KR20230171322A - 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 레이저 빔(L)을 조사하는 광원을 포함하고, 광원에서 조사되는 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하도록 레이저 빔(L)이 고분자 재료에 조사되어 재단하는 것을 특징으로 하는 고분자 재료를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치, 방법 및 상기 방법으로 재단된 고분자 재료에 관한 발명이다.

Description

고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치 및 방법 {Apparatus and method for cutting polymeric materials with laser beam}
본 발명은 고분자 재료를 비접촉 재단 방법을 이용하여 재단하기 위한 장치, 방법 및 그 방법으로 재단된 고분자 재료에 관한 발명으로, 보다 상세하게는, 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하도록 레이저 빔이 고분자 재료에 조사되도록 형성되는 장치, 방법 및 그 방법으로 재단된 고분자 재료에 관한 것이다.
고분자 재료, 특히 고분자 필름을 제조하는 과정에서 필름을 재단하는 방법은 커터나 금형을 사용하는 것이 일반적이다. 그러나 커터나 금형과 같이 고분자 필름에 직접적으로 닿는 도구를 사용하여 재단하는 경우 고분자 필름의 점착제, 코팅제 등에 의해서 커터나 금형이 오염될 수 있고, 이는 재단 설비의 유지 및 보수에 영향을 미친다. 또한, 오염된 커터나 금형으로 고분자 필름을 다시 재단하거나, 재단 시 발생하는 오염 물질이 고분자 필름과 커터 사이에 위치하여 재단되는 경우, 고분자 필름의 품질에도 문제가 발생할 수 있다.
이러한 문제를 해결하기 위해 비접촉 재단 방법인 레이저 빔을 이용한 고분자 필름 재단 방법이 도입되었다. 고분자 필름을 재단하기 위해 사용되는 레이저 빔은, 일반적으로 이상적인 가우시안 분포를 나타내는 방사조도 프로파일을 가진 가우시안 빔으로 가정된다. 도 6을 참조하면, 가우시안 빔의 방사조도 프로파일은 레이저 빔의 중앙 부분을 중심으로 대칭 구조를 이루며, 레이저 빔의 중심으로부터 전파 방향에 수직방향 거리가 멀어질수록 빔의 출력이 감소하는 특징을 가진다.
레이저 빔의 직경이 최소인 허리 부분을 중심으로 레이저 빔이 발산하는 특징으로 인해, 레이저 빔으로 고분자 필름을 향해 수직으로 조사하면 도 7에서 볼 수 있듯이 고분자 필름의 상부면이 곡선 형태(Tapered Profile)를 형성한다. 또한, 레이저 빔에서 발생하는 열로 인해 고분자 필름의 단부가 변형되어 고분자 필름의 일면과 타면에 버(Burr)가 형성된다.
테이퍼 형상의 단면과 버의 발생은 고분자 필름의 품질에 영향을 미치는 것으로, 재단면의 품질이 저하되는 경우 제품의 출하가 불가할 수 있다. 따라서 비접촉 재단 방법을 사용하면서도 고품질의 재단면을 얻을 수 있는 방법이 현실적으로 요구된다.
상기 문제를 해결하기 위해, 본 발명은 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하도록 레이저 빔이 고분자 재료에 조사되도록 형성되는 장치, 방법 및 그 방법으로 재단된 고분자 재료에 관한 것이다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치에 있어서, 상기 레이저 빔을 조사하는 광원을 포함하고, 광원에서 조사되는 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하도록 레이저 빔이 고분자 재료에 조사되어 재단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제1 각도는, 레이저 빔의 가우시안 분포에 따른 발산각도인 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제1 각도는, 레이저 빔의 발산각도를 측정한 값인 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 고분자 재료를 지지하기 위해 고분자 재료의 타면에 형성된 지그를 더 포함하고, 지그는 지면과 제2 각도로 기울어진 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제1 각도는, 제2 각도와 동일한 각도로 형성하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 지그는, 제2 각도를 조절할 수 있는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 레이저 빔의 입사축의 각도를 변경하는 경우, 레이저 빔의 입사축과 제1 각도로 기울어진 축이 고분자 재료의 일면과 수직을 유지하기 위해, 레이저 빔의 입사축이 변경되는 만큼 지그의 제2 각도를 동시에 변경하도록 제어하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 지그는, 고분자 재료의 양단을 지지하도록 형성된 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단 시 발생하는 버(Burr)를 제거하기 위해 기체를 취입할 수 있도록, 고분자 재료의 재단부분과 이격되어 형성되는 취입부를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 취입부는, 고분자 재료의 일면과 타면에 복수 개 형성되어 있는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 방법에 있어서, 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하는 레이저 빔이 고분자 재료에 조사되어 재단하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 방법에 의해 재단된 고분자 재료를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 레이저 빔이 조사된 고분자 재료의 테이퍼를 최소화함과 동시에 레이저의 열로 인해 발생하는 버를 효과적으로 제거하여 고분자 재료의 품질을 향상시킬 수 있다.
또한, 레이저 빔을 이용하여 고분자 재료를 재단 시 발생하는 단면의 오차를 효과적으로 조절할 수 있다.
본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치에 있어서 레이저 빔이 고분자 재료에 조사되는 형상의 모식도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치에 있어서 지그를 포함하는 구성 및 레이저 빔이 조사되는 형상의 모식도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치를 이용하여 재단된 고분자 재료의 측면도이다.
도 3b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치를 이용하여 취입부를 통해 버를 제거한 재단된 고분자 재료의 측면도이다.
도 4는 비교 예에 따른 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치를 이용하여 재단된 고분자 재료의 측면도이다.
도 5는 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하는 경우 발생하는 테이퍼 및 버에 관한 측면도이다.
도 6은 고분자 재료를 재단하는 레이저 빔의 가우시안 빔의 방사조도 프로파일을 나타낸 도면이다.
도 7은 고분자 재료를 레이저 빔에 의해 재단하는 모식도 및 재단된 고분자 재료의 측면도이다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
이하, 본 발명의 다양한 실시 예들이 첨부된 도면을 참조하여 기재된다.
도 1은 일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치에 있어서, 레이저 빔(L)이 고분자 재료(PM)에 조사되는 형상의 모식도를 나타낸다.
일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치는, 레이저 빔(L)을 조사하는 광원(10)을 포함한다.
광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)에 의해 재단되는 고분자 재료(PM)는, 하나의 고분자 물질에 다른 고분자 물질이나 고분자 물질이 아닌 물질을 섞어서 만든 재료이다. 특히 고분자 재료(PM) 중 두께가 0.25mm(1/100inch) 이하의 비섬유형 평판상의 플라스틱 성형물인 고분자 필름을 사용하는 것이 바람직하다.
또한, 고분자 재료(PM)는 일 실시 예에 따라 일반적으로 두께가 0.25mm (1/100inch) 이하의 비섬유형 평판상의 플라스틱 성형물인 고분자 필름일 수 있다. 다만, 이는 재료의 필요 및 목적에 따라 일 실시 예에 따라 제한되지 않는다.
도 1을 참조하면 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)은, 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축(La)에서 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 형성하도록 고분자 재료(PM)에 조사된다. 즉, 레이저 빔(L)의 입사축(La)이 아닌, 입사축(La)에서 제1 각도(α)로 기울인 축이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 형성하도록 조사된다.
여기서 제1 각도(α)는, 레이저 빔(L)의 가우시안 분포에 따른 발산각도 일 수 있다. 가우시안 빔에서 발산각도는 이론상 아래의 수학식 1에 따라 정의된다
[수학식 1]
여기서, 는 빔 허리(beam waist)에서의 빔 반지름, 는 레이저 빔(L)의 파장, 는 레이저 빔(L)의 발산각도를 의미한다. 결국, 도 1을 참조하면 수학식 1에서 구한 레이저 빔(L)의 발산각도를 이용하여, 레이저 빔(L)의 입사축(La)에서 레이저 빔(L)의 발산각도를 더한 축이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직하도록 조사한다.
또는, 제1 각도(α)는 레이저 빔(L)의 발산각도를 측정한 값인 것일 수 있다. 수학식 1에 따른 레이저 빔(L)의 발산각도는 계산된 이론값으로 실제 발산각도와 차이가 날 수 있다. 그러므로 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)의 실제 발산각도를 측정할 수 있는 경우에는 측정된 발산각도로 레이저 빔(L)을 조사하는 것이 사용자가 원하는 고분자 재료(PM)의 재단면을 얻기에 용이하다. 실제 발산각도는, ISO 표준에 기재되어 있는 방법(KS B ISO11146-1)에 따라 측정할 수 있으며, 이는 일 실시 예에 따라 제한되지 않는다.
도 2을 참조하면 일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치는, 고분자 재료(PM)를 지지하기 위해 고분자 재료(PM)의 타면에 형성된 지그(20)를 더 포함할 수 있다. 특히, 지그(20)는 지면과 제2 각도(β)로 기울어진 것을 특징으로 할 수 있다. 즉, 광원(10)이 지면과 수직으로 형성되는 경우, 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축(La)에서 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 형성하도록, 고분자 재료(PM)의 타면에서 고분자 재료(PM)를 지지하는 지그(20)가 제2 각도(β)로 형성되어 고분자 재료(PM)을 지지할 수 있다. 여기서, 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축(La)에 형성된 제1 각도(α)와 지그(20)가 형성하는 제2 각도(β)가 동일할 수 있다. 즉, 앞서 설명한 것과 마찬가지로 레이저 빔(L)의 가우시안 분포에 따른 발산각도, 또는 레이저 빔(L)의 발산각도를 측정한 값인 것일 수 있다.
또한, 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축(La)에서 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 형성하는 경우에는, 광원(10)이 지면과 반드시 수직으로 형성되지 않더라도 통상의 기술자가 용이하게 변경할 수 있는 범위 내에서 조정이 가능하다. 일 실시 예에 따라, 지그(20)는 제2 각도(β)를 인위적으로 조절할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에 따라 레이저 빔(L)의 입사축(La)의 각도를 변경하는 경우, 레이저 빔(L)의 입사축(La)과 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 유지하기 위해, 레이저 빔(L)의 입사축(La)이 변경되는 만큼 지그(20)의 제2 각도(β)를 동시에 변경하도록 제어하는 제어부(미도시)를 더 포함할 수 있다. 이는 광원(10)에서 조사되는 레이저 빔(L)의 입사축(La)의 각도를 필요에 따라 변경하더라도, 레이저 빔(L)의 입사축(La)과 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 유지할 수 있도록 지그(20)의 각도를 동시에 조절할 수 있는 것을 특징으로 한다. 결국, 고분자 재료(PM)를 재단 시 발생하는 광원(10)의 조사각도가 변경되더라도 고분자 재료(PM)의 재단면이 일정할 수 있도록 유지되는 장점이 있다.
또한, 도 2을 참조하면, 지그(20)는 고분자 재료(PM)의 양단을 지지하도록 형성될 수 있다. 여기서 고분자 재료(PM)의 양단은, 재단 과정에서 이동하는 고분자 재료(PM)의 진행방향을 기준으로 진행방향과 수직인 부분뿐만 아니라 진행방향과 평행한 부분일 수도 있다. 즉, 고분자 재료(PM)에 레이저 빔(L)이 조사되는 부분을 제외한 부분에서 고분자 재료(PM)의 타면을 지지할 수 있도록 형성된 것으로, 반드시 도 2과 같은 형상에 제한되지 않고 통상의 기술자가 용이하게 변경할 수 있는 범위 내에서 구성될 수 있다.
도 1을 참조하면 일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치는, 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단 시 발생하는 버(Burr;b)를 제거하기 위해 기체를 취입할 수 있도록 고분자 재료(PM)의 재단부분과 이격되어 형성되는 취입부(30)를 더 포함할 수 있다.
레이저 빔(L)을 이용한 고분자 재료(PM)를 재단 시, 고분자 재료(PM)의 열분해에 따른 버(b)가 발생한다. 이러한 버(b)를 고분자 재료(PM)로부터 제거하기 위해, 고분자 재료(PM)의 재단면을 향하여 기체를 취입할 수 있도록 취입부(30)를 더 포함할 수 있다. 취입부(30)가 고분자 재료(PM)를 향해 형성된 각도, 고분자 재료(PM)와의 거리, 취입부(30)에서 취입하는 기체의 종류 등은 일 실시 예에 따라 제한되지 않고, 고분자 재료(PM)의 재질, 레이저 빔(L)의 조사 각도 등에 따라 통상의 기술자가 용이하게 변경이 가능하다.
또한, 취입부(30)는, 고분자 재료(PM)의 일면과 타면에 복수 개 형성될 수 있다. 도 1을 참조하면, 레이저 빔(L)으로 고분자 재료(PM)를 재단하는 경우 고분자 재료(PM)의 재단면의 일면과 타면 모두에 버(b)가 발생하므로, 이를 제거하기 위해 취입부(30)를 고분자 재료(PM)의 재단면 일면과 타면을 향하여 기체를 취입할 수 있도록 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시 에에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 방법에 있어서, 레이저 빔(L)의 입사방향으로 형성된 입사축(La)에서 제1 각도(α)로 기울어진 축(Ca)이 고분자 재료(PM)의 일면과 수직을 형성하는 레이저 빔(L)이 고분자 재료(PM)에 조사되어 재단하는 것을 포함할 수 있다. 이는 앞서 설명한 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치와 동일한 구성으로 형성되어 고분자 재료(PM)를 재단할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시 에에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 방법에 의해 재단된 고분자 재료(PM)를 포함한다. 도 2를 참조하면 본 발명의 일 실시 예에 따라 레이저 빔(L)으로 고분자 재료(PM)를 재단하는 경우, 테이퍼(taper)의 길이가 짧고 버(burr)가 제거된 고분자 재료(PM)을 제조할 수 있다. 즉, 고분자 재료(PM)에서 테이퍼의 길이는 본 발명의 일 실시 예에 따른 레이저 빔(L)의 각도 조절에 의해 형성된다. 또한, 고분자 재료(PM)에 형성된 버는 본 발명의 일 실시 예에 따른 취입부(30)의 취입에 의해 제거될 수 있다.
이하 본 발명에 따른 효과를, 실시 예 및 비교 예를 통해 상세하게 설명한다.
실시 예
본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치 및 방법에 따라 고분자 필름을 재단하는 경우, 도 3a, 도 3b 및 표 1에 따라 고분자 필름의 테이퍼 및 버(b)가 형성된다.
비교 예
도 7과 같이 기존의 레이저 빔 출사각도로 고분자 필름을 재단하는 경우, 도 4 및 표 1에 따라 테이퍼 및 버(b)가 형성된다. 레이저 빔(L)의 출사각도를 제외한 나머지 요소는 실시 예와 동일하게 설정하였다.
예 Taper () Burr ()
일면 타면 총합
실시 예 52 25 7 32
비교 예 74 11 6 17
도 5을 참조하면, 고분자 필름의 재단면은, 재단된 단면에서 곡면이 시작되어 끝나는 부분을 테이퍼(taper), 고분자 필름의 일면과 타면을 기준으로 레이저 빔으로 인해 변형되어 돌출된 부분을 상부 버와 하부 버로 구분할 수 있다. 여기서 테이퍼의 길이가 짧고 버의 높이가 낮을수록 고분자 필름의 재단면의 품질이 우수한 것으로 판단할 수 있다.
표 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 장치로 재단한 고분자 재료의 테이퍼 길이는 비교 예에 따른 고분자 재료의 테이퍼 길이에 비해 짧은 것으로 판단할 수 있다. 이는 고분자 재료에 대한 레이저 빔(L)의 조사 각도를 가우시안 분포에 따른 발산 각도만큼 기울여 조사한 결과이다.
또한, 고분자 재료의 재단된 단면에 발생한 상부 버와 하부 버의 경우 취입부(30)의 취입 가스를 통해 제거할 수 있다. 표 1을 참조하면, 고분자 필름의 일면과 타면에 형성된 버 높이의 합은 본 발명에 따른 실시 예가 비교 예에 비해 더 높은 것으로 볼 수 있다. 그러나 도 3b 및 도 4를 참조하면 본 발명의 일 실시 예에 따라 취입부(30)의 취입 가스를 통해 고분자 필름의 상부 버 및 하부 버를 제거할 수 있으므로, 비교 예보다 더 나은 품질의 고분자 필름을 제조할 수 있다.
결국, 본 발명의 일 실시 예에 따른 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치, 방법 및 그 방법으로 재단된 고분자 재료(PM)는 종래 발명에 따른 고분자 재료(PM)에 비해 우수한 재단 효과를 가져올 수 있다.
앞에서 설명되고 도면에 도시된 고분자 재료(PM)를 레이저 빔(L)으로 재단하기 위한 장치, 방법 및 그 방법으로 재단된 고분자 재료(PM)는, 본 발명을 실시하기 위한 하나의 실시 예에 불과하며, 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석해서는 안된다. 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 개량 및 변경된 실시 예는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속한다고 할 것이다.
10: 광원
20: 지그
30: 취입부
L: 레이저 빔
PM: 고분자 재료
La: 입사축
α: 제1 각도
β: 제2 각도
Ca: 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축
b: 버(Burr)

Claims (12)

  1. 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치에 있어서,
    상기 레이저 빔을 조사하는 광원을 포함하고,
    상기 광원에서 조사되는 상기 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 상기 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하도록 상기 레이저 빔이 상기 고분자 재료에 조사되어 재단하는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1 각도는,
    상기 레이저 빔의 가우시안 분포에 따른 발산각도인 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1 각도는,
    상기 레이저 빔의 발산각도를 측정한 값인 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 고분자 재료를 지지하기 위해 상기 고분자 재료의 타면에 형성된 지그를 더 포함하고,
    상기 지그는 지면과 제2 각도로 기울어진 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 제1 각도는, 상기 제2 각도와 동일한 각도로 형성하는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  6. 청구항 4에 있어서,
    상기 지그는, 상기 제2 각도를 조절할 수 있는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  7. 청구항 5에 있어서,
    상기 레이저 빔의 입사축의 각도를 변경하는 경우, 상기 레이저 빔의 입사축과 상기 제1 각도로 기울어진 축이 상기 고분자 재료의 일면과 수직을 유지하기 위해, 상기 레이저 빔의 입사축이 변경되는 만큼 상기 지그의 상기 제2 각도를 동시에 변경하도록 제어하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  8. 청구항 4에 있어서,
    상기 지그는, 상기 고분자 재료의 양단을 지지하도록 형성된 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  9. 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 고분자 재료를 상기 레이저 빔으로 재단 시 발생하는 버(Burr)를 제거하기 위해 기체를 취입할 수 있도록, 상기 고분자 재료의 재단부분과 이격되어 형성되는 취입부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 취입부는, 상기 고분자 재료의 일면과 타면에 복수 개 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 장치.
  11. 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 방법에 있어서,
    상기 레이저 빔의 입사방향으로 형성된 입사축에서 제1 각도로 기울어진 축이 상기 고분자 재료의 일면과 수직을 형성하는 상기 레이저 빔이 상기 고분자 재료에 조사되어 재단하는 것을 특징으로 하는, 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 방법.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 고분자 재료를 레이저 빔으로 재단하기 위한 방법에 의해 재단된 고분자 재료.
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