각 데이타 버스(BUS1∼BUS3)가 모두 개통된 상태에서 본 발명장치는 전술한 자동모드와 수동모드를 동시에 수행하는 병행모드로 동작하게 된다. 이 병행모드에서는 측정유닛(MU)의 측정데이타가 마이크로컴퓨터(μC)로는 제2데이타 버스(BUS2)를 통해 아날로그데이타로 송출되고, PLC로는 제3데이타버스(BUS3)를 통해 소정의 기준치에 대한 디지탈 데이터로 송출되어 동시에 표시된다. 이에따라 검사장치에 이상이 발생된 경우 이것이 어느 한 검사포지션(POS1~)에 실제적으로 이상이 발생한 것인지, 아니면 마이크로컴퓨터(μC)에 이상이 발생하거나 노이즈에 위한 데이타상의 에러에 기안한 것인지 즉각적으로 파악할 수 있게 된다.On the other hand, as shown in FIG. 3C, when the switches SW1 and SW2 are all connected and each of the data buses BUS1 to BUS3 is opened, the apparatus of the present invention operates in the parallel mode of simultaneously performing the above-described automatic mode and manual mode. do. In this parallel mode, the measurement data of the measuring unit MU is transmitted to the analog data via the second data bus BUS2 to the microcomputer μC, and to the predetermined reference value via the third data bus BUS3 to the PLC. It is sent out as digital data and displayed at the same time. As a result, when an error occurs in the inspection device, it is immediately possible to find out whether the inspection position (POS1 ~) actually has an error or whether the microcomputer (μC) has an error or initiated an error in the data for noise. It becomes possible.

이에따라 병행모드는 바람직하기로 본 발명 장치의 기본동작모드로 사용될 수 있으며, 이 병행모드로의 동작중 일부검사포지션(POS1∼)에 이상이 발생된 경우에는 수동모드로 전환하여 여타 검사포지션의 검사공정을 속행할 수 있게 된다. 또한 마이크로컴퓨터에 이상이 발생된 경우에도 수동모드로 전환하여 각 검사포지션 별로검사 공정의 수행이 가능하게 된다.Accordingly, the parallel mode is preferably used as the basic operation mode of the apparatus of the present invention, and when an error occurs in some inspection positions POS1 to the operation of the parallel mode, the manual mode is switched to the inspection of other inspection positions. You can continue the process. In addition, even when an abnormality occurs in the microcomputer, it is possible to switch to the manual mode to perform the inspection process for each inspection position.

이상과 같이 본 발명에 의하면 검사장치에 이상이 발생된 경우 즉각적으로 그 발생원인을 파악할 수 있을 뿐 아니라, 이상이 발생되지 않은 검사포지션의 검사공정은 그대로 속행할 수 있게 된다. 이에 따라 본 발명은 브라운관의 특성검사의 공정효율을 현저히 향상시켜, 브라운관제조의 생산성을 증대시키고 공정원가를 절감시키는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, when an abnormality occurs in the inspection apparatus, not only the cause of the occurrence can be immediately identified, but also the inspection process of the inspection position in which the abnormality does not occur can be continued as it is. Accordingly, the present invention significantly improves the process efficiency of the characteristic inspection of the CRT, thereby increasing the productivity of the CRT production and reducing the process cost.

Claims

A plurality of inspection positions each having a power supply for supplying a measurement voltage to the CRT, one or a plurality of measurement units for estimating characteristic values of the CRT according to the application of the measurement voltage, and a PLC for controlling the power supply; And a microcomputer for transmitting and receiving commands and data through a PLC and a measuring unit and a data bus of the respective inspection positions, wherein the inspection positions POS1, POS2, POS3, ..., and the microcomputer ( a first switch SW1 for selectively connecting and disconnecting the data buses BUS1 and BUS2 between μC) and the measurement unit MU at each of the inspection marks POS1, POS2, POS3, ... And a third data bus BUS3 for sending measurement data to the PLC, and a second switch SW2 for selectively connecting and disconnecting the third data bus BUS3. CRT testing device.

2. The automatic mode of claim 1, wherein when the first switch SW1 is connected and the second switch SW2 is disconnected, an automatic mode in which comprehensive control and measurement is performed by the microcomputer μC is performed. When the switch SW1 is disconnected and the second switch SW2 is connected, a manual mode in which distributed control and measurement are performed by the PLC of the respective inspection positions POS1, POS2, POS3, ... is performed. When the first and second switches (SW1, SW2) are connected at the same time, the inspection apparatus of the CRT, characterized in that the parallel mode of the automatic mode and the manual mode is performed at the same time.