KR20230081914A - Low dielectric polyimide film with improved adhesive and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention provides a polyimide film and a method for manufacturing the polyimide film, which obtained by imidizing a polyamic acid solution containing a dianhydride component containing at least one selected from the group consisting of benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyl tetracarboxylic dianhydride (BPDA), and pyromellitic dianhydride (PMDA), and a diamine component containing at least one selected from the group consisting of m-tolidine and paraphenylene diamine (PPD), wherein dielectric loss factor (Df) is 0.004 or less, surface roughness (Ra) is 0.1 nm to 3.0 nm, and surface roughness (Rz) is 3.0 nm to 20 nm. The polyimide film has low dielectric properties, low hygroscopicity, and high heat resistance, and has excellent adhesion to copper foil. In addition, it can be usefully applied to electronic components such as thin circuit boards capable of high-speed communication and flexible metal clad laminates that require such characteristics.

Description

접착성이 개선된 저유전 폴리이미드 필름 및 이의 제조방법{LOW DIELECTRIC POLYIMIDE FILM WITH IMPROVED ADHESIVE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF}Low dielectric polyimide film with improved adhesion and method for manufacturing the same

본 발명은 접착성이 향상된 저유전 폴리이미드 필름 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a low dielectric polyimide film with improved adhesion and a manufacturing method thereof.

폴리이미드(polyimide, PI)는 강직한 방향족 주쇄와 함께 화학적 안정성이 매우 우수한 이미드 고리를 기초로 하여, 유기 재료들 중에서도 최고 수준의 내열성, 내약품성, 전기 절연성, 내화학성, 내후성을 가지는 고분자 재료이다.Polyimide (PI) is a polymer material with the highest level of heat resistance, chemical resistance, electrical insulation, chemical resistance and weather resistance among organic materials based on an imide ring with excellent chemical stability along with a rigid aromatic main chain. am.

특히, 뛰어난 절연특성, 즉 낮은 유전율과 같은 우수한 전기적 특성으로 전기, 전자, 광학 분야 등에 이르기까지 고기능성 고분자 재료로 각광받고 있다.In particular, it is in the spotlight as a high-functional polymer material in the fields of electricity, electronics, and optics due to its excellent insulating properties, that is, excellent electrical properties such as low permittivity.

최근, 전자제품이 경량화, 소형화되어 감에 따라서, 집적도가 높고 유연한 박형 회로기판이 활발히 개발되고 있다.BACKGROUND ART [0002] In recent years, as electronic products have been reduced in weight and size, highly integrated and flexible thin circuit boards have been actively developed.

이러한 박형 회로기판은 우수한 내열성, 내저온성 및 절연특성을 가지면서도 굴곡이 용이한 폴리이미드 필름 상에 금속박을 포함하는 회로가 형성되어 있는 구조가 많이 활용되는 추세이다.Such a thin circuit board tends to use a structure in which a circuit including a metal foil is formed on a polyimide film that has excellent heat resistance, low temperature resistance, and insulation characteristics and is easily bent.

이러한 박형 회로기판으로는 연성금속박적층판이 주로 사용되고 있고, 한 예로, 금속박으로 얇은 구리판을 사용하는 연성동박적층판(Flexible Copper Clad Laminate, FCCL)이 포함된다. 그 밖에도 폴리이미드를 박형 회로기판의 보호 필름, 절연 필름 등으로 활용하기도 한다.As such a thin circuit board, a flexible metal clad laminate is mainly used, and as an example, a flexible copper clad laminate (FCCL) using a thin copper plate as a metal foil is included. In addition, polyimide is also used as a protective film or insulating film for thin circuit boards.

한편, 최근 전자 기기에 다양한 기능들이 내재됨에 따라 상기 전자기기에 빠른 연산 속도와 통신 속도가 요구되고 있으며, 이를 충족하기 위해 고주파로 고속통신이 가능한 박형 회로기판이 개발되고 있다. 고주파 고속 통신의 실현을 위하여, 고주파에서도 전기 절연성을 유지할 수있는 높은 임피던스(impedance)를 가지는 절연체가 필요하다. 임피던스는 절연체에 형성되는 주파수 및 유전상수(dielectric constant; Dk)와 반비례의 관계가 성립하므로, 고주파에서도 절연성을 유지하기 위해서는 유전상수가 가능한 낮아야 한다.On the other hand, as various functions are inherent in recent electronic devices, fast calculation and communication speeds are required for the electronic devices, and to meet these demands, thin circuit boards capable of high-speed communication at high frequencies are being developed. In order to realize high-frequency high-speed communication, an insulator having high impedance capable of maintaining electrical insulation even at high frequencies is required. Since impedance is in inverse proportion to the frequency and dielectric constant (Dk) formed in the insulator, the dielectric constant must be as low as possible to maintain insulation even at high frequencies.

그러나, 통상의 폴리이미드의 경우 유전 특성이 고주파 통신에서 충분한 절연성을 유지할 수 있을 정도로 우수한 수준은 아닌 실정이다.However, in the case of normal polyimide, dielectric properties are not at a level that is excellent enough to maintain sufficient insulation in high frequency communication.

또한, 절연체가 저유전 특성을 지닐수록 박형 회로기판에서 바람직하지 않은 부유 용량(stray capacitance)과 노이즈의 발생을 감소시킬 수 있어, 통신 지연의 원인을 상당부분 해소할 수 있는 것으로 알려져 있다. 따라서, 저유전 특성의 폴리이미드가 박형 회로기판의 성능에 무엇보다 중요한 요인으로 인식되고 있는 실정이다.In addition, it is known that as an insulator has a low dielectric characteristic, generation of undesirable stray capacitance and noise can be reduced in a thin circuit board, and thus, the causes of communication delay can be largely eliminated. Therefore, polyimide with low dielectric properties is recognized as the most important factor in the performance of thin circuit boards.

특히, 고주파 통신의 경우 필연적으로 폴리이미드를 통한 유전 손실(dielectric dissipation)이 발생하게 되는데. 유전 손실률(dielectric dissipation factor; Df)은 박형 회로기판의 전기 에너지 낭비 정도를 의미하고, 통신 속도를 결정하는 신호 전달 지연과 밀접하게 관계되어 있어, 폴리이미드의 유전 손실률을 가능한 낮게 유지하는 것도 박형 회로기판의 성능에 중요한 요인으로 인식되고 있다.In particular, in the case of high-frequency communication, dielectric dissipation inevitably occurs through polyimide. Dielectric dissipation factor (Df) means the amount of electrical energy wasted on a thin circuit board and is closely related to the signal propagation delay that determines the communication speed. It is recognized as an important factor in the performance of the substrate.

이에, 종래에 불소계 및 폴리올레핀계열의 모노머 적용을 통해 저유전특성을 갖는 폴리이미드를 구현했으나, 이들의 문제점은 동박과의 밀착력이 기존 제품 보다 현저히 낮은 문제점이 있었다.Accordingly, conventionally, polyimides having low dielectric properties have been implemented through the application of fluorine-based and polyolefin-based monomers, but their adhesion to copper foil is significantly lower than existing products.

이러한 문제를 해결하기 위해 고속전송 소재의 적용에 적합한 유전특성(Df), 열적 특성을 가지면서 동박과의 밀착력이 향상된 폴리이미드 소재의 개발이 요구되고 있는 실정이다.In order to solve this problem, the development of a polyimide material having improved adhesion to copper foil while having dielectric properties (Df) and thermal properties suitable for application of high-speed transmission materials is required.

이에 상기와 같은 문제를 해결하고자, 우수한 접착력과 저유전 특성을 겸비한 폴리이미드 필름 및 이의 제조방법을 제공하는 데 목적이 있다.Therefore, in order to solve the above problems, an object is to provide a polyimide film having excellent adhesion and low dielectric properties and a manufacturing method thereof.

본 발명의 목적은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 디아민 성분을 포함하는 폴리아믹산 용액을 이미드화 반응시켜 얻어지고, 유전손실율(Df)이 0.004 이하이고, 표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 내지 3.0 nm이고, 표면거칠기(Rz)가 3.0 nm 내지 20 nm인, 폴리이미드 필름을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to include at least one selected from the group consisting of benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) It is obtained by imidizing a polyamic acid solution containing a dianhydride component and a diamine component including at least one selected from the group consisting of m-tolidine and paraphenylene diamine (PPD), and dielectric loss rate (Df) is 0.004 or less, surface roughness (Ra) is 0.1 nm to 3.0 nm, surface roughness (Rz) is to provide a polyimide film of 3.0 nm to 20 nm.

본 발명의 다른 하나의 목적은 상기 폴리이미드 필름의 제조방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing the polyimide film.

본 발명의 또 다른 목적은 상기 폴리이미드 필름과 열가소성 수지층을 포함하는, 다층 필름을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a multilayer film including the polyimide film and a thermoplastic resin layer.

본 발명의 다른 또 하나의 목적은 상기 폴리이미드 필름과 전기전도성의 금속박을 포함하는 연성금속박적층판을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a flexible metal clad laminate comprising the polyimide film and the electrically conductive metal foil.

본 발명의 다른 또 하나의 목적은 상기 연성금속박적층판을 포함하는 전자 부품을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an electronic component including the flexible metal clad laminate.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Since the present invention can make various changes and have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Terms used in this application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, the terms "include" or "have" are intended to designate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features It should be understood that the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof is not precluded.

본 명세서에서 양, 농도, 또는 다른 값 또는 파라미터가 범위, 바람직한 범위 또는 바람직한 상한 값 및 바람직한 하한 값의 열거로서 주어지는 경우, 범위가 별도로 개시되는 지에 상관없이 임의의 한 쌍의 임의의 위쪽 범위 한계치 또는 바람직한 값 및 임의의 아래쪽 범위 한계치 또는 바람직한 값으로 형성된 모든 범위를 구체적으로 개시하는 것으로 이해되어야 한다.When amounts, concentrations, or other values or parameters herein are given as ranges, preferred ranges, or recitations of upper preferred and lower preferred values, any pair of any upper range limits, whether or not the ranges are separately disclosed, or It should be understood as specifically disclosing the preferred values and any lower range limits or all ranges formed from preferred values.

수치 값의 범위가 본 명세서에서 언급될 경우, 달리 기술되지 않는다면, 그 범위는 그 종점 및 그 범위 내의 모본 발명의 범주는 범위를 정의할 때 언급되는 특정 값으로 한정되지 않는 것으로 의도된다.Where ranges of numerical values are recited herein, unless otherwise stated, it is intended that the ranges end points and the scope of the parent invention within the range are not limited to the specific values recited when defining the range.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가진 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related art, and unless explicitly defined in this application, they should not be interpreted in an ideal or excessively formal meaning. don't

본 명세서에서 "이무수물산"은 그 전구체 또는 유도체를 포함하는 것으로 의도되는데, 이들은 기술적으로는 이무수물산이 아닐 수 있지만, 그럼에도 불구하고 디아민과 반응하여 폴리아믹산을 형성할 것이며, 이 폴리아믹산은 다시 폴리이미드로 변환될 수 있다.As used herein, “dianhydride acid” is intended to include its precursors or derivatives, which technically may not be dianhydride acids, but will nonetheless react with diamines to form polyamic acids, which in turn polyamic acids. can be converted to mid.

본 명세서에서 "디아민"은 그의 전구체 또는 유도체를 포함하는 것으로 의도되는데, 이들은 기술적으로는 디아민이 아닐 수 있지만, 그럼에도 불구하고 디안하이드라이드와 반응하여 폴리아믹산을 형성할 것이며, 이 폴리아믹산은 다시 폴리이미드로 변환될 수 있다.As used herein, "diamine" is intended to include precursors or derivatives thereof, which may not technically be diamines, but will nonetheless react with dianhydrides to form polyamic acids, which in turn will form polyamic acids. can be converted to mid.

상기 발명의 구현을 위한 구체적인 내용을 아래와 같이 설명한다. Specific details for the implementation of the invention will be described below.

본 발명의 접착성이 개선된 저유전 폴리이미드 필름Low dielectric polyimide film with improved adhesion of the present invention

본 발명은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 디아민 성분을 포함하는 폴리아믹산 용액을 이미드화 반응시켜 얻어지고, 유전손실율(Df)이 0.004 이하이고, 표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 내지 3.0 nm이고, 표면거칠기(Rz)가 3.0 nm 내지 20 nm인, 폴리이미드 필름을 제공한다.The present invention relates to a dianhydride containing at least one selected from the group consisting of benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA). It is obtained by imidizing a polyamic acid solution containing a component and a diamine component including at least one selected from the group consisting of m-tolidine and paraphenylene diamine (PPD), and the dielectric loss factor (Df ) is 0.004 or less, surface roughness (Ra) is 0.1 nm to 3.0 nm, and surface roughness (Rz) is 3.0 nm to 20 nm.

본 발명의 "유전손실율"은 분자들의 마찰이 교대 전기장에 의해 야기된 분자 운동을 방해할 때 유전체(또는 절연체)에 의해 소멸되는 힘을 의미한다. 유전손실율의 값은 전하의 소실(유전 손실)의 용이성을 나타내는 지수로서 통상적으로 사용되며, 유전손실율이 높을수록 전하가 소실되기가 쉬워지며, 반대로 유전 손실률이 낮을수록 전하가 소실되기가 어려워질 수 있다. 즉, 유전 손실률은 전력 손실의 척도인 바, 유전 손실률이 낮을 수록 전력 손실에 따른 신호 전송 지연이 완화되면서 통신 속도가 빠르게 유지될 수 있다.The "dielectric loss factor" of the present invention means a force dissipated by a dielectric (or insulator) when friction between molecules hinders molecular motion caused by an alternating electric field. The value of dielectric loss factor is commonly used as an index indicating the ease of dissipation of charge (dielectric loss). The higher the dielectric loss factor, the easier it is to dissipate charge. there is. That is, since the dielectric loss factor is a measure of power loss, the lower the dielectric loss factor, the faster the communication speed can be maintained while reducing the signal transmission delay caused by the power loss.

일 실시예에서, 상기 폴리이미드 필름의 유전손실율(Df)은 바람직하게는 0.0039 이하, 0.0038 이하, 0.0036 이하, 0.0035 이하, 0.0034 이하, 또는 0.0033 이하일 수 있다.In one embodiment, the dielectric loss factor (Df) of the polyimide film may be preferably 0.0039 or less, 0.0038 or less, 0.0036 or less, 0.0035 or less, 0.0034 or less, or 0.0033 or less.

본 발명의 “표면거칠기”는 표면 조도(Roughness)라고 하기도 하며, 표면에 작은 간격으로 나타나는 미세한 굴곡을 일컫는다. 표면거칠기는 나타내는 파라미터로 중심선 평균 거칠기(Ra) 및 10점 평균거칠기(Rz) 등이 있다. 해당 분야에서 통상적으로 중심선 평균 거칠기(Ra)는 거칠기 곡선에서 기준길이 전체에 걸쳐 평균선으로부터 벗어나는 모든 봉우리와 골짜기의 편차 평균값을 계산한 것으로, 즉 기준 길이(중심평균선)에서 거칠기 없이 평평하다고 가정하였을 때의 평균 높이를 측정, 10점 평균거칠기(Rz)는 단면의 평균선과 평행한 직선을 긋고 가장 높은 5번째의 산봉우리와 낮은 쪽에서 5번째까지의 계곡 사이의 간격을 측정하여 평균의 차이를 나타낸 것, 상기 2개의 파라미터가 표면거칠기를 나타내는 대표적인 파라미터이다. 일반적으로 표면거칠기 파라미터 값이 증가할수록 표면의 거칠기가 본 발명에서 중심선 평균 거칠기(Ra)는 “표면거칠기(Ra)”로 정의하였으며, 10점 평균거칠기(Rz)는 “표면거칠기(Rz)”로 정의하였다. 일반적으로 표면거칠기(Ra, Rz) 값이 높을수록 표면이 거친 정도가 큰 것으로 해석할 수 있다.The "surface roughness" of the present invention is also referred to as surface roughness, and refers to fine curves appearing at small intervals on the surface. Surface roughness is a parameter representing center line average roughness (Ra) and 10-point average roughness (Rz). In general, the center line average roughness (Ra) in the field is calculated by calculating the average value of the deviation of all peaks and valleys that deviate from the average line over the entire reference length in the roughness curve, that is, assuming that the reference length (center average line) is flat without roughness. Measure the average height of the 10-point average roughness (Rz) by drawing a straight line parallel to the average line of the cross section and measuring the distance between the 5th highest peak and the 5th valley from the lowest to the lowest, showing the average difference, The above two parameters are representative parameters representing surface roughness. In general, as the value of the surface roughness parameter increases, the roughness of the surface increases. defined. In general, it can be interpreted that the higher the surface roughness (Ra, Rz) value, the greater the degree of roughness of the surface.

일 실시예에서, 본 발명의 폴리이미드 필름은 표면거칠기(Ra)는 바람직하게는 하한이 0.3 nm 이상, 0.5 nm 이상, 0.7 nm 이상, 0.9 nm 이상, 1.1 nm 이상, 1.2 nm 이상, 1.3 nm 이상, 1.4 nm 이상, 1.5 nm 이상 또는 1.6 nm 이상일 수 있으며, 상한은 2.5 nm 이하, 2.0 nm 이하, 1.8 nm 이하, 1.7 nm 이하, 1.6 nm 이하 또는 1.5 nm 이하일 수 있다.In one embodiment, the surface roughness (Ra) of the polyimide film of the present invention preferably has a lower limit of 0.3 nm or more, 0.5 nm or more, 0.7 nm or more, 0.9 nm or more, 1.1 nm or more, 1.2 nm or more, or 1.3 nm or more. , 1.4 nm or more, 1.5 nm or more, or 1.6 nm or more, and the upper limit may be 2.5 nm or less, 2.0 nm or less, 1.8 nm or less, 1.7 nm or less, 1.6 nm or less, or 1.5 nm or less.

일 실시예에서, 본 발명의 폴리이미드 필름은 표면거칠기(Rz)는 바람직하게는 하한이 3.5 nm 이상, 4.0 nm 이상, 4.5 nm 이상, 5.0 nm 이상, 7.0 nm 이상, 8.0 nm 이상, 9.0 nm 이상, 10 nm 이상, 11 nm 이상, 12 nm 이상, 13 nm 이상 또는 14 nm 이상일 수 있고, 바람직하게는 상한은 18 nm 이하, 17 nm 이하, 16 nm 이하, 15 nm 이하, 13 nm 이하, 12 nm 이하 또는 11 nm 이하일 수 있다.In one embodiment, the surface roughness (Rz) of the polyimide film of the present invention preferably has a lower limit of 3.5 nm or more, 4.0 nm or more, 4.5 nm or more, 5.0 nm or more, 7.0 nm or more, 8.0 nm or more, or 9.0 nm or more. , 10 nm or more, 11 nm or more, 12 nm or more, 13 nm or more or 14 nm or more, preferably the upper limit is 18 nm or less, 17 nm or less, 16 nm or less, 15 nm or less, 13 nm or less, 12 nm or less or 11 nm or less.

본 발명에서 폴리이미드 필름의 표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 미만 및/또는 표면거칠기(Rz)가 3.0 nm 미만일 경우, 표면의 거친 정도가 낮아 동박에 대한 접착성이 떨어지는 문제점이 있으며, 표면거칠기(Ra)가 3.0 nm 초과 및/또는 표면거칠기(Rz)가 20 nm 초과하는 경우 필름의 접착 강도에 영향을 미치지 않으며 오히려 접착강도가 저하하는 경향이 나타나는 문제점이 있다.In the present invention, when the surface roughness (Ra) of the polyimide film is less than 0.1 nm and/or the surface roughness (Rz) is less than 3.0 nm, the surface roughness is low, resulting in poor adhesion to the copper foil, and the surface roughness ( When Ra) exceeds 3.0 nm and/or surface roughness (Rz) exceeds 20 nm, the adhesive strength of the film is not affected and rather the adhesive strength tends to decrease.

본 발명에 있어서, 상기 폴리이미드 필름은 포토닉 큐어링(photonic curing)에 의해 표면 처리된 것일 수 있다. In the present invention, the polyimide film may be surface treated by photonic curing.

본 발명에 있어서, 상기 표면 처리는 폴리이미드 필름의 모폴로지 변화 및 표면거칠기 변화를 야기하여 접착 특성에 영향을 미칠 수 있다.In the present invention, the surface treatment may cause a change in morphology and surface roughness of the polyimide film to affect adhesive properties.

포토닉 큐어링은 플래시 램프의 광을 사용하여 박막 및 물질을 어닐링하는 것으로서, 광의 노출시간이 매우 짧기 때문에(일반적으로 1 ms 미만) 기판 위에 놓인 필름이 가열되는 동안 기판 자체의 온도는 상대적으로 낮게 유지된다. 즉, 짧은 펄스의 조사를 통해 판의 손상 없이 폴리이미드 필름과 같은 얇은 박막에 상당히 높은 온도를 가하는 것이 가능하다. Photonic curing is annealing thin films and materials using light from a flash lamp. Since the light exposure time is very short (generally less than 1 ms), the temperature of the substrate itself is relatively low while the film placed on the substrate is heated. maintain. That is, it is possible to apply a considerably high temperature to a thin film such as a polyimide film without damaging the plate through short pulse irradiation.

상기 포토닉 큐어링은 제논 플래쉬 램프(XENON flash lamp)를 이용한 광펄스에 의한 것일 수 있으며, 일 실시예로 high-제논 램프(high XENON lamp)를 사용하여 광펄스를 조사할 수 있다.The photonic curing may be performed by a light pulse using a XENON flash lamp, and in an embodiment, a light pulse may be irradiated using a high XENON lamp.

본 발명에 있어서, 포토닉 큐어링에 의해 표면 처리된 폴리이미드는 포토닉 큐어링을 수행하지 않은 폴리이미드에 대비하여 표면의 거칠기가 증가하여 동박에 대한 접착성이 향상되는 효과를 갖는다.In the present invention, the surface roughness of the polyimide treated by photonic curing is increased compared to the polyimide not subjected to photonic curing, thereby improving adhesion to the copper foil.

일 실시예에서, 상기 포토닉 큐어링은 100 내지 800 nm의 파장, 200 내지 1,000 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 0.5 내지 5.0 J/cm2의 광에너지를 갖는 광펄스에 의한 것일 수 있다. In one embodiment, the photonic curing is performed by light pulses having a wavelength of 100 to 800 nm, a light pulse irradiation time of 200 to 1,000 microseconds (μs), and a light energy of 0.5 to 5.0 J/cm 2 . can

바람직하게는 상기 포토닉 큐어링은 100 내지 800 nm의 파장, 300 내지 800 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 0.7 내지 3.0 J/cm2의 광에너지를 갖는 광펄스에 의한 것일 수 있다. 더욱 바람직하게는 200 내지 400 nm 파장으로, 300 내지 700 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 1.0 내지 2.6 J/cm2의 광에너지를 갖는 광펄스을 조사하는 것일 수 있다. Preferably, the photonic curing may be performed by a light pulse having a wavelength of 100 to 800 nm, a light pulse irradiation time of 300 to 800 microseconds (μs), and a light energy of 0.7 to 3.0 J/cm 2 . . More preferably, a light pulse having a wavelength of 200 to 400 nm, a light pulse irradiation time of 300 to 700 microseconds (μs), and a light energy of 1.0 to 2.6 J/cm 2 may be irradiated.

본 발명에 있어서, 포토닉 큐어링의 광펄스의 100 내지 400 nm의 자외선 파장 및 400 내지 800 nm의 가시광선 파장을 가질 수 있으며, 바람직하게는 100 내지 400 nm, 더욱 바람직하게는 200 내지 400 nm의 자외선 파장일 수 있다.In the present invention, the photonic curing light pulse may have an ultraviolet wavelength of 100 to 400 nm and a visible light wavelength of 400 to 800 nm, preferably 100 to 400 nm, more preferably 200 to 400 nm It may be an ultraviolet wavelength of

일 실시예에서, 상기 광펄스는 250 내지 650 V 범위의 인가전압에서 조사하는 것일 수 있으며, 바람직하게는 350 내지 450 V 범위의 인가전압, 더욱 바람직하게는 380 내지 420 V 범위의 인가전압, 가장 바람직하게는 400 V의 인가전압일 수 있다.In one embodiment, the light pulse may be irradiated at an applied voltage in the range of 250 to 650 V, preferably an applied voltage in the range of 350 to 450 V, more preferably an applied voltage in the range of 380 to 420 V, most Preferably, it may be an applied voltage of 400 V.

본 발명에 있어서, 상기 포토닉 큐어링의 온도는 200 내지 700℃의 범위일 수 있으며, 바람직하게는 300 내지 600℃일 수 있으며, 가장 바람직하게는 400 내지 600℃의 범위일 수 있다.In the present invention, the temperature of the photonic curing may be in the range of 200 to 700 °C, preferably 300 to 600 °C, and most preferably 400 to 600 °C.

일 실시예에서, 상기 포토닉 큐어링에서 광펄스의 강도(Intensity)는 2 내지 6 kW/cm2, 바람직하게는 3 내지 5 kW/cm2, 더욱 바람직하게는 3.5 내지 4.5 kW/cm2일 수 있으며, 가장 바람직하게는 4 kW/cm2 일 수 있다.In one embodiment, the intensity of the light pulse in the photonic curing is 2 to 6 kW/cm 2 , preferably 3 to 5 kW/cm 2 , more preferably 3.5 to 4.5 kW/cm 2 . It may be, and most preferably 4 kW / cm 2 It may be.

일 실시예에서, 상기 폴리이미드는 35 내지 45 um, 바람직하게는 37 내지 42 um, 더욱 바람직하게는 37 내지 40 um 범위의 두께를 가질 수 있다.In one embodiment, the polyimide may have a thickness ranging from 35 to 45 um, preferably from 37 to 42 um, and more preferably from 37 to 40 um.

본 발명에 있어서, 상기 폴리아믹산 필름은 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고, 상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 15 몰% 이상 45 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 55 몰% 이상 85 몰% 이하이고, 특히, 바람직하게는 m-톨리딘의 함량은 20 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량은 60 몰% 이상 80 몰% 이하일 수 있다.In the present invention, the polyamic acid film is a first block obtained by imidizing a dianhydride component including biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and a diamine component including paraphenylene diamine (PPD). ; And an agent obtained by imidization of a dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component including m-tolidine. 2 blocks; and the content of m-tolidine is 15 mol% or more and 45 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the diamine component of the first block and the second block. , the content of paraphenylene diamine is 55 mol% or more and 85 mol% or less, particularly preferably the content of m-tolidine is 20 mol% or more and 40 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 60 mol% It may be more than 80 mol% or less.

상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 55 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 25 몰% 이상 55 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 15 몰% 이상 30 몰% 이하일 수 있다. 특히, 바람직하게는 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 25 몰% 이상 50 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 30 몰% 이상 50 몰% 이하이며. 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 27 몰% 이하일 수 있다.The content of benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 20 mol% or more and 55 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component of the first block and the second block, and biphenyltetracarboxylic dianhydride The hydride content may be 25 mol% or more and 55 mol% or less, and the pyromellitic dianhydride content may be 15 mol% or more and 30 mol% or less. In particular, preferably, the content of the benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 25 mol% or more and 50 mol% or less, and the content of biphenyltetracarboxylic dianhydride is 30 mol% or more and 50 mol% or less. The content of pyromellitic dianhydride may be 20 mol% or more and 27 mol% or less.

일 실시예에서, 상기 이무수물산 성분은 피로멜리틱디안하이드라이드를 추가적으로 포함할 수 있다. In one embodiment, the dianhydride component may additionally include pyromellitic dianhydride.

또한, 본 발명에 있어서, 상기 폴리아믹산 필름은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고, 상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 35 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 65 몰% 이상 80 몰% 이하이다. 특히, m-톨리딘의 함량은 20 몰% 이상 30 몰% 이하가 바람직하다. In addition, in the present invention, the polyamic acid film is a dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and paraphenylene diamine (PPD) A first block obtained by imidization of a diamine component containing; And a dianhydride component including biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component including m-tolidine (m-tolidine) obtained by imidization reaction A block copolymer comprising a second block, wherein the content of m-tolidine is 20 mol% or more and 35 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the diamine component of the first block and the second block And, the content of paraphenylene diamine is 65 mol% or more and 80 mol% or less. In particular, the content of m-tolidine is preferably 20 mol% or more and 30 mol% or less.

상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안 하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 20 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 40 몰% 이상 60 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 45 몰% 이하일 수 있다. 바람직하게는 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 15 몰% 이상 20 몰% 이하일 수 있다.The content of benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 20 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component of the first block and the second block, and biphenyltetracarboxylic dian The hydride content may be 40 mol% or more and 60 mol% or less, and the pyromellitic dianhydride content may be 20 mol% or more and 45 mol% or less. Preferably, the content of the benzophenone tetracarboxylic dianhydride may be 15 mol% or more and 20 mol% or less.

일 실시예에서, 상기 이무수물산 성분은 피로멜리틱디안하이드라이드를 추가적으로 포함할 수 있다.In one embodiment, the dianhydride component may additionally include pyromellitic dianhydride.

또한, 본 발명에 있어서, 상기 폴리아믹산 필름은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고, 상기 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 40 몰% 이하이며, 상기 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 30 몰% 이상 80 몰% 이하이고, 상기 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 상기 파라페닐렌 디아민의 함량이 60 몰% 이상 80 몰% 이하일 수 있다. 바람직하게는 m-톨리딘의 함량은 30 몰% 이상 40 몰% 이하일 수 있다. In addition, in the present invention, the polyamic acid film is a dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and paraphenylene diamine (PPD) A first block obtained by imidization of a diamine component containing; And a second block obtained by the imidization reaction of a dianhydride component containing pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component containing m-tolidine. , Based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component, the content of the benzophenone tetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 40 mol% or less, and the content of the biphenyltetracarboxylic dianhydride is 30 mol% or more and 80 mol% or less, the content of m-tolidine is 20 mol% or more and 40 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the diamine component, and the paraphenylene diamine content is 60 mol% It may be more than 80 mol% or less. Preferably, the content of m-tolidine may be 30 mol% or more and 40 mol% or less.

또한, 바람직하게는 상기 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 상기 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 30 몰% 이상 80 몰% 이하일 수 있다. 특히, 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 15 몰% 이상 35 몰% 이하, 상기 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 35 몰% 이상 75 몰% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 바람직하게는 상기 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 50 몰% 이하일수 있고, 전혀 포함되지 않을 수도 있다.Also, preferably, the content of the benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 40 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component, and the biphenyltetracarboxylic dianhydride The content of may be 30 mol% or more and 80 mol% or less. In particular, it is preferable that the content of the benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 15 mol% or more and 35 mol% or less, and the content of the biphenyltetracarboxylic dianhydride is 35 mol% or more and 75 mol% or less. Also, preferably, the content of the pyromellitic dianhydride may be 50 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component, or may not be included at all.

일 실시예에서, 상기 이무수물산 성분으로 피로멜리틱디안하이드라이드를 추가적으로 포함할 수 있다.In one embodiment, pyromellitic dianhydride may be additionally included as the dianhydride component.

일 실시예에서, 본 발명의 폴리이미드 필름은 열팽창계수(CTE)가 19 ppm/℃ 이하이며, 유리전이온도(Tg)가 400℃일 수 있다.In one embodiment, the polyimide film of the present invention may have a coefficient of thermal expansion (CTE) of 19 ppm/°C or less, and a glass transition temperature (Tg) of 400°C.

이와 관련하여, 유전 손실률(Df), 유리전이온도 및 열팽창계수를 모두 만족하는 폴리이미드 필름의 경우, 연성금속박적층판용 절연 필름으로 활용 가능할 뿐만 아니라, 제조된 연성금속박적층판이 10 GHz 이상의 고주파로 신호를 전송하는 전기적 신호 전송 회로로 사용되더라도, 그것의 절연 안정성이 확보될 수 있고, 신호 전달 지연도 최소화할 수 있다.In this regard, in the case of a polyimide film that satisfies all of the dielectric loss factor (Df), glass transition temperature, and thermal expansion coefficient, it can be used as an insulating film for flexible metal-clad laminates, and the manufactured flexible metal-clad laminates can generate high-frequency signals of 10 GHz or more. Even if it is used as an electrical signal transmission circuit that transmits, its insulation stability can be secured and signal transmission delay can be minimized.

본 발명의 접착성이 개선된 저유전 폴리이미드 필름의 제조방법Manufacturing method of low dielectric polyimide film with improved adhesiveness of the present invention

본 발명은 (a) 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(mtolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)으로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 디아민 성분을 포함하는 폴리아믹산 용액을 지지체 상에 제막한 후, 이미드화 반응시켜 폴리아믹산 필름을 제조하는 단계; 및 (b) 상기 폴리아믹산 필름에 광펄스를 조사하여 포토닉 큐어링 공정으로 표면 처리된 폴리이미드 필름을 제조하는 단계; 를 포함하고, 상기 폴리이미드 필름은 유전손실율(Df)이 0.004 이하이고, 표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 내지 3.0 nm이고, 표면거칠기(Rz)가 3.0 nm 내지 20 nm인, 폴리이미드 필름의 제조방법을 제공한다.The present invention includes (a) at least one selected from the group consisting of benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) After forming a polyamic acid solution containing a diamine component including a dianhydride component and a diamine component including at least one selected from the group consisting of m-tolidine and paraphenylene diamine (PPD) on a support, an imidation reaction To prepare a polyamic acid film; and (b) preparing a surface-treated polyimide film through a photonic curing process by irradiating the polyamic acid film with light pulses; Including, wherein the polyimide film has a dielectric loss factor (Df) of 0.004 or less, a surface roughness (Ra) of 0.1 nm to 3.0 nm, and a surface roughness (Rz) of 3.0 nm to 20 nm, manufacturing a polyimide film provides a way

일 실시예에서, 단계 (a)에서 폴리아믹산 용액의 중합 방법을 임의(random) 중합 방식으로 정의할 수 있다. In one embodiment, the polymerization method of the polyamic acid solution in step (a) may be defined as a random polymerization method.

본 발명의 폴리아믹산 용액의 제조는 예를 들어,Preparation of the polyamic acid solution of the present invention, for example,

(1) 디아민 성분 전량을 용매 중에 넣고, 그 후 이무수물산 성분을 디아민 성분과 실질적으로 등몰이 되도록 첨가하여 중합하는 방법;(1) A method in which the entire amount of the diamine component is placed in a solvent, and thereafter a dianhydride component is added so as to be substantially equimolar to the diamine component, followed by polymerization;

(2) 이무수물산 성분 전량을 용매 중에 넣고, 그 후 디아민 성분을 이무수물산 성분과 실질적으로 등몰이 되도록 첨가하여 중합하는 방법;(2) a method in which the entire amount of the dianhydride component is placed in a solvent, and then a diamine component is added so as to be substantially equimolar to the dianhydride component, followed by polymerization;

(3) 디아민 성분 중 일부 성분을 용매 중에 넣은 후, 반응 성분에 대해서 이무수물산 성분 중 일부 성분을 95 내지 105 몰%의 비율로 혼합한 후, 나머지 디아민 성분을 첨가하고 이에 연속해서 나머지 이무수물산 성분을 첨가하여, 디아민 성분 및 이무수물산 성분이 실질적으로 등몰이 되도록 하여 중합하는 방법;(3) After putting some of the diamine components in a solvent, mixing some of the dianhydride components at a ratio of 95 to 105 mol% with respect to the reaction components, and then adding the remaining diamine components, followed by the remaining dianhydride components. A method of polymerizing by adding a diamine component and a dianhydride component so that they are substantially equimolar;

(4) 이무수물산 성분을 용매 중에 넣은 후, 반응 성분에 대해서 디아민 화합물 중 일부 성분을 95 내지 105 몰%의 비율로 혼합한 후, 다른 이무수물산 성분을 첨가하고 계속되어 나머지 디아민 성분을 첨가하여, 디아민 성분 및 이무수물산 성분이 실질적으로 등몰이 되도록 하여 중합하는 방법;(4) After putting the dianhydride component in the solvent, some components of the diamine compound are mixed in a ratio of 95 to 105 mol% with respect to the reaction components, then another dianhydride component is added, and then the remaining diamine components are added, a method of polymerizing the diamine component and the dianhydride component so that they are substantially equimolar;

(5) 용매 중에서 일부 디아민 성분과 일부 이무수물산 성분을 어느 하나가 과량이도록 반응시켜, 제1 조성물을 형성하고, 또 다른 용매 중에서 일부 디아민 성분과 일부 이무수물산 성분을 어느 하나가 과량이도록 반응시켜 제2 조성물을 형성한 후, 제1, 제2 조성물들을 혼합하고, 중합을 완결하는 방법으로서, 이 때 제1조성물을 형성할 때 디아민 성분이 과잉일 경우, 제2조성물에서는 이무수물산 성분을 과량으로 하고, 제1 조성물에서 이무수물산 성분이 과잉일 경우, 제2 조성물에서는 디아민 성분을 과량으로 하여, 제1, 제2 조성물들을 혼합하여 이들 반응에사용되는 전체 디아민 성분과 이무수물산 성분이 실질적으로 등몰이 되도록 하여 중합하는 방법 등을 들 수 있다.(5) Some diamine components and some dianhydride components are reacted in an excess amount in a solvent to form a first composition, and some diamine components and some dianhydride components in another solvent are reacted in an excess amount to form a first composition. A method of mixing the first and second compositions after forming two compositions and completing the polymerization. At this time, if the diamine component is excessive when forming the first composition, the second composition contains an excess of the dianhydride component And, when the dianhydride component is excessive in the first composition, the diamine component is excessive in the second composition, and the first and second compositions are mixed so that the entire diamine component and the dianhydride component used in these reactions are substantially equal. The method of polymerizing by making it mole, etc. are mentioned.

하나의 구체적인 예에서, 본 발명에 따른 폴리이미드 필름의 제조방법은,In one specific example, the method for producing a polyimide film according to the present invention,

(a) 제1 이무수물산 성분 및 제1 디아민 성분을 유기용매 중에서 중합하여 제1 폴리아믹산을 제조하는 과정;(a) preparing a first polyamic acid by polymerizing a first dianhydride component and a first diamine component in an organic solvent;

(b) 제2 이무수물산 성분 및 제2 디아민 성분을 유기용매 중에서 중합하여 제2 폴리아믹산을 제조하는 과정;(b) preparing a second polyamic acid by polymerizing the second dianhydride component and the second diamine component in an organic solvent;

(c) 상기 제1 폴리아믹산 및 제2 폴리아믹산을 유기용매 중에서 공중합하여 제3 폴리아믹산을 제조하는 과정; 및(c) preparing a third polyamic acid by copolymerizing the first polyamic acid and the second polyamic acid in an organic solvent; and

(d) 상기 제3 폴리아믹산을 포함하는 전구체 조성물을 지지체 상에 제막한 후, 이미드화하는 과정을 포함하고,(d) forming a precursor composition containing the third polyamic acid on a support, followed by imidization;

상기 제1 이무수물산 성분 및 제2 이무수물산 성분은 각각 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하며, 상기 제1 디아민 성분 및 제2 디아민 성분은 각각 m-톨리딘(m-tolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)으로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.The first dianhydride component and the second dianhydride component are composed of benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA), respectively. The first diamine component and the second diamine component may each contain at least one selected from the group consisting of m-tolidine and para-phenylene diamine (PPD). can

폴리이미드 필름의 제조방법에서의 각 성분의 함량 및 조성은 본 발명의 폴리이미드 필름에서 상술한 바와 같다.The content and composition of each component in the manufacturing method of the polyimide film are as described above for the polyimide film of the present invention.

일 실시예에서, 상기 제1 이무수물산 성분은 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하며, 상기 제2 이무수물산 성분은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하고, 상기 제1 디아민 성분은 파라페닐렌 디아민(PPD)를 포함하며, 상기 제2 디아민 성분은 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 디아민 성분 및 상기 제2 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 15 몰% 이상 45 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 55 몰% 이상 85 몰% 이하일 수 있다. 또한, 상기 제1 이무수물산 및 상기 제2 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 55 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 25 몰% 이상 55 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 15 몰% 이상 30 몰% 이하일 수 있다.In one embodiment, the first dianhydride component comprises biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and the second dianhydride component comprises benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and pyromellitic It may include dianhydride (PMDA), the first diamine component may include paraphenylene diamine (PPD), and the second diamine component may include m-tolidine. In addition, based on 100 mol% of the total content of the first diamine component and the second diamine component, the content of m-tolidine is 15 mol% or more and 45 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 55 mol% or more 85 mol% or less. In addition, the content of benzophenone tetracarboxylic dianhydride is 20 mol% or more and 55 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the first dianhydride acid and the second dianhydride component, and biphenyltetracarboxylic The content of dianhydride may be 25 mol% or more and 55 mol% or less, and the content of pyromellitic dianhydride may be 15 mol% or more and 30 mol% or less.

다른 일 실시예에서, 상기 제1 이무수물산 성분은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하며, 상기 제2 이무수물산 성분은 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드를 포함하고, 상기 제1 디아민 성분은 파라페닐렌 디아민(PPD)포함하며, 상기 제2 디아민 성분은 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함할 수 있다. 상기 제1 디아민 성분 및 상기 제2 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 35 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 65 몰% 이상 80몰% 이하일 수 있다. 또한, 상기 제1 이무수물산 및 상기 제2 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 20 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 40 몰% 이상 60 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 45 몰% 이하일 수 있다.In another embodiment, the first dianhydride component includes benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), and the second dianhydride component includes biphenyl It includes tetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride, the first diamine component includes paraphenylene diamine (PPD), and the second diamine component includes m-tolidine (m- tolidine). The content of m-tolidine is 20 mol% or more and 35 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 65 mol% or more 80 mol% based on 100 mol% of the total content of the first diamine component and the second diamine component. % or less. In addition, the content of benzophenone tetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 20 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the first dianhydride acid and the second dianhydride component, and biphenyltetracarboxylic The content of dianhydride may be 40 mol% or more and 60 mol% or less, and the content of pyromellitic dianhydride may be 20 mol% or more and 45 mol% or less.

또 다른 일 실시예에서, 상기 제1 폴리아믹산은 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드를 포함하는 제1 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민을 포함하는 제1 디아민 성분을 포함하고, 상기 제2 폴리아믹산은 피로멜리틱디안하이드라이드를 포함하는 제2 이무수물산 성분과 m-톨리딘을 포함하는 제2 디아민 성분을 포함할 수 있다. 상기 제1 디아민 성분 및 제2 디아민 성분은 m-톨리딘(m-tolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)로 이루어진 그룹에서 선택된 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 한다. 상기 제1 디아민 성분 및 제2 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 상기 파라페닐렌 디아민의 함량이 60 몰% 이상 80 몰% 이하이며, 상기 제1 이무수물산 성분 및 제2 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 상기 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 30 몰% 이상 80 몰% 이하일 수 있다.In another embodiment, the first polyamic acid is a first dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride and biphenyltetracarboxylic dianhydride and a first diamine including paraphenylene diamine component, and the second polyamic acid may include a second dianhydride component including pyromellitic dianhydride and a second diamine component including m-tolidine. The first diamine component and the second diamine component are characterized in that they include at least one selected from the group consisting of m-tolidine and para-phenylene diamine (PPD). Based on 100 mol% of the total content of the first diamine component and the second diamine component, the content of m-tolidine is 20 mol% or more and 40 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 60 mol% or more 80 mol% mol% or less, and the content of the benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 40 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the first dianhydride component and the second dianhydride component, and the ratio The content of phenyltetracarboxylic dianhydride may be 30 mol% or more and 80 mol% or less.

또한, 폴리아믹산을 합성하기 위한 유기용매는 특별히 한정되는 것은 아니고, 폴리아믹산을 용해시키는 유기용매이면 어떠한 유기용매도 사용할 수 있지만, 아미드계 용매인 것이 바람직하다. 구체적으로는, 상기 유기용매는 유기 극성 용매일 수 있고, 상세하게는 비양성자성 극성 용매(aprotic polar solvent)일 수 있으며, 예를 들어, N,N-디메틸포름아미드(DMF), N,N-디메틸아세트아미드, N-메틸-피롤리돈(NMP), 감마 브티로 락톤(GBL), 디그림(Diglyme)으로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니며, 필요에 따라 단독으로 또는 2종 이상 조합해서 사용할 수 있다.In addition, the organic solvent for synthesizing the polyamic acid is not particularly limited, and any organic solvent can be used as long as it dissolves the polyamic acid, but an amide solvent is preferable. Specifically, the organic solvent may be an organic polar solvent, and in detail, may be an aprotic polar solvent, for example, N,N-dimethylformamide (DMF), N,N -It may be one or more selected from the group consisting of dimethylacetamide, N-methyl-pyrrolidone (NMP), gamma butyrolactone (GBL), and diglyme, but is not limited thereto, and may be used alone as needed Or it can use in combination of 2 or more types.

일 실시예에서, 상기 용매는 N,N-디메틸포름아미드 및 N,N-디메틸아세트아미드가 특히 바람직하게 사용될 수 있다.In one embodiment, N,N-dimethylformamide and N,N-dimethylacetamide may be particularly preferably used as the solvent.

상기 중합 방법은 앞서 설명한 고분자 사슬 내의 반복단위의 길이가 상대적으로 짧게 제조되므로, 이무수물산 성분으로부터 유래되는 폴리이미드 사슬이 가지는 각각의 우수한 특성을 발휘하기에는 한계가 있을 수 있다. 따라서, 본 발명에서 특히 바람직하게 이용될 수 있는 폴리아믹산의 중합 방법은 블록 중합 방식일 수 있다.Since the polymerization method produces a relatively short length of the repeating unit in the polymer chain described above, there may be limitations in exhibiting the excellent characteristics of each polyimide chain derived from the dianhydride component. Therefore, the polymerization method of the polyamic acid that can be particularly preferably used in the present invention may be a block polymerization method.

본 발명의 일 실시예에서, 단계 (b)에서 포토닉 큐어링은 250 내지 650 V 범위의 인가전압에서 조사하는 것일 수 있으며, 바람직하게는 350 내지 450 V 범위의 인가전압, 더욱 바람직하게는 380 내지 420 V 범위의 인가전압, 가장 바람직하게는 400 V의 인가전압일 수 있다.In one embodiment of the present invention, photonic curing in step (b) may be to irradiate at an applied voltage in the range of 250 to 650 V, preferably at an applied voltage in the range of 350 to 450 V, more preferably at 380 V. to 420 V, most preferably 400 V.

일 실시예에서, 상기 포토닉 큐어링은 상술한 인가전압의 범위에서, 100 내지 800 nm의 파장, 200 내지 1,000 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 0.5 내지 5.0 J/cm2의 광에너지의 조건으로 조사되는 광펄스에 의한 것일 수 있다.In one embodiment, the photonic curing is performed in the range of the above-described applied voltage, with a wavelength of 100 to 800 nm, a light pulse irradiation time of 200 to 1,000 microseconds (μs), and light of 0.5 to 5.0 J/cm 2 . It may be by a light pulse irradiated under the condition of energy.

일 실시예에서, 상기 포토닉 큐어링은 상술한 인가전압의 범위에서, 100 내지 800 nm의 파장, 300 내지 800 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 0.5 내지 3.0 J/cm2의 광에너지의 조건으로 조사되는 광펄스에 의한 것일 수 있다. 바람직하게는 200 내지 400 nm 파장으로, 300 내지 700 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및 1.0 내지 2.6 J/cm2의 광에너지의 조건으로 조사되는 광펄스에 의한 것일 수 있다.In one embodiment, the photonic curing is performed in the range of the above-described applied voltage, with a wavelength of 100 to 800 nm, a light pulse irradiation time of 300 to 800 microseconds (μs), and light of 0.5 to 3.0 J/cm 2 . It may be by a light pulse irradiated under the condition of energy. Preferably, it may be by a light pulse irradiated under conditions of a wavelength of 200 to 400 nm, a light pulse irradiation time of 300 to 700 microseconds (μs), and light energy of 1.0 to 2.6 J/cm 2 .

본 발명에 있어서, 포토닉 큐어링의 광펄스의 100 내지 400 nm의 자외선 파장 및 400 내지 800 nm의 가시광선 파장을 가질 수 있으며, 바람직하게는 100 내지 400 nm, 더욱 바람직하게는 200 내지 400 nm 자외선 파장일 수 있다.In the present invention, the photonic curing light pulse may have an ultraviolet wavelength of 100 to 400 nm and a visible light wavelength of 400 to 800 nm, preferably 100 to 400 nm, more preferably 200 to 400 nm It may be an ultraviolet wavelength.

본 발명에 있어서, 상기 포토닉 큐어링의 온도는 200 내지 700℃의 범위일 수 있으며, 바람직하게는 300 내지 600℃일 수 있으며, 가장 바람직하게는 400 내지 600℃의 범위일 수 있다.In the present invention, the temperature of the photonic curing may be in the range of 200 to 700 °C, preferably 300 to 600 °C, and most preferably 400 to 600 °C.

본 발명에서 포토닉 큐어링 공정을 수행함에 따라, 폴리아믹산 필름에 짧은 펄스의 UV 광을 조사함으로써 우수한 유전 특성 및 내열 특성을 유지 표면의 모폴로지 변화를 유발하여 접착성을 향상시킬 수 있다.As the photonic curing process is performed in the present invention, by irradiating the polyamic acid film with short pulses of UV light, it is possible to improve adhesion by causing a change in the morphology of the surface to maintain excellent dielectric properties and heat resistance properties.

본 발명의 폴리이미드 필름의 제조방법에 따라 제조된 폴리이미드 필름의 열팽창계수(CTE), 유리전이온도, 흡습률은 본 발명의 폴리이미드 필름에서 상술한 바와 같다.The coefficient of thermal expansion (CTE), glass transition temperature, and moisture absorption of the polyimide film prepared according to the method for manufacturing the polyimide film of the present invention are as described above for the polyimide film of the present invention.

본 발명의 폴리이미드 필름을 포함하는 다층 필름, 연성금속적층판 및 전자부품Multi-layer film, flexible metal laminate and electronic component containing the polyimide film of the present invention

본 발명은, 상술한 폴리이미드 필름과 열가소성 수지층을 포함하는 다층 필름 및 상술한 폴리이미드 필름과 전기전도성의 금속박을 포함하는 연성금속박적층판을 제공한다.The present invention provides a multilayer film comprising the above-described polyimide film and a thermoplastic resin layer, and a flexible metal-clad laminate comprising the above-described polyimide film and electrically conductive metal foil.

상기 열가소성 수지층으로는 예를 들어 열가소성 폴리이미드 수지층 등이 적용될 수 있다.As the thermoplastic resin layer, for example, a thermoplastic polyimide resin layer may be applied.

사용하는 금속박으로는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 전자 기기 또는 전기 기기용도에 본 발명의 연성금속박적층판을 이용하는 경우에는, 예를 들면 구리 또는 구리 합금, 스테인레스강 또는 그의 합금, 니켈 또는 니켈 합금(42 합금도 포함함), 알루미늄 또는 알루미늄 합금을 포함하는 금속박일 수 있다.The metal foil used is not particularly limited, but in the case of using the flexible metal clad laminate of the present invention for electronic devices or electrical devices, for example, copper or copper alloy, stainless steel or its alloy, nickel or nickel alloy (42 alloy) Also included), it may be a metal foil containing aluminum or aluminum alloy.

일반적인 연성금속박적층판에서는 압연 동박, 전해 동박이라는 구리박이 많이 사용되며, 본 발명에서도 바람직하게 사용할 수 있다. 또한, 이들 금속박의 표면에는 방청층, 내열층 또는 접착층이 도포되어 있을 수도 있다.In general flexible metal clad laminates, copper foils such as rolled copper foil and electrolytic copper foil are often used, and they can be preferably used in the present invention as well. Moreover, a rust prevention layer, a heat resistance layer, or an adhesive layer may be applied to the surface of these metal foils.

본 발명에서 상기 금속박의 두께에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 그 용도에 따라서 충분한 기능을 발휘할 수 있는 두께이면 된다.In the present invention, the thickness of the metal foil is not particularly limited, and may be any thickness capable of exhibiting sufficient functions depending on its use.

본 발명에 따른 연성금속박적층판은, 상기 폴리이미드 필름의 일면에 금속박이 라미네이트되어 있거나, 상기 폴리이미드 필름의 일면에 열가소성 폴리이미드를 함유하는 접착층이 부가되어 있고, 상기 금속박이 접착층에 부착된 상태에서 라미네이트되어있는 구조일 수 있다.In the flexible metal clad laminate according to the present invention, a metal foil is laminated on one surface of the polyimide film, or an adhesive layer containing thermoplastic polyimide is added to one surface of the polyimide film, and the metal foil is attached to the adhesive layer. It may be a laminated structure.

본 발명은 또한, 상기 연성금속박적층판을 전기적 신호 전송 회로로서 포함하는 전자 부품을 제공한다. 상기 전기적 신호 전송 회로는, 적어도 2 GHz의 고주파, 상세하게는 적어도 5 GHz의 고주파, 더욱 상세하게는 적어도 10 GHz의 고주파로 신호를 전송하는 전자 부품일 수 있다.The present invention also provides an electronic component including the flexible metal clad laminate as an electrical signal transmission circuit. The electrical signal transmission circuit may be an electronic component that transmits a signal at a high frequency of at least 2 GHz, specifically at a high frequency of at least 5 GHz, and more specifically at a high frequency of at least 10 GHz.

상기 전자 부품은 예를 들어, 휴대 단말기용 통신 회로, 컴퓨터용 통신 회로, 또는 우주 항공용 통신회로일 수 있으나 이것으로 한정되는 것은 아니다.The electronic component may be, for example, a communication circuit for a portable terminal, a communication circuit for a computer, or a communication circuit for aerospace, but is not limited thereto.

본 발명에 따른 폴리이미드 필름은 저유전 특성, 저흡습성 및 고내열성을 가지면서 동박과의 접착력이 우수한 효과가 있다. 또한, 이와 같은 특성이 요구되는 고속 통신기 가능한 박형 회로기판, 연성금속박적층판 등의 전자 부품 등에 유용하게 적용될 수 있다.The polyimide film according to the present invention has low dielectric properties, low hygroscopicity and high heat resistance, and excellent adhesion to copper foil. In addition, it can be usefully applied to electronic components such as thin circuit boards and flexible metal clad laminates capable of high-speed communication devices requiring such characteristics.

도 1은 본 발명에 따른 폴리이미드 필름의 제조공정을 도식화한 것이다.
도 2는 본 발명에 따른 폴리미이드 필름의 AFM 분석 결과를 나타낸 것이다.
1 is a schematic diagram of a manufacturing process of a polyimide film according to the present invention.
Figure 2 shows the AFM analysis results of the polyimide film according to the present invention.

본 발명의 이해를 돕기 위하여 실시예를 제시한다. 하기의 실시예는 본 발명을 보다 쉽게 이해하기 위하여 제공되는 것일 뿐, 실시예에 의해 본 발명의 내용이 한정되는 것은 아니다.Examples are presented to aid understanding of the present invention. The following examples are only provided to more easily understand the present invention, but the content of the present invention is not limited by the examples.

<실시예 1> 폴리아믹산 필름 제조<Example 1> Preparation of polyamic acid film

교반기 및 질소 주입·배출관을 구비한 500 ㎖ 반응기에 질소를 주입시키면서 DMF을 투입하고 반응기의 온도를 30℃ 이하로 설정한 후 디아민 성분으로서 파라페닐렌 디아민(PPD)과, 이무수물산 성분으로서 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 중 어느 하나 이상을 투입하여 완전히 용해된 것을 확인한다. 질소 분위기하에 40℃로 온도를 올려 가열하면서 120 분간 교반을 계속한 후, 23℃에서의 점도가 200,000 cP를 나타내는 제1 폴리아믹산을 제조하였다.Inject DMF while injecting nitrogen into a 500 ml reactor equipped with a stirrer and nitrogen inlet/discharge pipe, set the temperature of the reactor to 30 ° C or less, and then paraphenylene diamine (PPD) as a diamine component and biphenyl as a dianhydride component It is confirmed that at least one of tetracarboxylic dianhydride (BPDA) and benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA) is completely dissolved. After raising the temperature to 40 ° C. under a nitrogen atmosphere and continuing stirring for 120 minutes while heating, a first polyamic acid having a viscosity of 200,000 cP at 23 ° C. was prepared.

교반기 및 질소 주입·배출관을 구비한 500 ㎖ 반응기에 질소를 주입시키면서 NMP을 투입하고 반응기의 온도를 30℃로 설정한 후 디아민 성분으로서 m-톨리딘, 이무수물산 성분으로서 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드 및 피로멜리틱디안하이드라이드 중 어느 하나 이상을 투입하여 완전히 용해된 것을 확인한다. 질소 분위기하에 40℃로 온도를 올려 가열하면서 120 분간 교반을 계속한 후, 23℃에서의 점도가 200,000 cP를 나타내는 제2 폴리아믹산을 제조하였다.NMP was injected while nitrogen was injected into a 500 ml reactor equipped with a stirrer and nitrogen inlet/discharge pipe, and the temperature of the reactor was set to 30 ° C. m-tolidine as a diamine component and benzophenone tetracarboxylic dianhydride as a dianhydride component It is confirmed that at least one of fluoride and pyromellitic dianhydride is completely dissolved. After raising the temperature to 40 ° C. under a nitrogen atmosphere and continuing stirring for 120 minutes while heating, a second polyamic acid having a viscosity of 200,000 cP at 23 ° C. was prepared.

이어서, 상기 제1 폴리아믹산 및 제2 폴리아믹산을 질소 분위기하에 40℃로 온도를 올려 가열하면서 120 분간 교반을 계속한 후, 23℃에서의 최종 점도가 200,000 cP를 나타내고, 디아민 성분 및 이무수물산 성분을 하기 표 1과 같이 포함하는 제3 폴리아믹산을 제조하였다.Then, after heating the first polyamic acid and the second polyamic acid to 40 ° C. under a nitrogen atmosphere, stirring was continued for 120 minutes, and the final viscosity at 23 ° C. was 200,000 cP, and the diamine component and the dianhydride component To prepare a third polyamic acid containing as shown in Table 1.

상기에서 제조된 제3 폴리아믹산을 1,500 rpm 이상의 고속 회전을 통해 기포를 제거하였다. 이후 스핀 코터를 이용하여 유리 기판에 탈포된 폴리이미드 전구체 조성물을 도포하였다. 이후 질소 분위기하 및 120℃의 온도에서 30 분 동안 건조하여 겔 필름을 제조하고, 상기 겔 필름을 450℃까지 2 ℃/분의 속도로 승온하고, 450℃에서 60 분 동안 열처리하고, 30℃까지 2 ℃/분의 속도로 냉각하여 폴리아믹산 필름을 수득하였다.Air bubbles were removed from the third polyamic acid prepared above by high-speed rotation of 1,500 rpm or more. Thereafter, the degassed polyimide precursor composition was applied to the glass substrate using a spin coater. Thereafter, a gel film was prepared by drying under a nitrogen atmosphere at a temperature of 120° C. for 30 minutes, heating the gel film to 450° C. at a rate of 2° C./min, heat treatment at 450° C. for 60 minutes, and heating the gel film to 30° C. It was cooled at a rate of 2 °C/min to obtain a polyamic acid film.

실시예 1-1 내지 1-12: 폴리아믹산 필름의 제조 Examples 1-1 to 1-12: Preparation of polyamic acid films

앞서 설명한 <실시예 1>에 의해 제조하되, 이무수물산 성분 및 디아민 성분의 조성비를 하기 표 1에 나타낸 바와 같이 조절해 주었다.It was prepared according to <Example 1> described above, but the composition ratio of the dianhydride component and the diamine component was adjusted as shown in Table 1 below.

이무수물산 성분 (몰%)dianhydride component (mol%) 디아민 성분(몰%)Diamine component (mol%) 폴리아믹산
중합 방식
polyamic acid
polymerization method
BPDA
(몰%)
BPDA
(mole%)
BTDA
(몰%)
BTDA
(mole%)
PMDA
(몰%)
PMDA
(mole%)
m-Tolidine
(몰%)
m-Tolidine
(mole%)
PPD
(몰%)
PPD
(mole%)
실시예 1-1Example 1-1 3333 4040 2727 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-2Example 1-2 5050 2525 2525 2020 8080 블록중합block polymerization 실시예 1-3Example 1-3 3030 5050 2020 4040 6060 블록중합block polymerization 실시예 1-4Example 1-4 3535 4040 2525 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-5Example 1-5 4040 1717 4343 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-6Example 1-6 4545 1717 3838 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-7Examples 1-7 5555 1717 2828 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-8Examples 1-8 6060 1717 2323 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-9Examples 1-9 7575 2525 -- 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-10Examples 1-10 5050 1717 3333 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-11Example 1-11 3535 1717 4848 3030 7070 블록중합block polymerization 실시예 1-12Examples 1-12 3535 3232 3333 3030 7070 블록중합block polymerization

<실시예 2> 폴리이미드 필름의 제조 <Example 2> Preparation of polyimide film

실시예 1에 따라 수득된 폴리아믹산 필름에 하기 표 2와 같은 조건으로 광을 조사하여 포토닉 큐어링 공정을 수행하여 표면 처리된 실시예 2-1 내지 2-3의 폴리이미드 필름을 얻었다. 포토닉 큐어링 공정은 Novacentrix社의 UV광을 조사하는 포토닉 큐어링 장비를 이용하였다.The polyamic acid film obtained in Example 1 was irradiated with light under the conditions shown in Table 2 below to perform a photonic curing process to obtain surface-treated polyimide films of Examples 2-1 to 2-3. The photonic curing process used Novacentrix's photonic curing equipment that irradiates UV light.

제조된 폴리이미드 필름의 두께는 40±5 ㎛였다. 두께는 Anritsu사의 필름 두께 측정기(Electric Film thickness tester)를 사용하여 측정하였다.The thickness of the prepared polyimide film was 40±5 μm. The thickness was measured using Anritsu's electric film thickness tester.

실시예 2-1 내지 2-3: 폴리이미드 필름의 제조 Examples 2-1 to 2-3: Preparation of polyimide film

앞서 설명한 <실시예 2>의 방법으로 제조하되, 광펄스 조사시간, 강도, 광에너지, 표면처리 온도를 하기 표 2에 나타낸 바와 같은 조건으로 실시예 2-1 내지 2-3의 폴리이미드 필름을 제조하였다.The polyimide films of Examples 2-1 to 2-3 were prepared by the method of <Example 2> described above, but under the conditions shown in Table 2 below for the light pulse irradiation time, intensity, light energy, and surface treatment temperature. manufactured.

인가전압
(V)
applied voltage
(V)
광펄스 조사시간
(duration)(μs)
light pulse irradiation time
(duration) (μs)
강도
(kW/cm2)
robbery
(kW/cm 2 )
광에너지
(J/cm2)
light energy
(J/cm 2 )
온도
(℃)
temperature
(℃)
두께
(㎛)
thickness
(μm)
실시예 2-1Example 2-1 400400 319319 4.004.00 1.081.08 400400 37.837.8 실시예 2-2Example 2-2 400400 463463 4.004.00 1.721.72 500500 38.938.9 실시예 2-3Example 2-3 400400 670670 4.004.00 2.592.59 600600 39.239.2

<실험예><Experimental example>

실험예 1: 유전손실율(Df) 측정Experimental Example 1: Dielectric loss factor (Df) measurement

실시예 2-1 내지 실시예 2-3에 따라 제조된 폴리이미드 필름에 대해서 유전 손실률(Df)은 SPDR(split post dielectric resonator) 방식으로 측정하였으며, ENA Vector Network Analyzer(E5063A, Keysight社) 모델을 사용하고 SPDR은 QWED社 제품을 사용하였다. 유전 특성을 측정하기 위해 실시예 2-1 내지 2-3의 폴리이미드 필름을 각각 50 mm x 50 mm로 준비한 후 130℃의 온도에서 30분간 건조하여 수분을 제거하였다. 23℃/50%RH 환경으로 조성된 항온항습챔버에서 24시간 에이징(aging)후, ENA 기기를 이용하여 24시간 에이징된 필름 샘플의 유전특성을 측정하였다. 그 결과를 하기 표 3에 나타내었다.The dielectric loss factor (Df) of the polyimide films prepared according to Examples 2-1 to 2-3 was measured by a split post dielectric resonator (SPDR) method, and an ENA Vector Network Analyzer (E5063A, Keysight) model was used. and SPDR was used by QWED. In order to measure the dielectric properties, the polyimide films of Examples 2-1 to 2-3 were prepared in a size of 50 mm x 50 mm, respectively, and then dried at a temperature of 130° C. for 30 minutes to remove moisture. After aging for 24 hours in a constant temperature and humidity chamber set at 23° C./50% RH, the dielectric properties of the film sample aged for 24 hours were measured using an ENA device. The results are shown in Table 3 below.

표 3을 참조하면, 본 발명의 실시예 2-1 내지 실시예 2-3에 따라 제조된 폴리이미드 필름의 유전손실율(Df)이 0.004 이하로 현저히 낮은 유전손실율을 나타낸다.Referring to Table 3, the dielectric loss factor (Df) of the polyimide films prepared according to Examples 2-1 to 2-3 of the present invention is 0.004 or less, indicating a remarkably low dielectric loss factor.

유전손실율(Df)Dielectric loss factor (Df) 실시예 2-1Example 2-1 0.003440.00344 실시예 2-2Example 2-2 0.003320.00332 실시예 2-3Example 2-3 0.003280.00328

실험예 2: AFM(Atomic Force Microscopy)를 이용한 모폴로지 분석Experimental Example 2: Morphology analysis using AFM (Atomic Force Microscopy)

포토닉 큐어링을 이용한 표면처리 전의 폴리이미드 필름(Ref)(a) 및 실시예 2-1(b), 실시예 2-2(c), 실시예 2-3(d)의 폴리이미드 필름의 표면 모폴로지를 AFM 장치를 이용하여 측정하였다. 그 결과는 도 2에 나타내었다.Polyimide film before surface treatment using photonic curing (Ref) (a) and Example 2-1 (b), Example 2-2 (c), Example 2-3 (d) of the polyimide film Surface morphology was measured using an AFM device. The results are shown in Figure 2.

실험예 3: 표면 거칠기(Ra, Rz) 분석Experimental Example 3: Surface Roughness (Ra, Rz) Analysis

포토닉 큐어링을 이용한 표면처리 전의 폴리이미드 필름(Ref), 실시예 2-1 내지 2-3에서 얻어진 폴리이미드 필름에 대하여 표면거칠기를 측정하기 위해 OP (Optical profiler, 나노시스템 社 nanoview)를 이용하여 표면조도 값 Rz 및 Ra의 값을 비교하여 측정하였다. 그 결과는 표 4에 나타내었다.OP (Optical profiler, nanoview of Nanosystems) was used to measure the surface roughness of the polyimide film (Ref) before surface treatment using photonic curing and the polyimide film obtained in Examples 2-1 to 2-3 The surface roughness values Rz and Ra values were compared and measured. The results are shown in Table 4.

표 4를 참조하면, 포토닉 큐어링를 이용한 표면 처리에 의해 표면에 변화가 일어나는 것으로 나타났다. 300℃ 이상의 온도에서 거칠기(Roughness)가 지속적으로 증가하는 경향이 나타났으며, 이는 FPCB 기판용 특성 중 하나인 접착력 변화의 원인과 상관 관계가 있는 것으로, 표면 거칠기(조도)가 높을수록 접착력은 높게 형성될 수 있다.Referring to Table 4, it was found that a change occurred on the surface by surface treatment using photonic curing. At a temperature of 300℃ or higher, the roughness tended to increase continuously, which is correlated with the cause of change in adhesive force, which is one of the characteristics for FPCB substrates. The higher the surface roughness (roughness), the higher the adhesive force. can be formed

RaRa RzRz RefRef 0.0010.001 0.0060.006 실시예 2-1Example 2-1 1.2231.223 10.81610.816 실시예 2-2Example 2-2 1.441.44 12.04912.049 실시예 2-3Example 2-3 1.671.67 14.75014.750

실험예 4: 본 발명의 폴리이미드 필름의 동박에 대한 접착력 분석Experimental Example 4: Analysis of adhesion of the polyimide film of the present invention to copper foil

본 발명의 폴리이미드 필름의 동박에 대한 접착력을 측정하기 위해, 포토닉 큐어링을 이용한 표면처리를 수행하지 않은 폴리미이드(Ref), 실시예 2-1 내지 2-3의 폴리미이드 표면에 접착층을 코팅후 110℃~350℃로 건조하였다. 샘플 적층 후 핫프레스를 이용해 Cu foil과 적층하여 적층체를 제조하였다(조건: 320℃ 온도, 15 MPA, 40초 동안). Rotating wheel, 90도 peel 방식으로 샘플을 100 mm x 100 mm로 재단한 후 Cu foil과 필름을 분리하여 Cu foil을 90도로 당겨서 접착력을 측정하였다. 그 결과는 표 5에 나타내었다.In order to measure the adhesion of the polyimide film of the present invention to the copper foil, the surface of the polyimide (Ref) not subjected to surface treatment using photonic curing and the polyimide of Examples 2-1 to 2-3 After coating the adhesive layer, it was dried at 110°C to 350°C. After the sample was laminated, a laminate was prepared by laminating with Cu foil using a hot press (condition: 320 ° C temperature, 15 MPA, for 40 seconds). After cutting the sample into 100 mm x 100 mm with a rotating wheel, 90-degree peel method, the Cu foil and the film were separated and the Cu foil was pulled at 90 degrees to measure the adhesive strength. The results are shown in Table 5.

Feel Strength(g/cm)Feel Strength (g/cm) RefRef 430430 실시예 2-1Example 2-1 524524 실시예 2-2Example 2-2 577577 실시예 2-3Example 2-3 603603

상기 표 5를 참조하면, 포토닉 큐어링을 진행하지 않은 폴리이미드 필름(Ref)에 대비 포토닉 큐어링으로 표면 처리된 폴리이미드 필름인 실시예 2-1 내지 2-3의 필름의 접착력이 상대적으로 높은 것으로 나타났다. 실험예 2의 표면 모폴로지 분석 결과와 실험예 3의 표면 거칠기 분석결과를 종합하여 봤을 때 표면의 거칠기의 증가와 폴리이미드 필름과 Cu foil간의 접착력의 증가는 상호 비례 관계인 것으로 분석되었다.Referring to Table 5, the adhesive strength of the films of Examples 2-1 to 2-3, which are polyimide films surface-treated by photonic curing, compared to the polyimide film (Ref) without photonic curing was found to be high. When the surface morphology analysis results of Experimental Example 2 and the surface roughness analysis results of Experimental Example 3 were combined, it was analyzed that the increase in surface roughness and the increase in adhesive strength between the polyimide film and the Cu foil were in a mutually proportional relationship.

실험예 5: 열팽창 계수 및 유리 전이 온도 측정Experimental Example 5: Thermal expansion coefficient and glass transition temperature measurement

열팽창 계수(CTE)는 TA사 열기계 분석기(thermomechanical analyzer) Q400 모델을 사용하였으며, 실시예 1-1 내지 1-12의 폴리이미드 필름을 폭 4 mm, 길이 20 mm로 자른 후 질소 분위기하에서 0.05 N의 장력을 가하면서, 10 ℃/min의 속도로 상온에서 300℃까지 승온 후 다시 10 ℃/min의 속도로 냉각하면서 100℃에서 200℃ 구간의 기울기를 측정하였다. 그 결과는 하기 표 6에 나타내었다.For the coefficient of thermal expansion (CTE), TA's thermomechanical analyzer Q400 model was used, and the polyimide films of Examples 1-1 to 1-12 were cut into a width of 4 mm and a length of 20 mm, and then 0.05 N in a nitrogen atmosphere. While applying a tension of , the temperature was raised from room temperature to 300 ° C at a rate of 10 ° C / min, and then cooled again at a rate of 10 ° C / min to measure the slope of the 100 ° C to 200 ° C section. The results are shown in Table 6 below.

유리전이온도(Tg)는 DMA를 이용하여 각 필름의 손실 탄성률과 저장 탄성률을 구하고, 이들의 탄젠트 그래프에서 변곡점을 유리전이온도로 측정하였다. 그 결과는 하기 표 6에 나타내었다.For the glass transition temperature (Tg), the loss modulus and storage modulus of each film were obtained using DMA, and the inflection point was measured as the glass transition temperature in the tangent graph. The results are shown in Table 6 below.

CTE
(ppm/℃)
CTE
(ppm/℃)
Tg
(℃)
Tg
(℃)
실시예 1-1Example 1-1 18.818.8 335335 실시예 1-2Example 1-2 15.815.8 345345 실시예 1-3Example 1-3 15.715.7 338338 실시예 1-4Example 1-4 13.913.9 352352 실시예 1-5Example 1-5 8.38.3 310310 실시예 1-6Example 1-6 11.311.3 306306 실시예 1-7Examples 1-7 13.513.5 303303 실시예 1-8Examples 1-8 15.215.2 301301 실시예 1-9Examples 1-9 -- 320320 실시예 1-10Examples 1-10 -- 320320 실시예 1-11Example 1-11 -- 368368 실시예 1-12Examples 1-12 -- 350350

명세서는 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자이면 충분히 인식하고 유추할 수 있는 내용은 그 상세한 기재를 생략하였으며, 본 명세서에 기재된 구체적인 예시들 이외에 본 발명의 기술적 사상이나 필수적 구성을 변경하지 않는 범위 내에서 보다 다양한 변형이 가능하다. 따라서 본 발명은 본 명세서에서 구체적으로 설명하고 예시한 것과 다른 방식으로도 실시될 수 있으며, 이는 본 발명의 기술 분야에 통상의 지식을 가진 자이면 이해할 수 있는 사항이다.In the specification, details that can be sufficiently recognized and inferred by those skilled in the art of the present invention are omitted, and the technical spirit or essential configuration of the present invention other than the specific examples described in the present specification is not changed. More diverse modifications are possible within a limited range. Therefore, the present invention may be practiced in a manner different from that specifically described and exemplified herein, which can be understood by those skilled in the art.

Claims (10)

벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 디아민 성분을 포함하는 폴리아믹산 용액을 이미드화 반응시켜 얻어지고,
유전손실율(Df)이 0.004 이하이고,
표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 내지 3.0 nm이고,
표면거칠기(Rz)가 3.0 nm 내지 20 nm인, 폴리이미드 필름.
A dianhydride component containing at least one selected from the group consisting of benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) and m -Obtained by imidization reaction of a polyamic acid solution containing a diamine component containing at least one selected from the group consisting of m-tolidine and paraphenylene diamine (PPD),
The dielectric loss factor (Df) is 0.004 or less,
The surface roughness (Ra) is 0.1 nm to 3.0 nm,
A polyimide film having a surface roughness (Rz) of 3.0 nm to 20 nm.
제1항에 있어서,
상기 폴리이미드 필름은,
유전손실율(Df)이 0.0035 이하이고,
표면거칠기(Ra)가 1.0 nm 내지 2.0 nm이고,
표면거칠기(Rz)가 5.0 nm 내지 18 nm인, 폴리이미드 필름.
According to claim 1,
The polyimide film,
The dielectric loss factor (Df) is 0.0035 or less,
The surface roughness (Ra) is 1.0 nm to 2.0 nm,
A polyimide film having a surface roughness (Rz) of 5.0 nm to 18 nm.
제1항에 있어서,
상기 폴리이미드 필름은,
유전손실율(Df)이 0.0034 이하이고,
표면거칠기(Ra)가 1.0 nm 내지 1.8 nm이고,
표면거칠기(Rz)가 10.0 nm 내지 15 nm인, 폴리이미드 필름.
According to claim 1,
The polyimide film,
Dielectric loss factor (Df) is 0.0034 or less,
The surface roughness (Ra) is 1.0 nm to 1.8 nm,
A polyimide film having a surface roughness (Rz) of 10.0 nm to 15 nm.
제1항에 있어서, 상기 폴리이미드 필름은 포토닉 큐어링(photonic curing)에 의해 표면 처리된 것이고,
상기 포토닉 큐어링은 100 내지 800 nm의 파장,
200 내지 1,000 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간, 및
0.5 내지 5.0 J/cm2의 광에너지를 갖는 광펄스에 의한 것인, 폴리이미드 필름.
The method of claim 1, wherein the polyimide film is surface-treated by photonic curing,
The photonic curing has a wavelength of 100 to 800 nm,
A light pulse irradiation time of 200 to 1,000 microseconds (μs), and
0.5 to 5.0 J / cm 2 By the light pulse having a light energy of, a polyimide film.
제4항에 있어서, 상기 광펄스는 250 내지 650 V 범위의 인가전압에서 조사하는 것이고,
상기 포토닉 큐어링의 온도는 200 내지 700℃의 범위인 것인, 폴리이미드 필름.
The method of claim 4, wherein the light pulse is irradiated at an applied voltage in the range of 250 to 650 V,
The temperature of the photonic curing is in the range of 200 to 700 ℃, the polyimide film.
제1항에 있어서, 상기 폴리아믹산 필름은 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및
벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고,
상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 15 몰% 이상 45 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 55 몰% 이상 85 몰% 이하이고,
상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 55 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 25 몰% 이상 55 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 15 몰% 이상 30 몰% 이하인, 폴리아믹산 필름;
벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및
비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고,
상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 35 몰% 이하이고, 파라페닐렌 디아민의 함량이 65 몰% 이상 80 몰% 이하이고,
상기 제1 블록 및 상기 제2 블록의 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 벤조페논테트라카복실릭디안 하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 20 몰% 이하이고, 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 40 몰% 이상 60 몰% 이하이며, 피로멜리틱디안하이드라이드의 함량이 20 몰% 이상 45 몰% 이하인, 폴리아믹산 필름; 및
벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA) 및 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 파라페닐렌 디아민(PPD)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제1 블록; 및
피로멜리틱디안하이드라이드(PMDA)를 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(m-tolidine)을 포함하는 디아민 성분을 이미드화 반응시켜 얻어진 제2 블록;을 포함하는 블록 공중합체를 포함하고,
상기 이무수물산 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드의 함량이 10 몰% 이상 40 몰% 이하이며, 상기 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드의 함량이 30 몰% 이상 80 몰% 이하이고,
상기 디아민 성분의 총함량 100 몰%를 기준으로 상기 m-톨리딘의 함량이 20 몰% 이상 40 몰% 이하이고, 상기 파라페닐렌 디아민의 함량이 60 몰% 이상 80 몰% 이하인, 폴리아믹산 필름; 중에서 선택된 적어도 어느 하나인 것인, 폴리이미드 필름.
The first method of claim 1, wherein the polyamic acid film is obtained by imidizing a dianhydride component including biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and a diamine component including paraphenylene diamine (PPD). block; and
Second obtained by imidization of a dianhydride component including benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component including m-tolidine Including a block copolymer comprising a block;
The content of m-tolidine is 15 mol% or more and 45 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 55 mol% or more 85 less than mol%,
The content of benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 20 mol% or more and 55 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component of the first block and the second block, and biphenyltetracarboxylic dianhydride A hydride content of 25 mol% or more and 55 mol% or less, and a pyromellitic dianhydride content of 15 mol% or more and 30 mol% or less, a polyamic acid film;
An agent obtained by imidization of a dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and a diamine component including para-phenylene diamine (PPD) 1 block; and
An agent obtained by imidization of a dianhydride component including biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component including m-tolidine. 2 block; including a block copolymer comprising,
Based on 100 mol% of the total content of the diamine components of the first block and the second block, the content of m-tolidine is 20 mol% or more and 35 mol% or less, and the content of paraphenylene diamine is 65 mol% or more 80 less than mol%,
The content of benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 20 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component of the first block and the second block, and biphenyltetracarboxylic dian A hydride content of 40 mol% or more and 60 mol% or less, and a pyromellitic dianhydride content of 20 mol% or more and 45 mol% or less, a polyamic acid film; and
An agent obtained by imidization of a dianhydride component including benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and a diamine component including para-phenylene diamine (PPD) 1 block; and
A second block obtained by imidization of a dianhydride component containing pyromellitic dianhydride (PMDA) and a diamine component containing m-tolidine; Including a block copolymer comprising,
The content of the benzophenonetetracarboxylic dianhydride is 10 mol% or more and 40 mol% or less based on 100 mol% of the total content of the dianhydride component, and the content of the biphenyltetracarboxylic dianhydride is 30 mol % or more and 80 mol% or less,
Based on 100 mol% of the total content of the diamine component, the content of the m-tolidine is 20 mol% or more and 40 mol% or less, and the content of the paraphenylene diamine is 60 mol% or more and 80 mol% or less, a polyamic acid film ; At least one selected from the polyimide film.
제1항에 있어서, 열팽창계수(CTE)가 19 ppm/℃ 이하이며,
유리전이온도(Tg)가 400℃ 이상인,
폴리이미드 필름.
The method of claim 1, wherein the coefficient of thermal expansion (CTE) is 19 ppm / ℃ or less,
The glass transition temperature (Tg) is 400 ℃ or more,
polyimide film.
(a) 벤조페논테트라카복실릭디안하이드라이드(BTDA), 비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드(BPDA) 및 피로멜리틱 디안하이드라이드(PMDA)로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 이무수물산 성분과 m-톨리딘(mtolidine) 및 파라페닐렌 디아민(PPD)으로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 디아민 성분을 포함하는 폴리아믹산 용액을 지지체 상에 제막한 후, 이미드화 반응시켜 폴리아믹산 필름을 제조하는 단계; 및
(b) 상기 폴리아믹산 필름에 광펄스를 조사하여 포토닉 큐어링 공정으로 표면 처리된 폴리이미드 필름을 제조하는 단계; 를 포함하고,
상기 폴리이미드 필름은,
유전손실율(Df)이 0.004 이하이고,
표면거칠기(Ra)가 0.1 nm 내지 3.0 nm이고,
표면거칠기(Rz)가 가 3.0 nm 내지 20 nm인, 폴리이미드 필름의 제조방법.
(a) dianhydride containing at least one selected from the group consisting of benzophenone tetracarboxylic dianhydride (BTDA), biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) A polyamic acid solution containing a component and a diamine component including at least one selected from the group consisting of mtolidine and paraphenylene diamine (PPD) is formed on a support, and then subjected to imidation reaction to polyamic acid. making a film; and
(b) preparing a surface-treated polyimide film through a photonic curing process by irradiating light pulses to the polyamic acid film; including,
The polyimide film,
The dielectric loss factor (Df) is 0.004 or less,
The surface roughness (Ra) is 0.1 nm to 3.0 nm,
A method for producing a polyimide film having a surface roughness (Rz) of 3.0 nm to 20 nm.
제8항에 있어서, 상기 포토닉 큐어링은 250 내지 650 V 범위의 인가전압에서,
100 내지 800 nm의 파장,
200 내지 1,000 마이크로초(μs)의 광펄스 조사시간 및
0.5 내지 5.0 J/cm2의 광에너지의 조건으로 조사되는 광펄스에 의한 것인, 폴리이미드 필름의 제조방법.
The method of claim 8, wherein the photonic curing is performed at an applied voltage in the range of 250 to 650 V,
wavelengths from 100 to 800 nm;
Light pulse irradiation time of 200 to 1,000 microseconds (μs) and
0.5 to 5.0 J / cm 2 By light pulses irradiated under conditions of light energy, a method for producing a polyimide film.
제1항에 따른 폴리이미드 필름과 전기전도성의 금속박을 포함하는, 연성금속박적층판.A flexible metal clad laminate comprising the polyimide film according to claim 1 and the electrically conductive metal foil.
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