KR900001996B1 - Sources of electricity - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명에 따른 내부전원 발생기의 구성도.1 is a block diagram of an internal power generator according to the present invention.
제2도는 제1도의 주 레귤레이터의 실시예의 구체회로도.2 is a concrete circuit diagram of an embodiment of the main regulator of FIG.
제3a-e도는 제1도 및 제2도는 입출력 파형도.3a-e are the first and second views of the input and output waveforms.
본 발명은 반도체 회로에 관한 것으로 특히 외부인가 전원을 입력하여 고집적 반도체 장치에 적합한 내부 전원을 발생하는 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor circuit, and more particularly to a circuit for generating an internal power supply suitable for a highly integrated semiconductor device by inputting an externally applied power supply.
반도체장치가 점점 고집적화 되어가는 경향으로 인해 한정된 칩상에 형성되는 개별소자의 크기는 점차 축소되고 있다. 소자의 크기를 축소함에 따라 채널의 길이는 점차 짧아지게 되어 동작 전압을 낮추어줄 필요가 있으나 시스템 전체에 인가되는 외부전원은 편의항 5V로 고정되어 다른 모든 장치에 공급이 되므로 특정 반도체장치 만을 위해서 시스템에 인가되는 외부전원을 변하시킬 수는 없다.Due to the tendency of semiconductor devices to be increasingly integrated, the size of individual devices formed on a limited chip is gradually reduced. As the size of the device decreases, the channel length becomes shorter and it is necessary to lower the operating voltage. However, the external power applied to the entire system is fixed at 5V in convenience section and is supplied to all other devices. It is not possible to change external power applied to.
그러므로 채널이 짧아진 고집적된 반도체 장치에 종래와 같은 전압을 인가하면 소자의 드레인 부근의 채널영역에 강한 전장이 형성되어 핫캐리어(Hot Carrier)가 발행하고 높은 에너지를 가진 핫캐리어가 게이트쪽으로 트랩되어 누설 전류가 생기며 이 핫캐리어의 이동으로 케이트 산화막이 손상되거나 얇아지게 되고 따라서 드레쉬홀드 전압이 낮아지게 되며 종국에서 브레이크 다운이 일어나서 소자를 사용할 수 없게 된다. 또한 짧은 채널이 일으키는 상기 문제점 때문에 반도체 소자의 고집적화에도 한계가 있었다.Therefore, when a voltage is applied to a highly integrated semiconductor device having a shorter channel, a strong electric field is formed in the channel region near the drain of the device, a hot carrier is issued, and a hot energy with a high energy is trapped toward the gate. Leakage currents are generated and the movement of the hot carriers results in damage or thinning of the gate oxide film, thus lowering the threshold voltage and ultimately breaking down the device, making the device unusable. In addition, there is a limit to high integration of semiconductor devices due to the above problems caused by short channels.
따라서 본 발명의 목적은 칩내부에 내장되어 외부전원을 입력하여 반도체장치의 동작에 필요한 내부전원을 발생하는 내부전원 발생회로를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an internal power generation circuit embedded in a chip to input external power to generate internal power required for the operation of a semiconductor device.
본 발명의 또다른 목적은 내부전원 발생회로와 접속된 칩내의 회로에서 동작전류를 감소하여 전력의 소모를 줄이는 내부전원 발생회로를 제공함에 있다.It is still another object of the present invention to provide an internal power generation circuit which reduces power consumption by reducing operating current in a circuit in a chip connected to the internal power generation circuit.
이하 본 발명을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명에 따른 내부전원 발생기의 전체적인 구성을 나타낸 도면이다.1 is a view showing the overall configuration of the internal power generator according to the present invention.
제1도 참조하면 본 발명이 내부전원 발생기의 반도체장치에 있어서 칩외부에서 인가되는 외부전원이 입력되는 입력단자(1)와, 동일칩상에 형성된 백바이어스 전압 발생기에서 발생되는 백바이어스 전압이 공급되는 백바이어스 전압공급단자(3)와, 동일칩상에 형성되어 칩이 액티브상태 일 때 액티브 신호를 발생하는 신호발생회로에 액티브신호가 공급되는 액티브신호 공급단자(5)와 출력단자(7)와, 상기 입력단자(1)와 접속되어 제1바이어스 전압을 발생하는 제1전압발생부(11)와, 상기 입력단자(1)와 접속되어 외부인가 전압을 폴로워하는 제2바이어스 전압을 발생하는 제2전압발생부(12)와, 상기 제1전압발생부(11)와, 상기 제2전압발생부(12)의 출력을 비교하여 소정 논리상태를 출력하는 비교수단(13)과, 상기 입력단자(1)와 백바이어스 전압공급단자(3)에 접속되어 백바이어스 전압에 따라 제1신호를 발생하는 제1신호 발생부(14)와, 상기 입력단자(1)와 상기 비교수단(13)과 상기 제1신호발생부(14)와 접속되어 제1바이어스 전압과 제2바이어스 전압이 동일해지는 순간에 제2신호를 발생하는 제2신호발생부(15)와, 상기 입력단자(1)와 제2신호발생부(15)와 액티브신호 공급단자(5)에 접속되어 액티브와 액티브신호 공급단자(5)에 접속되어 액티브신호가 공급됨과 동시에 제3 신호를 발생하는 제3신호발생부(16)와, 상기 입력단자(1)와 상기 제1전압발생부(11)와 상기 제2신호발생부(15)와 상기 제3신호발생부(16)와 접속되고 출력단자(7)와 궤환루우프(Feedback Loop)를 형성하며 제1바이어스 전압과 제2바이어스 전압이 동일해지는 입력전압 이상에서 상기 입력전압으로 클램핑된 내부전원을 출력단자(7)로 발생하는 주 례귤레이터(100)로 구성된다.Referring to FIG. 1, in the semiconductor device of an internal power generator, an input terminal 1 to which an external power source applied from an outside of a chip is input and a back bias voltage generated from a back bias voltage generator formed on the same chip are supplied. An active signal supply terminal 5 and an output terminal 7 formed on the same chip as the back bias voltage supply terminal 3 and supplied with an active signal to a signal generation circuit that generates an active signal when the chip is in an active state; A
상기 제1전압발생부(11)는 입력단자(1)에 인가되는 입력전압이 일정전압(제1바이어스 전압)이상일 때 입력전압을 클램핑하여 제1바이어스 전압을 발생한다.The
상기 제2전압발생부(12)는 통상의 분압기(Voltage Divider)로 구성되어 입력전압을 분압된 전압으로 폴로워 하는 제2바이어스 전압을 발생한다.The
상기 비교수단(13)은 제1바이어스 전압보다 제2바이어스 전압이 커지는 경우 논리레벨 "하이"이 ø0신호로 출력한다.The comparing means 13 outputs a logic level " high " as a? 0 signal when the second bias voltage becomes larger than the first bias voltage.
상기 제1신호발생부(14)는 입력전압의 초기상태가 불안정하여 상기 비교수단(13)의 출력이 오실레이팅 될 수 있는 문제점을 해결하기 위하여 형성된 것으로 입력전압이 증가하여 백바이어스 전압을 발생할 수 있을 정도의 전압상태가 되면 논리레벨 "하이"의 ø1신호를 발생한다. 상기 제2신호발생부는 상기 신호 ø0와 ø1이 논리레벨 "하이"의 상태로 입력되면 칩내부에 동작준비 상태의 신호인 논리레벨"하이"상태의 ø2신호를 발생한다.The first signal generator 14 is formed to solve a problem in which the initial state of the input voltage is unstable and the output of the comparison means 13 may be oscillated. The first signal generator 14 may increase the input voltage to generate a back bias voltage. When the voltage level is high enough, a signal of ø1 of logic level "high" is generated. When the signals ø0 and ø1 are input in the state of logic level "high", the second signal generator generates a signal of the logic level "high" state, which is a signal of an operation ready state, inside the chip.
따라서 입력전압이 초기 상태에서 제2바이어스 전압이 제1바이어스 전압이상이 되어 비교수단(13)에서 ø0의 신호를 발생해도 입력전압이 백바이어스 전압을 발생시킬 정도의 안정된 전압상태를 갖지 못하면 제2신호발생부(15)는 칩의 동작준비 상태의 신호인 ø2신호를 발생하지 않는다.Therefore, even if the second bias voltage becomes equal to or greater than the first bias voltage in the initial state and the comparator 13 generates a signal of ø0, if the input voltage does not have a stable voltage state sufficient to generate a back bias voltage, the second bias voltage is increased. The
상기 제3신호발생부(16)는 상기 ø2의 신호가 발생된 다음 액티브 신호과 공급되면 칩이 액티브 상태임을 주 레귤레이터(100)에 알리는 ø3의 신호를 발생한다.The third
상기 주 레귤레이터(100)는 상기 제1바이어스 전압과 상기 입력전압과 상기 피드백된 출력전압을 입력하고 상기 ø2와 ø3신호에 따라 출력상태가 결정되는 제1증폭부와, 상기 제1바이어스 전압과 상기 입력전압과 상기 제1증폭기의 출력을 입력하고 상기 ψ2와 ψ3신호에 따라 출력상태가 결정되는 캐스캐이드 접속(Cascade Connection)된 2n개의 증폭기로 구성된 제2증폭부와 ,상기 입력전압이 인가되고 상기 제2증폭부의 출력과 ø2신호에 응답하여 스위칭하는 스위칭 수단으로 구성된다.The
제2도는 주 레귤레이터(100)의 실시예의 구체회로도로서 제2증폭부를 2개의 증폭기로 구성한 실시예이다.2 is a detailed circuit diagram of an embodiment of the
도면을 참조하면 상기 주 레귤레이터(100)는 상기 입력단자(1)와 접속된 제1 입력노오드(21)와 , 상기 제1전압발생부(11)와 접속된 제2입력노오드(22)와, 상기 제2신호발생부(15)와 접속된 제3입력노오드(23)와, 상기 제3신호발생부(16)와 접속된 제4 입력노으드(24)와, 상기 제1 및 제2입력노오드(21)(22)와 후술하는 출력노오드(25)와 접속되어 제3 및 제4입력노오드(23)(24)에 인가되는 신호에 따라 출력상태가 결정되는 제1증폭기(30)와, 상기 제1 및 제2입력노오드(21)(22)와 제1증폭기(30)의 출력노오드(37)와 접속되어 제3 및 제4입력노오드(23)(24)에 인가되는 신호에 따라 출력상태가 결정되는 입력노오드(21)(22)와 제2증폭기(40)의 출력노오드(47)와 접속되어 제3 및 제4입력노오드(23)(24)에 인가되는 신호에 따라 출력상태가 결정되는 제3증폭기(50)와, 제1입력노오드(21)와 접속되어 제3증폭기(50)의 출력전압과 제3입력노오드(23)에 인가되는 신호에 응답하여 스위칭하는 스위칭수단(60)과, 스위칭수단(60)의 스위칭에 의해 전달되는 전압을 제1증폭기(30)와 출력단자(7)로 공급하는 상기 스위칭수단(60)과 제1증폭기(30)와 출력단자(7)에 접속된 출력노오드(25)로 구성되어 있다.Referring to the drawings, the
상기 제1증폭기(30)는 제1입력노오드(21)와 노오드(38)(37) 사이에 각각 채널을 접속하고 각 게이트를 노오드(38)에 접속한 P채널 모오스 트랜지스터(31)와 (32)와, 노오드(38)과 노오드(39)사이에 채널을 접속하고 게이트를 제2입력노오드(22)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(33)와, 노오드(37)과 노오드(39)사이에 채널을 접속하고 게이트를 후술하는 출력 노오드(25)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(34)와, 노오드(39)와 접지단자(20)사이에 병렬로 채널을 접속하고 각 게이트를 제3 및 제4입력노오드에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(35)와 (36)으로 구성되어 있다.The
상기 제2증폭기(40)는 제1입력노오드(21)와 노오드(48)(47) 사이에 각각 채널을 접속하고 각 게이트를 노오드(48)에 접속한 P채널 모오스 트랜지스터(41)과 (42)와, 노오드(48)과 노오드(49) 사이에 채널을 접속하고 게이트를 제2입력노오드(22)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(43)와, 노오드(47)와 노오드(49) 사이에 채널을 접속하고 게이트가 상기 제1증폭기(30)의 노오드(37)에 접속된 N채널 모오스 트랜지스터(44)와, 노오드(49)와 접지단자(20) 사이에 병렬로 채널을 접속하고 각 게이트를 제3 및 제4입력노오드(23)(24)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(45)와 (46)으로 구성되어 있다.The
상기 제3증폭기(50)는 제1입력노오드(21)와 노오드(58)(57) 사이에 각각 채널을 접속하고 각 게이트를 노오드(58)에 접속한 P채널 모오스 트랜지스터(51)과 (52)와, 노오드(58)과 노오드(59) 사이에 채널을 접속하고 게이트 제2입력 노오드(22)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(53)와, 노오드(57)와 노오드(59) 사이에 채널을 접속하고 게이트가 상기 제2증폭기(40)의 노오드(47)에 접속된 N채널 모오스 트랜지스터(54)와, 노오드(59)와 접지단자(20) 사이에 병렬로 채널을 접속하고 각 게이트 제3 및 제4입력노오드(23)(24)에 접속한 N채널 모오스 트랜지스터(55)와 (56)으로 구성되어 있다.The third amplifier 50 connects a channel between the first input node 21 and the nodes 58 and 57, respectively, and the P-channel MOS transistor 51 in which each gate is connected to the node 58. And (52), an N-channel MOS transistor 53 connected to a gate between the node 58 and the
상기 스위칭수단(60)은 제1입력노오드(21)와 출력노오드(25) 사이에 채널을 접속하고 게이트가 제3증폭기(50)의 노오드(57)에 접속된 N채널 모오스 트랜지스터(61)와 제1입력노오드(21)와 출력노오드(25)사이에 채널을 접속하고 게이트를 제3입력노오드(23)에 접속한 P채널 모오스 트랜지스터 (62)로 구성되어 있다.The switching means 60 connects a channel between the first input node 21 and the
제3a-e도는 제2도 및 제3도의 시간에 따른 입출력 파형도이다.3A through 3E are waveform diagrams of input and output waveforms of FIGS. 2 and 3 according to time.
제3도를 참조하면 (3a도는 칩이 액티브 상태임을 나타내는 액티브 신호를 나타내는 도면이고) 3b도는 입력 전압 Vi와 제1바이어스 전압 V1과 제2바이어스 전압 V2와 백바이어스전압 Vb의 상태를 나타내는 도면이고, 3c도는 상기 3b도의 전압상태에 따라 제1신호발생부와 제2신호발생부와 제3신호발생부에서 발생되는 ø1,ø2,ø3의 신호를 나타내는 도면이고, 3d도는 출력노오드에서 발생되는 출력전압 Vo를 나타낸 도면이며, 3e도의 스위칭 수단에 흐르는 전류를 나타낸 도면이다.Referring to FIG. 3, FIG. 3a is a diagram showing an active signal indicating that the chip is in an active state. FIG. 3c is a view showing the signals of 1, 2, 3 generated by the first signal generator, the second signal generator, and the third signal generator according to the voltage state of FIG. 3b, and FIG. It is a figure which shows the output voltage Vo, and is a figure which shows the electric current which flows through the switching means of 3e degree.
이하 제1도 및 제2도를 제3도의 출력 파형도를 참조하여 상세히 설명한다. 제3b도를 참조하면 입력단자(1)에 입력전압 Vi가 공급되기 시작하여 입력전압이 Vi1 상태가 되면 동일기관상에 형성된 백바이어스 전압발생기로부터 음이 Vb전압을 발생하게 된다. (t1)시간 또한 제1전압발생부(11)와 제2전압발생부(12)로부터 제1바이어스전압 V1과 제2바이어스 전압 V2가 입력전압 Vi를 따라 증가하여 t2의 시간에서 제1바이어스전압 V1과 제2바이어스 전압 V2가 동일해지는 a점(입력전압 Vi2)이 생기게 된다.1 and 2 will be described in detail with reference to the output waveform diagram of FIG. Referring to FIG. 3B, when the input voltage Vi is supplied to the input terminal 1 and the input voltage becomes Vi1, the negative Vb voltage is generated from the back bias voltage generator formed on the same engine. At the time t1, the first bias voltage V1 and the second bias voltage V2 increase from the
3c도를 참조하면 상기 t1시간에 백바이어스 전압이 발생되므로 제1신호발생부(14)는 논리레벨 "로우"에서 "하이"상태로 변환된 신호ø1을 출력한다.Referring to FIG. 3C, since the back bias voltage is generated at the time t1, the first signal generator 14 outputs the signal? 1 converted from the logic level "low" to the "high" state.
t2시간에서부터 제2바이어스 전압 V2가 제1바이어스 전압 V1보다 커지기 시작하므로 비교수단(13)은 제2신호발생부(15)로 논리레벨 "하이"상태를 발생한다. 또한 제2신호발생부(15)는 t1시간에 제1신호발생부(14)로부터 "하이"상태의 ø1신호를 입력하고 t2시간에 비교수단(13)으로부터 "하이"상태의 신호를 입력함과 동시에 논리레벨 "하이"상태의 ø2신호를 발생한다. 제3신호발생부(16)는 t2시간에 제2신호발생부(15)로부터 "하이"상태의 ø2신호를 입력하고 t3시간에 칩이 액티브상태 임을 알리는 액티브신호 øen이 발생하면 øen신호발생과 동시에 논리레벨 상태의 ø3신호를 발생한다. 시간 t0에서 입력전압 Vi와 제1바이어스 전압 V1이 주 레귤레이터(100)에 공급되나 t2시간 이전에서는 제3c도와 같이 ø2와 ø3신호가 "로우"상태이므로 접지와 연결된 N모오스 트랜지스터(35)(36)(45)(46)(55)(56)로 전류가 흐르지 못하므로 각 증폭기의 출력단자와 연결된 트랜지스터를 구동시키지 못하고 스위칭수단(60)의 P모오스 트랜지스터가 턴온 되므로 출력노오드(25)의 전압은 입력노오드(21)에 인가되는 입력전압 Vi를 그대로 따른다.Since the second bias voltage V2 starts to become larger than the first bias voltage V1 from the time t2, the comparison means 13 generates a logic level "high" state to the
이때 출력된 전압이 제1증폭기(30)에 인가되어도 접지와 연결된 상기 N모오스 트랜지스터들이 턴 오프상태이므로 출력전압 Vo는 단지 입력전압 Vi를 따른다.At this time, even when the output voltage is applied to the
t2시간에 ø2신호가 "하이"상태가 되면 제1증폭기(30)의 N모오스 트랜지스터(35)가 턴온되어 전류를 흘리게 되고 제1바이어스전압 V1에 의해 턴온상태인 N모오스 트랜지스터(33)를 통해 노오드(38)의 전압이 "로우"상태로 변하여 P모오스 트랜지스터(31)과 (32)를 턴온시켜 제1입력노오드(21)의 전압상태가 제2증폭기(40)로 출력하여 N모오스 트랜지스터(44)를 턴온 시킨다.When the ø2 signal becomes “high” at time t2, the N-
제2증폭기(40)에서 ø2신호에 의해 N모오스 트랜지스터(45)가 턴온되고 제1바이어스 전압 V1에 의해 N모오스 트랜지스터(43)가 턴온상태 이므로 상기 트랜지스터(43)(45)를 통해 전류가 흐른다. 또한 노오드(48)에 게이트가 접속된 P모오스 트랜지스터들(41)(42)도 턴온되므로 노오드(47)의 전압은 상기 제1증폭기(30)의 출력전압에 따라 구동되어 N모오스 트랜지스터(44)에 흐르는 전류에 따라 제3증폭기(50)의 N모오스 트랜지스터(54)의 게이트에 소정 전압 상태를 인가한다. 제3증폭기(50)에서는 ø2신호에 의해 N모오스 트랜지스터(55)가 턴온되고 제1바이어스 전압 V1에 의해 N모오스 트랜지스터(53)가 턴온상태 이므로 상기 트랜지스터(53)(55)를 통해 전류가 흐른다. 또한 노오드(58)에 게이트가 접속된 P모오스 트랜지스터(51)(52)도 턴온되므로 노오드(57)의 전압은 상기 제2증폭기(50)의 출력전압에 따라 구동되어 N모오스 트랜지스터(54)에 흐르는 전류에 따라 스위칭수단(60)의 N모오스 트랜지스터(61)의 게이트에 소정 전압상태를 인가한다.Since the N-
한편 상기 증폭기들(30)(40)(50)에서 ø2신호를 입력으로 하는 N모오스 트랜지스터(35)(45)(55)은 작은 크기의 N모오스 트랜지스터로써 흐르는 전류의 양도 극히 작다. 그러므로 각 증폭단을 거쳐 스위칭수단(60)에 인가되어 N모오스 트랜지스터(61)를 구동하는 능력또한 약하여 N모오스 트랜지스터(61)를 흐르는 전류는 제3e도의 I1전류만큼 흐르게되고 따라서 출력노오드(25)의 전압 Vo는 제3d도와 같이 t2시간의 입력전압을 계속 유지하게 된다.On the other hand, the N-
t3시간에 출력단자(7)에 접속된 부하 즉 칩내의 형성된 회로가 액티브되면 순간적으로 출력노오드(25)의 전압상태는 갑자기 소정상태로 떨어지게 된다. 한편, 부하가 t3시간에 액티브상태가 됨과 동시에 액티브신호 øen이 발생하여 제3신호발생기(16)으로부터 ø3신호를 발생시켜 주 레귤레이터(100)의 제4입력단자(24)에 공급한다.When the load connected to the output terminal 7, i.e., the circuit formed in the chip, is activated at time t3, the voltage state of the
이때 각 증폭기의 접지단자(20)와 접속되고 게이트에 ø3신호가 인가되는 N모오스 트랜지스터들(36)(46)(56)이 턴온된다. 상기 N모오스 트랜지스터들(36)(46)(56)은 이들과 도면상에서 병렬로 접속된 N모오스 트랜지스터들(35)(45)(55)보다 큰 크기의 트랜지스터들 이므로 전체회로에서 보다 많은 전류를 흘릴 수 있는 능력을 갖는다. 출력노오드(25)의 전압이 순간적으로 낮아지면 제1증폭기(30)의 N모오스 트랜지스터(34)를 흐르는 전류가 작아져서 노오드(37)는 높은 전압상태가 된다. 또한 노오드(37)과 접속된 제2증폭기(40)의 N모오스 트랜지스터(44)는 많은 전류를 흘르게 되므로 노오드(47)은 낮은 전압상태가 된다. 따라서 노오드(47)과 접속된 제3증폭기(50)의 N모오스 트랜지스터(54)는 적은 전류를 흘리게 되므로 노오드(57)은 높은 전압상태가 되어 스위칭수단(60)의 N모오스 트랜지스터(61)를 통해서 많은 전류(제3e도의 I2전류)를 흘릴 수 있으므로 출력단자(7)에 접속된 부하를 빨리 차아지하여 출력 노오드(25)를 종전의 전압상태로 유지시킨다.At this time, the N-
상기 스위칭수단의 모오스 트랜지스터들(61)(62)은 출력노오드(25)에 접속된 칩내부의 회로가 액티브 상태일 때 흐르는 대전류를 드라이버 할 수 있을 만큼 충분히 큰 사이즈(Size)의 소자임을 이 분야의 통상의 지식을 가진자는 쉽게 알 수 있을 것이다.The MOS transistors 61 and 62 of the switching means are elements of a size large enough to drive a large current flowing when the circuit inside the chip connected to the
또한 제3증폭기(50)에 사용된 소자는 뒷단의 스위칭수단(60)을 구동할 수 있는만큼의 전류구동 능력을 갖는 소자이고, 제2증폭기(40)에 사용된 소자는 제3증폭기(50)의 소자를 구동할 수 있을 만큼의 전류구동능력을 갖는 소자이며, 제1증폭기(30)에 사용된 소자는 제2증폭기(40)의 소자를 구동할 수 있을 만큼의 전류 구동능력을 갖는 소자임을 쉽게 알 수 있을 것이다.In addition, the element used in the third amplifier 50 is an element having a current driving capability as much as possible to drive the switching means 60 of the rear end, the element used in the
또한 상기 주 레귤레이터 회로에서는 제1증폭기(30)와 뒷단에 2개의 캐스케이드 접속된 증폭기로 구성한 실시예를 보이고 설명하였으나 제1증폭기(30)에 짝수로 다수개의 증폭기를 접속하여도 본 발명의 주 레귤레이터 회로를 구성할 수 있음도 이 분야의 통상의 지식을 가진자가 쉽게 이해 할 수 있는 사실이다.In addition, the main regulator circuit has been shown and described an embodiment consisting of a
상술한 바와 같이 본 발명은 외부입력전압에 의해 발생되는 제1바이어스 전압과 제2바이어스 전압이 동일해지는 시간의 입력전압(Vi2) 이상에서는 소정의 적은양의 전류를 구동할 수 있는 모오스 트랜지스터에 신호를 인가하여 스위칭 수단에 소정의 적은양의 전류를 구동하게 하여 출력노오드에 입력전압 Vi2의 전압상태를 유지하게 하고 출력노오드와 접속된 칩내부의 회로가 액티브되어 칩내부에 많은 전류가 흘러서 순간적으로 출력노오드의 전압이 강하되면 출력노오드의 전압상태를 상기 모오스 트랜지스터에 흐르는 전류보다 더큰 전류구동 능력을 가진 모오스 트랜지스터에 인가하여 스위칭수단에 대전류를 흐르게하고 칩내부 회로에 필요한 전원을 빨리 충분히 차아지하게 하여 출력 노오드점의 전압을 Vi2의 상태에 유지시키므로써 칩내의 짧은 채널을 갖는 반도체 소자에서 발생할 수 있는 문제점을 감소시킬 수 있다.As described above, the present invention provides a signal to a MOS transistor capable of driving a predetermined small amount of current above the input voltage Vi2 at a time when the first bias voltage and the second bias voltage generated by the external input voltage become equal. By applying a small amount of current to the switching means to maintain the voltage state of the input voltage Vi2 at the output node, and the circuit inside the chip connected to the output node is activated, so that a lot of current flows inside the chip. When the voltage of the output node drops instantaneously, the voltage state of the output node is applied to the MOS transistor having a greater current driving capability than the current flowing through the MOS transistor so that a large current flows through the switching means, and the power required for the chip internal circuit is quickly Make it sufficiently charged to keep the voltage at the output node in the state of Vi2, The problem that may occur in a semiconductor device having a silver channel can be reduced.
또한 본 발명은 칩내부에 회로가 동작하지 않는 준비상태(Stand-by상태)에서는 적은양의 전류만 흐르고 칩내의 회로가 액티브 상태일 때 상태에 따라 필요한 전류를 흐르게 함으로써 내부 전원발생기 내부의 전력소모를 감소시키는 이점이 있다.In addition, the present invention allows a small amount of current to flow in the ready state (Stand-by state) in which the circuit does not operate inside the chip, and the required current flows according to the state when the circuit in the chip is active, thereby consuming power inside the internal power generator. There is an advantage to reduce.
또한 본 발명은 레귤레이팅 전압(Vi2) 이하의 외부전원은 그대로 내부 전원으로 사용하고 그 이상에서는 외부의 조작없이 칩내부의 신호에 의해 레귤레이팅한 전원이 사용되어지므로 사용이 간단한 이점이 있다.In addition, the present invention has an advantage that the external power supply below the regulating voltage Vi2 is used as the internal power supply and the power supply regulated by the signal inside the chip is used without any external manipulation.
Claims (3)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019870013612A KR900001996B1 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Sources of electricity |
JP63271950A JPH01170207A (en) | 1987-11-30 | 1988-10-27 | Internal electric source generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019870013612A KR900001996B1 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Sources of electricity |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890008651A KR890008651A (en) | 1989-07-12 |
KR900001996B1 true KR900001996B1 (en) | 1990-03-31 |
Family
ID=19266506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870013612A KR900001996B1 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Sources of electricity |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01170207A (en) |
KR (1) | KR900001996B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005053469A1 (en) | 2005-07-13 | 2007-02-08 | Perkinelmer Optoelectronics Gmbh & Co.Kg | Flashlamp cartridge has multiple electrical cartridge terminals used for electrically connecting with respect to socket |
-
1987
- 1987-11-30 KR KR1019870013612A patent/KR900001996B1/en not_active IP Right Cessation
-
1988
- 1988-10-27 JP JP63271950A patent/JPH01170207A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0574086B2 (en) | 1993-10-15 |
KR890008651A (en) | 1989-07-12 |
JPH01170207A (en) | 1989-07-05 |
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