KR810000492Y1 - 에이형 자동 교환기의 스위치 시험기 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

에이형 자동 교환기의 스위치 시험기

제1도는 종래의 A-1 SEL/CONN 간이 시험기 사시도.

제2도는 본 고안 스위치 시험기의 전체 사시도.

제3도는 본 고안 스위치 시험기의 시외 구간 시험 회로도.

제4도는 본 고안 스위치 시험기의 타국 구간 시험 회로도.

제5도는 본 고안 스위치 시험기의 자국구간 시험 회로도.

본 고안은 에이형 자동 교환기의 각종 상승 및 회전형 스위치를 시험하는 시험기로써 종래의 A-1 SEL/CONN 시험기로 시험하는 경우에는 스위치 1대당 A-1 SEL/CONN 시험기가 1대씩 필요하였으며 발신 전화기로부터 착신 전화기까지 각단의 스위치 입출력선 및 공통회로를 일일이 접속하여야 하므로 시험셋트 구성에 대한 시간 낭비가 크며 또한 여러대의 간이 시험대가 사용되므로 소요면적이 크고 숙련된 시험자가 아니면 손쉽게 시험 셋트를 구성하기 어려운 불편이 있었다.

상기 제 결점을 제거한 본 고안은 각종 스위치의 생산라인에 꼭 필요한 시험기로써 하나의 시험대에 각종 스위치를 착탈할 수 있는 구조로 몇 개의 스위치 스탠드를 세워 배선 작업없이 시험용 스위치를 장착하여 전건 조작으로 손쉽게 시험할 수 있도록 한 것이다.

본 고안을 첨부된 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.

제1도는 종래의 A-1 SEL/CONN 간이 시험기의 사시도로서 1은 철가, 2는 발신용 다이얼, 3은 착신용 다이얼, 4는 전건, 5는 뺑크 배선단자, 6은 배선단자, 7은 유니트 짹이다.

제2도는 본 고안 스위치 시험기의 전체 사시도로서 8은 1K전전, 9는 2K전건, 10은 3K전건, 11은 4K전건, 12는 5K 전건, 13은 시외 또는 타국 스위치 철가 취부구, 14는 전원 스위치, `5는 라인 스위치(발신용, 착신용) 철가 취부구, 16은 자국 SEL 스위치 철가취부구, 17은 CONN 스위치 철가 취부구, 18은 자국, 타국, 시외 CONN 스위치를 제외한 각종 CONN 스위치 철가 취부구, 19은 자국, 타국, 시외 SEL 스위치를 제외한 각종 SEL 스위치 철가 취부구, 20은 각종 음성 조작버튼파넬, 21은 볼트메터, 22는 휴즈 램프파넬, 23은 발신용 전화기 프러그, 24는 착신용전화기 프러그, 25는 에이형 자동교환기의 스위치 시험기 본체이며 제3도, 제4도, 제5도의 회로는 8, 9, 10, 11, 12에 각각 알맞도록 연결되어 본체 내부에 장착되어 있다.

제3도는 시외 구간 시험회로도 제4도는 타국 구간 시험 회로도, 제5도는 자국구간 시험회로도이다.

각종 스위치를 이용상 3개 그룹으로 대분류 할 수 있다.

즉, 자국구간 타국구간 및 시외구간으로 각각 한 시스템으로 구성하여 시험할 수 있게 하였다.

- 시외 구간 시험 -

먼저 체신 1호 시외 SEL를 시험하고자 할 때는 후위 스위치로 4-A SEL, 체신 1호 시외 CONN 혹은 체신 1호 3-JCONN를 스탠드에 장착하여 놓고 시험용 체신 1호 시외 SEL도 함께 장착한다. 다음, 체신 1호 시외 SEL가 작동 되도록 1K 1.2 (전건)을 조작하면 A계전기가 동작하게 된다.

동작회로는 지기(GRD)-A 계전기-1K 1.2-48V로 된다.

A계전기가 동작하면 이외 모든 접점 a. 4.5, a. 6.7, a. 8.9, a. 2.3, ª. 2.3이 동시에 동작하여 L/S와 체신 1호 시외 SEL 구간을 접속시켜 놓는다.

다음, 4-A SEL가 작동되도록 2K 1.2 (전건)을 조작하면 B계전기가 동작하게 된다.

B계전기가 동작하면 이의 모든 접점 b. 8.9, b. 10.11, b. 4.5, b. 6.7, b. 2.3 접점이 동시에 동작하여 체신 1호 시외 SEL와 4-A SEL 구간을 접속시켜 놓는다.

다음, 체신 1호 시외 CONN가 작동되도록 3K 1,2 (전건)을 조작하면 C계전기가 동작하게 된다.

C계전기 동작에 의하여 이의 모든 접점 c. 6.7, c. 8.9, c. 2.3, c. 4.5, c. 2.3이 동시 동작하여 4-A SEL와 체신 1호 시외 CONN를 접속시켜 놓는다.

체신 1호 시외 CONN 뺑크의 임의 선정된 단자에는 착신 전화기가 접속되어 있다. 이어서 임의 선정된 첫 다이얼을 하면 체신 1호 시외 SEL의 와이파는 다이어 펄스 수만큼 상승되어 후휘 4-A SEL가 접속된 회선을 포착할때까지 회전한다.

다음, 임의 선정된 두 번째 다이얼에 의하여 4-A SEL와이파는 펄스 수만큼 상승하여 후위 체신 1호 시외 CONN가 접속된 회선을 포착 할 때까지 회전한다.

다음, 임의 선정된 세 번째 다이얼 펄스에 의하여 체신 1호 시외 CONN는 펄스 수만큼 상승하고 임의 서정된 네 번째 다이얼 펄스에 의하여 본 CONN는 펄스 수만큼 회전하여 착신 전화기가 접속된 회선과 연결되면 공지의 방법으로 16HZ의 호출신호가 전화기로 송출되어 착신 전화기를 들어 응답하게 되면 발신전화기와 통화가 이루어지게 된다.

시험용으로 장착시켜 놓은 체신 1호 시외 SEL 이외에는 모두 표준 (동작에 이상이 없는)형 스위치들을 미리 장착시켜 놓는다. 그러므로 통화가 이루어지지 않으면 시험용으로 걸려 있는 체신 1호 시외 SEL가 고장이 있는 것으로 간주한다.

다른 스테이지에 있는 스위치들을 시험용으로 장착하여 시험할 때도 시험용 이외에 모든 스위치는 표준형을 미리 장착시켜서 체신 1호 시외 SEL를 시험용으로 시험할 때와 동일한 방법으로 시험한다. 만약, 체신 1호 시외 CONN대신 체신 1호 3-J CONN를 대체해서 사용할 경우에는 4K 1.2 (전건)을 조작한다.

이 전건 조작에 의하여 D계전기가 동작한다.

D계전기 동작에 의하여 이의 모든 접점 d. 2.3, d. 4.5, d. 8.9, d. 6.7, d. 2.3,이 동시 동작하여 4-A SEL와 체신 1호 3-J CONN를 접속시킨 체신 1호 시외 CONN를 사용할 때와 동일한 방식으로 시험한다.

- 타국 구간 시험 -

먼저 1-E REP를 시험용 스위치로 시험하고자 하면 후위 스위치를 2-D SEL와 2-E CONN를 각각 장착하여 본 REP를 시험하게 된다.

1K 4.5 (전건)을 조작하면 E계전기가 동작한다.

E계전기 동작에 의하여 이의 모든 접점 e. 2.3, e. 4.5, e. 2.3이 동작하여 L/S와 1-E REP구간이 접속된다.

다음, 2-D SEL가 작동되도록 2K 4,5 (전건)을 동작시키면 F계전기가 동작하게 된다.

F계전기가 동작하면 이의 모든 접점 f. 2.3, f. 4.5,f. 5.4, f. 6.7이 동시 동작하여 1-E REP와 2-D SEL 구간이 접속된다.

다음, 2-E CONN가 작동되도록 3K 4,5 (전건)을 동작시키면 G계전기가 동작하게 된다.

G계전기의 동작에 의하여 이의 모든 접점 g. 2.3, g. 4.5,g. 2.3,g. 4.5가 동시 동작하여 2-D SEL와 2-E CONN구간이 접속된다.

한편 2-E CONN의 임의 선정된 뺑크단자에는 착신 전화기가 접속되어 있다.

따라서 발신 전화기로부터 다이얼링과 호출신호 송출 응답 통화등은 시외구간 시험방식에 준하여 시험할 수 있다.

- 자국 구간 시험 -

먼저 1-A SEL를 시험하기 위하여 후위 스위치로 1-F CONN를 장착한다.

다음, 1-A SEL가 작동되도록 5K 1.2 (전건)을 조작시키면 I계전기가 동작하게 된다.

H계전기 동작에 의하여 이의 모든 접점 h. 8.9, h.10.11, h. 6.7이 동시 동작하여 L/S와 1- A SEL 구간이 접속된다.

다음, 1- F CONN가 작동되도록 4K 4.5 (전건)을 조작시키면 I 계전기가 동작하게 된다.

I계전기 동작에 의하여 이의 모든 접점 i. 3.4, i. 5.6, i. 7.8, i. 4.5가 동시 동작하여 1-A SEL와 1-F CONN 구간이 접속된다. 1-F CONN의 임의 선정된 뺑크단자에는 착신 전화기가 접속되어 있다.

따라서 발신 전화기로부터 다이얼링과 호출신호 송출, 응답통화등의 시외구간 시험방식에 준하여 시험할 수 있다.

Claims (1)

1. 도면에 도시된 바와 같이 전건 1K, 2K, 3K, 4K, 5K의 조작으로 동작시키는 것에 있어서, 시외구간 시험은 계전기 A. B. C. D의 접점 a. b. c. d를 통작시켜 회로를 구성하고, 타국 및 자국구간 시험시에는 계전기 E. F. G. H. I의 접점 e. f. g. h. i를 동작시켜 회로를 구성하는 것을 특징으로 하는 A형 자동 교환기의 스위치 시험기.