KR920004047Y1 - Analysis device of gas in crt - Google Patents
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Abstract
내용 없음.No content.
Description
도면은 본 고안의 개스 분석장치 전체구성을 나타내는 도면이다.The figure shows the whole structure of the gas analyzer of this invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 음극선관 3 : 애노드1: cathode ray tube 3: anode
4 : 개스도출관 6 : 배기시스템4 gas discharge pipe 6 exhaust system
7 : 배기관 8 : 개스분석기7: exhaust pipe 8: gas analyzer
본 고안은 음극선관의 개스 분석장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 애노드 부위를 손상시키지 않고 진공상태에서 개스를 분석할수 있도록 한 음극선관의 개스 분석장치에 관한 것이다.The present invention relates to a gas analyzer of a cathode ray tube, and more particularly, to a gas analyzer of a cathode ray tube to analyze a gas in a vacuum state without damaging an anode portion.
음극선관은 패널과 펀넬의 제작공정, 새도우마스크 조립체 제작공정, 패널 내면의 블랙매트릭스막 및 형광막 형성공정, Al막 증착공정, 형광막 소정공정, 패널 및 펀넬의 봉착공정, 전자총의 봉입공정, 배기공정, 에이징 공정을 거쳐 제조된다.Cathode ray tube is manufactured by panel and funnel manufacturing process, shadow mask assembly manufacturing process, black matrix film and fluorescent film forming process inside panel, Al film deposition process, fluorescent film predetermined process, panel and funnel sealing process, electron gun encapsulation process, It is manufactured through exhaust process and aging process.
상기한 공정중에서 에이징공정은 제조된 음극선관의 각 전극간 절연을 좋게하고 전자방출이 원활하게 되도록 활성화시키는 공정으로서, 게터플래싱(Getter Flashing), 고압에이징, 에미션(Emission)에이징으로 구분하여 실시하고 있다.In the above process, the aging process is a process for activating the insulation between the electrodes of the manufactured cathode ray tube to facilitate good electron emission, and is classified into getter flashing, high pressure aging, and emission aging. Doing.
게터플래싱은 음극선관의 내부 진공도가 전자방출에 필요한 10-7Torr의 수준으로 되도록 하기 위하여 음극선관의 내부에 게터물질을 붙여서 밀봉시킨 다음, 외부에서 고주파를 가하여 게터의 화학적 작용이 이루어지게 함으로써 관내의 잔류개스가 게터의 흡착 제거되게 하는 공정이다.In the getter flashing, a getter material is sealed by attaching a getter material to the inside of the cathode ray tube so that the internal vacuum degree of the cathode ray tube is 10 -7 Torr required for electron emission, and then applying a high frequency from the outside to effect the chemical action of the getter. This is a process for allowing the residual gas of to be adsorbed and removed from the getter.
고압에이징은 전극간의 절연상태가 나쁜 경우에 순간적으로 쇼트되어 TV셋트의 회로부품 소손, 컴퓨터 기억 삭제등이 발생하는 것을 막기 위하여 각 전극의 사용전압보다 3-5배의 높은 전압을 인가하여 관내의 이물을 태우고 전계연마시켜 절연상태를높이는 공정이며, 에미션 에이징은 음극선관의 활성도를 높여 전자방출이 용이하도록 함으로써 음극선관이 안정적인 동작을 하도록 하는 공정이다.The high voltage aging is short-circuited when the insulation state between electrodes is bad, and the voltage of 3-5 times higher than the voltage of each electrode is applied to prevent the circuit set burnout of the TV set and the deletion of computer memory. It is a process to increase the insulation state by burning foreign materials and electric polishing, and the emission aging is a process to make the cathode ray tube stable operation by increasing the activity of the cathode ray tube to facilitate electron emission.
그런데 상기한 모든 공정을 행하는 가운데 관내에 수소, 불소, 이산화탄소, 일산화탄소등과 같은 개스가 방출된다.By the way, all the processes mentioned above release | release gas, such as hydrogen, fluorine, a carbon dioxide, carbon monoxide, in a pipe | tube.
이러한 개스는 음극선관의 성능을 좌우하게 되므로 개스 발생동기등을 알아 보려면 생성개스의 분석을 행해야 한다.Since such gas influences the performance of the cathode ray tube, it is necessary to analyze the generated gas to find out the motive for generating the gas.
종래에는 상술한 개스분석을 행함에 있어서, 음극선관의 애노드 부위를 파손시켰을 때 나오는 개스를 수집하여 분석하였다.Conventionally, in performing the gas analysis mentioned above, the gas which comes out when the anode site | part of a cathode ray tube was broken was analyzed by collecting.
이와같은 개스 분석방식은 음극선관을 파손시켜야 함에 따르는 낭비와, 채취된 개스의 생성시점을 체크할 수 없는 단점이 있다.Such a gas analysis method has disadvantages in that waste of the cathode ray tube needs to be broken and the point of generation of the collected gas cannot be checked.
본 고안은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해소하기 위하여 안출된 것으로서, 본 고안의 목적은 벌브를 파손시키지 않고, 또한 채취되는 개스의 생성시점을 정확히 체크할 수 있는 음극선관의 개스분석 장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, an object of the present invention is to provide a gas analyzer of the cathode ray tube that can accurately check the time of generation of the gas to be collected without damaging the bulb To provide.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 배기수단을 갖춘 음극선관의 애노드로 개스도출관을 연통 접속시키고 상기한 개스도입관에 배기시스템의 배기관과 통상의 개스분석기를 연통시킨 구성으로 함을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention has a configuration in which a gas discharge pipe is connected to the anode of a cathode ray tube having an exhaust means, and the exhaust pipe of the exhaust system and a conventional gas analyzer are connected to the gas introduction pipe. It features.
이하 본고안의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 따라 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도면은 본 고안의 개스 분석장치 구성을 나타내는 도면으로서, 부호(1)은 음극선관을 나타낸다.The figure is a figure which shows the structure of the gas analyzer of this invention, and the code | symbol 1 shows a cathode ray tube.
음극선관(1)은 네크측이 배기수단(2)과 접속되어 필요시에 내부가 진공으로 유지될 수 있게 한 것이며, 또한 음극선관(1)의 외주에 위치하는 애노드(3)에는 개스 도출관(3)이 접속되어 있다.The cathode ray tube 1 has a neck side connected to the exhaust means 2 so that the inside thereof can be maintained in a vacuum if necessary, and the anode 3 located on the outer circumference of the cathode ray tube 1 has a gas lead-out tube. (3) is connected.
상기한 개스 도출관(3)은 플랜지(Flange)(5)를 개재하여 배기시스템(6)의 T자형 배기관(7)과 연통되어 있다.The gas lead pipe 3 is communicated with the T-shaped exhaust pipe 7 of the exhaust system 6 via a flange 5.
또한 T자형 배기관(7)의 반대측단에는 개스분석기(8)가 마찬가지로 플랜지 이음되어 있다.At the opposite end of the T-shaped exhaust pipe 7, the gas analyzer 8 is similarly flanged.
이와 같이 구성되는 본 고안의 개스 분석장치에서 음극선관(1)과 개스 도출관(4)의 연통은, 음극선관(1)의 애노드(3)에 구멍을 뚫고 개스 도출관(4)을 삽입시킨 다음, 프리트(Frit)를 도포하여 이음매를 밀봉시키는 방식으로 할 수 있다.In the gas analyzer of the present invention configured as described above, the communication between the cathode ray tube 1 and the gas lead-out tube 4 is performed by drilling a hole in the anode 3 of the cathode ray tube 1 and inserting the gas lead-out tube 4. Next, frit may be applied to seal the joint.
본 고안에서 음극선관(1)의 동작은 배기수단(2)을 가동시켜서 음극선관(1)의 내부가 진공으로 되었을 때, 배기수단(2)의 팁(tip)을 잠그고 배기수단(2)의 작동을 정지시킨 채로 행해진다.In the present invention, the operation of the cathode ray tube 1 operates the exhaust means 2 so that when the inside of the cathode ray tube 1 is vacuumed, the tip of the exhaust means 2 is locked and the exhaust means 2 is closed. It is done with the operation stopped.
음극선관(1)의 내부에서 생성되는 개스의 수집은 배기시스템(6)을 가동시켜서 개스도출관(4)을 통해 배기관(7)으로 흡인하는 과정을 통해 이루어질 수 있으며, 또한 배기관(7)으로 흡인된 개스는 개스분석기(8)에 까지 유입되어 이곳에서 생성개스의 분석이 이루어지게된다.The collection of the gas generated inside the cathode ray tube 1 may be performed by operating the exhaust system 6 and drawing it into the exhaust pipe 7 through the gas discharge pipe 4, and also to the exhaust pipe 7. The aspirated gas flows into the gas analyzer 8 where the generated gas is analyzed.
본 고안에 사용되는 개스분석기(8)는 통상적인 것이므로 이에 관한 상세 설명은 생략한다.Since the gas analyzer 8 used in the present invention is conventional, detailed description thereof will be omitted.
이상 설명한 바와같이 본 고안의 개스분석 장치는 음극선관의 애노드, 정확하게는 애노드버튼이 부착되는 구멍으로 개스 도출관을 접속 연통하여 음극선관의 동작중에 발생되는 개스를 외부로 흡인 도출할 수 있게 한 것이므로 관을 손상시키지 않고도 개스분석을 할 수 있고, 또한 관내 개스의 흡인 도출시점을 임의로 선택할 수 있는 것이므로 음극선관의 동작시기에 따른 생성개스의 분석도 가능한 이점을 가지고 있다.As described above, the gas analyzer of the present invention is capable of attracting and deriving the gas generated during the operation of the cathode ray tube by connecting and connecting the gas lead tube to the anode of the cathode ray tube, precisely the anode button. The gas analysis can be performed without damaging the tube, and since the suction derivation point of the gas in the tube can be arbitrarily selected, the generation gas can be analyzed according to the operation time of the cathode ray tube.
게다가 개스의 채취과정은 비파괴적이므로 외부 공기와 혼재될 염려가 없어서 개스분석의 정확성을 도모할 수 있는 이점이 있다.In addition, the gas sampling process is non-destructive, so there is no fear of mixing with the outside air, thereby improving the accuracy of the gas analysis.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR2019900002503U KR920004047Y1 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Analysis device of gas in crt |
Applications Claiming Priority (1)
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KR2019900002503U KR920004047Y1 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Analysis device of gas in crt |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR910015916U KR910015916U (en) | 1991-09-25 |
KR920004047Y1 true KR920004047Y1 (en) | 1992-06-20 |
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ID=19296465
Family Applications (1)
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KR2019900002503U KR920004047Y1 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Analysis device of gas in crt |
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KR (1) | KR920004047Y1 (en) |
-
1990
- 1990-02-28 KR KR2019900002503U patent/KR920004047Y1/en not_active IP Right Cessation
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KR910015916U (en) | 1991-09-25 |
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