Claims (82)
51v/M 이하의 전기성분과 500μT이하의 자기 성분을 갖고 있는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 방법에 있어서, 상기 생명체가 10초 보다 작은 시간격내에 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터 중 최소한 하나를 변형시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.In 5 1v / M electrical component and a method for preventing the adverse effects the time-varying electromagnetic field around on the organism to have a magnetic component of 500μT below the following, properties of the electromagnetic field to which the organisms are exposed in a small time interval less than 10 seconds parameters Modifying at least one of the methods.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 진폭인 것을 특징으로 하는 방법.57. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the amplitude of the electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 주기인 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is a period of the electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 위상인 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the phase of the electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 파형인 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the modified parameter of the electromagnetic field is a waveform of the electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 공간내 방향인 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the in-space direction of the electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항 중 어느 한항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at an irregular time interval and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제2항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.3. The method of claim 2, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제3항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.4. The method of claim 3, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제4항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.5. The method of claim 4, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at an irregular time interval and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제5항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.6. The method of claim 5, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at an irregular time interval and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제6항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.7. The method of claim 6, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at an irregular time interval and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 작은 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals and each time interval between modifications is less than about 10 seconds.
제2항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.3. The method of claim 2, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제3항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.4. The method of claim 3, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제4항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.5. The method of claim 4, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제5항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.6. The method of claim 5 wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals and each time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제6항에 있어서, 상기 전자장에서의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격에서 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 방법.7. The method of claim 6, wherein each parameter variation in the electromagnetic field occurs at regular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제1, 55 또는 56항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장은 최소한 부분적으로 도전체에 흐르는 시변형 전류로 인한 것임을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the ambient electromagnetic field is at least partly due to a time varying current flowing in the conductor.
제1, 55 또는 56항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장의 변형은 최소한 하나의 주위 전자장원을 변형시켜 성취되는 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the modification of the ambient electromagnetic field is achieved by modifying at least one ambient source of electrons.
제1, 55 또는 56항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장의 변형은 주위 전자장에 하나 이상의 부가되는 전자장원으로 생긴 하나 이상의 전자장을 겹쳐 성취되는 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the deformation of the ambient electromagnetic field is accomplished by superimposing one or more electromagnetic fields resulting from one or more added source of electromagnetic fields to the ambient electromagnetic field.
제1, 55 또는 56항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장은 AM 대역 무선주파수 이하의 신호로부터 결과된 것을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the ambient electromagnetic field is resulting from a signal below AM band radio frequency.
제1, 55 또는 56항중 어느 한 항에 있어서, 상기 주위 전자장은 AM 대역 무선주파수 이하의 신호로부터 결과된 것임을 특징으로 하는 방법.59. The method of any one of claims 1, 55 or 56, wherein the ambient electromagnetic field is resulting from a signal below AM band radio frequency.
제22항에 있어서, 상기 신호는 저주파수 신호로 변조되는 것을 특징으로 하는 방법.23. The method of claim 22, wherein the signal is modulated with a low frequency signal.
제23항에 있어서, 상기 신호는 저주파수신호로 변조되는 것을 특징으로 하는 방법.24. The method of claim 23, wherein the signal is modulated with a low frequency signal.
제25항에 있어서, 상기 주위 전자장은 마이크로파 주파수 신호로부터 나오고 상기 변조주파수는 100,000Hz보다 낮은 것을 특징으로 하는 방법.27. The method of claim 25, wherein the ambient electromagnetic field is from a microwave frequency signal and the modulation frequency is lower than 100,000 Hz.
제7 내지 18항 중 어느 한 항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.19. The method of any one of claims 7-18, wherein the time interval between modifications is about 1 second or less.
51v/M이하의 전기성분과 500μT이하의 자기성분을 갖고 있는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 장치에 있어서, 상기 생명체가 약 10초 이하인 시간격내에서 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터중 최소한 하나를 변형시키는 수단을 포함하는 장치.A device for preventing adverse effects on an organism by an ambient time-varying electromagnetic field having an electrical component of 5 1v / M or less and a magnetic component of 500 μT or less, wherein the characteristic parameter of the electromagnetic field is exposed within a time interval of about 10 seconds or less. Means for modifying at least one of the devices.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 진폭인 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the amplitude of the electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 주기인 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is a period of the electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 위상인 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the phase of the electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 파형인 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is a waveform of the electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 변형된 상기 전자장의 파라미터는 상기 전자장의 공간내 방향인 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein the parameter of the modified electromagnetic field is the in-space direction of the electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시 간격은 약 10보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is less than about 10.
제29항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.30. The apparatus of claim 29, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제30항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.31. The apparatus of claim 30, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제31항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간각은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.32. The apparatus of claim 31, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time angle between the modifications is shorter than about 10 seconds.
제32항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.33. The apparatus of claim 32, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제33항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 비정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 가장 긴 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.34. The apparatus of claim 33, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at irregular time intervals and the longest time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자장의 각 파라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein each parameter variation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals and each time interval between modifications is shorter than about 10 seconds.
제29항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.30. The apparatus of claim 29, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between deformations is shorter than about 10 seconds.
제30항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.31. The apparatus of claim 30, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between deformations is shorter than about 10 seconds.
제31항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.32. The apparatus of claim 31, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between deformations is shorter than about 10 seconds.
제32항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.33. The apparatus of claim 32, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between deformations is shorter than about 10 seconds.
제33항에 있어서, 상기 전자장의 각 피라미터 변형은 정기적인 시간격으로 발생하고, 변형 사이의 각 시간격은 약 10초 보다 짧은 것을 특징으로 하는 장치.34. The apparatus of claim 33, wherein each parameter deformation of the electromagnetic field occurs at regular time intervals, and each time interval between deformations is shorter than about 10 seconds.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 주위 전자장은 도전체에 흐르는 시변형 전류로 인한 것임을 특징으로 하는 장치.70. The device of any of claims 28, 69 or 70, wherein the ambient electromagnetic field is due to a time varying current flowing in the conductor.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 주위 전자장의 변형은 최소한 하나의 주위 전자장원을 변형시켜 성취되는 것을 특징으로 하는 장치.71. The device of any of claims 28, 69 or 70, wherein the modification of the ambient electromagnetic field is accomplished by modifying at least one ambient source of electrons.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장의 변형은 상기 주위 전자장에 하나 이상의 부가되는 전자장원으로 생긴 하나 이상의 전자장은 겹쳐 성취되는 것을 특징으로 하는 장치.71. The device of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the deformation of the ambient electromagnetic field is accomplished by superimposing one or more electromagnetic fields resulting from one or more sources of electrons added to the ambient electromagnetic field.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 주위 전자장은 AM 대역 무선주파수 이하의 신호로부터 결과된 것임을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the ambient electromagnetic field is from a signal below AM band radio frequency.
제28, 69 또는 70항중 어느 한 항에 있어서, 상기 주위 전자장은 AM 대역 무선주파수 이하의 신호로부터 결과된 것임을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any one of claims 28, 69 or 70, wherein the ambient electromagnetic field is from a signal below AM band radio frequency.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 상기 신호는 저주파수 신호로 변조되는 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein said signal is modulated with a low frequency signal.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 상기 신호는 저주파수 신호로 변조되는 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein said signal is modulated with a low frequency signal.
제28, 69 또는 70항중 어느 한항에 있어서, 상기 주위 전자장은 마이크로파 주파수 신호로부터 나오고 상기 변조주파수는 100,000Hz보다 낮은 것을 특징으로 하는 장치.71. The apparatus of any of claims 28, 69 or 70, wherein the ambient electromagnetic field is from a microwave frequency signal and the modulation frequency is lower than 100,000 Hz.
제34 내지 45항중 어느 한 항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.46. The device of any one of claims 34 to 45, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
51P/M이하의 전기성분을 갖는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 방법에 있어서, 상기 생명체가 약 10초 이하인 시간격내에서 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터중 최소한 하나를 변형시키는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 방법.5 A method of preventing adverse effects on a living being from an ambient time-varying electromagnetic field having an electrical component of less than 1 P / M, the method comprising: modifying at least one of the characteristic parameters of the electromagnetic field exposed within a time interval of less than about 10 seconds. Method consisting of.
500μT이하의 전기성분을 갖는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 방법에 있어서, 상기 생명체가 약 10초 이하인 시간격내에서 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터중 최소한 하나를 변형시키는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 방법.A method of preventing adverse effects on a living being from an ambient time-varying electromagnetic field having an electrical component of 500 μT or less, the method comprising modifying at least one of the characteristic parameters of the electromagnetic field exposed within a time interval of about 10 seconds or less. How to feature.
제7항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.8. The method of claim 7, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제8항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 8, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제9항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 9, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제10항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 10, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제11항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 11, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제12항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 12, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제13항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 13, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제14항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 14, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제15항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 15, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제16항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 16, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제17항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.18. The method of claim 17, wherein the time interval between modifications is about 1 second or less.
제18항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 18, wherein the time interval between modifications is about 1 second or less.
51v/M이하의 전기성분을 갖는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 방법에 있어서, 상기 생명체가 약 10초 이하인 시간격내에서 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터중 최소한 하나를 변형시키는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 장치.5. A method of preventing adverse effects on an organism from an ambient time-varying electromagnetic field having an electrical component of less than 5 1 v / M, the method comprising: modifying at least one of the characteristic parameters of the electromagnetic field exposed within a time interval of about 10 seconds or less. Device characterized in that consisting of.
500μT이하의 전기성분을 갖는 주위 시변형 전자장이 생명체에 미치는 악영향을 방지하는 방법에 있어서, 상기 생명체가 약 10초 이하인 시간격내에서 노출되는 상기 전자장의 특성 파라미터중 최소한 하나를 변형시키는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 장치.A method of preventing adverse effects on a living being from an ambient time-varying electromagnetic field having an electrical component of 500 μT or less, the method comprising modifying at least one of the characteristic parameters of the electromagnetic field exposed within a time interval of about 10 seconds or less. Characterized in that the device.
제34항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.35. The apparatus of claim 34, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제35항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.36. The apparatus of claim 35, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제36항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.37. The apparatus of claim 36, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제37항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.38. The apparatus of claim 37, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제38항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.39. The apparatus of claim 38, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제39항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.40. The apparatus of claim 39, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제40항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.41. The apparatus of claim 40, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제41항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.42. The apparatus of claim 41, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제42항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.43. The apparatus of claim 42, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제43항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.44. The apparatus of claim 43, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제44항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.45. The apparatus of claim 44, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
제45항에 있어서, 변형 사이의 시간격은 약 1초 이하인 것을 특징으로 하는 장치.46. The apparatus of claim 45, wherein the time interval between deformations is about 1 second or less.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.