KR940005017Y1

KR940005017Y1 - Circuit for checking video tape

Info

Publication number: KR940005017Y1
Application number: KR2019910012347U
Authority: KR
Inventors: 서병렬
Original assignee: 삼성전자 주식회사; 강진구
Priority date: 1991-08-02
Filing date: 1991-08-02
Publication date: 1994-07-25
Also published as: KR930005460U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

Tape error check circuit using light reflection

제1도는 이 고안에 따른 광반사를 이용한 테이프 이상유무 체크회로도.1 is a circuit abnormality check circuit using light reflection according to the present invention.

제2도는 제1도의 일부 상세도이다.2 is a partial detail of FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 테이프 상태 검사회로 11 : 메카니즘 구동부10: tape state inspection circuit 11: mechanism drive unit

12 : 발광부 13 : 수광부12 light emitting portion 13 light receiving portion

20 : 비데오 신호 처리부 OSD : 온스크린 디스플레이20: video signal processor OSD: on-screen display

EVF : 뷰파인더 a : 비데오 신호 입력단EVF: Viewfinder a: Video signal input

TR1, PTR2, TR3 : 트랜지스터 PD1 : 포토다이오드TR1, PTR2, TR3: Transistor PD1: Photodiode

R1~R6 : 저항R1 ~ R6: resistance

이 고안은 테이프를 이용하여 녹화(Recording) 및 재생(Play Back)을 수행하는 모든 오디오 비데오(Audio/Video) 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 사용자가 테이프의 이상유무 상태를 알고자 하는 경우에 테이프 검사 키(Tape Detect Key)를 이용하여 광반사를 이용한 발광 수광방법에 의하여 테이프 사용전에 테이프 이상유무를 체크함으로써 양질의 녹화 및 재생이 수행될 수 있도록한 광반사를 이용한 테이프 이상유무 체크회로에 관한 것이다.The present invention relates to all audio / video systems that record and play back using tape. More specifically, when a user wants to know whether a tape is abnormal, The tape detection key (Tape Detect Key) is used in the light-receiving light-receiving method to check the tape for abnormality before using the tape. It is about.

일반적으로, 캠코더나 비데오 카세트 레코더등에서 결혼식이나 회갑연등 중요한 장면 또는 음질등 녹화할 경우 테이프의 구겨짐, 긁힘 또는 겹침등의 이상 테이프를 사용할 경우 원하는 양질의 재생을 기대할 수 없을 뿐만 아니라 테이프의 불량으로 인하여 헤드에도 손상이 생길 문제점이 있었다.In general, when recording an important scene such as a wedding ceremony or a sixtieth birthday or sound quality on a camcorder or video cassette recorder, if you use an abnormal tape such as wrinkles, scratches or overlapping of the tape, you may not be able to expect high quality playback, There was a problem that the head will be damaged.

이 고안은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 이 고안의 목적은 테이프 검사 키 입력에 따른 광반사를 이용하며 고속전진(FF : Fast Forward)이나 되감기(Rew : Rewind)모우드를 수행하여 테이프 표면상태를 체크하여 테이프의 이상유무를 검출할 수 있도록한 광반사를 이용한 테이프 이상유무 체크회로를 제공하고자 함에 있다.This invention solves this problem, and the purpose of this invention is to use the light reflection according to the tape inspection key input and to perform the tape forward condition (FF: Fast Forward) or Rewind (Rew) mode. It is an object of the present invention to provide a tape abnormality check circuit using light reflection to check a tape for abnormality.

이러한 목적을 달성하기 위한 이 고안의 특징은, 셋트의 동작을 제어하는 동시에 테이프 검사 키 입력시 광반사를 이용하여 테이프의 이상유무를 체크하는 테이프 상태 검사회로와, 상기 테이프 상태 검사회로에 연결되어 상기 테이프 상태 검사회로로부터의 제어신호에 따라 테이프의 이상부위를 문자 및 숫자 데이타 신호로 발생하는 온스크린 디스플레이와, 상기 온스크린 디스플레이 및 비데오 신호 입력단에 연결되어 상기 온스크린 디스플레이로 부터의 문자 및 숫자 데이타 신호와 비데오 신호 입력단으로부터의 비데오 신호를 처리하는 비데오 신호 처리부와, 상기 온스크린 디스플레이와 비데오 신호 처리부에 연결되어 상기 온스크린 디스프레이와 비데오 신호 처리부로 부터의 신호에 따라 테이프 상태 검사회로의 테이프 이상유무 체크에 따른 테이프 이상부위의 각 구간을 디스플레이 하는 뷰파인더로 구성되는 광반사를 이용한 테이프 이상유무 체크회로에 있다.A feature of this invention for achieving this object is that it is connected to the tape state inspection circuit and the tape state inspection circuit which controls the operation of the set and checks for the abnormality of the tape by using the light reflection when the tape inspection key is input. An on-screen display that generates an abnormal portion of the tape as a character and numeric data signal according to a control signal from the tape state inspection circuit, and is connected to the on-screen display and a video signal input terminal and receives letters and numbers from the on-screen display. A video signal processing unit for processing a video signal from a video signal and video signal input terminal, and a tape error of a tape state inspection circuit connected to the on-screen display and video signal processing unit according to signals from the on-screen display and video signal processing unit To check the presence Has an optical reflection is configured as a viewfinder that displays the respective sections of the other tape over the tape portion abnormality check circuit used.

이하, 이 고안의 바람직한 일실시예를 첨부도면을 참조로하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 이 고안에 따른 광반사를 이용한 테이프 이상유무 체크회로를 나타낸 것으로, 셋트의 동작을 제어하는 동시에 테이프 검사키(TSW1) 입력시 광반사를 이용하여 테이프의 이상유무를 체크하는 테이프 상태 검사회로(10)에 각가 클럭(CLK), 스트로브(STB), 데이타(DATA) 라인을 통하여 상기 테이프 상태 검사회로(10)로부터의 제어신호에 따라 테이프의 이상부위를 문자 및 숫자 데이타 신호로 발생하는 온스크린 디스플레이(OSD)를 연결시킨다.FIG. 1 shows a tape abnormality check circuit using light reflection according to the present invention. The tape state inspection is performed to check the abnormality of the tape using light reflection when the tape inspection key (TSW1) is input while controlling the operation of the set. According to the control signal from the tape state inspection circuit 10 through the clock CLK, the strobe STB, and the data lines in the circuit 10, an abnormal portion of the tape is generated as an alphanumeric data signal. Connect the on-screen display (OSD).

상기 테이프 상태 검사회로(10)는 셋트의 동작을 제어하는 동시에 고속전진(FF)이나 되감기(REW) 모우드 수행으로 테이프 이상유무를 검출하여 이상부위의 테이프 카운트 값을 기억하는 마이콤(MICOM)의 키 스캔포트(SP1) 및 키 입력 포트(KP1)에 테이프 이상유무 체크시 입력되는 테이프 검사 키(TSW1)를 연결시키며 상기 테이프 검사키(TSW1)는 셋트 외부에 부착되어지는 택트(Tact) 스위치이다.The tape state inspection circuit 10 controls the operation of the set and at the same time detects the presence of a tape error by performing a fast forward (FF) or rewind (REW) mode, and stores a tape count value of the abnormal part. The tape test key TSW1 is input to the scan port SP1 and the key input port KP1 to check whether there is a tape error. The tape test key TSW1 is a tact switch attached to the outside of the set.

그리고, 상기 마이콤(MICOM)의 포트(PT3)에는 상기 마이콤(MICOM)의 제어 및 전원인가에 따라 구동되며 기계적인 부분에 해당하는 메카니즘 구동부(11)를 연결시키며 상기 마이콤(MICOM)의 포트(PT1) 및 전압원(PC)에는 상기 테이프 검사 키(TSW1) 입력시 상기 포트(PT1)의 상태에 따라 발광하는 발광부(12)를 연결시킨다.In addition, the port PT3 of the MICOM MICOM is driven according to the control and power of the MICOM and connects the mechanism driving unit 11 corresponding to the mechanical part, and the port PT1 of the MICOM MICOM. And the light emitting unit 12 that emits light according to the state of the port PT1 when the tape test key TSW1 is input to the voltage source PC.

상기 발광부(12)는 상기 마이콤(MICOM)의 포트(PT1)에 바이어스용 저항(R1), (R2)을 연결시키며 상기 저항(R2)에는 상기 포트(PT1)의 상태에 따라 "턴온" 되는 스위칭용 트랜지스터(TR1)의 베이스측을 연결시킨다.The light emitting unit 12 connects the bias resistors R1 and R2 to the port PT1 of the MICOM MICOM and "turns on" according to the state of the port PT1 to the resistor R2. The base side of the switching transistor TR1 is connected.

그리고, 상기 트랜지스터(TR1)의 콜렉터측 및 전압원(PC)에 연결된 저항(R3)과 에미터측에 연결된 저항(R4)은 전압을 분배하여 상기 저항(R4)에 연결되어 상기 트랜지스터(TR1)의 스위칭 상태에 따라 "턴온"되는 포트 다이오드(PD1)의 광량 레벨을 조정한다.In addition, the resistor R3 connected to the collector side and the voltage source PC of the transistor TR1 and the resistor R4 connected to the emitter side are connected to the resistor R4 by distributing a voltage to switch the transistor TR1. The light quantity level of the port diode PD1 "turned on" is adjusted according to the state.

한편, 상기 전압원(PC) 및 마이콤(MICOM)의 테이프 상태 검출 포트(PT2)에 상기 발광부(12)의 발광에 따른 테이프로부터의 반사광에 따라 구동되어 상기 테이프 상태 검출포트(PT2)를 제어하는 수광부(13)을 연결시킨다.Meanwhile, the tape state detection port PT2 of the voltage source PC and the MICOM is driven according to the reflected light from the tape according to the light emission of the light emitting unit 12 to control the tape state detection port PT2. The light receiving unit 13 is connected.

상기 수광부(13)는 상기 전압원(PC)에 연결된 저항(R5)에 상기 포토 다이오드(PD1)의 "턴온"시 "턴온"되는 포토 트랜지스터(PTR2)의 콜렉터측을 연결시키며 상기 포토트랜지스터(PTR2)의 "턴온"상태에 따라 "턴온"되어 상기 마이콤(MICOM)의 테이프 상태 검출 포트(PT2)를 제어하는 스위칭용 트랜지스터(TR3)를 상기 저항(R5) 및 전압원(PC)에 연결된 저항(R6)에 연결시키며 상기 트랜지스터(TR3)는 내부에 바이어스 저항을 포함하고 있다.The light receiving unit 13 connects the collector side of the photo transistor PTR2 that is "turned on" when the photodiode PD1 is "turned on" to the resistor R5 connected to the voltage source PC, and the phototransistor PTR2 A resistor (R6) connected to the resistor (R5) and the voltage source (PC) by a switching transistor (TR3) that is "turned on" in accordance with the "turn-on" state of the microcomputer to control the tape state detection port (PT2) of the MICOM. The transistor TR3 includes a bias resistor therein.

또한, 상기 온스크린 디스플레이(OSD) 및 비데오 신호 입력단(a)에는 비데오 신호 처리부(20)를 연결시켜 상기 온스크린 디스플레이(OSD)로 부터의 문자 및 숫자신호와 비데오 신호 입력단(a)으로 부터의 비데오 신호를 처리하며 또한, 상기 온스크린 디스플레이(OSD) 및 비데오 신호 처리부(20)에는 뷰파인더(EVF : Electronic View Finder)를 연결시켜 상기 온스크린 디스플레이(OSD)와 비데오 신호 처리부(20)로 부터의 신호에 따라 테이프 상태 검사회로(10)의 테이프 이상유무 체크에 따른 테이프 이상부위의 각 구간구간을 디스플레이 한다.In addition, the on-screen display (OSD) and the video signal input terminal (a) is connected to the video signal processing unit 20, the character and numeric signals from the on-screen display (OSD) and from the video signal input terminal (a) Also, the video signal is processed, and the on-screen display (OSD) and the video signal processor 20 are connected to an electronic view finder (EVF) from the on-screen display (OSD) and the video signal processor 20. According to the signal of the tape state inspection circuit 10, the display section for each section of the tape abnormality in accordance with the tape abnormality check.

상기와 같이 구성된 이 고안은 사용자가 테이프 이상유무 상태를 검사하고자 하는 경우 셋트 외부에 부착된 테이프 검사 키(TSW1)를 이용하여 검사하게 되며 테이프 검사시 사용자는 고속전진(FF)이나 되감기(REW) 모두드를 수행한다.When the user wants to check whether there is a problem with the tape, the design configured as described above is performed by using the tape test key (TSW1) attached to the outside of the set, and when the user checks the tape, the user can fast forward (FF) or rewind (REW) the tape. Perform mod.

이때, 키스캔 포트(SP1)의 펄스는 마이콤(MICOM) 자체의 발진 주파수를 이용하고 키입력 포트(KP1)는 상기 테이프 검사키(TSW1)의 입력을 받아들여 마이콤(MICOM)내부에서 제어신호를 출력하며 테이프 검사키(TSW1) 입력을 받으면 마이콤(MICOM)은 포토 다이오드(PD1)를 구동하기 위하여 로직 "하이"신호를 출력한다.At this time, the pulse of the kisscan port SP1 uses the oscillation frequency of the microcomputer MICOM itself, and the key input port KP1 receives the input of the tape test key TSW1 to receive a control signal from inside the microcomputer MICOM. The microcom MICOM outputs a logic " high " signal to drive the photodiode PD1 upon receiving the tape test key TSW1 input.

따라서, 트랜지스터(TR1)가 "턴온"됨과 동시에 저항(R3), (R4)을 통하여 전압원(PC)으로부터 전압의 인가로 포토다이오드(PD1)는 발광하게 된다.Accordingly, the photodiode PD1 emits light by applying the voltage from the voltage source PC through the resistors R3 and R4 while the transistor TR1 is "turned on".

이때, 입사광의 전부를 테이프가 반사하게 되어 포토트랜지스터(PTR2)는 "턴온"되고 이에따라 트랜지스터(TR3)가 오프되어 마이콤(MICOM)의 테이프 상태 검출포트(PT2)에 계속 로직 "하이"신호가 검출되면 테이프가 모두 감길때까지 이상이 없는 것으로 판단하여 마이콤(MICOM)은 테이프에 이상이 없음을 최종적으로 인식한다.At this time, the tape reflects all of the incident light, so that the phototransistor PTR2 is "turned on", and the transistor TR3 is turned off, so that the logic "high" signal is continuously detected at the tape state detection port PT2 of the MICOM MICOM. If the tape is wound up, it is judged that there is nothing wrong with it, and MICOM finally recognizes that there is nothing wrong with the tape.

그러나, 상기와는 달리 테이프의 구겨짐, 긁힘, 접힘등으로 인하여 반사광량이 포토트랜지스터(PTR2)의 "턴온"레벨에 이르지 못하면 상기 포토트랜지스터(PTR2)가 "턴오프"됨과 동시에 트랜지스터(TR3)가 "턴온"되어 마이콤(MICOM)의 테이프 상태 검출포트(PT2)에는 로직 "로우"신호가 검출되어 마이콤(MICOM)은 테이프에 이상이 있음을 인식하여 이때부터 마이콤(MICOM) 내부의 메모리 및 카운트 기능을 이용하여 이상부위를 기억하기 시작한다.However, unlike the above, when the amount of reflected light does not reach the "turn-on" level of the phototransistor PTR2 due to the wrinkling, scratching, or folding of the tape, the phototransistor PTR2 is "turned off" and the transistor TR3 is " Turned on and a logic "low" signal is detected at the tape status detection port PT2 of the MICOM, and the MICOM recognizes that there is a problem with the tape. Use it to start remembering abnormalities.

여기서 마이콤(MICOM)은 테이프의 최초 감김부터 카운팅을 시작하며 테이프 상태 검출 포트(PT2)에 로직 "로우"신호가 입력되면 그 순간의 카운팅 값을 기억하기 시작하여 상기 테이프 상태 검출포트(PT2)에 로직 "하이"가 입력되는 순간에 카운팅 값의 기억을 중단하며 이는 테이프가 모두 감길때까지 계속 수행된다.Here, the MICOM starts counting from the initial winding of the tape. When a logic "low" signal is input to the tape state detection port PT2, the microcomputer MICOM starts to store the counting value at the moment and enters the tape state detection port PT2. The moment the logic "high" is entered, it stops remembering the counting value and it continues until the tape is all rolled up.

테이프가 모두 감기면 마이콤(MICOM)은 테이프 상태를 검사한 동안의 테이프 이상 부위를 총 집계하여 온스크린 디스플레이(OSD)에는 문자 및 숫자로 표시하며 이상부위의 각 구간구간을 최종적으로 뷰파인터(EVF)나 모니터에 디스플레이 하게 된다.When all the tapes are wound, MICOM counts the tape abnormalities during the tape condition and displays them in letters and numbers on the On-Screen Display (OSD). Finally, the viewfinder (EVF) is finally displayed. Or display on the monitor.

상기와 같은 이 고안은 테이프 이상유무를 검사하고자 할 경우 테이프 검사 키(TSW1)를 입력하며 이때 수행 모우드는 고속전진(FF)이나 되감기(REW)를 수행한다.This design as described above inputs the tape test key TSW1 when the tape is to be checked for abnormality, and the execution mode performs fast forward (FF) or rewind (REW).

그리고, 상기 테이프 검사키(TSW1) 입력이 있게되면 마이콤은 포토다이오드(PS1) 구동을 위하여 포트(PT1)로 로직 "하이"신호를 출력하며 이에 따른 테이프 상태 검출 포트(PT2)의 로직 상태를 검사하여 로직 "로우" 신호가 검출되면 테이프에 이상이 있는 것으로 판단하여 그 시점부터 상기 포트(PT2)에 로직 "하이"신호가 검출될때까지 테이프 카운팅 값을 마이콤(MICOM) 내부의 메모리에 기억시켜 테이프가 모두 감기면 마이콤(MICOM)은 테이프 이상 상태 검출동안 검출된 테이프 이상부위를 총 집계하여 각 구간을 최종적으로 뷰파인더(EVF)나 모니터에 출력하여 사용자가 테이프의 이상여부 및 부위를 알 수 있게 한 것이다.When the tape test key TSW1 is input, the microcomputer outputs a logic "high" signal to the port PT1 for driving the photodiode PS1 and checks the logic state of the tape state detection port PT2. When the logic "low" signal is detected, it is determined that there is an error in the tape. From that point on, the tape counting value is stored in the memory inside the MICOM until the logic "high" signal is detected at the port PT2. If all are wound, MICOM aggregates the tape abnormality detected during the tape abnormality detection and outputs each section to the viewfinder (EVF) or monitor so that the user can know whether or not the tape is abnormal. It is.

이상에서 살펴본 바와같이 이 고안은 테이프 사용전에 테이프 검사키를 이용하여 테이프의 이상유무를 체크하여 이상부위를 뷰파인더나 모니터에 출력함으로써 사용자가 테이프 이상부위 및 이상여부를 알수 있게 하여 양질의 녹화 및 재생이 가능하게 한 효과가 있을뿐만 아니라 테이프의 긁힘, 접힘, 구겨짐등의 이상상태에서 무리하게 녹화나 재생을 시키지 않게되므로 헤드를 보호하여 그 수명을 연장시킬 수 있다.As mentioned above, this design checks the tape for abnormality by using the tape inspection key before using the tape and outputs the abnormal part to the viewfinder or monitor so that the user can know the abnormal part and whether the tape is abnormal. Not only does it play an effective effect, but also does not force recording or playback in abnormal conditions such as scratching, folding, or wrinkling of the tape, thereby protecting the head and extending its life.

Claims

The tape state inspection circuit 10 is connected to the tape state inspection circuit 10 and the tape state inspection circuit 10 that controls the operation of the set and checks for abnormality of the tape by using light reflection when the tape inspection key TSW1 is input. According to a control signal from the inspection circuit 10, an abnormal part of the tape is generated as a character and numeric data signal, and connected to an on-screen display (OSD), the on-screen display (OSD) and a video signal input terminal (a). A video signal processor 20 for processing alphanumeric data signals from an on-screen display (OSD) and a video signal from the video signal input terminal (a), and the on-screen display (OSD) and video signal processor (20) In accordance with the signal from the on-screen display (OSD) and the video signal processing unit 20 in accordance with the check of the tape abnormality of the tape state inspection circuit 10 This is a viewfinder (EVF) that displays each section of a different tape abnormal part, and a tape abnormality check circuit using light reflection composed of

The tape state inspection circuit (10) is connected to a tape inspection key (TSW1) and a tape inspection key (TSW1) which are input at the time of a tape abnormality check, and controls the operation of the set. When the test key (TSW1) is input, it is connected to the MICOM which detects the abnormality of the tape by performing the fast forward (FF) or rewind (REW) mode, the voltage source (PC) and the port (PT1) of the MICOM (MICOM). The light emitting unit 12 is connected to the light emitting unit 12 which emits light according to the state of the port PT1 when the tape test key TSW1 is input, and the tape state detection port PT2 of the voltage source PC and MICOM. And a light receiving unit (13) which is driven in accordance with the reflected light from the tape according to the light emission of (12) to control the tape state detection port (PT2), and a tape abnormality check circuit using light reflections.

3. The light emitting unit 12 of claim 2, wherein a base side of the light emitting unit 12 is connected to the resistors R1 and R2 connected to the port PT1 of the microcomputer MICOM and the resistor R2. The switching transistor TR1 "turned on" according to the state of the port PT1, the voltage source PC, and the voltage distribution resistors R3 and R4 respectively connected to the collector side and the emitter side of the transistor TR1. And a port diode (PD1) connected to the resistor (R4) and "turned on" according to the switching state of the transistor (TR1), and a tape abnormality check circuit using light reflection.

3. The photoreceptor 13 of claim 2, wherein the light receiver 13 includes a phototransistor PTRL connected to a resistor R5 connected to a voltage source PC and “turned on” when the photodiode PD1 is turned on. The base R is connected to the resistor R5 and the resistor R6 connected to the voltage source PC is connected to the collector, and is "turned on" according to the "turn-on" state of the phototransistor PTR2, and thus the MICOM MICOM. A switching transistor (TR3) for controlling the tape state detection port (PT2) of the tape and the tape abnormality check circuit using light reflection consisting of.