KR860000498B1 - Telephone system with automatic test call generator for remote port groups - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명에 따라 구성된 전화 회로망의 계통도.1 is a schematic diagram of a telephone network constructed in accordance with the present invention.
제2도는 제1도에 도시한 전화 회로망 내의 디지탈 전화 교환국을 더욱 상세하게 도시한 계통도.FIG. 2 is a schematic diagram showing in more detail a digital telephone switchboard in the telephone network shown in FIG.
제3도는 제1도와 제2도에 도시한 통신 회선 상의 신호 조직을 도시한 계통도.3 is a schematic diagram showing signal organization on a communication line shown in FIG. 1 and FIG.
제4도는 제1도와 제2도에 도시한 회로망에 접속된 디지탈 위성 접속 장치(DSI)의 계통도.4 is a system diagram of a digital satellite access device (DSI) connected to the network shown in FIG. 1 and FIG.
제5도는 제4도에 도시한 호출 처리기 모선 접속장치 내의 데이타 통로를 상세하게 도시한 계통도.FIG. 5 is a schematic diagram showing in detail the data path in the call processor busbar connection device shown in FIG.
제6도는 제4도에 도시한 형성기(形成璣) 내의 데이타 통로를 상세하게 도시한 계통도.FIG. 6 is a schematic diagram showing in detail the data passages in the former shown in FIG. 4. FIG.
제7도는 제4도에 도시한 처리기 내의 데이타 통로를 상세하게 도시한 계통도.7 is a schematic diagram showing details of data passages in the processor shown in FIG.
제8도는 제4도에 도시한 메모리 내의 데이타 통로를 상세하게 도시한 계통도.8 is a schematic diagram showing details of data paths in the memory shown in FIG.
제9도는 호출 처리기로부터 디지탈 위성 접속장치까지 송신될 수 있는 다수의 메시지(message)를 도시한 도면.9 shows a number of messages that may be sent from a call processor to a digital satellite access device.
제10도는 디지탈 위성 접속 장치로부터 호출 처리까지 송신될 수 있는 다수의 메시지를 도시한 도면.10 shows a number of messages that can be transmitted from the digital satellite access device to call processing.
제11도는 제9도와 제10도의 메시지를 송신 및 수신할 때 호출 처리기에 의해 사용되는 제어 기능의 일반화된 유통도.FIG. 11 is a generalized flow diagram of the control function used by the call processor when sending and receiving the messages of FIGS. 9 and 10. FIG.
제12도는 제12(a)도와 제12(b)도로 구성된 것으로, 제13도의 유통도를 이해하기 위해 사용되는 다수의 메모리 위치를 도시한 메모리 장소 할당 상태도.FIG. 12 is a diagram of a memory location allocation state showing a plurality of memory locations used for understanding the flow chart of FIG. 13 as shown in FIG. 12 (a) and FIG. 12 (b).
제13도는 제13(a)도와 제13(b)도로 구성된 것으로 제4도에 도시한 디지탈 위성 접속장치와 호출 처리기 사이로 메시지를 송신시키는데 필요한 동작 유통도.FIG. 13 is an operational flow diagram required for transmitting a message between the digital satellite access device shown in FIG. 4 and the call processor shown in FIG. 13 (a) and FIG. 13 (b).
제14도는 제4도에 도시한 완충기용 데이타 통로를 상세하게 도시한 계통도.FIG. 14 is a schematic diagram showing details of the buffer data passage shown in FIG.
제15도는 제1도와 제2도에 도시한 원격 디지탈 위성 유니트의 계통도.FIG. 15 is a system diagram of the remote digital satellite unit shown in FIG. 1 and FIG.
제16도는 디지탈 위성 접속 장치로부터 원격 디지탈 위성 유니트가지 송신될 수 있는 다수의 메시지를 도시한 도면.FIG. 16 shows a number of messages that can be transmitted from a digital satellite access device to a remote digital satellite unit.
제17도는 원격 디지탈 위성 유니트로부터 디지탈 위성 접촉 장치까지 송신될 수 있는 다수의 메시지를 도시한 도면.FIG. 17 shows a number of messages that can be transmitted from a remote digital satellite unit to a digital satellite contact device.
제18도는 제18(a)도와 제18(b)도로 구성된 것으로, 디지탈 위성 접속 장치내에 이용된 제어 프로그램을 도시한 유통도.FIG. 18 is a flow chart showing the control program used in the digital satellite access device, which is composed of FIG. 18 (a) and 18 (b).
제19도는 제4도에 도시한 부수 모선 접속 완충기의 계통도.FIG. 19 is a system diagram of the accessory busbar connection buffer shown in FIG. 4. FIG.
제20도는 제4도에 도시한 진단회로의 계통도.20 is a schematic diagram of the diagnostic circuit shown in FIG.
제21도는 제21(a)도, 제21(b)도 및 제21(c)도로 구성된 것으로, 보수 처리기와 디지탈 위성 접속장치 사이에서 메시지가 상호 변환하는 동안이 장치들의 동작을 도시한 유통도.21 is a diagram showing the operation of these devices during the mutual conversion of messages between the maintenance processor and the digital satellite access device, consisting of FIGS. 21 (a), 21 (b) and 21 (c). .
제22도는 제2도에 도시한 자동시험 회로를 도시한 계통도로서, 제22(a)도 내지 제22(e)도는 각각 제22도의 자동시험회로 내에 사용된 음색 발생기 회로, 음색 수신기회로, 주파수 검파기 회로, 자동시험 제어회로 및 다이얼 펄스검파기 회로를 도시한 도면.22 is a schematic diagram showing the automatic test circuit shown in FIG. 2, and FIGS. 22 (a) to 22 (e) show the tone generator circuit, the tone receiver circuit, and the frequency used in the auto test circuit of FIG. A detector circuit, an automatic test control circuit and a dial pulse detector circuit are shown.
제23도는 제15도에 도시한 보수 및 권리 회로의 일부를 도시한 도면으로, 제23(a)도 내지 제23(e)도는 각각 제23도의 회로 내에 사용된 자동시험 제어회로, 타이밍회로, 검출기회로, 음색회로, 알람제어 및 수신기 리세트회로 및 다이얼 펄스 회로를 도시한 도면.FIG. 23 is a view showing a part of the maintenance and right circuit shown in FIG. 15, and FIGS. 23 (a) to 23 (e) respectively show an automatic test control circuit, a timing circuit, Diagram showing a detector circuit, a tone circuit, an alarm control and receiver reset circuit, and a dial pulse circuit.
제24도는 보수 처리기에 의해 이용된 제어 모듈의 조직을 도시한 계통도.24 is a schematic diagram showing the organization of the control module used by the maintenance processor.
제25도는 제25(a)도, 제25(b)도 및 제25(d)도로 구성된 것으로, 자동시험 동작을 하는 동안 생기는 다수의 송신 관계를 도시한 기본 유통도.FIG. 25 is a diagram of FIG. 25 (a), FIG. 25 (b) and FIG. 25 (d), which shows a number of transmission relationships that occur during the automatic test operation.
제26도는 제24도에 도시한 DSIFLD 모듈을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 26 is a distribution diagram showing details of the DSIFLD module shown in FIG. 24; FIG.
제27도는 제24도에 도시한 DSITMO 모듈을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 27 is a distribution diagram showing details of the DSITMO module shown in FIG. 24; FIG.
제28도는 제24도에 도시한 DSICOM 모듈을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 28 is a distribution diagram showing details of the DSICOM module shown in FIG. 24;
제29도는 제24도에 도시한 DSIMSG 모듈을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 29 is a distribution diagram showing details of the DSIMSG module shown in FIG. 24; FIG.
제30도는 제30(a)도와 제30(b)도로 구성된 것으로, 제18도에 도시한 수단들을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 30 is a flow diagram showing the details of the means shown in FIG. 18, comprising 30 (a) and 30 (b).
제31도는 제31(a)도와 제31(b)도로 구성된 것으로, 제30도에 도시한 수단들을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 31 is a flow chart showing details of the means shown in FIG. 30, comprising 31 (a) and 31 (b).
제32도는 제30도에 도시한 수단들을 상세하게 도시한 유통도.32 is a flow diagram showing details of the means shown in FIG.
제33도는 제24도에 도시한 DSICAL 모듈을 상세하게 도시한 유통도.33 is a distribution diagram showing details of the DSICAL module shown in FIG. 24;
제34도는 제24도에 도시한 DSIAT 모듈을 상세하게 도시한 유통도.FIG. 34 is a distribution diagram showing details of the DSIAT module shown in FIG. 24; FIG.
제35도는 자동시험 처리를 하는 동안 생기는 가능한 상호작용을 이해하기 위해 이용되는 기능 유통도.Figure 35 is a function flow diagram used to understand the possible interactions that occur during automated test processing.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 디지탈 전화교환국 13 : 원격 디지탈 위상 유니트10: digital telephone exchange station 13: remote digital phase unit
14 : 디지탈 위성접속 장치 15 : 다중 통로 통신회선14: digital satellite connection device 15: multi-path communication line
16 : 포오트그룹 간선로 접속장치 17 : 호출처리기 모선 접속장치16: port group trunk line connection device 17: call processor bus line connection device
18 : 보수 모선접속장치 완충기 19 : 포오트 회로18: Maintenance bus connection buffer 19: Port circuit
20 : 자동 시험회로 25 : 형성기20: automatic test circuit 25: forming machine
27 : 처리기 28 : 메모리27: processor 28: memory
29 : 완충기 30 : 진단회로29: shock absorber 30: diagnostic circuit
79 : 보수 및 관리 자동 시험회로 300 : 보수 처리기79: maintenance and management automatic test circuit 300: maintenance processor
402 : 포오트 그룹 유니트 408 : 호출 처리기402: port group unit 408: call handler
본 발명의 전화 회로망에 대한 것으로, 특히 회로망 내의 원격 포오트(port) 그룹에 호출을 스위칭시키는 것을 특징으로 하는 전화스위칭 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a telephone network, and more particularly to a telephone switching system characterized by switching a call to a group of remote ports in the network.
미합중국 특허원 제924,883호에는 스위칭 동작을 행하기 위해 디지탈 전화교환국을 포함하는 전화 회로망이 기술되어 있다.U.S. Patent Application No. 924,883 describes a telephone network including a digital switching center for performing switching operations.
이 회로망에서, 가입자로부터의 전화기 선과 다른 전화 교환국으로부터의 중계선 회로는 포오트 그룹 유니트 내의 다수의 선과 중계선 회로를 통하여 디지탈 전화 교환국으로 직접 접속된다. 이 접속은 종래의 팁(tip)과 링, 또는 각각의 가입자나 교환국으로부터 디지탈 전화 교환국까지 연장된 이와 비슷한 도체들을 통해 이루어진다.In this network, telephone lines from subscribers and relay line circuits from other telephone switching centers are directly connected to the digital telephone switching center through the multiple line and trunk line circuits in the port group unit. This connection is made through conventional tips and rings or similar conductors extending from each subscriber or switching center to the digital switching center.
이 도체들은 음성 정보와 감시 정보를 나타내는 아날로그 형태로 신호를 이송한다. 전화 교환국으로부터 수신된 감시 정보는 "감지 감시" 정보라고 불리우며 후크(hook) 상태 및 다이얼 펄스 정보를 포함하고 포오트 그룹 유니트로 송신되며 도체들은 "제어 감시" 정보라고 불리우며 링깅(ringing) 및 그외의 다른 정보를 포함한다.These conductors carry signals in analog form representing voice and surveillance information. Surveillance information received from the telephone exchange office is called "sense monitoring" information and contains hook status and dial pulse information and is sent to the port group unit, and conductors are called "control monitoring" information, ringing and other Include other information.
각각의 포오트 그룹 유니트는 선로나 중계선 회로와 같은 각각의 포오트 회로를 통해 다수의 전화기 선에 접속된다. 각각의 포오트 회로는 입력 음성 신호를 포오트 그룹 간선로 상에 일련의 펄스 열에 다중화되어 이송되는 펄스 부호와 변조 신호로 반전시킨다. 감지 감시 정보도 이 펄스 열 속에서 다중화된다.Each port group unit is connected to a plurality of telephone lines through respective port circuits such as line or repeater circuits. Each port circuit inverts the input speech signal into a pulse code and a modulated signal which are multiplexed and fed into a series of pulse trains on a port group trunk. Sensing monitoring information is also multiplexed in this pulse train.
시간 슬롯트 상호변화(TSI) 매트릭스 회로망은 이 펄스 열을 수신하고 각각의 포오트 회로에 배당된 포오트 데이타 축적 지역에 축적하기 위해 입력 감지 정보를 스트립(strip)한다. 포오트 사건 처리기는 각각의 포오트 데이타 축적 지역내의 정보를 샐플하고 호출 제어 처리기에 메시지를 보내도록 이 지역내의 정보를 수정하여 이용한다. 호출 제어 처리기는 대응하는 전화 가입자의 선로를 제어하도록 포오트 사건 처리기를 동작시키기 위해 각각의 포오트 데이타 축적 지역에 명령을 포함한 정보를 보내고 회로망을 통해 스위칭 채널을 설정하기 위히 TSI 매트릭스 회로망에 이 명령을 포함한 정보를 보내어 호출된 전화기에 동일 또는 다른 포오트 그룹 간선로 상의 디지탈화된 음성 신호용 통로가 설정되게 한다.The Time Slot Interchange (TSI) matrix network receives this pulse train and strips the input sense information to accumulate in the pot data accumulation area assigned to each pot circuit. The port event handler modifies and uses the information in each region to sample information in each port data accumulation region and send a message to the call control handler. The call control processor sends information, including instructions, to each port data accumulation area to operate the port event handlers to control the lines of the corresponding telephone subscribers, and sends these commands to the TSI matrix network to establish a switching channel through the network. Information is sent to cause the called telephone to establish a passage for digitalized voice signals on the same or different port group trunks.
호출 제어 처리기로부터 포오트 사건 처리기 까지의 명령은 다이얼 음색의 송신, 다이얼 음색의 종단, 또는 호출되고 호출하는 전화기들의 링깅을 가능하게 한다. 포오트 사건 처리기는 이 명령들에 응답하여 제어 감시 정보를 발생시킨다. 제어 감시 정보는 포오트 그룹 간선로에 접속된 포오트 그룹 유니트로 송신되기 위해 디지탈 형태로 음성 정보를 삽입한다. 이때 대응하는 포오트 그룹 유니트는 명령에 응답하여 다수의 기능을 수행하고 특정한 포오트 회로를 통하여 가입자의 전화기 선과 전화기에 송신하기 위하여 디지탈 음성 데이타 신호를 아날로그 형태로 반전시킨다.Commands from the call control processor to the port event handler enable transmission of the dial tone, termination of the dial tone, or ringing of called and calling telephones. The port event handler generates control monitoring information in response to these commands. The control monitoring information inserts the voice information in digital form to be transmitted to the port group unit connected to the port group trunk. The corresponding port group unit then performs a number of functions in response to the command and inverts the digital voice data signal in analog form for transmission to the telephone line and telephone line of the subscriber via a particular port circuit.
미합중국 특허원 제924,883호에는 디지탈 전화 교환국으로 동작하는 이 일반적인 구조의 신호 호출처리 시스템이 기술되어 있다. 미합중국 특허원 제10,910호에는 보수 처리기와 관련해서 병렬로 동작하는 두개의 이러한 호출 처리 시스템을 포함하는 디지탈 전화 교환국에 대해서 기술되어 있다. 이 두개의 병렬 호출처리 시스템은 가입자와 간선로로부터의 입력 신호를 동시에 수신하고 동기로 동작한다. 그런, 이 호출처리 시스템 중의 한 시스템만으로 부터의 신호는 포오트 그룹 유니트를 통해 가입자와 간선로로 지나간다. 보수처리기 시스템은 두 개의 호출처리 시스템 사이의 동기화 손실, 짝수 홀수 착오 및 그외의 상태들을 분석한다. 이것은 두 개의 병렬 호출처리 시스템이 전화 회로망을 실제로 제어하는 것을 결정한다.U.S. Patent Application No. 924,883 describes a signal call processing system of this general structure that acts as a digital telephone exchange. US Patent Application No. 10,910 describes a digital telephone switchboard comprising two such call processing systems operating in parallel with a maintenance processor. Both parallel call processing systems simultaneously receive input signals from subscribers and trunk lines and operate synchronously. However, the signal from only one of these call processing systems passes through the port group unit to the subscriber and the trunk line. The maintenance processor system analyzes the synchronization loss, even odd error, and other conditions between the two call processing systems. This determines that the two parallel call processing systems actually control the telephone network.
이 형태의 디지탈 전화 교환국은 각각의 가입자 위치로부터 디지탈 중앙 전화 교환국의 위치까지 전화기선을 각각 사용해야 한다. 이것은 성능을 좋게 하고 가입자가 디지탈 전화 교환국 주위의 비교적 가까운 지역에 위치해 있거나 대충 널리 분산되어 있는 경우에 경제적이다. 그러나, 대부분의 응용을 하는 경우에, 전화 회로망 가입자들은 지리적으로 먼 곳에 위치하게 된다. 예를들면, 가입자들은 시골의 다수의 소도시에 살기도 하고 도시의 아파트에도 산다.This type of digital switching center must use a telephone line from each subscriber's location to the location of the digital central switching center. This improves performance and is economical when the subscriber is located in a relatively close area around the digital switching center or is roughly widely distributed. However, for most applications, telephone network subscribers will be geographically remote. For example, subscribers live in many small towns in rural areas and in apartments in cities.
이러한 응용에 있어서의 전화 회로망은 각각 접속을 행하기 위해 다수의 케이블과 결합한다. 이 케이블은 전기도체 이상의 것이라야 한다. 다수의 이득 장치가 이 도체들에 필요하게 되는데, 통상적으로 최소한 하나의 이득 장치가 각각의 가입자 선에 필요하게 된다. 그러므로 케이블 경비는 가입자의 수가 증가함에 따라 증가하게 된다. 또한, 대부분의 상태에서, 최대 통화량과 같은 이러한 회로망 내의 통화량은 매우 낮다. 그러므로, 전화기 선을 실제로 이용하면 경비가 매우 많이 들고 비효율적으로 된다.Telephone networks in these applications each combine with a number of cables to make a connection. This cable shall be more than an electrical conductor. Multiple gain devices are needed for these conductors, typically at least one gain device is needed for each subscriber line. Therefore, cable expenses increase as the number of subscribers increases. Also, in most states, the amount of call in this network, such as the maximum call amount, is very low. Therefore, the actual use of the telephone line is very expensive and inefficient.
집신기(集信機)는 디지탈 데이타 회로망 내의 데이타 채널을 효율적으로 이용할 수 있다. 기본적으로, 디지탈 데이타 회로망은 아날로그 형태로 통상의 전화 회로망 상으로 디지탈 정보가 이송되게 하기 위한 변조 및 복조기를 포함한다. 한 지역 내의 다수이 가입자들이 저속 데이타 이송만을 필요로할 때, 각각의 가입기는 두 개의 저속 변조 및 복조기에 의해 특정 위치에서 국부 집신기에 접속된다. 이 두 개의 저속 변조 및 복조기는 가입자의 위치와 집신기의 위치에 각각 배치되어 있다. 집신기 위치는 각각의 입력 전화선에 하나의 이러한 저속 변조 및 복조기를 갖게 된다. 디지탈 처리 회로는 데이타 처리 중심부의 고속 통로 내에 있는 고속 변조 및 복조기를 갖게 된다. 디지탈 처리 회로는 데이타 처리 중심부의 고속 통로 내에 있는 고속 변조 및 복조기로부터 수신되고 이 고속 변조 및 복조기에 인가되는 일련의 시간 다중화 고속 디지탈 펄스 열과 집신기의 저속 변조 및 복조기 사이의 디지탈 신호를 반전시킨다. 가끔 이 집신기들은 매우 정교해져서 매우 크게 집신한다.The collector can efficiently utilize data channels in the digital data network. Basically, digital data circuitry includes a modulation and demodulator for causing digital information to be transferred onto a conventional telephone network in analog form. When a large number of subscribers in an area need only slow data transfers, each subscriber is connected to the local concentrator at a particular location by two low speed modulation and demodulators. These two low-speed modulation and demodulators are located at the subscriber's position and the collector's position, respectively. The collector position will have one such slow modulator and demodulator on each input telephone line. The digital processing circuit will have a high speed modulation and demodulator in the high speed path of the data processing center. The digital processing circuit inverts the digital signal between a series of time multiplexed high speed digital pulse trains received from a high speed modulation and demodulator in the high speed path of the data processing center and applied to the high speed modulation and demodulator and the low speed modulation and demodulator of the current collector. Sometimes these concentrators are so sophisticated that they congregate very loudly.
그러나, 대부분의 응용 경우에, 실제 집신은 40 : 1 이하이다. 또한 이 방법은 종래의 음성 전화 방법에 응용하기가 쉽지 않다. 고속 데이타 회로망은 이용시에 경비가 많이 드는 특수 상태의 전화선과 가격이 비싼 소정의 변조 및 복조기를 필요로 한다. 실제로, 유한 주파수 대역을 가진 반송파를 만들거나 이 반송파에 응답하는 변조 및 복조기와 디지탈 처리 회로는 매우 복잡하고도 값이 비싼 독립 스위치들이다. 또한, 전화 회로망에 쉽게 응용할 수 있을지라도, 전화 시스템 내의 원격 위치에서 이 형태의 집신기 회로망을 대체하는 경제적인 잇점은 다른 방법으로 케이블을 절약하므로써 경제적으로 옳지 않게 된다.However, for most applications, the actual aggregation is 40: 1 or less. In addition, this method is not easy to apply to the conventional voice telephone method. High-speed data networks require special state telephone lines that are expensive to use and some expensive modulation and demodulators. Indeed, the modulation and demodulators and digital processing circuits that make or respond to carriers with finite frequency bands are very complex and expensive independent switches. In addition, although readily applicable to telephone networks, the economical advantage of replacing this type of collector network at remote locations within the telephone system is economically incorrect by saving cables in other ways.
전화 회로망에 응용할 수 있는 다른 방법은 가입자들 중심에 원격 포오트 유니트를 설치하고 디지탈 전화교환국의 아날로그 부분에 하나 이상의 선 대신에 접속되는 특정한 유니트와 이 각각의 가입자들 사이의 통신선의 수를 예를 들어 한개 내지 세개의 선으로 감소시키는 것이다. 그러나, 미합중국 특허원 제10,910호에 기술한 바와 같이 종래의 디지탈 전화 교환국 내에 제공된 다수의 보수 기능을 이 시스템에 제공하기가 어렵다.Another method that can be applied to the telephone network is to install a remote port unit at the center of the subscriber and to specify the number of communication lines between each subscriber and a particular unit connected in place of one or more lines in the analog part of the digital switching center. For example, to reduce one to three lines. However, as described in US Patent Application No. 10,910, it is difficult to provide the system with a number of maintenance functions provided in conventional digital telephone switching centers.
이러한 보수 기능 중의 하나는 미합중국 특허원 제10,910호에 기술한 시험 호출 기능이다. 이러한 시스템에서, 보수 처리기와 관련된 회로는 각각의 가입자들로부터 두 개의 전화선을 효율적으로 비접속시킬 수가 있고 한개의 이러한 선으로부터 시험 엑세스(access) 릴레이를 통해 다른 선으로 선정된 호출을 완전하게 할 수 있다. 이것은 특히 예비 보수와 그외의 다른 진단 기능을 행하는데 매우 유용한 보수 공구를 제공한다. 그러나, 이 시스템에서, 모든 포오트그룹 유니트는 디지탈 전화 교환국에 있으므로 보수 처리기 및 이에 관련된 회로와 포오트 그룹 유니트 및 포오트 회로의 시험 엑세스 릴레이 사이의 상호 접속이 쉽게 이루어진다. 여기에는 시험 억세스 릴레이와 그 외의 다른 스위칭 회로망을 통해 모든 시험 호출을 제공하는 단일 시험 호출 발생기도 있다. 그러나, 이 형태의 시험 호출 발생기는 원격 포오트 유니트에 적용하기가 쉽지 않다. 이러한 응용은 시험 억세스 계진기에 개별 접속을 해야 하므로 케이블 가격을 증가시킨다. 또한, 생성되어 송신되어야 할 음색과 이러한 음색을 제어하는 데 필요한 정보를 얻기가 어렵다.One such repair function is the test call function described in US Patent Application No. 10,910. In such a system, the circuitry associated with the maintenance processor can effectively disconnect two telephone lines from each subscriber and complete the selected call from one such line to the other via a test access relay. have. This provides a particularly useful maintenance tool for performing preliminary maintenance and other diagnostic functions. In this system, however, all port group units are at a digital telephone exchange, so that the interconnection between the maintenance processor and its associated circuits and the test access relays of the port group unit and port circuits is facilitated. There is also a single test call generator that provides all test calls through test access relays and other switching circuits. However, this type of test call generator is not easy to apply to a remote port unit. This application adds to the cost of the cable because it requires separate connections to the test access meter. In addition, it is difficult to obtain the tone to be generated and transmitted and the information necessary to control the tone.
그러므로, 본 발명의 목적은 원격 포오트 유니트를 시험하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide a method and apparatus for testing a remote port unit.
본 발명의 다른 목적은 원격 포오트 유니트의 다른 진단이 필요한지의 여부를 결정하기 위한 장치를 제공하는 간단한 시험을 행하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for performing a simple test that provides an apparatus for determining whether another diagnosis of a remote port unit is needed.
본 발명의 또 다른 목적은 일정한 기선 상에 이 호출들을 쉽게 만들게 하는 원격 포오트 유니틀를 시험하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.It is yet another object of the present invention to provide a method and apparatus for testing a remote port unit that makes it easy to make these calls on a given baseline.
본 발명의 또 다른 목적은 초기 시험이 고장난 것을 지시할 때 쉽게 진단하는 원격 포오트 유니트를 시험하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.It is yet another object of the present invention to provide a method and apparatus for testing a remote port unit that easily diagnoses when an initial test indicates a failure.
본 발명에 따르면, 원격 가입자 선은 원격 포오트 유니트와 통신 회선을 통하여 디지탈 중앙 스위치에서 접속 장치에 접속된다. 자동 시험 회로는 명령을 할때 설계된 원격 가입자 선이 원격 시험 억세스 계전기를 통해 비접속되게 하고 원격 가입자 선과 자동시험 회로 사이의 호출을 완전하게 하는 접속 장치와 상호 작용한다. 이때 자동시험 회로는 원격 위치에 대한 제1음색을 발생시킨다. 원격 위치가 제1음색을 연속적으로 수신할 때, 이것은 연속적으로 선정된 시간 특성을 가진 다이얼 펄스와 제2음색을 송신한다. 자동시험회로는 시험이 연속적으로 완전히 이루어지는 가의 여부를 결정하도록 수신된 음색과 다이얼 펄스를 감시한다. 만약에 그렇지 않으면, 자동시험 회로를 반속해서 사용하는 것을 포함하는 부수적인 수단들이, 발생되는 문제를 분리시키기 위해서 접속 장치를 통해 취해질 수 있다.According to the invention, the remote subscriber line is connected to the connection device at the digital central switch via a communication line with the remote port unit. The automatic test circuit interacts with the connecting device, which makes the remote subscriber line designed when making a command disconnect through the remote test access relay and completes the call between the remote subscriber line and the automatic test circuit. The automatic test circuit then generates a first tone for the remote location. When the remote location receives the first tone continuously, it transmits a second tone and a dial pulse with successively predetermined time characteristics. The automatic test circuit monitors the incoming tone and dial pulses to determine whether the test is completed in series. If not, additional measures can be taken through the connecting device to isolate the problem that arises, including the use of automated test circuits at regular intervals.
그러므로, 본 발명은 용이하고도 신속하게 행해지는 간단한 시험을 제공한다. 이것은 접속 장치와 상호작용 하도록 자동시험 회로를 필요로 하고 각각의 원격 포오트 유니트에 시험 회로를 추가시켜야 한다. 한 실시예에서, 디지탈 전화 교환국은 자동 보수 장치를 포함하고 시험은 디지탈 중앙 스위치 상의 포오트에 자동시험 회로를 접속시키므로서 용이하게 계획을 작성하게 된다. 또한, 이 시험이 잘못되면, 부수적인 시험이 문제를 분리시키기 위해 행해질 수도 있다.Therefore, the present invention provides a simple test that is done easily and quickly. This requires an automatic test circuit to interact with the interface and add a test circuit to each remote port unit. In one embodiment, the digital telephone exchange includes an automatic maintenance device and the test is facilitated by connecting the automatic test circuit to the pot on the digital central switch. In addition, if this test is wrong, ancillary tests may be made to isolate the problem.
본 발명은 특히 청구의 범위에 상세하게 기술되어 있다. 본 발명의 상술한 목적 및 그외의 도 다른 목적과 장점들은 도면을 참조하여 상세하게 기술한 다음의 설명으로부터 쉽게 알 수가 있다.The invention is particularly described in detail in the claims. The above and other objects and advantages of the present invention can be easily seen from the following description described in detail with reference to the drawings.
A. 전화 회로망A. Telephone Network
제1도는 다수의 집신 레벨을 제공하는 전화 시스템을 도시한 것이다. 제1도에 도시한 전화 회로망의 중심부에는 미합중국 특허원 제10,910호와 제924,883호에 기술한 형태의 디지탈 전화 교환국(Digital central office ; DCO)(10)이 있다. 다수의 국부 전화기 선(11)은 디지탈 전화 교환국(10)으로부터 나와서 상술한 응용에 따라 다수의 국부 가입자에 접속된다.1 illustrates a telephone system providing multiple levels of aggregation. At the heart of the telephone network shown in FIG. 1 is a digital central office (DCO) 10 of the type described in US Patent Nos. 10,910 and 924,883. A number of local telephone lines 11 come out of the digital
이 특정 회로망은 "원격" 가입자가 다수의 운격 위치(A 내지 G) 주위에 몰려 있는 시스템의 실시예를 도시한 것이다. 다수의 전화기 선(12)는 원격 디지탈 위성 유니트(Remote digital Satellite Unit ; RDSU)(13A 내지 13G)를 각각 포함하는 원격 포오트 유니트에 위치(A 내지 G)에서 이 원격 가입자들을 상호 접속시킨다.This particular network depicts an embodiment of a system in which "remote" subscribers are clustered around a number of shipping positions (A to G).
각각의 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 디지탈 위성 접속 장치(DSI)(14)와 다중 통로 통신회선(15)를 통하여 디지탈 전화 교환국(10)에 접속되고 이 교환국에 응답하여 동작한다. 예를들면, 디지탈 위성 접속장치(14A)는 통신회로(15A)를 통해 원격 디지탈 위성 유니트(13A)에 접속된다. 이때 그외의 디지탈 위성 유니트(13B, 13C 및 13D)는 통신회선(15B 내지 15D)에 의해 상호 접속되어 디지탈 위성 유니트(14A)로 부터 양호한 연쇄 접속을 이룬다. 이 형태의 접속은 원격 가입자들의 크루스터(cluster)가 디지탈 전화 교환국 위치로부터 피진 선을 따라 분산된 경우에 매우 적합하다. 디지탈 위성 장치(14E), 통신 선(15E), 및 원격 디지탈 위성 유니트(13E)는 도시의 아파트에서 매우 유용하게 사용될 수 있는 접속 형태를 나타낸다.Each remote
특히 상술한 실시예에서, 각각의 원격 디지탈 위성 유니트는 위치 E에 도시한 것과 같은 다수의 240 가입자 전화기 선에 접속될 수 있고, 각각의 디지탈 위성 접속장치는 240 가입자로 부터의 통화량을 조절할 수 있다. 이러한 원격 디지탈 위성 유니트(13)에 각각 접속된 전형적인 다수의 가입자는 제1도에 도시되어 있다. 또한, 30개의 디지탈 위성 접속장치(14)가 단일 디지탈 전화 교환국에 접속될 수도 있다.In particular in the embodiments described above, each remote digital satellite unit can be connected to a number of 240 subscriber telephone lines as shown at location E, and each digital satellite connection can adjust the volume of calls from 240 subscribers. . A typical number of subscribers, each connected to such a remote
일반적인 관점으로 부터, 제1도의 회로에서 이러한 회로망에 연결된 케이블이 여실히 감소될 수 있다는 것을 알 수 있다. 각각의 통신회선(15)는 한개, 두개 또는 세개의 데이타 통로를 포함할 수 있다. 그러므로, 80 : 1에서 240 : 1까지 케이블을 감소시킬 수가 있다. 이루어질 수 있는 실제적인 집신은 다수의 원격 가입자의 통화량과 통신회선(15)의 용량에 따라 결정된다.From a general point of view, it can be seen from the circuit of FIG. 1 that the cables connected to this network can be reduced in size. Each
이후에 기술한 바와 같이, 이 실시예에서의 통신회선(15)는 시간 분할 다중 통로 위의 펄스 부호 변조 신호를 이송한다. 각각의 디지탈 위성 접속 장치(14)는 디지탈 전화 교환국에 접속되고 디지탈 전화 교환국(10)의 포오맷(format)과 각각의 통신회선(15)의 포오맷 사이의 음성 및 감시 정보를 반전시킨다. 디지탈 위성 접속 장치(14)는 감시 및 음성 데이타 신호를 다시 형성하기도 하고 이 전화기 선이 전화기 대화용으로 사용될 때 특정한 원격 가입자에게 통신선(15)상의 특정한 시간 슬롯트, 또는 채널을 배당한다. 통상적으로 통신선(15)상의 유용한 채널 수는 가입자 선의 수 보다 작다.As will be described later, the
각각의 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 이 유니트(13)으로 부터 나오는 종래의 전화기 선과 통신회선(15)사이에 접속 장치를 제공한다. 이것을 전화기 또는 가입자 선 사이의 음성 신호를 결합하고, 가입자에 의한 활동에 응답하여 감지 감시 정보를 만들면, 통신회선(15)로 부터 수신된 제어 감시 정보에 응답한다. 또한, 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 감시 정보를 다시 형성하고, 수신하는 제어 감시 정보에 응답하여 적당한 전화기 선에 정보를 송신하며 전화기 선상의 아날로그 음성 신호를 송신하고 수신하는데 필요한 아날로그/디지탈 변환을 행한다.Each remote
제2도는 미합중국 특허원 제10,910호에 기술한 전화 시스템을 수정한 도면으로, 제4도에서 절취하여 도시한 것이다. 또한 제2도에는 단일 디지탈 위성 접속 장치(14), 경간(span)이라고 불리우는 통신선(15), 및 원격 가입자의 크루스터에서 나오는 다수의 전화기 선(12)를 가진 원격 디지탈 위성 유니트(13)이 도시되어 있다. 상술한 음용의 설명과 공통인 소자들은 동일한 참조 번호로 표시되어 있다. 특히, 100 내지 399가지의 참조 번호는 미합중국 특허원 제10,910호에 있고 400 내지 499까지의 참조 번호는 미합중국 특허원 제924,833호에 있다. 이것들의 기능은 공지된 바와 같이, 특정한 소자들만을 상호 접속한다. 특히, 디지탈 위성 접속 장치(14)는 네개의 지점에서 이 시스템이 접속된다. 첫째, TSI 매트릭스 스위치(A 200)과 TSI 매트릭스 스위치(B 100)으로 부터 포오트 그룹 간선로와 디지탈 위성 접속 장치를 상호 접속하는 포오트 그룹 간선로 접속부(16)이 있다.FIG. 2 is a modified view of the telephone system described in US Patent Application No. 10,910, which is cut away from FIG. Also shown in FIG. 2 is a remote
두번째 접속은 호출 처리기 모선 접속장치(Call processor bus interface ; CBI)에 의해서 호출 처리 시스템에 접속되는 것이다. 특히, CBI "A" (17A)는 디지탈 위성 접속장치(14)와 CPU "A"(204) 사이에 통신로를 설정하고, CBI "B"는 디지탈 위성 접속장치(14)와 CPU "B"(104) 사이에 통신로를 설정한다. 각가의 CBI(17)은 다수의 다른 디지탈 위성 접속 장치에(즉, 한 실시예에서 30개 모두에) 접속될 수 있다. 각각의 호출 처리 모선 접속 장치(17)은 대응하는 호출 처리기(408)과 경용할 수 있는 포오맷과 디지탈 위성 접속장치(14) 사이의 데이타를 수정한다. 각각의 CBI(17)은 이것의 호출 처리 유니트(408)에 들어가도록 요구하기 위해 이것의 대응하는 디지탈 위성 접속장치(14)를 선택(poll)한다. 또한, 각각의 CBI(17)은 오차를 검출하고 특정한 디지탈 위성 접속장치(14)를 방해하여 이 접속장치를 통해 아무 동작도 못하게 한다.The second connection is to be connected to the call processing system by a call processor bus interface (CBI). In particular, CBI " A " 17A establishes a communication path between the
디지탈 위성 접속회로(14)와 디지탈 전화 교환국(10)사이의 세번째 접속은 보수 처리기(300)과 디지탈 위성 접속장치(14) 사이에 통신로를 설정하는 보수 모선 접속장치(Maintenance bus interface ; MBI)환충기(18)에 의해서 이루어진다. MBI완충기(18)은 호출 처리 모선 접속장치(17)에 접속된 각각의 디지탈 위성 접속 장치에도 접속된다. MBI 완충기(18)은 보수 처리기(300)의 모선상의 신호 포오맷과 디지탈 위성 접속장치(14)에서의 신호 포오맷 사이에 반전을 제공한다. 이것은 시간을 수정하고, 어드레싱을 확장하며, 접속된 디지탈 위성 접속 장치(14)가 보수 처리기(300)과 통신하고자 할 때를 결정하도록 선택 동작도 행한다.The third connection between the digital
디지탈 위성 접속장치(14)와 디지탈 전화 교환국(10)사이의 네번째 접속은 두 개의 호출 처리 시스템이 전화기 회로망을 실제로 제어하는 것을 설정하는 스위치 과도상태 제어회로(301)에 접속되는 것이다.The fourth connection between the
이 처음의 세개의 접속은 디지탈 위성 접속장치(14), 통신회선(경간)(15), 및 원격 디지탈 위성 유니트(13)이 제2도에 도시한 보수 처리기(300)과 호출 처리 시스템(408A 및 408B)의 제어에 응답하여 동작하게 하는 공동 통신로들을 제공한다. 그러나, 이 동작은 실제 회선의 최소 변화로 이루어진다. 주요 변화는 호출 처리 시스템(408)과 보수 처리기(300)에 의해 이용되는 제어 기능에서 나타난다. 그러므로, 제2도에 도시한 호출 처리 시스템(408)의 발생 가능성이 포함되고 본 발명과 관련되어 이용되어, 호출 처리 효율을 더욱 증가시키고 경비를 절감시킨다.These first three connections were made by the digital
상술한 바와 같이, 포오트그룹 유니트(402)는 포오트 회로(19)를 통하여 다수의 국부 가입자 선(11)에 제1도에 도시한 디지탈 전화 교환국(10)을 상호 접속한다. 그러나, 본 발명의 한 형태에 따른 이 특정한 실시예에서, 보수 처리기(300)과 협동하여 원격 디지탈 위성 유니트(13)에서 회로를 시험하는 자동 시험 회로(20)은 포오트 그룹 제어기에 접속된 간선로 접속 회로에 접속되어 있다.As described above, the port group unit 402 interconnects the digital
B. 통신 회선 15
제2도에 도시한 다수의 소자들의 특정한 구조를 부분적으로 경간(15)의 양단의 신호화 특성에 따라 결정된다. 그러므로, 경간(15)에 대해 더욱 상세하게 기술하겠다. 경간은 두 개의 원격 지점 사이에 있는 공지된 차등 전기 접속부이다. 이후에 기술한 바와 같이, 경간(15)는 독립적으로 동작하는 두 개 또는 세 개의 경간 회로 또는 통로를 포함할 수 있다. 직각의 경간 회로는 다수의 시간 영역 채널을 정한다. 이 채널상의 데이타 신호의 특정한 구성과 목적은, 전 후 슈퍼프레임(superframe) "n-1"과 "n")부분과 함께 일련의 비트 대열로 한개의 경간 회로 위로 지나가는 단일"슈퍼프레임"(즉, 슈퍼프레임 "n+1")의 구성을 도시한 제3도에 나타나 있다.The particular structure of the plurality of elements shown in FIG. 2 is determined in part according to the signaling characteristics of both ends of
각각의 슈퍼프레임은 12개의 연속프레임(프레임 번호 1내지 12)를 포함한다. 차례로, 각각의 프레임은 24개의 8-비트 워드(word)를 형성하는 193개의 비트와 한개의 동기 비트를 포함한다. 본 발명에 따르면, 각각의 워드의 시간 간격은 채널에 대응한다. 그러므로, 워드 번호 1은 채널 1에 대응하고, 워드 번호 24는 채널 24에 대응한다. 또한, 제3도의 우측에 도시한 바와 같이, 각각의 프레임은 동기 비트를 종결시키고 슈퍼프레임의 동기 비트 패턴은 동기 손실을 쉽게 검출할 수 있도록 선정된다. 이 도면에서, "D"는 음성 데이타로 해석되는 신호를 나타낸다.Each superframe includes 12 consecutive frames (
12개의 프레임 중 2개는 감시 정보데 대응하는 정보를 이송하여 경간 양단에 명령한다. 이것은 6번째와 12번째 프레임 시간동안 실시되는 "비트 훔치기(stealing)"에 의해 이루어진다. 6번째 프레임 동안에, 각각의 워드 1 내지 24내의 최소한 중요한 비트(비트8)은 대응 채널에 배당된 가입자의 원격 디지탈 위성 유니트(13)으로 부터의 감지 감시 정보에 응답하여 "A"신호화 비트로 부호화된다. 예를 들어, 가입자가 오프-후크(off-hook)하여 채널 7을 배당 받으면, 오프-후크 정보는 A7 비트시간(즉, 6번재 프레임 내의 워드 번호 7의 최소한 중요한 비트) 동안 송신된다. 그러므로, 6번째 프레임 동안, 24가입자용 감지 감시 정보는 원격 디지탈 위성 유니트(13)으로부터 디지탈 위성 접속장치(14)로 송신된다.Two of the twelve frames carry surveillance information and command it across the span. This is done by "bit stealing" during the 6th and 12th frame times. During the sixth frame, at least significant bits (bits 8) in each
각각의 워드 1내지 24내의 최소한 중요한 비트들은 12번째 프레임 동안 "B" 신호화 비트를 구성한다. 이 실시예에서, "B" 신호화 비트는 디지탈 위성 접속 장치(14)와 이것의 원격 디지탈 위성 유니트(13) 사이로 24-비트 메시지를 이송시키기 위해 사용된다.The least significant bits in each
6번재와 12번째 프레임 동안 각각의 워드 내의 최소한 중요한 비트들을 포함하고 있는 데이타 워드를 내의 모든 정보는 포오트그룹 간선로(16)에도 이송된다. 6번째와 12번째 프레임 동안 오차가 생기게 되지만, 이 오차는 가입자가 궁극적으로 듣게 되는 음질을 크게 감소시키지 않는다.All information in the data word containing at least significant bits in each word during the sixth and twelfth frames is also transferred to the
그러므로, 제3도는 다수의 채널을 정하는 시간 분할 다중 시스템의 특정한 실시예를 도시한 것이다. 이후에 기술한 바와 같이, 각각의 이 채널들은 특정한 가입자 선이 사용되는 경우에 이 가입자 선에 배당된다. 또한 이것은 각각으 프레임이 125 마이크로 초를 필요로 하는 한 특정한 실시예에서 2,000바이트/초의 "A" 및 "B" 비트 신호화 비율과 같은 "A" 및 "B" 신호화 비트용 신속 이송 기술을 제공한다.Hence, FIG. 3 illustrates a particular embodiment of a time division multiple system that defines a number of channels. As described later, each of these channels is assigned to this subscriber line when a particular subscriber line is used. It also provides fast transfer techniques for "A" and "B" signaling bits, such as the "A" and "B" bit signaling rates of 2,000 bytes / second in certain embodiments, as long as each frame requires 125 microseconds. to provide.
이 선에 따른 회로는 경간 장치이다. 제4도는 디지탈 위성 접속회로(Digital satellite interface ; DSI)(14) 내의 경간장치에 결합된 세개의 격리 경간(15)를 도시한 것이다. 특히, 디지탈 위성 접속장치(14)는 경간 0 장치(21), 경간 1 장치(22), 경간 2장치(23)을 포함한다. 경간 장치(21 내지 23)은 각각 TSI 매트릭스 스위치 A(200)과 TSI 매트릭스 스위치 B(100)에 접속된다.The circuit along this line is a span device. 4 shows three isolation spans 15 coupled to a span device within a digital satellite interface (DSI) 14. In particular, the digital
경간장치는 각각 경간 송신기, 경간 수신기 및 경간 접속장치를 포함한다. 송신기는 포오트 그룹 간선로 접속부(16)으로 부터 데이타를 받아 들이고 제3도에 도시한 등기 패턴을 추가하여 경간을 간단하게 하는 데이타를 형성하며, 경간(15)를 구동시키는 전화 교환국 중 계기(24)(즉, 증폭 회로) 위로 연속적으로 이송시키기 위해 경간 접속장치에 정보를 송신한다. 경간 수신기는 경간 접속장치로 부터의 입력 데이타를 동기시키고 포오트 그룹 간선로 접속부(16)과 겸용될 수 있는 형태와 비율로 이것을 변화시킨다. 경간 접속장치는 디지탈 위성 접속장치(14), 포오트 그룹 간선로 접속부(16), 및 전화 교환국 중 계기(24) 사이에 적당한 신호 레벨과 경간장치용 시간을 제공한다.The span device includes a span transmitter, a span receiver and a span connector, respectively. The transmitter accepts data from the port group
또한, 경간 송신기는 디지탈 전화 교환국(10)에 장치를 동기시키고, 경간 포오맷 속에 포오트 그룹 간선로 접속부(16)상에 신호를 형성하며, 각각의 슈퍼 프레임용의 정확한 동기 패턴을 이루기 위해서 각각의 프레임 단부에서 정확한 동기 비트를 삽입하고, 경간(15) 위로 연속적으로 송신하기 위해 경간 접속장치에 데이타를 이송한다. 경간 수신기는 입력 경간 데이타를 동기시키고 포오트 그룹 간선로 접속부(16)과 겸용 하기 위한 데이타를 형성한다. 이것은 또한 포오트 그룹 간선로 접속부(16)상에 음성 데이타와 감시 데이타도 보낸다. 경간 접속장치는 디지탈 위성 접속장치(14)를 포오트 그룹 간선로 접속부(16)과 전화 교환국 중계기(24)에 상호 접속시킨다. 이 회로는 비트 오차 비교기를 포함할 수도 있다. 그러므로, 각각의 경간 장치는 TSI 매트릭스 스위치(100 및 200)과 경간(15)사이에 통로를 제공하게 된다.The span transmitter also synchronizes the device to the
본 발명은 쉽게 이해하기 위해서, 다수의 통신로, 즉(1) 호출 처리기-디지탈 위성 접속장치 통로,(2) 디지탈 위성 접속장치-원격 디지탈 위성 유니트 통로, 및 (3) 보수 처리기-디지탈 위성 접속장치 통로를 설정하는 다수의 회로 구성 및 동작에 대해서 기술하겠다.In order to facilitate understanding of the present invention, a plurality of communication paths, i.e., (1) call processor-digital satellite interface passages, (2) digital satellite interface-remote digital satellite unit passages, and (3) maintenance processor-digital satellite connection A number of circuit configurations and operations for establishing device passages will be described.
C. 호출 처리기-디지탈 위성 접속장치 통로C. Call Handler-Digital Satellite Access Channel
호출 처리기-디지탈 위성 접속장치 통로는 제4도에 도시한 바와 같은 호출 처리기 모선 접속회로(17A 및 17B) 중의 하나와 각각의 호출 처리기 시스템(408A 및 408B)를 포함한다. 디지탈 위성 접속장치(14)내의 독립적으로 동작할 수 있는 형성기 회로(25A 및 25B)는 접속회로(17A 및 17B)에 각각 접속되고 제어 처리기(27)에 결합한 모선(26), 처리기(27)에 의해 이용되는 메모리(28), 및 완충기(29)의 통로를 형성한다. 완충기(29)는 디지탈 위성 접속장치(14)와 대응하는 원격 디지탈 위성 유니트(13) 사이의 통신로 부분이다. 또한 이 완충기(29)는 모선(26)과 경간 장치(21 내지 23) 사이의 입력/출력 접속 장치로 작용한다. 진단회로(30)은 모선에 접속되고, 보수 처리기-디지탈 위성 접속 장치 통로와 관련해서 후에 기술되어 있다.The call processor-digital satellite interface includes one of the call processor busbar connection circuits 17A and 17B and respective
제5도는 한개의 호출 처리기 모선 접속회로(CBI)(17)을 도시한 것이다. 이것은 호출 처리기(408A 및 408B)중의 대응하는 한개의 처리기로 부터 모선까지 접속된 수신기-구동기(1710)과 형성기(25A 및 25B)중의 대응하는 한개의 형성기에 접속된 모선 수신기(1711) 및 모선 구동기(1712)를 포함한다. 각각의 호출 처리기 모선 접속회로(17)은 대응하는 형성기로 대응하는 호출 처리기 모선을 연장시킨다. 어드레스 신호는 어드레스 래치회로(1713)에 결합되고, 어드레스가 특정한 디지탈 접속장치(14)와 결합한 위치에 대응하는 경우에 선택적으로 멀티플렉서(1714)를 통해 구동기(1712)에 결합된다. 또한 호출 처리기(408)로 부터의 데이타는 수신기-구동기(1710)으로 부터 멀티플렉서(1714)를 통해 모선 구동기(1712)로 이송된다. 다른 회로들은 통신할 수 있게 하기 위해서 다수의 지연 및 제어를 설정한다. 데이타가 회수되면, 이 데이타는 모선 수신기(1711)에서 수신되어 수신기-구동기(1710)에 이송된다. 짝수 홀수 회로(1715)는 짝수 홀수 오차를 감시한다.5 shows one call processor bus bar connection circuit (CBI) 17. This is the bus receiver 1711 and the bus driver connected to the receiver-
또한, 각각의 CBI(17)은 구동기(1717)을 통해 CBI(17)에 접속될 수 있는 다수의 복수 접속 장치를 선택하는 카운터(1716)을 포함한다. 호출 처리기(408)이 CBI (17)과 통신하지 않을 때 이 선택 동작이 생긴다. 디지탈 위성 접속 장치가 수리되어야 할 때, 정보는 모선 수신기(1711)로부터 각각의 호출 처리기(408)에 의해 주기적으로 심문되는 상태 래치회로(1718)로 이송된다.Each CBI 17 also includes a counter 1716 that selects a plurality of multiple connection devices that may be connected to the CBI 17 via a driver 1917. This selection operation occurs when the
또한 특정한 접속장치(14)를 "마스트 아우트(mask out)"시킬 수도 있다. 마스크 랜돔 억세스 메모리(RAM) (1720)은 수신기-구동기(1710)과 멀티플렉서(1721)을 통하는 적당한 마스셜 비트로 부하될 수 있다. 카운터(1716)은 매번 선택하는 동안 접속 장치를 확인하고, 숫자는 멀티플렉서(1721)을 통해 이송되며 마스크 RAM (1720)은 대응하는 접속장치가 마스크 아우트 된 경우에 마스크 신호를 발생한다. 그러나, 이 마스킹은 접속장치(14)의 각각의 호출 처리기(408)사이의 통신을 방해하지 않는다.It is also possible to "mask out" the
상술한 바와 같이, 제4도와 제6도에 도시한 것과 같은 형성기(25)는 호출 처리기(17)로 부터 데이타를 수신하여 이 데이타를 제4도에 도시한 처리기(27)로 이송하고 처리기(27)로 부터의; 데이타를 호출 처리기(17)로 이송한다. 형성기(25)를 통하는 통신은 메시지 형태로 되어 있다. 입력 메시지는 제6도에 도시한 모선 수신기(2510)는 제5도에 도시한 모선 구동기(1712)로 부터 수신된다. 이 메시지들은 8-비트 바이트에의해 연속적으로 송신되어 선입선출법 메모리(First-in/First-out; FIFO) (2511)내로 이송된다. 입력 FIFO 제어기(2512)는 모선 수신기(2510)으로부터 입력 FIFO (2511)까지 제어 이송하고 표준 프로그램 접속 아답터(2513)으로 제어 이송한다. 호출 처리기(408)이 접속장치(14)에 메시지를 보낼때 마다, 이것은 대응하는 입력 FIFO (2511)를 어드레스 하고 모선 수신기(2514) 내에 수신된 대응하는 제어 신호로 입력 FIFO (2511) 내에 부하되고 공통 제어 어드레스 해독 및 래치회로(2515)에 결합될 데이타를 보낸다. 입력 FIFO 제어기(2512)는 입력 FIFO (2511) 속으로 데이타를 전이시키는 것에 응답한다. 공지된 바와 같이, 이러한 FIFO에 입력으로 되는 데이타는 자동적으로 출력으로 전이된다. 데이타 바이트가 입력 FIFO의 출력에 있을 때, 입력 FIFO 제어기(2512)는 프로그램 접속 아답터(2513)의 입력에 대한 바이트 유용 신호를 발생시키고, 이후에 이 정보는 전이신호에 의해서 FIFO(2511)로 부터 프로그램 입력 아답터(2513)의 데이타 입력 속으로 전이된다.As described above, the former 25 as shown in Figs. 4 and 6 receives data from the call processor 17, transfers this data to the
메시지가 호출 처리기(408)로 이송되면, 이것은 출력 FIFO 제어회로(2517)의제어 상태하에 출력 FIFO (2516)을 통해 지나간다. 출력 FIFO (2516)이 공백 상태로 되면, 제어기(2517)은 프로그램 접속 아답터(2513)에 재송신(RESEND) 신호를 송신한다. 메시지가 데이타 선상의 출력 FIFO (2516)으로 송신되면, 전이 신호도 송신된다. 메시지가 송신된 후, 출력 FIFO 제어기(2517)은 재송신(RESEND) 신호를 착신한다. 또한, 출력 FIFO 제어기(2517)은 상태 레지스터(2518) 내의 보수 요청(SERVICE REQYEST) 비트를 셋트한다.When the message is sent to the
각각의 호출 처리기(408)은 각각의 형성기(25)내의 상태 레지스터(2518)을 주기적으로 어드레스하고 모선 구동기(2520)을 통하여 지나가는 제어 신호에 따라 모선 구동기(2519)를 통하는 상태 레지스터를 해독한다. 출력 FIFO (2516)이 메시지를 포함하는 것을 호출 처리기(408)이 결정할 때, 이것은 출력 FIFO(2516)을어드레스하고 출력 FIFO 제어기(2517)의 제어상태 하에서 나타나는 연속적인 메시지 바이트를 해독한다. 메시지가 완전해지면, 출력 FIFO 제어기(2517)은 재송신 신호를 내보내므로, 다른 메시지가 송신되게 한다.Each
형성기(25)가 호출 처리기 모선 접속 장치에 접속될 수 있는다수의 디지탈 위성 접속 장치에 각각 포함되어 있으면, 호출 처리기(408)은 우선 디지탈 위성 접속 장치를 확인하고 다음에 형성기를 어드레스 하도록 공통 어드레스를 사용하므로서 특정한 형성기(25)와 통신한다. 그러므로, 특정한 디지탈 위성 접속장치가 선택된 후에, 특정한 형성기 어드레스가 모든 형성기의 어드레스와 공통이라고 할지라도 이 접속 장치내의 형성기 만이 다음 신호들에 응답하게 된다. 이 상태는 호출 처리기(408)이 디지탈 위성 유니트를 해제하여 "비선택"하는 다른 메시지를 송신할 때 까지 나타난다.If the formatter 25 is included in each of a number of digital satellite connection devices that may be connected to the call processor busbar connection device, the
짝수 홀수회로(2521)은 짝수 홀수 오차를 검출하고 상태 레지스터(2518) 내에 짝수 홀수 오차 비트를 셋트하기 위해 모든 어드레스와 데이타를 조사한다.The even odd circuit 2521 detects even odd errors and examines all addresses and data to set the even odd error bits in the
데이타 완충기(2522)는 처리기(27)과 프로그램 접속 아답터(2513)사이에 접속된다. 이것은 프로그램 접속 아답터(2513)이 제어 동작을 행하게 하는 처리기(27)과 메모리(28)에 대한 다수의 접속부를 포함한다.The
형성기가 제2도에 따라 구성된 회로망에 사용되면, "A" 또는 "B" 시스템으로 표시한 호출 처리 시스템중의 한 시스템은 실제로 스위칭 제어 작용을 한다. A/B 선택회로(2523)은 "A" 또는 "B" 호출 처리기에 형성기(25)를 접속하는 것에 따라 셋트되는 A/B 확인 스위치를 포함한다. 처리기(27)은 제4도의 형성기 (25A 및 25B) 내의 출력 FIFO (2516)에 데이타를 송신하게 된다. 그러나, 이것은 선택된 호출처리기(408A 또는 408B) 에 접속된 형성기에만 응답하게 된다. 특히, 제2도의 스위치 과도상태 제어기(301)과 경간장치로 부터의 선택 A/B 신호는 제6도에 BSELO 신호로 나타난다. 이 신호가 나오면 형성기(25A) 내의 데이타 완충기(2523)이 동작하게 되고 형성기(25B) 내의 데이타 완충기가 정지하게 되어 "A"시스템이 호출 공정을 제어한다. BSELO 신호가 나오지 않으면, "B"시스템이 호출 공정을 제어한다. 경간 0 장치(21)이 제거되면, SCPO 신호가 나오게 되어, 동일한 정보를 이송하는 경간 1 장치(23)으로 부터의 BSEL 1 신호가 이용된다.When the former is used in a network constructed in accordance with FIG. 2, one of the call processing systems, labeled "A" or "B" system, actually acts as a switching control. The A /
제4도에 도시한 호출 처리기(408)와 접속장치(14)사이를 통신하려면 처리기(27)과 메모리(28)을 상호 작용시켜야 한다. 처리기(27)과 메모리(28)은 종래의 마이크로프로그램 디지탈 컴퓨터 시스템을 포함한다. 처리기(27)은 제7도에 도시되어 있고 메모리(28)은 제8도에 도시되어 있다. 이 특정한 실시예에서의 처리(27)은 모토로라 6800 마이크로 프로그램 디지탈 데이타 처리 시스템이다. 이것은 클럭 발생기(2711), 정지/단일 수단 제어기(2712), 리셋트 발생기(2713), 프로그램 접속 아답터(2714), 및 감시 타이머(2715)를 포함하는 다수의 다른 유니트들에 접속된 마이크로 처리기 유니트(2710)을 포함한다.In order to communicate between the
클럭 발생기(2711)은 다수의 처리 수단을 통하여 MPU(2710)을 차례로 처리하는데 필요한 다수의 클럭신호를 공급한다. 6밀리 초마다 또는 다른 선정된 시간마다, 완충기(29)는 MPU (2710)이 프로그램 접속 아답터(2714)에 접속되지 못하게 하여 DSI 프로그램을 구성하는 정규 호출 처리 또는 보수 및 관리 작용을 시작하도록 6밀리초 클럭(CLOCK) 신호를 발생시킨다. 이러한 보수 기능 또는 작용은 완충기(29), 경간 수신기 및 경간 송신기로부터 프로그램 접속 아답터(2714)에 나타난 알람 입력을 시험하는 것이다.The
정지/단일 수단 제어기(2712)는 고장 탐구 역할을 하고 MPU(2710)이 정상 주기로 작동하지 못하게 한다. 감시 타이머(2715)는 MPU (2710)이 다수의 기능을 행할 때에 정상적으로 주기적으로 리셋트된다. 그러나, MPU가 감시 타이머(2715)를 리셋트하는 정상 모우드로 이것의 기능을 실시하도록 고정하면, 타이머(1715)는 정지하게 되고 회복 순서를 시작하도록 MPU (2710)가 동작하지 못하게 한다.The stop / single controller 2712 acts as a fault quest and prevents the MPU 2710 from operating in a normal cycle. The watchdog timer 2715 is normally reset periodically when the MPU 2710 performs a number of functions. However, if the MPU is locked to perform its function in the normal mode of resetting watchdog timer 2715, timer 1715 will stop and prevent MPU 2710 from operating to begin the recovery sequence.
모선동기(BUS SYNC), 어드레스(ADDRESS), 데이타(DATA), 해독/기입 제어(READ/WRITE CONTROL) 및 리셋트(RESET) 신호들은 제4도의 형성기(25A 및 25B), 메모리(28), 완충기(29), 및 진단회로(30)으로 이송되도록 모선(26)에 인가된다. 또한, 데이타 신호는 다른 신호들을 제어하는 상태에서 이 소자들로부터 각각 수신될 수 있다.BUS SYNC, ADDRESS, DATA, READ / WRITE CONTROL, and RESET signals are shown in the generators 25A and 25B,
메모리(28)은 부트 스트랩 ROM(2810), 프로그램 RAM (2811), 및 작동 RAM (2812)를 포함한다. 부트스트랩 ROM (2810)은 전력-증가(POWER-UP) 신호가 제7도의 리셋트 발생기(2713)에 인가될 대 자동적으로 어드레스 되는 프로그램의 소부분을 포함한다. 이러한 부트 스트랩 프로그램은 공지되어 있다. 어드레스는 주변 어드레스 해독기(2813)과 메모리 어드레스 해독기(2814)에 인가된다. 메모리 데이타완충기(2815)는 처리기(27)과 각각의 메모리(2810, 2811 및 2812) 사이의 데이타 통로에 상호 접속된다. 그러나, 메모리 데이타 완충기(2815)는 주위 어드레스 해독기(2813)이 주위 어드레스를 해독하는 경우에 동작하지 못하게 된다.
호출 처리 시스템이 리셋트 동작하는 동안, 보수 처리기(300)은 프로그램 PAM(2811) 및 작공PAM (2812)속에 정보를 적재한다. 특히, 이것은 전단회로(30)이 내림하중(DOWNLOAD) 신호와 기입(WRITE)신호를 발생시킬 때 행해진다. 이것은 프로그램과 데이타 기준을 나타내는 데이타(DATA) 신호가 논리 AND 회로(2816 및 2817)이 메모리 속에 기입 동작을 함에 따라 프로그램 및 작동 RAM (2811 및 2812)속에 적재되기 때문이다. 한편, 해독 동작은 처리기(27)로 부터의 어드레스 신호에 응답해서만 생길 수 있다.During the reset operation of the call processing system, the
디지탈 위성 접속장치(14)와 호출 처리기(408)사이로 이송될 메시지의 포오맷은 제9도와 제10도에 도시되어 있다. 각각의 메시지는 최소한 한개의 8-비트 바이트를 포함한다. 제1바이트는 메시지를 나타내는 4-비트 그룹을 포함하고, 제2바이트는 메시지 내의 바이트 번호를 나타내는 4-비트 그룹을 포함한다. 그러므로 제10도 내의 초기(ORIGINATE) 메시지는 십육진법 값 "5"를 포함한다. 여기서 "0"는 초기 메시지를 나타내고 "5"는 메시지가 5바이트를 포함한다는 것을 나타낸다. 초기 메시지는 원격 가입자가 오프-후크되어 있다는 것을 나타낸다. 초기 메시지 내의 제2바이트는 원격 가입자 호출(calling ; ING)위성 선 번호(Satellitel ine number ; SLN)를 포함한다. 제3바이트는 배당된 채널 번호를 포함하며, 제4바이트는 "모든 채널 통화중" 지연 카운트를 포함하고, 제5바이트는 공동선 확인 비트를 포함한다. 이 때 제2, 제3, 및 제5비트는 호출 공동선과 경간장치(15)상의 채널 번호를 완전히 나타낸다.The format of the message to be transferred between the
제11도는 디지탈 위성 유니트(13)과 접속장치(14)를 추가시켜서 수정한 미합중국 특허원 제924,883호의 호출 처리 시스템에 의해 실시된 호출 처리가 감시 관리 프로그램의 제어 회로를 도시한 것이다. 이 발신 프로그램에서, 다수의 시험 순서가 정해진다. 이것들은 일반적으로 호출 처리가 ANI 공동선 시험 대기 행렬을 조사하는 순서(31)과 호출 처리기가 DNI 대기 행렬을 조사하는 순서(32) 같은 것으로 제11도에 도시되어 있다. 순서(33)은 새로운 것으로 이 순서(33)과 다른 새로운 순서들을 기술하겠다. 디지탈 위성 접속장치(14)가 수리될 필요가 없으면, 호출 처리기는 PL사건(event)을 검출하기 위한 순서(34)와 보수 처리기가 통신 되어야 하는지의 여부를 결정하기 위한 순서(35)를 이용한다. 이 다음 순서(31)로 다시 왕복 동작하게 된다.FIG. 11 shows the control circuit of the call management program executed by the call processing system of US Patent Application No. 924,883 modified by adding the
순서(33)을 참조하면, 디지탈 위성 접속장치(14)가 보수되어야 하는 경우에, 호출 처리기가 메시지를 해독하고 메시지를 생성하며 그후 메시지를 디지탈 위성 접속장치로 다시 이송시키는 동안 일련의 순서로 동작이 전이된다. 순서(36)은 메시지를 해독하고, 순서(37)은 제5도의 짝수 홀수회로(1715)가 짝수 홀수 오차를 검출하는 경우를 결정한다. 짝수 홀수 오차가 검출되지 않으면, 메시지는 순서(38) 내에서 처리된다. 귀환 메시지가 이 접속장치(14)로 송신되면, 순서(39)는 이것을 순서(40)으로 송신할 수가 있다.Referring to sequence 33, if
짝수 홀수 오차가 순서(37)에서 검출되면, 순서(41)은 세개의 연속적인 오차가 검출되었는지의 여부를 결정한다. 약간의 시도를 하게 되면, 순서(41)은 순서(34)로 다시 동작을 전이시키므로서 완전해지고, 보수 요구가 완전히 보수되지 않으면, 순서(33)은 순서(36)으로 다시 전환된다.If an even odd error is detected in
제12도는 호출 처리기에 의해 어드레스될 수 있는 다수의 레지스터를 도시한 것이다. 이 레지스터들은 제13도에 더욱 상세하게 도시한 바와 같이 호출 처리기와 디지탈 위성 접속장치(14) 사이의 메시지를 송신하고 수신하는 동안 이용된다. 제11도의 순서(33)이 디지탈 위성 접속장치(14)가 보수되어야 하는 것을 나타내면, 호출 처리기는 제11도와 제13A도에 도시한 순서(36)을 처리한다. 특히, 수단(43)에서, 호출 처리기는 제5도와 제12A도의 CBI상태 레지스터(1718)을 해독한다. CBI 상태 레지스터는 두 개의 8-비트 바이트를 포함한다. 가장 중요한 비트는 대응하는 디지탈 위성 유니트가 보수되어야 할 경우에 "1"을 포함하는 (즉, 셋트되는 "보수 요구" 비트이다. 이것을 선택하는 것은 제5도의 DSI 카운터(1716)의 제어상태에서 이루어지므로, 수단(44)에서, 위성 번호는 다섯개의 최소로 중요한 비트 내에 DSI 번호를 포함하는 제6도의 회로(2515) 내의 제12도의 점유 DSI 형성기(SIZE DSI FORMATTER) 레지스터(2524) 내에 축적된다.Figure 12 illustrates a number of registers that can be addressed by the call processor. These registers are used during transmission and reception of messages between the call processor and the
그 다음 호출 처리기는 출력 FIFO (2516)으로 부터 해독 동작을 실시(수단 45) 하므로서 데이타 바이트를 해독한다.이러한 경우가 발생되면, 데이타 바이트는 모선 구동기(2519)를 통하고 CBI (17)을 통하는 데이타 통로를 통하여 각각의 호출 처리기(408)로 송신된다. 호출 처리기(408)은 제1바이트를 해독하고 메시지의 길이를 즉시 결정한다. 많은 메시지 바이트가 수신되면, 수단(46)은 출력 FIFO (2516)으로 부터 연속적인 데이타 바이트를 해독하기 위해서 수단(45)로 다시 분기된다. 모든 메시지가 이송되면, 제11도의 순서(36)은 완전히 이루어지고 순서(37)은 짝수 홀수 오차를 시험한다.The call handler then decodes the data byte by performing a decryption operation from the output FIFO 2516 (mean 45). If this happens, the data byte is passed through the bus driver 2519 and through the CBI 17. It is sent to each
제11도의 순서(40)은 제13도의 수단(47 내지 51)에 의해서 설정된다. 메시지가 이송되면, 호출 처리기(408)은 제12도에 도시한 점유 DSI 형성기 레지스터(2524)의 최소로 중요한 비트 내에 DSI 번호를 다시 축적하고(수단 47) 그 다음 점유된 형성기 내의 상태 레지스터(2518)을 해독한다(수단 48). 제12b도에 도시한 바와 같이, 최소로 중요한 비트는 DSI 통화중 비트이다. 이 비트가 셋트되면, 메시지가 이송될 수 없고 수단(49)는 수단(50,51 및 52)를 바이패스 한다. 그러나, DSI 통화중 비트가 소거되면, 데이타 바이트는 제6도의 입력 FIFO(2511)로 이송된다. 또, 제1바이트는 메시지 내의 모든 바이트 수를 나타내므로, 호출 처리기는 부수적인 메시지 바이트가 이송되는 경우를 알게 된다. 부수적인 메시지 바이트들이 이송되면 수단(51)은 수단(52)로 분기되도록 모든 메시지 바이트가 이송될 때까지 수단(50)으로 다시 분기되므로 형성기 상태 레지스터(2518)은 해독된다. 형성기 상태 레지스터(2518)은 해독된다. 형성기 상태 레지스터(2518)은 수단(46)의 분로에 따른 호출 처리기에 메시지가 이송된 후에 해독된다.The
형성기 상태 레지스터(2518)은 짝수 홀수 오차(PARITY ERROR) 비트를 포함한다. 이 레지스터에 짝수 홀수 오차가 없으면, 수단(53)은 호출 처리기가 짝수 홀수 오차또는 응답 정지를 검출하기 위해서 제5도와 제12A도의 CBI상태 레지스터(1718)을 해독하는 수단(54)로 분기된다. CBI 상태 레지스터(1718)은 짝수 홀수 오차 비트와 DSI 래치(LATCHED) 비트를 포함한다. 이 비트들이 둘 다 셋트되지 않으면, 수단(55)는 수단(56)으로 분기되어 호출 처리기는 제6도의 회로(2515) 내에 있는 형성기 제어 레지스터(2526)내의 활성(DONE) 비트를 셋트하고, 그 다음 수단(57) 내의 가공 해제 형성기 레지스터(2527)에 데이타를 보낸다. 해제 형성기 레지스터(2527) 어드레스에 기입하는 동작을 하면 해제 동작이 생긴다.The
형성기 상태 레지스터(2518)에 표시된 짝수 홀수 오차가 있다고 가정하면, 수단(53)은 CBI 상태 레지스터(1718)이 다시 해독되는 수단(58)로 분기된다. 여기에 짝수 홀수 오차가 없고 CBI상태 레지스터(1718)내의 비트 8 또는 10으로 표시된 응답 정지가 없다면, 수단(59)는 수단(60)으로 분기되어 회로(2515) 내의 형성기 제어 레지스터(2526) 내에 있는 재이송 비트가 셋트된다. 이것이 세번째 시도를 하지 않으면, 수단(61)은 수단(57)로 다시 분기된다. 결과적으로, 활성 비트는 형성기 제어 레지스터(2526) 내에 셋트되지 않는다. 그러므로, CBI 상태 레지스터(2518)의 다음 선택을하려면 호출 처리기에 송신을 해야 한다.Assuming there is an even odd error indicated in the
수단(55 또는 59)에서 검출된 응답 정지 또는 짝수 홀수 오차가 있으면, 동작을 수단(62)로 이송되어 회로(2515) 내의 형성기 제어 레지스터(2526) 내에 있는 재이송 비트를 셋트한다. 수단(63)에서, 시험은 레지스터를 해독 또는 기입하기 위한 세번재 시도가 있는가를 결정하도록 행해진다. 만약 그렇지 않으면, 수단(63)은 수단(64)로 분기되어, 제12a도 의 CBI상태 레지스터(1718)과 동일한 형태로 된 CBI 오차 레지스터(1719) 내의 짝수 홀수 오차 또는 DSI 래치 비트 중의 적당한 한개의 비트가 소거된다. 이 다음 수단(64)는 수단(57)로 다시 동작을 이송시킨다. 디지탈 위성 접속장치(14)에 메시지를 송신하거나 이 장치로 부터 메시지를 수신하기 위해 세 가지의 시도가 행해지면, 수단(61또는 63)은 수단(65)로 분기되어, 오차가 후술하는 바와 같이 보수 처리기와 디지탈 위성 접속장치(14) 사이의 통신로를 거쳐서 보수 처리기(300)에 기록된다.If there is a response stop or even odd error detected by the
D. 디지탈 위성 접속장치-원격 디지탈 위성 유니트 통로.D. Digital Satellite Interface-Remote Digital Satellite Unit Passage.
제4도를 다시 참조하면, 디지탈 위성 접속장치(14)와 이것과 결합한 디지탈 위성 유니트(13) 사이의 통신로는 중심 위치에서 완충기(29), 경간 장치(21 내지 23), 및 경간(15)에 경간 장치를 접속하는 전화 교환국 중 계기(24)를 포함한다. 완충기(29)는 "B" 신호화 비트를 사용하는 시스템의 원격 유니트와 처리기(27)사이를 통신시키며, 제14도에 도시되어 있다. 이것은 두 개의 경간 송신회로(2910 및 2911), 두개의 경간수신회로(2912 및 2913), 수신 출력 제어회로 (2914), 및 제4도의 처리기(27)과 겸용할 수 있는 종래의 프로그램 접속 아답터로 구성된 처리기 접속장치(2915)를 포함한다.Referring back to FIG. 4, the communication path between the
각각의 송신회로(2910 및 2911)은 동일한 구조로 되어 있고, 처리기 접속장치(2915)에 의해 처리기(27)로 부터 데이타를 수신한다. 이 송신단은 각각 직렬/병렬, 입력/출력 능력이 있는 FIFO를 포함한다. 처리기 접속장치(2915)는 병렬로 데이타 신호를 제공하고 데이타를 전이시키고 데이타의 부하를 지시하기 위한 제어 신호를 제공한다. 또한, 각각의 송신회로(2910 및 2911)은 데이타가 경간 0 송신회로(2910) 또는 경간 1송신회로(2911)로 송신되는 것을 제어하는 활성 입력을 수신한다. 스트로브(strobe) 내의 전이(SHIFT IN STROBE) 신호는 데이타가 FIFO 입력 레지스터 속에 병렬로 적재되게 하여 FIFO를 통해 출력 레지스터에 리플(ripple)하게 한다. 데이타가 적재되면, 처리기(27)은 경간 출력 활성 래치회로에 입력을 제공하기 위해 두 개의 송신단 당의 래치를 셋트하는 데이타 적재(DATA LOADED) 신호를 내보낸다.Each of the transmitting
대응하는 경간 장치내이 송신기로 부터의 타이밍 신호는 데이타 적재 신호를 나타내는 제1동기 신호상의 출력 활성 래치를 셋트하는 동기 신호를 포함한다. 이것은 회로(2910 및 2911) 내의 대응하는 FIFO 출력을 활성화시키므로 데이타는 "B" 신호화 비트 시간에 대응하는 시간에 경간 장치내의 송신단에 의해서 제공된 스트로브 상에 연속적으로 전이된다. 데이타 적재 신호가 경간 장치로부터의 두 개의 동기 신호 사이에 나타나지 않을 때 마다, FIFO출력은 송신회로(2910 및 2911) 내에서 활성화 되지 않으므로, 아이들(IDLE)메시지(제16도)를 나타내는 "I"의 순서는 "B" 신호화 비트와 같은 경간 위로 송신된다.The timing signal from the transmitter within the corresponding spanning device includes a synchronization signal that sets an output active latch on the first synchronization signal representing the data load signal. This activates the corresponding FIFO output in
경간 0는 회로(2912)를 수신하고 경간 1은 수신기에 의해 제공된 스트로브(STROBE) 신호에 응답하여 경간 장치 수신기로부터의 입력 경간 데이타를 수신하는 FIFO를 포함하고 있는 동일 회로를 포함하는 회로(2913)를 수신한다. 다른 타이밍 신호는 FIFO와 이것과 관련된 수신 카운터를 소거하는 동기 펄스를 포함하고 경간(SPAN) 메시지를 수신하기 전에 수신된 메시지를 나타낸다. 더욱 상세하게 말하자면, 일련의 입력 데이타는 스트로브 신호에 의해 FIFO속으로 전이된다. 그 다음 수신 카운터는 모든 "B" 신호화 비트(제3도의 특정한 실시예 에서는 24비트)가 수신된 것을 지시할 때까지 증가된다. 이러한 경우가 생기면, 경간 메시지 수신(SPAN MESSAGE RECEIVE) 신호가 나타난다.
각각의 동기(SYNC) 펄스가 대응하는 수신회로(2912 및 2913)에 의해 수신된 후에, 수신 출력 제어기(2914)는 수신회로(2912 및 2913)의 출력을 선택적으로 활성화시켜서 아이들(IDLE) 메시지 이외의 다른 메시지들을 조사한다. 이러한 경우가 생기면, 경간 수신 메지지 준비 (SPAN RECEIVE MESSAGE READY)신호는 처리기 접속장치(2915) 내에 표시문자를 셋트 시킨다. 두 개의 경간으로 부터의 각각의 등기 펄스는 경간 수신 메시지 준비 신호를 크리어한다. 처리기(27)이 처리기 접속장치(15)를 해독하면, 대응하는 표시문자가 크리어된다.After each SYNC pulse has been received by the corresponding receiving
처리기 접속장치(2915)는 경간이 입력 메시지를 갖고 있는 것을 표시하는 처리기(27)을 제공한다. 이것은 강하게 나타날 대 경간 1 수신회로(2913)을 표시하고 강하지 않게 나타날 때 경간 0 수신회로(2912)를 표시하는 FIFO 동작(ENABLE) 신호에 의해서 이루어진다. 처리기(27)은 활성화된 FIFO 출력 레지스터의 병렬 추출에 의해서 데이타를 얻는다. 각각의 해독 동작을 전이 중지(SHIFT OUT)펄스의 제어상태 하에서, 대응하는 FIFO 내의 정보를 전이시키므로서 행해지므로, 연속적인 비트 그륩이 수신된다. 각각의 전이 중지 펄스는 출력 레지스터 공백(OUTPUT REGISTER EMPTY) 신호도 셋트시키어, 공백 표시 카운터가 증가되게 한다. 공백 표시는 모든 메시지가 수신회로(2912 또는 2913)으로 부터 추출되지 않는 한 다음의 전이 정지 펄스 다음에 없어진다.Processor connection device 2915 provides a
제4도의 전화 교환국 중계기(24)는 모든 모선(BUS) 신호를 투명하게 나타낸다. 이것들은 접속 장치의 비 접촉 배치에 의해 생긴 접지 전위차와 잡음을 제거한다. 이것들은 경간 장치(15) 위로 이송시키기 위해 차동 수신기와 차동 구동기를 포함한다. 그러므로, 중계기(24)을 더 이상 상세하게 설명할 필요가 없다.
제15도는 전형적인 원격 디지탈 위성 유니트의 기본 계통도이다. 경간(15)내의 각각의 통로는 경간 감시기(70)에 접속된다. 경간 감시기(70)은 펄스 부호 변조 송신을 하는 동안 파형이 잘못 되었거나 프레임 동기가 손실되었을 때 알람 상태를 기록한다. 경간들 중의 한개가 보결 경간으로 동작하면, 경간 감시기(70)은 디지탈 위성 접속 장치로 부터의 메시지를 제어하는 상태에서 고장난 경간을 고결 경간으로 교체하기 위한 회로를 제고한다. 이것은 또한 유니트를 동작시키는데 필요한 기본 클럭 파형을 발생시키기 위한 입력 신호에 응답한다.15 is a basic schematic diagram of a typical remote digital satellite unit. Each passage in
경간 감시기(70)은 송신기/수신기 회로(71)에 접속되어 있다. 송신기 부분은 이 정보를 이송하는 경간채널을 표시하고 신 채널 상호 변환회로(72)로 부터 핀스 부호 별도 형태로 디지탈 음성 데이타 신호를 수신하고 적당한 채널 시간에 경간위로 송신되는 비트 대열 속으로 데이타 신호를 삽입한다. 이 송신기는 제3도에 도시한 것과 같은 등기 신호용으로 적당한 프레임도 삽입한다. 또한 이 송신기는 데이타 완충기(73)에 필요한 기능들을 유도해내므로, 각각의 슈퍼 프레임의 프레임 번호 6과 12동안에 회로는 A 및 B신호와 비트를 삽입할 수 있다.The span monitor 70 is connected to the transmitter /
각각의 회로(71)의 수신기 부분을 경간(15)로 부터 정보를 수신하고, 이 회로의 나머지 부분과 겸용할 수 있는 형태로 이 정보로 반전시키며, 클럭 신호를 유도해 낸다. 필요한 타이밍 기능은 A 및 B신호와 비트가 추출될 수 있도록 제공되어 있다. 이 수신기는 적당한 축적 위치 속에 각각 8-비트 워드를 보내기 위해서 선 채널 상호 변환회로(72)로 부터의 채널 확인을 이용한다. 이 수신기는 정확한 등기 패턴을 검출하지 못하는 시간에 프레임 알람을 발생한다.The receiver portion of each
송신/수신 완충기(73)은 선 회로 제어기(74A 및 74B)로 부터의 후크 상태 정보를 감시하고 위성 제어기(75)에 의해 이용된 입력 정보로 부터 정보를 추출한다. 또한, 완충기(73)은 후에 기술하는 바와 같이 호출 처리기와 통신하기 위한 필요성을 표시하도록 정확한 시간에 데이타 대열속에 비트들을 삽입하므로서 선택 동작에 응답한다.The transmit / receive
선 채널 상호 변환회로(72)는 멀리플렉서 및 디멀티플렉서 회로(76)과 송신/수신 완충기(73)과 송신기/수신기(71) 사이로 음성 데이타 신호들이 이송되는 것을 제어한다. 선 채널 상호 변환회로(72)는 채널과 선 사이가 계속 일치되게 하는데 필요한 시간을 제공한다.The line channel interconversion circuit 72 controls the transmission of voice data signals between the multiplexer and
선 레벨 멀리플렉서/디멀티플렉서 회로 (76)은 선 회로 그룹(78)에 결합된 다수의 CODEC 회로(77)로부터 디디탈 형태로 수신된 음성 데이타를 나타내는 데이타를 수집한다. 특정한 실시예에서, 이 회로는 48선 회로(78)에 접속된 한개 이상의 회로를 포함한다. 이 회로들은 적당한 어드레싱 기술을 통해 선 채널 상호 변환 회로(72)에 의해 심문될 수 있는 8-비트 와이드(wide) 포오맷 속에 이 데이타를 배열한다. 이와 마찬가지로, 각각의 선 레벨 멀리플렉서/디멀티플렉서 회로 내의 디멀티플렉서 회로는 정보가 적당한 선회로(78)를 통하여 원격 가입자에게 송신되게 하기 위해 아날로그 형태로 반전되는 대응 CODEC 회로(77)로 이송시기키기에 적당한 포오맷으로 선 채널 상호 변환회로(72)로 부터 수신된 신호들을 변환시킨다. CODEC 회로(77)과 선회로(78)은 미합중국 특허원 제924,883호에 기술된 바와 같이 동작한다.The line level mulplexer /
디지탈 위성 접속장치(14)로 부터의 메시지는 완충기(73)으로 부터 위성 제어기(75)로 이송된다. 위성 제어기(75)는 이 메시지들을 해독하고 선 회로 제어기(74A 및 74B)로 원격 채널 배당 메시지에 속하는 적당한 신호들을 보낸다. 이것은 또한 선 채널 상호 변환회로(72)에 원격 채널 배당 및 선 비접속 메시지도 보내고 보수 및 관리 회로(79)에 보내질 정보를 해독한다. 이 메시지들은 B신호와 비트내에 부호화되어 있다.Messages from the
선 회로 제어기(74A 및 74B)는 다수의 기능을 행한다. 이것들은 발생되는 요구들을 모두 처리한다. 즉, 가입자가 그의 전화기를 끊으면, 대응하는 선 회로 제어기(74)가 응답한다. 각각의 선 회로 제어기(74)는 디지탈 위성 접속장치(14)에 의해 정해진 경간 및 비 접속 선 상에 채널을 배당한다. 이 회로(74)는 공동 확인 처리기도 제어하고 적당한 공동 정조로 초기 메시지를 부호화시킨다.Line circuit controllers 74A and 74B perform a number of functions. These handle all requests that occur. That is, when the subscriber hangs up his phone, the corresponding line circuit controller 74 responds. Each line circuit controller 74 allocates channels on span and unconnected lines defined by
이것들은 착신 통화를 처리하고, 링 이동을 제어하며, "A" 신호와 비트를 적당히 부호화 시키므로서 디지탈 위성 접속장치(14)에 후크 상태 정보를 공급하고, 그외의 많은 기능을 행한다. 한 특정한 실시예에서, 각각의 선 회로 제어기(74)는 120개의 선 회로까지 설치될 수 있다.These process the incoming call, control ring movement, provide the hook status information to the digital
각각의 선 회로 제어기(74)는 선 회로 클럭 분할 완충기 회로(80)을 통해 선 회로(78)에 결합되어 있다. 이 회로는 선 회로 제어기(74)와 선 회로(78) 사이의 데이타를 연속적으로 완충한다.Each line circuit controller 74 is coupled to the line circuit 78 through a line circuit clock divide buffer circuit 80. This circuit continuously buffers data between the line circuit controller 74 and the line circuit 78.
명확하게 알 수 있는 바와 같이, 각각의 호출 처리기(408), 디지탈 위성 접속장치(14), 및 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 다수의 기능을 독립적으로 행하고 다수의 정보 항목을 통신시킬 수 있는 능력을 갖고 있다. 이 정보는 디지탈 위성 접속장치(14)와 원격 디지탐 위성 유니트(13) 사이로 경간(15)를 통해 이송되는 메시지에 의해 통신된다. 이제 이 메시지들의 내용과 각각의 유니트 내의 일반적인 동작 순서에 대해 기술하겠다.As will be clear, each
디지탈 위성 접속장치(14)는 각각의 B신호와 기간동안 선택정부를 보내므로서 이 장치에 접속된 원격 디지탈 위성 유니트(13)을 모두 선택하므로서 동작한다. 상술한 설명과 제3도, 제16도 및 제17도로부터 알 수 있는 바와 같이, 각각의 메시지는 24개의 비트를 포함한다. 제16도를 참조하면, 선택(POLL) 메시지는 16진법 형태로 나타난 4-비트 그룹에 배열된 24개의 비트를 포함한다. 선택(POLLING) 메시지는 열개의 1과 열개의 0을 수반하는 부호 바이트 "1"을 갖고 있으므로, 16진법으로 "FFCOO"로 표시된다. 이 모든 선택(POLL) 메시지(즉, "IFFCOO")는 각각의 원격 디지탈 위성 유니트(13)을 통해 연속적으로 이송되고 동일한 프레임 동안에 제17도에 도시한 선택 응답(POLL RESPONSE) 메시지로 복귀된다. 각각의 열개의 비트와 각각의 유니트(13) 사이의 위치는 동일하다. 특정한 디지탈 위성 유니트(13)이 디지탈 위성 접속장치(14)와 통신하기를 원하면, 이것은 선택(POLL) 메시지 내의 대응 위치내에 있는 비트들을 반전시킨다. 예를 들어, 제3디지탈 위성 유니트(13)(예를 들면, 제1도의 위치 C에 있는 것)이 보수되기를 원하면, 선택 응답은 "IDFC 80"으로 된다.The digital
유사한 시험 선택(TEST POLL) 메시지와 대응하는 시험 선택 응답(TEST POLL RESPONSE) 메시지는 제16도와 제17도 에 부호 "5"로 표시되어 있다. 시험 선택 메시지 내의 부호를 수반하는 비트 순서는 선택 메시지에서와 같다. 즉, 시험 선택 메시지는 "5 FFCOO"이다. 그러나, 시험 선택을 하는 동안, 각각의 디지탈 위성 유니트(13)은 보수가 요구되는지 안되든지간에 이것의 대응하는 비트를 변화시킨다. 열개의 원격 유니트가 모두 접속되면, 시험 선택 응답 메시지는 "5003FF"로 된다. 다른 메시지들은 본 발명을 설명할때 기술하겠다.A TEST POLL RESPONSE message corresponding to a TEST POLL message is indicated by the symbol " 5 " The bit order accompanying the sign in the test selection message is the same as in the selection message. That is, the test selection message is "5 FFCOO". However, during the test selection, each
제18도는 선택 및 응답 메시지를 송신 및 수신하는 동안 디지탈 위성 접속장치(14)의 동작을 쉽게 이해하기 위해 도시한 것이다. 시프템이 동작하게 되면, 시작 순서가 실시되고 시스템이 동작하기 시작한다(수단 81). 순서 "IRQP"에서 제1수단(82)를 하는 동안, 처리기(27)은 개입 중단비에 대응하는 선정된 기간이 완전히 끝나기를 기다린다. "IRQP"와 도면에 타원형으로 표시한 다른 기억법을 사용하면 확인 지점으로 되고 이 도면 및 다른 도면에 상세하게 도시된 동작 순서를 조정하는데 도움이 될 것이다.FIG. 18 shows an easy understanding of the operation of the digital
매번 개입 중단이 생겨서, 수단(82)는 수단(83)으로 분기되므로, 처리기(27)은 후에 기술하는 다수의 상태를 시험하고 이 상태들에 응답하여 메시지를 송신하거나 처리한다(수단 84). 메시지가 보내지면, 수단(84)는 제8b도에 도시한 "HSKPG" 순서로 분기된다. 한편, 제어는 보수 처리기(300)으로 이송되는지의 여부를 처리기(27)이 결정하는 "RMS" 순서에서 수단(85)로 이송된다. 이러한 이송이 생기면, 수단(54)는 제8b도의 "HSKPG" 순서로 분기된다.Each time an interruption occurs, the means 82 branches to the means 83, so the
시험 선택이 발생하면, 선택 순서 "PTPG"는 수단(86)에서 시작한다. 시험 선택 메시지"5FFCOO"는 수단(87)로 송신되고 시험 선택 응답 메시지 "5003FF"는 수단(88)에서 시험된다. 만족한 결과가 얻어지면, 선택 선서는 완전히 끝나게 되고 제어는 "HSKPG" 순서로 지나간다. 한편, 진단 처리는 제어가 "HSKPG" 순서로 지나가지 전에 수단(89)에서 행해진다.If a test selection occurs, the selection order "PTPG" begins at the means 86. The test selection message "5FFCOO" is sent to the means 87 and the test selection response message "5003FF" is tested at the means 88. If a satisfactory result is obtained, the selection oath is completely over and control passes in the "HSKPG" sequence. On the other hand, the diagnostic processing is performed in the means 89 before the control passes in the "HSKPG" order.
시험 선택 시간이 아니고 선택 시간으로 있으면(수단 89), 제어는 제18a도의 수단(86)으로 부터 수단(90)으로 지나가므로, 디지탈 위성 접속장치(14)는 제16도에 도시한 선택 메시지("1FFCOO")를 이송한다. 그다음 제17도에 도시한 선택 응답 메시지는 수단(91)에서 시험되고, 디지탈 위성 유니트(13)이 보수를 요구하지 않으면, 동작은 "HSKPG" 순서로 이송된다.If it is not the test selection time but the selection time (means 89), control passes from the means 86 of Fig. 18A to the means 90, so that the
다중 보수 요구가 선택 응답 메시지에 존재할 수도 있다. 디지탈 위성 유니트(13) 내의 제이 프로그램은 이러한 다중 동시 내용을 조정하고 보수를 요구하는 다중 원격 디지탈 위성 유니트(13)이 사용될 수 있게 되는 것을 결정한다. 각각의 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 이 유니트에 배당된 번호를 갖고 있는데 이 번호는 원격 그룹 번호라고 불리운다. 그러므로, 내용이 해석되면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 수단(92) 내의 "7"의 제1바이트로 선택 배당(POLL ASSIGNED) 매시지(제16도)를 보낸다. 다음의 바이트는 가능한 원격 디지탈 위성 유니트(13) 중의 하나를 나타내는 원격 그룹 번호이다. 즉 나머지 바이트들은 모두 0이다. 설계된 원격 디지탈 위성 유니트는 선택 배당 메시지에만 응답하게 된다.Multiple reward requests may be present in the selection response message. The J program in the
디지탈 위성 유니트(13)은 복귀된 메시지를 처리하고 다음 슈퍼프레임의 다음 12번째 프레임 시간 동안 디지탈 위성 접속장치(14)에 이 메시지를 송신한다. 더욱 상세하게 말하자면, 제16도의 선택 배당(POLL ASSIGN) 메시지가 연속적으로 처리되는 경우에, 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 승인 메시지 ExOOO를 송신한다. 여기에서 "X"는 경간 0을 통해 송신되는 경우에 "1"이고 경간 1을 통해 송신되는 경우에 "2"인데, 이것은 제17도에 도시한 승인(OK) 메시지 내의 제2의 바이트에 있는 SO 및 SI 비트를 셋팅하므로서 나타난다. 이 다음, 이 메시지는 수단(93)에서 처리된다.The
수단(63) 후 또는 제8도에 도시한 다른 분로에 응답하여. "HSKPG" 순서가 시작되므로, 모든 채널 통화중(ALL CHANNELS BUSY) 카운터 및 타이머는 수단(94)에서 다시 새롭게 되고, 메모리(28)은 수단(95)에서 시험된다. 다수의 표시문자 및 타이머는 수단(96)에서 특정한 갖으로 셋트되거나 크리어 되고 그 다음이 시스템은 수단(97)에서 새로운 개입 중단을 준비한다. 이것이 완전히 끝나면, 제어는 제18a도에 도시한 "IRQP" 순서와 수단(82)로 다시 지나간다.After the
E. 기본 호출 처리E. Basic Call Processing
이제 원격 가입자 선(12) 중의 한 선상에서 발생하여 원격 가입자 선(12) 중의 한 선상에서 착신되는 전화기 호출에 응답하여 전화기 스위칭 시스템이 동작하는 것에 대해 기술하겠다. 우선, 전화기 회로망 내의 한 가입자, 즉 호출 가입자가 다른 가입자, 즉 호출된 가입자를 호출한다고 가정한다. 호출 가입자의 선(11)은 "호출" 선(CALLING, or 'ING)이고, 호출된 가입자의 선은 "호출된"(CALLED, or 'ED) 선이다.The telephone switching system will now be described in response to telephone calls originating on one of the
디지탈 중앙 스위치는 모든 전화 번호를 확인하고 이 번호가 국부 선(11)이나 원격 선(12) 중의 한 선에 대응하는지의 여부를 확인하는 메모리 정보를 포함한다. 원격 선(12)를 위하여, 메모리는 각각의 원격 선(12)를 독특하게 확인하기 위한 위성 선 번호(SLN)을 포함한다.The digital central switch contains memory information that identifies all telephone numbers and confirms whether they correspond to one of the local line 11 or the
원격 선(12)과 "호출된" 선일 경우에, 호출 처리기는 제9도에 도시한 5-바이트 착신 메시지를 보낸다. 이 메시지는 호출된 선의 위성 선 번호와 호출 선의 포오트 번호를 확인한다. 이것은 또한 호출을 완전히 하는데 이용되는 다른 정보도 포함한다. 메시지가 적당하게 수신되면, 디지탈 위성 접속장치는 접지 시작상태를 나타내는 착신(TERMINATE) 메시지 내의 접지 시작(GST) 신호를 시험한다. 비트가 셋포되면, 디지탈 위성 접속 장치(14)는 호출 처리기(408)에 접지 시작 메시지, 특히 독특한 DSI 상태(STATUS) 메시지 "90"을 보낸다.In the case of a "called" line with a
한편 접속장치(14)는 착신 메시지를 처리하고 제10도 에 도시한 접속(CONNECT) 메시지를 보낸다. 이 메시지는 명령 값 "2"를 갖고 있고 6개의 바이트를 포함한다. 제2바이트는 호출된 위성선 번호를 포함하고 제3바이트는 이용될 경간 0 및 경간 1 장치 상의 시간 슬롯트를 확인하는 배당된 채널 번호를 포함한다. 이 배당은 디지탈 위성 접속 장치(14)에 의해 행해진다. 제4 및 제5바이트는 착신 메시지 내의 DSI로 보내진 DCO의 호출 포오트 번호를 포함한다. 제1도와 제2도의 디지탈 전화 교환국(10)이 통로를 설정하면, 제9도에 도시한 링 선(RING LINE) 메시지가 보낸진다. 링 선 메시지는 호출된 위성 선 번호를 확인하고 링깅 제어 및 링깅 형 바이트를 포함한다. 링깅 제어 바이트는 호출 및 호출된 주파수를 확인하고 링깅형 바이트는 정상, 비상, 재생 링, 복귀 또는 중단 링 동작이 생기는지의 여부를 확인한다.On the other hand, the
이 순서가 완전히 끝나면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 원격 디지탈 위성 유니트(13)에 착신 메시지를 보낸다. 이 메시지는 제16도에 부호"8"을 가진 것으로 도시되어 있다. 이것은 제9도이 링 선 메시지로 부터 수신된 링 부호, 위성 선 번호, 배당된 채널번호, 및 경간 번호를 포함한다. 이 메시지가 송신되면, 제10도의 메시지 완성(MESSAGE CONPLETE) 메시지"71"은 디지탈 위성 접속장치(14)에 의해 호출 처리기(408)로 다시 송신된다.When this sequence is completed, the digital
이때, 호출된 선(12)는 링(ring) 된다. 가입자가 전화기에 응답하면, 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 오프-후크 신호를 감지하고 링깅을 정지시킨다. 또한, 이때 "A" 신호와 비트는 오프-후크 값으로 전이되므로, 디지탈 전화 교환국은 포오트 그룹 간선로 내의 대응 시간 슬롯트를 통하여 T/경간 상의 배당된 채널에 호출선을 접속하여, 호출을 처리한다.At this time, the called
호출 가입자가 선을 끊으면, 대응하는 원격 디지탈 위성 유니트(14)는 보수를 요구한다. 이 디지탈 위성 유니트용 선택 배당(POLL ASSIGNED) 메시지가 수신되면, 제17도에 도시한 승인(OK) 메시지가 응답되지 않는다. 부호 "2"를 갖고 있는 초기(ORIGINATE) 메시지는 위성 선 번호를 확인하도록 보내진다. 이것은 비접속(Disconnect; DS) 비트, 송신 시도실패(Send try fail; SF), 공동 갱신(Party update; PU), 및 공동 확인(Party identification; PI) 비트들을 포함한다. 응답할 때, 디지탈 위성 접속장치(14)는 선 부하 제어기가 적당하게 동작하는지의 여부를 결정한다. 만약 그렇지 않으면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 비접속(Disconnect; DS) 비트 셋트를 가진 것으로 제16도에 도시된 선 재어 메시지를 보낸다. 선 부하 제어기가 적당하게 동작하면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 경간상의 모든 유용한 채널이 통화중 인지의 여부를 결정한다. 어떻게 동작하면, 위성 선 번호(Satellite Line number; SLN)은 모든 채널 통화중 대기 행렬 속에 적제되고 채널이 해제됨에 따라 대기 행렬의 밖으로 이송된다.If the calling party hangs up, the corresponding remote
채널이 유용해지고 디지탈 위성 접속장치(14)에 의해 선택되면, 이것은 제16도에 도시한 부호 "8"을 가진 발신 응답 메시지를 원격 디지탈 위성 유니트(13)으로 다시 보낸다. 이 메시지는 위성 선 번호, 경간 번호, 및 채널 번호를 포함한다. 디지탈 위성 유니트 접속장치(14)는 또한 제1바이트 "5"를 갖고 있는 발신 메시지(제10도)를 호출 처리기(408)로 보낸다. 이 메시지는 호출 위성 선 번호, 배당된 채널 번호, 모든 채널 통화 중 지연 카운트, 및 공동 확인(party identification)를 포함한다. 자동시험이 실시되면, 이때의 동작은 후에 기술한 자동시험이 실시되면, 이 때의 동작은 후에 기술한 자동시험 순서로 바뀐다. 한편, 디지탈 전화 교환국은 다이얼 음색용 통로를 설정하려고 한다.Once the channel is available and selected by the
원격 가입자가 다이얼 음색을 수신하면, 가입자는 다이얼을 돌리기 시작하여 다이얼 숫자를 송신한다. 이 숫자들은 대응 채널의 "A" 비트 내의 포오트 그룹 간선로를 통해 송신되는 "A" 신호화 비트내에 부호화된다. 이때 디지탈 전화 교환국은 호출된 선에 호출을 이송시키므로서 호출 처리를 완전히 하게 된다. 위성 선 번호가 응답 감독을 요구하면, 디지탈 전화 교환국은 위성 선 번호와 다른 정보를 가진 제1바이트 값 "23" 을 갖고 있는 제9도에 도시한 선 제어(LINE CONTROL) 메시지를 보내게 된다. 한편, 처리는 완전히 끝나게 되고 호출이 처리된다.When the remote subscriber receives the dial tone, the subscriber starts to dial and transmit the dial number. These numbers are encoded in the "A" signaling bits transmitted over the port group trunk in the "A" bits of the corresponding channel. At this point, the digital switching center completes the call processing by transferring the call to the called line. If the satellite line number requires a response supervision, the digital telephone exchange will send the LINE CONTROL message shown in FIG. 9 with the first byte value " 23 " which is different from the satellite line number. On the other hand, the process is complete and the call is processed.
원격 가입자 선(12)가 발신 선이거나 착신 선열 경우에, 전화기 호출을 완전히 하려면 원격 가입자 선이 호출 처리기로 부터 비접속되어야 한다. 정상적인 호출 처리상태에서, 호출 처리기는 주어진 전화기 선이 아이들(idle) 되는지의 여부를 나타낸다. 이 결정이 행해지고 포함된 선이 원격 가입자 선(12)일 경우에, 디지탈 전화 교환국은 제1바이트 "12"와 위성 선 번호를 가진 것으로 제9도에 도시한 비접속 메시지를 디지탈 위성 접속장치(14)로 보낸다. 제9도에 도시한 비접속(DISCONNECT) 메시지는 이 특별한 경우에 송신되지만, 선들은 채널 비접속(CHANNEL DISCONNECT) 및 선 제어(LINE CONTROL) 메시지에 의해서 비접속될 수도 있다. 그러나, 정상적인 비접속 메지지가 있으면, 디지탈 위성 접속장치는 이 메시지를 수신하고 채널 배당이 원격 디지탈 위성 유니트(13)으로 보내지는지의 여부를 결정한다. 만약 그렇지 않으면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 비접속(Disconnect; DS) 비트 셋트를 가진 선 제어 메시지(부호는 "9")를 송신한다. 채널 배당이 보내지면, 이때 디지탈 위성 접속장치(14)는 원격 선 제어 비접속(Remote line control disconnect; RD) 셋트를 가진 선 제어 메시지를 보내고 단일 공동선(Single party line; SP) 비트는 셋트시키거나 크리어시킨다. 채널 배당이 원격 디지탈 위성 유니트(13)로 보내지면, 선 제어 메시지는 비접속(Disconnect; DS) 비트 셋트를 보내고 단일 공동선 비트는 셋트시키거나 크리어시킨다.If the
원격 디지탈 위성 유너트가 승인 메시지를 수신하므로서 표시된 비접속 메시지를 수신한다고 가정하면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 호출 처리기에 채널 비접속 신호를 보낸다. 제10도에 도시한 이 메시지는 위선 선 번호와 배당된 채널 번호를 확인한다. 또한, 디지탈 위성 접속장치는 다음의 호출을 하기에 유용한 채널을 만든다. 위성 선 번호가 온-후크 되면, 디지탈 위성 접속장치(14)에 의한 다음의 처리가 종결된다. 그러나, 원격 가입자가 아직도 오프-후크하고 있으면, 원격 디지탈 위성 유니트(13)은 비접속 메시지로 동작하기 위해서 비접속(DS) 비트 셋트를 가진 특정한 발신 메시지를 보낸다. 이때, 디지탈 위성 접속장치(14)는 제10도에 도시한 해제(RELEASE) 메시지를 호출 처리기로 보내고 호출 처리기는 이 위성 선 번호가 지금 아이들 되어 있는 것을 지시하므로서 이것의 제어 정보를 새롭게 한다. 이것은 비접속 공정이 완전히 끝나게 한다.Assuming that the remote digital satellite unit receives the indicated disconnected message by receiving an acknowledgment message, the
F. 보수 처리기-디지탈 위성 접속장치 통로F. Maintenance Processors-Digital Satellite Access Channels
보수를 하기 위한 제4도에 도시한 다지탈 전화 교환국(10)과 디지탈 위성 접속장치(14) 사이의 통신로는 보수 처리기(Maintenance processor; MP)(300)에 접속되는 MBI 완충기(18)과, MBI 완충기(18) 및 모선(26)을 상호 접속하는 전단회로(30)을 포함한다. MBI 완충기(18)은 제18도에 계통도로 도시되어 있다. 호출 채리기 모선 접속회로(Call processor bus interface; CPI)(17)과 마찬가지로, MBI 완충기(18)은 보수 채리기(300)과 디지탈 위성 접속장치(14) 사이에 완충된 접속장치를 제공한다. 이 통로는 디지탈 위성 접속장치(14)와 보수 처리기(300) 사이로 전단 정보를 이송하고 보수 처리기(300)으로 부터 제4도의 메모리(28)로 프로그램을 적재한다. 각각의 MBI 완충기 (18)은 30개의 디지탈 위성 접속장치(14)에 접속될 수 있다. 그러나, 호출 처리기 모선 접속회로(17)과 마찬가지로, 회로는 동작시에 뚜렷하게 동작한다.The communication path between the
MBI 완충기(18)은 두 개의 동작 모우드를 갖고 있다. MBI 완충기(18)이 사용되지 않을 때, 선택 동작이 생긴다. 제19도에서, 어드레스 발생기(1810)은 각각의 디지탈 위성 접속장치 내의 전단회로(30)에 대응하는 어드레스를 연속적으로 발생시킨다. 멀리플렉서(1811)은 어드레스 발생기(18101)로 부터의 신호를 구동기(1812)를 통해 전단회로(30)에 결합하기 위해 이 선택 동작 모우드로 동작하게 된다. 대응하는 디지탈 위성 접속장치가 보수 접리기(300)으로 메시지를 송신하기를 원한다면, 이것은 개입 중단이 보수될 때까지 어드레스 발생기(1810)을 동작하지 못하게 하도록 검출되는 표시문자 신호에 응답하게 된다.MBI buffer 18 has two operating modes. When the MBI buffer 18 is not used, a selection operation occurs. In FIG. 19, the address generator 1810 continuously generates an address corresponding to the
보수 처리기(300)이 진단회로(30)에 정보를 보내기를 원할 때, 이것은 수신기(1813), 멀리플렉서(1815), 멀리플렉서(1811), 및 구동기(1812)를 통해 진단회로(30)으로 먼저 지나가는 신호들을 송신한다.When the
디지탈 위성 접속장치(14)가 보수 처리기에 메시지를 송신하기를 원할 때, 이것은 수신기(1816)과 구동기(1817)을 동작시키므로, 메시지는 정상적으로 보수 처리기(300)으로 직접 지나간다. 그러나, MBI 완충기(18)이 디지탈 위성 접속장치(14)가 보수 처리기(300)에 도달하려고 할 때 선택 동작을 도전시키면, 수신기(1818)은 선택이 완전히 끝날때까지 정보를 함유하는 래치 및 제어 회로(1819) 속에 정보를 결합시키므로, 선택 동작은 종결되고 구동기(1820)은 수신기(1816)과 구동기(1817)을 통하여 다시 정보를 이송하게 된다.When the
제20도를 참조하면, 보수 처리기(300)으로 부터 디지탈 위성 접속장치(14)까지의 메시지는 전단회로(30)내의 수신기(3010)을 통하여 제어 레지스터(3011), 어드레스 해독기(3012), 및 입력 FIFO (3013)으로 지나간다. 어드레스 해독기(3012)는 어드레스를 해독한다. 즉, 이것이 이것의 디지탈 위성 접속장치(DSI) 어드레스에 대응하면, 연속적인 메시지는 프로그램 접속 아답터(3014)를 통하여 제4도의 메모리(28)로 이송되도록 입력 FIFO (3013)으로 이송된다. 처리기(27)이 보수 처리기(300)에 메시지를 송신하기를 원할때, 이것은 데이타 완충기(3015)와 프로그램 접속 아답터(3014)를 통하여 출력 FIFO (3017) 속으로 데이타를 통과시킨다. 이때 출력 메시지는 모선 구동기(3018)을 통하여 보수 완충기 접속장치(18)로 이송될 수 있다.Referring to FIG. 20, the message from the
입력 및 출력 FIFO (3013 및 3017)은 FIFO 제어 유너트(3019 및 3020)으로 부터의 신호에 응답하여 각각 동작한다. 진단회로(30)은 모선 구동기(3022)를 통하는 제어 신호를 만드는 개입 중단 제어 회로(3021)을 통하여 동작하기 시작한다. 보수 모선 접속 완충기(18)로 부터의 다수의 제어 신호는 수신기(2023)에 의해 수신된다. 프로그램 접속 아답터(3016)은 진단회로(30)과 처리기(27)의 제어 부분에 접속된다.Input and output FIFOs 3013 and 3017 operate in response to signals from FIFO control units 3019 and 3020, respectively. The
진단회로(30)은 다수의 기능을 실시하고 다수의 모우드 상태로 동작한다. 이것은 처리기(27)로부터 보수 처리기(300)을 통하여 메시지를 이송하고 보수 처리기(300)으로 부터 처리기(27)로 다시 메시지를 송신한다. 이것은 입력 메시지가 각각의 처리기에 유용하게 되거나 출력 메시지가 각각의 처리기로부터 보내질 때 처리기(27) 또는 처리기(300)에 표시된다. 또한 진단회로(30)은 비상 또는 정상 알람 상태가 존재하는 경우, 메모리(28), 특히 제8도의 프로그램 RAM (2811)과 동작 RAM (2812)에 프로그램을 이송시켜야 하는 경우, 또는 처리기(27)이나 메모리(28)이 접속되어 있지 않을 때 보수 처리기(300)에 신호를 보낸다. 보수 처리기가 메모리(28)로 정보를 이송하기 시작하면, 왕복시험을 실시하고 오차 시험을 조사하도록 처리기(27)로 신호가 이송된다. 마지막으로, 진단회로(30)은 보수 처리기(300)을 중단시키고 개입 중단 마스크를 제공한다.The
메시지 이송 기능은 본 발명에서 중요한 것으로 제19도와 제20도에 관련된 제21도를 참조하여 기술하겠다. 우선 제21a도를 참조하면, 메시지는 MBI 완충기(18)을 점유하고 이 MBI 완충기(18)에 접속된 디지탈 위성 접속 유너트 중의 한 유너트 내의 적당한 진단회로(30)을 점유하므로서 보수 처리기(300)으로 부터 디지탈 위성 접속장치(14)로 이송된다. 이것은 수단(501)에서 MBI 완충기(18)을 어드레싱하여 MBI 완충기(18)을 점유하므로서 수단(21A)에서 이루어진다. 이것은 제19도내의 어드레스 비교기(1814)가 MBI 완충기(18)에 대응하는 수신기(1813) 내의 어드레스를 해독할 때 이루어진다. 이때 완충기(18)은 멀리플렉서(1815), 멀리플렉서(1811), 및 구동기(1812)를 통하여 진단회로(30)에 연속적으로 신호들을 결합하도록 수신기를 동작시킬 수가 있다. 다음, 수단(502)에서, 보수 처리기(300)은 수신기(1813)에 대응하는 MBI 완충기(18) 내의 가공 위치를 어드레스한다. 이것은 연속적인 데이타가 진단회로(30)으로 이송되게 한다. 다음으로, 보수 처리기(300)은 이것을 점유하기 위하여 한개의 디지탈 위성 접속장치를 어드레스 한다(수단 503).The message transfer function is important in the present invention and will be described with reference to FIG. 21 related to FIG. 19 and FIG. Referring first to FIG. 21A, the message occupies the MBI buffer 18 and the
특정한 디지탈 위성 접속장치(14)가 점유되면, 보수 처리기(300)은 제20도와 제12a도 에 도시된 진단상태 레지스터(3024)를 해독한다. DSI 비 보수(DSI OUT OF SERVICE) 비트가 셋트되면, 수단(505)는 수단(506)으로 분기되고 보수 처리기는 보수 메시지를 분류한다. 이때 메시지가 이송될 수 없으면, 수단(507)로 분기되어, 보수 처리기(300)은 MBI 완충기를 해제시키기 위해 다시 이 완충기를 어드레스 한다. 이제 선택 동작에 대해 설명하겠다.When a particular
점유된 디지탈 위성 접속장치(14)가 보수 상태에 있다고 가정하면, 수단(505)는 상태 레지스터(3024)의 비트 0, 즉 입력 FIFO 비 통화중(INPUT FIFO BUSY) 비트를 시험하도록 수단(508)로 분기된다. 통화중이 아니라면, 수단(508)은 수단(509)로 분기되어, 보수 처리기는 진단 제어 래지스터(3011) 내의 해독 입력(READ INPUT) FIFO 비트를 소거하고 그 다음 수단(510 및 511)에서 디지탈 위성 접속장치(14)에 다중 바이트 메시지를 보낸다. 모든 바이트가 보내지면, 수단(511)은 수단(512)로 분기 되므로 보수 처리기(300)은 제어 레지스터(3011) 내의 해독 입력 FIFO 비트를 셋트 할 수 있고, 수단(507)에서 MBI 완충기(18)을 해제한다.Assuming the occupied
디지탈 위성 접속장치(14)로 부터 보수 처리기(300)으로 메시지를 이송하기 위한 공정은, 이것의 디지탈 위성 접속장치가 제20도의 출력 FIFO (3017) 속으로 메시지를 이송하고 제12a도에 도시한 상태 레지스터(3024) 내에 해독 출력(READ OUTPUT) FIFO 비트를 셋트시킬 때 제21b도의 수단(513)에서 시작된다. 이 상태 변화는 보수 처리기(300)이 중단되게 한다.The process for transferring a message from the
이 중단을 보수하기 위하여, 보수 처리기는 수단(514)에서 MBI 완충기(18)을 점유하도록 이 완충기를 어드레스 하고 그 다음 진단회로(30)과 통신할 수 있도록 수단(515)에서 가공 위치를 어드레스 한다. 이 수단들은 수단(502 및 503)에 대응한다. 그 다음, 이 처리기는 수단(516)에서 보수 중단을 조사하기 위하여 다음의 디지탈 위성 접속장치를 어드레스한다. 대응하는 진단상태 레지스터(3024) 내의 해독 출력 FIFO 비트가 셋트되면(수단 517), 한개의 메시지 바이트가 수단(518)에서 출력 FIFO (3017)로 부터 복귀된다. 부수적인 바이트들은 수단(509)에서 보수 처리기(300)이 진단상태 레지스터(3024) 내의 해독 출력 FIFO 비트가 소거되는 것을 알게 될 때까지 계속 복귀된다. 이러한 경우가 생기면, 수단(509)는 MBI 완충기(18)을 해제하기 위하여 수단(507)로 다시 분기된다.To repair this interruption, the maintenance processor addresses this buffer to occupy the MBI buffer 18 in the means 514 and then addresses the machining position in the means 515 to communicate with the
해독 출력 FIFO 비트가 수단(517)에서 셋트되지 않으면, 제어 상태는 제21c도의 수단(520)으로 간다. 보수 처리기(300)은 제12a도와 제20도에 도시한 진단 상태 레지스터(3024) 내의 DSI 비보수 비트를 시험한다. 디지탈 위성 접속장치가 접속되어 보수 상태에 있다고 가정하면, 수단(520)은 재부하 프로그램(RELOAD PROGRAMS) 비트가 셋트되어 제21a도의 수단(507)로 복귀되는 경우에 수단(529)에서 프로그램 메모리(2811)을 재부하시키도록 수단(521)로 분기된다. 재부하 프로그램 비트가 셋트되지 않으면, 보수 처리기(300)은 모든 디지탈 위성 접속장치(14)가 조사되었는지(수단 523)의 여부를 결정한다. 만약에 조사가 되었으면, 보수 처리기는 제2도의 전신 타자기(305)에 타이프 된다(수단 524). 조사가 되지 않았으면, 제어 상태는 제21b도의 수단(516)으로 다시 간다.If the decryption output FIFO bit is not set in the means 517, then the control state goes to the means 520 of FIG. 21C. The
확인된 디지탈 위성 접속장치가 비 보수 상태에 있으면, 제어 상태는 접속장치(14)가 수단(526)에서 비 보수 상태를 나타내고 수단(524)에서 메시지를 타이프 하도록 보수 처리기(300)을 동작시키기 위하여 수단(520)으로 부터 수단(525)로 지나간다. 이 표시가 생기면, 제어 상태는 수단(523)으로 간다.If the identified digital satellite junction is in an unmaintained state, the control state indicates that the
G. 자동 원격 선 시험G. Auto Remote Line Test
동작 및 시험 과정을 이해하기 위하여, 우선 자동시험 회로(20)에 대해 기술하고, 그 다음에 제15도의 보수 및 관리 회로(79)와 원격 디지탈 위성 유니트(13)에 대해 기술하겠다. 기본적으로, 자동 시험은 보수 처리기에 의해 계획되고 시험 호출이 형성되도록 보수 처리기(300)으로 부터 디지탈 위성 접속장치까지 메시지가 송신될 때 시작된다. 시험 호출 순서에 대응하는 일람표는 DSI 메모리(28)내에 보존된다. 이 경우가 발생하면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험용 선의 유용성을 경정하고 전화기 호출을 호출 처리기(408)을 통해 자동시험 회로(20)으로 보내기 시작한다. 호출 통로가 설정된 후에, 자동시험 회로(20)가 설계된 원격 디지탈 위성 유니트(13) 내의 자동시험 회로는 간단한 세가지 부분의 시험을 실시한다. 첫째, 제22도의 자동 시험회로 (20)은 정상적인 음성 데이타로서 포오트 그룹 간선로를 통하는 원격 도시한 자동시험 회로가 이 음색을 검출하면, 이것은 자동시험 회로(20)으로 다시 송신되는 음색 및 다이얼 펄스를 송신한다. 자동시험 회로는 주파수 및 타이밍 기준에 대해 음색 및 다이얼 펄스를 비교한다. 이 시험이 통과하며, 디지탈 위성 접속장치(14)는 호출을 착신하여 보수 처리기에 시험 완료(TEST COMPLETE) 메시지를 보낸다. 그러나 호출이 연속적으로 완전히 이루어지지 않으면, 디지탈 위성 접속장치는 보수 처리기(300)을 포함하지 않고도 고장을 분리시키기 위하여 연속적인 시험 호출을 이용하는 그 자체의 전단 수단들을 셋트하기 시작한다.In order to understand the operation and the test procedure, the
제2도에 도시한 바와 같이, 자동시험 회로(20)은 한개의 포오트그룹 유니트(402) 내의 중계선 포오트회로에 접속된다. 특히, 제22d도에 도시한 바와 같이, 자동시험 제어 회로는 후크(hook) 상태 정보를 이송하는 신속감지 감시 비트를 나타내는 포오트 그룹 제어 회로(Port group control; PGC)로 부터 DAA 신호를 수신한다. 자동시험 순서가 시작되면, 디지탈 전화 교환국은 원격 선으로 부터 호출 처리 시스템을 통하여 자동시험 회로(20)으로 DAA 신호로 이송되는 신속 감지(FASTSENSE) 비트의 통로를 설정한다. ADS(-) 펄스는 포오트 그룹 유니트(402) 내의 회로(20)의 특정한 위치에 배당된 샘플 시간 슬롯트에 대응하는 포오트 스트로브 펄스이다.As shown in FIG. 2, the
포오트 그룹 유니트(402)는 음성 데이타와 감시 데이타용 멀티 플렉서 및 디멀티플렉서를 포함한다. 제22b도의 음색 수신기로의 DBA 신호는 음성 데이타 디멀티플렉서로 부터 회복되는 음성 데이타이다. 제22c도의 주파수 검파기로의 DBM, DBC, 및 ADD 신호는 포오트 그룹 유니트(402)로 부터 회복되는 타이밍신호이다. 이 특정한 실시예에서의 DBM 신호는 선 회로 내의 CODEC 회로를 스트로브하여 가청 신호가 샘플되고 디지탈 형태로 변환되는 비에 대응하는 8KHz 샘플링 신호이다. DBC 신호는 CODEC용 128KHz 기본 클럭 신호이다. CODEC 회로는 짝수 및 홀수 그룹으로 분리된다. 홀수(ODD) 신호는 홀수 또는 짝수 그룹을 선택한다. 음색 발생기(22A)는 국부 선 회로 내의 CODEC로 부터 회복되는 디지탈 형태의 음성 데이타에 대응하는 AEA 신호를 발생한다. 즉, 이 음성 데이타는 음성 데이타 멀리플렉서를 통해 포오트 그룹 간선로 상으로 이송된다. 제22c도의 주파수 검파기는 저속 감지(SLOW SENSE) 정보에 대응하는 ADV 신호를 발생한다. 즉 이것은 자동시험 회로(20)이 존재하는 것을 지시한다. DAC 신호는 자동시험 회로 내에서 시험 성공 또는 실패를 신호로 알리는 신속 감지(FAST SENSE) 감시 정보를 이송한다.The port group unit 402 includes a multiplexer and a demultiplexer for voice data and surveillance data. The DBA signal to the timbre receiver of FIG. 22B is the speech data recovered from the speech data demultiplexer. The DBM, DBC, and ADD signals to the frequency detector of FIG. 22C are timing signals recovered from the port group unit 402. The DBM signal in this particular embodiment is an 8 KHz sampling signal corresponding to the ratio at which the audible signal is sampled and converted to digital form by strobe the CODEC circuit in the line circuit. The DBC signal is a 128KHz base clock signal for the CODEC. CODEC circuits are separated into even and odd groups. Odd (ODD) signals select odd or even groups. The tone generator 22A generates an AEA signal corresponding to the digital form of voice data recovered from the CODEC in the local line circuit. In other words, this voice data is conveyed onto the port group trunk via the voice data mulletplexer. The frequency detector of FIG. 22C generates an ADV signal corresponding to SLOW SENSE information. In other words, this indicates that the
i. 자동 시험 회로(20)i. Automatic test circuit (20)
DAA 신호는 대응하는 ADSC(-), 또는 포오트 스트로브 펄스에 의해서 제22d도 내의 래치회로(2010)으로 주기적으로 스트로브된다. 경간 위의 신호화 비트가, 원격 유니트(B)가 선택(즉, 오프 후크)되고 호출이 자동시험 회로(20)으로 완전히 되었다는 것을 나타낼 때, 래치 회로(2010)은 AND 게이트 2011에 인가되는 오프-후크(OfF-HOOK) 신호를 발생하도록 셋트된다. 시험 플립 플롭회로(2012)는 전력회로(2014)가 동작하게 되고 온-후크 신호가 한 셋트의 카운터(2015)로 부터 발생될 때 제22e도 내의 OR 게이트(2013)에 의해 발생되는 내부의 온-후크(ON-HOOK) 신호에 의해 소거된다. 이것은 내부 상태 신호이다.The DAA signal is strobe periodically to the
제22d도를 참조하면, 시험 플립-플롭 호로가 소거될 때, 이것은 상태 카운터(2016)도 크리어(clear)하고 해독기(2017)이 리셋트(RESET) 신호를 내보내도록 동작하게 한다. 리셋트 신호는 OR 게이트 2018을 동작시켜서 AND 게이트(2011)이 동작하게 한다. 플립-플롭 회로(2010)이 셋트되면, AND 게이트(2011)은 AND 게이트(2019)를 활성화시키어, 해독기(2107)로 부터 다이얼 펄스 검출(DP DETECT) 신호가 나오지 않을 때 동작하게 한다. 결과적으로, AND 게이트(2019)는 NOR 게이트(2020)을 동작시키어 카운티(2022 및 2023)이 카우트를 시작하게 한다. 리셋트 카운터(COUNTER) 신호가 나오지 않으므로, 카운터(2022)로의 병렬 부하 입력은 활성화되지 않는다. 카운터(2022)와 직렬로 되어 있는 카운터(2023)은 카운터(2022)의 이송(RCO) 출력이 나오지 않는 동안 동작하지 않는다. 4밀리초의 핀스는 카운터(2022 및 2023)의 클럭 입력에 인가된다.Referring to FIG. 22D, when the test flip-flop call is cleared, this also causes the
래치 회로(2010)이 16밀리초 동안 셋트되면, 출력 카운터(2022)는 클럭되어 시험 플립-플롭 회로(2012)를 셋트시킨다. 내부의 온 후크 신호가 활성화되면, 반전기(2024)로 부터의 반전된 4MS 펄스는 AND 게이트(2025)를 동작시키게 된다. 그러나, 시험을 하는 동안, 온-후크 신호가 나오지 않으므로, 가장 중요한 크리어 신호는 제거된다. 시험 플립-플롭 회로(2012)가 셋트되면, 상태 카운터(2016)으로의 크리어 입력은 제거되고 연속적인 4MS 펄스가 상태 카운터(2016)을 전진시키도록 상태 카운터(2016)의 출력에 응답하여 입력을 선택하기 위해서 멀티플렉서(2026)이 동작하게 된다.When the
이 제1상태 동안, 해독기(2017)로 부터의 리셋트 신호는 제22e도의 다이얼 펄스 해독기와 제22c도의 주파수 해독기에 결합된다. 상세하게 말하자면, 리셋트 신호는 제22c도의 OR 게이트(2027 및 2028)을 동작시켜서, OR 게이트(2029)가 동작하지 못하게 하고 카운터(2030)이 8밀리초 펄스 비로 프리셋트 값으로 부터 카운트를 시작하게 한다. 이 카운트는 이송(RCO) 신호가 발생될 때까지 계속되는데, 이것은 97밀리초 시험 창(window)를 정한다. 제22e도를 참조하면, 리셋트 신호는 DP 승인(OK) 플립-플롭 회로(2031)을 크리어한다.During this first state, the reset signal from decoder 2017 is coupled to the dial pulse decoder of Figure 22e and to the frequency decoder of Figure 22c. Specifically, the reset signal operates the OR gates 2027 and 2028 in FIG. 22C, preventing the OR gate 2029 from operating and the counter 2030 starting counting from a preset value with an 8 millisecond pulse ratio. Let's do it. This count continues until a transfer (RCO) signal is generated, which defines a 97 millisecond test window. Referring to FIG. 22E, the reset signal clears the DP OK (flip) -flop circuit 2031.
다음의 4MS 펄스는 상태 카운터(2016)을 전진시키므로, 해독기(2017)은 새로운 상태에 대응하는 RSETFLG 신호를 발생한다. 멀티플렉서(2026)으로 부터의 출력은 계속 나오므로 상태 카운터(2016)은 다음의 4MS 펄스로 전진한다. 이 상태 동안, RSETFLG 신호는 제22c도의 주파수 해독기 내의 주파수 승인(FREQ OK) 플립 플롭 회로(2032)를 크리어 한다.The next 4MS pulse advances the
제22d도내의 카운트(2016)이 다시 전진하게 되면, 해독기(2017)은 리셋트 카운트(RESET COUNTER) 신호 및 대응 상태를 발생한다. 리셋트 카운터 신호는 카운터(2022 및 2023)을 크리어 하므로 이것들은 다음의 동작을 시작하게 된다. 또한, 리셋트 카운터 신호는 상태 카운터(2016)을 전진시키고 이송 음색(SEND TONE) 상태를 설정하기 위해 다음의 4MS 펄스가 동작하도록 멀티플렉서(2026)을 통해 지나간다.When the
해독기(2017)로 부터의 이송 음색 신호는 OR 게이트(2018)을 동작시키므로 AND 게이트(2011)은 카운터(2022)가 연속적인 4MS 펼스를 전진시키도록 다시 동작하게 된다. 검출 음색 및 DP 검출 신호는 나오지 않으므로, OR 게이트(2034)는 동작하지 않게 되고 플립 플롭 회로(2036)으로 부터의 짝수 지연(EVEN DLY) 클럭 신호에 응답하여 카운터(2035)가 전진하게 된다.The transfer tone signal from the decoder 2017 operates the
플립 플롭 회로(2036)은 DBM, DBC, 및 ADD 신호들로부터 유도된 신호에 응답한다. 상세하게 말하자면 제22c도 내의 완충기(2037)은 샘플, CCLOCK, 및 홀수 신호들을 각각 만들도록 이 신호들을 완충한다. 제22a도를 다시 참조하면, 반전기(2038)은 플립 플롭회로(2036)의 D입력에 인가되는 짝수 신호를 만들고 각각의 짝수 기간의 초기에 플리 플롭(2036)을 클럭하는 고속 CCLOCK 펄스를 만든다. 이러한 경우가 생기면, 플립 플롭회로(2036)은 어드레스를 만들기 위해서 카운터(2035)를 클럭한다.
각각의 연속적인 짝수 기간의 초기에, 부수적인 어드레스가 연속적으로 발생하게 된다.At the beginning of each successive even period, additional addresses will occur sequentially.
카운터(2035)와 캐스 케이드 카운터(2040)으로 부터의 연속적인 어드레스는 가공 음색의 샘플에 대응하는 알련의 비트 대열을 만드는 해독 메모리(2041) 내의 연속적인 위치를 어드레스한다. 이때 이 샘풀들은 AND 게이트(2042)에 의해 감지된 짝수 지연 및 CCLOCK 신호의 동시 발생에 응답하여 클럭되고 NAND 게이트(2043)에 인가되는 CCLOCK, 홀수 및 샘플 신호의 제어 상태하에 일련의 형태로 전이된다. 메모리(2041)로 부터의 일련의 비트 대열은 짝수 비트 시간동안 동작하게 되는 AND 게이트(2044)와 반전 구동기(2045)에 의해 AEA 신호로서 포오트 그룹 간선로에 인가된다.Consecutive addresses from counter 2035 and
이 음색은 카운터(2022 및 2023)에 의해 설정된 1-2 기간 동안 보내진다. 1-2 기간이 끝나면, 카운터(2023)으로 부터의 이송(CARRY) 출력은 멀티플렉서(2026)에 선택된 입력을 활성화시키므로, 다음의 4MS 펄스가 검출 음색(DETECT TONE) 상태로 상태 카운터(2016)을 전진시키게 한다. 이 카운터(2016)은 제22도의 주파수 검파기 내의 플립 플롭회로(2032)로 부터 주파수 승인(FREQ OK) 신호가 나오지 않게 되면 멀티플렉서(2026)에 의해 다시 동작하지 않게 된다. 해독기(2017)로 부터의 검출 음색 신호는 OR 게이트(2034)를 동작시키고 제22a도의 음색 발생기가 동작하지 못하게 한다.This tone is sent for a 1-2 period set by the
원격 신호 선으로 부터의 음색의 디지탈 표시는 제22b도의 음색 수신기 내의 직렬-병렬 변환기(2050) 내에 DBA 신호로 수신된다. 이 신호들은 AND 게이트(2051)에 의해 감지된 짝수지연, 반전된 CCLOCK, 및 짝수 신호들이 각각 생기는 경우에 변환기(2050) 속으로 연속적으로 전이된다. 홀수(ODD) 신호가 나올 때 마다, 변환기(2050)은 음색의 전체적인 디지탈 표시를 포함하고 홀수 신호는 래치회로(2052) 속으로 이 표시를 클럭하므로, 래치된 표시는 비교기(2053)의 한 입력으로 이송된다. 또한, 각각의 홀수 신호는 어드레스 카운터(2054)를 클럭한다. 그러나, 이 카운터는 유사점을 찾을때까지 전진하지 않는다. 그러므로 비교기(2053)은 메모리(ROM) (2055)로 부터의 제 1 워드와 메모리 워드 사이의 동일성을 비교한다. ROM(2055)는 제22a도의 ROM (2041)과 동일하다. 동일성이 이루어지면, 어드레스 카운터(2054)는 전진하기 시작한다. 수신된 음색과 ROM으로 부터의 음색이 동위상 내에 있지 않으면, 어드레스 카운터(2054)는 비교 시험이 실패하게 되기 때문에 OR 게이트(2056)을 통하여 초기 값으로 재부하된다. 음색들이 동위상 내에 있으면, 어드레스 카운터(2054)는 계속 전진하게 된다. 이때 AND 게이트(2058)은 카운터(2054)로 부터의 최소로 중요한 비트에 비해 선택적으로 동작하거나 동작하지 않게 된다. 선정된 수의 유사점을 수신한 후에, 카운터(2057)은 음색 수신(TONE RECD) 신호인 이송(RCO) 출력을 만든다. 이것은 AND 게이트(2058)이 동작하지 못하게 하고 또 다른 카운트를 하지 못하게 한다.The digital representation of the timbre from the remote signal line is received as a DBA signal in a serial-to-
또한, 래치회로(2052)로 부터의 두개의 가장 주용한 비트는 제로 크로싱(zero crossing)이나 음색 주파수를 나타내는 표시 정보를 포함한다. 이 비트들은 정(+)의 표시가 수신도리 때 표시(SIGN) 신호를 내보내는 AND 게이트(2059)를 통해 공급된다. 이 표시 신호는 제22c도의 주파수 검파기 내의 카운터(2060)으로 보내진다. 표시 신호는 두배의 음색 주파수에서 변하게 된다. 카운터(2060)은 카운터(2030)에 의해 정해진 96ms 시험 창(window)이 끝날 때까지 전진하고, 카운터(2060)은 임계장치(2061)을 동작시키고 카운터(2060)을 동작하지 못하게 하는 이송을 발생시킨다. 통상적으로 두 개의 비교기 (2062 및 2063)은 시험 창이 끝날때 AND 게이트(2064)를 동작시키므로, 카운터로 부터의 이송 출력 신호는 주파수 승인 플립-플롭회로(2032)를 셋트한다.In addition, the two most prevalent bits from the latch circuit 2052 include display information indicating zero crossing or tone frequency. These bits are fed through an AND gate 2059 which emits a SIGN signal when a positive indication is received. This display signal is sent to the counter 2060 in the frequency detector of FIG. 22C. The display signal changes at twice the tone frequency. The counter 2060 advances until the end of the 96 ms test window defined by the counter 2030, and the counter 2060 generates a transfer that activates the
또한 제22b도 내의 카운터(2057)로 부터의 음색 수신(TONE RECEIVED) 신호는 제22c도의 OR게이트(2065)를 동작시킨다. 이것은 회로(20)용 포오트 축적 지역에 신속 감지 감시 신호를 제공하는 DAC선을 활성화시키기 위해서 완충기(2037)을 동작시킨다.Also, the tone receiving signal from the
주파수 승인(FREQ OK) 신호는 제22d도 내의 자동시험 회로로 다시 결합되므로, 멀티플렉서(2026)은 상태 카운터(2016)이 전진하여 DP 검출(DECT) 상태를 만들게 한다. 여기서 입력 다이얼 펄스가 검출된다. 이러한 경우가 생기면, 멀티플렉서(2026)은 시험이 완전히 끝난 것을 지지하는 TSTCPLTE 신호가 나오지 않기 때문에 카운터(2016)을 다시 동작하지 못하게 한다. DP 검출 신호는 제22a도의 음색 발생기와 제22e도의 다이얼 펄스 검출기에 결합된다. 우선 제22a도를 참조하면, DP 검출 신호는 OR 게이트(2034)를 동작시키고 음색 발생기가 동작하지 못하게 한다.The frequency OK signal is coupled back to the automatic test circuit in FIG. 22d, so the multiplexer 2026 causes the
제22e도를 참조하면, DP 검출 신호는 강하게 되었을 때 AND 게이터(2070)을 동작하지 못하게 하고 카운터(2105)를 동작시킨다. 또한, DP 검출 신호는 시작 다이얼 펄스 타이머(Begin dial pulse timer; BEG DP TMR) 플립-플롭 회로(2071)이 카운터(2015)로 부터의 출력에 의해 클럭되게 한다. 이것은 또한 제22d도의 자동시험 제어 회로 내의 AND 게이트(2073)으로 부터의 DP 시험 신호가 후에 강하게 될 때 AND 게이트(2072)가 TSTCPLTE (시험완료) 신호를 발생시키게 한다.Referring to FIG. 22E, when the DP detection signal becomes strong, the AND gate 2070 is disabled and the counter 2105 is operated. In addition, the DP detection signal causes the Begin dial pulse timer (BEG DP TMR) flip-flop circuit 2071 to be clocked by the output from the
원격 선으로 부터의 다이얼 음색을 나타내는 오프 후크 신호는 다이얼 펄스 "파괴" 음색기간동안 강하게 되고 다이얼 펄스 "형성" 기간동안 강하지 않게 된다. 오프 후크 신호가 강하게 되면, 캐스 케이드 카운터(2015)는 전진하지 못하고, 다만 오프 후크 신호가 강하지 않을 때, 4ms 펄스 비로 전진할 수 있다. 그러므로, 카운터(2015)는 연속적인 다이얼 펄스 "형성" 시간을 측정한다. "형성" 신호가 16ms 동안 끝난 후에, 카운터(2015)는 플립 플롭회로(2017)을 클럭한다. 이때 최종적인 BEG DP TMR 신호는 카운터(2022 및 2023)이 전진하기 시작하도록 한다. 176ms 후에, 또는 제 1다이얼 펄스가 도착한 후 192ms 후에, AND 케이트(2073)은 다이얼 펄스 시험(DP TEST) 신호를 내보낸다. 이것은 두 개의 다이얼 펄스의 공칭 기간에 대응한다.The off-hook signal, which represents the dial tone from the remote line, becomes strong during the dial pulse "break" tone period and not during the dial pulse "form" period. When the off hook signal is strong, the
DP TEST 시험 신호가 강하게 되면, 플립-플릅 회로(2031)은 조사된다. 비교기(2074)는 다이얼 펄스의 모든 "형서" 시간이 최대 이하로 되게 한다. 비교기(2075)는 이 시간이 최소 이상으로 되게 한다. 그러므로 AND 게이트(2076)이 DP TEST 신호가 강할 때 활성화되면, AND 게이트(2072)로 부터의 TEST CPLTE(시험완료) 신호가 강하게 되다. 플립-플롭 회로(2031)은 수신된 다이얼 펄스가 공차내에 있다는 표시를 셋트한다.When the DP TEST test signal becomes strong, the flip-flop circuit 2031 is irradiated. Comparator 2074 causes all "form" time of the dial pulses to be below the maximum. Comparator 2075 causes this time to be above the minimum. Therefore, if the AND gate 2076 is activated when the DP TEST signal is strong, the TEST CPLTE (test complete) signal from the AND
TSTCPLTE 신호는 제22d도의 자동시험 제어 회로로 다시 결합되고, 다이얼 펄스 승인(DP OK) 신호는 제22c도의 주파수 검파기에 수신된다. 우선 제22c도를 참조하면, DP OK 신호는 신속 감지 정보 비트를 나타내는 DAC 신호가 포오트 그룹 제어 및 포오트 그룹 상태의 성공 또는 실패의 지시를 이송하도록 OR 게이트(2065)를 동작시킨다. 제22도의 자동 시험 제어 회로에서, TSTCPLTE 신호는 다음의 4MS 펄스가 상태 카운터(2016)을 최종 상태로 전진시키도록 멀티 플렉서(2026)의 선택된 입력을 활성화시킨다.The TSTCPLTE signal is combined back into the automatic test control circuit of FIG. 22d, and a dial pulse acknowledgment (DP OK) signal is received by the frequency detector of FIG. Referring first to FIG. 22C, the DP OK signal operates the
4MS 및 8MS 펄스들은 카운터(2080 및 2081)과 해독 회로(2082)를 통하는 짝수 신호들을 해독하므로서 이루어진다.The 4MS and 8MS pulses are made by decoding even signals through the
ii. 원격 자동 시험 회로ii. Remote auto test circuit
제23도와 제23a도 내지 제23f도를 참조하면, 해독기 및 타이밍 발생기(7910)은 자동시험 명령 메시지가 원격 디지탈 위성 유니트로 보내질 때 개시 자동시험(COMAT) 신호를 발생시킨다. 제23a도를 참조하면, COMAT 신호는 500KHz 클럭 신호에 응답하여 셋트되는 초기 자동시험 플립플롭회로(7911)에 인가되어 최초 자동시험(Start auto test; SAT) 신호를 내보낸다. 이 SAT 신호는 제23a도의 AND 게이트(7912), 상태 레지스터(7918), AND 게이트(7919), 및 OR 게이트(7928)에 결합된다. 이것은 제23b도의 타이밍 회로 내의 카운터 7915를 동작시키고 제23c도의 검파기 회로 내의 여러 소자들을 동작시킨다.Referring to FIGS. 23 and 23A-23F, the decoder and timing generator 7810 generates a start automatic test (COMAT) signal when an autotest command message is sent to the remote digital satellite unit. Referring to FIG. 23A, the COMAT signal is applied to an initial automatic test flip-flop circuit 7111 set in response to a 500 KHz clock signal to emit a Start auto test (SAT) signal. This SAT signal is coupled to the AND gate 7912, status register 7818, AND gate 7919, and OR gate 7828 of FIG. 23A. This operates counter 7915 in the timing circuit of FIG. 23B and various elements in the detector circuit of FIG. 23C.
제23a도를 참조하면, AND 게이트(7912)는 제23b도의 타이밍 회로에 결합되고 제23e도의 알람 제어 및 수신기 리셋트 회로에 결합된 자동시험 리셋트(Auto test reset; ATRR) 신호를 내보내도록 동작한다. ATRR 신호는 제23b도 내의 OR 게이트(7913)을 동작시켜서, C16 플립-플롭 회로(7914)와 카운터(7927)을 포함하고 있는 시험 기능 타이머를 크리어 한다. 이것은 또한 NOR 게이트(7916)이 플립-플롭 회로(7917)을 조절하여 RST5S 리셋팅 신호가 강하지 않게 되는 한 RECRST 신호가 강하게 한다. REC RST 신호가 강해지면 제23도 내의 회로(7910)은 COMAT 신호를 강하지 않은 레벨로 전이시킨다. 그러나, 플립-플롭 회로(7911)은 상태 전이 레지스터로 부터의 ENDAT 신호가 강하지 않기 때문에 계속 셋트되어 있다.Referring to FIG. 23A, the AND gate 7912 is operative to emit an Auto test reset (ATRR) signal coupled to the timing circuit of FIG. 23B and coupled to the alarm control and receiver reset circuit of FIG. 23E. do. The ATRR signal operates the OR gate 7913 in FIG. 23B to clear a test function timer that includes a C16 flip-flop circuit 7714 and a counter 7727. This also makes the RECRST signal strong as long as the NOR gate 7916 controls the flip-flop circuit 7917 so that the RST5S reset signal is not strong. When the REC RST signal is intensified, the circuit 7910 in FIG. 23 transitions the COMAT signal to a level that is not strong. However, the flip-
SAT 신호는 제23a도 내의 카운터(7918)을 동작시킨다. 또한, NOR 게이트(7920)은 AND 게이트(7919)를 동작시키므로, SAT 신호는 수동시험을 하는 동안 발생되는 사용 음색 검출(enable tone detect; ETD) 신호에 의해 동작될 수 있는 OR 게이트(7921)을 동작시키어, 사용 음색 검출(ENABLE TONE DETECT) 플립플롭(7922)가 음색 검출(tone detect; TNDET) 제어 신호를 발생하도록 셋트되게 한다.The SAT signal operates the
플립플롭 회로(7922), 부터의 TNDET 신호는 제23b도의 타이밍 회로, 제23c도의 검파기 회로, 및 제23d도의 다이얼 펄스 검출기 회로에 결합된다. 제23b도에서, TNDET 신호는 분할 JK 플립-플롭(7925)로 부터 OR 게이트(7926)을 통하여 시험가능 타이머 카운터(7927)로 클럭 펄스를 클럭 입력으로 통과시키도록 AND 게이트(7924)를 동작시키는 OR 게이트(7923)을 활성화시킨다. 이 OR 게이트(7923)은 카운터(7927)을 전진시키는 OR 게이트(7933)도 활성화시킨다. 제23d도에서, TNDET 신호는 자동시험 회로(20)으로 부터의 입력 음색이 검출되는 경우에 제23c도의 검출기 회로에 결합되는 음색(TONE) 신호를 발생시키도록 게이트(7932)를 동작시킨다.The flip-flop circuit 7822, TNDET signal from, is coupled to the timing circuit of FIG. 23B, the detector circuit of FIG. 23C, and the dial pulse detector circuit of FIG. 23D. In FIG. 23B, the TNDET signal operates the AND gate 7924 to pass a clock pulse from the split JK flip-flop 7825 to the testable timer counter 7927 through the OR gate 7926 to the clock input. Activate OR gate 7723. This OR gate 7913 also activates an OR gate 7333 that advances the counter 7927. In FIG. 23D, the TNDET signal operates the gate 7932 to generate a TONE signal that is coupled to the detector circuit of FIG. 23C when the input tone from the
플립플롭 회로(7911)로 부터의 SAT 신호는 OR 게이트(7928)을 활성화시키어, 시험 계전기 내의 계전기 코일(7929C)를 활성화시킨다. 계전기 코일이 활성화되면, 두 개의 개방 계전기 접점은 결합된 선 회로의 시험 억세스 계전기의 TT1 및 TR1 시험 선에 하이브리드(hybrid) 회로의 한 측면이 접속된다. 이러한 시험 억세스 계전기는 선 회로로 부터 가입자를 비접속시키고 TST 계전기(7929)가 제23도의 시험 회로를 구성하게 한다. OR 게이트(7928)은 다른 OR 게이트(7930)을 활성화시키고 PL 계전기의 코일(7931C)를 활성화시킨다. 제23d도의 PL 계전기 접점(7931A)는 자동시험 회로의 하이브리드 회로로 부터 TST 계전기를 통하는 통로를 완전히 이루도록 접촉되고 있고 TT1 및 TR1은 시험 억세스 계전기에 접속되어 있다.The SAT signal from the flip-
이 제1상태 동안, 입력 신호는 감시된다. 음색이 수신되면, 이 음색은 하이브리드 회로(7930)과 음색 검출기 회로(7931)을 통해 결합된다. 음색이 검출되면, TNDET 신호에 의해 동작하는 AND 게이트(7932)는 제23c도의 검출기 회로로 다시 결합되는 TONE 신호를 만들기 위해 동작하게 된다.During this first state, the input signal is monitored. When the timbre is received, the timbre is combined via
카운터(7927)에 의해 정해진 기간 후에, 플립-플롭 회로(7914)는 셋트되어 C16 신호를 발생시킨다. 이것은 사건 전진(event advance; EAV) 신호를 발생하고 음색 검출 플립-플롭 회로(7935)를 셋트시키어 음색 검출 출력(tone detct output; TDO) 신호를 발생시키기 위해서 제23c도 내의 AND 게이트(7934)를 동작시킨다. 이 TDO 신호가 강하면 AND 게이트(7919 내지 7921)과 AND 게이트(7936)을 조절하므로 플립-플롭 회로(7922)는 EAV 신호가 다음의 클럭 변동때에 제1단을 셋트하도록 상태 전이 레지스터(7918)을 조절하는 동안 크리어될 수 있다. 제23c도를 참조하면, SAT 신호는 디지탈 전화 교환국(10)에서 자동시험 회로(20)으로 부터의 음색 송신이 착신되었을 때 플립-플롭 회로(7936)이 셋트 상태로 쌍안정되게 한다. 이러한 경우가 생기면, ADV 1 신호가 발생한다. 이 ADV 1 신호는 "1"을 상태 전이 레지스터(7918)의 제1단 속으로 클럭하여 제1 또는 음색 수단을 끝내고 활성 음색 이송(ETS) 신호에 의해 나타나는 음색 발생 상태로 들어가도록 제23a도 내의 OR 게이트(7937 및 7938)을 동작시킨다. 또한 제23a도 내의 OR 게이트(7937)로 부터의 ADV 신호는 제23b도 내의 카운터(7927)과 플립-플롭회로(7914)를 크리어 한다.After a period defined by the counter 7927, the flip-flop circuit 7714 is set to generate a C16 signal. This generates an AND (793) signal in FIG. 23C to generate an event advance (EAV) signal and to set the tone detection flip-
이것은 C16 신호를 강하지 않은 상태로 전이하여, 시간 검출 플립-플롭회로(7935)와 플립-플롭 회로(7936)을 크리어 하도록 AND 게이트(7934)가 동작하지 못하게 한다. 또한, 플립-플롭 회로(7914)를 크리어하면 제23c도 내의 EAV 신호가 강하지 않은 상태로 전이되어, 클럭 벽동에 응답하여 내용을 전이시키도록 상태 전이 레지스터(7918)을 조절한다.This transitions the C16 signal into a non-strong state, preventing the AND gate 7734 from operating to clear the time detection flip-flop circuit 7735 and the flip-
음색 발생 상태에서, 제23d도의 음색 회로는 제2시험 단계를 실시하기 위해서 제22도 내의 자동시험 회로(20)에 결합되는 복귀 음색을 발생한다. 상세하게 말하자면, ETS 신호는 제23c도 내의 OR 게이트(7939)를 동작시키어, 활성 음색 이송(ENABLE TONE SEND) 플립-플롭 회로(7940)이 셋트되게 하여 ST 계전기 코일(7941C)를 동작시킨다. 이것은 제23d도 내의 ST 1 접점(7941A)를 폐쇄하고 완충된 발진기 회로(7942)로 부터의 음색이 PL 접점(7931A)와 TST 접점(7929A 및 7929B)를 통하여 시험 억세스 계전기에 결합되게 한다. 또한, SAT 신호가 동시 발생하고 플립-플롭 회로(7940)을 셋팅하면 제23a도 내의 OR 게이트(7923)을 동작시키는 자동시험 시작(Auto test tone started; ATSTE) 신호를 내보내는 AND 게이트(7942)를 동작시키므로, 카운터(7927)과 플립-플롭 회로(7914)를 포함하는 시험기능 타이머는 음색이 이송되는 기간을 제어한다.In the tone generation state, the tone circuit of FIG. 23D generates a return tone coupled to the
정해진 기간이 끝날 때, 플립-플롭 회로(7914)는 셋트되고 OR 게이트(7944)를 통하여 ENABLE TONE SEND 플립-플롭 회로(7940)은 크리어 되도록 조절되고 ST 계전기 코일(7941C)는 동작하지 못하게 된다. C16 신호는 플립-플롭 회로(7946)을 셋트시키어 ADV 2 신호를 발생시키도록 조절하는 AND 게이트(7945)도 동작하지 못하게 한다. ADV 2 신호는 제23a도내의 시험기능 전이 레지스터(7918)을 다이얼 펄스 발생(DP GENERATING) 상태로 전진시키고 OR 게이트(7937)로 부터의 최종적인 ADV 신호를 통하여 시험 기능 타이머를 크리어 한다. 이것은 제2시험 단계를 끝내고 최종 다이얼 펄싱 단계를 만들도록 제23도의 회로를 조절한다.At the end of the predetermined period, the flip-flop circuit 7714 is set and the ENABLE TONE SEND flip-
이 상태에서, 최초의 다이얼 펄싱(STDP) 신호는 상태 전이 레지스터(7918)로 부터 제23f도의 다이얼 펄스 회로로 보내진다. 제23f도 내의 AND 게이트(7947)은 보수 및 관리 유니트(79) 내의 다른 화로로 부터의 ESDP 신호에 의해 동작하게 된다. 그러므로 플롭-플릅 회로(7948)은 셋트되어 활성 다이얼 펄싱(EDP) 신호를 발생시키도록 조절된다. 이 EDP 계신호는 카운터(7927)이 크리어되어 있어서 플립-플롭 회로(7950)을 조절하는 AND 게이트(7949)를 활성화시키므로 해독기(7951)은 이 AND 게이트(7949)를 동작시킨다. 이 EDP 신호는 또한 제 23B도 내의 AND 게이트(7952)도 동작시킨다. 시험기능 타이머(7927)이 전진하면, 이 것의 신호들은 제23F도 내의 해독기(7951)로 공급된다. 카운터(7927)이 "6" 카운트에 도달하면, 해독기는 플립-플롭 회로(7950)을 쌍안정시키도록 조절된다. 카운터(7929)이 "9" 카운트에 도달하면, AND 게이트(7952)는 카운터(7927)을 부하시켜서 이 카운트을 크리어시킨다. 플립-플롭 회로(7950)용 클럭 주파수는 이 플립-플롭 회로가 교정 타이밍 다이얼 펄스를 만드는 파괴-형성 플립-플롭 회로로 작용하도록 선택된다. AND 게이트(7953)은 교정 주파수의 다이얼 펄스 카운트(DPC) 신호를 발생시킨다. 64DP 신호가 나올 때 마다, 이것은 제23a도 내의 상태 전이 레지스터(7918)을 전진시키고 선 회로로 부터의 DC통로가 파괴되도록 PL 계전기(7913C)를 동작하지 못하게 한다. 그러므로, 다이얼 펄스 열내에 제1파괴 펄스가 생긴다. 60밀리초 후에, 카운터(7927)은 6카운트에 도달하므로 제23f도 내의 해독기(7951)은 형성-파괴 플립-플롭 회로(7950)을 리셋트시키도록 조절된다. 이러한 경우가 생기면, 형성-파괴 플립-플롭 회로(7950)은 크리어되고 제23a도 내의 PL 계전기 코일(7931C)는 다시 활성화 되므로, 이 계전기는 파괴 시간을 형성하도록 다시 폐쇄된다. 30밀리 초 후에, 제23f도 내의 해독기(7951)은 9카운트에 도달한다. 이것은 시험기능 타이머 카운터(7927)을 리셋트시키고 다음의 파괴 기간이 시작됨으로써 플립-플롭 회로(7950)을 다시 셋트시키돌고 AND 게이트(7949)를 조절한다. 이것은 제2다이얼 펄스가 시작되고 제1다이얼 펄스가 끝나는 것을 나타내며 전이 레지스터(7918)이 제2DP 상태로 전진하게 한다. 이것과 동일한 순서는 또 생긴다. 즉, PL 계전기는 30 밀리초의 형성기간 다음의 60밀리초의 파괴기간동안 동작하지 않는다. 이 시간이 끝날 때, 플립-플롭 회로(7950)이 셋트되면, 전이 레지스터(7019)는 다른다이얼 펄스가 보내지게 하는 다이얼 펄스 끝(END DP) 신호를 발생시키도록 전진한다. 이 다이얼 펄스 다음에, 전이 레지스터는 플립-플롭 회로(7935)와 제23f도의 EDP 플립-플롭 회로(7948)가 크리어되도록 조절하는 자동시험 끝(ENDAT) 신호를 발생시킨다. 이렇게 해서 제23도의 회로에서의 순서를 완전히 끝마친다.In this state, the first dial pulsing (STDP) signal is sent from the
제23c도에는 음색 실패 플립-플롭 회로(7970)도 도시되어 있다. 검출 시간이 끝날 때 음색이 검출되지 않으면, AND 게이트(7971)은 플립-플롭 회로(7970)을 셋트트시키도록 조절하여 TFO 신호를 발생시킨다. TFO 신호는 제23a도 내의 플립-플롭 회로(7922)를 크리어시키고 AND 게이트(7972)가 동작되게 하므로, 수동 시험시에 음색을 검출하는 거싱 실패되었다는 것을 지지하는 MTFL 신호를 만든다(즉, SAT 신호는 안 나온다).Also shown in FIG. 23C is a tone failure flip-
상술한 바와 같이, 제23b도의 타이밍 회로는 카운터(7915)와 플립-플롭 회로(7980)을 포함하는 5초 타이머를 포함한다. SAT 신호가 나오는 한, 카운터는 전진한다. 시험이 5초 기간이 끝날 때 완전히 끝나지 않으면, 타이머는 제15도 내의 회로(79)에 의해서 또는 전력 증가 순서에서 발생되는 RST 신호에 응답하여 활성화되는 RST 5S 신호를 발생시키도록 제23a도 내의 OR 게이트(7981)을 동작시킨다. 이 RST 5S신호는 제23e도 내의 플립-플롭 회로(7917)을 프리셋트(preset)한다.As described above, the timing circuit of FIG. 23B includes a five second timer that includes a counter 7915 and a flip-flop circuit 7780. As long as the SAT signal comes out, the counter advances. If the test does not end completely at the end of the 5 second period, the timer in OR in FIG. 23A generates an RST 5S signal that is activated by
H. 자동 시험 동작H. Automatic Test Operation
자동 시험 회로(20)과 보수 및 관리 회로(79) 내의 회로망을 이해하므로서, 자동시험을 하는 동안 생기는 다수의 통신 방법을 설명할 수가 있다.By understanding the network within the
i. 보수 처리기 동작i. Complement handler behavior
상술한 바와 같이, 보수 처리기(300)은 자동 시험 동작을 시작한다. 제24도는 다수의 관련된 제어 모듈(즉, 프로그램)을 가진 보수 처리기(300)을 도시한 것이다. 그외의 모듈도 다수 있으나, 본 발명과는 관계가 없기 때문에 설명하지 않았다. MBIIM, SYNCMM, LIM, DIAGC, FLD, 및 DIAGPR 모듈은 모두 종래의 디지탈 전화 교환국에선 이용하던 모듈이다.As described above, the
다수의 모듈들은 DSIFLD 모듈로 이송 제어될 수 있다. 자동 시험을 시작하기 위하여, EXEC 모듈은 호출 모듈로 있다. DSIFLD 모듈은 EXEC 모듈이 호출 모듈로 있는가를 결정하고 디지탈 위성 접속장치로 통로를 설정하고 이 디지탈 위성 접속장치에 자동시험 메시지를 보내는 DSIMO 모듈로 전이된다. 이것은 DSICOM 모듈을 이용해야 한다. 메시지는 DSITMO 모듈에 셋트되어 있는 파라메타들에 따라, 이 순서의 결과로 DSIMSG 모듈에 의해 제2도 내의 전신 타자기(305) 위에 타이프될 수도 있고 안될 수도 있다.Multiple modules can be transfer controlled to a DSIFLD module. To start the automatic test, the EXEC module is located as a calling module. The DSIFLD module transitions to the DSIMO module, which determines if the EXEC module is a calling module, establishes a path to the digital satellite interface, and sends an automatic test message to the digital satellite interface. This should use the DSICOM module. The message may or may not be typed on the
선정된 기간 후에, 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험이 완전히 끝난 것을 지시하는 메시지를 보수 처리기로 보내고, 이것은 개입중단 요구를 만든다. DSIHND 모듈은 DSIFLD 모듈을 통하여 인쇄가 필요한 경우에 DSIPR 모듈이라고 불리우는 DSICAL 모듈로 동작이 바뀐다. DSIAT 모듈은 교정 DSI의 수속(check-in)을 확인한다. 즉, 교정 DSI가 수속을 하지 않는 경우에, 다수의 진단이 제공된다. DSIPR 모듈은 입력 메시지를 해독하고, 필요한 경우에 알람을 발생시키며, 적당한 메시지를 인쇄한다. 이때 이것은 조작반 위에 메시지를 인쇄하기 위해 DSIMSG 모듈을 사용하기 전에 디지탈 위성 접속 장치가 보수를 끝내도록 DSIOOS 모듈로 전이 될 수도 있다.After the selected period, the
제25도는 보수 처리기가 디지탈 위성 접속장치 사이의 정보 이송, 자동시험의 연속적인 제어 및 감시, 및 자동시험에 응답하여 취해지는 작용을 나타내는 기본 접속장치 유통도이다. 그러나, 이것은 자동 시험 호출 배열 과정을 강조했다. 제26도에 내지 제29도는 처리기(27)에 의한 이 과정 중에 사용되는 제24도는 도시한 모듈을 상세하게 도시한 유통도이다.FIG. 25 is a basic flow chart showing the maintenance processor's actions in response to information transfer between digital satellite access devices, continuous control and monitoring of automated tests, and automated tests. However, this emphasized the automatic test call arrangement process. 26 through 29 are flow charts showing the modules shown in detail in FIG. 24 used during this process by the
우선 제25a도 내외 수단(500)을 참조하면, 보수 처리기는 자동 시험이 시작될 수 있는 가를 결정하기 위해서 디지탈 위성 접속상태 레지스터를 조사한다. 디지탈 위성 접속장치가 통화 중에 있으면, 수단(501)은 수단(502)로 분기되어 동작이 수단(503) 내의 정지 시험으로 전이된다. 정지가 검출되면, 수단(503)은 시험이 다시 계획될 수 있도록 수단(500)으로 다시 동작을 전이시킨다. 정지가 발생하면, 수단(503)은 고장 진단을 시작하도록 수단(504)로 분기된다.Referring first to the
확인된 디지탈 위성 접속 장치가 통화중이 아니면, 보수 처리기(300)은 자동시험을 시작하여 수단(503)에서 이용되는 보수 처리기 내의 타이머를 리셋트시키는 수단(505) 내의 확인된 디지탈 위성 접속 장치에 메시지를 보낸다.If the identified digital satellite access device is not in a call, the
수단(500 내지 505)는 제26도 내지 제29도에 더욱 상세하게 도시되어 있다. 제26도는 DSIFLD 모듈을 상세하게 도시한 유통도이다. 상술한 바와 같이, 이 모듈은 우선 호출 모듈을 결정한다. 상세하게 말하자면, 수단(600)은 DSIHND 모듈이 이것을 호출하는 가를 결정하고, 수단(601)은 모선 진단 모듈이 이것을 호출하는 가를 결정하며, 수단(602)는 이것이 짝수 홀수 오차에 응답하여 호출되는 가를 결정한다. 이것을 호출하는 EXEC 모듈이 자동시험을 시작하는 것을 실패하므로서 이 시험들이 아무런 정(+)적인 결과를 만들지 못하면, 제어는 보수 처리기가 보수 모선이 사용되는 가를 결정하는 수단(603)으로 옮겨간다. 이렇게 되면, 더 이상 아무런 작용이 생기지 않는다. 그러나, 그렇지 않으면, 모선은 수단(604)에서 통화중 상태로 셋트되고 IDSTMD 모듈은 자동시험을 시작하도록 수단(605)내로 호출된다. DSITMO 모듈이 처리되면, 제어는 제26도 내의 DSIFLD 모듈은 자동시험을 시작하도록 수단(605)내로 호출된다. DSITMO 모듈이 처리되면, 제어는 제26도 내의 DSIFLD 모듈로 복귀되므로 수단(606)은 더 이상 개입 중단을 하지 못하고, MBI 완충기(18)을 해제하며, 임무를 완전히 끝내기 전에 그외의 다른 적당한 동작을 행하도록 처리된다.Means 500-505 are shown in more detail in FIGS. 26-29. FIG. 26 is a distribution diagram showing details of the DSIFLD module. As mentioned above, this module first determines the calling module. Specifically, means 600 determines whether the DSIHND module calls it, means 601 determines whether the busbar diagnostic module calls it, and means 602 determines whether it is called in response to an even odd error. Decide If the EXEC module calling it fails to start an automatic test and these tests do not produce any positive results, control passes to the
제27도는 DSITMO 모듈을 상세하게 도시한 유통도이다. 이 모듈은 어떤 경우에 다중 시간동안 사용될 수 있다. 제1시간 동안(즉, 제25도 내의 수단500의 기능을 실시하는 동안), 수단(610)은 수단(611) 내에서 제1시간(FIRST TIME) 표시문자를 크리어시키고 수단(612)에서 제4도에 도시한 MBI완충기(18)에 접속된 다수의 디지탈 위성 접속장치에 대응하는 최대 번호에 카운터를 셋트시키도록 분기된다. 수단(613)은 대응하는 디지탈 위성 접속장치가 있는가를 결정하기 위해서 제1번호를 시험한다. 만약에 이 장치가 없으면, 수단(614 및 615)는 각각의 가공 접속장치가 순서대로 선택되게 한다. 선택동작이 성공적으로 취해지지 않으면, DSITMO 모듈은 이것의 동작을 끝마치고 이것의 호출 정규 과정으로 복귀된다. 그러나, 만약에 카운터 번호에 대응하는 디지탈 위성 접속 장치가 발견되면, 제어는 디지탈 위성 접속 장치용 어드레스가 DSIUDT 레지스터내에 축적되는 수단(616)으로 옮겨간다. 그 다음 제어는 자동시험을 시작하는 제27b도에 도시한 DSIEQ 순서로 옮겨간다.27 is a distribution diagram showing the details of the DSITMO module. This module can be used for multiple times in some cases. During the first time (ie, while performing the function of the
DSITMO 모듈이 제1시간 후에 호출되면, 수단(501)이 디지탈 위성 접속장치가 통화중이거나 고장 후에 연속적인 진단을 하는 중인 것을 검출할 때와 같이, 순서는 다수의 모선 정지(예, 제25도 내의 수단503에서 시험된 정지)를 동작시키는 수단(620)내의 시작 순서로 분기된다. 디지탈 위성 접속 장치가 수단(622) 내에서 수동 시험이 요구되는지의 여부를 결정하는 보수 처리기를(수단 621에서) 조사한다고 가정한다. 이렇게 되면, 수단(623 및 624)는 시험을 하게 된다.If the DSITMO module is called after the first time, the sequence is determined by a number of bus stops (e.g., FIG. 25), as the means 501 detects that the digital satellite connection is busy or after continuous failure. Branches in the starting order in the means 620 for operating the stop). Suppose that the digital satellite access device examines a maintenance processor (in means 621) that determines whether manual testing is required in
이 특정한 발명은 자동적으로 시작되는 자동 시험에 관한 것으로, 수단(622)는 수단(625)로 이송되어, 최종 디지탈 위성 접속장치가 심문되는지의 여부를 결정한다. 이렇게 되면, 수단(626)은 DSIUDT 레지스터를 크리어한다. 한편, DSIUDT 레지스터는 수단(627) 내에서 조사될 다음의 디지탈 위성 접속장치의 점으로 증대된다. 그 다음 이 두 경우 중 어떤 경우든지, 제어는 제27b도내의 DSIEQ 순서로 옮겨간다.This particular invention relates to an automatic test that is initiated automatically, wherein means 622 are transferred to means 625 to determine whether the final digital satellite connection is interrogated. The means 626 then clears the DSIUDT register. On the other hand, the DSIUDT register is augmented to the point of the next digital satellite junction to be examined within the means 627. Then in either of these cases, control transfers to the DSIEQ order in Figure 27b.
제27b도를 참조하면, 보수 처리기는 호출 처리 시스템이 수단(630)에서 설계된 디지탈 위성 접속장치를 갖추고 있는 경우를 결정하도록 다시 시험된다. 만약에 갖추고 있지 않으면, 수속(DSICIN) 표시문자는단(631)에서 크리어되고 모선 정지 타이머는 수단(632)에서 동작하지 않게 된다. 이 시스템이 대응하는 디지탈 위성 접속 장치를 갖추고 있으면, 수단(633) 내의 "보수" 시험은 DSIUDT 레지스터로 부터 DSI 번호를 회복하기 위해서 수단(631 및 632) 또는 수단(634)로다시 분기되는지의 여부를 결정한다. 그 다음 보수 처리기(300)은 적당한 디지탈 위성 접속장치에 대한 억세스를 얻도록 제28도에 도시한 DSICOM 모듈을 호출하기 위해서 수단(635)를 사용한다. DSICOM 모듈이 적당하게 동작한다고 가정하면, 오차가 생기지 않으므로, 수단(636)은 수단(637)로 분기된다. 이때, 자동시험 명령, 즉 이 특정한 실시예에서는 16진법 형태로 "B8FFO180"은 진단회로(30) 내의 입력 FIFO (3017)로 이송된다. 이때, 수단(638)에서, 보수 처리기(300)은 MBI 완충기(18)을 해제하고 자동시험이 시작된(수단 639) 것을 지시하도록 DSI CN 표시문자를 셋트한다. RETRY 표시문자는 수단(640)에서 크리어되고 모선 정지 타이머는 수단(641)에서 동작하지 못하게 된다. 제27b도에 도시한 바와 같이, 오차가 수단(636)에서 검출되면, 제어는 DSITMO 모듈을 완전히 끝내기 위해서 수단(641)로 직접 옮겨간다.Referring to FIG. 27B, the maintenance processor is again tested to determine if the call processing system is equipped with a digital satellite connection designed in the means 630. FIG. If not, the DSICIN indicator is cleared at stage 631 and the bus stop timer is disabled at the means 632. If the system is equipped with a corresponding digital satellite access device, whether the "repair" test in the means 633 is branched back to the means 631 and 632 or the
DSITMO 모듈이 수단(635)에서 DSICOM 모듈을 호출하면, 제28도 내의 DSICOM모듈은 수단(650)에서 보조 과정으로 보수 처리기(300)을 동작시킨다. 그 다음, 제27b도의 수단(624)에서 회복된 DSI 번호를 사용하면, 처리기(300)은 수단(651)에서 디지탈 위성 접속 장치를 얻으려고 한다. 첫째로, 이것은 확인된 디지탈 위성 접속장치가 통화중 인지의 여부를 결정한다(수단 652), 만약에 통화중이라면, 이것은 수단(653)을 다시 통하여 디지탈 위성 접속 장치를 얻으려고 한다. 제2시도가 성공되지 않으면, 오차(ERROR) 표시문자는 수단(654)에 셋트되고 제27b도의 호출 정규 과정으로의 복귀가 발생한다. 이때 수단(636) 내의 오차 시험은 수단(641)로 제어를 전환시킨다. 디지탈 위성 접속 장치가 통화중이 아니라면, 처리기(300)은 확인된 디지탈 위성 접속장치 상태가 실제로 수단(655)에서 필요로 하는 장치를 포함하는지의 여부를 결정한다. 만약에 이 장치를 포함하지 않는다면, 오차 표시문자는 수단(654)에서 셋트된다. 수단(656)에서, 보수 처리기는 오차 표시문자가 셋트되어 있는가를 결정하고, 수단(657)에서, 이것은 디지탈 위성 접속장치가 마스크되어 있는 가를 결정한다. 이 두 시험 중의 한 시험이 정(+)적인 결과를 만들게 되면, 오차 표시문자는 수단(654)에서 셋트된다. 다수의 시험들이 적당한 응답들을 만들면, 제어는 수단(658)로 옮겨 가므로, 보수 처리기(300)은 제어 레지스터(3011) 내의 해독 입력(REAL INPUT) FIFO 비트를 크러어시킨다.When the DSITMO module calls the DSICOM module in the means 635, the DSICOM module in FIG. 28 operates the
수단(659)에서, 보수 처리기는 이것의 번호를 송신하므로서 디지탈 위성 유니트를 얻고 상태 레지스터 내에 기입 제어(WRITE CONTROL) 비트를 셋트시킨다. 또, 보수 처리기(300)은 제2시도를 제어하는 수단(661)을 사용하여 수단(660)에서 디지탈 위성 접속장치가 통화중인 경우를 결정하도록 이 디지탈 위성 접속장치를 시험하고, , 수단(662)에서 장치가 존재하는 가를 시험하며, 수단(663)에서 다른 오차를 시험한다. 만약 디지탈 위성 접속 장치가 두 개의 시험으로 통화중이거나, 장착되지 않았거나, 오차를 받게 되면, 제어는 복귀가 생기기 전에 오차 표시문자를 세트시키는 수단(664)를 옮겨간다. 이 시험 셋트들이 디지탈 위성 접속장치가 유용하다는 것을 지시하면, 수단(663)은 수단(665)로 분기된다.In the means 659, the maintenance processor obtains the digital satellite unit by sending its number and sets the WRITE CONTROL bit in the status register. In addition, the
이때, 메시지가 통신하기 시작한다. 수단(665 내지 667)에서, 디지탈 위성 접속장치와 MBI 완충기(18)은 제8도의 특정한 진단회로 (30)과 통신하도록 어드레스된다. 다음에, 보수 처리기(30)은 제20도의 제어레지스터(3011)을 크리어한다. 이때 이것은 입력 FIFO (3013)이 공백 상태 인가의 여부를 결정한다. 만약에 공백 상태가 아니라면, 메시지가 수단(670)에서 인쇄를 하기 위해 준비되고 DSIMSG 모듈은 디지탈 전화 교환국에서 메시지를 실제로 인쇄하도록 호출된다(수단 671). 입력 FIFO (3013)이 공백 상태이라면, 제어는 수단(669)에서 호출 모듈로 옮겨간다.At this point, the message begins to communicate. In means 665-667, the digital satellite connection and the MBI buffer 18 are addressed to communicate with the particular
DSIMSG 모듈은 제29도에 도시되어 있다. 이 모듈에서, 오차 메시지는 수단(680)에서 인덱스표에 배치된다. 이것은 수단(681)에서 오차를 시험한다. 오차가 존재하지 않으면, 유용한 데이타 지역은 수단(681)에서 크리어되고 프로그램은 복귀된다. 그러므로, DSICOM 모듈이 완전히 끝나면, 디지탈 위성 접속장치(14)가 얻어지고 제20도 내의 입력 FIFO (3013)은 메시지를 미리 허용하게 된다. 이때 제어는 제27b도 내의 수단(637)로 다시 옮겨가므로, 자동시험 메시지는 상술한 바와 같이 입력 FIFO (3011) 속으로 적재되고 MBI 완충기는 해제된다. 자동시험은 디지탈 위성 접속장치에서 시작되고 공정은 제25도의 수단(505)에 있게 된다.The DSIMSG module is shown in FIG. In this module, error messages are placed in the index table in the means 680. This tests the error in the means 681. If no error exists, the useful data area is cleared in means 681 and the program is returned. Therefore, when the DSICOM module is completely finished, the
ⅱ. 자동시험 동작Ii. Auto test operation
제25도를 다시 참조하면, 수단(506)은 메시지가 수신되어 해독되게 하고 다수의 상태 표시문자를 갱신한다. 해독 기능은 18도에 기본적으로 도시되어 있다. 상세하게 말하자면, 시간 개입중단 중에, 시스템은 수단(83)에 도달하게 된다. 이때 디지탈 위성 접속장치(14)는 다수의 조절 상태를 시험하고 제20도 내의 진단회로(30) 내에 입력 메시지가 있다는 것을 알게 된다. 이때 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험 과정을 시작하게 된다.Referring back to FIG. 25, the means 506 causes the message to be received and decrypted and updates a number of status indicators. The decryption function is basically shown at 18 degrees. Specifically, during the time interruption, the system reaches the means 83. The
제25도는 발생되는 기본 수단을 지시하기 위해서 자동시험 순서의 기본 기능을 나타낸 것이다. 그러나, 도면에 기술한 이 설명으로 디지탈 위성 접속 처리기(27)에 의해 사용하기 위한 메모리(28) 내에 축적될 다수의 모듈을 구성할 수가 있다.Figure 25 shows the basic functions of the automatic test sequence to indicate the basic means generated. However, this description described in the drawings makes it possible to configure a large number of modules to be stored in the
수단(507)에서, 디지탈 위성 접속장치(14)내의 처리기(27)은 채널을 선택하고, 내부 일람표로부터 시험될 위성 선 번호를 선택한다. 그 다음, 수단(508)에서, 이것은 이 위성 선 번호가 전화기 호출과 통화중인지의 여부를 결정한다. 만약에 통화중이라면, 자동시험 시도는 수단(509)에서 중단되고 차례대로 다음의 위성 선번호가 시험을 완전히 끝내기 전에 일람표내에 셋트된다.In means 507,
위성 선 번호와 결합한 가입자 선이 통화중이 아니라면, 제10도 내의 처리기(27)은 시험 억세스 개전기(TA) 비트 셋트를 가진, 제16도에 도시한 선제어(LINE CONTROL) 메시지를 보낸다. 이 시험 억세스 계전기는 가입자 선으로부터 제15도 내의 선 회로(78)를 비접속시키고 이것을 제23d도에 도시한 TT 1 및 TR 1 선에 접속시키도록 동작한다. 그 다음, 처리기(27)은 제16도 내의 수동 보수 명령을 설계된 위성 선번호에 보낸다. 수동 보수 명령은 보수 및 관리 회로(79)가 자동시험 순서를 시작하게 하는 부호를 포함한다. 이것은 보수 및 관리 회로가 오프-후크 상태로 시험하는 상태에서 선 회로에 힘을 가하게 하며, 이미 기술한 순서에 대응하는 호출 순서를 시작하게 한다.If the subscriber line combined with the satellite line number is not busy, the
이 호출은 디지탈 위성 접속장치(14)로 부터 원격 디지탈 위성 유니트(13)까지의 연속적인 선택(POLL)메시지 위에 선택 응답(POLL RESPONSE) 메시지가 송신되도록 원격 디지탈 위성 접속장치 내에서 감지된다. 이때 선택 배당(POLL ASSIGN)은 이송되고 발신(ORIGINATE) 메시지가 원격 디지탈 위성 유니트(13)에 의해서 발생된다. 이러한 경우가 생기면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 이 선이 시험상태에 있다는 것을 알게 되고 제10도 내에 도시한 시험 호출 제어(TEST CALL CONTROL) 메시지를 호출 처리기(408)로 보낸다. 이 시험 호출 제어 메시지는 위성 선 번호, 배당된 채널, 및 시험지시기를 포함한다. 자동시험을 하기 위해서, 시험 지시기는 값 "0"을 갖고 있다. 다른 값들은 수동시험 때에 사용된다. 이 시험 호출제어 메시지를 송신하는 것을 제25도 내의 수단(511)에 대응한다.This call is detected in the remote digital satellite connection such that a POLL RESPONSE message is sent over a continuous POLL message from the
호출 처리기(408)은 시험 호출 제어 메시지에 응답하고 제2도에 도시한 자동 시험 제어회로(20)으로 호출 처리기를 통하여 통로를 완전히 형성한다. 또한, 이것들은 시험 상태하에서 선으로 부터 신속 감지 감시신호용 통로를 설정한다. 이 신호들은 후크 스위치의 상태를 신속 제어(FAST CONTROL) 감시 정보, 특히 자동시험 회로(20)을 동작시키기 시작하는 제22d도 내의 DAA 신호로 자동시험 제어 회로에 이송시킨다.The
또한, 호출 처리기(408)은 수단(512)에서 6초 타이머를 설정한다. 이러한 기간동안, 모든 자동시험이 실시되어야 한다. 호출 처리기(408)이 자동시험 회로(20)의 통로를 설정하지 못하면, 수단(512)은 제어 상태를 전이 시키므로 호출 처리기(408)은 수단(514)에서 비접속(DISCONNECT) 메시지를 보낼 수가 있고 다음의 시험이 계획될 때 수단(515)에서 동일한 위성 선 번호를 시험할 준비를 할 수가 있다.The
수단(516)은 디지탈 위성 접속장치(14)에 발신(ORIGINATE) 메시지를 송신하는 것에 대응한다. 이 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험을 도전시키는 경간 및 채널을 확인하는 제16도에 도시한 발신응답(ORIGINATE RESPONSE) 메시지를 보내므로서 이 메시지에 응답한다.The means 516 corresponds to sending an ORIGINATE message to the digital
제25도 내의 수단(518)은 동작을 시작시키기 위하여 경간의 "A" 신호화 비트 위로 후크 스위치 상태 신호를 호출 처리기(408)를 통하여 자동시험 회로에 이송하기 시작하는 것을 지시한다.The means 518 in FIG. 25 directs the transfer of the hook switch status signal through the
결과적으로, 자동시험 회로는 수단(519)에서 나타나는 음색을 발생시키어, 수단(520 및 521)에서 나타나는 음색과 최수한 두 개의 다이얼 펄스를 수신하고, 수단(522)에서 이 결과들을 기록한다. 상세하게 말하자면, 1초 기간이 끝날때, 제22d도에서 다이얼 펄스 시험(DP TEST) 신호가 발생되므로, 자동시험이 성공되었다는 것을 지시하기 위해서 플립-플롭 회로(2031)로 부터의 다이얼 펄스 승인(DP OK) 신호와 음색수신(TONE RECEIVED) 신호가 포오트 그룹 제어 회로에 DAC 신호를 제공하게 된다.As a result, the automatic test circuit generates a timbre appearing in means 519, receives the timbre appearing in means 520 and 521 and at least two dial pulses, and records these results in means 522. Specifically, at the end of the one second period, the dial pulse test (DP TEST) signal is generated in Fig. 22d, so that the dial pulse acknowledgment from the flip-flop circuit 2031 is indicated to indicate that the automatic test was successful. The DP OK) signal and the TONE RECEIVED signal provide the DAC signal to the port group control circuit.
제30도 내지 제32도는 제18a도 내의 수단(83)과 제25도 내의 수단(507 내지 523) 동안의 디지탈 위성 접속장치(14)의 동작을 도시한 것이다. 제30도에는 수단(83)에서 시험될 수 있는 다수의 조절상태들이 도시되어 있다. 예를 들면, 제30a도의 수단(700)에서, 디지탈 위성 접속장치(14)는 제6도 내의 형성기 입력 FIFO (2511)이 제어 호출 처리기(408)로 부터의 메시지를 포함하는지의 여부를 결정한다. 이러한 메시지는 수단(701 및 702)에서 해독되고 처리된다. 수단(03)은 메시지가 원격 디지탈 위성 유니트로 보내질 경우에 제18b도 내의 가정(HSKPG) 정규 과정으로 바뀐다. 수단(704)는 메시지가 호출 처리기(408)이나 보수 처리기(300)으로 보내질 경우에 제30b도 내의 ACBE 순서로 분기된다. 한편, 수단(704)는 다른 시험을 실시하기 위해 수단(705)로 다시 분기된다. 형성기 입력 FIFO (2511)이 메시지를 포함하지 않으면, 수단(700)은 수단(705)로 직접 분기된다.30 to 32 illustrate the operation of the
발신(ORIGINATE) 대기 행렬은 대기 행렬이 디지탈 위성 접속장치(14)에 의해 연속적으로 처리하기 위해 다수의 원격 디지탈 위성 유니트로부터 수신된 보수되지 않은 발신(ORIGINATE) 메시지를 포함하든지의 여부를 결정하도록 수단(705)에서 시험된다. 만약에 공백상태가 아니라면, 수단(706)은 응답을 기다리는 가장 오래된 위성 선 번호를 회복하고 형성기(25)에 메시지를 보낸다.The ORIGINATE queue is a means for determining whether or not the queue includes an unmaintained ORIGINATE message received from a number of remote digital satellite units for subsequent processing by the
수단(707)은 진단회로(30) (제20도)의 입력 FIFO (3013)에서 자동 시험을 시작하는 메시지와 같은 메시지가 나타나는 것을 확인하는 시험이다. 입력 FIFO (3013)이 메시지를 포함하지 않으면, 수단(707)은 보수 메시지가 수단(709)에서 보수처리기(300)으로 보내지는 경우를 결정하기 위해서 수단(708)로 분기된다. 이때 시스템은 모든 채널 통화중(ALL CHANNEL BUSY) 대기 행렬이 수단(71)에서 조사되는 ACBE 순서로 이송된다. 모든 채널 통화중 대기행렬은 채널이 경간 장치상에서 유용하게 되는지의 여부를 지시한다. 만약에 통화 중이라면, 수단들은 본 발명과 무관하게 취해진다. 만약에 이것이 공백상태로 있고 채널들이 유용하게 된다면, 제어는 제20도의 진단회로(30)내의 출력 FIFO (3017)이 메시지를 포함하는 가를 알기 위해서 시험되는 수단(85)로 다시 옮겨간다.The means 707 is a test for confirming that a message such as a message for starting an automatic test appears at the input FIFO 3013 of the diagnostic circuit 30 (FIG. 20). If the input FIFO 3013 does not contain a message, the means 707 branches to the means 708 to determine when a repair message is sent from the
제30a도를 다시 참조하면, 입력 FIFO (3013)이 메시지를 포함하는 경우, 처리기(27)은 수단(711)에서 LORMR 순서 중에 메모리 (28)내의 메시지 완충기로 메시지를 이동시키고 수단(712)의 MPMD 순서에서 이 메시지를 처리한다. 메시지가 원격 디지탈 위성 유니트로 보내지면, 수단(713)은 HSPKG 순서로 분기된다. 한편, 수단(714)는 메시지가 호출 처리기(408)이나 보수 처리기(300)으로 보내지는지의 여부를 결정한다. 이러한 메시지가 보내지면, 제어는 수단(71)으로 표시된 ACBE 순서로 다시 옮겨간다. 이러한 메시지가 보내지지 않으면, 제어는 수단(708)로 옮겨간다. 그러므로, 제30a도에서, 처리기(27)은 제25도 내의 수단(506) 부분과 같이 진단회로(30)으로부터 메시지를 회복시키기 위해서 수단(707, 711, 712, 713 및 714)로 표시된 다수의 순서를 사용한다.Referring back to FIG. 30A, if the input FIFO 3013 contains a message, the
수단(711 및 712)에 나타낸 LDRMR 및 MPMD 순서 중에 메시지를 이송하고 처리하는 것은 제31도에 상세하게 도시되어 있다. 처리기(27)용 인덱스 레지스터는 제31a도의 수단(720)에서 메모리(28) 내의 메시지 완충기의 어드레스에 대응하는 값을 수신한다. 수단(721)에서, NMPM 표시문자는 크리어되고 진단상태 레지스터(3024) 내의 DSI 통화중(BUSY) 표시문자는 셋트된다. 이때 메모리(28) 내의 메시지 레지스터 바이트(MESSAG REGISTER BYTE) 카운터는 수단(722)에서 크리어된다. 이것은 처리기(27)이 진단회로(30)내의 입력 FIFO (3013)으로부터 인덱스 레지스터에 의해 확인된 메시지 완충기로 메시지 바이트를 이송시키기 시작하게 한다. 수단(723)에서 이 이송이 생긴 후에, 메시지 레지스터 바이트 카운터는 수단(724)에서 증대되고, 많은 바이트들이 수단(725)에서 이송되는 가를 결정하기 위한 시험이 행해진다. 메시지가 완성되면, 제어는 상태 레지스터(3024) 내의 해독 출력(READ OUTPUT) FIFO 비트를 크리어 시키는 수단(726)으로 옮겨간다.The transfer and processing of messages during the LDRMR and MPMD sequence shown in the means 711 and 712 is shown in detail in FIG. The index register for the
입력FIFO (3011)이 다른 바이트를 갖고 있고(수단 725) 메시지가 최대길이 요구에 부합된다면(수단727), 수단(728)은 보수 처리기(300)이 입력 FIFO (3011)에 새로운 메시지를 보내는 가를 결정한다. 이러한 메시지는 이전의 메시지를 무효화시킨다. 만약에 새로운 메시지를 보내지 않는다면, 제어는 제31a도 내의 수단(723)으로 다시 옮겨가므로 다음의 메시지 바이트가 얻어질 수 있다. 메시지 길이가 최대를 초과하면, 오차가 생기므로 수단(727)은 무효 메시지 알람(INVALID MESSAGE ALARM) 비트를 셋트시키고 메모리(28)내의 완충기로 부터 잔못된 데이타를 전이시키어 메시지를 크리어시키도록 수다(729)로 분기된다. 이때 제어는 수단(725)로 다시 옮겨가고, 입력 FIFO(3011)이 부수적인 메시지 바이트를 갖고 있지 않기 때문에, 제어는 수단(726)을 통해 수단(730)으로 옮겨간다. 무효 메시지 알람 비트가 수단(729)에서 셋트되면, 제어 HSPKG 순서로 다시 옮겨간다. 그러나, 메시지가 유효하게 수신되면, 제어는 제32도에 부분적으로 도시된 MPMD 순서로 옮겨간다.If the input FIFO 3011 has another byte (means 725) and the message meets the maximum length request (means 727), the means 728 determines whether the
MPMD 순서는 보수 처리기로 부터의 입력 메시지의 앞부분(header)을 해독한다. 상세하게 말하자면, 제32도에서, 수단(740)에서의 고정 모우드 타이머 시험은 통상적으로 메모리(28) 내의 완충기로부터 제1메시지 바이트를 회복시키기 위해서 수단(741)로 제어 상태를 옮겨간다. 이때 한 셋트의 연속적인 해독 수단들이 처리된다. 이러한 해독 수단 중의 첫번째 수단(742)는 루우프 주위(LOOP AROUND) 메시지가 보내졌는가를 결정하기 위해서 메시지 앞부분을 시험한다. 만약에 보내졌다면, 메시지는 제어가 HSKPG 순서로 다시 옮겨가기 전에 수단(743)에서 처리된다.The MPMD sequence decodes the header of the input message from the complement processor. Specifically, in FIG. 32, the fixed mode timer test at the means 740 typically transfers the control state to the means 741 to recover the first message byte from the buffer in the
자동시험 순서는 상술한 바와 같이 메시지 "B8FFO1"로 시작된다. 이 앞부분은 경우에 따라서 수단(744)내의 시험 순서에서 해독된다. 자동시험 시작 메시지로 인하여, 수단(745)는 ATST 순서로 제어 상태를 옮긴다. 이 순서는 디지탈 위성 접속 장치을 동작시키어 제25도 내의 수단(507 내지 523)을 시작하게 한다.The automatic test sequence begins with the message "B8FFO1" as described above. This front part is optionally decoded in the test sequence in the
ⅲ. 성공적인 자동시험의 응답Iii. Successful automated test response
이미 기술한 바와 같이, 자동시험 회로(20)용 포오트 축적 지역 내에 있는 신속 감지(FAST SENSE) 비트는 자동시험 순서가 성공되었는지 아니면 실패되었는지를 지시한다. 미합중국 특허원 제924,883호에 기술된 바와 같이, 신속 감지(FAST SENSE) 비트를 축적하면 호출 처리기 동작을 중단시키는 사건(event)을 형성하게 된다. 이에 응답하여, 호출 처리기는 시험이 통과해 갔는지 아니면 실패되었는지의 여부를 결정한다. 이러한 경우가 생기면, 호출 처리기는 제10도에 도시한 시험 응답(TEST REPONSE) 메시지를, 성공 또는 실패를 지시하는 디지탈 위성 접속장치(14)로 이송시킨다. 시험 응답 메시지는 시험 상태하에서의 원격 선용 위성 선 번호(SLN)과 시험 결과를 포함한다. "1"의 시험 결과는 성공한 것을 지시하고, "2"의 시험 결과는 실패한 것을 지시한다. 이때 이 메시지는 디지탈 위성 접속장치(14) 내에 수신되고 그 결과는 제25도에 도시한 수단(526)에서 시험된다.As already described, the FAST SENSE bit in the pot accumulation area for the
자동시험이 성공되면, 디지탈 위성 접속장치(14)는, 비트가 크리어된 시험 상태하에서, 제16도에 도시한 선 제어(LINE CONTROL) 메시지(수단 527)를 원격 디지탈 위성 유니트(13)으로 이송시킨다. 이것은 시험 억세스 게전기가 개방되게 하므로 선 회로는 가입자 선으로 다시 접속되고 보수 및 관리회로(79)로 부터 비접속된다. 이때 비접속(DS) 표시문자는 원격 가입자가 온-후크하고 있는 것을 지시하도록 셋트된다. 그 다음 디지탈 위성 접속장치(14)는 제9도에 도시한 해제(RELEASE) 메시지를 호출 처리기(408)로 보내므로 이것들은 원격 가입자의 선이 아이들 되어 있고 호출시키기에 유용하다는 것을 지시할 수가 있다. 자동 시험이 성공되면, ATD 요구(REQUIRED) 표시 문자가 크리어되므로, 수단(530)은 수단(531)로 분기된다. 이때, 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험이 완전히 끝난 것을 지시하는 부호가 뒤 따르는 BO 앞부분을 갖고 있는 보수 처리기(수단 531)에 시험완료(TEST COMPLETE) 메시지를 보낸다.If the automatic test is successful, the digital
ⅳ. 자동 시험 실패의 응답Iii. Response of Auto Test Failure
시험 응답 메시지가 실패한 것을 지시하면, 제25도 내의 수단(526)은 ATD 요구 표시문자를 셋트시키고 수단(533)에서 발신(ORIGINATE) 비트의 상태를 시험하기 위해서 수단(522)로 분기된다. 발신 비트는 발신 메시지가 보낼질 때 셋트되므로, 호출을 배치시키기 위한 제1수단이 생기는지(즉, 수단 511에서 발신 메시지가 처리됨)의 여부를 지시한다. 이 메시지가 보내지지 않으면, 선 제어 메시지는 TA 계전기를 해제하도록(수단 534) 원격 디지탈 위성 유니트로 보내지고 그 다음 제어는 수단(529)로 옮겨가므로, 디지탈 위성 접속장치(14)는 호출 처리기(408)에 해제 메시지를 보낸다. 발신 메시지가 보내지면, 수단(527 내지 529)의 통상적인 비접속 처리가 생긴다. 이 두 경우 중의 어떤 경우에든지, 수단(530)은 수단(535)로 분기되어, 실패의 원인을 분리시키기 위하여 원격디지탈 위성 유니트의 상이한 단면을 통하는 연속적인 자동시험을 이용하는 자동시험 진단순서를 시작하게 된다. 그러므로, 수단(536)은 다른 시험 호출을 시작하도록 수단(507)로 제어를 다시 이송한다. 순서가 완전히 끝나면, 수단(536)은 수단(537)로 분기되므로 디지탈 위성 접속장치(14)는 실패와 진단 결과를 지시하는 메시지를 갖추게 된다. 이 메시지는 수단(531)로 이송되기 전에 보수 처리기로 보내진다.If the test response message indicates a failure, then means 526 in FIG. 25 branches to means 522 to set the ATD request indicator and test the state of the ORIGINATE bit in means 533. The outgoing bit is set when the outgoing message is sent, indicating whether a first means for placing the call occurs (ie, the outgoing message is processed in means 511). If this message is not sent, the line control message is sent to the remote digital satellite unit to release the TA relay (means 534) and then control is transferred to the means 529, so that the
다른 실패 모우드에서, 자동시험 순서는 선정된 시간내에 완전히 끝나지 않는다. 이 모우드에서, 보수 처리기(300) 내의 MP 타이머는 정지되어, 보수 처리기(300)이 제20도 내의 진단회로(30)의 상태 레지스터(3011) 내에 있는 입력 FIFO 비공백(INPUT FIFO EMPTY) 비트를 시험하게 한다(수단 541). 이 비트는 디지탈 위성 접속장치(14)가 이전의 메시지를 허용하지(수단 542) 않는 경우에 셋트되므로, 보수 처리기 수단(543)에서 다시 동작하기 시작한다. 이것이 제1정지이면, 수단(544)는 분기되어 새로운 자동시험이 수단(545)에서 시작된다. 그러나, 제2정지가 생기거나 수단(503)에서 정지가 생기면, 제어는 수단(504)로 옮겨간다. 입력 FIFO 비공백 비트가 제1정지 후에 크리어되면(수단 541), 제어는 수단(546)으로 부터 수단(547)로 옮겨져서 보수 처리기(300)이 자동시험을 중단시키도록 디지탈 위성 접속장치(14)에 메시지를 보낼 수 있게 된다. 제2정지후에, 수단(547)은 필요한 고장 진단을 시작하기 위해 직접 수단(504)로 본기된다.In other failure modes, the automatic test sequence does not end entirely within the selected time. In this mode, the MP timer in the
ⅴ. 보수 처리기의 자동시험 결과 메시지Iii. Automatic test result message of maintenance processor
호출 처리기(408)의 자동시험 결과는 갖게 되면, 이것은 보수 처리기(300)에 메시지를 보낸다. 제24도에 도시한 보수 처리기(300) 내의 DSIHND 모듈은 표시문자를 셋트하므로 제26a도 내의 DSIFLD 모듈은 제33도에 도시한 메시지 취급(DSICAL) 모듈을 호출하도록 수단(600)으로 부터 분기된다. DSICAL 모듈은 우선 메시지가 자동시험 결과인가를 결정한다(수단 801). 만약에 그렇다면, "수속"(DSIAT) 보조정규 과정이 수단(802)에서 호출된다. 제34도를 참조하면, 보수 처리기(300)은 우선 자동시험 기능을 완전히 끝낸 것으로 기록된 디지탈 위성 접속장치가 가공 자동 시험 상태하에 있는 것인가를 결정한다. 만약에 이 상태하에 있다면, 수단(803)은 수속(DSI CIN) 표시문자를 크리어시키고 제33도 내의 수단(805)로 다시 제어 상태를 이송시키기 위해 수단(804)로 분기된다.Once the automatic test result of the
기록된 접속장치 번호(즉, DSI 번호)가 정확하지 않으면, 제34도에 도시한 다수의 수단들은 이 오차의 원인의 분리시키기 위해 다수의 시험을 제공한다. 우선 보수 처리기(300)은 수단(806)에서 번호를 축적하고 보수 처리기 타이머를 동작시키므로서 수단(807)에서 시험을 하기 위한 기간을 설정한다. 그 다음 보수 처리기(300)은 시험 상태하에 있는 것으로 가정한 접속장치를 얻기 위해서(수단 808) 제28도 내의 DSICOM 모듈을 이용한다. 오차들이 검출되면, 수단(809)는 DSIAT 모듈을 완전히 처리하기 위해 분기된다. 수단(810) 내의 루우프 시험이 성공되면, 제어는 수단(811)에서 호출 정규 과정으로 다시 옮겨간다. DSICIN 표시문자는 크리어되고 오차 인덱스는 수단(812)에서 DSI 번호를 따라 설정되므로, DIAG2 진단 모듈이 부정확한 수속 과정의 원인을 확인하기 위해 사용될 수 있다(수단 813).If the recorded interface number (i.e., DSI number) is not correct, a number of means shown in FIG. 34 provide a number of tests to isolate the cause of this error. First, the
정상적인 수속 절차로, 제어는 DSIAT 모듈로부터 제33도 내의 수단(805)로 복귀되어, 메시지 제어 순서가 시작된다. DSIPR 순서는 제2도 내의 전신 타자기(305)와 같은 인쇄기 상에 이러한 메시지를 인쇄하기 위하여 수단(820)에서 호출된다. 메시지가 인쇄되지 않으면, 제어는 루우프 주위 인쇄(LOOP AROUND PRINT) 표시문자가 셋트 되었는가를 알기 위해 수단(820)으로 옮겨간다. 한편 제어는 루우프 주위(LOOP AROUND) 메시지가 보내는지를 알기 위해 수단(822)로 옮겨간다. 만약에 보내지지 않으면, 모듈이 완전히 끝난다. 만약에 보내진다면, 제어는 수단(823)으로 옮겨져서, 루우프 주위 인쇄 표시 문자가 크리어되고 수단(806)으로 옮겨져서 메시지를 인쇄하기 위하여 DSIPR 모듈을 호출한다.In the normal procedure, control returns from the DSIAT module to the means 805 in FIG. 33 to begin the message control sequence. The DSIPR order is called in the means 820 to print such a message on a printing press, such as the
ⅵ. 자동시험 진단Iii. Auto test diagnosis
자동시험 실패의 지시에 대한 응답은 제25도 내의 수단(516 내지 537)에 나타나 있고 제35도에 상세하게 나타나 있다. 수단(900)에서, 디지탈 위성 접속장치(14)는 자동시험하기에 유용한가를 결정하도록 시험된다. 만약에 유용하지 않다면, 수단(901, 902 및 903)은 무슨 동작이 실시되는 가를 확인한다. 유용하다면, 시험은 이것이 자동시험 동작을 게속 실시하기 위한 제2시도인가를 결정하도록 행해진다. 이것이 제2시도이라면, 수단(904)는 ATD 요구(REQUIRED) 비트를 셋트시키도록 수단(905)로 분기된다. 한편 자동시험은 계속 실시된다. 이 시험이 성공된다면, 수단(901 내지 903)과 비슷한 수단(906) 셋트는 보수 처리기(300)에 보내질 메시지를 설정하고 그 다음 선을 비접속시킨다. 실패하게 되면, 제25도내의 수단(532 내지 534)에 대응하는 수단(907)은 ATD 요구 비트를 셋트시키고 시험 억세스 계전기를 해제시키고 선을 비 접속시키기 위해서 발신(ORIGINATE) 비트를 시험한다.The response to the indication of automatic test failure is shown in means 516 to 537 in FIG. 25 and in detail in FIG. In the means 900, the
본 발명의 다른 형태에 따르면, 제35도 내의 나머지 수단들은 성공적인 자동시험을 실시한다. 그러나, 이 시험들은 제1자동시험 호출의 발신 통로와는 다른 제15도에 계통도로 도시한 원격 디지탈 위성 유니트(13)을 통하는 통로 위에서 실시된다. 이 진단 시험의 특정한 고유 특성을 이해하기 위해써는, 디지탈 위성 접속장치 내의 각각의 선 회로(78)이 국부 전화기선(11)의 짝수 및 홀수 분할에 대응하는 다수의 짝수 또는 홀수 셀 또는 선 그룹 중의 하나로 되는 것과 동일하다. 이 내용은 미합중국 특허원 제924,883호에 기술되어 있다. 그러므로, 수단(910)에서, 디지탈 위성 접속장치(14)는 발신 선회로를 포함하는 센의 동일한 절반(즉, 짝수 또는 홀수의 절반) 내의 다른 선이 시험을 할 때에 유용한가를 결정한다. 결과 부호 "9"를 가진 메시지는 수단(911)에서 아무 선도 유용하지 않고 자동시험이 수단(912)에서 이 선으로 실시된다는 것을 지시하는 보수 처리기(300)으로 보내진다. 자동시험이 성공되면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 이 선을 비접속시키고 발신 선 회로(78)이 고장났다는 것을 지시하는 결과 부호 "1"을 보낸다.According to another aspect of the invention, the remaining means in FIG. 35 perform a successful automated test. However, these tests are carried out on the passage through the remote
수단(912)에서 실시된 자동시험이 실패되면, 디지탈 위성 접속장치(14)는 발신선이 경간 위의 공용 채널을 갖고 있는지의 여부를 결정한다. 만약에 갖고 있다면, 실패와 발신선이 공용 채널이라는 사실을 지시하는 메시지는 수단(915)에서 보수 처리기로 보내진다. 채널이 공용이 아니라면, 발신(ORIGINATE) 비트는 수단(916)에서 시험된다. 발신 비트가 셋트되면, 제2선 회로가 호출을 검출하고 제2호출과 결합한 선이 비접속되어 있다는 것이 지시된다.If the automatic test performed at the means 912 fails, the
원격 디지탈 위성 유니트가 두 개의 "절반"(즉, 짝수 및 홀수 절반 두 개 모두)를 포함하면, 수단(920)은 선이 이 다른 절반에서 유용한지의 여부를 확인하도록 처리기(27)을 동작시키기 위해서 수단(921)로 분기된다. 이러한 선이 유용하지 않다면, 다른 선이 유용하지 않다는 것을 지시하는 결과 부호 "OA"는 수단(922)에서 보수 처리기로 보내진다. 한편, 나머지 절반 내의 선은 수단(923)에서 시험된다. 이 시험이 성공되는 것은 제15도 내의 발신선 회로 클럭분할 완충기(80)이 불량하다는 것을 나타낸다. 실패하게 되면, 이 제2시험에 포함된 선은 비접속된다.If the remote digital satellite unit includes two " half " (i.e., both even and odd half), the means 920 can operate the
제2시험이 실패되거나 실시될 수 없다면, 제3시험은 선 레벨멀티플렉서/디멀티플렉서가 고장났는가의 여부를 결정한다. 상세하게 만하자면, 동일한 디지탈 위성 접속장치의 다른 셀 내의 다른 선은 수단(926)에서 선택된다. 이것은 호출을 제15도 내의 다른 회로(76A, 76B, 등등)을 통하여 배치시켜야 한다. 이러한 선이 유용하지 않다면, 수단(927)은 선이 다른 셀에서 유용하지 않다(결과 부호 "OC")는 것이나 원격 디지탈 위성 유니트가 배당된 다른 셀을 갖고 있지 않다(결과 부호 "OB")는 것을 지시하는 메시지를 만든다. 선이 유용하다면, 자동시험은 다시 실시된다(수단 930). 이 자동시험을 통과하면, 그 다음 발신 호출시에 사용한 제15도 내의 선 레벨 멀티플렉서/디멀티플렉서(76) 내의 회로는 불량하므로, 결과 부호 "03)을 가진 메시지는 수단(931)에서 보수 처리기(300)으로 보내진다. 수단(930)에서의 자동시험이 실패되면, 이 제3시도에서 사용한 선은 수단(932)에서 비접속된다.If the second test fails or cannot be conducted, the third test determines whether the line level multiplexer / demultiplexer has failed. Specifically, another line in another cell of the same digital satellite connection is selected at the means 926. This should place the call through the other circuits 76A, 76B, etc. in FIG. If such a line is not useful, the means 927 means that the line is not useful in another cell (result sign "OC") but does not have another cell to which the remote digital satellite unit is assigned (result sign "OB"). Create a message that directs you to If the line is available, the automatic test is carried out again (mean 930). If this automatic test passes, the circuit in line level multiplexer /
그 다음 통신 회선상의 다른 채널을 통하는 발신선의 유용성은 수단(933)에서 시험된다. "다른 채널"은 발신선이 "홀수"번째 채널을 배당한 경우를 의미하므로, 이 시험은 "짝수"번째 채널 상에서 실시되어야 한다. 이러한 채널이 유용하지 않다면, 이러한 채널이 동일한 경간 위에서 유용하지 않다(즉, "OD")거나 발신선이 통과중(즉, "17")이라는 것을 지시하는 시험 결과 부호는 보수 처리기의 메시지내에 결합된다(수단 934). 이러한 채널이 유용하다면, 자동시험은 다시 발신선 상에서 계속 실시된다(수단 935). 시험이 성공되면, 이때 선 채널 상호 변화회로가 기능장애를 일으킨다(즉, 결과 부호 "4")는 것을 지시하는 메시지는 수단(936)에서 보수 처리기(300)에 보내진다. 실패되었을 때, 발신 선은 비접속된다(수단 9400).The utility of the outgoing line through other channels on the communication line is then tested in means 933. "Other channels" means where the originating line is assigned the "odd" channel, so this test shall be carried out on the "even" channel. If such a channel is not useful, test result codes indicating that such a channel is not useful over the same span (i.e., "OD") or that the outgoing line is passing (i.e., "17") are combined in the message of the maintenance processor. (Mean 934). If such a channel is available, the automatic test is again carried out on the calling line (mean 935). If the test is successful, then a message is sent from the means 936 to the
네번째 시험으로, 시험 호출은 발신 선의 다른 경간 위에 배치된다. 다른 경간상의 채널의 유용성은 수단(941)에서 시험된다. 그렇지 않으면, 메시지는 채널이 다음의 경간 위에서 유용하지 않다(즉, 결과 부호 "OE")는 것이나 발신선이 통화중(즉, 결과 부호 "17")이라는 것을 지시하는 수단(942)에 보내진다. 다음의 경간이 유용하다면, 채널은 선택되고 자동시험은 수단(943)에서 계속 실시된다. 이 시험이 성공되면, 송신기/수신기는 기능장애를 일으키고 결과 부호 "5"는 보수 처리기 메시지 내에 결합된다. 시험이 실패되면, 이때 선 채널 상호 변화 회로(76)은 다시 불량해지도록 지시되고 대응하는 결과 부호 "14"가 보내진다. 즉, 이것은 수단(936)에 보내어 선 채널 상호변환 고장을 지시하는 두 개의 시험 사이를 분별하게 하는 결과 부호 "4"와는 다르다. 이 두 경우 중 어떤 경우에든지, 처리기(27)은 수단(945)에서 발신선을 비접속시킨다. 이것은 자동 시험 진단의 이 분로를 완전히 끝마치므로, 처리기(27)은 메시지를 갖추고 보내기 위해서 제25도 내의 수단(537)을 사용하고 보수 처리기 시험 완료(TEST COMPLETE) 메시지를 보내기 위해서 수단(531)을 사용한다.In the fourth test, the test call is placed over another span of the outgoing line. The usefulness of other spanning channels is tested in the means 941. Otherwise, a message is sent to the means 942 indicating that the channel is not useful over the next span (ie result code "OE") but that the calling line is busy (ie result code "17"). . If the next span is available, the channel is selected and the automatic test is continued on means 943. If this test is successful, the transmitter / receiver fails and the result code "5" is combined in the maintenance processor message. If the test fails, then the line channel
수단(916)을 다시 참조하면, 발신(ORIGINATE) 비트가 셋트되지 않은 경우에, 시험 억세스 계전기는 수단(950)에서 해제된다. 이때 시스템은 다른 원격 선 회로 제어기(74)가 유용한가(수단 951)를 결정하도록 시험한다. 아무것도 유용하지 않으면, 결과 부호 "OF"를 가진 메시지가 보내진다(수단 952). 다른 원격 선회로 제어기가 유용하게 되고 선이 유용하지 않게 되면(수단 953), 결과 부호 "10"을 갖고 있는 메시지는 선이 동일한 원격 디지탈 위성 유니트에서 유용하지 않다는 것을 지시하도록 보내진다. 선이 유용하게 되면, 자동시험은 동일한 원격 유니트의 다른 원격 선 제어 회로 내의 이 다른 선 내에서 계속 실시된다. 시험이 통과되면, 선 회로 제어 회로가 고장난 것이 지시되고, 결과 부호 "6"을 가진 메시지는 수단(966)에서 보수 처리기로 보내진다. 이 시험이 실패되면, 발신 비트는 다시 수단(957)에서 해제된다. 발신 비트가 셋트되면, 선은 다른 시험을 준비하도록 수단(959)에서 비접속된다.Referring back to the means 916, the test access relay is released at the means 950 when the ORIGINATE bit is not set. The system then tests to determine if another remote line circuit controller 74 is useful (means 951). If nothing is useful, a message with the result sign "OF" is sent (mean 952). When another remote line circuit controller becomes available and the line becomes unavailable (means 953), a message with a result code "10" is sent to indicate that the line is not useful in the same remote digital satellite unit. When the line is available, automatic testing continues in this other line in another remote line control circuit of the same remote unit. If the test passes, the line circuit control circuit is instructed to fail, and a message with result code "6" is sent from the means 966 to the maintenance processor. If this test fails, the originating bit is released again in means 957. Once the originating bit is set, the line is disconnected in the means 959 to prepare for another test.
이 두 가지 경우 중 어떤 경우에든지, 한개 이상의 디지탈 위성 유니트가 있는 한개 이상의 원격 그룹이 있으면, 수단(96)은 선이 이러한 유니트에서 유용한가를 결정하도록 수단(961)로 이동된다. 만약에 단 한개의 원격 그룹이 있다면, 결과 부호 "13"을 가진 메시지가 보내진다(수단 962). 선이 다른 원격 디지탈 위성 유니트에서 유용하지 않다면, 결과 부호 "12"를 가진 메시지가 보내진다(수단 963). 선이 유용하다면, 다른 자동 시험이 수단(964)에서 계속 실시된다. 이 시험을 통과하면, 선회로 제어기, 보수 및 관리회로(79), 송신기/수신기(71), 또는 그외의 다른 지역에 문제가 생기게 되므로, 원래의 원격 디지탈 위성 유니트가 비보수상태인 것을 지시하는 결과 부호 "7"을 갖고 있는 메시지가 보내진다(수단 965). 수단(964)에서의 시험이 실패되면, 디지탈 전화 교환국에 문제가 있으므로, 결과 부호 "15"를 가진 메시지가 보내진다(수단 966), 수단(965)를 처리하거나 수단(966)을 처리한 후에, 처리기(27)은 최종시험을 하는 동안 사용된 선을 비접속시킨다.In either of these cases, if there is one or more remote groups with one or more digital satellite units, the means 96 are moved to the means 961 to determine if lines are available in these units. If there is only one remote group, a message with result sign "13" is sent (meaning 962). If the line is not available at another remote digital satellite unit, a message with result code "12" is sent (mean 963). If the line is useful, another automatic test is continued at the means 964. Passing this test will cause problems in the circuit controller, maintenance and
간단히 말하자면, 지금까지 원격 가입자 선에 접속된 원격 디지탈 위성 유니트를 지지하기에 적합한 디지탈 전화 교환국을 이용하는 전화 회로망에 대해서 여러가지 레벨로 상세하게 기술하였다. 상세하게 말하자면, 이 설명은 간단한 "정지-진행" 시험에 의해서 원격 디지탈 위성 유니트를 쉽게 시험할 수 있게 하는 회로 부분들에 관한 것이다. 이 시험을 하기 위해서는 각각의 원격 디지탈 위성 유니트의 시험 회로와 디지탈 전화 교환국의 자동시험 회로 사이에 통로를 간단히 설정해야 한다. 접속이 통상적인 호출 처리기술이나 그외의 다른 기술로서 이루어지면, 자동시험 회로는 음색을 보내고, 음색 및 다이얼 펄스가 선정된 규격내에 떨어지는지의 여부를 결정하도록 감시될 수 있는 원격 디지탈 위성 유니트로 부터 음색 및 다이얼 펄스를 수신하기를 기다린다. 만약에 음색 및 다이얼 펄스가 규격내에 떨어진다면, 시험이 통과된다. 그렇지 않다면, 시험 회로는 디지탈 위성 접속장치에 의해 실시되는 진단과정에 사용될 수 있다. 이 과정은, 가능하다면 문제의 원인을 분리시키기 위하여 회로의 다른 부분을 호출하는 부수적인 시험을 이용한다.In short, there have been various levels of detail of telephone circuitry using digital telephone exchanges suitable for supporting remote digital satellite units connected to remote subscriber lines. Specifically, this description relates to the parts of the circuit that make it easy to test a remote digital satellite unit by a simple "stop-going" test. For this test, a simple passage must be established between the test circuit of each remote digital satellite unit and the automatic test circuit of the digital telephone exchange. If the connection is made with conventional call processing techniques or any other technique, the automatic test circuit sends the timbre and the timbre from the remote digital satellite unit which can be monitored to determine whether the timbre and dial pulses fall within the specified specification. And wait to receive a dial pulse. If the tone and dial pulses fall within the specification, the test is passed. Otherwise, the test circuit can be used for diagnostics performed by the digital satellite interface. This process uses ancillary tests that call other parts of the circuit, if possible, to isolate the cause of the problem.
본 발명은 도면에 계통도, 유통도 및 논리 회로 계통도로서 도시되어 있다. 상술한 설명으로, 논리회로 설계자들은 그 회로망을 설계할 수가 있고 프로그래머들은 경험이 많지 않더라도 특정한 처리기를 동작시키기기 위한 계획을 기입할 수가 있다. 또한, 상술한 설명은 실시예에 대해서 기술되어 있으나, 다수의 다른 회로 및 논리 기구가 본 발명의 실시예는 한개의 자동시험 회로가 모든 전화 회로망을 시험하도록 제공되어 보수 처리기와 통신할 수도 있도록 제2도 내의 자동시험 회로(20)을 호출 처리 시스템 내의 포오트 그룹 유니트에 접속시킨다. 그러나, 다른 응용에서는 이 접속이 없을 수도 있다. 예를 들면, 한개의 이러한 회로는 각각의 디지탈 위성 접속장치에 대응하는 접속장치와 접속될 수 있으므로, 다수의 회로들을 필요로 하나, 디지탈 전화 교환국으로 부터 병렬 시험을 호출할 수 있다. 이러한 시스템에서는, 각각의 접속 장치에 접속된 출력 장치와 같은 다른 장치가 기록을 하기 위해 사용될 수 있다. 그러므로, 첨부된 청구 범위는 본 발명의 원리와 배경내에서 취해질 수 있는 이러한 변경 및 수정을 모두 포함한다.The invention is shown in the figures as a schematic diagram, a flow diagram and a logic circuit diagram. With the above description, logic circuit designers can design the network and programmers can write plans for operating a particular processor even if they are inexperienced. In addition, while the foregoing description has been described with respect to the embodiments, many other circuits and logic mechanisms may be provided so that one automatic test circuit may be provided to test all telephone circuitry to communicate with a maintenance processor. The
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