KR930004218B1 - Time margin measuring method for magnetic recording apparatus - Google Patents

Time margin measuring method for magnetic recording apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR930004218B1
KR930004218B1 KR1019900019566A KR900019566A KR930004218B1 KR 930004218 B1 KR930004218 B1 KR 930004218B1 KR 1019900019566 A KR1019900019566 A KR 1019900019566A KR 900019566 A KR900019566 A KR 900019566A KR 930004218 B1 KR930004218 B1 KR 930004218B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
memory
array
read
time margin
Prior art date
Application number
KR1019900019566A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR920010589A (en
Inventor
문성호
Original Assignee
현대전자산업 주식회사
정몽헌
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 현대전자산업 주식회사, 정몽헌 filed Critical 현대전자산업 주식회사
Priority to KR1019900019566A priority Critical patent/KR930004218B1/en
Publication of KR920010589A publication Critical patent/KR920010589A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR930004218B1 publication Critical patent/KR930004218B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Abstract

The method measures time margin of a magnetic recording device by calculating the difference between the upper portion and the lower portion of the error occurring when shifting only read data to left and right after delaying real data window and read data by certain time, to improve the reliability of magnetic recording devices. It includes a step time checking stage for delaying the read data by A+ or A- step respectively when the data is all electric or not, a delaying state for delaying read data, and a time-margine calculating stage.

Description

자기 기록장치의 타임마진 측정방법Method of measuring time margin of magnetic recording device

제1도는 자기 기록 장치의 리드시 데이타비트 진동을 가진 데이타 윈도우 내의 타임 마진도표.1 is a time margin diagram in a data window with data bit oscillations on read of a magnetic recording apparatus.

제2도는 본 발명에 의한 타임마진 측정 방법도표.2 is a time margin measurement method diagram according to the present invention.

제3도는 본 발명에 의한 타임마진 측정 방법의 후로우챠트.3 is a flow chart of the time margin measuring method according to the present invention.

본 발명은 자기 기록 매체의 데이타 비트 진동 정도를 측정하는 자기 기록 장치의 타임 마진 측정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of measuring time margin of a magnetic recording apparatus for measuring the degree of vibration of data bits of a magnetic recording medium.

일반적으로 자기 기록 장치는 통상 자기 코팅된 디스크 상에 리드/라이트 헤드의 코일 권선에 흐르는 전류의 흐름 방향을 바꾸어 줌으로써 여기서 생기는 자기력으로 데이타 비트를 기록하거나 이의 역원리로 디스크상의 데이타 비트를 읽어들이도록 되어 있는 것이다.In general, magnetic recording devices typically redirect the current flowing through the coil windings of the lead / light head on a magnetic-coated disc to write data bits with the magnetic force generated or to read data bits on the disc in reverse. It is.

이러한 디스크상의 데이타 비트들은 그 밀집도가 매우 높게 되어 있으므로, 데이타 비트간의 상호 자기간섭(Mutual Magnetic Interference)에 의한 피크시프트(Peak Shift)와 스핀들 모터 회전 변동에 의한 비트 진동으로 자기 기록 장치의 신뢰성이 저하되며, 따라서 데이타 리드시 에러가 발생할 가능성이 높게 되는 것이다.Since the data bits on the disk have a very high density, the reliability of the magnetic recording apparatus is deteriorated by the peak shift due to mutual magnetic interference between the data bits and the bit vibration caused by the variation of the rotation of the spindle motor. Therefore, an error is more likely to occur when reading data.

그러므로 에러발생율이 극소한 일정수준이상의 고정도를 갖는 자기 기록 매체 및 자기기록 드라이브를 제조하기 위하여 피크시프트와 스핀들 모터 회전 변동에 의한 비트 진동의 정도를 측정하기 위한 타임마진 측정 수단의 마련이 요구되고 있는 실정이다.Therefore, in order to manufacture a magnetic recording medium and a magnetic recording drive having a high accuracy over a certain level of error occurrence rate, it is required to provide a time margin measuring means for measuring the degree of beat vibration caused by the peak shift and the spindle motor rotational variation. It is true.

본 발명은 이러한 요구에 부응하여 용이한 타임마진 측정이 가능하도록 실제 데이타 윈도우와 리드 데이타를 일정시간만큼 지연시킨 다음 리드 데이타만을 좌우로 시크프시켜 이의 에러 발생 여부를 측정함으로써 상측과 하측을 구한 후 그 차를 구함으로써 타임마진을 산출할 수 있도록 한 것으로, 이를 첨부된 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.According to the present invention, the upper and lower sides are obtained by delaying the actual data window and the read data by a predetermined time to allow easy time margin measurement, and then shifting only the read data to the left and right to measure the occurrence of an error thereof. The time margin can be calculated by obtaining the difference, which will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저 제1도를 보면 이에 리드시 데이타 비트 진동을 가진 데이타 윈도우내의 타임마진을 도식적으로 해석하여 도시한 것임을 알 수 있다. 이어서 임의 데이타비트는 -비트진동과 +비트진동을 갖게 되며 상측(upper)과 하측(lower)로의 시간마진 Tu, Tc을 합한 값이 타임마진이 되는 것이다.First, it can be seen from FIG. 1 that the time margin in the data window with data bit oscillation at read time is schematically illustrated. Subsequently, an arbitrary data bit has a -bit vibration and a + bit vibration, and the time margin Tu and Tc, which is the sum of the upper margin and the lower margin, become the time margin.

이러한 타임마직을 측정하기 위하여 본 발명의 방법을 제2도에 도시하였으며 이는 실제의 리드 데이타와 데이타 윈도우를일정시간만큼 지연시켜주고 리드 데이타만을 조금씩 스텝별로 좌우로 시프트시켜 이의 에러 발생 여부를 측정하여 에러 발생 여부를 확인하여 상, 하측 에러 발생위치를 검출한 후, 상,하측 에러발생 위치의 시간적 간격을 타임마진으로 산출하도록 한 것으로, 이를 더욱 상세히 설명하기로 한다.The method of the present invention is shown in FIG. 2 to measure the time magic, which delays the actual read data and the data window by a certain time and shifts only the read data left and right step by step in order to measure the occurrence of an error thereof. After determining whether an error has occurred and detecting the upper and lower error occurrence positions, the time interval of the upper and lower error occurrence positions is calculated as a time margin, which will be described in more detail.

제3도는 본 발명에 의한 타임마진 측정방법의 후로우챠트로서, 타임마진을 측정하고저 하는 실린더(트랙)를 포맷(format)하며 전기 데이타(이하 B6이라 함)는 데이타 패턴으로 라이트한다.3 is a flow chart of the time margin measuring method according to the present invention, in which a cylinder (track) from which time margin is measured is formatted, and electrical data (hereinafter referred to as B6) is written in a data pattern.

이어서 자기 기록 매체의 부분(side) 0,1 중 어느 하나를 지정하며 아울러 스텝(step)을 160ns로 지정하고 데이타 윈도우(data window)와 리드 데이타(read data)를 시간영역에서 우측으로 임의의 값 A만큼 지연이동시킨다. 이러한 상태에서 메모리상의 특정번지에 516바이트를 *배열(array)로 만들어 후기 데이타(이하 AA라 함)를 전부 써(즉, 라이트(WRITE) 넣는다. 이때 타임마진을 측정코져 하는 실린더 인트랙 중 1섹터의 516바이트의 데이타를 리드하여 메모리상의 *배열에 오버라이트(over write)하고, 그 결과 메모리상의 *배열의 데이타가 B6인가를 체크하며 데이타가 전부 B6인 경우에는 리드 데이타 상측으로 A+스텝(STEP=STEP/2)만큼 시프트(지연이동)시키게 되는 것이다.Subsequently, one of the sides 0 and 1 of the magnetic recording medium is designated, and the step is set to 160 ns, and the data window and read data are arbitrarily set to the right in the time domain. Delayed by A In this state, 516 bytes are arrayed at a specific address in memory, and all the late data (hereinafter referred to as AA) is written (that is, written as WRITE). 516 bytes of sectors are read and overwritten in the * array in memory. As a result, it is checked whether the data of the * array in memory is B6. STEP = STEP / 2) will be shifted (delayed).

한편, 메모리상의 *배열의 데이타가 B6가 아닌 경우에는 오버라이트 결과가 잘못된 것이므로 에러를 일으킨 것으로 간주하고 리드 데이타를 상측으로 A-스텝(STEP=STEP/2)만큼 지연시키고 스텝이 5회 반복될때까지 메모리상의 특정번지에 512바이트를 *배열로 하여 AA를 전부 써넣고 B6로 라이트된 트랙 1섹타의 데이타를 리드하여 메모리의 *배열에 오버라이트하여 메모리상의 데이타가 전부 B6인가를 체크하는 과정을 반복하게 되는 것이다.On the other hand, if the * array data in the memory is not B6, the overwrite result is wrong. Therefore, it is regarded as causing an error, and when the read data is delayed upward by A-step (STEP = STEP / 2) and the step is repeated five times. The process of checking whether all the data in the memory is B6 by overwriting the * array of memory by reading the data of one sector of the track written in B6 and writing all the AAs with 512 bytes of * array at a specific address in the memory. It will be repeated.

또한 상기한 과정중 *배열의 데이타가 B6인 경우에서 리드 데이타를 상측으로 A+스텝만큼 시프트시킨 경우에도 스텝이 5회 반복되지 않는다면 데이터 에러를 일으켜 상측=A-스텝만큼 지연시킨 경우와 마찬가지로 메모리상에 516바이트를 *배열로 하여 AA를 전부 써 넣고, B6로 라이트된 트랙 1섹타의 데이타를 리드하여 메모리의 *배열에 오버라이트하여 메모리상의 데이타가 전부 B6인가를 체크하게 되는 것이며, 이러한 여러과정에서 스텝이 5회 반복되었을시에는 스텝을 160ns로 지정한 후 데이타 윈도우와 리드 데이타를 시간영역의 우측으로 A만큼 시프트시키면서 메모리상에 516바이트를 *배열로 만들어 AA를 전부 써 넣는 것이다.In the above process, when the data of the array is B6 and the read data is shifted upward by A + steps, if the step is not repeated five times, a data error occurs and the upper side is delayed by A-step. In this case, all the AAs are written with 516 bytes in the array, the data of track 1 sector written in B6 is read, and the data in the memory array is overwritten to check whether all the data in the memory is B6. If the step is repeated five times, the step is set to 160ns, and the data window and read data are shifted by A to the right side of the time domain while 516 bytes are arranged in the memory and all AA is written.

이러한 상기 포맷한 트랙의 섹터 1의 516바이트의 데이타를 읽어들여 메모리의 *배열에 오버라이트한다. 그결과 메모리상의 *배열의 데이타가 전부 B6인가를 체크하여 전부 B6인 경우에는 리드 데이타를 하측으로 A-스텝(STEP=STEP/2)만큼 시프트시키고 스텝이 5회 반복된 경우에는 타임마진을 계산하기 위하여 상측에서 하측을 감한 값으로 타임마진을 출력시키게 되는 것이다. 아울러 이러한 처리과정에서 메모리상의 *배열의 데이타가 B6가 아닌 경우에는 오버라이트 결과가 잘못된 것이므로 에러를 일으킨 것으로 간주하고 리드 데이타를 상측으로 A+스텝(STEP=STEP/2)만큼 지연시키고 스텝이 5회 반복될 때까지 메모리상에 512바이트를 *배열로 하여 AA를 전부 써 넣고 B6로 라이트된 트랙 1섹타의 데이타를 리드하여 메모리의 * 배열에 오버라이트하여 메모리상의 데이타가 전부 B6인가를 체크하는 과정을 반복하게 되는 것이다.This 516-byte data of sector 1 of the formatted track is read and overwritten into the * array of the memory. As a result, it is checked whether all of the * array data in the memory is B6, and if it is B6, the read data is shifted downward by A-step (STEP = STEP / 2), and the time margin is calculated when the step is repeated five times. To do this, the time margin is output by subtracting the lower side from the upper side. In addition, if the * array data in the memory is not B6 during this process, the overwrite result is wrong. Therefore, the error is considered to be an error and the read data is delayed by A + step (STEP = STEP / 2) and the step is repeated 5 times. The process of writing all the AAs with 512 bytes of * array in the memory until iteration is repeated, reading the data of track 1 sector written in B6, overwriting the * array of memory, and checking whether all the data in the memory is B6. Will be repeated.

이와 같이 하여 본 발명은 프로피 디스크 드라입, 하드 디스크 드라이브, 자기 기록 테이프 등 각종의 자기 기록 매체에 있어서, 피크시프트와 스핀들 모터 회전 변동에 의한 비트 진동의 정도를 파악하기 위한 타임마진을 용이하게 측정할 수 있으며, 이를 참고하여 에러의 극소화를 위한 자기 기록 매체 제조가 이루질 수 있도록 할 수 있는 것이다.In this way, the present invention can easily measure the time margin for grasping the degree of beat vibration caused by peak shift and spindle motor rotational fluctuations in various magnetic recording media such as a prop disk drive, a hard disk drive, and a magnetic recording tape. With reference to this, it is possible to manufacture a magnetic recording medium for minimizing errors.

Claims (1)

타임마진 피측정 실린더를 포맷하고 전기 데이타로 라이트한 다음 스텝 시간간격을 지정 후 데이타 윈도우와 리드 데이타를 일방 시간축으로 지연하는 단계와, 메모리상의 특정번지의 *배열에 전기 데이타와 후기 데이타를 라이트하는 단계와, 포맷된 실린더(트랙)의 전기 데이타를 리드하여 메모리의 *배열에 오버라이트한후 메모리상의 *배열 데이타가 전부 전기 데이타인가 체크하는 단계와, 상기 긍정이면 리드 데이타를 A+스텝만큼 지연이동하고 설정된 스텝 횟수를 체크 단계와, 부정이면 에러로 간주하고 A-스텝만큼 지연이동하고 설정된 스텝 횟수 체크 단계와, 상기 설정된 스텝 반복 횟수를 체크 못하면 메모리상에 *배열로 후기 데이타를 입력시켜 반복하고 스텝 반복 횟수가 끝나면 스텝을 160ns로 지정하고 데이타 윈도우는 리드 데이타를 우측의 타방 시간축으로 지연이동 단계와, 메모리상에 *배열로 후기 데이타를 써 넣은 후 전기 데이타를 해당 섹타로부터 리드하고 메모리의 *배열에 오버라이트하여 메모리 *배열이 있는 데이타가 전부 후기 데이타인가를 체크 단계와, 상기 긍정이면 리드 데이타를 하측 A-스텝만큼 시프트시키고 스텝이 설정된 횟수만큼 반복되었을시는 상측에서 하측을 감하여 타임마진을 계산하는 단계와, 부정이면 A+스텝만큼 시프트시킨 후 스텝이 설정된 휫수에 도달할시까지 메모리를 *배열로 후기 데이타 전부를 라이트하는 단계와, 이루어져 타임마진을 감지함을 특징으로 하는 자기 기록 장치의 타임마진 측정 방법.Time Margin Formatting the cylinder to be measured and writing it as electrical data, delaying the data window and read data to one time axis after specifying the step time interval, and writing the electrical and late data to the * array at a specific address in memory. A step of reading the electrical data of the formatted cylinder (track) and overwriting the * array of the memory and then checking if the * array data in the memory is all the electric data; and if the affirmative, delaying the read data by A + steps. If the set number of steps is checked, and if it is negative, it is regarded as an error and delayed as much as A-step. If the set number of steps is checked, and if the set number of steps is not checked, the late data is inputted in an array in the memory. When the step repeat count is over, set the step to 160ns and the data window will read the read data right. Lag shift step on the other time axis, write late data into * array on memory, read electrical data from the corresponding sector and overwrite * array of memory to check whether all data with memory * array are late data Calculating positive time margin by subtracting the lower side from the upper side when the step is repeated as many times as the set number of times; A method of measuring time margin of a magnetic recording apparatus, comprising: writing all the late data in an array until memory is reached; and detecting a time margin.
KR1019900019566A 1990-11-30 1990-11-30 Time margin measuring method for magnetic recording apparatus KR930004218B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019900019566A KR930004218B1 (en) 1990-11-30 1990-11-30 Time margin measuring method for magnetic recording apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019900019566A KR930004218B1 (en) 1990-11-30 1990-11-30 Time margin measuring method for magnetic recording apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920010589A KR920010589A (en) 1992-06-26
KR930004218B1 true KR930004218B1 (en) 1993-05-21

Family

ID=19306805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900019566A KR930004218B1 (en) 1990-11-30 1990-11-30 Time margin measuring method for magnetic recording apparatus

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR930004218B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030024287A (en) * 2001-09-17 2003-03-26 서명원 transfer apparatus of sewing material for sewing machine
KR100405402B1 (en) * 2001-09-22 2003-11-14 박보인 Motor control apparatus for feeding machine

Also Published As

Publication number Publication date
KR920010589A (en) 1992-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100325772B1 (en) Apparatus and method for detecting disk defect of a hard disk drive
US7589924B2 (en) Characteristic evaluation method for magnetic disk medium
US5357520A (en) Method and apparatus for precompensation value determination in a PRML data channel
US6873488B2 (en) Enhanced MR offset with dynamic tuning range
US3686682A (en) Method and apparatus for testing magnetic disc files
EP0168155B1 (en) Method for testing components of a magnetic storage system
US7209304B2 (en) Systems, apparatus, and methods to determine thermal decay characterization from an equalized signal-to-noise ratio of a magnetic disc drive device
US4796109A (en) Method for testing components of a magnetic storage system
KR930004218B1 (en) Time margin measuring method for magnetic recording apparatus
JP2529891B2 (en) Deterioration determination method for magnetic head
JP2802816B2 (en) Media inspection method for servo disk
JP2954104B2 (en) Barkhausen noise detection method
RU2151431C1 (en) Method and device for writing of servo system pattern onto data carrier
JPH01106370A (en) Error inspection device
EP0167284A1 (en) Method for testing components of a magnetic storage system
JPS59146484A (en) Servo track writing device
JPH0352648B2 (en)
JPH0252832B2 (en)
JP2826485B2 (en) Method for measuring read voltage of magnetic disk drive
JPH11144244A (en) Data processing method for inspection of magnetic disk medium
JPH06267212A (en) Test method for track pitch of disk storage device
JPH0673162B2 (en) Demagnetization test method for magnetic disk drive
JPH0476843A (en) Magneto-optical disk recorder
JPS62150186A (en) Magnetic disc evaluator
JP2003272329A (en) Method for evaluating servo track writer and servo track writer

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20020417

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee