KR20230089360A - Bakeout device using tqcm sensor - Google Patents
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Abstract
일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치에 있어서, 챔버, 상기 챔버 내에 위치하고, 상부에 베이크 아웃되는 시편이 배치되는 선반부, 상기 챔버 내에 위치하고, 상기 시편 상부에 위치하는 베이크 아웃에서 발생하는 탈기체를 측정하는 센서를 포함하는 측정부, 상기 챔버 내에 적어도 일부가 위치하고, 상기 측정부를 냉각시키는 냉각부를 포함할 수 있고, 상기 냉각부는, 일측의 증발 영역은 상기 측정부에 접촉하고, 타측의 응축 영역은 상기 챔버 외부에 위치하는, 폐루프를 구성하는 복수 개의 모세관 다발들을 포함할 수 있고, 상기 모세관 다발은 내부에 작동 유체를 포함하고, 상기 작동 유체는 액상 슬러그와 기포 플러그의 형태로 진동하면서 상기 증발 영역으로부터 상기 응축 영역로 열을 전달할 수 있다.In the bake-out apparatus according to an embodiment, a chamber, a shelf located in the chamber and on which a specimen to be baked out is disposed, located in the chamber, and measuring degassing generated during bake-out located above the specimen It may include a measuring unit including a sensor, at least a portion of which is located in the chamber, and a cooling unit for cooling the measuring unit, wherein an evaporation region of one side contacts the measurement unit, and a condensation region of the other side is in contact with the measurement unit. It may include a plurality of capillary bundles constituting a closed loop located outside the chamber, wherein the capillary bundles contain a working fluid therein, and the working fluid vibrates in the form of liquid slugs and bubble plugs to form the evaporation region. Heat may be transferred from the condensation zone to the condensation zone.
Description
이하의 다양한 실시예들은 TQCM 센서를 이용하는 베이크 아웃 장치에 관한 것이다.Various embodiments below relate to a bake-out device using a TQCM sensor.
베이크 아웃(Bakeout)은 여러 산업분야에서 고온의 열과 가능하다면 진공을 이용하여 베이크 아웃 대상으로부터 휘발성 물질을 제거하는 과정이다. 즉 이는 인위적으로 가속된 탈기체(outgassing) 과정이다.Bakeout is, in many industries, the process of removing volatile substances from a baked-out object using high-temperature heat and possibly vacuum. That is, it is an artificially accelerated outgassing process.
TQCM 센서(Thermoelectric Quartz Crystal Microbalance Sensor)는 위성체 및 우주 부품의 베이크아웃 과정에서 발생하는 탈기체 및 오염 물질의 양을 측정하기 위해 우주 산업에 있어 세계적으로 널리 활용되고 있다. 이에 따라 TQCM 센서는 부품의 베이크 아웃 정도를 측정하는데 이용될 수 있다.TQCM sensor (Thermoelectric Quartz Crystal Microbalance Sensor) is widely used worldwide in the space industry to measure the amount of outgassing and contaminants generated during the bake-out process of satellites and space parts. Accordingly, the TQCM sensor can be used to measure the degree of baking out of the part.
TQCM 센서는 진공 챔버 내에 위치한 시편에서 발생하는 오염 분자를 포집하여 정량적으로 측정하는 센서이고, TQCM 센서를 이용하기 위해서는 센서의 측정부 표면을 일정 온도(통상적으로 약 -20 ℃)로 유지해야 하기 때문에, 내부에 열전소자(Thermoelectric Module)가 내장되어 있다. 측정부 표면을 -20 ℃ 수준의 저온으로 일정하게 유지하기 위해서는 TQCM 센서의 측정부와 연결된 본체 부분의 온도는 상온 수준으로 유지되어야 한다.The TQCM sensor is a sensor that collects and quantitatively measures contaminant molecules generated from a specimen located in a vacuum chamber. , a thermoelectric module is embedded inside. In order to constantly maintain the surface of the measurement part at a low temperature of the level of -20 ℃, the temperature of the body part connected to the measurement part of the TQCM sensor must be maintained at room temperature.
상기 언급한 것과 같이 본체 부분의 온도를 상온 수준으로 유지하기 위해 냉각 시스템이 필요하다.As mentioned above, a cooling system is required to maintain the temperature of the body part at room temperature.
한편, TQCM 센서는 우주 산업 외에도 아니라 반도체 공정, 배터리 개발, 바이오 산업 등 유망 산업 분야들에 폭넓게 사용되고 있다.Meanwhile, TQCM sensors are widely used not only in the space industry but also in promising industries such as semiconductor processing, battery development, and the bio industry.
전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 도출과정에서 보유하거나 습득한 것으로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에 공개된 공지기술이라고 할 수는 없다.The above background art is possessed or acquired by the inventor in the process of deriving the present invention, and cannot necessarily be said to be known art disclosed to the general public prior to filing the present invention.
일 실시예에 따른 목적은 TQCM 센서를 냉각시킬 수 있는 베이크 아웃 장치를 제공하는 것이다.An object according to an embodiment is to provide a bake-out device capable of cooling a TQCM sensor.
일 실시예에 따른 목적은 누수가 발생되지 않는 베이크 아웃 장치를 제공하는 것이다.An object according to an embodiment is to provide a bake-out device in which leakage does not occur.
일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치에 있어서, 챔버, 상기 챔버 내에 위치하고, 상부에 베이크 아웃되는 시편이 배치되는 선반부, 상기 챔버 내에 위치하고, 상기 시편 상부에 위치하는 베이크 아웃에서 발생하는 탈기체를 측정하는 센서를 포함하는 측정부, 상기 챔버 내에 적어도 일부가 위치하고, 상기 측정부를 냉각시키는 냉각부를 포함할 수 있고, 상기 냉각부는, 일측의 증발 영역은 상기 측정부에 접촉하고, 타측의 응축 영역은 상기 챔버 외부에 위치하는, 폐루프를 구성하는 복수 개의 모세관 다발들을 포함할 수 있고, 상기 모세관 다발은 내부에 작동 유체를 포함하고, 상기 작동 유체는 액상 슬러그와 기포 플러그의 형태로 진동하면서 상기 증발 영역으로부터 상기 응축 영역로 열을 전달할 수 있다.In the bake-out apparatus according to an embodiment, a chamber, a shelf located in the chamber and on which a specimen to be baked out is disposed, located in the chamber, and measuring degassing generated during bake-out located above the specimen It may include a measuring unit including a sensor, at least a portion of which is located in the chamber, and a cooling unit for cooling the measuring unit, wherein an evaporation region of one side contacts the measurement unit, and a condensation region of the other side is in contact with the measurement unit. It may include a plurality of capillary bundles constituting a closed loop located outside the chamber, wherein the capillary bundles contain a working fluid therein, and the working fluid vibrates in the form of liquid slugs and bubble plugs to form the evaporation region. Heat may be transferred from the condensation zone to the condensation zone.
상기 모세관 다발들은 이웃하게 배열될 수 있고, 상기 모세관 다발들 중 최외곽에 위치한 두 다발들의 일 단부들은 다른 다발들을 우회하여 연결될 수 있고, 상기 모세관 다발들 중 상기 두 다발들 외의 나머지 다발들의 일 단부는 이웃한 다발의 일 단부와 연결될 수 있고, 상기 나머지 다발들의 타 단부는 다른 이웃한 다발의 타 단부와 연결될 수 있다.The capillary bundles may be arranged next to each other, one ends of two outermost bundles of the capillary bundles may be connected by bypassing other bundles, and one ends of the remaining bundles other than the two bundles of the capillary bundles may be connected. may be connected to one end of a neighboring bundle, and the other end of the remaining bundles may be connected to the other end of another neighboring bundle.
상기 측정부는, 상기 센서와 연결되는 센서 몸체를 더 포함할 수 있고, 상기 센서 몸체는 상기 모세관 다발의 상기 증발 영역과 연결될 수 있다.The measuring unit may further include a sensor body connected to the sensor, and the sensor body may be connected to the evaporation region of the capillary bundle.
상기 증발 영역의 상부에 상기 응축 영역이 위치하여, 상기 작동 유체는 중력 방향 및 중력 반대 방향으로 진동할 수 있다.Since the condensation region is located above the evaporation region, the working fluid may vibrate in a gravitational direction and an opposite gravitational direction.
상기 냉각부는, 상기 모세관 다발의 상기 응축 영역의 열을 방열시키도록 상기 응축 영역에 접촉하는 히트 싱크를 더 포함할 수 있다.The cooling unit may further include a heat sink contacting the condensation region to dissipate heat from the condensation region of the capillary bundle.
상기 히트 싱크는 상기 모세관 다발의 반대 방향으로 연장하는 복수 개의 금속판들을 포함할 수 있고, 상기 복수 개의 금속판들은 간격을 두고 배열될 수 있다.The heat sink may include a plurality of metal plates extending in a direction opposite to the capillary bundle, and the plurality of metal plates may be arranged at intervals.
상기 작동 유체는, 수소불화탄소 또는 질소를 포함할 수 있다.The working fluid may include hydrofluorocarbon or nitrogen.
상기 센서 몸체는, 상기 히트 싱크를 향하는 방향으로 개방되는 증발 영역 수용 공간을 가질 수 있고, 상기 히트 싱크는, 상기 센서 몸체를 향하는 방향으로 개방되는 응축 영역 수용 공간을 가질 수 있고, 상기 응축 영역의 적어도 일부는 상기 응축 영역 수용 공간에 수용될 수 있고, 상기 증발 영역의 적어도 일부는 상기 증발 영역 수용 공간에 수용될 수 있다.The sensor body may have an evaporation region accommodating space that opens in a direction toward the heat sink, and the heat sink may have a condensation region accommodating space that opens in a direction toward the sensor body. At least a portion may be accommodated in the condensation region accommodating space, and at least a portion of the evaporation region may be accommodated in the evaporation region accommodating space.
일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치는 TQCM 센서를 냉각시킬 수 있다.A bake-out device according to an embodiment may cool the TQCM sensor.
일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치는 누수가 발생되지 않는 베이크 아웃 장치를 제공하는 것이다.A bake-out device according to an embodiment provides a bake-out device that does not leak.
일 실시 예에 따른 베이크 아웃 장치의 효과는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Effects of the bake-out device according to an embodiment are not limited to those mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.
도 1은 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치의 개략도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치의 모세관 다발을 도시한다.
도 3은 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치의 모세관 다발의 일 부분(도 2의 A 부분)을 도시한다.1 is a schematic diagram of a bake-out apparatus according to an embodiment.
2 illustrates a capillary bundle of a bake out apparatus according to one embodiment.
FIG. 3 shows a portion (portion A in FIG. 2 ) of a capillary bundle of a bake-out device according to an embodiment.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 상세하게 설명한다. 그러나, 실시예들에는 다양한 변경이 가해질 수 있어서 특허출원의 권리범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 실시예들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물이 권리 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, since various changes can be made to the embodiments, the scope of the patent application is not limited or limited by these embodiments. It should be understood that all changes, equivalents or substitutes to the embodiments are included within the scope of rights.
실시예에서 사용한 용어는 단지 설명을 목적으로 사용된 것으로, 한정하려는 의도로 해석되어서는 안 된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Terms used in the examples are used only for the purpose of explanation and should not be construed as limiting. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this specification, terms such as "include" or "have" are intended to designate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features It should be understood that the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof is not precluded.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by a person of ordinary skill in the art to which the embodiment belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related art, and unless explicitly defined in the present application, they should not be interpreted in an ideal or excessively formal meaning. don't
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.In addition, in the description with reference to the accompanying drawings, the same reference numerals are given to the same components regardless of reference numerals, and overlapping descriptions thereof will be omitted. In describing the embodiment, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the gist of the embodiment, the detailed description will be omitted.
또한, 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the embodiment, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the corresponding component is not limited by the term. When an element is described as being “connected,” “coupled to,” or “connected” to another element, that element may be directly connected or connected to the other element, but there may be another element between the elements. It should be understood that may be "connected", "coupled" or "connected".
어느 하나의 실시예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시예에 기재한 설명은 다른 실시예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.Components included in one embodiment and components including common functions will be described using the same names in other embodiments. Unless stated to the contrary, descriptions described in one embodiment may be applied to other embodiments, and detailed descriptions will be omitted to the extent of overlap.
도 1은 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치(100)의 개략도이다. 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치(100)는 베이크 아웃 대상과 센서(131)가 내부에 위치되는 챔버(110), 챔버(110) 내에 위치되는 선반부(120), 탈기체를 측정하는 TQCM 센서(131)를 포함하는 측정부(130), 측정부(130)를 냉각시키는 냉각부(140)를 포함할 수 있다.1 is a schematic diagram of a bake out
챔버(110)는 도 1에서 개략적으로 도시되었으나, 그 형태는 다양할 수 있다. 예를 들어 챔버(110)는 육면체의 형태일 수 있고, 원통형일 수 있다. 또한 시험대상인 시편(T)은 반도체 부품부터 항공우주 부품까지 종류와 크기가 다양할 수 있기 때문에, 이러한 시편(T)을 내부에 수용해야하는 챔버(110)의 크기도 다양할 수 있다.Although the
선반부(120)는 챔버(110) 내부에 배치될 수 있다. 예를 들어 챔버(110)의 바닥면 상에 배치되어 챔버(110)의 상부를 향해 연장하여 형성될 수 있다. 선반부(120)가 챔버(110)의 바닥면으로부터 연장되어 형성된 높이는 다양할 수 있다. 선반부(120)의 상부에는 탈기체 측정 대상인 시편(T)이 배치될 수 있다.The
측정부(130)는 챔버(110) 내부 및 선반부(120) 상부에 배치되는 시편(T) 상부에 위치할 수 있다. 예를 들어, 측정부(130)는 선반부(120) 상부에 배치되는 시편(T)으로부터 일정 거리를 상측으로 이격되어 위치할 수 있다. The
측정부(130)는 TQCM 센서(131) 및 TQCM 센서(131)가 안착되는 센서 몸체(132)를 포함할 수 있다.The
TQCM 센서(131)는 진공 챔버(110) 내에 위치한 시편(T)에서 발생하는 오염 분자를 포집하여 정량적으로 측정하는 센서(131)이다. 예를 들어, 탈기체된 오염물질 등은 휘발성 물질로 탈기체 후 상부로 확산되므로 TQCM 센서(131)는 시편(T)의 상부에 위치하는 것이 바람직할 수 있다.The
한편, TQCM 센서(131)를 이용하기 위해서는 센서(131)의 측정부(130) 표면을 일정 온도(약 -20 ℃)로 유지해야하기 때문에, TQCM 센서(131)의 측정부(130)와 연결된 본체 부분의 온도는 상온 수준(약 20 ℃)으로 유지되어야 한다.On the other hand, in order to use the
상기 언급한 바와 같이, 센서 몸체(132)를 냉각시킴으로써 결과적으로 TQCM 센서(131)를 냉각시키기 위해서, 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치(100)는 측정부(130)를 냉각시킬 수 있는 냉각부(140)를 포함할 수 있다.As mentioned above, in order to cool the
냉각부(140)는 센서 몸체(132)의 열을 방열기능을 하는 히트 싱크로 전달하는 역할을 하는 모세관 다발(141) 및 모세관 다발(141)로부터 전달받은 열을 외부로 방열시키는 히트 싱크를 포함할 수 있다.The
예를 들어, 히트 싱크는 챔버(110) 외부에 배치될 수 있고, 모세관 다발(141)은 적어도 일 부분이 챔버(110) 내부에 배치되고, 나머지 부분이 챔버(110) 외부에 배치될 수 있다. 예를 들어, 모세관 다발(141)은 측정부(130) 상부에 배치되고, 히트 싱크는 모세관 다발(141) 상부에 배치되어서, 측정부(130), 모세관 다발(141) 및 히트 싱크는 중력 방향으로 배열될 수 있다.For example, the heat sink may be disposed outside the
도 2는 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치(100)의 모세관 다발(141)을 도시한다. 도1 및 도 2를 함께 참조하면, 복수 개의 모세관 다발(141)은 일측이 측정부(130)에 접촉하고 타측은 챔버(110) 외부에서 히트 싱크와 접촉한다. 2 shows a
예를 들어, 모세관 다발(141)의 일측은 측정부(130)와 효과적으로 접촉하기 위해, 측정부(130)의 일측에 오목하게 형성되는 수용 공간에 수용됨으로써 접촉할 수 있다. 또한, 모세관 다발(141)의 타측은 히트 싱크와 효과적으로 접촉하기 위해, 히트 싱크의 일측에 오목하게 형성되는 수용 공간에 수용됨으로써 접촉할 수 있다.For example, one side of the
도 2에 도시된 바와 같이 모세관 다발(141)들은 복수 개가 연결되어 폐루프를 구성할 수 있고, 모세관 다발(141)들의 수는 제한되지 않고 다양할 수 있다. 예를 들어, 2개의 모세관 다발(141)이 이웃하게 배열되어 폐루프를 구성할 수 있다.As shown in FIG. 2 , a plurality of
2개를 초과하는 모세관 다발(141)을 포함하는 경우에, 이웃한 모세관 다발(141)들 중 최외곽에 위치한 두 다발(141)들의 일 단부들이 다른 다발(141)들을 우회하여 연결되고, 나머지 다발(141)들의 일 단부는 이웃한 다발(141)의 일 단부와 연결되고, 나머지 다발(141)들의 타 단부는 다른 이웃한 다발(141)의 타 단부와 연결됨으로써 복수 개의 모세관 다발(141)들은 폐루프를 구성할 수 있다.In the case of including more than two
모세관 다발(141) 내부는 진공 상태일 수 있고, 모세관 다발(141) 내부를 흐르면서 센서 몸체(132)의 열을 히트 싱크로 직접 전달하는 작동 유체가 포함될 수 있다. 모세관 다발(141)은 폐루프를 구성하기 때문에, 내부의 작동 유체가 외부로 누출되지 않을 수 있다.The inside of the
다만, 모세관 다발(141)이 파손되는 경우를 고려하여, 작동 유체는 예를 들어 물이 아닌 질소 또는 수소화 불화 탄소(Hydrofluorocarbon) 계열 냉매를 포함할 수 있다. 예를 들어, 작동 유체는 R-134a, R-143a 또는 R-245ca일 수 있다. 이러한 수소화 불화 탄소 계열 냉매는 화학적으로 매우 안정되어 있고 상온에서 기체 상태로 존재하기 때문에, 모세관 다발(141)에서 누수되었을 때 챔버(110) 및 시편(T)을 오염시키지 않을 수 있다.However, in consideration of the case where the
모세관 다발(141)들의 일측은 냉각 대상인 센서 몸체(132)에 접촉되어 가열될 수 있고, 이러한 가열로써 모세관 내부의 작동 유체가 증발하여 기체 상태가 될 수 있기 때문에, 이 부분을 증발 영역(1413)이라고 할 수 있다.One side of the
반대로, 모세관 다발(141)들의 타측은 방열 수단인 히트 싱크에 연결되어 냉각될 수 있고, 이러한 냉각으로써 모세관 내부의 작동 유체가 응축되어 액체 상태가 될 수 있기 때문에, 이 부분을 응축 영역(1414)이라고 할 수 있다.Conversely, the other side of the
도 3은 일 실시예에 따른 베이크 아웃 장치(100)의 모세관 다발(141)의 일 부분을 도시한다. 상술한 바와 같이, 작동 유체는 모세관 다발(141) 내부에서 증발 영역(1413)에서 가열되고, 응축 영역(1414)에서 냉각됨에 따라 액체 상태와 기체 상태로 존재할 수 있다.3 shows a portion of a
예를 들어, 기체 상태인 기포 플러그(1412)(vapor plug)와 액체 상태인 액상 슬러그(1411)(liquid slug)가 모세관 다발(141) 내부에서 차례로 배열되는 슬러그(1411) 트레인 유닛(slug train unit)이 형성될 수 있다.For example, a
상기 언급한 바와 같이 중력 방향으로 배열된 측정부(130)와 히트 싱크 사이에서 이들을 열적(thermal)으로 연결하는 모세관 다발(141)에 있어서, 응축 영역(1414)은 증발 영역(1413)의 상부에 배치될 수 있다. 이 때 증발 영역(1413)에 열이 가해지면 별도로 동력을 공급하지 않더라도, 내부에 존재하는 슬러그(1411)와 플러그(1412)들이 위아래로 수십 헤르츠의 진동수로 진동하면서 설치한 위치 및 형상과 무관하게 열을 이동시킨다. As mentioned above, in the
응축 영역(1414)에 접촉하는 히트 싱크는 상술한 바와 같이 센서 몸체(132)로부터 전달받은 열을 챔버(110) 외부로 방열시킬 수 있다. 히트 싱크는 모세관 다발(141)의 반대 방향으로 연장하는 복수 개의 금속판들을 포함할 수 있고, 이들은 간격을 두고 배열될 수 있다. 복수 개의 금속판들을 포함함으로써 챔버(110) 외부의 공간에 노출되는 표면적이 넓어지게 되고 더욱 빠른 방열이 가능해진다.The heat sink contacting the
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치(100), 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.As described above, although the embodiments have been described with limited drawings, those skilled in the art can apply various technical modifications and variations based on the above. For example, the described techniques may be performed in an order different from that described, and/or components of the described system, structure,
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.Therefore, other implementations, other embodiments, and equivalents of the claims are within the scope of the following claims.
T : 시편
100 : 베이크 아웃 장치
110 : 챔버
120 : 선반부
130 : 측정부
140 : 냉각부
131 : TQCM 센서
132 : 센서 몸체
141 : 모세관 다발
142 : 히트 싱크
1411 : 액상 슬러그
1412 : 기포 플러그
1413 : 증발 영역
1414 : 응축 영역T: specimen
100: bake-out device
110: chamber
120: shelf
130: measurement unit
140: cooling unit
131: TQCM sensor
132: sensor body
141: capillary bundle
142: heat sink
1411: liquid slug
1412: bubble plug
1413: evaporation area
1414: condensation area
Claims (7)
챔버;
상기 챔버 내에 위치하고, 상부에 베이크 아웃되는 시편이 배치되는 선반부;
상기 챔버 내에 위치하고, 상기 시편 상부에 위치하고, 베이크 아웃에서 발생하는 탈기체를 측정하는 센서를 포함하는 측정부;
상기 챔버 내에 적어도 일부가 위치하고, 상기 측정부를 냉각시키는 냉각부;
를 포함하고,
상기 냉각부는,
일측의 증발 영역은 상기 측정부에 접촉하고, 타측의 응축 영역은 상기 챔버 외부에 위치하는, 폐루프를 구성하는 복수 개의 모세관 다발들;
을 포함하고,
상기 모세관 다발은 내부에 작동 유체를 포함하고, 상기 작동 유체는 액상 슬러그와 기포 플러그의 형태로 진동하면서 상기 증발 영역으로부터 상기 응축 영역로 열을 전달하는,
베이크 아웃 장치.
In the bake-out device using a sensor for detecting degassing,
chamber;
a shelf located in the chamber and on which a specimen to be baked is disposed;
a measurement unit located in the chamber, located above the specimen, and including a sensor for measuring degassing generated during bake-out;
a cooling unit at least partially located within the chamber and cooling the measuring unit;
including,
the cooling unit,
a plurality of capillary bundles constituting a closed loop, wherein an evaporation region on one side contacts the measurement unit and a condensation region on the other side is located outside the chamber;
including,
The capillary bundle contains a working fluid therein, and the working fluid transfers heat from the evaporation region to the condensation region while vibrating in the form of a liquid slug and a bubble plug.
Bakeout device.
상기 모세관 다발들은 이웃하게 배열되고,
상기 모세관 다발들 중 최외곽에 위치한 두 다발들의 일 단부들은 다른 다발들을 우회하여 연결되고,
상기 모세관 다발들 중 상기 두 다발들 외의 나머지 다발들의 일 단부는 이웃한 다발의 일 단부와 연결되고, 상기 나머지 다발들의 타 단부는 다른 이웃한 다발의 타 단부와 연결되는,
베이크 아웃 장치.
According to claim 1,
The capillary bundles are arranged next to each other,
One ends of the two outermost bundles of the capillary bundles are connected by bypassing the other bundles,
Of the capillary bundles, one end of the remaining bundles other than the two bundles is connected to one end of a neighboring bundle, and the other end of the remaining bundles is connected to the other end of another neighboring bundle,
Bakeout device.
상기 측정부는, 상기 센서와 연결되는 센서 몸체를 더 포함하고,
상기 센서 몸체는 상기 모세관 다발의 상기 증발 영역과 연결되는,
베이크 아웃 장치.
According to claim 2,
The measurement unit further includes a sensor body connected to the sensor,
The sensor body is connected to the evaporation region of the capillary bundle,
Bakeout device.
상기 증발 영역의 상부에 상기 응축 영역이 위치하여, 상기 작동 유체는 중력 방향 및 중력 반대 방향으로 진동하는,
베이크 아웃 장치.
According to claim 3,
The condensation region is located above the evaporation region, so that the working fluid vibrates in the direction of gravity and in the opposite direction of gravity.
Bakeout device.
상기 냉각부는,
상기 모세관 다발의 상기 응축 영역의 열을 방열시키도록 상기 응축 영역에 접촉하는 히트 싱크;
를 더 포함하고,
상기 히트 싱크는 상기 모세관 다발의 반대 방향으로 연장하는 복수 개의 금속판들을 포함하고,
상기 복수 개의 금속판들은 간격을 두고 배열되는,
베이크 아웃 장치.
According to claim 4,
the cooling unit,
a heat sink contacting the condensation region to dissipate heat of the condensation region of the capillary bundle;
Including more,
The heat sink includes a plurality of metal plates extending in a direction opposite to the capillary bundle,
The plurality of metal plates are arranged at intervals,
Bakeout device.
상기 작동 유체는, 수소불화탄소 또는 질소를 포함하는,
베이크 아웃 장치.
According to claim 5,
The working fluid includes hydrofluorocarbon or nitrogen,
Bakeout device.
상기 센서 몸체는, 상기 히트 싱크를 향하는 방향으로 개방되는 증발 영역 수용 공간을 갖고,
상기 히트 싱크는, 상기 센서 몸체를 향하는 방향으로 개방되는 응축 영역 수용 공간을 갖고,
상기 응축 영역의 적어도 일부는 상기 응축 영역 수용 공간에 수용되고,
상기 증발 영역의 적어도 일부는 상기 증발 영역 수용 공간에 수용되는,
베이크 아웃 장치.According to claim 5,
The sensor body has an evaporation region accommodating space that is open in a direction toward the heat sink,
The heat sink has a condensation region accommodating space that opens in a direction toward the sensor body,
At least a part of the condensation region is accommodated in the condensation region accommodating space;
At least a part of the evaporation region is accommodated in the evaporation region accommodating space,
Bakeout device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210177919A KR20230089360A (en) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | Bakeout device using tqcm sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020210177919A KR20230089360A (en) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | Bakeout device using tqcm sensor |
Publications (1)
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KR20230089360A true KR20230089360A (en) | 2023-06-20 |
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KR1020210177919A KR20230089360A (en) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | Bakeout device using tqcm sensor |
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KR (1) | KR20230089360A (en) |
-
2021
- 2021-12-13 KR KR1020210177919A patent/KR20230089360A/en not_active Application Discontinuation
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