KR950007578A - 전전자교환기데이타링크시험방법 - Google Patents

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    • H04Q1/20—Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기 내에 구비된 데이터 링크의 정상 여부를 시험하는 전전자 교환기 데이터 링크 시험방식에 관한 것으로 특히 전전자 교환기 내의 타임 스위치(Time Switch)와 스페이스 스위치(Space Switch) 사이에 가입자 음성 데이터 및 IPC 데이터(Inter Processor Communication Data)를 전송하는 데이터 링크의 정상 여부를 신속, 정확하게 시험하도록 한 전전자 교환기 데이터 링크 시험방법에 관한 것이다.
본 발명은 다수의 시험 데이터를 이용하여 데이터 링크의 상태를 시험하므로 데이터 링크의 이상 유무를 정확히 시험할 수 있으며, 다수의 시험 데이터를 소정시간 간격으로 주고 받으므로 시험 데이터를 주고 받는데 있어 시간적인 동기가 이루어지게 되어 데이터 링크를 보다 신속히 시험할 수 있다.

Description

전전자 교환기 데이터 링크 시험 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2도는 본 발명에 의한 전전자 교환기 데이터 링크 시험장치 구성도,
제 3도는 제 2도에 도시된 전전자 교환기 데이터 링크 시험장치의 동작 흐름도.

Claims (1)

  1. 전전자 교환기 데이터 링크 시험방법에 있어서, 데이터 링크(DL2)의 제 1단에서 소정시간 주기로 다수의 시험준비 요구 메시지를 송신하는 제 1과정, 상기 데이터 링크(DL2)의 제 2단에서 사기 다수의 시험준비 요구 메시지를 수신하는 제 2과정, 상기 데이터 링크(DL2)의 제 1단에서 소정시간 주기로 다수의 시험 데이터를 송신하는 제 3과정, 상기 데이터 링크(DL2)의 제 2단에서 상기 다수의 시험 데이터를 수신하여 루프백시키는 제 4과정 및 상기 데이터 링크(DL2)의 제 1단에서 데이터 링크(DL2)의 제 2단으로부터 루프백되는 상기 다수의 시험 데이터를 수신하고 이 수신된 다수의 시험 데이터와 송신했던 상기 다수의 시험 데이터가 일치하는지의 여부를 비교하여 상기 데이터 링크(DL2)의 정상 여부를 판정하는 제 5과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기 데이터 링크 시험방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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