KR20230075177A - Method, device and recording medium for displaying analysis results regarding the problem expected items according to analysis method for orthodontic diagnosis - Google Patents
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Abstract
일 실시 예에 따라, 복수개의 랜드마크의 위치에 기초하여 복수개의 분석 항목에 대한 측정값의 이상 가능성을 결정하고, 이상 가능성에 따른 문제 예상 측정값 또는 문제 예상 항목을 디스플레이함으로써, 정상적인 범위에서 벗어나 문제가 되는 항목에 대해서 사용자 직관적인 인터페이스를 제공할 수 있는 방법이 개시된다.According to an embodiment, by determining the possibility of abnormality in measurement values for a plurality of analysis items based on the locations of a plurality of landmarks, and displaying problem expected measurement values or problem expected items according to the possibility of abnormality, it is out of the normal range. A method capable of providing a user-intuitive interface for a problematic item is disclosed.
Description
본 개시는 교정 진단에 관한 분석 결과를 디스플레이하는 방법, 디바이스 및 그 기록매체에 관한 것이다.The present disclosure relates to a method, a device, and a recording medium for displaying analysis results related to calibration diagnosis.
일반적으로 교정 치료를 진행할 때 환자의 문제를 진단하기 위해 임상적으로 촬영한 다양한 방사선 영상, 안모사진 등이 이용된다. 또한, 치과의사의 효율적인 진단을 위해 고안된 다양한 분석 방법들을 적용한 영상 분석이 이루어지고 있다.In general, various radiographic images, facial photographs, etc. clinically taken are used to diagnose a patient's problem during orthodontic treatment. In addition, image analysis using various analysis methods designed for efficient diagnosis by dentists is being performed.
종래에는 이와 같이 교정 치료에 필요한 다양한 영상들을 분석할 때 사용자가 분석 툴을 직접 찾아서 사용하고 분석 결과를 일일이 비교하여 확인해야 하는 등 사용자에게 번거로운 절차가 요구되어 사용자 편의성이 떨어지는 단점이 있다.Conventionally, when analyzing various images required for orthodontic treatment, the user has a disadvantage in that user convenience is reduced because cumbersome procedures are required for the user, such as finding and using an analysis tool and comparing and confirming the analysis results one by one.
이에, 상술한 문제점을 해결하고 교정 진단에 관한 과정 전반에서 사용자 편의성을 향상시키기 위한 기술이 요구되고 있다.Accordingly, there is a demand for a technique for solving the above-mentioned problems and improving user convenience throughout the calibration diagnosis process.
본 개시의 일 실시 예는 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 이미지를 기반으로 교정 진단에 관한 분석 결과를 제공하는 과정 전반에서 사용자 편의성을 향상시킬 수 있는 방법, 디바이스 및 기록매체를 제공하고자 고자 한다.An embodiment of the present disclosure is to solve the above-described problems of the prior art, and provides a method, device, and recording medium capable of improving user convenience throughout the process of providing an analysis result for calibration diagnosis based on an image. I want to do it.
해결하려는 기술적 과제는 상기된 바와 같은 기술적 과제로 한정되지 않으며, 통상의 기술자에게 자명한 범위 내에서 다양한 기술적 과제들이 더 포함될 수 있다.The technical problem to be solved is not limited to the technical problem as described above, and various technical problems may be further included within a range obvious to those skilled in the art.
본 개시의 제 1 측면에 따른 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 방법은 대상체에 대한 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하는 단계; 복수개의 분석 방식에서 각각 제공하는 복수개의 분석 항목 각각에 대한 복수개의 측정값을 상기 복수개의 랜드마크의 위치에 기초하여 결정하는 단계; 상기 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 상기 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정하는 단계; 상기 복수개의 측정값 중 문제가 있을 것으로 예상되는 일부 측정값을 나타내는 문제 예상 측정값을 상기 이상 가능성에 기초하여 결정하는 단계; 및 상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 단계;를 포함할 수 있다.A method of displaying an analysis result according to an analysis method according to a first aspect of the present disclosure includes determining locations of a plurality of landmarks with respect to an object; determining a plurality of measurement values for each of a plurality of analysis items provided by a plurality of analysis methods, based on locations of the plurality of landmarks; determining an abnormality possibility for the plurality of measured values based on statistical information on the plurality of analysis items; determining problem expected measurement values indicating some measurement values expected to have a problem among the plurality of measurement values based on the possibility of an abnormality; and displaying the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value.
또한, 상기 방법은 상기 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하는 단계; 및 상기 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계;를 더 포함할 수 있다.The method may further include obtaining a user input for selecting one of the plurality of analysis methods; and displaying a plurality of measurement values for a plurality of analysis items provided by an analysis method corresponding to the user input.
또한, 상기 이상 가능성은 상기 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 결정될 수 있다.In addition, the possibility of abnormality may be determined based on the average and/or standard deviation of the analysis items.
또한, 상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 단계는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 상기 측정값이 디스플레이되는 윈도우와 구별되는 별개의 윈도우에서 디스플레이할 수 있다.In addition, the step of displaying the problem prediction measurement value or the problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value may include displaying the problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value in a separate window distinct from a window in which the measurement value is displayed. can be displayed.
또한, 상기 방법은 상기 복수개의 랜드마크의 위치가 표시된 상기 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우에서 디스플레이하는 단계; 및 상기 복수개의 측정값을 제 2 윈도우에서 디스플레이하는 단계;를 더 포함하고, 상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목이 디스플레이되는 제 3 윈도우, 상기 제 1 윈도우 및 상기 제 2 윈도우는 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이될 수 있다.The method may further include displaying an image of the object in which the locations of the plurality of landmarks are displayed in a first window; and displaying the plurality of measurement values in a second window, wherein the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value is displayed in a third window, the first window and the problem prediction item. The second windows may be simultaneously displayed in regions separated from each other.
또한, 상기 제 1 윈도우는 상기 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지 및 제 2 시점의 이미지를 중첩하여 디스플레이하고, 상기 제 3 윈도우는 상기 문제 예상 항목에 대한 상기 제 1 시점의 측정값 및 상기 제 2 시점의 측정값을 함께 디스플레이할 수 있다.In addition, the first window overlaps and displays an image of a first view and a second view of the object, and the third window displays a measurement value of the problem prediction item at the first view and the second view. The measurement value of the viewpoint can be displayed together.
또한, 상기 방법은 상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계;를 더 포함하고, 상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계는 상기 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 상기 복수개의 측정값 각각에 대응하는 직선 상에 포인트로 표시하는 단계; 및 상기 복수개의 측정값 각각에 대응하는 포인트의 위치에 기초하여 상기 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 제 1 그래프를 디스플레이하는 단계;를 포함할 수 있다.In addition, the method further includes displaying the plurality of measurement values, and the displaying of the plurality of measurement values corresponds to the degree of deviation of the plurality of measurement values from the average, respectively. Marking a point on a straight line; and displaying a first graph indicating a degree of deviation of the plurality of measurement values from an average based on the position of a point corresponding to each of the plurality of measurement values.
또한, 상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계는 상기 복수개의 항목 각각에 대응하는 표준편차를 나타내는 제 2 그래프를 상기 제 1 그래프에 중첩하여 디스플레이하는 단계;를 더 포함할 수 있다. In addition, the displaying of the plurality of measurement values may further include displaying a second graph representing standard deviations corresponding to each of the plurality of items by overlapping the first graph with a second graph.
본 개시의 제 2 측면에 따른 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 디바이스는 대상체에 대한 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하고, 복수개의 분석 방식에서 각각 제공하는 복수개의 분석 항목 각각에 대한 복수개의 측정값을 상기 복수개의 랜드마크의 위치에 기초하여 결정하고, 상기 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 상기 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정하고, 상기 복수개의 측정값 중 문제 예상 측정값을 상기 이상 가능성에 기초하여 결정하는 프로세서; 및 상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 디스플레이;를 포함할 수 있다.A device for displaying analysis results according to an analysis method according to a second aspect of the present disclosure determines locations of a plurality of landmarks with respect to an object, and measures a plurality of analysis items respectively provided by a plurality of analysis methods. A value is determined based on the locations of the plurality of landmarks, an abnormality possibility for the plurality of measurement values is determined based on statistical information on the plurality of analysis items, and a problem expected measurement value among the plurality of measurement values a processor that determines based on the probability of abnormality; and a display configured to display the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value.
또한, 상기 프로세서는 상기 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하고, 상기 디스플레이는 상기 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이할 수 있다.The processor may obtain a user input for selecting one of the plurality of analysis methods, and the display may display a plurality of measurement values for a plurality of analysis items provided by an analysis method corresponding to the user input. there is.
또한, 상기 프로세서는 상기 이상 가능성은 상기 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 결정될 수 있다.Also, the processor may determine the abnormality probability based on the average and/or standard deviation of the analysis items.
또한, 상기 디스플레이는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 상기 측정값이 디스플레이되는 윈도우와 구별되는 별개의 윈도우에서 디스플레이할 수 있다.Also, the display may display a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value in a separate window distinct from a window in which the measurement value is displayed.
또한, 상기 디스플레이는 상기 복수개의 랜드마크의 위치가 표시된 상기 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우에서 디스플레이하고, 상기 복수개의 측정값을 제 2 윈도우에서 디스플레이하고, 상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목이 디스플레이되는 제 3 윈도우, 상기 제 1 윈도우 및 상기 제 2 윈도우는 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이될 수 있다.In addition, the display displays an image of the object in which the positions of the plurality of landmarks are displayed in a first window, displays the plurality of measurement values in a second window, and displays the problem expected measurement value or the problem expected measurement value. The third window, the first window, and the second window, in which the problem prediction item corresponding to the value is displayed, may be simultaneously displayed in areas separated from each other.
본 개시의 제 3 측면은 제 1 측면에 따른 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공할 수 있다. 또는, 본 개시의 제 4 측면은 제 1 측면에 따른 방법을 구현하기 위하여 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램을 제공할 수 있다.A third aspect of the present disclosure may provide a computer readable recording medium recording a program for executing the method according to the first aspect in a computer. Alternatively, the fourth aspect of the present disclosure may provide a computer program stored in a recording medium to implement the method according to the first aspect.
일 실시 예에 따르면, 측정값에 대한 분석을 통해 정상적인 범위에서 벗어난 문제 예상 측정값 또는 편차나 문제 예상 항목을 제공함으로써, 문제가 되는 항목이 어떤 부위와 어떠한 측면에서 관련되어 있는지에 대해 사용자 직관적인 인터페이스를 제공할 수 있다.According to one embodiment, by providing problem expected measurement values or deviations or problem expected items that are out of the normal range through analysis of the measured values, the user can intuitively determine which part and in which aspect the problem item is related. interfaces can be provided.
또한, 랜드마크의 위치가 표시된 이미지, 복수개의 측정값 및 문제 예상 항목을 서로 분리되는 영역에서 동시에 제공함으로써 사용자 편의성을 향상시킬 수 있다.In addition, user convenience can be improved by simultaneously providing an image with landmark locations, a plurality of measurement values, and problem prediction items in separate areas.
본 개시의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 개시의 상세한 설명 또는 특허청구범위에 기재된 개시의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The effects of the present disclosure are not limited to the above effects, and should be understood to include all effects that can be inferred from the configuration of the disclosure described in the detailed description or claims of the present disclosure.
도 1은 일 실시 예에 따른 디바이스의 구성의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 디바이스가 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 디바이스가 대상체에 대한 라테럴 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하고, 결정된 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 문제 예상 항목을 예시하는 도면이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 디바이스가 대상체에 대한 PA 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하고, 결정된 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 디바이스가 대상체에 대한 모델 이미지에서 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하고, 결정된 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 디바이스가 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지 및 제 2 시점의 이미지를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 디바이스가 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 방법을 나타내는 흐름도이다.1 is a block diagram illustrating an example of a configuration of a device according to an exemplary embodiment.
2 is a flowchart illustrating a method of displaying an analysis result according to an analysis method by a device according to an exemplary embodiment.
3 is a view for explaining an operation in which a device determines locations of a plurality of landmarks in a lateral projection image of an object and provides analysis results for a plurality of analysis items based on the determined locations, according to an exemplary embodiment; am.
4 is a diagram illustrating problem prediction items according to an embodiment.
5 is a diagram for explaining an operation in which a device determines locations of a plurality of landmarks in a PA projection image of an object and provides analysis results for a plurality of analysis items based on the determined locations, according to an exemplary embodiment; .
6 is a diagram for explaining an operation in which a device determines locations of a plurality of landmarks in a model image of an object and provides analysis results for a plurality of analysis items based on the determined locations, according to an exemplary embodiment.
7 is a diagram for explaining an operation of a device providing a first view image and a second view image of an object, according to an exemplary embodiment.
8 is a flowchart illustrating a method of displaying an analysis result according to an analysis method by a device according to an exemplary embodiment.
실시 예들에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.The terms used in the embodiments have been selected from general terms that are currently widely used as much as possible while considering the functions in the present invention, but they may vary according to the intention of a person skilled in the art or precedent, the emergence of new technologies, and the like. In addition, in a specific case, there is also a term arbitrarily selected by the applicant, and in this case, the meaning will be described in detail in the description of the invention. Therefore, the term used in the present invention should be defined based on the meaning of the term and the overall content of the present invention, not simply the name of the term.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 “포함”한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 “…부” 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.In the entire specification, when a part is said to "include" a certain component, it means that it may further include other components, not excluding other components unless otherwise stated. In addition, as described in the specification, "... Terms such as “unit” refer to a unit that processes at least one function or operation, which may be implemented as hardware or software, or a combination of hardware and software.
아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. However, the present invention may be implemented in many different forms and is not limited to the embodiments described herein.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 1은 일 실시 예에 따른 디바이스(100)의 구성의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 2는 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 방법을 나타내는 흐름도이다.1 is a block diagram illustrating an example of a configuration of a
도 1을 참조하면, 디바이스(100)는 프로세서(110) 및 디스플레이(120)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a
도 2를 참조하면, 단계 S210에서 프로세서(110)는 대상체에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 여기에서, 대상체는 환자의 신체 부위(예: 두부)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 대상체에 대한 이미지는 라테럴(Lateral) 투영 이미지, PA(Posterior, Anterior) 투영 이미지 및 모델 이미지 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 여기에서, 라테럴 투영 이미지는 대상체를 측면에서 촬영한 투영 이미지(예: 환자가 오른쪽을 보고 있는 상태에서 환자의 오른쪽 안모를 찍은 이미지)를 나타낸다. 또한, 명세서 전반에서, 투영 이미지는 X-ray 등 대상체를 투과한 광선을 이용하여 획득되는 이미지(예: CT(computed tomography) 이미지, 파노라마 이미지, 엑스레이 등)를 의미한다. 또한, PA 투영 이미지는 정면에서 촬영한 투영 이미지를 나타낸다. 또한, 모델 이미지는 대상체에 대해서 본을 뜬 석고모형 이미지, 또는 석고모형이나 대상체로부터 스캔을 통해 획득된 이미지를 나타낼 수 있다.Referring to FIG. 2 , in step S210, the
일 실시 예에서, 프로세서(110)는 대상체에 대해서 촬영된 이미지를 다른 디바이스(예: 이미지 촬영 장치)로부터 수신할 수 있다. 다른 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 디바이스(100)에 포함된 이미지 촬영 장치(미도시)를 제어하여 대상체에 대한 이미지를 촬영할 수 있다. 또 다른 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 메모리에 저장된, 대상체에 대한 이미지를 로딩할 수 있다.In an embodiment, the
단계 S220에서 프로세서(110)는 대상체에 대한 복수개의 랜드마크의 위치를 결정할 수 있다. 여기에서, 랜드마크는 이미지 상의 해부학적 지점을 나타내고, 랜드마크의 위치는 이미지에 대한 위치 좌표계를 나타내는 2차원(x, y) 또는 3차원(x, y, z) 위치 좌표에 기반하여 표현될 수 있다. 일 실시 예에서, 랜드마크(10)는 교정 진단에 이용되는 셀라(sella), 네이지온(nasion), 외측익돌근(pterygoid), 안와하연(orbitale), 베이지온(basion), 포리온(porion), 코퍼스(corpus), 하악점(pogonion), ANS(anterior nasal spine), PNS(posterior nasal spine), 상악 전치 1번 치근(예: maxilla 1 root), 하악 전치 1번 치관(예: mandible 1 crown) 등을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않으며, 그밖에 다양한 해부학적 지점들이 이용될 수 있다. 이에 관한 내용은 도 3을 더 참조하여 서술하도록 한다.In step S220, the
도 3은 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 대상체에 대한 라테럴 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크(10)의 2차원 위치 좌표를 나타내는 투영 위치를 결정하고, 결정된 투영 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a diagram in which the
도 3을 참조하면, 프로세서(110)는 라테럴 투영 이미지 기반의 분석 요청이 수신됨에 따라, 대상체에 대한 라테럴 투영 이미지를 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 라테럴 투영 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 라테럴 투영 이미지를 통해 수신되는 랜드마크(10)에 대한 사용자 입력에 따라 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(110)는 사전에 설정된 하나 이상의 랜드마크(10)의 투영 위치를 문의하는 메시지(예: 랜드마크 위치를 선택해주세요)를 라테럴 투영 이미지와 함께 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 해당 메시지 및 라테럴 투영 이미지를 디스플레이할 수 있다. 이어서, 프로세서(110)는 라테럴 투영 이미지 상의 특정 위치에 대한 사용자 입력(예: 선택 입력, 위치 좌표값 입력 등)이 수신되는 경우, 선택된 위치에 따라 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정할 수 있다. 명세서 전반에서, 사용자 입력은 마우스, 키보드, 조이스틱 등을 이용하여 인가되는 사용자의 선택 입력, 텍스트 입력 등을 폭넓게 의미할 수 있다.Referring to FIG. 3 , upon receiving a request for analysis based on a lateral projection image, the
다른 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 라테럴 투영 이미지에 대한 랜드마크 트레이싱을 수행하여 대상체에 대한 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 이미지 기반의 기계 학습을 통해 기 획득된 위치 판정 모델을 이용하여 라테럴 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크(10) 각각의 투영 위치를 검출할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 외부 디바이스(예: 서버)로부터 위치 판정 모델을 수신할 수 있고, 위치 판정 모델에 투영 이미지를 입력하여 투영 이미지 내에서 복수개의 랜드마크(10) 각각의 위치 좌표를 트레이싱할 수 있다. 일 실시 예에서, 위치 판정 모델은 CNN(Convolutional Neural Network), GAN(Generative Adversarial Net) 등에 기초하여 기계 학습을 수행하는 외부 디바이스로부터 획득될 수 있다.In another embodiment, the
단계 S230에서 디스플레이(120)는 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치가 표시된 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이(120)는 각 랜드마크(10)의 투영 위치를 라테럴 투영 이미지 상에 원형 마크로 표시하고, 이름, 좌표 등을 추가로 표시할 수 있다. 일 실시 예에서, 단계 S230은 단계 S270 이후에 수행될 수 있다.In step S230 , the
프로세서(110)는 복수의 랜드마크(10) 간의 위치관계를 나타내는 가이드 라인(20)을 획득할 수 있다. 프로세서(110)는 복수개의 랜드마크(10) 중 일부 또는 전부를 서로 연결하여 하나 이상의 가이드 라인(20)을 획득할 수 있다. 여기에서, 라인은 2차원(또는 3차원)의 이미지 상에서 표현되는 두 개 이상의 점을 연결하여 획득되는 직선, 곡선 또는 이들을 포함할 수 있고, 특정 신체부위(예: 치아, 연조직 등)의 바운더리에 대응하도록 형성되는 소정 형상의 라인을 포함할 수 있다. 프로세서(110)는 2차원(또는 3차원)으로 표현되는 하나 이상의 랜드마크(10)를 이용하여 2차원(또는 3차원) 상의 곡선을 정의할 수 있는 알고리즘들(예: 베지어 곡선, 스플라인 보간법, 다항회귀(polynomial regression) 등)을 이용하여 라인의 위치 정보를 결정할 수 있다.The
일 실시 예에서, 가이드 라인(20)은 설정된 기준에 따라, 복수개의 랜드마크(10) 중 포리온, 외측익돌근 및 안와하연을 연결하는 제 1 가이드 라인, 복수개의 랜드마크(10) 중 베이지온, 외측익돌근 및 네이지온을 연결하는 제 2 가이드 라인 등을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 일 실시 예에서, 가이드 라인(20)은 대상체에 대한 연조직의 형상이 나타내는 복수개의 제 3 가이드 라인을 더 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 가이드 라인(20)은 복수개의 랜드마크(10) 중 적어도 일부에 대한 조합을 통해 획득되는 직선, 곡선, 이들을 포함하는 형상의 라인을 포함할 수 있다.In one embodiment, the
디스플레이(120)는 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치와 가이드 라인(20)이 함께 표시된 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이할 수 있다.단계 S240에서 프로세서(110)는 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치에 기초하여 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치 및 가이드 라인(20)에 기초하여 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 결정할 수 있다. 여기에서, 분석 항목은 설정된 분석 방식에 따라 분석이 요구되는 대상 항목(예: Facial Convexity, 볼록함의 정도를 의미하는 안모(얼굴)의 돌출도)을 나타낸다. 예컨대, 분석 항목은 랜드마크(10)들 간의 거리 차이가 기준값과 차이 나는 정도, 랜드마크(10)와 가이드 라인(20) 간의 수직 거리 차이나 기울기가 각각의 기준값과 차이 나는 정도 등을 구체화한 항목을 포함할 수 있다. 또한, 측정값은 분석 항목에 대해서 해당 랜드마크(10)의 투영 위치에서 측정된 값(예: 10.52)을 나타낸다.The
여기에서, 복수개의 분석 항목은 복수개의 분석 방식에 의해 제공될 수 있다. 복수개의 분석 방식은 디바이스(100)에 기저장되어 있을 수 있고, 또는 단계 S240 이전에 다른 디바이스(예: 서버)로부터 수신되는 방식으로 준비될 수 있다. 복수개의 분석 방식 각각은 2차원 또는 3차원 이미지를 기반으로 교정 진단에 관한 분석을 수행하기 위한 분석 기법을 나타낸다. 일 실시 예에서, 복수개의 분석 방식은 리케츠(Ricketts) 분석 기법, 스타이너(Steiner) 분석 기법, 다운스(Downs) 분석 기법, 인테그라 CJH(Integra by CJH) 분석기법 등을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 복수개의 분석 방식 각각은 이미지의 종류에 따라 정의되는 복수개의 분석 항목 및 각각에 대한 측정 방법에 대한 정보를 포함할 수 있다.Here, a plurality of analysis items may be provided by a plurality of analysis methods. A plurality of analysis methods may be pre-stored in the
단계 S250에서 디스플레이(120)는 복수개의 측정값을 제 2 윈도우(320)에서 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(110)는 복수개의 분석 방식의 명칭, 복수개의 분석 항목의 명칭, 각 분석 항목에 대한 측정값 등의 정보를 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 제공된 정보를 제 1 윈도우(310)와 구별되는 제 2 윈도우(320)에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 단계 S250은 단계 S270 이후에 수행될 수 있다.In step S250, the
프로세서(110)는 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하고, 디스플레이(120)는 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이(120)는 분석 방식을 선택하기 위한 인터페이스로서 분석 방식 선택 메뉴(321)를 제 1 윈도우(310)의 상부 영역에 디스플레이할 수 있다. 프로세서(110)는 분석 방식 선택 메뉴(321)를 통해 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력이 수신되는 경우, 해당 사용자 입력에 대응하는 분석 방식을 결정할 수 있다. 만일 사용자에 의해 선택된 분석 방식이 'Integra by CJH'인 경우, 프로세서(110)는 'Integra by CJH'에서 제공하는 복수개의 분석 항목인 Saddle angle(예: 정상수치 기준으로 아래턱의 전후방적 위치를 판단하기 위한 항목), Bjork Sum, Articular angle 등에 대해서 'Integra by CJH'에서 정의하는 측정 방법에 따라 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 산출할 수 있다.The
프로세서(110)는 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보를 복수개의 측정값과 함께 제 2 윈도우(320)에 제공할 수 있다. 일 실시 예에서, 분석 항목에 대한 통계 정보는 각각의 분석 항목에 관하여 기수집된 표본에 대한 평균(Mean), 표준편차(Standard Deviation) 및 중간값(Median) 중 적어도 하나를 포함할 수 있고, 그 밖에도 표본에 대한 분산, 최빈값, 백분위수 등 다양한 통계학적 대표값을 포함할 수 있다. 분석 항목에 대한 통계 정보는 디바이스(100)에 기저장되어 있을 수 있고, 또는 단계 S250 이전에 다른 디바이스(예: 서버)로부터 수신되는 방식으로 준비될 수 있다.The
일 실시 예에서, 프로세서(110)는 각 분석 항목에 대한 평균에 기초하여 각 분석 항목의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 편차(Difference)를 결정하고, 편차를 복수개의 측정값과 함께 제 2 윈도우(320)에 제공할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(110)는 도 3에 도시된 것처럼, 분석 방식의 명칭(예: Integra by CJH), 분석 항목의 명칭(예: Facial Convexity), 해당 표본에 대한 평균(예: 3.60), 표준편차(예: 4.60), 측정값(예: -6.92) 및 편차(예: 10.52)를 포함하는 분석 결과를 제 2 윈도우(320)에 제공할 수 있다(식별번호 322 참조). In one embodiment, the
디스플레이(120)는 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 복수개의 편차를 포함하는 제 1 그래프(30)를 제 2 윈도우(320)에 디스플레이할 수 있다. 여기에서, 제 1 그래프(30)는 각 분석 항목에 대해서 측정값이 표준편차 범위 내에서 어느 정도의 편차를 갖는지 시각적으로 나타낸 그래프를 의미한다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 제 1 그래프(30)를 제 2 윈도우(320) 내의 그래프 영역(323)에 디스플레이할 수 있다.The
구체적으로, 그래프 영역(323)에서 x축은 각 분석 항목의 값을 나타내고, y축은 각 분석 항목을 나타낸다. 또한, y축 상에는 각 분석 항목의 평균값이 위치하도록 각 분석 항목의 x축들이 배치된다. 각 x축은 각 분석 항목에 대해 지정된 관측값 범위 또는 표준편차 범위를 표시하도록 스케일링될 수 있다. 프로세서(110)는 각각의 분석 항목에 대한 측정값의 편차를 각각의 x축 상에 표시하고, 각 편차들을 연결하여 제 1 그래프(30)를 획득할 수 있다.Specifically, in the
이와 같이, x축 중심에 각 분석 항목의 평균값이 위치하도록 스케일링됨에 따라, 사용자는 제 1 그래프(30)가 x축 중심으로부터 벗어난 정도가 클수록, 해당 측정값이 평균에서 벗어난 정도가 크다는 것을 직관적으로 확인할 수 있다.In this way, as the average value of each analysis item is scaled to be located at the center of the x-axis, the user can intuitively understand that the greater the degree of deviation of the
디스플레이(120)는 복수개의 분석 항목 각각에 대응하는 표준편차를 나타내는 제 2 그래프(40)를 제 1 그래프(30)에 중첩하여 디스플레이 할 수 있다 예를 들면, 프로세서(110)는 각각의 분석 항목에 대한 표준편차 1σ에 대응하는 두 개의 지점을 각각의 x축 상에 표시할 수 있다. 이어서, 프로세서(110)는 y축 이분면의 일측(예: 좌반면)에 위치한 표준편차 1σ 지점들을 연결한 제 2-1 그래프 및 y축의 다른 일측(예: 우반면)에 위치한 표준편차 1σ 지점들을 연결한 제 2-2 그래프를 포함하는 제 2 그래프(40)를 획득할 수 있다. 또한, 디스플레이(120)는 제 2-1 그래프 및 제 2-2 그래프를 제 1 그래프(30)에 중첩하여 디스플레이할 수 있다.The
이와 같이, 제 1 그래프(30)와 제 2 그래프(40)가 중첩하여 제공됨에 따라, 사용자는 각 분석 항목의 측정값이 통계적으로 표준 편차 범위 내에 있는지, 표준 편차 범위에서 벗어났다면 편차가 어느 정도인지 등을 직관적으로 확인할 수 있다.In this way, as the
프로세서(110)는 제 2 그래프(40)가 직선이 되도록 스케일링할 수 있다. 예를 들면, 제 2-1 그래프 및 제 2-2 그래프 각각이 특정 x축 좌표를 지나는 수직선이 되도록, 각각의 분석 항목에 대한 x축의 값 범위를 조정하여 제 2 그래프(40) 및 제 1 그래프(30)를 갱신할 수 있다. 예컨대, 제 2-1 그래프는 그래프 영역(323) 내에서는 제 1 지점의 x축 좌표를 통과하고, 각 분석 항목에 대해서는 y축 좌반면 상의 일 점을 통과하는 제 1 수직선이 되도록, 각 분석 항목에 대해서 그래프 영역(323)에 시각화되는 관측값 범위가 조정될 수 있다. 또한, 제 2-2 그래프는 그래프 영역(323) 내에서는 제 2 지점의 x축 좌표를 통과하고, 각 분석 항목에 대해서는 y축 우반면 상의 일 점을 통과하는 제 2 수직선이 되도록, 각 분석 항목에 대해서 그래프 영역(323)에 시각화되는 관측값 범위가 조정될 수 있다. 이와 같이, 표준편차 범위가 y축 좌반면, 우반면에서 각각 수직선이 되도록 그래프 영역(323)에 시각화되는 관측값 범위가 스케일링됨에 따라, 사용자는 모든 분석 항목에 대해서 측정값이 통계적인 허용 범위 대비 차이가 나는 정도가 어떠한지 직관적으로 확인할 수 있다.The
단계 S260에서 프로세서(110)는 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(110)는 각 분석 항목에 대한 측정값을 평균과 비교하여 편차를 산출하고, 산출된 편차에 비례하도록 이상 가능성을 수치화된 값으로 산출할 수 있다. 다른 예를 들면, 프로세서(110)는 산출된 편차가 각 분석 항목에 대한 표준편차 범위에서 벗어나는지 여부에 따라 이상 여부를 결정할 수 있다.In step S260, the
단계 S270에서 프로세서(110)는 이상 가능성에 기초하여 복수개의 측정값 중 문제가 있을 것으로 예상되는 일부 측정값을 나타내는 문제 예상 측정값을 결정할 수 있다. 여기에서, 문제 예상 항목을 결정하는 것은 측정값에 대한 분석을 통해 정상적인 범위에서 벗어난 수치를 도출하는 것을 의미한다. 예컨대, 분석 항목 Facial Convexity의 측정값에 대해서 결정된 이상 가능성이 기준값보다 큰 경우, 분석 항목 Facial Convexity의 측정값은 문제 예상 측정값에 포함될 수 있다.In step S270, the
일 실시 예에서, 프로세서(110)는 각각의 분석 항목에 대해서 이상 가능성이 기준값 이상인지 여부에 따라 문제 예상 측정값을 결정할 수 있다. 다른 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 이상 가능성이 큰 정도, 차이가 나는 방향성(예: 양(+)의 차이, 음(-)의 차이) 등에 기초하여 문제 예상 측정값을 결정할 수 있다.In an embodiment, the
프로세서(110)는 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 결정할 수 있다. 예를 들면, 문제 예상 측정값으로 결정된 분석 항목 Facial Convexity와 대응 관계가 설정된 문제 예상 항목 Convex Profile를 검출할 수 있다. 이에 관한 내용은 도 3을 더 참조하여 서술하도록 한다.The
도 4는 일 실시 예에 따른 문제 예상 항목을 예시하는 도면이다.4 is a diagram illustrating problem prediction items according to an embodiment.
도 4를 참조하면, 각각의 문제 예상 항목은 하나 이상의 분석 항목과 대응되고, 각각의 분석 항목은 하나 이상의 서로 다른 문제 예상 항목과 대응될 수 있다. 이에 따라, 문제가 있을 것으로 예상되는 문제 예상 측정값이 결정되는 경우, 문제 예상 측정값의 분석 항목에 대응하는 문제 예상 항목이 함께 검출될 수 있다. 일 실시 예에서, 문제 예상 항목은 돌출형 안면을 나타내는 Convex Profile, 함몰형 안면(예: 주걱턱)을 나타내는 Concave Facial, 돌출교합을 나타내는 Protrusive Mx., 원심교합을 나타내는 Pretrusive Mx. 등을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않으며, 진료 과정에서 이용되는 다양한 의학적 용어들을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4 , each problem prediction item corresponds to one or more analysis items, and each analysis item may correspond to one or more different problem prediction items. Accordingly, when a problem prediction measurement value that is expected to have a problem is determined, a problem prediction item corresponding to an analysis item of the problem prediction measurement value may be detected together. In one embodiment, the expected problem items include Convex Profile representing a protruding face, Concave Facial representing a depressed face (eg, protruding jaw), Protrusive Mx representing protruding occlusion, and Pretrusive Mx representing centrifugal occlusion. It may include, but is not limited thereto, and may include various medical terms used in the treatment process.
일 실시 예에서, 이미지 종류(예: 라테럴 투영 이미지, PA 이미지, 모델 이미지) 및 대상 부위(예: 안모, 골격, 덴탈)에 따라 상이한 분석 방식 및 분석 항목이 적용될 수 있고, 이에 따라 상이한 문제 예상 항목이 결정될 수 있다. 예컨대, 프로세서(110)는 Integra by CJH 분석 방식에 따라 얼굴 프로파일 카테고리로 분류되는 분석 항목 Facial Convexity에 대한 측정값을 산출하고, 측정값을 통계값(예: 남성 6.6 이상, 여성 8.2 이상)과 비교하여 이상 가능성을 산출할 수 있다. 만일 이상 가능성에 기초하여 문제 예상 측정값으로 결정되는 경우, 프로세서(110)는 분석 항목 Facial Convexity에 대응하는 문제 예상 항목 Convex Profile을 검출할 수 있다.In one embodiment, different analysis methods and analysis items may be applied depending on the type of image (eg, lateral projection image, PA image, model image) and target part (eg, face, skeleton, dental), and accordingly, different problems Expected items can be determined. For example, the
단계 S280에서 디스플레이(120)는 문제 예상 측정값 또는 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 제 3 윈도우(330)에서 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 문제 예상 항목의 명칭(예: Convex Profile), 해당 분석 항목의 명칭(예: Facial Convexity) 및 이상 가능성(예: 편차, 10.52)을 제 2 윈도우(320)와 구별되는 영역인 제 3 윈도우(330)에 디스플레이할 수 있다(식별번호 331 참조). 예를 들면, 디스플레이(120)는 문제 예상 항목의 명칭을 먼저 표시하고, 이어서 괄호와 함께 어떤 분석 방식에 따라 분석되었는지 표시할 수 있다. 식별번호 331에 도시된 “Convex Profile (Facial Convexity: -6.92**)”의 경우, “Convexity : -6.96**는 Facial Convexity라는 분석 항목이 10.52로 측정되었다는 의미이며, Convex Profile는 그러한 측정값에 따를 때 돌출된 얼굴 형태라는 문제가 있을 것으로 예상된다는 의미이다. 이와 같이, 이러한 측정값을 가졌다고 해서 항상 Convex Profile이라는 문제가 발생하는 것은 아니지만, 관련성이 높으므로 사용자에게 확인할 것을 권장하는 문제 예상 항목에 대한 요약 정보를 제공할 수 있다.In step S280 , the
디스플레이(120)는 제 1 윈도우(310), 제 2 윈도우(320) 및 제 3 윈도우(330)를 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 도 2에서와 같이, 단계 S230, S250, S280이 단계 S270 이후에 수행됨에 따라, 디스플레이(120)는 제 1 윈도우(310)에 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치가 표시된 라테럴 투영 이미지를, 제 2 윈도우(320)에 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을, 제 3 윈도우(330)에 복수개의 측정값으로부터 결정된 하나 이상의 문제 예상 항목을 동시에 디스플레이할 수 있다.The
디스플레이(120)는 제 2 윈도우(320)에서 문제 예상 측정값에 대응하는 분석 항목의 이름(예: Facial convexity), 평균, 표준편차, 측정값, 편차 등의 색상, 크기, 표시 방식 등을 다른 측정값들과 상이하게 디스플레이할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 문제 예상 측정값 각각에 대해서 편차가 속하는 범위에 따라서 상이한 색상으로 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(110)는 문제 예상 측정값들에 대해서 해당 분석 방식(예: Integra by CJH)에 따를 때 평균값을 벗어나 문제가 있는 것으로 분석되는 경우, 편차에 따른 이상 가능성이 기준값 이상이면 적색으로 표시하고, 기준값 미만이면 주황색으로 표시할 수 있다.In the
이와 같이, 프로세서(110)는 측정값에 대한 분석을 통해 정상적인 범위에서 벗어난 수치를 도출하여 문제 예상 항목으로 제공함으로써, 문제가 되는 항목이 어떤 부위와 어떠한 측면에서 관련되어 있는지에 대해 사용자 직관적인 인터페이스를 제공할 수 있다.In this way, the
일 실시 예에서, 프로세서(110)는 분류 카테고리 및 이상 가능성이 큰 정도에 기초하여 복수개의 문제 예상 항목을 그루핑하고, 디스플레이(120)는 그루핑에 따라 상이한 색상으로 문제 예상 항목을 디스플레이할 수 있다. 예컨대, 도 3에서와 같이, 프로세서(110)는 문제 예상 측정값이 큰 정도에 따라 3개의 그룹으로 문제 예상 항목을 분류하고, 디스플레이(120)는 각 그룹에 대응되는 색상(예: 적색, 황색, 청색)으로 각 그룹의 문제 예상 항목에 대한 정보를 제 3 윈도우(330)에 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 문제 예상 측정값이 제1값 미만로 경미한 제 1 그룹은 주황색으로, 제2값 이상으로 심각한 제 3 그룹은 적색으로 표시할 수 있다. 또한, 디스플레이(120)는 제 2 윈도우(320)에 디스플레이되는 복수개의 분석 항목 중 문제 예상 측정값에 대응하는 분석 항목에 대한 정보를 해당 문제 예상 항목의 그룹에 대응되는 색상으로 디스플레이할 수 있다. 또한, 디스플레이(120)는 제 2 윈도우(320)에 디스플레이되는 복수개의 분석 항목 중 문제 예상 측정값을 제외한 나머지 분석 항목에 대해서는 기본 색상(예: 흑색)으로 디스플레이할 수 있다.In an embodiment, the
일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 대상체에 대한 이미지 상에 복수개의 측정값을 표시할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이(120)는 제 1 윈도우(310)에 디스플레이된 라테럴 투영 이미지 상에 각각의 측정값을 제 2 윈도우(320)에서 표시되는 색상과 동일한 색상으로 중첩하여 표시할 수 있다.In an embodiment, the
도 5는 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 대상체에 대한 PA 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정하고, 결정된 투영 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram in which the
도 5는 도 1 내지 도 4에 개시된 디바이스(100)가 동작하는 모든 실시 예를 참조하여 이해될 수 있다. 상술한 실시 예들과 마찬가지로, 디스플레이(120)는 PA 투영 이미지 기반의 분석 요청이 수신됨에 따라, 대상체에 대한 PA 투영 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이하고, 프로세서(110)는 PA 투영 이미지에서 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 분석 방식 선택 메뉴(321)를 통해 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하고, 사용자 입력에 대응하는 분석 방식(예: H ANALYSIS)에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이(120)에 제공하며, 디스플레이(120)는 제공된 측정값을 제 2 윈도우(320)에서 디스플레이할 수 있다 또한, 프로세서(110)는 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성에 기초하여 문제 예상 항목을 결정하고, 디스플레이(120)는 문제 예상 항목을 제 3 윈도우(330)에서 디스플레이할 수 있다. 마찬가지로, 프로세서(110)는 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 제 1 그래프(30)와 복수개의 측정값 각각에 대응하는 표준편차를 나타내는 제 2 그래프(40)를 획득하고, 디스플레이(120)는 제 1 그래프(30) 및 제 2 그래프(40)를 그래프 영역(323)에 디스플레이할 수 있다.5 may be understood with reference to all embodiments in which the
도 6은 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 대상체에 대한 모델 이미지에서 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정하고, 결정된 투영 위치를 기반으로 복수개의 분석 항목에 대한 분석 결과를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.6 is a
도 6은 도 1 내지 도 5에 개시된 디바이스(100)가 동작하는 모든 실시 예를 참조하여 이해될 수 있다. 상술한 실시 예들과 마찬가지로, 디스플레이(120)는 모델 이미지 기반의 분석 요청이 수신됨에 따라, 대상체에 대한 상악 모델 이미지 및 하악 모델 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이하고, 프로세서(110)는 상악 모델 이미지 및 하악 모델 이미지에서 복수개의 랜드마크(10)의 위치를 결정할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 제공된 측정값을 제 2 윈도우(320)에서 디스플레이할 수 있다 또한, 프로세서(110)는 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성에 기초하여 문제 예상 항목을 결정하고, 디스플레이(120)는 문제 예상 항목을 제 3 윈도우(330)에서 디스플레이할 수 있다. 마찬가지로, 프로세서(110)는 제 1 그래프(30)와 제 2 그래프(40)를 획득하고, 디스플레이(120)는 제 1 그래프(30)와 제 2 그래프(40)를 그래프 영역(323)에 디스플레이할 수 있다.6 may be understood with reference to all embodiments in which the
도 7은 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지(50) 및 제 2 시점의 이미지(60)를 제공하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 7 is a diagram for explaining an operation in which the
도 7을 참조하면, 프로세서(110)는 제 1 윈도우(310)에 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지(50) 및 제 2 시점의 이미지(60)를 획득할 수 있다.Referring to FIG. 7 , the
일 실시 예에서, 제 1 시점의 이미지(50)는 대상체에 대해서 획득된 복수개의 라테럴 투영 이미지 중 가장 먼저 획득된 라테럴 투영 이미지를 이용하여 획득되는 라인 이미지이고, 제 2 시점의 이미지(60)는 가장 나중에 획득된 라테럴 투영 이미지를 이용하여 획득되는 라인 이미지일 수 있다. 프로세서(110)는 대상체에 대해서 획득된 제 1 시점의 라테럴 투영 이미지를 이용하여 제 1 시점의 랜드마크(11)들의 투영 위치를 결정하고, 제 1 시점의 랜드마크(11)들을 서로 연결한 복수개의 제 1 라인을 포함하는 제 1 시점의 이미지(50)를 획득할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 대상체에 대해서 획득된 제 2 시점의 라테럴 투영 이미지를 이용하여 제 2 시점의 랜드마크(12)들의 투영 위치를 결정하고, 제 2 시점의 랜드마크(12)들을 서로 연결한 복수개의 제 2 라인을 포함하는 제 2 시점의 이미지(60)를 획득할 수 있다.In an embodiment, the
다른 실시 예에서, 제 1 시점의 이미지(50)는 대상체에 대해서 획득된 복수개의 라테럴 투영 이미지 중 가장 나중에 획득된 투영 이미지를 이용하여 획득되는 현재 시점의 라인 이미지이고, 제 2 시점의 이미지(60)는 제 1 시점의 이미지(50)에 대한 분석을 통해 예측되는 미래 시점의 라인 이미지일 수 있다. 프로세서(110)는 대상체에 대해서 획득된 제 1 시점의 라테럴 투영 이미지를 이용하여 제 1 시점의 랜드마크(11)들의 투영 위치를 결정하고, 제 1 시점의 랜드마크(11)들을 서로 연결한 복수개의 제 1 라인을 포함하는 제 1 시점의 이미지(50)를 획득할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 복수개의 제 1 라인을 복수개의 기준에 따라 갱신하여 획득한 복수개의 제 2 라인을 포함하는 제 2 시점의 이미지(60)를 획득할 수 있다.In another embodiment, the
프로세서(110)는 제 1 윈도우(310)에 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지(50) 및 제 2 시점의 이미지(60)를 중첩하여 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 중첩 이미지를 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 이미지 중첩 기반의 분석 요청이 수신됨에 따라, 제 1 시점의 이미지(50) 및 제 2 시점의 이미지(60)를 중첩하여 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 중첩 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 제 1 시점의 이미지(50) 및 제 2 시점의 이미지(60)를 상이한 색상으로 디스플레이할 수 있다.The
프로세서(110)는 복수개의 제 1 라인 중 일부와 복수개의 제 2 라인 중 일부를 중첩하여 하나 이상의 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320)에서 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 코 끝과 턱 끝을 연결한 라인 및 제 2 시점의 코 끝과 턱 끝을 연결한 라인이 중첩된 제 1 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 제 1 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 상악골을 연결한 라인 및 제 2 시점의 상악골을 연결한 라인이 중첩된 제 2 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 호기득된 제 2 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 하악전치와 하악제1대구치를 연결한 라인과 제 2 시점의 하악전치와 하악제1대구치를 연결한 라인이 중첩된 제 3 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 제 3 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 하악골을 연결한 라인과 제 2 시점의 하악골을 연결한 라인이 중첩된 제 4 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 제 4 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 상악전치와 상악제1대구치를 연결한 라인 및 제 2 시점의 상악전치와 상악제1대구치를 연결한 라인이 중첩된 제 5 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 제 5 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 라인 중첩 이미지 내지 제 5 라인 중첩 이미지를 중첩한 제 6 라인 중첩 이미지를 획득하고, 디스플레이(120)는 획득된 제 6 라인 중첩 이미지를 제 2 윈도우(320) 중 일부 영역에 디스플레이할 수 있다.The
프로세서(110)는 제 1 시점의 랜드마크(11)들의 투영 위치에 기초하여 복수개의 분석 항목에 대한 제 1 시점의 측정값을 획득하고, 제 1 시점의 측정값에 대한 이상 가능성에 기초하여 제 1 시점의 문제 예상 항목을 결정할 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 제 2 시점의 랜드마크(12)들의 투영 위치에 기초하여 복수개의 분석 항목에 대한 제 2 시점의 측정값을 획득하고, 제 2 시점의 측정값에 대한 이상 가능성에 기초하여 제 2 시점의 문제 예상 항목을 결정할 수 있다.The
프로세서(110)는 문제 예상 항목에 대한 제 1 시점의 측정값 및 제 2 시점의 측정값을 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 제공된 측정값들을 제 3 윈도우(330)에서 함께 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 제 1 시점의 문제 예상 항목에 대해서 제 1 시점의 측정값, 제 2 시점의 측정값 및 분석 항목에 대한 정보를 제 3 윈도우(330)에 함께 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 식별번호 332에 도시된 것처럼, 프로세서(110)는 제 1 시점의 문제 예상 항목 'Normal Lower Lip' 및 해당 분석 항목 'Lower Lip EL'의 측정값에 대해서, 제 1 시점에서 1.8이었던 것이 제 2 시점에서 1.42로 변경되었음을 나타낼 수 있다.The
이와 같이, 단순화된 형태의 라인 이미지가 중첩 제공됨에 따라, 사용자는 서로 다른 시점에서의 라인 변화에 대해서 시각적으로 보다 용이하게 확인할 수 있다. 또한, 제 1 시점과 제 2 시점의 차이점에 대한 정보가 별개의 윈도우에 함께 제공됨에 따라, 사용자는 서로 다른 시점에서의 수치 차이를 직관적으로 확인할 수 있다.In this way, as simplified line images are overlapped and provided, the user can more easily visually check line changes at different viewpoints. In addition, as the information on the difference between the first and second views is provided in a separate window, the user can intuitively check the numerical difference between the different views.
프로세서(110)는 문제 예상 항목에 대한 측정값의 변화가 바람직한지 여부에 대한 정보를 제 3 윈도우(330)에 함께 제공할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 제 1 시점의 측정값을 기준으로 제 2 시점의 측정값으로의 변화 증감이 해당 분석 항목에 대한 평균에 가까워지는 방향인지, 표준 편차 내에 있는지 등에 대한 정보를 측정값과 함께 디스플레이(120)에 제공하고, 디스플레이(120)는 제공된 정보들을 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 변화 증감이 해당 분석 항목에 대한 평균에 가까워지는 방향인 경우, 해당 문제 예상 항목을 제 1 색상(예: 청색)으로 디스플레이하고, 평균에서 멀어지는 방향인 경우, 해당 문제 예상 항목을 제 2 색상(예: 적색)으로 디스플레이할 수 있다.The
이와 같이, 프로세서(110)는 서로 다른 시점에서의 라인 변화에 대해서 차이점을 나타내면서 그러한 변화가 바람직한지에 대한 정보도 함께 제공할 수 있다.In this way, the
일 실시 예에서, 프로세서(110)는 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 일련의 동작들을 수행할 수 있고, 디스플레이(120) 및 그 밖의 구성요소들과 전기적으로 연결되어 이들 간의 데이터 흐름을 제어할 수 있다. 이를 위해 프로세서(110)는 디바이스(100)의 동작 전반을 제어하는 CPU(central processor unit)로 구현될 수 있다. 또한, 디스플레이(120)는 프로세서(110)의 제어에 따라 명세서 전반에서 기술된 다양한 정보들을 디스플레이할 수 있다. 디스플레이(120)는 이미지를 디스플레이하는 이미지 출력 장치를 포괄적으로 의미할 수 있으며, 예를 들면, 액정 디스플레이(liquid crystal display), 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display), 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode), 플렉시블 디스플레이(flexible display), 3차원 디스플레이(3D display), 전기영동 디스플레이(electrophoretic display) 등일 수 있다.In one embodiment, the
또한, 도 1에 도시된 구성요소들 외에 다른 범용적인 구성요소들이 디바이스(100)에 더 포함될 수 있음을 관련 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 수 있다. 일 실시 예에 따를 경우, 디바이스(100)는 다른 디바이스와 유무선 네트워크를 통해 통신하기 위한 통신부, 사용자 입력을 수신하는 사용자 인터페이스, 데이터를 저장하는 저장부(예: 메모리, 데이터베이스, 클라우드) 등을 더 포함할 수 있다. 다른 실시 예에 따를 경우, 도 1에 도시된 구성요소들 중 일부는 생략될 수도 있다.In addition, those of ordinary skill in the art may understand that other general-purpose components may be further included in the
도 8은 일 실시 예에 따른 디바이스(100)가 분석 방식에 따른 분석 결과를 디스플레이하는 방법을 나타내는 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating a method of displaying, by the
단계 S810에서 프로세서(110)는 대상체에 대한 복수개의 랜드마크(10)의 위치를 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 대상체에 대한 라테럴 투영 이미지, PA 투영 이미지 및 모델 이미지 중 적어도 하나를 포함하는 이미지를 획득하고, 라테럴 투영 이미지에 대한 사용자 입력에 따라 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치를 결정할 수 있다.In step S810, the
단계 S820에서 프로세서(110)는 복수개의 분석 방식에서 각각 제공하는 복수개의 분석 항목 각각에 대한 복수개의 측정값을 복수개의 랜드마크(10)의 위치에 기초하여 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하고, 디스플레이(120)는 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이할 수 있다.In step S820, the
단계 S830에서 프로세서(110)는 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 이상 가능성은 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 결정될 수 있다.In step S830, the
단계 S840에서 프로세서(110)는 복수개의 측정값 중 문제가 있을 것으로 예상되는 일부 측정값을 나타내는 문제 예상 측정값을 이상 가능성에 기초하여 결정할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(110)는 이상 가능성이 기준값보다 큰 하나 이상의 분석 항목의 측정값을 문제 예상 측정값으로 결정할 수 있다.In step S840, the
단계 S850에서 디스플레이(120)는 문제 예상 측정값 또는 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이(120)는 복수개의 랜드마크(10)의 투영 위치가 표시된 상기 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우(310)에서 디스플레이하고, 복수개의 측정값을 제 2 윈도우(320)에서 디스플레이하고, 문제 예상 측정값 또는 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목이 제 3 윈도우(330)에서 디스플레이할 수 있다. 일 실시 예에서, 제 1 윈도우(310), 제 2 윈도우(320) 및 제 3 윈도우(330)는 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이될 수 있다.In step S850, the
본 개시의 일 실시 예에 따르면, 디바이스(100)는 측정값에 대한 분석을 통해 정상적인 범위에서 벗어난 문제 예상 측정값 또는 문제 예상 항목을 제공함으로써, 문제가 되는 항목이 어떤 부위와 어떠한 측면에서 관련되어 있는지에 대해 사용자 직관적인 인터페이스를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the
이상에서 도시된 단계들의 순서 및 조합은 일 실시 예이고, 명세서에 기재된 각 구성요소들의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 순서, 조합, 분기, 기능 및 그 수행 주체가 추가, 생략 또는 변형된 형태로 다양하게 실시될 수 있음을 알 수 있다. 또한, 명세서 전체에서 '제공'은 대상이 특정 정보를 획득하거나 직간접적으로 특정 대상에게 송수신하는 과정을 포함하며 이러한 과정에서 요구되는 관련 동작의 수행을 포괄적으로 포함하는 것으로 해석될 수 있다.The order and combination of the steps shown above is an embodiment, and the order, combination, branch, function, and subject of execution thereof may be added, omitted, or modified within the scope that does not deviate from the essential characteristics of each component described in the specification. It can be seen that this can be done. In addition, throughout the specification, 'providing' includes a process in which an object acquires specific information or directly or indirectly transmits/receives it to a specific object, and can be interpreted as comprehensively including the performance of related operations required in this process.
본 발명의 다양한 실시예들은 기기(machine)(예를 들어, 디스플레이 장치 또는 컴퓨터)에 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예를 들어, 메모리)에 저장된 하나 이상의 인스트럭션들을 포함하는 소프트웨어로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기의 프로세서(예를 들어, 프로세서(110))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 인스트럭션들 중 적어도 하나의 인스트럭션을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 인스트럭션에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 인스트럭션들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, '비일시적'은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.Various embodiments of the present invention are implemented as software comprising one or more instructions stored in a storage medium (eg, memory) readable by a machine (eg, a display device or a computer). It can be. For example, a processor (eg, processor 110 ) of the device may call at least one of one or more instructions stored from a storage medium and execute it. This enables the device to be operated to perform at least one function according to the called at least one instruction. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter. The device-readable storage medium may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here, 'non-temporary' only means that the storage medium is a tangible device and does not contain signals (e.g., electromagnetic waves), and this term refers to the case where data is stored semi-permanently in the storage medium. It does not discriminate when it is temporarily stored.
일 실시예에 따르면, 본 발명에 개시된 다양한 실시예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.According to one embodiment, the method according to various embodiments disclosed in the present invention may be included and provided in a computer program product. Computer program products may be traded between sellers and buyers as commodities. A computer program product is distributed in the form of a device-readable storage medium (e.g. compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g. Play Store™) or on two user devices (e.g. It can be distributed (eg downloaded or uploaded) online, directly between smartphones. In the case of online distribution, at least part of the computer program product may be temporarily stored or temporarily created in a device-readable storage medium such as a manufacturer's server, an application store server, or a relay server's memory.
본 실시 예와 관련된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상기된 기재의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 방법들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.Those skilled in the art related to this embodiment will be able to understand that it can be implemented in a modified form within a range that does not deviate from the essential characteristics of the above description. Therefore, the disclosed methods are to be considered in an illustrative rather than a limiting sense. The scope of the present invention is shown in the claims rather than the foregoing description, and all differences within the equivalent scope will be construed as being included in the present invention.
100: 디바이스
110: 프로세서
120: 디스플레이
10: 복수개의 랜드마크
20: 가이드 라인
30: 제 1 그래프
40: 제 2 그래프
50: 제 1 시점의 이미지
60: 제 2 시점의 이미지
310: 제 1 윈도우
320: 제 2 윈도우
330: 제 3 윈도우100: device
110: processor 120: display
10: Multiple landmarks 20: Guidelines
30: first graph 40: second graph
50: image of the first viewpoint 60: image of the second viewpoint
310: first window 320: second window
330: third window
Claims (14)
대상체에 대한 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하는 단계;
복수개의 분석 방식에서 각각 제공하는 복수개의 분석 항목 각각에 대한 복수개의 측정값을 상기 복수개의 랜드마크의 위치에 기초하여 결정하는 단계;
상기 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 상기 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정하는 단계;
상기 복수개의 측정값 중 문제가 있을 것으로 예상되는 일부 측정값을 나타내는 문제 예상 측정값을 상기 이상 가능성에 기초하여 결정하는 단계; 및
상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 단계;를 포함하는, 방법.
In the method of displaying the analysis result according to the analysis method,
determining locations of a plurality of landmarks with respect to an object;
determining a plurality of measurement values for each of a plurality of analysis items provided by a plurality of analysis methods, based on locations of the plurality of landmarks;
determining an abnormality possibility for the plurality of measured values based on statistical information on the plurality of analysis items;
determining problem expected measurement values indicating some measurement values expected to have a problem among the plurality of measurement values based on the possibility of an abnormality; and
and displaying the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value.
상기 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하는 단계; 및
상기 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계;를 더 포함하는, 방법.
According to claim 1,
obtaining a user input for selecting one of the plurality of analysis methods; and
The method further comprising displaying a plurality of measurement values for a plurality of analysis items provided by an analysis method corresponding to the user input.
상기 이상 가능성은 상기 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 결정되는, 방법.
According to claim 1,
The method of claim 1, wherein the probability of anomaly is determined based on a mean and/or standard deviation for the assay term.
상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 단계는
상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 상기 측정값이 디스플레이되는 윈도우와 구별되는 별개의 윈도우에서 디스플레이하는, 방법.
According to claim 1,
The step of displaying the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value
A method of displaying a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value in a separate window distinct from a window in which the measurement value is displayed.
상기 복수개의 랜드마크의 위치가 표시된 상기 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우에서 디스플레이하는 단계; 및
상기 복수개의 측정값을 제 2 윈도우에서 디스플레이하는 단계;를 더 포함하고,
상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목이 디스플레이되는 제 3 윈도우, 상기 제 1 윈도우 및 상기 제 2 윈도우는 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이되는, 방법.
According to claim 1,
displaying an image of the object in which the locations of the plurality of landmarks are displayed in a first window; and
Further comprising; displaying the plurality of measurement values in a second window,
A third window, the first window and the second window displaying the problem prediction measurement value or the problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value are simultaneously displayed in areas separated from each other.
상기 제 1 윈도우는 상기 대상체에 대한 제 1 시점의 이미지 및 제 2 시점의 이미지를 중첩하여 디스플레이하고,
상기 제 3 윈도우는 상기 문제 예상 항목에 대한 상기 제 1 시점의 측정값 및 상기 제 2 시점의 측정값을 함께 디스플레이하는, 방법.
According to claim 5,
The first window overlaps and displays an image of a first view and an image of a second view of the object,
The third window displays the measurement value of the first time point and the second time point measurement value for the problem prediction item together.
상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계;를 더 포함하고,
상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계는
상기 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 상기 복수개의 측정값 각각에 대응하는 직선 상에 포인트로 표시하는 단계; 및
상기 복수개의 측정값 각각에 대응하는 포인트의 위치에 기초하여 상기 복수개의 측정값이 평균에서 벗어난 정도를 나타내는 제 1 그래프를 디스플레이하는 단계;를 포함하는, 방법.
According to claim 1,
Further comprising; displaying the plurality of measurement values,
The step of displaying the plurality of measured values
displaying a degree of deviation of the plurality of measured values from an average as a point on a straight line corresponding to each of the plurality of measured values; and
Displaying a first graph indicating a degree of deviation of the plurality of measured values from the average based on the location of a point corresponding to each of the plurality of measured values;
상기 복수개의 측정값을 디스플레이하는 단계는
상기 복수개의 분석 항목 각각에 대응하는 표준편차를 나타내는 제 2 그래프를 상기 제 1 그래프에 중첩하여 디스플레이하는 단계;를 더 포함하는, 방법.
According to claim 7,
The step of displaying the plurality of measured values
The method further includes displaying a second graph representing a standard deviation corresponding to each of the plurality of analysis items by overlapping the first graph.
대상체에 대한 복수개의 랜드마크의 위치를 결정하고,
복수개의 분석 방식에서 각각 제공하는 복수개의 분석 항목 각각에 대한 복수개의 측정값을 상기 복수개의 랜드마크의 위치에 기초하여 결정하고,
상기 복수개의 분석 항목에 대한 통계 정보에 기초하여 상기 복수개의 측정값에 대한 이상 가능성을 결정하고,
상기 복수개의 측정값 중 문제가 있을 것으로 예상되는 일부 측정값을 나타내는 문제 예상 측정값을 상기 이상 가능성에 기초하여 결정하는 프로세서; 및
상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 디스플레이하는 디스플레이;를 포함하는, 디바이스.
In the device for displaying the analysis result according to the analysis method,
Determining the location of a plurality of landmarks with respect to the object,
Determine a plurality of measurement values for each of a plurality of analysis items provided by a plurality of analysis methods based on the locations of the plurality of landmarks;
Determining a possibility of abnormality for the plurality of measured values based on statistical information on the plurality of analysis items;
a processor that determines problem expected measurement values indicating some measurement values expected to have a problem among the plurality of measurement values based on the possibility of an abnormality; and
A device comprising a; display for displaying the problem prediction measurement value or a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value.
상기 프로세서는
상기 복수개의 분석 방식 중 어느 하나를 선택하는 사용자 입력을 획득하고,
상기 디스플레이는
상기 사용자 입력에 대응하는 분석 방식에서 제공하는 복수개의 분석 항목에 대한 복수개의 측정값을 디스플레이하는, 디바이스.
According to claim 9,
The processor
Obtaining a user input for selecting one of the plurality of analysis methods;
the display
A device that displays a plurality of measurement values for a plurality of analysis items provided by an analysis method corresponding to the user input.
상기 프로세서는
상기 이상 가능성은 상기 분석 항목에 대한 평균 및/또는 표준편차에 기초하여 결정되는, 디바이스.
According to claim 9,
The processor
The device, wherein the probability of abnormality is determined based on the average and / or standard deviation for the analysis item.
상기 디스플레이는
상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목을 상기 측정값이 디스플레이되는 윈도우와 구별되는 별개의 윈도우에서 디스플레이하는, 디바이스.
According to claim 9,
the display
A device for displaying a problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value in a separate window distinct from a window in which the measurement value is displayed.
상기 디스플레이는
상기 복수개의 랜드마크의 위치가 표시된 상기 대상체에 대한 이미지를 제 1 윈도우에서 디스플레이하고,
상기 복수개의 측정값을 제 2 윈도우에서 디스플레이하고,
상기 문제 예상 측정값 또는 상기 문제 예상 측정값에 대응되는 문제 예상 항목이 디스플레이되는 제 3 윈도우, 상기 제 1 윈도우 및 상기 제 2 윈도우는 서로 분리되는 영역에서 동시에 디스플레이되는, 디바이스.
According to claim 9,
the display
Displaying an image of the object in which the locations of the plurality of landmarks are displayed in a first window;
displaying the plurality of measured values in a second window;
A third window in which the problem prediction measurement value or the problem prediction item corresponding to the problem prediction measurement value is displayed, and the first window and the second window are simultaneously displayed in areas separated from each other.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210161515A KR20230075177A (en) | 2021-11-22 | 2021-11-22 | Method, device and recording medium for displaying analysis results regarding the problem expected items according to analysis method for orthodontic diagnosis |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020210161515A KR20230075177A (en) | 2021-11-22 | 2021-11-22 | Method, device and recording medium for displaying analysis results regarding the problem expected items according to analysis method for orthodontic diagnosis |
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KR20230075177A true KR20230075177A (en) | 2023-05-31 |
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ID=86543215
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KR1020210161515A KR20230075177A (en) | 2021-11-22 | 2021-11-22 | Method, device and recording medium for displaying analysis results regarding the problem expected items according to analysis method for orthodontic diagnosis |
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Country | Link |
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KR (1) | KR20230075177A (en) |
Citations (1)
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---|---|---|---|---|
KR20060100737A (en) | 2005-03-18 | 2006-09-21 | 양계식 | The dental patient examination and treatment service system by internet |
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2021
- 2021-11-22 KR KR1020210161515A patent/KR20230075177A/en unknown
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