KR930006061Y1 - Gage block - Google Patents
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Abstract
내용없음.None.
Description
제1도는 종래의 블럭 게이지의 사용 상태도.1 is a state diagram used in the conventional block gauge.
제2도는 본 고안의 정면도.2 is a front view of the present invention.
제3도는 본 고안의 사용상태 예시도.Figure 3 is an illustration of the state of use of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 블록 게이지 부재 2 : 측정단위면1: block gauge member 2: unit of measurement surface
본 고안은 계단형 게이지 블록에 관한 것으로 특히 여러개의 블록 게이지로 높이 적층하는 것을 피하면서 필요한 측정치수를 쉽게 얻을 수 있도록 하여 비교측정 할 수 있도록 한 계단형 게이지 블록에 관한 것이다.The present invention relates to a stepped gage block, and more particularly to a stepped gage block to make a comparative measurement by easily obtaining the required measurement dimensions while avoiding the high stacking of multiple block gauges.
일반적으로 작업현장에서 널리 사용되고 있는 블록 게이지는 가로 단면이 장방형이고 평형 또는 평평한 측정면을 가진 단도기를 말하는 것으로 즉 두께가 1.01, 1.02,...1.49와 0.5, 1.0...24.5와 25.50...200과 250, 300...500등으로 치수단계가 일정 범위내에서 0.01, 0.5, 25, 50, 100, 등으로 구분되어 각 한조씩으로 되어 있다.In general, the block gauge widely used in the field of work refers to a dagger having a rectangular cross section with a flat or flat measuring surface, that is, 1.01, 1.02, ... 1.49 and 0.5, 1.0 ... 24.5 and 25.50 .. .200, 250, 300 ... 500, etc. The dimension step is divided into 0.01, 0.5, 25, 50, 100, etc. within a certain range, each set of one set.
이러한 블록 게이지를 사용할때에는 제1도에서와 같이 예를 들어 필요치수가 76.62일때 상기 블록 게이지 치수 구분에 의해 측정치수를 설정할려면 치수단위가 25 치수단계에서 25 치수와 50 치수 그리고 나머지 치수 1.62를 각각 인출해 이 4개의 각기 다른 블록 에이지를 정반에 적층시키므로서 요구하는 측정치수인 76.62가 되어 이 치수를 인디 게이터등의 측정기로 측정하고자 하는 부품과 비교측정하고 있다.When using such a block gauge, as shown in Fig. 1, for example, when the required dimension is 76.62, in order to set the measurement dimension by the block gauge dimension classification, the unit of dimensions is 25, 50, and 1.62 in 25 dimension steps, respectively. Solution These four different block ages were stacked on the surface plate, which required 76.62 of the required measurement dimensions, and the dimensions were compared with the component to be measured by an indicator such as an indicator.
이와 같이 측정하고자하는 치수와 똑같은 치수를 설정하기 위하여 여러개의 블록 게이지를 적층하여 출정부품과 비교 측정하고 있어 블록 게이지를 여러개 적층하는데 많은 시간이 소요되고 있을 뿐만 아니라 여러개의 블록 게이지가 서로 밀착되어 적층시 누적오차가 발생되고 있다.In order to set the same dimensions as the ones to be measured, several block gauges are stacked and measured compared to the display parts. Therefore, it takes a lot of time to stack several block gauges. Cumulative errors occur.
또다른 문제점은 측정하고자 하는 치수가 커서 블록 게이지를 높게 적층할때에는 정반면과의 접촉이 불안해지고 측정자의 실수로 측정시킨 블록 게이지가 넘어지게 되면 블록 게이지가 파괴되거나 휨 발생이 생겨 정도가 저하되고 나아가 사용불가 상태가 발생되는 등의 문제점이 있었다.Another problem is that when the size of the block gauge is large, the contact of the surface plate becomes unstable when the block gauge is stacked high, and when the block gauge measured by the operator accidentally falls down, the block gauge is broken or warped, and the degree of deterioration decreases. Furthermore, there was a problem such as an unusable state.
본 고안은 상기와 같은 블록 게이지의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 측정단위면이 수단계로 이루어지도록 계단형으로 형성시키어 손쉽고 정확한 측정을 할 수 있도록 한 계단형 게이지 블록을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been devised to solve the problems of the block gauge as described above, the step is to provide a stepped gauge block for easy and accurate measurement by forming a stepped unit so that the measurement unit surface is made in several steps. have.
이에 본 고안의 구성 및 작용 효과를 실시예의 도면에 의하여 상세히 설명한다.This will be described in detail by the drawings of the configuration and operation effects of the present invention.
블록 게이지 부재(1)에 임의 설정 단위로 나누어 소기의 측정 단위면(2)을 단계적으로 갖도록 양측에 계단형으로 이루어지게 하여서 기본 단위 치수가 수개 갖도록 한것이다.The block gauge member 1 is divided into arbitrary setting units so as to be stepped on both sides so as to have a desired measurement unit surface 2 stepwise, so that the basic unit dimensions are several.
미설명 부호 3은 정반 4는 측정물, 5는 측정자, 6는 블록 게이지이다.Reference numeral 3 denotes a table 4 for a workpiece, 5 for a measurer, and 6 for a block gauge.
이와 같이 구성된 본 고안에 의해 측정할때에는 본 고안의 계단형 블록게이지를 정반(3)에 올려놓고 측정하고자 하는 치수에 근접하면서 측정 치수보다 마이너스되는 어느 측정단위면(2)을 선정한 수 마이너스된 나머지 치수를 상기 측정 단위면(2)상에 나머지 치수만큼 기존의 블록 게이지(6)를 적층시키어 측정하고자하는 치수와 동일한 치수를 완성하여 비교측정하게 된다.When measuring by the present invention configured as described above, the stepped block gauge of the present invention is placed on the surface plate (3), and the number of the selected unit of measurement unit (2) that is close to the dimension to be measured and is smaller than the measured dimension is selected. The dimension is measured by stacking the existing block gauge 6 on the measurement unit surface 2 by the remaining dimensions and completing the same dimensions as those to be measured.
실시예로 제3도와 같이 측정하고자 하는 치수가 종래의 예에서와 같이 76.62 치수를 본 고안에 의해 설정하여 보면 먼저 기본수치가 76.62보다 마이너스인 기본 치수 75 치수를 선정한 후 그 측정단위면(2)에 나머지 치수를 기존의 블록 게이지(6)에 의해 적층시키면 손쉽게 측정하고자 하는 치수를 설정시키게 된다.By way of example, when the dimension to be measured as shown in Fig. 3 is set by the present invention, as in the conventional example, the dimension 76.62 is first selected as the basic dimension 75 dimension whose basic value is less than 76.62, and then the measurement unit surface (2) By stacking the remaining dimensions in the existing block gauge (6) to easily set the dimensions to be measured.
이와 같이 본 고안은 계단형에 의한 여러개의 기존 치수가 설정되어져 있고 작은 높이의 치수를 기존의 블록 게이지로 맞추어 지므로서 측정치수의 설정시간이 상당히 단축되고 적층 갯수를 최소화 하므로서 누적오차를 제거할 수 있다는 효과가 있다.As such, the present invention has several existing dimensions set by the staircase, and the small height dimension is adjusted to the existing block gauge, so that the setting time of the measurement dimension is considerably shortened and the cumulative error can be eliminated by minimizing the number of layers. There is an effect.
또한 게이지 부재(1)가 계단형으로 갖게 됨에 따라 저면이 넓어져 정반에 안정된 상태를 놓여져 넘어지므로 인한 파괴 및 정도 저해를 방지할 수 있는 효과도 있다.In addition, as the gauge member 1 has a stepped shape, the bottom surface is widened, and thus, a stable state is placed on the surface plate.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019910009330U KR930006061Y1 (en) | 1991-06-22 | 1991-06-22 | Gage block |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019910009330U KR930006061Y1 (en) | 1991-06-22 | 1991-06-22 | Gage block |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR930001250U KR930001250U (en) | 1993-01-21 |
| KR930006061Y1 true KR930006061Y1 (en) | 1993-09-13 |
Family
ID=19315471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019910009330U KR930006061Y1 (en) | 1991-06-22 | 1991-06-22 | Gage block |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR930006061Y1 (en) |
-
1991
- 1991-06-22 KR KR2019910009330U patent/KR930006061Y1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR930001250U (en) | 1993-01-21 |
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