Claims (3)
마이크로 프로쎄서 검사장치에 있어서, 시스템을 제어 처리하기 위한 CPU(10)와, 상기 CPU(10)의 제어처리용 프로그램을 저장하고 있는 롬(11)과, 상기 CPU(10)에서 제어 처리 작동시 발생되는 데이터를 일시 보관하기 위한 램(12)과, 마이크로 프로세서를 장착하여 CPU(10)의 제어하에 상기 마이크로 프로쎄서를 검사하기 위한 제1-N검사지그들(131-13N)과, 상기 CPU(10)의 제어하에 상기 제1-N검사지그들(131-13N)에 장착된 마아크로 프로쎄서들의 작동을 개별적으로 제어하기 위한 제어부(14)와, 상기 CPU(10)의 제어하에 각 마이크로 프로쎄서들의 검사 상태를 표시하기 위한 표시부(15)와, 상기 제어부(14) 및 표시부(15)와 다수의 검사지그들(130-13N)을 상기 CPU(10)의 증계하기 위한 입출력 중계부(16)으로 구성함을 특징으로 하는 장치.A microprocessor inspection apparatus, comprising: a CPU 10 for controlling a system, a ROM 11 storing a control processing program of the CPU 10, and a control processing operation performed at the CPU 10; RAM 12 for temporarily storing data, a first 1-N inspection jig 131-13N for inspecting the microprocessor under the control of the CPU 10 by mounting a microprocessor, and the CPU 10. The control unit 14 for individually controlling the operation of the microprocessors mounted on the 1-N inspection jigs 131-13N under the control of the microcontroller, and the inspection state of each microprocessor under the control of the CPU 10. And a display unit 15 for displaying, the control unit 14, the display unit 15, and a plurality of test jigs 130-13N as input / output relay units 16 for increasing the CPU 10. Device.
시스템을 제어처리하기 위한 CPU(10)와, 프로쎄서를 장착하기 위한 다수의 검사지그들(131-13n)과, 상기 CPU(10)의 제어하에 상기 다수의 검사그들(131-13n)에 장착되는 프로쎄서를 개별적으로 제어하기 위한 제어부(14)와, 상기 CPU(10)의 제어하에 검사결과를 표시하는 표시부(15)를 구비한 마이크로프로쎄 검사장치의 검사방법에 있어서, CPU(10)는 상기 다수의 검사지그들(131-13n)에 장착된 프로쎄서들중 검사할 프로쎄서를 선택하여 표시부(15)에 표시하는 한편 상기 제어부(14)를 통해 선택된 검사지그에 프로쎄서를 작동시키는 프로쎄서 선택과정과, 상기 프로쎄서 선택 과정 수행후 CPU(10)은 상기 작동중인 프로쎄서의 동작상태를 검사하는 프로쎄서 작동 검사과정과, 상기 프로쎄서 작동 검사 과정 수행후 CPU(10)는 제어부(14)를 통해 동작상태에는 프로쎄서의 작동을 중지시킨후 검사할 프로쎄서가 남아 있는가 검사하여 남아 있을 경우 상기 프로세 선택과정으로 되돌아가는 검사 순환 연결과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 방법.CPU 10 for controlling the system, a plurality of inspection jigs 131-13n for mounting the processor, and a processor mounted in the plurality of inspection them 131-13n under the control of the CPU 10. In the inspection method of the microprocessor inspection apparatus having the control unit 14 for individually controlling the display unit and the display unit 15 for displaying the inspection result under the control of the CPU 10, A processor selection process for selecting a processor to be inspected from among the processors mounted on the inspection jigs 131 to 13n of the processor and displaying the processor 15 on the display unit 15 while operating the processor on the selected inspection jig through the controller 14; After performing the selection process, the CPU 10 checks the operation of the processor in operation, and the processor 10 checks the operation of the processor. After the stop, if there remain checks peurosseseo remains to be examined characterized in the test cycle constituted by any thin connection process returns to the process selection process.
제2항에 있어서, 프로쎄서 작동 검사 과정이 CPU(10)가 작동중인 프로쎄서의 대기 상태의 각종 신호 상태가 정상인가 검사하는 제1과정과, 상기 제1과정에서 대기상태의 각종신호상태가 정상일 경우 CPU(10)는 시험용 데이터를 상기 작동중인 프로쎄서에 공급한 다음 시험용 데이터에 여진되는 각종신호를 검사하는 제2과정과, 상기 제2과정에서 시험용 데이터에 여진되는 작동중인 프로쎄서의 각종신호의 상태가 정상일시 작동중인 프로쎄서가 앙풍임을 표시한 다음 검사 순환 연결과정으로 되돌아가는 제3과정과, 상기 제1,2과정에서 동작중인 프로쎄서의 각종신호가 정상이 아닐시 동작중인 프로쎄서가 불량임을 표시한 다음 검사 순환 연결과정으로 되돌아가는 제4과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 방법.The method of claim 2, wherein the processor operation checking process comprises: a first process of checking whether or not various signal states of the standby state of the processor in which the CPU 10 is operating are normal; and when the various signal states of the standby state are normal in the first process, The CPU 10 supplies the test data to the running processor and then checks the various signals excited by the test data, and the state of the various signals of the running processor excited by the test data in the second step is determined. The third process returns to the test circulation connection process after indicating that the processor is in the normal pause state, and if the various signals of the processor operating in the first and second processes are not normal, the processor is in error. And a fourth process of returning to the test circulation connection process.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.