KR900004856B1 - Washing machine checking method and apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명의 회로도.1 is a circuit diagram of the present invention.
제2도는 본 발명의 구동 프로그램 챠트.2 is a drive program chart of the present invention.
제3도는 본 발명의 고장 체크 테스트 프로그램 챠트.3 is a failure check test program chart of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 마이크로 프로세서 2 : 전원회로 및 주변회로1: microprocessor 2: power circuit and peripheral circuit
3 : 구동 및 표시부 4 : 버퍼부3: drive and display section 4: buffer section
5 : 키조작부 6 : 경고부5: key operation part 6: warning part
TC1-TC4: 트라이악 LD1-LD4: 발광다이오드TC 1 -TC 4 : Triac LD 1 -LD 4 : Light Emitting Diode
S4-S8: 키 TS1-TS3: 테스트 키S 4 -S 8 : key TS 1 -TS 3 : test key
I1-I5: 버퍼 SM : 세탁모터I 1 -I 5 : Buffer SM: Washing Motor
TM : 탈수모터 GB : 급수밸브TM: Dewatering Motor GB: Water Supply Valve
VB : 배수밸브VB: Drain Valve
본 발명은 세탁기의 고장 체크 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a failure checking method and apparatus of a washing machine.
세탁기에서 구동부 및 회로 이상에 의한 검사시 불량 원인을 찾는데 많은 시간이 소요되기 때문에 양산공정 및 아프터 서어비스시 대단히 불편한 것이었다.It was very inconvenient during mass production process and after service because it takes a lot of time to find the cause of the defect during inspection by the driving part and the circuit abnormality in the washing machine.
따라서 종래에는 별도의 지그(JIG)를 제작하여 양산 공정 및 아프터 서어비스시 시간의 절감을 기하도록 하였으나 각 모델별로 회로 기판이 상이하기 때문에 제품별 회로기판에 맞는 지그를 각각 제작하여야 되는 단점이 있는 것이었다.Therefore, in the related art, a separate jig was manufactured to reduce the mass production process and after-sales service time, but since the circuit boards were different for each model, there was a disadvantage in that each jig for each circuit board had to be manufactured. .
본 발명의 목적은 마이크로 프로세서의 소프트웨어와 하드웨어를 이용하여 파워 오프상태에서 임의의 다수키를 누른 상태에서 파워 전원을 공급시키면 키의 입력 유무에 따라 테스트 프로그램의 수행 여부를 판단하여 테스트 프로그램 수행시 각각의 구동부를 순차적으로 작동시켜 표시의 점등 여부에 따라 각 구동부의 고장 개소를 쉽게 판단할 수 있는 방법 및 장치를 제공하고자 하는 것으로 이러한 목적은 3개의 테스트 키가 동시에 눌러졌을 경우 고장 테스트시 입력이 발생되는 키 조작부와 각각의 구동부에 연결된 트라이악과 버퍼부 사이에 표시용 발광다이오드가 구성되게 한 구동부 표시부로 고장 테스트시 고장 개소에 해당되는 각 발광다이오드의 점멸 상태로서 고장 및 불량 유무를 판단할 수 있게 한 것이다.An object of the present invention is to determine whether or not to perform a test program according to whether a key is input by supplying power while pressing a plurality of keys in a power-off state by using software and hardware of a microprocessor. It is intended to provide a method and a device that can easily determine the fault location of each drive part by sequentially operating the drive parts of the display. This purpose is to generate an input during the failure test when three test keys are pressed simultaneously. The LED display unit is configured between the key operation unit and the triac and the buffer unit connected to each driving unit, and the LED display unit is configured to blink each LED corresponding to the failure point during the failure test. It is.
이하 본 발명에 대한 바람직한 실시예를 첨부 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명의 회로도로서 전원회로 및 주변회로(2)가 연결된 마이크로 프로세서(1)에 버퍼(I5) 및 부저(BZ)로 구성된 경보부(6)가 연결되게 구성하고 마이크로 프로세서(1)의 포트(PA1-PA4)에 버퍼(I1-I4)로 구성된 버퍼부(4)를 통하여 구동 및 표시부(3)가 연결되게 구성한 것으로 구동 및 표시부(3)는 세탁모터(SM), 탈수모터(TM), 급수밸브(GB), 배수밸브(VB)에 각각 트라이악(TC1-TC4)을 연결시켜 저항(R5-R8)을 통하여 발광다이오드(LD1-LD4)의 애노우드측과 연결되게 하고 트라이악(TC1-TC4)의 게이트측은 저항(R1-R4)을 통하여 발광다이오드(LD1-LD4)의 캐소우드측가 연결되게 구성시킨다.FIG. 1 is a circuit diagram of the present invention, in which a
여기서 버퍼(I1-I5)는 인버터용이다.Here the buffers I 1 -I 5 are for the inverter.
그리고 마이크로 프로세서의 포트(PB1-PB2)가 다이오드(D1-D2)를 통하여 테스트 키(TS1-TS3) 및 키(S5-S8)가 연결된 후 저항(R8-R12)을 통하여 마이크로 프로세서(1)이 입력포트(PC1-PC4)와 연결되게 키조작부(5)를 구성시켜 된 것이다.Then, the ports PB 1 -PB 2 of the microprocessor are connected to the test keys TS 1 -TS 3 and the keys S 5 -S 8 through the diodes D 1 -D 2 , and then the resistors R 8 -R 12 ) the
제2도는 본 발명의 구동 프로그램 챠트로서 키조작부(5)의 테스트 키(TS1-TS3)가 동시에 눌러졌는가 여부에 따라 지연 시간을 두어 채털링을 방지한 후 테스트 프로그램과 일반적인 세탁기의 구동 초기 상태로 넘어가는 루틴을 나타내고 있으며 제3도는 본 발명의 고장 체크 테스트 프로그램 챠트로서 부저, 세탁모터, 탈수모터, 급수밸브, 배수밸브, 부저 순으로 체크하는 순서도를 나타내고 있다.FIG. 2 is a drive program chart of the present invention, in which a delay time is provided depending on whether the test keys TS 1 -TS 3 of the
이와 같이 구성된 본 발명에서 제1도의 본 발명의 회로도는 키조작부(5) 및 구동 및 표시부(3), 경고부(6)를 나타낸 것으로 먼저 키조작부(5)의 동작 원리는 다음과 같다.In the present invention configured as described above, the circuit diagram of the present invention shown in FIG. 1 shows the
파워 전원 공급시 고장 테스트를 수행하기 위한 키입력 유무를 판단하는데 있어 1개의 키 입력으로만 테스트 프로그램을 수행하도록 하는 것은 원하지 아니하는 상태에서 오동작을 유발시킬 수가 있다.In determining whether there is a key input for performing a failure test at power supply, performing a test program with only one key input may cause a malfunction in an undesired state.
따라서 부주위로 인하여 테스트 키가 동작되는 것을 방지하기 위하여 본 발명에서는 3개의 테스트 키(TS1-TS3)를 구성시켜 3개의 테스트 키가 동시에 눌러지는 경우에 테스트를 행할 수 있도록 한 것으로 각각의 모터 및 밸브가 구동하지 아니하는 파워 오프 상태에서 3개의 테스트 키(TS1-TS3)를 누르면서 파워 전원을 공급시키는 경우에만 제3도의 테스트 프로그램을 수행하게 된다.Therefore, in order to prevent the test key from being operated due to sub-circumference, the present invention configures three test keys TS 1 to TS 3 to perform a test when three test keys are pressed at the same time. In the power-off state in which the valve is not driven, the test program of FIG. 3 is performed only when the power is supplied while pressing the three test keys TS 1 -TS 3 .
즉, 이 테스트 키의 입력의 감지는 제2도와 같이 3개의 테스트 키를 동작시킨 상태에서 파워 전원이 공급되는 「시작」루틴을 수행시키면 맨 먼저 「포트 PB2에 H레벨 출력」신호가 마이크로 프로세서(1)에서 출력되어 테스트 키(TS1-TS3)가 모두 눌려져 있는 경우 포트(PC1-PC3)에 H레벨 신호가 동시에 인가하게 된다.That is, the detection of the input of the test key when performing a "start" routine that the power supply is supplied in a state in which operation of three test key as a second help first to signal the microprocessor "port PB H level output to the second" When the test keys TS 1 to TS 3 are all pressed and the test keys TS 1 to TS 3 are pressed, the H level signals are simultaneously applied to the ports PC 1 to PC 3 .
이때에 「채털링 방지를 위한 지연 수행」을 하도록 하여 키입력시 발생되는 채털링에 의한 오동작을 방지한 후 다시 「포트 PC1-PC3의 입력이 동시에 H레벨 신호인가?」를 판단하여 계속하여 포트(PC1-PC3)에 H레벨 신호가 인가되면 틀림없는 테스트 키의 입력으로서 포트(PB2)에서 L레벨 신호가 출력되게 한 후 제3도의 「테스트 프로그램 루틴으로 점프」를 하게 되며 지연시킨 후 키입력 체크시 포트(PC1-PC3)가 모두 H레벨 상태가 아니면 테스트 상태가 아닌 것으로 마이크로 프로세서(1)에서 판단하여 포트(PB2)로 L레벨 신호를 출력시킨 후 파워 온 초기 상태로 점프되어 일반적인 세탁기와 동일하게 구동되어 초기 기능인 키 입력대기 상태가 된 후 입력되는 키에 의하여 세탁공정이 선택되 세탁기능을 수행하게 된다.At this time, perform delay for preventing chatling to prevent malfunction due to chattering that occurs during key input, and then judge whether the input of ports PC 1 to PC 3 is H level signal at the same time. When the H level signal is applied to the ports PC 1- PC 3 , the L level signal is output from the port PB 2 as the input of the test key, and the jump to the test program routine shown in FIG. 3 is performed. After delaying and checking the key input, if the ports (PC 1- PC 3 ) are not in the H level state, the
그리고 고장 체크 테스트 프로그램은 제3도와 같이 수행되는 것으로 일반적인 세탁기능 수행시와 구별하기 위하여 초기에 「부저 온-오프」시키게 되고 부저(BZ)는 X초 주기로 온, Y초 주기로 오프시키어 발생되는 비프(BEEP)음이 Z회 반복되게 하며 이때 마이크로 프로세서(1)의 포트(PD1)로 H레벨 신호가 출력되어 버퍼(I5)를 통하여 L레벨 신호가 부저(BZ)에 공급되어 전원(V1)이 부저(BZ)를 통하여 흐르게 되면서 비프음을 발생시킨다.The fault check test program is performed as shown in FIG. 3, and the buzzer BZ is turned on and off every X seconds to be distinguished from the general washing function. (BEEP) The sound is repeated Z times. At this time, the H level signal is output to the port PD 1 of the microprocessor 1 , and the L level signal is supplied to the buzzer BZ through the buffer I 5 to supply power (V). 1 ) flows through the buzzer (BZ) to generate a beep sound.
그후 「세탁 모터 온」루틴을 수행하여 마이크로 프로세서(1)의 포트(PA1)로 설정된 시간(A초)동안 H레벨 신호를 출력시키면 버퍼(I1)에서 반전된 L레벨 신호가 트라이악(TC1)의 게이트에 인가되므로 직류전원(V1)이 트라이악(TC1)의 게이트를 거쳐 버퍼(I1)의 그라운드로 흐르므로 트라이악(TC1)이 턴온된다.After that, when the washing motor on routine is executed and the H level signal is output for the time (A second) set by the port PA 1 of the
이때 트라이악이 턴온되면 직류전원(V1)이 표시부의 발광다이오드(LD1)에 인가되어 저항(R5) 및 발광다이오드(LD1)로 흘러 점등되 회로가 정상 상태임을 인지시킨다.At this time, when the triac is turned on, the DC power supply V 1 is applied to the light emitting diode LD 1 of the display unit, and flows into the resistor R 5 and the light emitting diode LD 1 , thereby illuminating that the circuit is in a normal state.
이때 발광다이오드(LD1)가 점등되고 세탁모터(SM)가 구동치 아니하면 저항(R5) 및 발광다이오드(LD1)로 흘러 점등되었으므로 마이크로 프로세서(1)와 버퍼(I1)는 정상 상태이고 트라이악(TC1) 소자가 불량임을 알 수 있다.At this time, if the light emitting diode LD 1 is turned on and the washing motor SM is not driven, the light flows to the resistor R 5 and the light emitting diode LD 1 , and thus the
또 세탁모터(SM)와 발광다이오드(LD1)가 모두 동작을 하지 아니하면 버퍼부(4)와 마이크로 프로세서(1)에 이상이 생긴 것을 알 수 있어 버퍼부(4)를 먼저 검사한 후 마이크로 프로세서의 출력이 나오는지 검사하여 고장 여부를 쉽게 체크할 수 있다.In addition, if both the washing motor SM and the light emitting diode LD 1 do not operate, it is understood that an abnormality occurs in the
그후 「세탁모터 오프」루틴을 수행하여 발광다이오드(LD1) 및 세탁모터(SM)에 인가되던 전원을 차단시키는 것으로 오프 시간을 주어 검사자가 표시부로 일일이 검사하는데 생기는 혼동을 방지한다.Then, the washing motor off routine is performed to cut off the power applied to the light emitting diode LD 1 and the washing motor SM, thereby giving off time to prevent confusion caused by the inspector inspecting the display unit one by one.
그리고 이와 같은 동작으로 탈수모터(TM), 급수밸브(GB), 배수밸브(VB)가 순차적으로 구동시키어 고장 여부를 체크하면 처음과 같이 부저(BZ)를 구동시켜 테스트 프로그램이 끝났음을 표시해주고서 일반적인 세탁기의 초기 구동 상태로 넘어가게 된다.When the dehydration motor (TM), the water supply valve (GB) and the drain valve (VB) are driven in this manner and checked for failures, the buzzer (BZ) is driven as in the beginning to indicate that the test program is finished. The initial driving state of the general washing machine is passed.
이상에서와 같이 본 발명은 테스트 키의 입력 여부에 따라 일반 세탁기의 기능과 고장 체크 테스트 프로그램을 수행할 때에 다수개의 테스트 키가 동시에 입력되게 하여 평상시 테스트 키가 눌러지는 오동작 및 테스트 키 입력시 일정 시간을 지연시켜 채털링 현상에 의한 오동작을 방지할 수가 있으며 고장 테스트 프로그램 수행 초기 및 종료시 각각 비프음이 발생되어 일반 세탁기 기능 수행시와 구별되게 하여 사용자에게 편익을 제공하고 고장 테스트시 각 구동부가 프로그램 순으로 순차적으로 구동되면서 발광다이오드가 점등되게 하여 고장 개소를 쉽게 판별할 수가 있는 것으로 세탁기의 양산 공정 및 아프터 서어비스시 불필요한 시간과 작업 공수를 크게 줄일 수 있는 효과가 있는 것이다.As described above, the present invention allows a plurality of test keys to be input at the same time when a function of a general washing machine and a failure check test program are executed depending on whether a test key is input, and a malfunction of the test key is normally pressed and a predetermined time when the test key is input. It is possible to prevent malfunction due to chattering by delaying, and beep sound is generated at the beginning and the end of the failure test program, so that it can be distinguished from the operation of the general washing machine. By sequentially driving the light emitting diodes to be turned on, it is possible to easily identify the failure point, which has the effect of greatly reducing the unnecessary time and labor during mass production process and after service of the washing machine.
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