Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 나가노 다께시, 미쓰비시 긴소꾸 가부시기가이샤filedCritical나가노 다께시
Priority to KR1019900000169ApriorityCriticalpatent/KR910014680A/ko
Publication of KR910014680ApublicationCriticalpatent/KR910014680A/ko
Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means
(AREA)
Abstract
내용 없음
Description
제품의 품질검사 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 제4도는 본 발명제품의 품질검사방법의 일 실시예를 설명하기 위한 것으로, 제1도는 검사장치의 개략평면도, 제2도는 센서 설치위치를 표시하는 평면도, 제3도는 센서 검출신호의 신호처리계통 블록도.
Claims (1)
제품과 센서중 어느 한쪽을 상기한 제품의 피검사면의 중심축 돌림으로 회전시키면서, 상기한 피검사면을 상기한 센서(12)에 의하여 검출하고, 이 검출신호의 피이크(P) 수량에 의하여 상기한 피검사면의 요철부 또는, 명암부의 유무 및 수량을 구하는 것을 특징으로 하는 제품의 품질검사 방법.