KR20240077585A

KR20240077585A - 표시 장치 및 이의 구동 방법

Info

Publication number: KR20240077585A
Application number: KR1020220158638A
Authority: KR
Inventors: 박소영; 이순규
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Filing date: 2022-11-23
Publication date: 2024-06-03

Abstract

본 발명은 표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하는 적어도 하나의 지문 센서, 상기 적어도 하나의 지문 센서로부터 출력되는 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지를 생성하는 이미지 생성부, 상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 이미지 분석부 및 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 이미지 보정부를 포함하는 표시 장치 및 이의 구동 방법을 제공한다.

Description

표시 장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}

본 발명은 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.

최근 스마트 폰이나 태블릿 PC 등과 같은 표시 장치가 다방면으로 활용되면서, 사용자의 지문 등을 이용한 생체 정보 인증 방식이 폭 넓게 이용되고 있다. 지문 감지 기능을 제공하기 위하여, 지문 센서가 표시 장치에 내장되거나 표시 장치의 상부 및/또는 하부에 부착되는 형태로 제공될 수 있다.

그러나, 사용자가 지문 감지 기능을 반복적으로 사용하는 경우 지문 센서가 열화되어 지문 이미지에 결함이 발생됨에 따라 표시 장치의 지문 감지 기능이 저하될 수 있다.

본 발명의 목적은 지문 센서의 열화에 기인한 지문 이미지의 결함을 정확하게 검출하기 위한 것이다.

본 발명의 다른 목적은 상기 지문 이미지의 결함을 다양한 방법으로 보정하여 지문 인증 기능을 향상시키기 위한 것이다.

다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.

본 발명에 따른 표시 장치는, 표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하는 적어도 하나의 지문 센서, 상기 적어도 하나의 지문 센서로부터 출력되는 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지를 생성하는 이미지 생성부, 상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 이미지 분석부 및 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 이미지 보정부를 포함할 수 있다.

상기 이미지 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 크기에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지, 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 상기 사용자의 동일한 신체부위의 지문 정보를 가질 수 있다.

상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지는 상기 제1 지문 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되고, 상기 적어도 하나의 제 2 지문 이미지는 상기 제2 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장될 수 있다.

상기 이미지 분석부는, 상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 비교하는 제1 이미지 비교부, 상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 비교하는 제2 이미지 비교부 및 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와의 비교의 결과와 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와의 비교의 결과에 따라 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 검출 여부를 결정하는 제어부를 포함할 수 있다.

상기 제어부는, 상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 매칭하지 않고, 상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 매칭하지 않을 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 검출된 것으로 결정할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우, 상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 마스킹(masking)할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우, 상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 커버하는 마스킹 이미지를 생성할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지, 상기 마스킹 이미지 및 미리 설정된 상기 사용자의 등록 지문 이미지에 기초하여 지문 인증을 수행하는 이미지 매칭부를 더 포함할 수 있다.

상기 적어도 하나의 지문 센서는 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역에 포함되는 제3 지문 감지 영역을 통해 상기 사용자의 지문을 센싱하고, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우, 상기 표시 패널의 상기 제3 지문 감지 영역에 상기 사용자의 추가적인 지문이 입력될 때, 상기 적어도 하나의 지문 센서는 상기 제3 지문 감지 영역의 전체에 중첩하는 제4 지문 감지 영역을 통해 상기 사용자의 상기 추가적인 지문을 센싱하며, 상기 제4 지문 감지 영역은 상기 제3 지문 감지 영역보다 넓은 면적을 가질 수 있다.

상기 적어도 하나의 지문 센서는 제1 광노출 시간 동안 광에 노출되고, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우, 상기 제1 지문 감지 영역에 상기 사용자의 추가적인 지문이 입력될 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함과 대응되는 영역의 적어도 하나의 지문 센서는 상기 제1 광노출 시간보다 긴 제2 광노출 시간 동안 상기 광에 노출될 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우, 상기 보정부는 상기 결함의 정보와 미리 저장된 캘리브레이션 정보에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우, 상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 이미지 프로세싱(image processing)을 통해 소거하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 보정할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우, 상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 마스킹(masking)하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 보정할 수 있다.

본 발명에 따른 표시 장치의 구동 방법은, 표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하여 센싱 신호를 생성하는 단계, 상기 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지를 생성하는 단계, 상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 단계 및 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 단계를 포함할 수 있다.

상기 보정하는 단계는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 크기에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 단계를 포함할 수 있다.

상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지는 상기 제 1 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되고, 상기 적어도 하나의 제 2 지문 이미지는 상기 제2 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장될 수 있다.

상기 검출하는 단계는, 상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 비교하는 단계 및 상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 매칭하지 않고, 상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 매칭하지 않을 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 검출된 것으로 결정될 수 있다.

본 발명에 따른 표시 장치 및 이의 구동 방법은 지문 센서의 열화에 기인한 지문 이미지의 결함을 정확하게 검출할 수 있고, 상기 지문 이미지의 결함을 다양한 방법으로 보정하여 지문 인증 기능을 향상시킬 수 있다.

도 1a 내지 도 1c는 실시예들에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 평면도들이다.
도 2는 도 1a 내지 도 1c의 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 3은 실시예들에 따른 지문 검출부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 4는 도 3의 이미지 분석부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 5 내지 도 8은 타겟 지문 이미지의 결함이 큰 경우의 보정 방식들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 9 내지 도 11은 타겟 지문 이미지의 결함이 작은 경우의 보정 방식들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 12는 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 블록도이다.
도 13은 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 단계를 설명하기 위한 블록도이다.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조 부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

또한, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결된다"고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 연결되어 있는 경우도 포함한다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명한다.

도 1a 내지 도 1c는 실시예들에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 평면도들이다. 구체적으로, 도 1a 내지 도 1c는 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에 구비된 표시 패널과 표시 패널을 구동하기 위한 구동 회로를 개략적으로 도시한 평면도들이다. 편의를 위하여, 도 1a 내지 도 1c에서는 표시 패널과 구동 회로부를 분리하여 도시하였으나 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 구동 회로부의 전부 또는 일부는 표시 패널 상에 일체로 구현될 수 있다.

도 1a 내지 도 1c를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(DD)는 다양한 형상으로 제공될 수 있다. 예를 들어, 서로 평행한 두 쌍의 변들을 가지는 직사각형의 판 형태로 제공될 수 있다. 표시 장치(DD)는 영상 표시 방향으로 텍스트, 비디오, 사진, 2차원 또는 3차원 영상 등을 표시할 수 있다.

표시 장치(DD)는 전체 또는 적어도 일부가 가요성(flexibility)을 가질 수 있다. 표시 장치(DD)의 전체가 가요성을 갖는 경우 표시 장치(DD)는 롤러블 표시 장치일 수 있고 표시 장치(DD)의 일부가 가요성을 갖는 경우 표시 장치(DD)는 폴더블 표시 장치일 수 있다.

표시 장치(DD)는 표시 패널(PN) 및 표시 패널(PN)을 구동하기 위한 구동 회로(DCP)를 포함할 수 있다.

표시 패널(PN)은 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 영역(DA)에는 적어도 하나의 화소(PXL)가 제공됨으로써 영상이 표시될 수 있고 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 적어도 일측에 위치할 수 있다. 예를 들어, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)을 둘러싸는 형태로 제공될 수 있다.

표시 영역(DA)에는 적어도 하나의 화소(PXL)가 제공될 수 있다. 적어도 하나의 화소(PXL)는 적어도 하나의 발광 소자를 포함할 수 있다. 표시 장치(DD)는 입력되는 영상 데이터에 대응하여 적어도 하나의 화소(PXL)를 구동함으로써 표시 영역(DA)에서 영상을 표시할 수 있다.

비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 적어도 일측을 둘러싸는 영역으로서 표시 영역(DA)을 제외한 나머지 영역일 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 배선 영역, 패드 영역 및/또는 각종 더미 영역 등을 포함할 수 있다.

표시 장치(DD)의 일 영역은 사용자의 지문 등을 감지할 수 있는 지문 감지 영역(FSA)으로 설정될 수 있다. 즉, 표시 영역(DA)은 지문 감지 영역(FSA)과 중첩될 수 있다. 지문 감지 영역(FSA)은 표시 영역(DA)에 제공된 적어도 하나의 화소(PXL) 중 일부의 화소(PXL)를 포함할 수 있다.

도 1a에 도시된 바와 같이 표시 영역(DA) 중 일부의 영역만이 지문 감지 영역(FSA)으로 설정될 수 있다. 또한, 도 1b에 도시된 바와 같이 표시 영역(DA)의 전체가 지문 감지 영역(FSA)으로 설정될 수 있다. 표시 영역(DA) 전체가 지문 감지 영역(FSA)으로 설정되는 경우 표시 영역(DA)을 둘러싼 비표시 영역(NDA)은 비지문 감지 영역(NFSA)이 될 수 있다. 지문 감지 영역(FSA)에는 적어도 하나의 화소(PXL)와 함께 적어도 하나의 지문 센서(FPS)가 배치될 수 있다.

도 1c에 도시된 바와 같이 표시 영역(DA)의 전체가 지문 감지 영역(FSA)으로 설정되는 경우 지문 감지 영역(FSA)은 제1 지문 감지 영역(FSA1) 및 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 이격된 제2 지문 감지 영역(FSA2)를 포함할 수 있다. 제1 지문 감지 영역(FSA1)은 표시 장치(DD)가 지문 감지 기능을 수행할 때 사용자의 지문이 입력되는 영역일 수 있다. 즉, 제1 지문 감지 영역(FSA1)은 지문 인증시 사용자의 신체 부위(일 예로, 손가락)가 입력되는 영역을 의미할 수 있다. 제2 지문 감지 영역(FSA2)은 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 이격된 영역으로 표시 장치(DD)가 지문 감지 기능을 수행하지 않는 영역일 수 있다. 즉, 제2 지문 감지 영역(FSA2)은 지문 감지 기능이 수행되는 제1 지문 감지 영역(FSA1) 이외의 영역을 의미할 수 있다. 예를 들어, 제2 지문 감지 영역(FSA2)은 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 중첩되지 않는 영역일 수 있다. 제1 지문 감지 영역(FSA1) 및 제2 지문 감지 영역(FSA2)의 위치, 크기, 간격 등은 도 1c에 제한되지 않으며, 입력되는 사용자의 지문 위치, 사용자의 신체 부위 등에 따라 달라질 수 있다.

적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 표시 장치(DD)에서 영상이 표시되는 일면(일 예로, 영상 표시면)과 마주보는 타면 측에 배치될 수 있다. 즉, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 표시 장치(DD)에서 영상이 표시되지 않는 면에 배치될 수 있다. 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 지문 감지 영역(FSA) 또는 그 주변에 배치된 적어도 하나의 화소(PXL)에 구비된 발광 소자를 지문 감지 등을 위한 광원으로 이용할 수 있다. 이를 위해, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 지문 감지 영역(FSA)에 배치된 적어도 하나의 화소(PXL) 중 일부와 중첩되거나 적어도 하나의 화소(PXL)의 주변에 배치될 수 있다.

적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 정전용량 지문 센서 또는 광학 지문 센서일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 초음파 지문 센서 또는 적외선 지문 센서일 수 있다. 이하에서는 적어도 하나의 지문 센서(FPS)가 광학 지문 센서인 것을 전제로 설명하기로 한다.

적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 지문 감지 영역(FSA)의 적어도 하나의 화소(PXL)에 구비된 발광 소자를 이용하여 사용자의 지문을 감지할 수 있다. 즉, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 발광 소자에서 출사된 광이 사용자에 의해 반사되는 것을 감지하고 반사광을 검출하여 사용자의 지문을 감지할 수 있다. 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 지문 감지뿐만 아니라 터치 센서나 스캐너 등과 같은 다양한 기능을 수행하기 위한 용도로 이용될 수 있다.

표시 장치(DD)는 표시 영역(DA)에 포함된 지문 감지 영역(FSA)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 이용하여 표시 장치(DD) 상에 위치한 물체의 형상이나 패턴 등을 감지할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(DD)는 사용자의 지문을 감지할 수 있다. 또한, 표시 장치(DD)는 적어도 하나의 화소(PXL)로부터 방출되는 광을 이용하여 사용자의 지문을 감지할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 표시 장치(DD)는 지문 감지를 위한 별도의 외부 광원을 이용하여 사용자의 지문을 감지할 수 있다.

구동 회로(DCP)는 표시 패널(PN)을 구동할 수 있다. 예를 들어, 구동 회로(DCP)는 표시 패널(PN)로 영상 데이터에 대응하는 데이터 신호를 출력하거나 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 위한 구동 신호를 출력하고 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로부터 수신되는 전기적 신호(또는, 센싱 신호)를 수신할 수 있다. 구동 회로(DCP)는 전기적 신호를 이용하여 사용자의 지문 형태를 검출할 수 있다.

구동 회로(DCP)는 패널 구동부(PNDP)와 지문 검출부(FPDP)를 포함할 수 있다. 편의를 위하여, 도 1a 및 도 1b에서는 패널 구동부(PNDP)와 지문 검출부(FPDP)를 분리하여 도시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 지문 검출부(FPDP)의 적어도 일부는 패널 구동부(PNDP)와 함께 집적되거나, 패널 구동부(PNDP)와 연동하여 동작할 수 있다.

패널 구동부(PNDP)는 표시 영역(DA)의 적어도 하나의 화소(PXL)로 영상 데이터 신호에 대응하는 데이터 신호를 공급할 수 있다. 이에 따라, 표시 패널(PN)은 영상 데이터에 대응하는 영상을 표시할 수 있다.

패널 구동부(PNDP)는 적어도 하나의 화소(PXL)로 지문 감지를 위한 구동 신호를 공급할 수 있다. 지문 감지를 위한 구동 신호는 적어도 하나의 화소(PXL)가 발광하여 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 위한 광원으로서 동작하도록 제공될 수 있다. 지문 감지를 위한 구동 신호는 표시 패널(PN)의 특정 영역에 마련된 적어도 하나의 화소(PXL)에 전달될 수 있다. 예를 들어, 지문 감지를 위한 구동 신호는 표시 패널(PN)의 지문 감지 영역(FSA)에 마련된 적어도 하나의 화소(PXL)에 전달될 수 있다. 지문 감지를 위한 구동 신호는 지문 검출부(FPDP)에 의하여 지문 감지 영역(FSA)의 적어도 하나의 화소(PXL)로 전달될 수 있다.

지문 검출부(FPDP)는 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 구동하기 위한 구동 신호를 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 전달하고, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로부터 수신되는 전기적 신호(또는, 센싱 신호)에 기초하여 사용자 지문을 검출할 수 있다.

도 2는 도 1a 내지 도 1c의 표시 장치를 설명하기 위한 단면도이다.

도 1a 내지 도 1c 및 도 2를 참조하면, 표시 장치(DD)는 지문 감지 영역(FSA)에서 표시 패널(PN) 및 표시 패널(PN)의 일면에 배치된 광감지 어레이부(LSL)를 포함할 수 있다. 또한, 표시 장치(DD)는 기판(SUB), 기판(SUB)의 일면(일 예로, 상부면) 상에 순차적으로 배치되는 회로 소자층(BPL), 발광 소자층(LDL), 제1 보호층(PTL1), 제1 점착층(ADL1) 및 윈도우(WIN)를 포함할 수 있다. 또한, 표시 장치(DD)는 지문 감지 영역(FSA)에서 기판(SUB)의 다른 일면(일 예로, 하부면) 상에 순차적으로 배치되는 제2 점착층(ADL2) 및 제2 보호층(PTL2)을 포함할 수 있다.

기판(SUB)은 표시 패널(PN)의 베이스 기재로서, 실질적으로 투명한 투광성 기판일 수 있다. 기판(SUB)은 유리 또는 강화 유리를 포함한 경성 기판(rigid substrate) 또는 플라스틱 재질의 가요성 기판(flexible substrate)일 수 있다. 다만, 기판(SUB)의 재질이 이에 한정되지 않으며, 기판(SUB)은 다양한 물질로 구성될 수 있다.

회로 소자층(BPL)은 기판(SUB)의 일면에 배치되며 적어도 하나의 도전층을 포함할 수 있다. 회로 소자층(BPL)은 적어도 하나의 화소(PXL)의 화소 회로를 구성하는 복수의 회로 소자들과 적어도 하나의 화소(PXL)를 구동하기 위한 각종 전원 및 신호를 공급하기 위한 배선들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 회로 소자층(BPL)은 적어도 하나의 트랜지스터, 커패시터 등과 같은 각종 회로 소자들과 이에 연결되는 배선들을 구성하기 위한 복수의 도전층들을 포함할 수 있다. 또한, 회로 소자층(BPL)은 복수의 도전층들 사이에 제공된 적어도 하나의 절연층을 포함할 수 있다.

발광 소자층(LDL)은 회로 소자층(BPL)의 일면에 배치될 수 있다. 발광 소자층(LDL)은 컨택홀 등을 통해 회로 소자층(BPL)의 회로 소자들 및/또는 배선들에 연결되는 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자층(LDL)은 화소 영역(PXA)들에 배치된 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 적어도 하나의 발광 소자(LD)는 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode) 또는 마이크로 발광 다이오드, 양자점(quantum dot) 발광 다이오드와 같은 무기(inorganic) 발광 다이오드로 구성될 수 있다. 또한, 발광 소자(LD)는 유기물과 무기물이 복합적으로 구성된 발광 소자일 수도 있다. 나아가, 적어도 하나의 화소(PXL)는 단일(single) 발광 소자(LD)를 포함하거나 상호 직렬, 병렬 또는 직병렬로 연결된 복수의 발광 소자(LD)들을 포함할 수 있다.

적어도 하나의 화소(PXL)는 회로 소자층(BPL)에 배치된 회로 소자들과 발광 소자층(LDL)에 배치된 적어도 하나의 발광 소자(LD)로 구성될 수 있다.

제1 보호층(PTL1)은 표시 영역(DA)을 커버하도록 발광 소자층(LDL)의 상부에 배치될 수 있다. 제1 보호층(PTL1)은 박막 봉지층(thin film encapsulation: TFE) 또는 봉지 기판과 같은 밀봉 부재를 포함할 수 있고, 밀봉 부재 외에도 보호 필름 등을 추가적으로 포함할 수 있다.

제1 점착층(ADL1)은 제1 보호층(PTL1)과 윈도우(WIN)의 사이에 배치되어 제1 보호층(PTL1)과 윈도우(WIN)를 결합할 수 있다. 제1 점착층(ADL1)은 OCA(optically clear adhesive)와 같은 투명 접착제를 포함할 수 있으며, 이외에 다양한 접착 물질을 포함할 수 있다.

윈도우(WIN)는 표시 패널(PN)을 포함하는 표시 장치(DD)의 모듈 최상단에 배치되는 보호 부재로서, 실질적으로 투명한 투광성 기판일 수 있다. 윈도우(WIN)는 유리 기판, 플라스틱 필름, 플라스틱 기판으로부터 선택된 다층 구조를 가질 수 있다. 윈도우(WIN)는 경성 또는 가요성의 기재를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.

표시 장치(DD)는 편광판, 반사 방지층 및/또는 터치 센서층(터치 전극층) 등을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(DD)는 제1 보호층(PTL1)과 윈도우(WIN)의 사이에 배치되는 편광판 및/또는 터치 센서층을 더 포함할 수 있다.

터치 센서층은 복수의 감지 전극들(또는, 감지 셀들)을 포함할 수 있다. 구동 회로(DCP)는 감지 전극들 사이의 정전 용량의 변화에 기초하여 터치 입력의 유무와 터치 입력의 위치(또는, 좌표, 면적)를 감지할 수 있다.

제2 보호층(PTL2)은 기판(SUB)의 다른 일면에 배치될 수 있다. 제2 보호층(PTL2)은 제2 점착층(ADL2)에 의해 기판(SUB)에 결합될 수 있다.

제2 점착층(ADL2)은 기판(SUB)과 제2 보호층(PTL2)을 견고하게 결합(또는 부착)할 수 있다. 제2 점착층(ADL2)은 OCA와 같은 투명 접착제를 포함할 수 있다. 제2 점착층(ADL2)은 접착면과 접착시키기 위한 압력이 가해질 때 접착 물질이 작용하는 감압 접착제(PSA: Pressure Sensitive Adhesive)를 포함할 수 있다.

제2 보호층(PTL2)은 외부로부터 산소 및 수분 등이 유입되는 것을 차단하며 단일층 또는 다중층의 형태로 제공될 수 있다. 제2 보호층(PTL2)은 필름 형태로 구성되어 표시 패널(PN)의 가요성을 더욱 확보할 수 있다. 제2 보호층(PTL2)은 OCA와 같은 투명 접착제를 포함한 다른 접착층을 통해 광감지 어레이부(LSL)와 결합할 수 있다.

광감지 어레이부(LSL)는 표시 패널(PN)의 적어도 일 영역과 중첩되도록 표시 패널(PN)의 이면(일 예로, 배면)에 접착제 등을 통하여 부착될 수 있다. 예를 들어, 광감지 어레이부(LSL)는 지문 감지 영역(FSA)에서 표시 패널(PN)과 중첩되도록 배치될 수 있다. 광감지 어레이부(LSL)는 소정의 해상도 및/또는 간격으로 분산된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 포함할 수 있다.

광감지 어레이부(LSL) 상에는 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 향하는 광을 집광하여 광 경로를 제공하는 광학계가 제공될 수 있다. 광학계에서 광을 도파하는 투광부의 폭은 센싱 정밀도와 광 변환 효율을 고려하여 결정될 수 있다. 이러한 광학계에 의해 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 입사되는 광의 집광률이 향상될 수 있다. 광학계는 광섬유, 실리콘 등으로 형성될 수 있다.

적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에서 출력되는 전기적 신호(또는, 센싱 신호)로부터 식별 가능할 정도의 지문 이미지가 생성될 수 있도록 적절한 개수, 크기 및 배열을 가질 수 있다. 예를 들어, 지문 센서(FPS)들 사이의 간격은 대상 객체(일 예로, 사용자의 지문)로부터 반사되는 반사광이 이웃한 적어도 두 개의 지문 센서(FPS)들에 입사될 수 있도록 조밀하게 설정될 수 있다.

적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 외부 광을 감지하여 대응하는 전기적 신호(또는, 센싱 신호)를 출력할 수 있다. 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 수신되는 반사광들은 사용자의 손가락에 형성되는 지문(또는, 손바닥에 형성되는 장문(palm pattern), 피부에 형성되는 피문(dermatoglyphic pattern))의 골(valley)과 융선(ridge)에 의한 광 특성(일 예로, 주파수, 파장, 크기 등)을 가질 수 있다. 따라서, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 반사광의 광 특성에 대응하는 전기적 신호(또는, 센싱 신호)를 출력할 수 있다.

표시 장치(DD)는 차광층(PHL)을 더 포함할 수 있다. 차광층(PHL)은 표시 패널(PN) 내부 또는 표시 패널(PN)과 적어도 하나의 지문 센서(FPS)의 사이에 배치되어 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 입사되는 광의 일부를 차단할 수 있다. 예를 들어, 차광층(PHL)으로 입사되는 광 중 일부는 차단되고, 나머지 일부는 핀홀(PIH)들을 통과하여 차광층(PHL) 하부의 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에 도달할 수 있다. 핀홀(PIH)들은 광학계로서 작동하며, 다른 광학계와 함께 사용될 수도 있다.

핀홀(PIH)들은 광학적인 홀을 의미할 수 있는 것으로서, 투광홀의 일종일 수 있다. 예를 들어, 핀홀(PIH)들은 반사광이 표시 패널(PN)을 사선 방향 또는 수직 방향으로 투과하여 적어도 하나의 지문 센서(FPS)로 입사되는 경로상에서, 표시 장치(DD)의 레이어들이 서로 중첩하여 배치된 투광홀들 중 가장 작은 크기(또는, 면적)를 갖는 투광홀일 수 있다.

핀홀(PIH)들은 소정의 폭, 예를 들어 5㎛ 내지 20㎛ 범위의 폭을 가질 수 있다. 차광층(PHL)으로부터 멀어질수록(즉, 차광층(PHL)의 상부 및 하부 방향으로 갈수록) 표시 장치(DD)의 각 층에서 확보해야 할 광학적 개구 영역의 폭은 점진적으로 증가할 수 있다.

핀홀(PIH)들의 폭(또는 직경)은 빛의 회절을 방지할 수 있도록 반사광의 파장의 대략 10배 이상, 예를 들어, 대략 4㎛ 또는 5㎛ 이상으로 설정될 수 있다. 또한, 핀홀(PIH)들의 폭은 이미지 블러(image blur)를 방지하고, 보다 또렷하게 지문의 형태를 감지할 수 있을 정도의 크기로 설정될 수 있다. 예를 들어, 핀홀(PIH)들의 폭은 대략 15㎛ 이하로 설정될 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며, 핀홀(PIH)들의 폭은 반사광의 파장 대역 및/또는 모듈의 층별 두께 등에 따라 달라질 수도 있다.

핀홀(PIH)들을 통과한 반사광만이 광 센서(PS)의 센서 화소(SPXL)들에 도달할 수 있다. 매우 좁은 폭의 핀홀(PIH)들에 의해 지문으로부터 반사되는 광의 위상과 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에 맺히는 상의 위상은 180도 차이를 가질 수 있다.

광학계(예를 들어, 차광층(PHL))와 적어도 하나의 지문 센서(FPS) 사이 또는 표시 패널(PN)과 광학계 사이에는 적외선 차단 필터가 더 배치될 수도 있다.

한편, 도 2에서는 핀홀(PIH)들을 포함하는 차광층(PHL)을 광학계로 사용한 실시예가 도시되었으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 마이크로 렌즈 타입, 콜리메이터 타입의 광학계(또는, 광 센서)가 이용될 수도 있다.

도 3은 실시예들에 따른 지문 검출부를 설명하기 위한 블록도이다. 설명의 편의를 위해, 도 3에서는 도 1c에 도시된 지문 검출부(FPDP)가 예시적으로 도시되나, 이에 한정되지 않는다.

도 1c 및 도 3을 참조하면, 지문 검출부(FPDP)는 이미지 생성부(100), 이미지 분석부(200), 이미지 보정부(300) 및 이미지 매칭부(400)를 포함할 수 있다.

이미지 생성부(100)는 표시 패널(PN)의 지문 감지 영역(FSA)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에서 출력되는 센싱 신호(SS)에 기초하여 지문 이미지를 생성할 수 있다. 예를 들어, 이미지 생성부(100)는 센싱 신호(SS)에 대한 처리 동작을 통해 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에 대응하는 영역이 융선(ridge) 또는 골(valley)인지 판단할 수 있으며, 판단된 정보를 조합함으로써 전체적인 지문 이미지를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 이미지 생성부(100)는 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)에서 출력되는 센싱 신호(SS)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)를 생성할 수 있다.

제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하여 센싱 신호(SS)를 생성하고, 이미지 생성부(100)는 센싱 신호(SS)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)를 생성할 수 있다. 타겟 지문 이미지(TFI)는 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 입력된 사용자의 지문에 대응하는 것으로서 지문 인증에 사용될 수 있다.

이미지 분석부(200)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 분석하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함(또는, 결함 정보(DI))을 검출할 수 있다.

타겟 지문 이미지(TFI)의 결함은 사용자가 지문 감지 기능을 반복적으로 사용하여 지문 센서(FPS)가 열화됨에 따라 타겟 지문 이미지(TFI)에 발생하는 점, 선 등의 오점을 의미한다. 예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함은 지문 센서(FPS)의 구동 회로 및/또는 지문 센서(FPS)에 포함된 광전 변환 소자(일 예로, 포토 다이오드)의 열화에 기인하여 발생할 수 있다. 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함은 지문 센서(FPS)의 열화 정도에 따라 다양한 형태로 발생할 수 있다.

일 실시예에서, 이미지 분석부(200)는 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1, 도 4에 도시)와 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 이격된 제2 지문 감지 영역(FSA2)에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2, 도 4에 도시)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함(또는, 결함 정보(DI))을 검출할 수 있다. 예를 들어, 이미지 분석부(200)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 발견된 결함의 크기, 형상, 위치, 색상 등에 관한 결함 정보(DI)를 검출할 수 있다.

타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출된 경우, 이미지 분석부(200)는 타겟 지문 이미지(TFI)와 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 정보(DI)를 이미지 보정부(300)에 공급할 수 있다. 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출되지 않은 경우, 이미지 분석부(200)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 이미지 매칭부(400)에 공급할 수 있다. 이미지 분석부(200)의 구체적인 동작은 도 4를 참조하여 후술하기로 한다.

이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함(또는, 결함 정보(DI))에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정하여 지문 인증 기능을 향상시킬 수 있다. 즉, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 정보(DI) 중 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함의 크기에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정할 수 있다. 또한, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함의 크기를 기 설정된 기준 크기와 비교한 결과에 따라, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 상이한 방식으로 보정할 수 있다. 이미지 보정부(300)의 구체적인 동작은 도 5 내지 도 11을 참조하여 후술하기로 한다.

이미지 매칭부(400)는 타겟 지문 이미지(TFI) 또는 보정 지문 이미지(CFI)와 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지의 매칭을 통해 지문 인증을 수행할 수 있다. 예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 발생하지 않은 경우, 이미지 매칭부(400)는 이미지 분석부(200)로부터 공급되는 타겟 지문 이미지(TFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭시킬 수 있다. 예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 발생된 경우, 이미지 매칭부(400)는 이미지 보정부(300)로부터 공급되는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭시킬 수 있다. 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지는 별도의 데이터 베이스에 저장되어있으며, 지문 인증시 데이터 베이스로부터 이미지 매칭부(400)로 공급될 수 있다.

도 4는 도 3의 이미지 분석부를 설명하기 위한 블록도이다.

도 1c 및 4를 참조하면, 이미지 분석부(200)는 제1 이미지 비교부(210), 제2 이미지 비교부(220) 및 제어부(230)를 포함할 수 있다.

제1 이미지 비교부(210)는 제어부(230)로부터 공급되는 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)를 비교하여 매칭 여부를 판단하고 판단 결과를 제어부(230)로 전달할 수 있다.

적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)는 타겟 지문 이미지(TFI)가 생성되기 전 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 통해 센싱된 사용자의 지문과 대응될 수 있다. 즉, 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)는 제1 지문 감지 영역(FSA1)을 통해 센싱되어 미리 저장된 사용자의 지문 이미지일 수 있다. 또한, 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)는 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)가 열화되기 전 센싱된 사용자의 지문 이미지일 수 있다.

적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1) 및 타겟 지문 이미지(TFI)는 사용자의 동일한 신체부위의 지문 정보를 가질 수 있다. 예를 들어, 사용자의 신체부위가 손가락인 경우, 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1) 및 타겟 지문 이미지(TFI)는 엄지, 검지, 중지, 약지 및 소지 중 어느 하나의 동일한 지문 정보를 가질 수 있다.

제2 이미지 비교부(220)는 제어부(230)로부터 공급되는 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)를 비교하여 매칭 여부를 판단하고 판단 결과를 제어부(230)로 전달할 수 있다.

적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)는 타겟 지문 이미지(TFI)가 생성되기 전 표시 패널(PN)의 제2 지문 감지 영역(FSA2)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)를 통해 센싱된 사용자의 지문과 대응될 수 있다. 즉, 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)는 제2 지문 감지 영역(FSA2)을 통해 센싱되어 미리 저장된 사용자의 지문 이미지일 수 있다.

적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2) 및 타겟 지문 이미지(TFI)는 사용자의 동일한 신체부위의 지문 정보를 가질 수 있다. 예를 들어, 사용자의 신체부위가 손가락인 경우, 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2) 및 타겟 지문 이미지(TFI)는 엄지, 검지, 중지, 약지 및 소지 중 어느 하나의 동일한 지문 정보를 가질 수 있다.

제어부(230)는 이미지 생성부(100)에서 공급되는 타겟 지문 이미지(TFI)를 수신할 수 있다.

일 실시예에서, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI) 및 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)를 제1 이미지 비교부(210)에 공급할 수 있다. 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)와 동일한 신체부위의 지문 정보를 갖는 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)를 제1 이미지 비교부(210)에 제공할 수 있다.

일 실시예에서, 제어부(230)는 제1 이미지 비교부(210)에서의 판단 결과에 따라 타겟 지문 이미지(TFI) 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)를 제2 이미지 비교부(220)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 제어부(230)는 제1 이미지 비교부(210)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하지 않는 것으로 판단되는 경우, 타겟 지문 이미지(TFI) 및 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)를 제2 이미지 비교부(220)에 공급할 수 있다. 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)와 동일한 신체부위의 지문 정보를 갖는 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)를 제2 이미지 비교부(220)에 제공할 수 있다.

일 실시예에서, 제어부(230)는 제1 이미지 비교부(210)에서 전달되는 판단 결과와 제2 이미지 비교부(220)에서 전달되는 판단 결과에 따라 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함의 검출 여부를 결정할 수 있다.

제1 이미지 비교부(210)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하는 것으로 판단되는 경우, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출되지 않은 것으로 결정할 수 있다. 이에 따라, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 이미지 매칭부(400)로 공급할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

제1 이미지 비교부(210)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하지 않는 것으로 판단되는 경우, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출된 것으로 1차적으로 결정할 수 있다. 이후, 제2 이미지 비교부(220)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하지 않는 것으로 판단되는 경우, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출된 것으로 2차적으로(또는, 최종적으로) 결정할 수 있다. 여기서, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하지 않는 것은 제1 지문 감지 영역(FSA1)의 일 영역에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)가 열화됨에 따라 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 발생된 것을 의미할 수 있다. 즉, 제어부(230)는 제1 이미지 비교부(210)와 제2 이미지 비교부(220)의 판단 결과에 기초하여 제1 지문 감지 영역(FSA1)의 일 영역에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)의 열화에 기인한 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함(또는, 결함 정보(DI))을 정확하게 검출할 수 있다. 이에 따라, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)와 타겟 지문 이미지의 결함 정보(DI)를 이미지 보정부(300)에 공급할 수 있다. 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지의 결함 정보(DI)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성하고, 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

제1 이미지 비교부(210)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하지 않는 것으로 판단되는 경우, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출된 것으로 1차적으로 결정할 수 있다. 그러나, 제2 이미지 비교부(220)에서 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하는 것으로 판단되는 경우, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출되지 않은 것으로 결정할 수 있다. 여기서, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하는 것은 지문 인증시 입력된 사용자의 신체 부위의 상태 변화(일 예로, 손가락의 상처)에 따라 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 발생된 것을 의미할 수 있다. 이에 따라, 제어부(230)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 이미지 매칭부(400)로 공급할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 타겟 지문 이미지(TFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

이처럼, 제어부(230)는 제1 이미지 비교부(210)에서 전달되는 판단 결과와 제2 이미지 비교부(220)에서 전달되는 판단 결과에 따라 지문 센서(FPS)의 열화에 기인한 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보다 정확하게 검출할 수 있다.

도 5 내지 도 8은 타겟 지문 이미지의 결함이 큰 경우의 보정 방식들을 설명하기 위한 도면들이다. 도 5 내지 도 8에서 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 큰 경우는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우를 의미할 수 있다. 즉, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우 사용자의 지문의 특징점에 변화를 유발하여 지문 인증 기능을 저하시킬 수 있다. 설명의 편의를 위해, 도 5 내지 도 8에는 동일한 결함이 발생된 타겟 지문 이미지(TFI)가 예시적으로 도시된다.

도 5를 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 마스킹(masking)하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다. 즉, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 마스킹(masking)하여 지문 인증 기능의 저하를 방지할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다. 특히, 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)의 마스킹된 영역을 제외한 나머지 영역을 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭함으로써 지문 인증 기능의 정확도를 향상시킬 수 있다.

도 6을 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 커버하는 마스킹 영역(MA)이 형성된 마스킹 이미지(MI)를 생성할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 타겟 지문 이미지(TFI), 마스킹 이미지(MI) 및 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지에 기초하여 지문 인증을 수행할 수 있다. 예를 들어, 이미지 매칭부(400)는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 마스킹 이미지(MI)의 마스킹 영역(MA)에 대응하는 영역을 제외한 나머지 영역을 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭함으로써 지문 인증을 수행할 수 있다.

도 1c, 도 3 및 도 7을 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수, 개수) 이상인 경우, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 사용자의 추가적인 지문을 감지하는 영역을 확장할 수 있다.

예를 들어, 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 사용자의 지문이 입력되는 경우 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 포함되는 제3 지문 감지 영역(FSA3)을 통해 사용자의 지문을 센싱하여 센싱 신호를 생성할 수 있다. 즉, 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 사용자의 지문의 일 부분만을 센싱할 수 있다. 이미지 생성부(100)는 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)를 생성할 수 있다. 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우, 사용자의 추가적인 지문이 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 입력될 때 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 제3 지문 감지 영역(FSA3)의 전체에 중첩하고 제3 지문 감지 영역(FSA3)보다 넓은 제4 지문 감지 영역(FSA4)을 통해 사용자의 추가적인 지문을 센싱하여 센싱 신호를 생성할 수 있다. 이미지 생성부(100)는 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI')를 생성할 수 있다. 즉, 사용자의 지문을 감지하는 영역을 확장하여 사용자의 추가적인 지문에 대응하는 타겟 지문 이미지(TFI')를 생성함으로써, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 지문 인증에 미치는 영향을 감소시켜 지문 인증 기능을 향상시킬 수 있다.

도 1c 및 도 8을 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 이상인 경우, 사용자의 추가적인 지문을 감지할 때 적어도 하나의 지문 센서(FPS)의 광노출 시간은 증가할 수 있다.

예를 들어, 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 사용자의 지문이 입력되는 경우 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)는 제1 광노출 시간 동안 광에 노출되어 사용자의 지문을 센싱할 수 있다. 이후, 사용자의 추가적인 지문이 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 입력되는 경우 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함과 대응되는 영역(DFA)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서는 제1 광노출 시간보다 긴 제2 광노출 시간 동안 광에 노출되어 사용자의 지문을 센싱할 수 있다. 반면, 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 발생하지 않은 영역(NDFA)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서는 제1 광노출 시간 동안 광에 노출되어 사용자의 지문을 센싱할 수 있다. 즉, 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 발생된 영역(DFA)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서의 광노출 시간을 증가시켜 지문 인증 기능을 향상시킬 수 있다.

도 9 내지 도 11은 타겟 지문 이미지의 결함이 작은 경우의 보정 방식들을 설명하기 위한 도면들이다. 도 9 내지 도 11에서 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 작은 경우는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 미만인 경우를 의미할 수 있다. 즉, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 미만인 경우 지문 인증 기능에는 큰 영향이 없으나, 누적되는 경우 지문 인증 기능이 저하될 수 있다. 설명의 편의를 위해, 도 9 내지 도 11에는 동일한 결함이 발생된 타겟 지문 이미지(TFI)가 예시적으로 도시된다.

도 9를 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 미만인 경우, 이미지 보정부(300)는 미리 저장된 캘리브레이션 정보(CI) 및 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 정보(DI)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다. 캘리브레이션 정보(CI)는 지문 센서(FPS)로 의해 수신되는 반사광, 광 경로, 지문 센서(FPS)의 편차 등에 의한 노이즈(또는, 오차)를 교정하기 위한 정보를 포함할 수 있다. 이미지 보정부(300)는 캘리브레이션 정보(CI)에 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 정보(DI)를 반영하여 타겟 지문 이미지(TFI)에 대하여 캘리브레이션(calibration)을 수행함으로써 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

도 10을 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 미만인 경우, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 이미지 프로세싱(image processing)을 통해 소거하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

도 11을 참조하면, 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 미리 설정된 기준 크기(또는, 길이, 개수) 미만인 경우, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 마스킹(masking)하여 보정 지문 이미지(CFI)를 생성할 수 있다. 즉, 이미지 보정부(300)는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 마스킹(masking)하여 지문 인증 기능의 저하를 방지할 수 있다. 이미지 매칭부(400)는 보정 지문 이미지(CFI)를 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지와 매칭하여 지문 인증을 수행할 수 있다.

도 9 내지 도 11에 도시된바와 같이, 매칭 전 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 소거함으로써, 지문 인증 기능의 저하를 방지할 수 있다.

도 12는 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 블록도이다. 도 13은 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 단계를 설명하기 위한 블록도이다. 도 12 및 도 13에서 상술한 내용과 중복되는 내용은 생략하거나 간단히 설명하도록 한다.

도 12를 참조하면, 표시 장치의 구동 방법은 표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하는 단계(S100), 타겟 지문 이미지를 생성하는 단계(S200), 상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 표시 패널의 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 단계(S300), 타겟 지문 이미지의 결함을 보정하는 단계(S400) 및 사용자의 등록 지문 이미지에 기초하여 지문 인증하는 단계(S500)를 포함할 수 있다.

센싱하는 단계(S100)에서는 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 입력된 사용자의 지문을 센싱하여 센싱 신호(SS)를 생성할 수 있다.

생성하는 단계(S200)에서는 센싱 신호(SS)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)를 생성할 수 있다. 타겟 지문 이미지(TFI)는 현재 수행되는 지문 인증에 이용되는 사용자의 지문 이미지일 수 있다.

검출하는 단계(S300)에서는 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)와 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 이격된 제2 지문 감지 영역(FSA2)에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 검출할 수 있다. 제1 지문 이미지(FI1)는 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)을 통해 기 센싱되어 미리 저장된 사용자의 지문 이미지일 수 있다. 제2 지문 이미지(FI2)는 표시 패널(PN)의 제1 지문 감지 영역(FSA1)과 이격된 제2 지문 감지 영역(FSA2)을 통해 기 센싱되어 미리 저장된 사용자의 지문 이미지일 수 있다.

검출하는 단계(S300)에서 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 검출된 경우에는 보정하는 단계(S400)를 수행할 수 있다. 검출하는 단계(S300)에서 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함이 검출되지 않은 경우에는 보정하는 단계(S400)를 수행하지 않고 지문 인증하는 단계(S500)를 수행할 수 있다.

도 13을 참조하면, 검출하는 단계(S300)는 타겟 지문 이미지를 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 비교하는 단계(S310) 및 타겟 지문 이미지를 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 비교하는 단계(S320)를 더 포함할 수 있다.

비교하는 단계(S310)에서는 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)를 비교하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 발생 여부를 1차적으로 결정할 수 있다.

예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하는 경우에는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출되지 않은 것으로 결정하고, 이어서 지문 인증하는 단계(S500)를 수행할 수 있다. 예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제1 지문 이미지(FI1)가 매칭하지 않는 경우에는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 결함이 검출된 것으로 1차적으로 결정하고, 이어서 비교하는 단계(S320)를 수행할 수 있다.

비교하는 단계(S320)에서는 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)를 비교하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함 발생 여부를 2차적으로(또는, 최종적으로) 결정할 수 있다.

예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하는 경우에는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 발생된 결함이 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)의 열화에서 기인한 것이 아니라 사용자의 신체 부위의 상태 변화(일 예로, 손가락의 상처)에서 기인한 것으로 결정하고, 이어서 지문 인증하는 단계(S500)를 수행할 수 있다. 예를 들어, 타겟 지문 이미지(TFI)와 적어도 하나의 제2 지문 이미지(FI2)가 매칭하지 않는 경우에는 타겟 지문 이미지(TFI)에서 발생된 결함이 제1 지문 감지 영역(FSA1)에 배치된 적어도 하나의 지문 센서(FPS)의 열화에서 기인한 것으로 결정하고, 이어서 보정하는 단계(S400)를 수행할 수 있다.

보정하는 단계(S400)에서는 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함의 크기에 기초하여 타겟 지문 이미지(TFI)의 결함을 보정할 수 있다. 결함의 크기에 기초한 보정 방식들은 상술한바와 같으므로, 자세한 설명은 생략하기로 한다.

지문 인증하는 단계(S500)에서는 타겟 지문 이미지(TFI) 또는 보정 지문 이미지(CFI)와 미리 설정된 사용자의 등록 지문 이미지의 매칭을 통해 지문 인증을 수행할 수 있다.

발명은 전술한 실시예들에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기 실시예들은 본 발명을 설명하기 위한 것이며 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것이 아님에 유의하여야 한다. 본 발명이 속한 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

본 발명의 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라, 특허 청구범위에 의해 정해져야만 할 것이다. 또한, 특허 청구범위의 의미 및 범위, 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100: 이미지 생성부 200: 이미지 분석부
210: 제1 이미지 비교부 220: 제2 이미지 비교부
230: 제어부 300: 이미지 보정부
400: 이미지 매칭부

Claims

표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하는 적어도 하나의 지문 센서;
상기 적어도 하나의 지문 센서로부터 출력되는 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지를 생성하는 이미지 생성부;
상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 이미지 분석부; 및
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 이미지 보정부를 포함하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 이미지 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 크기에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지, 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 상기 사용자의 동일한 신체부위의 지문 정보를 갖는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지는 상기 제1 지문 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되고,
상기 적어도 하나의 제 2 지문 이미지는 상기 제2 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 이미지 분석부는,
상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 비교하는 제1 이미지 비교부;
상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 비교하는 제2 이미지 비교부; 및
상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와의 비교의 결과와 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와의 비교의 결과에 따라 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 검출 여부를 결정하는 제어부를 포함하는, 표시 장치.
제5항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 매칭하지 않고, 상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 매칭하지 않을 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 검출된 것으로 결정하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우,
상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 마스킹(masking)하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우,
상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 커버하는 마스킹 이미지를 생성하는, 표시 장치.
제8항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지, 상기 마스킹 이미지 및 미리 설정된 상기 사용자의 등록 지문 이미지에 기초하여 지문 인증을 수행하는 이미지 매칭부를 더 포함하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 적어도 하나의 지문 센서는 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역에 포함되는 제3 지문 감지 영역을 통해 상기 사용자의 지문을 센싱하고,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우,
상기 표시 패널의 상기 제3 지문 감지 영역에 상기 사용자의 추가적인 지문이 입력될 때, 상기 적어도 하나의 지문 센서는 상기 제3 지문 감지 영역의 전체에 중첩하는 제4 지문 감지 영역을 통해 상기 사용자의 상기 추가적인 지문을 센싱하며,
상기 제4 지문 감지 영역은 상기 제3 지문 감지 영역보다 넓은 면적을 갖는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 적어도 하나의 지문 센서는 제1 광노출 시간 동안 광에 노출되고,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 이상인 경우,
상기 제1 지문 감지 영역에 상기 사용자의 추가적인 지문이 입력될 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함과 대응되는 영역의 적어도 하나의 지문 센서는 상기 제1 광노출 시간보다 긴 제2 광노출 시간 동안 상기 광에 노출되는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우,
상기 보정부는 상기 결함의 정보와 미리 저장된 캘리브레이션 정보에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우,
상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 이미지 프로세싱(image processing)을 통해 소거하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 보정하는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 미리 설정된 기준 크기 미만인 경우,
상기 보정부는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 마스킹(masking)하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 보정하는, 표시 장치.
표시 패널의 제1 지문 감지 영역에 대응하는 사용자의 지문을 센싱하여 센싱 신호를 생성하는 단계;
상기 센싱 신호에 기초하여 타겟 지문 이미지를 생성하는 단계;
상기 제1 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 상기 표시 패널의 상기 제1 지문 감지 영역과 이격된 제2 지문 감지 영역에 대응하는 적어도 하나의 제2 지문 이미지에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 결함을 검출하는 단계; 및
상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
제15항에 있어서,
상기 보정하는 단계는 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함의 크기에 기초하여 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함을 보정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
제15항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지, 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지 및 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지는 상기 사용자의 동일한 신체부위의 지문 정보를 갖는, 표시 장치의 구동 방법.
제15항에 있어서,
상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지는 상기 제 1 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되고,
상기 적어도 하나의 제 2 지문 이미지는 상기 제2 감지 영역을 통해 센싱되어 미리 저장되는, 표시 장치의 구동 방법.
제15항에 있어서,
상기 검출하는 단계는,
상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 비교하는 단계; 및
상기 타겟 지문 이미지를 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 비교하는 단계를 더 포함하는, 표시 장치의 구동 방법.
제19항에 있어서,
상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제1 지문 이미지와 매칭하지 않고, 상기 타겟 지문 이미지가 상기 적어도 하나의 제2 지문 이미지와 매칭하지 않을 때, 상기 타겟 지문 이미지의 상기 결함이 검출된 것으로 결정되는, 표시 장치의 구동 방법.