KR20230070215A - 화학물질 생산 모니터링 - Google Patents
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Abstract
본 교시는 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 방법에 관한 것으로, 이 방법은 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계; 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계; 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계; 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계; 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다. 본 교시는 또한 생산 프로세스를 모니터링하는 시스템, 데이터세트, 용도, 데이터세트를 생성하는 방법, 및 이의 소프트웨어 프로그램에 관한 것이다.
Description
본 교시는 일반적으로 컴퓨터 지원되는 화학물질 생산에 관한 것이다.
산업 플랜트(industrial plant)에서, 투입 물질(input material)은 하나 이상의 제품을 제조하도록 처리된다. 따라서 제조된 제품의 특성은 제조 파라미터에 의존한다. 일반적으로 제품 품질 또는 생산 안정성을 보장하기 위해 제조 파라미터를 제품의 적어도 몇몇 특성과 연관시키는 것이 바람직하다.
프로세스 산업, 또는 화학적 또는 생물학적 생산 플랜트와 같은 산업 플랜트 내에서, 하나 이상의 화학적 또는 생물학적 제품을 생산하기 위한 생산 프로세스를 사용하여 하나 이상의 투입 물질이 처리된다. 프로세스 산업의 생산 환경은 복잡할 수 있으므로 제품의 특성은 해당 특성에 영향을 미치는 생산 파라미터의 변화에 따라 달라질 수 있다. 일반적으로, 생산 파라미터에 대한 특성의 의존성은 복잡할 수 있으며 상이한 파라미터들의 하나 이상의 조합에 대한 추가 의존성과 얽혀 있을 수 있다. 일부 경우에, 생산 프로세스가 여러 단계로 나누어져 문제가 더욱 악화될 수 있다. 따라서 일관되고 예측가능한 품질로 화학적 또는 생물학적 제품을 생산하는 것이 어려울 수 있다.
화학 제품(chemical product)의 품질을 일관되게 유지하기 위해 품질 제어(quality control)가 수행될 수 있다. 품질 제어에는 일반적으로 생산 프로세스 후 또는 생산 프로세스 중에 화학 제품의 하나 이상의 샘플을 수집하는 것을 포함한다. 그런 다음 샘플이 분석되고, 필요에 따라 수정 조치가 취해질 수 있다. 효과적이려면, 샘플을 정기적으로 수집해야 할 수 있으며 화학 제품의 통계적 변동을 대표해야 한다. 생산 프로세스에서 발생하는 변동 빈도에 따라 품질 제어의 빈도를 조정해야 할 수 있다. 따라서 품질 제어에 많은 비용과 시간이 소요될 수 있다.
또한, 개별 처리와 달리, 연속, 캠페인(campaign) 또는 배치(batch) 프로세스와 같은 화학적 또는 생물학적 처리는 방대한 양의 시계열 데이터를 제공할 수 있다. 그러나, 기존의 시계열 접근 방식을 통한 기계 학습(machine learning)은 가치 체인(value chain) 전반에 걸친 수평적 통합의 요구에 따라 데이터를 통합하기 어려울 수 있기 때문에 덜 실용적인 것으로 입증되었다. 특히, 쉽고 의미 있는 데이터 교환 또는 표준화는 큰 문제를 제기할 수 있다.
따라서 배럴(barrel)에서 최종 제품까지 이상적으로 가치 체인 전반에 걸쳐 품질 및 생산 안정성을 향상시킬 수 있는 접근 방식이 필요하다.
종래 기술에 내재된 문제점 중 적어도 일부는 첨부된 독립항의 청구대상에 의해 해결되는 것으로 보여질 것이다. 추가의 유리한 대안 중 적어도 일부는 종속항에 요약될 것이다.
제1 관점에서 볼 때, 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 제어하는 방법이 제공될 수 있고, 산업 플랜트는 복수의 물리적으로 분리된 장비 구역을 포함하고, 제품은 복수의 장비 구역을 통해 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되며, 방법은 컴퓨팅 유닛을 통해 적어도 부분적으로 수행되고, 방법은,
- 인터페이스를 통해, 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계- 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 투입 물질의 존재를 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계와,
- 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다.
출원인은 그렇게 함으로써 주요하게는 투입 물질이 업스트림 장비 구역에서 처리되는 동안 화학 제품의 원하는 품질을 나타내는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터(zone-specific performance parameter)가 미리 결정될 수 있음을 알게 되었다. 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터는 예를 들어 메타데이터로서 업스트림 객체 식별자에 첨부될 수 있다. 따라서, 화학 제품의 품질 척도는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 통해 즉석에서(on-the-fly) 평가된다. 또한 품질 척도(quality measure)는 특정 화학 제품을 생산하는 데 사용되는 투입 물질 데이터에 함께 첨부되거나 부착된다. 따라서 관련성이 높은 데이터는 업스트림 객체 식별자에 캡슐화된다. 이는 고도로 타겟화된 품질 제어를 허용할 뿐만 아니라 중요한 품질 척도를 해당 품질 척도과 관련된 데이터와 함께 연관시킬 수 있다. 필요한 경우 즉석 모니터링을 검증하고 제어할 수 있다. 더욱이, 객체 식별자에 첨부된 데이터는 기계 학습 접근법과 매우 관련이 있으며, 그 중 일부는 본 개시에서 논의될 것이다. 업스트림 객체 식별자는 예를 들어 투입 물질이 업스트림 장비 구역에 있을 때 제공될 수 있다.
업스트림 장비 구역에 대한 실시간 프로세스 데이터의 서브세트는 투입 물질이 업스트림 장비 구역에 있음을 나타내는 구역 존재 신호에 응답하여 결정됨을 이해할 것이다.
이력 데이터는 과거 프로세스 데이터 및/또는 적어도 하나의 이력 구역별 성능 파라미터를 프로세스 데이터와 연관시키는 품질 제어 데이터를 포함할 수 있다.
컴퓨팅 유닛은 예를 들어 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하기 위해 분석 컴퓨터 모델을 사용할 수 있다.
일 양상에 따르면, 이력 데이터는 예를 들어 업스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함한다.
일부 경우에는 이력 객체 식별자가 과거 투입 물질이 처리된 유사한 생산법(production)으로 다른 업스트림 장비 구역으로부터 얻어진 것일 수 있어, 그러한 구역으로부터의 이러한 과거 객체 식별자를 사용할 수 있다.
따라서, 이전 또는 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 데 활용될 수 있다. 본 명세서에 개시된 바와 같은 객체 식별자는 그들의 투입 물질 데이터를 통해 적어도 특정 물질 특성을 이력적으로 결정된 대응하는 구역별 성능 파라미터와 연관시키는 것을 허용한다. 객체 식별자 데이터는 처리 중인 투입 물질에 대한 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 데 활용될 수 있다.
추가적인 양상에 따르면, 적어도 하나의 이력 업스트림 객체 식별자에는 예를 들어, 업스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질이 처리된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부된다.
따라서, 하나 이상의 이력 객체 식별자는 또한 대응하는 과거 투입 물질의 특성과 함께 이들의 성능 파라미터와의 관계를 연관시키는 데 활용될 수 있는 프로세스 데이터의 서브세트를 포함할 수 있다.
따라서 결합될 때, 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 방법이 제공될 수 있으며, 산업 플랜트는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하고, 제품은 복수의 장비 구역을 통해 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되고, 방법은 적어도 부분적으로 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되며, 이 방법은:
- 인터페이스를 통해, 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계- 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 투입 물질의 존재를 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계와,
- 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다.
따라서, 적어도 하나의 바람직하게는 각각의 이력 객체 식별자는 개개의 이전 투입 물질이 개개의 화학 제품을 생산 또는 처리하기 위해 처리된 프로세스 데이터를 캡슐화할 수 있으며, 따라서 여기에 개시된 이력 데이터는 매우 관련성이 있지만 간결한 데이터세트이고, 이는 생산 중 하나 이상의 성능 파라미터를 계산하는 데 사용될 수 있다. 따라서 화학 제품의 추적성을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 화학 제품의 품질 관리를 단순화할 수 있다. 이에 대해서는 본 개시에서 추가로 논의될 것이다.
일 양상에 따르면, 방법은 또한:
- 업스트림 객체 식별자에 업스트림 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일 부분(part)을 첨부하는 단계를 포함한다.
따라서, 관련 프로세스 데이터는 투입 물질 데이터와 함께 또한 업스트림 객체 식별자에 캡처될 수 있어서, 투입 물질의 특성과 화학 제품의 임의의 관계도 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일부로서 캡처된 관련 프로세스 데이터와 함께 캡처될 수 있다. 이는 화학 제품의 임의의 하나 이상의 특성에 영향을 미칠 수 있는 다양한 의존성 사이에 보다 완전한 관계를 제공할 수 있다. 또 다른 이점은 투입 물질 특성 및/또는 프로세스 파라미터 사이에 존재할 수 있는 다양한 상호의존성 간의 조합도 객체 식별자에 캡처된다는 것일 수 있다. 따라서 첨부된 객체 식별자는 화학 제품 및/또는 투입 물질과 같은 특정 컴포넌트를 추적하는 데 사용할 수 있는 정보뿐만 아니라 화학 제품의 발생을 담당하였던 특정 프로세스 데이터로 인해 보강된다. 그 결과, 각각의 이력 객체 식별자와 같은 객체 식별자는 임의의 기계 학습("ML") 및 그러한 목적을 위해 보다 쉽게 통합될 수 있다. 따라서, 객체 식별자는 향후 생산을 위한 이력 객체 식별자로도 사용될 수 있다.
성능 파라미터는 화학 제품의 하나 이상의 특성에 직접 관련될 수 있고/있거나 생산 프로세스 동안 생산되는 유도체 물질 또는 제품의 성능 파라미터와 관련될 수 있음을 이해할 것이다. 예를 들어, 입력 프로세스 과정 중에 투입 물질이 유도체 물질로 변환되는 경우, 때로는 이러한 유도체 물질의 품질 또는 성능을 추적해야 할 수도 있다. 이러한 경우 유도체 물질은 투입 물질로부터 발생한 중간 물질이며, 유도체 물질은 화학 제품을 생산하는 데 사용된다. 화학 제품은 또한 유도체 물질에도 의존하기 때문에, 때로는 유도체 물질을 테스트 및 추적해야 할 수 있다.
따라서, 일 양상에 따르면, 구역별 성능 파라미터 중 적어도 하나는 유도체 물질의 하나 이상의 특성과 관련되어 있다.
일 양상에 따르면, 구역 존재 신호는 투입 물질과 관련된 적어도 하나의 특성을 특정 장비 구역에 매핑하는 구역-시간 변환을 수행함으로써 다운스트림 컴퓨팅 유닛을 통해 생성될 수 있다. 예를 들어, 투입 물질과 관련된 특성은 투입 물질의 중량일 수 있어서, 예를 들어, 실시간 프로세스 데이터를 통해, 생산 프로세스에 대한 지식에 의해, 투입 물질 또는 생산 프로세스 동안 생성된 유도체 물질의 존재가 결정될 수 있다. 예를 들어, 업스트림 장비 구역에서 소정의 중량을 갖는 투입 물질이 생산 프로세스 동안 다운스트림 장비 구역으로 이동하는 경우, 예를 들어, 사전결정된 시간에 또는 그 시간 내에 다운스트림 구역에서 중량 측정이 사용되어 다운스트림 구역에 대한 구역 존재 신호를 생성할 수 있다. 유사하게, 흐름 값, 예를 들어, 투입 물질 또는 그 유도체 물질이 생산을 통해 이동하는 질량 흐름 또는 용량 흐름은 구역 존재 신호를 생성하는 데 사용되는 속성일 수 있다. 또한 예로서, 투입 물질이 장비 구역을 따라 이동하는 속도 또는 속력은 주어진 시간에 투입 물질 또는 해당 유도체 물질이 있는 공간 또는 위치를 결정하는 데 사용될 수 있다. 대안적으로 또는 추가로, 투입 물질과 관련된 특성의 다른 비제한적인 예는 용량, 충진 값, 레벨, 색상 등이다.
출원인은 생산 환경에서 시간 의존 데이터(예컨대, 시계열 데이터)인 실시간 프로세스 데이터를 공간 데이터에 매핑하므로 투입 물질을 나타내는 디지털 흐름 요소를 사용하여 실제 생산 흐름을 매핑함으로써 구역 존재 신호를 생성하는 것이 유리하다는 것을 알게되었다. 예를 들어, 투입 물질의 디지털 흐름은 업스트림 객체 식별자를 통해 추적될 수 있으며 시간 의존 실시간 프로세스 데이터에서의 발생은 생산 프로세스를 따라 물질을 배치하는 데 사용될 수 있다. 따라서 물질은 이미 측정된 시간 및 실시간 프로세스 데이터를 통해, 즉 생산 체인을 따라 투입 물질 흐름의 시간 차원과 상관되는 프로세스 데이터의 시간 차원을 사용하여 추적되거나 배치된다.
구역 존재 신호는 간헐적일 수 있고, 예를 들어, 규칙적 또는 불규칙한 시간에 계산을 통해 생성되거나 연속적으로 생성될 수 있다. 이는 각각의 객체 식별자와 관련된 물질이 생산 체인 내에서 연속적으로 또는 기본적으로 연속적으로 위치할 수 있으므로 물질 및 화학 제품으로의 변환과 관련성이 높은 데이터를 첨부할 수 있다는 이점이 있을 수 있다. 예를 들어 생산 체인 내의 소정의 체크포인트에서 물질의 존재를 확인하기 위해 규칙적 또는 불규칙한 시간에 계산이 수행될 수 있다. 이는 예를 들어 아래에 요약될 하나 이상의 센서에 의해 실시간 프로세스 데이터에서의 발생으로 보완될 수 있다.
체류 시간 및 유속과 같은 시간 차원과 관련된 화학물질 생산 동작 파라미터가 알려져 있기 때문에, 구역-시간 변환은 시간 스케일에서 간단한 매핑이 될 수 있다. 이와 달리, 프로세스 시뮬레이션을 기반으로 하는 보다 복잡한 모델을 사용하여 물질 흐름의 시간 스케일과 실시간 프로세스 데이터를 일치시킬 수 있다. 어떤 경우든 프로세스 데이터의 시간 스케일은 물질의 흐름보다 미세할 수 있어서 프로세스 데이터 파라미터를 더 세밀하게 물질의 흐름에 귀속시킬 수 있다.
추가적으로 또는 대안적으로, 구역 존재 신호는 특정 구역과 관련된 센서를 통해 적어도 부분적으로 제공될 수 있다. 예를 들어, 공간에서 또는 특정 장비 구역 내의 투입 물질 또는 유도체 물질의 존재를 검출하기 위해 중량 센서 및/또는 이미지 센서가 사용될 수 있다.
"장비"는 산업 플랜트 내의 임의의 하나 이상의 자산을 지칭할 수 있다. 비제한적 예로서, 장비는 컴퓨팅 유닛 또는 제어기, 예컨대, 프로그래밍 가능한 로직 제어기("PLC") 또는 분산 제어 시스템("DCS"), 센서, 액추에이터, 엔드 이펙터 유닛, 컨베이어 시스템과 같은 이송 요소, 열 교환기, 예컨대, 히터, 용광로, 냉각 유닛, 증류 유닛, 추출기, 반응기, 믹서, 분쇄기, 초퍼, 압축기, 슬라이서, 압출기, 건조기, 분무기, 압력 또는 진공 챔버, 튜브, 빈, 사일로 및 산업 플랜트에서 생산을 위해 또는 생산 중에 직접 또는 간접적으로 사용되는 임의의 다른 종류의 장치 중 임의의 하나 이상 또는 이들의 조합 중 임의의 것을 지칭할 수 있다. 바람직하게는, 장비는 구체적으로 생산 프로세스에서 직접 또는 간접적으로 수반되는 자산, 장치 또는 컴포넌트를 지칭한다. 보다 바람직하게는, 화학 제품의 성능에 영향을 줄 수 있는 자산, 장치 또는 컴포넌트를 지칭한다. 장비는 버퍼링될 수도 버퍼링되지 않을 수도 있다. 또한, 장비는 혼합 또는 비혼합, 분리 또는 비분리를 포함할 수 있다. 혼합이 없는 버퍼링되지 않은 장비의 일부 비제한적인 예는 컨베이어 시스템 또는 벨트, 압출기, 펠리타이저 및 열 교환기이다. 혼합이 없는 버퍼링된 장비의 일부 비제한적인 예는 버퍼 사일로, 빈 등이다. 혼합이 있는 버퍼링된 장비의 일부 비제한적인 예는 믹서가 있는 사일로, 믹싱 용기, 커팅 밀, 더블 콘 블렌더, 경화 튜브 등이다. 혼합이 있는 버퍼링되지 않은 장비의 일부 비제한적인 예는 정적 또는 동적 믹서 등이다. 분리가 있는 버퍼링된 장비의 일부 비제한적인 예는 컬럼, 분리기, 추출, 박막 기화기, 필터, 체 등이다. 장비는 옥타빈 충진, 드럼, 백, 탱크 트럭과 같은 저장 또는 패킹 요소일 수도 있고 이를 포함할 수도 있다. 종종 2개 이상의 장비의 조합도 장비로 간주될 수 있다.
"장비 구역"은 동일한 장비의 일부인 물리적으로 분리된 구역을 지칭하거나 구역은 화학 제품 제조에 사용되는 상이한 장비일 수 있다. 따라서 구역은 물리적으로 동일하지 않은 위치에 있다. 위치는 횡방향으로 및/또는 수직으로 동일하지 않은 지리적 위치일 수 있다. 따라서 투입 물질은 업스트림 장비 구역에서 시작하여 업스트림 장비 구역의 하류에 있는 하나 이상의 장비 구역을 향해 다운스트림으로 이동한다. 따라서 생산 프로세스의 다양한 단계가 구역 간에 분배될 수 있다.
본 개시에서, "장비" 및 "장비 구역"이라는 용어는 혼용될 수 있다.
"장비 동작 조건"은 장비의 상태를 나타내는 임의의 특성 또는 값, 예를 들어, 설정포인트, 제어기 출력, 생산 순서, 캘리브레이션 상태, 임의의 장비 관련 경고, 진동 측정, 속도, 온도, 필터 차압과 같은 파울링 값, 유지보수 날짜 등 중 임의의 하나 이상을 지칭한다.
"업스트림"이라는 용어는 생산 흐름에 반대되는 방향에 있는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, 생산 프로세스가 시작되는 가장 처음 장비 구역은 업스트림 장비 구역이다. 그러나, 이 용어는 본 개시에서는 그 의미 내에서 상대적인 의미로 사용된다. 예를 들어, 제1 장비 구역과 마지막 장비 구역 사이에 있는 중간 장비 구역은 마지막 장비 구역에 대해서는 업스트림 장비 구역이라고 할 수 있고 제1 장비 구역에 대해서는 "다운스트림" 장비 구역이라고도 할 수 있다. 따라서 마지막 장비 구역은 제1 장비 구역과 중간 장비 구역에 대한 다운스트림 구역이다. 마찬가지로, 제1 장비 구역과 중간 장비 구역은 모두 마지막 장비 구역의 업스트림이다.
"산업 플랜트" 또는 "플랜트"는 하나 이상의 산업 제품의 제조, 생산 또는 처리, 즉 산업 플랜트에 의해 수행되는 제조 또는 생산 프로세스 또는 처리의 산업 용도로 사용되는 임의의 기술 인프라구조를 제한 없이 지칭할 수 있다. 산업 제품은 예를 들어, 화학, 생물학, 제약, 식품, 음료, 직물, 금속, 플라스틱, 반도체와 같은 임의의 물리적 제품일 수 있다. 추가로 또는 대안적으로, 산업 제품은 서비스 제품, 예를 들어, 재활용과 같은 회수 또는 폐기물 트리트먼트, 하나 이상의 화학 제품으로의 분해 또는 용해와 같은 화학적 트리트먼트일 수도 있다. 따라서, 산업 플랜트는 화학 플랜트, 프로세스 플랜트, 제약 플랜트, 석유 및/또는 천연 가스정과 같은 화석 연료 처리 시설, 정제소, 석유화학 플랜트, 분류 플랜트 등 중 하나 이상일 수 있다. 산업 플랜트는 증류소, 트리트먼트 플랜트 또는 재활용 플랜트 중 임의의 것이 될 수도 있다. 산업 플랜트는 위에 주어진 예나 그와 유사한 것 중 임의의 것의 조합일 수도 있다.
인프라구조는 열 교환기, 분별 컬럼과 같은 컬럼, 용광로, 반응 챔버, 분류 유닛, 저장 탱크, 압출기, 펠리타이저, 침전기, 블렌더, 믹서, 절단기, 경화 튜브, 기화기, 필터, 체, 파이프라인, 스택, 필터, 밸브, 액추에이터, 밀, 트랜스포머, 수송 시스템, 회로 차단기, 기계류, 예컨대, 터빈과 같은 중장비 회전 장비, 발전기, 분쇄기, 압축기, 산업용 팬, 펌프, 컨베이어 시스템과 같은 이송 요소, 모터 등 중 임의의 하나 이상과 같은 장비 또는 프로세스 유닛을 포함할 수 있다. 때때로 이들 중 둘 이상의 조합이 장비로 간주될 수도 있다.
또한, 산업 플랜트는 전형적으로 복수의 센서 및 프로세스와 관련된 적어도 하나의 파라미터 또는 프로세스 파라미터를 제어하기 위한 적어도 하나의 제어 시스템을 플랜트에 포함한다. 이러한 제어 기능은 일반적으로 센서 중 적어도 하나로부터의 적어도 하나의 측정 신호에 응답하여 제어 시스템 또는 제어기에 의해 수행된다. 플랜트의 제어기 또는 제어 시스템은 분산 제어 시스템("DCS") 및/또는 프로그래밍 가능한 로직 제어기("PLC")로서 구현될 수 있다.
따라서, 산업 플랜트의 장비 또는 프로세스 유닛 중 적어도 일부는 하나 이상의 산업 제품을 생산하기 위해 모니터링 및/또는 제어될 수 있다. 모니터링 및/또는 제어는 하나 이상의 제품의 생산을 최적화하기 위해서도 수행될 수 있다. 장비 또는 프로세스 유닛은 하나 이상의 센서로부터의 하나 이상의 신호에 응답하여 DCS와 같은 제어기를 통해 모니터링 및/또는 제어될 수 있다. 또한, 플랜트는 프로세스 중 일부를 제어하기 위해 적어도 하나의 프로그래밍 가능한 로직 제어기("PLC")를 포함할 수도 있다. 산업 플랜트는 전형적으로 모니터링 및/또는 제어 목적을 위해 산업 플랜트에 분포될 수 있는 복수의 센서를 포함할 수 있다. 이러한 센서는 많은 양의 데이터를 생성할 수 있다. 센서는 장비의 일부로 간주될 수도 있고 그렇지 않을 수도 있다. 이처럼, 화학 제품 및/또는 서비스 생산과 같은 생산은 데이터가 많은 환경일 수 있다. 따라서, 각 산업 플랜트는 대량의 프로세스 관련 데이터를 생성할 수 있다.
당업자는 산업 플랜트가 일반적으로 상이한 유형의 센서를 포함할 수 있는 계기를 포함할 수 있음을 이해할 것이다. 센서는 하나 이상의 프로세스 파라미터를 측정하고/하거나 장비 또는 프로세스 유닛과 관련된 장비 동작 조건 또는 파라미터를 측정하는 데 사용될 수 있다. 예를 들어, 센서는 파이프라인 내의 유속, 탱크 내부의 레벨, 용광로의 온도, 가스의 화학적 조성 등과 같은 프로세스 파라미터를 측정하는 데 사용될 수 있으며, 일부 센서는 분쇄기의 진동, 팬의 속도, 밸브의 열림, 파이프라인의 부식, 트랜스포머 양단의 전압 등을 측정하는 데 사용될 수 있다. 이들 센서 간의 차이점은 센서가 감지하는 파라미터에만 기초할 수는 없으며, 각 센서가 사용하는 감지 원리일 수도 있다. 센서가 감지하는 파라미터에 기초한 센서의 일부 예는 온도 센서, 압력 센서, 광 센서와 같은 방사선 센서, 흐름 센서, 진동 센서, 변위 센서 및 화학 센서, 예를 들어 가스와 같은 특정 물질을 검출하기 위한 센서를 포함할 수 있다. 센서가 이용하는 감지 원리 측면에서 다른 센서의 예는 예를 들어, 압전 센서, 압전 저항 센서, 열전대, 용량성 센서 및 저항성 센서와 같은 임피던스 센서 등일 수 있다.
산업 플랜트는 복수의 산업 플랜트의 일부일 수도 있다. 본 명세서에서 사용되는 "복수의 산업 플랜트"라는 용어는 광범위한 용어이고 당업자에게 통상적이고 관례적인 의미로 부여되어야 하며 특별하거나 맞춤화된 의미로 제한되지 않는다. 이 용어는 구체적으로 적어도 하나의 공통된 산업 목적을 갖는 적어도 2개의 산업 플랜트의 복합체를 지칭할 수 있지만 이에 제한되지 않는다. 구체적으로, 복수의 산업 플랜트는 물리적 및/또는 화학적으로 결합된 적어도 2개, 적어도 5개, 적어도 10개 또는 그 이상의 산업 플랜트를 포함할 수 있다. 복수의 산업 플랜트는 복수의 산업 플랜트를 형성하는 산업 플랜트가 그들의 가치 체인, 유리체 및/또는 제품 중 하나 이상을 공유할 수 있도록 결합될 수 있다. 복수의 산업 플랜트는 화합물, 화합물 사이트, 페어분트(Verbund) 또는 페어분트 사이트로도 지칭될 수 있다. 또한, 다양한 중간 제품을 통해 최종 제품으로의 복수의 산업 플랜트의 가치 체인 생산은 다양한 산업 플랜트와 같은 다양한 위치에서 분산되거나 페어분트 사이트 또는 화학 단지에 통합될 수 있다. 그러한 페어분트 사이트 또는 화학 단지는 하나 이상의 산업 플랜트일 수 있거나 이를 포함할 수 있으며, 적어도 하나의 산업 플랜트에서 제조된 제품은 다른 산업 플랜트의 공급원료 역할을 할 수 있다.
"생산 프로세스"는 투입 물질에 사용되거나 적용될 때 화학 제품을 제공하는 임의의 산업 프로세스를 지칭한다. 따라서 화학 제품은 화학 제품을 생성하기 위해 생산 프로세스를 통해 투입 물질을 직접 또는 하나 이상의 유도체 물질을 통해 변환함으로써 제공된다. 따라서 생산 프로세스는 하나 이상의 화학 프로세스, 또는 화학 제품을 얻는 데 사용되는 복수의 프로세스의 조합을 적어도 부분적으로 수반하는 임의의 제조 또는 트리트먼트 프로세스일 수 있다. 생산 프로세스는 화학 제품의 패키징 및/또는 적재도 포함할 수 있다. 따라서 생산 프로세스는 화학적 및 물리적 프로세스의 조합일 수 있다.
"제조하는", "생산하는" 또는 "처리하는"이라는 용어는 생산 프로세스의 맥락에서 상호교환적으로 사용될 것이다. 용어들은 하나 이상의 화학 제품 물질을 초래하는 투입 물질에 대한 화학 프로세스를 포함하는 산업 프로세스의 임의의 종류의 적용을 포함할 수 있다.
본 개시에서 "화학 제품"은 화학 제품, 의약품, 영양 제품, 화장품 또는 생물학적 제품 또는 이들의 조합 중 임의의 것과 같은 임의의 산업 제품을 지칭할 수 있다. 화학 제품은 전적으로 천연 성분으로 구성되거나 적어도 부분적으로 하나 이상의 합성 성분을 포함할 수 있다. 화학 제품의 몇몇 비제한적 예는 유기 또는 무기 조성물(composition), 단량체, 중합체, 발포체, 살충제, 제초제, 비료, 사료, 영양 제품, 전구체, 의약품 또는 치료 제품, 또는 이들의 성분 또는 활성 성분 중 임의의 하나 이상이다. 일부 경우에, 화학 제품은 최종 사용자 또는 소비자가 사용할 수 있는 제품, 예를 들어 화장품 또는 의약품 조성물일 수도 있다. 화학 제품은 하나 이상의 추가 제품을 만드는 데 사용할 수 있는 제품일 수도 있으며, 예를 들어, 화학 제품은 신발용 밑창(sole)을 제조하는 데 사용가능한 합성 폼 또는 자동차 외부에 사용가능한 코팅일 수 있다. 전구체는 임의의 형태, 예를 들어 고체, 반고체, 페이스트, 액체, 에멀젼, 용액, 펠릿, 과립, 비드, 열가소성 폴리우레탄("TPU") 입자와 같은 입자 또는 분말의 형태로 제공될 수 있다.
이러한 화학 제품은 특히 이들의 생산 프로세스 중에 추적하거나 뒤쫓기 어려울 수 있다. 생산 중에, 투입 물질과 같은 물질은 다른 물질과 혼합될 수 있고/있거나 투입 물질은 예를 들어, 다른 방식으로 처리하기 위해 생산 체인 아래의 상이한 부분으로 분할될 수 있다. 투입 물질은 화학 제품으로 변환되기 전에 예를 들어 하나 이상의 유도체 물질로 한 번보다 많이 변환될 수 있다. 일부의 경우에, 화학 제품은 분할되어 다른 패키지로 패키징될 수 있다. 경우에 따라 패키징된 화학 제품 또는 그 일부에 라벨링할 수 있지만, 특정 화학 제품 또는 그 일부를 생산하는 것을 담당하였던 생산 프로세스의 세부사항을 붙이기 어려울 수 있다. 다수의 경우, 투입 물질 및/또는 화학 제품은 물리적으로 라벨링하기 어려운 형태일 수 있다. 따라서 본 교시는 그러한 제한을 극복하는 데 하나 이상의 객체 식별자가 또한 사용될 수 있는 방법을 제공한다.
생산 프로세스, 즉, 업스트림 생산 프로세스 및/또는 다운스트림 생산 프로세스는 캠페인에서 연속적일 수 있으며, 예를 들어, 회수가 필요한 촉매를 기반으로 하는 경우, 배치 화학물질 생산 프로세스일 수 있다. 이러한 생산 유형 간의 주요 차이점 하나는 생산 중에 생성되는 데이터에서 발생하는 빈도이다. 예를 들어, 배치 프로세스에서 생산 데이터는 생산 프로세스의 시작부터 해당 실행에서 생산된 상이한 배치에 걸쳐 마지막 배치까지 확장된다. 연속 설정에서, 데이터는 생산 동작의 잠재적 시프트 및/또는 유지보수로 인한 중단 시간으로 인해 더욱 연속적이다.
"프로세스 데이터"는 예를 들어, 하나 이상의 센서를 통해 생산 프로세스 동안 측정된 값, 예를 들어, 숫자 또는 이진 신호 값을 포함하는 데이터를 지칭한다. 프로세스 데이터는 하나 이상의 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 시계열 데이터일 수 있다. 바람직하게는, 프로세스 데이터는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 시간 정보를 포함하고, 예를 들어, 데이터는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건에 관한 데이터 포인트 중 적어도 일부에 대한 타임 스탬프를 포함한다. 보다 바람직하게는, 프로세스 데이터는 시간-공간 데이터, 즉, 물리적으로 떨어져 있는 하나 이상의 장비 구역과 관련된 시간적 데이터 및 위치 또는 데이터를 포함하여, 데이터로부터 시간-공간 관계가 유도될 수 있다. 시간-공간 관계는 예를 들어, 주어진 시간에 투입 물질의 위치를 계산하는 데 사용될 수 있다.
"실시간 프로세스 데이터"는 특정 투입 물질이 생산 프로세스를 사용하여 처리되는 동안 기본적으로 과도 상태에 있거나 측정되는 프로세스 데이터를 지칭한다. 예를 들어, 투입 물질에 대한 실시간 프로세스 데이터는 생산 프로세스를 사용하여 투입 물질을 처리하는 것과 동시에 또는 거의 동시의 프로세스 데이터이다. 여기서, 거의 동시에는 시간 지연이 거의 없거나 전혀 없음을 의미한다. "실시간"이라는 용어는 컴퓨터 및 계기 기술 분야에서 이해된다. 특정한 비제한적 예로서, 투입 물질에 대해 수행되는 생산 프로세스 동안의 생산 발생과 측정 또는 판독되는 프로세스 데이터 사이의 시간 지연은 15초 미만, 구체적으로 10초 이하, 더 구체적으로는 5초 이하이다. 높은 스루풋 처리의 경우 지연은 1초 미만 또는 몇 밀리초 미만 또는 그 미만이기도하다. 따라서 실시간 데이터는 투입 물질을 처리하는 동안 생성되는 시간 의존적 프로세스 데이터의 흐름으로 이해될 수 있다.
"프로세스 파라미터"는 생산 프로세스 관련 변수 중 임의의 것, 예를 들어, 온도, 압력, 시간, 레벨 등 중 임의의 하나 이상을 지칭할 수 있다.
"투입 물질"은 화학 제품를 생산하는 데 사용되는 적어도 하나의 공급원료 또는 처리되지 않은 물질을 지칭할 수 있다. 투입 물질은 임의의 유기 또는 무기 물질 또는 이들의 조합일 수도 있다. 따라서, 투입 물질은 혼합물일 수도 있거나 또는 임의의 형태의 복수의 유기 및/또는 무기 성분을 포함할 수 있다. 일부 경우에, 투입 물질은 예를 들어, 업스트림 장비 구역으로부터 수신되거나 이송된 것과 같은 유도체 물질 또는 중간 처리 물질일 수도 있다. 투입 물질의 몇 가지 비제한적 예는 폴리에테르 알코올, 폴리에테르 디올, 폴리테트라히드로푸란, 예컨대, 아디프산 및 부탄-1,4-디올에 기초한 폴리에스테르 디올, 이소시아네이트, 충진제 물질 - 유기 또는 무기 물질, 예컨대, 목재 분말, 전분, 아마, 대마, 모시, 황마, 사이잘, 면, 셀룰로오스 또는 아라미드 섬유, 규산염, 중정석, 유리 구체, 제올라이트, 금속 또는 금속 산화물, 활석, 백악, 카오린, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 질화알루미늄, 규산알루미늄, 황산바륨, 탄산칼슘, 황산칼슘, 실리카, 석영 분말, 에어로실, 점토, 운모 또는 규회석, 철 분말, 유리 구체, 유리 섬유 또는 탄소 섬유 중 임의의 하나 이상일 수 있다.
추가의 비제한적 예로서, 투입 물질은 열가소성 폴리우레탄을 얻기 위해 생산 프로세스의 적어도 일부의 대상인 메틸렌 디페닐 디이소시아네이트("MDI") 및/또는 폴리테트라히드로푸란("PTHF")일 수 있다. 따라서 투입 물질은 일부 경우에 유도체 물질일 수 있는 열가소성 폴리우레탄을 얻기 위해 하나 이상의 장비 구역에서 화학적으로 처리됨을 알 것이다. 유도체 물질은 화학 제품을 얻기 위해 추가로 처리된다. 예를 들어, 열가소성 폴리우레탄("TPU")은 팽창된 열가소성 폴리우레탄("ETPU")를 얻기 위해 하나 이상의 추가 장비 구역에서 추가 처리될 수 있다. ETPU는 예를 들어, 화학 제품일 수 있다. 그러나 경우에 따라 TPU 자체가 추가 처리를 위해 다운스트림 소비자 또는 시설로 보내지는 화학 제품일 수도 있다.
"투입 물질 데이터"는 투입 물질의 하나 이상의 특징 또는 특성과 관련된 데이터를 지칭한다. 따라서, 투입 물질 데이터는 투입 물질의 양 또는 수량과 같은 특성을 나타내는 값 중 임의의 하나 이상을 포함할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 양을 나타내는 값은 투입 물질의 충진 정도 및/또는 질량 흐름일 수 있다. 값은 바람직하게는 장비에 동작 가능하게 결합되거나 이에 포함된 하나 이상의 센서를 통해 측정된다. 대안적으로 또는 추가적으로, 투입 물질 데이터는 투입 물질과 관련된 샘플/테스트 데이터를 포함할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 투입 물질 데이터는 밀도, 농도, 순도, pH, 조성, 점도, 온도, 중량, 부피 등 중 임의의 하나 이상과 같은 투입 물질의 임의의 물리적 및/또는 화학적 특성을 나타내는 값을 포함할 수 있다. 업스트림 장비 구역이 이전 장비 구역의 다운스트림인 경우, 투입 물질 데이터는 이전 장비 구역의 객체 식별자로부터 데이터의 일부를 포함할 수 있고, 예를 들어, 투입 물질 데이터는 이전 구역의 객체 식별자 또는 일부 경우에는 적어도 이전 객체 식별자로부터의 프로세스 데이터의 일부에 대한 참조 또는 링크를 포함할 수 있다.
기본 화학물질 생산 환경의 처리 장비에 의해 처리되는 투입 물질은 다음에서 "패키지 객체"(또는 각각 "물리적 패키지" 또는 "제품 패키지")라고 불리는 물리적 또는 실제 패키지로 구분된다는 점을 언급해야 한다. 그러한 패키지 객체의 패키지 크기는 물질 중량 또는 물질 양에 의해 고정될 수 있거나 또는 무게 또는 양에 기초하여 결정될 수 있으며, 이를 위해 처리 장비에 의해 상당히 일정한 프로세스 파라미터 또는 장비 작동 파라미터가 제공될 수 있다. 이러한 패키지 객체는 주입 장유닛을 통해 입력 액체 및/또는 고체 원료에서 생성될 수 있다.
이러한 패키지 객체의 후속 처리는 소위 "객체 식별자(Object identifier)"를 포함하는 대응하는 데이터 객체를 통해 관리되며, 이는 언급된 장비와 결합된 컴퓨팅 유닛을 통해 각 패키지 객체에 할당되거나 장비의 일부가 되기도 한다. 기본 패키지 객체의 대응하는 "객체 식별자"를 포함하는 데이터 객체는 컴퓨팅 유닛의 메모리 저장 요소에 저장된다.
데이터 객체는 장비를 통해 제공되는 트리거 신호에 응답하여, 바람직하게는 각 장비 유닛에 배치되는 대응하는 센서의 출력에 응답하여 생성될 수 있다. 위에서 언급한 바와 같이 기본 산업 플랜트에는 다양한 유형의 센서(예를 들면, 하나 이상의 프로세스 파라미터를 측정하기 위한 센서 및/또는 장비 또는 프로세스 유닛과 관련된 장비 동작 조건 또는 파라미터를 측정하기 위한 센서)가 포함될 수 있다.
언급된 "객체 식별자"는 더 구체적으로는 각각의 물질에 대한 디지털 식별자를 지칭한다. 예를 들어, 투입 물질에 대해 업스트림 객체 식별자가 제공된다. 마찬가지로, 이력 업스트림 객체 식별자는 이전에 처리되었던 특정 이력 투입 물질에 대응한다. 객체 식별자는 바람직하게는 컴퓨팅 유닛에 의해 생성된다. 객체 식별자의 제공 또는 생성은 장비에 의해 또는 예를 들어 업스트림 장비 구역으로부터의 트리거 이벤트 또는 신호에 응답하여 트리거될 수 있다. 객체 식별자는 컴퓨팅 유닛에 동작 가능하게 결합된 메모리 저장소 요소 또는 메모리 저장소에 저장된다. 메모리 저장소는 적어도 하나의 데이터베이스를 포함하거나 그 일부일 수 있다. 따라서, 객체 식별자는 데이터베이스의 일부가 될 수도 있다. 객체 식별자는 송신, 수신 또는 생성될 수 있는 것과 같은 임의의 적절한 방식을 통해 제공될 수 있음을 이해할 것이다.
"컴퓨팅 유닛"은 하나 이상의 처리 코어를 갖는 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러 등과 같은 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서를 포함할 수 있거나 이들일 수 있다. 일부 경우에, 컴퓨팅 유닛은 적어도 부분적으로 장비의 일부일 수 있으며, 예를 들어 프로그래밍 가능 로직 제어기("PLC") 또는 분산 제어 시스템("DCS")과 같은 프로세스 제어기일 수 있고/있거나 적어도 부분적으로는 원격 서버일 수 있다. 따라서, 컴퓨팅 유닛은 장비에 동작 가능하게 연결된 하나 이상의 센서로부터 하나 이상의 입력 신호를 수신할 수 있다. 컴퓨팅 유닛이 장비의 일부가 아닌 경우, 장비로부터 하나 이상의 입력 신호를 수신할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 컴퓨팅 유닛은 장비에 동작 가능하게 결합된 하나 이상의 액추에이터 또는 스위치를 제어할 수 있다. 하나 이상의 액추에이터 또는 스위치는 동작 가능하게 장비의 일부일 수도 있다.
"메모리 저장소"는 적절한 저장 매체에 데이터의 형태로 정보를 저장하기 위한 디바이스를 지칭할 수 있다. 바람직하게는, 메모리 저장소는 머신 판독가능한 디지털 형식, 예컨대, 컴퓨터 프로세서를 통해 판독가능한 디지털 데이터로 정보를 저장하기에 적합한 디지털 저장소이다. 따라서 메모리 저장소는 컴퓨터 프로세서에 의해 판독가능한 디지털 메모리 저장 디바이스로서 실현될 수 있다. 메모리 저장소는 클라우드 서비스에서 적어도 부분적으로 구현될 수 있다. 더욱 바람직하게는, 디지털 메모리 저장 디바이스 상의 메모리 저장은 컴퓨터 프로세서를 통해 조작될 수도 있다. 예를 들어, 디지털 메모리 저장 디바이스에 기록된 데이터의 임의의 부분은 컴퓨터 프로세서에 의해 새로운 데이터로 부분적으로 또는 전체적으로 기록 및/또는 삭제 및/또는 덮어쓰기될 수 있다.
"컴퓨팅 유닛"은 하나 이상의 처리 코어를 갖는 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러 등과 같은 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서를 포함할 수 있거나 이들일 수 있다. 일부 경우에, 컴퓨팅 유닛은 적어도 부분적으로 장비의 일부일 수 있으며, 예를 들어 프로그래밍 가능 로직 제어기("PLC") 또는 분산 제어 시스템("DCS")과 같은 프로세스 제어기일 수 있고/있거나 적어도 부분적으로는 원격 서버 및/또는 클라우드 서비스일 수 있다. 따라서, 컴퓨팅 유닛은 장비 또는 복수의 장비 구역에 동작 가능하게 연결된 하나 이상의 센서로부터 하나 이상의 입력 신호를 수신할 수 있다. 컴퓨팅 유닛이 장비의 일부가 아닌 경우, 장비 또는 장비 구역으로부터 하나 이상의 입력 신호를 수신할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 컴퓨팅 유닛은 장비에 동작 가능하게 결합된 하나 이상의 액추에이터 또는 스위치를 제어할 수 있다. 하나 이상의 액추에이터 또는 스위치는 동작 가능하게 장비의 일부일 수도 있다. 컴퓨팅 유닛은 장비 또는 복수의 장비 구역에 동작 가능하게 결합된다.
따라서, 컴퓨팅 유닛은 예를 들어, 장비 동작 조건 중 하나 이상을 조작함으로써 액추에이터 또는 스위치 및/또는 엔드 이펙터 유닛 중 임의의 하나 이상을 제어함으로써 생산 프로세스에 관련된 하나 이상의 파라미터를 조작할 수 있다. 제어는 바람직하게는 장비로부터 검색된 하나 이상의 신호에 응답하여 행해진다.
이 맥락에서 "엔드 이펙터 유닛" 또는 "엔드 이펙터"는 장비의 일부이고/이거나 장비에 동작 가능하게 연결되므로 장비 주변의 환경과 상호작용할 목적으로 장비 및/또는 컴퓨팅 유닛을 통해 제어할 수 있는 디바이스를 지칭한다. 몇 가지 비제한적 예로서, 엔드 이펙터는 절단기, 그리퍼, 분무기, 믹싱 유닛, 압출기 팁 등 또는 환경과 상호작용하도록 설계된 각각의 부품, 예컨대, 투입 물질 및/또는 화학 제품일 수 있다.
"특성" 또는 "특성들"은 투입 물질과 관련하여 투입 물질의 양, 배치 정보, 순도, 농도, 점도 또는 투입 물질의 임의의 특성과 같은 품질을 지정하는 하나 이상의 값 중 임의의 하나 이상을 지칭할 수 있다.
"인터페이스"는 하드웨어 및/또는 소프트웨어 컴포넌트, 적어도 부분적으로는 장비의 일부이거나 객체 식별자가 제공되는 다른 컴퓨팅 유닛의 일부일 수 있다. 예를 들어, 인터페이스는 애플리케이션 프로그래밍 인터페이스("API")일 수 있다. 일부 경우에, 인터페이스는 예를 들어, 네트워크에서 2개의 하드웨어 컴포넌트 및/또는 프로토콜 계층을 인터페이싱하기 위해 적어도 하나의 네트워크에 연결될 수도 있다. 예를 들어, 인터페이스는 장비와 컴퓨팅 유닛 사이의 인터페이스일 수 있다. 일부 경우에, 장비는 네트워크를 통해 컴퓨팅 유닛에 통신가능하게 결합될 수 있다. 따라서, 인터페이스는 네트워크 인터페이스일 수도 있거나, 네트워크 인터페이스를 포함할 수도 있다. 경우에 따라, 인터페이스는 연결 인터페이스일 수도 있거나, 연결 인터페이스를 포함할 수 있다.
"네트워크 인터페이스"는 네트워크와의 작동 연결을 허용하는 디바이스 또는 하나 이상의 하드웨어 및/또는 소프트웨어 컴포넌트의 그룹을 지칭한다.
"연결 인터페이스"는 전송 또는 교환 또는 신호 또는 데이터와 같은 통신을 수립하기 위한 소프트웨어 및/또는 하드웨어 인터페이스를 지칭한다. 통신은 유선일 수도 있고 무선일 수도 있다. 연결 인터페이스는 바람직하게는 하나 이상의 통신 프로토콜을 기반으로 하거나 이를 지원한다. 통신 프로토콜은 무선 프로토콜, 예를 들어, Bluetooth® 또는 WiFi와 같은 근거리 통신 프로토콜 또는 셀룰러 또는 모바일 네트워크, 예를 들어, 2세대 셀룰러 네트워크 또는 ("2G"), 3G, 4G, LTE(Long-Term Evolution) 또는 5G와 같은 원거리 통신 프로토콜일 수 있다. 대안으로 또는 추가적으로, 연결 인터페이스는 전용 근거리 또는 원거리 프로토콜을 기반으로 할 수도 있다. 연결 인터페이스는 임의의 하나 이상의 표준 및/또는 전용 프로토콜을 지원할 수 있다. 연결 인터페이스와 네트워크 인터페이스는 동일한 유닛이거나 상이한 유닛일 수 있다.
본 명세서에서 논의되는 "네트워크"는 임의의 적합한 종류의 데이터 전송 매체, 유선, 무선 또는 이들의 조합일 수 있다. 특정한 종류의 네트워크는 본 교시의 범위 또는 일반성을 제한하지 않는다. 따라서 네트워크는 적어도 하나의 통신 엔드포인트와 다른 통신 엔드포인트 사이의 어떤 적절한 임의의 상호연결부를 지칭할 수 있다. 네트워크는 하나 이상의 분배 포인트, 라우터 또는 다른 유형의 통신 하드웨어를 포함할 수 있다. 네트워크의 상호연결부는 물리적 배선, 광학 및/또는 무선 라디오 주파수 방법에 의해 형성될 수 있다. 네트워크는 구체적으로 광섬유 네트워크 또는 전기 전도성 케이블에 의해 완전히 또는 부분적으로 만들어진 네트워크 또는 이들의 조합과 같은 배선에 의해 완전히 또는 부분적으로 만들어진 물리적 네트워크일 수 있거나 이를 포함할 수 있다. 네트워크는 적어도 부분적으로 인터넷을 포함할 수 있다. 따라서, 프로세스 데이터의 개개의 서브세트의 일부가 적어도 객체 식별자에 첨부된다는 점을 이해할 것이다. 예를 들어, 투입 물질이 업스트림 장비 구역에 의해 처리되는 실시간 프로세스 데이터의 서브세트 전체가 업스트림 객체 식별자에 포함되거나, 서브세트 데이터의 선택된 일부가 첨부되거나 저장된다. 따라서, 장비 구역에서 투입 물질을 처리하기 위해 관련되었던 업스트림 실시간 프로세스 데이터의 스냅샷이 사용 가능하게 되거나 업스트림 객체 식별자와 연결된다. 실시간 프로세스 데이터 그 전체가 저장되는지 또는 일부가 저장되는지는, 예를 들어, 컴퓨팅 유닛을 통해 프로세스 데이터의 서브세트의 어느 부분이 객체 식별자에 첨부되어야 하는지에 관하여 결정하는 것에 기초할 수 있다. 결정은 예를 들어 화학 제품의 원하는 특성에 영향을 미치는 것보다 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 가장 지배적인 것에 기초하여 행해질 수 있다. 이는 소정의 경우에, 특히 관련 실시간 프로세스 데이터의 양이 많을 때 유리할 수 있으므로, 대량의 데이터를 업스트림 객체 식별자에 첨부하기보다는, 컴퓨팅 유닛이 실시간 프로세스 데이터의 서브세트 중 어느 것이 첨부되는지를 결정할 수 있다. 따라서, 객체 식별자에 첨부된 실시간 프로세스 데이터의 일부는 각각의 컴퓨팅 유닛을 통해 결정될 수 있다. 또한, 결정은 하나 이상의 ML 모델을 기반으로 할 수 있다. 이러한 모델은 본 개시에서 이후 더 상세히 논의될 것이다.
다른 양상에 따르면, 객체 식별자에는 업스트림 프로세스 특정 데이터도 첨부된다. 프로세스 특정 데이터는 전사적 자원 관리("ERP") 데이터, 예컨대, 주문 번호 및/또는 생산 코드 및/또는 생산 프로세스 레시피 및/또는 또는 배치 데이터, 수신자 데이터, 및 투입 물질을 화학 제품으로 변환하는 것과 관련된 디지털 모델 중 임의의 하나 이상일 수 있다. ERP 데이터는 산업 플랜트와 관련된 ERP 시스템으로부터 수신될 수 있다. 디지털 모델은 투입 물질의 화학 제품으로의 변환과 관련된 하나 이상의 물리적 및/또는 화학적 변화를 나타내는 컴퓨터 판독가능 수학적 모델 중 임의의 하나 이상일 수 있다. 수신 데이터는 예를 들면, 하나 이상의 고객 주문 및/또는 사양에 관련된 데이터일 수 있다. 배치 데이터는 생산 중인 배치에 관련될 수 있고/있거나 동일한 장비를 통해 제조된 이전 제품과 관련된 데이터일 수 있다. 그렇게 함으로써, 관련된 프로세스 특정 데이터를 묶음으로써 화학 제품의 추적 가능성을 더욱 향상시킬 수 있다. 보다 구체적으로, 배치 데이터는 동일한 장비를 통해 적어도 부분적으로 생산되지만 화학 제품이 하나 이상의 상이한 특성 또는 사양을 갖는 다양한 전구체의 생산 순서를 보다 최적화하는 데 사용될 수 있다. 예를 들어, 그러한 화학 제품의 생산은 후속 배치가 이전 배치로 인해 최소한의 영향을 받는 방식으로 조정 및/또는 순서화될 수 있다. 예를 들어, 2개 이상의 화학 제품의 색상이 다르면, 이들의 생산 순서는 업스트림 컴퓨팅 유닛을 통해 결정될 수 있어서 나중에 제조된 제품이 이전에 제조된 화학 제품으로 인해 이전 제품으로부터 색상의 흔적에 관하여 최소한의 영향을 받는다.
"성능 파라미터"는 화학 제품의 임의의 하나 이상의 특성일 수 있거나 이를 나타내거나 관련될 수 있다. 따라서, 성능 파라미터는 특정 적용 또는 사용을 위한 화학 제품의 적합성 또는 적합 정도를 나타내는 하나 이상의 사전정의된 기준을 충족해야 하는 그러한 파라미터이다. 소정의 경우에, 성능 파라미터는 화학 제품의 특정 적용 또는 사용을 위한 적합성 부족 또는 부적합 정도를 나타낼 수 있음을 알 것이다. 비제한적인 예로서, 성능 파라미터는 인장 강도와 같은 강도, 쇼어 경도와 같은 경도, 벌크 밀도와 같은 밀도, 색상, 농도, 조성, 점도, 질량 유동 값("MFV"), 영률 값과 같은 강성도, 백만분율("ppm") 값과 같은 순도 또는 불순물, 평균 고장 시간("MTTF")과 같은 고장률, 또는 예를 들어, 사전정의된 기준을 사용하여 테스트를 통해 결정된 임의의 하나 이상의 값 또는 값 범위 중 임의의 하나 이상일 수 있다. 따라서 성능 파라미터는 화학 제품의 성능 또는 품질을 나타낸다. 사전정의된 기준은 예를 들어, 화학 제품의 품질 또는 성능을 결정하기 위해 화학 제품의 성능 파라미터가 비교되는 하나 이상의 기준 값 또는 범위일 수 있다. 사전정의된 기준은 실험실 테스트, 신뢰성 또는 마모 테스트와 같은 하나 이상의 테스트를 사용하여 결정되었을 수 있으므로, 화학 제품의 성능 파라미터에 대한 요구사항이 하나 이상의 특정 사용 또는 적용에 적합하도록 정의된다. 일부 경우에, 성능 파라미터는 유도체 물질의 특성과 관련되거나 이로부터 측정될 수 있다.
본 맥락에서, "구역별"은 특정 장비 구역, 예를 들어, 업스트림 장비 구역에 관련됨을 의미한다는 것을 이해할 것이다. 따라서, 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터는 업스트림 장비 구역에 대해 계산될 수 있고/있거나 이들 중 하나 이상이 업스트림 장비 구역의 다운스트림인 하나 이상의 장비 구역에 대해 컴퓨팅 유닛에 의해 계산될 수 있다. 따라서 예측된 파라미터는 화학 제품에 직접 관련될 수 있고/있거나 화학 제품으로 변환되는 하나 이상의 유도체 물질과 관련될 수 있다.
일반적으로, 성능 파라미터는 생산 동안 및/또는 이후에 수집된 화학 제품 및/또는 유도 물질의 하나 이상의 샘플로부터 결정된다. 샘플은 성능 파라미터를 결정하기 위해 실험실로 가져와 분석될 수 있다. 샘플을 수집하고 이를 처리 또는 테스트한 다음 테스트 결과를 분석하는 전체 활동에는 상당한 시간과 자원이 소요될 수 있다는 것을 알 것이다. 따라서 샘플 수집과 투입 물질 및/또는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 임의의 조정을 구현하는 것 사이에 상당한 지연이 있을 수 있다. 이러한 지연 또는 늦음으로 인해 차선의 또는 낮은 품질의 화학 제품이 생산되거나, 최악의 경우 샘플이 분석되고 투입 물질 및/또는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 조정하여 임의의 시정 조치를 취할 때까지 생산이 중단될 수 있다.
투입 물질 및/또는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 조정하기 위한 샘플링 접근법의 늦음(lag)의 효과 적어도 감소시키기 위한 해결책으로서, 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 제안된 계산이 사용될 수 있다.
일 양상에 따르면, 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산은 적어도 부분적으로 분석 컴퓨터 모델인 모델을 사용하여 수행된다. 추가적으로 또는 대안적으로, 모델은 하나 이상의 기계 학습("ML") 모델일 수 있다. ML 모델은 예를 들면, 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터 이력 데이터를 사용하여 트레이닝될 수 있다.
본 교시의 맥락에서, ML 모델은 이력 데이터를 사용하여 트레이닝될 때 데이터 구동 모델이 될 수 있는 예측 모델일 수 있거나 이를 포함할 수 있다. "데이터 구동 모델(data driven model)"은 적어도 부분적으로 데이터(이 경우에는 이력 데이터)에서 유도된 모델을 의미한다. 순수하게 물리화학적 법칙을 사용하여 유도된 엄격한 모델과 달리, 데이터 구동 모델은 물리화학적 법칙으로 모델링할 수 없는 관계를 설명할 수 있다. 데이터 구동 모델을 사용하면 물리-화학적 법칙의 방정식을 풀지 않고도 관계를 설명할 수 있다. 이것은 계산 전력을 감소시키거나 속도를 향상시킬 수 있다.
데이터 구동 모델은 회귀 모델일 수 있다. 데이터 구동 모델은 수학적 모델일 수 있다. 수학적 모델은 제공된 성능 속성과 결정된 성능 속성 간의 관계를 함수로 설명할 수 있다.
따라서, 현재 맥락에서, 데이터 구동 모델, 바람직하게는 데이터 구동 기계 학습("ML") 모델 또는 단순한 데이터 구동 모델은 개개의 트레이닝 데이터세트(예를 들면, 업스트림 이력 데이터 또는 다운스트림 이력 데이터)에 따라 파라미터화되는 트레이닝되어 개개의 생산 프로세스와 관련된 반응 동역학 또는 물리 화학적 프로세스를 반영하는 수학적 모델을 지칭한다. 트레이닝되지 않은 수학적 모델은 반응 동역학 또는 물리-화학적 프로세스를 반영하지 않는 모델을 말하며, 예를 들어 트레이닝되지 않은 수학적 모델은 경험적 관찰에 기초한 과학적 일반화를 제공하는 물리 법칙에서 파생되지 않는다. 따라서 동역학 또는 물리화학적 속성은 트레이닝되지 않은 수학적 모델에 고유하지 않을 수 있다. 트레이닝되지 않은 모델은 이러한 속성을 반영하지 않는다. 개개의 트레이닝 데이터세트를 사용한 기능 엔지니어링 및 트레이닝을 통해 트레이닝되지 않은 수학적 모델의 파라미터화가 가능하다. 이러한 트레이닝의 결과는 단순한 데이터 구동 모델, 바람직하게는 데이터 구동 ML 모델이며, 이는 트레이닝 프로세스의 결과로서, 바람직하게는 전적으로 트레이닝 프로세스의 결과로 제품 프로세스에 관련된 반응 동역학 또는 물리 화학적 프로세스를 반영한다.
모델은 하이브리드 모델일 수도 있다. 하이브리드 모델은 전술한 바와 같이 블랙 박스라 불리는 데이터 구동 부분뿐만 아니라 분석적 모델 또는 화이트 박스로도 불리는 제1 월리 부분을 포함하는 모델을 지칭할 수 있다. 모델은 화이트 박스 모델과 블랙 박스 모델 및/또는 그레이 박스 모델의 조합을 포함할 수 있다. 화이트박스 모델은 물리화학적 법칙에 기초할 수 있다. 물리화학적 법칙은 제1 원리로부터 유도될 수 있다. 물리화학적 법칙은 화학 동역학, 질량 보존 법칙, 운동량 및 에너지, 임의 차원의 입자 집단 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 화이트 박스 모델은 개개의 생산 프로세스 또는 그 일부를 지배하는 물리-화학적 법칙에 따라 선택될 수 있다. 블랙 박스 모델은 예를 들어 하나 이상의 이력 객체 식별자로부터의 이력 데이터에 기초할 수 있다. 블랙 박스 모델은 기계 학습, 딥 러닝, 신경망 또는 기타 형태의 인공 지능 중 하나 이상을 사용하여 구축될 수 있다. 블랙 박스 모델은 트레이닝 데이터세트와 테스트 데이터 사이에 잘 맞는 모델이 될 수 있다. 그레이 박스 모델은 부분적인 이론적 구조와 데이터를 결합하여 모델을 완성한 모델이다.
여기에서 사용된 "기계 학습" 또는 "ML"이라는 용어는 기계가 명시적으로 프로그래밍하지 않고 데이터에서 작업을 "학습"할 수 있게 하는 통계적 방법을 지칭할 수 있다. 기계 학습 기법은 수동으로 기능을 선택한 다음 모델을 트레이닝시키는 워크플로우인 "전통적인 기계 학습"으로 구성될 수 있다. 전통적인 기계 학습 기법의 예로는 결정 트리, 지원 벡터 기계 및 앙상블 방법이 포함될 수 있다. 일부 예에서, 데이터 구동 모델은 데이터 기반 딥 러닝 모델을 포함할 수 있다. 딥 러닝은 인간 두뇌의 신경 경로를 느슨하게 모델링한 기계 학습의 서브세트이다. 딥(deep)은 입력 레이어와 출력 레이어 사이의 다수의 레이어를 나타낸다. 딥 러닝에서 알고리즘은 어떤 기능이 유용한지 자동으로 학습한다. 딥 러닝 기법의 예는 컨볼루션 신경망("CNN"), 장단기 기억("LSTM")과 같은 순환 신경망 및 심층 Q 네트워크를 포함할 수 있다.
본 개시에서 "ML 모델" 및 "트레이닝된 ML 모델"이라는 용어는 혼용될 수 있다. 특정 ML 모델이 의도한 기능을 수행할 수 있도록 트레이닝된 데이터의 종류는 당업자에게 명시되거나 명확할 것이다.
화학물질 생산은 상이한 장비로부터 많은 양의 데이터를 생산할 수 있는 데이터가 많은 환경일 수 있다. 또한, 제안된 개시가 산업 플랜트(특히, 화학 플랜트)에서 에지 컴퓨팅에 적합하고 보다 효율적인 품질 제어 방법 또는 시스템도 실현한다는 것도 이해할 것이다. 따라서 안전 및/또는 품질 제어와 같은 모니터링은, 객체 식별자가 성능 파라미터의 계산을 위해 관련 데이터의 집중 대상이 된 데이터세트를 제공함에 따라 처리 전력 및/또는 메모리 요구사항과 같은 계산 자원을 줄이면서, 주요하게는 스팟 또는 온-더-플라이에서 획득될 수 있다. 계산 지연을 줄이는 것도 가능할 수 있으므로 생산 프로세스의 속도를 늦추지 않고 대량 고속처리 알고리즘에 충분한 시간이 있는지 확인해야 한다. 또한 ML 모델에 대한 트레이닝 프로세스를 더 빠르고 효율적으로 만들 수 있다.
유사한 이유로 인해, 데이터세트가 컴팩트하고 효율적으로 만들어질 수 있으므로 본 교시가 클라우드 컴퓨팅에도 적합해진다. 많은 클라우드 서비스 제공자는 계산 자원의 활용에 기반한 종량제(pay-per-use) 모델로 운영하므로, 비용을 절감하거나 계산 능력을 보다 효율적으로 활용할 수 있다.
따라서, 일 양상에 따르면, 모델(적어도 부분적으로 적어도 하나의 ML 모델)은 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 사용하여 트레이닝될 수 있다. ML 모델을 트레이닝하는 데 사용되는 데이터는 이력 및/또는 현재 실험실 테스트 데이터 또는 화학 제품 및/또는 유도체 물질의 과거 및/또는 최근 샘플로부터의 데이터도 포함할 수 있다. 예를 들어, 이미지 분석, 실험실 장비 또는 기타 측정 기법과 같은 하나 이상의 분석에서 얻은 품질 데이터가 사용될 수 있다.
이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터로 트레이닝된 적어도 하나의 ML 모델은 따라서 화학 제품에 관련된 구역별 성능 파라미터 중 하나 이상을 예측하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 수동 샘플링 및 테스팅 요건 중 적어도 일부가 제거될 수 있어 시간 및 리소스를 절약할 수 있다.
따라서 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하기 위해 이력 데이터를 사용하여 트레이닝된 ML 모델은 투입 물질 데이터 및 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일부를 입력으로 수신할 수 있다. 따라서 ML 모델은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산된 값으로 제공할 수 있다. 따라서 이러한 ML 모델은 생산 프로세스를 모니터링하고 초기 단계에서 임의의 품질 제어 문제에 플래그를 지정하는 데 사용될 수 있다.
다른 양상에 따르면, 모델 또는 ML 모델은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터에 대한 신뢰 레벨을 나타내는 적어도 하나의 신뢰도 값을 제공할 수도 있다. 어떤 경우에는 신뢰도 값이 예를 들어 메타데이터로서 업스트림 객체 식별자에 추가될 수도 있다. 구역별 성능 파라미터의 예측 또는 계산의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지면, 생산을 위해 제어 시스템에서 경고가 트리거될 수 있다. 경고는 예를 들어 실험실 분석에 대한 샘플의 물리적 테스트를 개시하기 위한 경고 신호로서 생성될 수 있다. 이는 생산에서 수집된 샘플에 대해 특정 시간에 실험실 분석을 수행하는 대신 필요할 때 이러한 분석을 수행할 수 있다는 이점이 있다. 실험실 분석과 같이 비용과 시간이 많이 소요되는 수동 품질 제어의 요구 사항을 더욱 감소시킬 수 있다.
일부 경우에, 정확도 임계값 아래로 떨어지는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 예측 또는 계산의 신뢰 레벨에 응답하여, 샘플링 객체 식별자가 예를 들어 인터페이스를 통해 자동으로 제공된다. 처리 유닛은 관련 프로세스 데이터의 서브세트를 관련 물질에 대한 샘플링 객체 식별자에 첨부할 수 있고, 또한 샘플링 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부할 수 있다. 이렇게 하면 샘플링 객체 식별자에서 제공하는 추적으로 인해 제품에서 올바른 하나 이상의 샘플을 수집될 수 있다. 또한, 샘플링 객체 식별자의 데이터와 함께 샘플을 분석하여 신뢰 레벨이 떨어지는 원인을 찾을 수 있다. 이는 불일치를 유발한 것이 프로세스 파라미터인지, 투입 물질 데이터인지 또는 이들의 조합인지 여부를 결정할 수 있도록 한다. 따라서 다양한 변수 간의 복잡한 관계를 더 잘 이해하고 활용하여 품질 제어 프로세스를 더욱 개선할 수 있다다. 분석 결과는 향후 계산을 개선하기 위해 ML 모델을 재교육하는 데 사용될 수 있다. 예를 들어, 샘플링 객체 식별자에는 분석 결과 또는 데이터가 첨부될 수 있다. 따라서 샘플링 객체 식별자 데이터는 이력 데이터에 포함될 수 있고 미래에 적어도 하나의 성능 파라미터를 계산하는 데 사용될 수 있다.
일 양상에 따르면, 샘플링 객체 식별자에는 샘플링 객체 식별자에 대응하는 개개의 물질 또는 화학 제품에 대해 어느 또는 어떠한 종류의 또는 하나 이상의 테스트 또는 분석이 수행되어야 하는지 지정하는 테스트 유형 데이터가 첨부된다. 따라서 컴퓨팅 유닛은 테스트 유형 메타데이터를 샘플링 객체 식별자에 자동으로 첨부하도록 구성될 수 있다. 테스트 유형 데이터 또는 테스트 메타데이터는 신뢰 레벨 및/또는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터 및/또는 실시간 프로세스 데이터의 서브세트에 응답하여 결정될 수 있다. 따라서 관련 성능 파라미터에 따라 컴퓨팅 유닛은 테스트 유형 데이터를 추가하여 테스트 또는 분석 유형을 자동으로 지정하도록 구성될 수 있다. 이것은 바람직하지 않은 성능 파라미터 및/또는 신뢰 값의 원인을 결정하는 데 시간을 절약하는 것과 같은 이점을 가질 수 있다. 또한 샘플로 수행해야 할 작업을 결정하는 데 전문 사용자가 필요하지 않을 수 있다. 따라서 품질 문제를 더 빠르고 안정적으로 해결할 수 있다. 또한 생산의 특정 상황에 따라 하나 이상의 분석 또는 테스트를 자동으로 지정하기 위해 이력 객체 식별자, 특히 이력 샘플링 객체 식별자를 더 쉽게 활용할 수 있다. 따라서 사용자는 적절한 결정을 내리는 데 도움을 받을 수 있다.
추가로 또는 대안적으로, 샘플링 객체 식별자에는 샘플링 객체 식별자에 대응하는 개개의 물질 또는 화학 제품에 대해 적어도 하나의 테스트 또는 분석을 수행하는 데 사용해야 하는 테스트 물질 및/또는 하나 이상의 장치나 도구를 나타내는 도구 유형 데이터가 첨부된다. 이러한 방식으로 사용자는 샘플 물질 또는 제품을 분석하기 위해 어떤 종류의 장치 및/또는 테스트 물질을 사용해야 하는지 자동으로 선택함으로써 추가로 도움을 받을 수 있다. 공구 유형 데이터는 테스트 유형 데이터의 일부이거나 별도의 데이터일 수 있다. 일 양상에 따르면, 샘플링 객체 식별자에는 테스트 또는 분석을 수행하는 데 사용되는 장치 또는 도구에 대한 테스트 구성 데이터가 첨부된다. 테스트 구성 데이터는 테스트 유형 메타데이터 또는 도구 유형 데이터의 일부이거나 별도의 데이터일 수 있다.
일 양상에 따르면, 테스트 구성 데이터는 생성되는 샘플링 객체 식별자에 응답하여 각각의 하나 이상의 장치 또는 도구에 자동으로 제공된다. 그렇게 함으로써, 개개의 장치 또는 도구는 사용자가 그렇게 하지 않고 테스트 또는 분석을 수행하도록 자동으로 준비될 수 있다. 분석을 수행하기 위한 장치 및/또는 도구를 선택하여 인적 오류의 원인을 줄일 수도 있다. 바람직하게는, 테스트 구성 데이터는 테스트 및/또는 분석 중 적어도 하나를 적어도 부분적으로 자동으로 수행하기 위한 기계 판독 가능 명령어를 포함한다. 그러나 테스트 구성 데이터는 사용자가 사용할 수 있는 테스트 레시피를 적어도 부분적으로 포함할 수 있다. 후자는 적어도 전문 지식의 요구 사항을 줄이면서 필요한 테스트 및/또는 분석을 통해 사용자를 안내한다는 이점을 가질 수 있다. 전문 사용자라도 인적 오류의 원인을 줄일 수 있다. 테스트 및/또는 분석의 결과는 개개의 장치 및/또는 도구를 통해 완전히 또는 부분적으로 자동으로 대응하는 샘플링 객체 식별자에 첨부될 수 있거나, 수동 입력을 통해 적어도 부분적으로 첨부될 수 있다. 따라서 샘플링 객체 식별자는 나중에 예를 들어 이력 데이터와 같은 이력 객체 식별자로 사용할 수 있도록 더욱 풍부해질 수 있다.
일부 경우에는 동일한 ML 모델 또는 다른 모델이 실시간 프로세스 데이터의 서브세트 중 어떤 부분 또는 컴포넌트가 화학 제품에 가장 지배적인 영향을 미치는지 결정하기 위해 컴퓨팅 유닛에서 사용될 수 있다. 따라서, 컴퓨팅 유닛은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터에 무시할 수 있는 영향을 미치는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 제외할 수 있다. 따라서 특정 화학 제품에 추가되는 실시간 프로세스 데이터의 관련성은 이들 개개의 객체 식별자에 대해 개선될 수 있다.
일 양상에 따르면, 복수의 물리적으로 분리된 장비 구역은 또한 제조 또는 생산 프로세스 동안 투입 물질이 업스트림 장비 구역에서 다운스트림 장비 구역으로 진행하도록 하는 다운스트림 장비 구역을 포함한다. 경우에 따라 투입 물질은 다운스트림 장비 구역에 도달하기 전에 예를 들어 양이 분할되거나 감소될 수 있다. 따라서, 추가 양상에 따르면, 다운스트림 장비 구역에서 투입 물질의 적어도 일부에 대해 다운스트림 객체 식별자가 제공된다. 일부 경우에는 투입 물질의 적어도 일부가 유도체 물질로 불릴 수 있음을 이해할 것이다. 논의된 바와 유사하게, 구역 존재 신호는 투입 물질 또는 유도체 물질이 다운스트림 장비 구역에 있을 때를 검출하거나 계산하는 데 사용될 수 있으므로 컴퓨팅 유닛은 다운스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트를 결정할 수 있다. 따라서 컴퓨팅 유닛은 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트 및 다른 이력 데이터에 기초하여 다운스트림 식별자와 관련된 화학 제품의 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산할 수 있으며, 여기서 다른 이력 데이터는 다운스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함하고, 여기서 각각의 이력 다운스트림 객체 식별자에는 프로세스 파라미터 및/또는 다운스트림 장비 구역에서 투입 물질이 이전에 처리된 장비 동작 조건을 나타내는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부된다. 따라서 다운스트림 객체 식별자에는 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터가 첨부될 수 있다.
따라서, 방법은 또한 다음을 포함할 수 있다:
- 인터페이스를 통해, 적어도 업스트림 객체 식별자에 대한 참조를 포함하는 다운스트림 객체 식별자를 제공하는 단계;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 다운스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트를 결정하는 단계;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트 및 다른 이력 데이터에 기초하여 다운스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계 - 다른 이력 데이터는 다운스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함하고, 각각의 이력 다운스트림 객체 식별자에는 이전에 처리된 투입 물질이 다운스트림 장비 구역에서 처리 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부됨 - ;
- 다운스트림 객체 식별자에 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계.
- 또한, 이전에 논의된 바와 같이, 방법은 또한 다음을 포함할 수 있다:
- 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트의 적어도 일부를 다운스트림 객체 식별자에 추가하는 단계.
따라서 다운스트림 객체 식별자에는 다운스트림 장비 구역의 실시간 프로세스 데이터 중 적어도 일부가 추가된다. 이러한 방식으로, 다운스트림 객체 식별자는 업스트림 객체 식별자, 또는 보다 구체적으로는 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일부가 첨부된 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 적어도 부분적으로 캡슐화하거나 그로 인해 풍부해질 수 있다. 대안적으로, 다운스트림 객체 식별자는 업스트림 객체 식별자에 연결될 수 있다. 즉, 다운스트림 객체 식별자에 업스트림 객체 식별자가 첨부된다. 다운스트림 객체 식별자와 업스트림 객체 식별자는 동일한 위치 또는 메모리 저장소에 위치하거나 서로 다른 위치에 위치할 수 있다. 따라서, 다운스트림 객체 식별자는 적어도 부분적으로 다운스트림 객체 식별자의 일부인 업스트림 객체 식별자에 의해 또는 업스트림 객체 식별자가 다운스트림 객체 식별자에 첨부됨으로써 업스트림 객체 식별자와 관련된다.
이렇게 함으로써 생산 체인의 다양한 컴포넌트 품질에 대한 보다 미세한 가시성이 향상될 수 있다. 예를 들어, 각각의 특정 구역의 성능 파라미터를 사용하여 해당 특정 구역의 물질 품질을 추적할 수도 있다.
업스트림 장비 구역과 관에 관한 위의 논의와 유사하게 ML 모델은 다운스트림 장비 구역에도 적용될 수 있다. 이에 대한 몇 가지 예가 아래에 나열되어 있다.
예를 들어, 일 양상에 따르면, 이전에 논의된 모델과 유사한 다운스트림 모델(적어도 부분적으로 적어도 하나의 다운스트림 ML 모델)은 하나 이상의 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터에 기초하여 트레이닝될 수 있다. 다운스트림 ML 모델을 트레이닝하는 데 사용되는 데이터에는 과거 및/또는 현재 실험실 테스트 데이터 또는, 화학 제품 및/또는 유도체 물질의 과거 및/또는 최근 샘플로부터의 데이터가 포함될 수 있다. 예를 들어, 이미지 분석, 실험실 장비 또는 기타 측정 기술과 같은 하나 이상의 분석에서 얻은 품질 데이터가 사용될 수 있다.
따라서 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터로 트레이닝된 적어도 하나의 다운스트림 ML 모델은 화학 제품과 관련된 하나 이상의 구역별 성능 파라미터를 예측하는 데 사용될 수 있다. 따라서 샘플링 및 테스트 요구 사항의 적어도 일부를 제거할 수 있으므로 시간과 자원을 절약할 수 있다.
따라서, 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하기 위해, 이력 다운스트림 데이터를 사용하여 트레이닝되는 다운스트림 ML 모델은 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일부를 입력으로서 수신할 수 있다. 따라서 다운스트림 ML 모델은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산된 값으로 제공할 수 있다. 따라서 이러한 다운스트림 ML 모델은 생산 프로세스를 모니터링하고 초기 단계에서 보다 세밀하게 품질 제어 문제를 플래깅하기 위해 업스트림 장비 구역에 대한 ML 모델과 함께 사용할 수도 있다.
마찬가지로, 다운스트림 ML 모델은 또한 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터에 대한 신뢰 레벨을 나타내는 적어도 하나의 다운스트림 신뢰도 값을 제공할 수 있다. 다운스트림 신뢰도 값은 예를 들어 메타데이터와 같이 다운스트림 객체 식별자에 추가될 수도 있다. 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 예측 또는 계산의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지면 생산을 위한 제어 시스템에서 경고가 트리거될 수 있다. 경고는 예를 들어 실험실 분석을 위해 샘플의 물리적 테스트를 시작하기 위해 경고 신호로서 생성될 수 있다.
당업자는 "첨부" 또는 "첨부하는"이라는 용어가 예를 들어 데이터베이스 또는 메모리 저장소의 인접하거나 상이한 위치에서, 동일한 데이터베이스 또는 동일한 메모리 저장 요소 내에 메타데이터와 같은 상이한 데이터 요소를 저장하는 것과 같이 포함하거나 첨가하는 것을 의미할 수 있음을 이해할 것이다. 이 용어는 필요할 때 데이터 패키지 또는 스트림을 판독 및/또는 인출 및/또는 결합할 수 있는 방식으로 동일하거나 상이한 위치에 있는 하나 이상의 데이터 요소, 패키지 또는 스트림을 연결하는 것을 의미할 수도 있다. 위치 중 적어도 하나는 원격 서버의 일부이거나 적어도 부분적으로는 클라우드 기반 서비스의 일부일 수도 있다.
"원격 서버"는 플랜트에서 떨어진 곳에 위치한 하나 이상의 컴퓨터 또는 하나 이상의 컴퓨터 서버를 지칭한다. 따라서 원격 서버는 플랜트에서 수 킬로미터 이상 떨어져 있을 수 있다. 원격 서버는 다른 국가에 있을 수도 있다. 원격 서버는 적어도 부분적으로 클라우드 서비스 또는 플랫폼, 예를 들어, 서비스형 플랫폼("PaaS")으로서 구현될 수도 있다. 이 용어는 서로 다른 위치에 있는 둘 이상의 컴퓨터 또는 서버를 통칭할 수도 있다. 원격 서버는 데이터 관리 시스템일 수 있다.
일부 경우에, 업스트림 장비 구역을 통과한 후의 투입 물질은 전구체가 업스트림 장비 구역에 진입한 시간과 본질적으로 상당히 상이할 수 있음을 이해할 것이다. 따라서, 논의된 바와 같이, 다운스트림 구역에서 투입 물질의 진입시에, 투입 물질은 유도체 물질 또는 중간 처리 물질로 변환될 수 있다. 그러나, 단순함을 위해, 그리고 본 교시의 일반성을 잃지 않으면서, 본 개시에서 투입 물질이라는 용어는 생산 프로세스 동안 투입 물질이 그러한 중간 처리 물질 또는 유도체 물질로 전환되는 경우를 또한 지칭하는 데 사용될 것이다. 예를 들어, 화학 성분의 혼합물 형태인 투입 물질의 배치는 화학 반응을 유도하기 위해 배치가 가열되는 컨베이어 벨트 상의 업스트림 장비 구역을 통과할 수 있다. 그 결과, 투입 물질이 다운스트림 구역에 진입할 때, 업스트림 장비 구역을 나온 직후 또는 다른 구역도 지나간 후에, 그 물질은 투입 물질과 특성이 다른 유도체 물질이 될 수 있다. 그러나, 전술한 바와 같이, 이러한 유도체 물질은 적어도 이러한 중간 처리 물질과 투입 물질 사이의 관계가 생산 프로세스를 통해 정의되고 결정될 수 있기 때문에, 여전히 투입 물질로 불릴 수 있다. 더욱이, 다른 경우에, 예를 들어, 업스트림 장비 구역이 단순히 투입 물질을 건조시키거나 이를 필터링하여 원치않는 물질의 흔적을 제거하는 경우, 투입 물질은 업스트림 장비 구역 또는 다른 구역을 지나간 후에도 여전히 기본적으로 유사한 특성을 유지할 수 있다. 따라서, 당업자는 중간 구역 내의 투입 물질이 유도체 물질로 변환될 수도 변환되지 않을 수도 있음을 이해할 것이다.
일부 경우에, 업스트림 장비 구역과 다운스트림 구역 사이에 하나 이상의 중간 구역이 있을 수 있지만 그러한 구역에 대해 별도의 객체 식별자가 제공되지 않는다. 출원인은 투입 물질 또는 유도체 물질이 다른 물질과 결합되거나 투입 물질 또는 유도체 물질이 여러 부분으로 분할 또는 단편화될 때 다운스트림 객체 식별자를 생성하는 것이 더 유리하다는 것을 발견했다. 또는 더 일반적으로, 객체 식별자를 제공한 후, 다운스트림 객체 식별자 또는 임의의 추가 객체 식별자의 생성은 물질 질량 흐름이 변경되는 구역에서만 수행될 수 있다. 질량 흐름 변화는 투입 물질 또는 유도체 물질에 새로운 물질을 추가 또는 혼합한 결과 및/또는 투입 물질 또는 유도체 물질 또는 중간 처리된 물질에서 물질을 제거 또는 분할한 결과인 질량 변화일 수 있다. 예를 들어 수분 제거 또는 생산 중 화학 반응으로 인한 가스 방출로 인한 질량 변화는 경우에 따라 두 번째 또는 추가 객체 식별자를 트리거하는 발생에서 제외될 수 있다. 특히 투입 물질의 질량에 실질적인 변화가 없는 구역에서는 추가 객체 식별자가 제공되지 않을 수 있다. 여기서 질량의 "실질적인 변화"에 대한 한계를 지정하는 것은 중요하지 않는데, 왜냐하면 당업자는 그것이 무엇보다도 제조 중인 투입 물질 및/또는 화학 제품의 유형에 따라 달라질 수 있음을 이해할 것이기 때문이다. 예를 들어, 일부 경우에는 20% 이상의 질량 변화가 상당한 것으로 간주될 수 있는 반면, 다른 경우에는 5% 이상, 어떤 경우에는 1% 이상 또는 더 낮은 % 값일 수도 있다. 예를 들어, 귀한 제품(precious product)의 경우 귀하지 않은 다른 제품에 비해 작은 변화가 중요한 것으로 간주될 수 있다.
일부 예로서, 업스트림 장비 구역 이후의 장비 구역에서 객체 식별자의 제공 또는 생성에 대한 결정은 다음 중 임의의 것에 기초할 수 있다: 장비 구역에서의 백믹싱 정도가 장비 구역 앞 구역의 패키지 크기보다 작거나 거의 비슷하면 새로운 객체 식별자를 제공하지 않고, 장비 구역에서의 백믹싱 정도가 장비 구역 앞 구역의 패키지의 크기보다 크면 새로운 객체 식별자를 제공하며, 하나 이상의 운송 시스템 또는 요소를 포함하는 운송 구역인 장비 구역에 새로운 객체 식별자를 제공하지 않고, 장비 구역이 장비 구역에 있는 물질의 분리를 수반하는 경우 하나 이상의 컴포넌트에 대한 새로운 객체 식별자를 제공하며, 장비 구역에 있는 물질의 하나 이상의 컴포넌트는 물질의 분리된 컴포넌트이며, 물질을 적어도 하나의 패키지에 채우거나 패키징하는 것을 수반하는 경우 장비 구역에서 적어도 하나의 새로운 물체 식별자를 제공하며, 각 패키지는 하나 이상의 화학 제품을 포함한다.
논의된 바와 같이, 투입 물질, 유도체 물질 또는 화학 제품의 샘플이 분석을 위해 수집되는 경우, 이러한 샘플은 샘플 객체 식별자도 구비할 수 있다. 샘플 객체 식별자는 원칙적으로는 본 개시에서 논의된 객체 식별자와 유사할 수 있고 따라서 논의된 바와 같이 관련 대응 프로세스 데이터가 첨부된다. 따라서, 샘플에는 해당 샘플의 특성과 관련된 생산 프로세스의 정확한 스냅샷도 첨가될 수 있다. 따라서 분석 및 품질 관리를 더욱 향상시킬 수 있다. 또한, 생산 프로세스는 예를 들어, 하나 이상의 ML 모델의 향상된 트레이닝을 기반으로 상승적으로 개선될 수 있다.
또 다른 양상에 따르면, 생산 프로세스가 예를 들어, 컨베이어 시스템과 같은 이송 요소를 사용하여 구역 내에 또는 구역들 사이에서 물리적으로 이송되거나 이동되는 투입 물질을 포함할 때, 실시간 프로세스 데이터는 이송 요소의 속도 및/또는 생산 프로세스 동안 투입 물질이 이송되는 속도를 나타내는 데이터를 또한 포함할 수 있다. 속도는 하나 이상의 센서를 통해 직접 제공될 수 있고/있거나 예를 들어, 구역에 진입하는 시간과 구역에서 나가는 시간 또는 해당 구역에 이어 다른 구역에 진입하는 시간에 기초하여 컴퓨팅 유닛을 통해 계산될 수 있다. 따라서 객체 식별자는 구역에서의 처리 시간 양상, 특히 화학 제품의 하나 이상의 구역별 성능 파라미터에 영향을 줄 수 있는 것들로 더욱 보강될 수 있다. 또한, 출입 또는 후속 구역 진입의 타임 스탬프를 사용하여, 이송 요소용 속도 측정 센서 또는 디바이스의 요구사항을 제거할 수 있다.
또 다른 양상에 따르면, 각각의 객체 식별자는 고유 식별자, 바람직하게는 전역 고유 식별자("GUID")를 포함한다. 적어도 화학 제품의 추적은 화학 제품의 각 가상 패키지에 GUID를 첨가함으로써 향상될 수 있다. 선택적으로, 화학 제품은 GUID를 통해 투입 물질 생산에 사용되었던 투입 물질로 역추적될 수 있고, 시계열 데이터와 같은 프로세스 데이터의 데이터 관리도 감소할 수 있으며, 가상/물리적 패키지, 생산 이력 및 품질 관리 이력 사이의 직접적인 상관이 가능해질 수 있다.
ML 모델에 관해 논의된 바와 같이, 일 양상에 따르면, 업스트림 ML 모델은 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터에 기초하여 트레이닝될 수 있다. 트레이닝 데이터는 또한 과거 및/또는 현재 실험실 테스트 데이터, 또는 투입 물질 및/또는 화학 제품의 과거 및/또는 최근 샘플로부터의 데이터를 포함할 수 있다. 객체 식별자는 또한 업스트림 플랜트가 다운스트림 플랜트에서 생산된 화학 제품의 성능을 전구체 생산에 사용되었던 특정 투입 물질 및 그 물질을 처리하는 데 사용되었던 업스트림 프로세스 데이터에도 연결하는 것을 더 쉽게 할 수 있다. 이는 화학 제품의 일관된 품질을 보장하는 측면에서 상당한 이점을 가질 수 있다.
앞서 논의한 ML 모델의 이점 외에도, 각 생산 라인의 구역을 기반으로 트레이닝된 모델을 사용하면 물질을 보다 자세히 추적하고 그들 각각의 성능 파라미터와 화학 제품 성능 파라미터도 예측할 수 있다.
배치 생산과 같은 일부 생산 시나리오에서는 이러한 모델이 온 더 플라이로 사용되어 생산된 화학 제품뿐만 아니라 임의의 유도체 물질에 대해서도 품질 관리 문제를 표시할 수 있다.
따라서, 업스트림 및/또는 다운스트림 장비 구역 중 임의의 것 또는 각각은 개별 ML 모델을 통해 모니터링 및/또는 제어될 수 있으며, 개별 ML 모델은 해당 구역의 각각의 객체 식별자로부터의 데이터에 기초하여 트레이닝된다.
일 양상에 따르면, 구역에 대한 각각의 객체 식별자, 예를 들어, 다운스트림 객체 식별자의 제공은 투입 물질의 특성을 나타내는 값 중 임의의 하나 이상 및/또는 다운스트림 장비 동작 조건의 값 중 임의의 하나 이상 및/또는 사전정의된 임계값에 도달, 충족 또는 넘는 다운스트림 프로세스 파라미터의 값 중 임의의 하나 이상에 응답하여 발생하거나 트리거될 수 있다. 임의의 이러한 값은 하나 이상의 다운스트림 센서 및/또는 스위치를 통해 측정될 수 있다. 예를 들어, 사전정의된 임계값은 다운스트림 장비에서 도입되는 투입 물질의 중량 또는 양 값과 관련될 수 있다. 따라서, 장비에서 수신되는 투입 물질의 중량과 같은 양이 중량 임계값과 같은 사전정의된 양 임계값에 도달할 때, 트리거 신호가 생성될 수 있다. 객체 식별자를 제공하기 위한 트리거링 이벤트 또는 발생의 소정 예는 본 개시의 앞부분에서도 논의되었다. 트리거 신호에 응답하여 또는 양 또는 중량이 사전정의된 중량 임계값에 도달하는 것에 직접 응답하여, 객체 식별자가 제공될 수 있다. 트리거 신호는 별도의 신호일 수도 있거나, 예를 들어, 컴퓨팅 유닛 및/또는 장비를 통해 검출된 임계값과 같은 사전정의된 기준을 충족하는 특정 신호와 같은 이벤트일 수도 있다. 따라서, 투입 물질의 양이 사전정의된 양 임계값에 도달하는 것에 응답하여 객체 식별자가 제공될 수 있음을 또한 이해할 것이다. 양은 앞의 예에서 설명한 대로 중량으로서 측정될 수 있고/있거나 레벨, 충진 또는 충진 정도 또는 부피와 같은 및/또는 합산하거나 투입 물질의 질량 흐름에 적분을 적용함으로써 임의의 하나 이상의 다른 값일 수 있다.
따라서, 예를 들어, 업스트림 객체 식별자는 트리거 이벤트 또는 신호에 응답하여 제공될 수 있으며, 상기 이벤트 또는 신호는 바람직하게는 장비 또는 업스트림 장비 구역을 통해 제공된다. 이는 업스트림 장비에 동작 가능하게 결합된 하나 이상의 센서 및/또는 스위치 중 임의의 것의 출력에 응답하여 수행될 수 있다. 트리거 이벤트 또는 신호는 투입 물질의 양 값, 예를 들어, 미리 결정된 양 임계값에 도달하거나 충족하는 양 값의 발생과 관련될 수 있다. 상기 발생은 컴퓨팅 유닛 및/또는 업스트림 장비를 통해, 예를 들어, 하나 이상의 중량 센서, 레벨 센서, 충진 센서, 또는 투입 물질의 양을 측정하거나 검출할 수 있는 임의의 적합한 센서를 사용하여 검출될 수 있다.
업스트림 객체 식별자를 제공하기 위한 트리거로서 양을 사용하는 이점은 생산 프로세스 동안 물질의 양의 임의의 변화가 본 교시에서 설명한 바와 같이 추가의 하나 이상의 객체 식별자를 제공하기 위한 트리거로서 사용될 수 있다는 것이다. 출원인은 이것이 하나 이상의 화학 제품을 처리하거나 생산하기 위해 산업 환경에서 상이한 객체 식별자의 생성을 분할하는 최적의 방법을 제공하여 기본적으로 전체 생산 체인에 걸쳐 양 또는 질량 흐름을 설명하면서 투입 물질, 임의의 유도체 물질 및 결국 화학 제품도 추적될 수 있음을 알게 되었다. 새로운 물질이 도입 또는 투입되거나, 물질이 분리되는 포인트에만 객체 식별자를 제공함으로써, 생산의 종료 포인트에서뿐만 아니라 그 내부에서도 물질의 추적 가능성을 유지하면서 객체 식별자의 수를 최소화할 수 있다. 새로운 물질이 추가되지 않거나 물질이 분리되지 않는 장비 또는 생산 구역 내에서, 이러한 구역 내의 프로세스에 대한 지식을 사용하여 2개의 인접한 객체 식별자 내에서 관찰 가능성을 유지할 수 있다.
실시간 프로세스 데이터의 서브세트과 같은 데이터세트도 그 자체로 새롭고 독창적이라는 것을 알 수 있을 것이다. 따라서, 다른 관점에서 볼 때, 산업 플랜트에서의 생산 프로세스와 관련된 적어도 하나의 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함하는 시계열 데이터세트가 또한 제공될 수도 있으며, 이 데이터세트는 시작 시간 및 종료 시간에 의해 범위가 정해지고, 시간은 생산 프로세스 중 컴퓨팅 유닛을 통해:
- 생산 프로세스에 사용되는 물질의 물리적 흐름을
- 데이터세트가 자동으로 추출되는 실시간 시계열 데이터에 상관시킴으로써 자동으로 결정된다.
- 따라서 데이터세트는 생산 중에 본질적으로 즉석에서 생성된 관련성이 높고 타겟화된 데이터세트일 수 있다. 논의한 바와 같이, 이러한 방식으로 생성된 데이터세트는, ML 모델의 트레이닝, 에지 컴퓨팅 및 클라우드 컴퓨팅의 전부 또는 일부에 사용할 수 있고 효과적일 수 있다. 컴퓨팅 유닛은 상관 관계를 사용하여 특정 장비 구역에서 물질에 대한 구역 존재 신호를 생성하고 데이터세트가 해당 구역에서 물질이 처리되는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내도록 시작 시간과 종료 시간 내에서 데이터세트의 범위를 정할 수 있다. 데이터세트 또는 그 일부는 물질 관련된 객체 식별자에 첨부될 수 있으며, 이에 대한 세부 사항은 본 명세서에서 논의되었다.
유사하게, 또 다른 관점에서 볼 때, 산업 플랜트에서 화학 제품의 생산 프로세스와 관련된 적어도 하나의 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함하는 실시간 시계열 데이터 또는 프로세스 데이터의 서브세트를 제공하기 위한 방법도 제공될 수 있으며, 이 방법은 생산 프로세스 동안 메모리 저장소에 동작가능하게 결합된 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되고, 이 방법은:
- 컴퓨팅 장치에서 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계;
- 메모리 저장소에서 시작 신호를 통해 서브세트의 시작을 제공하는 단계;
- 메모리 저장소에서 정지 신호를 통해 서브세트의 정지를 제공하는 단계를 포함하고,
- 시작 신호 및 정지 신호는 서브세트가 실시간 프로세스 데이터에서 추출되도록 각각 시작 시간과 종료 시간 사이의 서브세트를 구분하는 데 사용된다.
이해할 수 있는 바와 같이, 시작 신호 및 정지 신호 중 하나 또는 둘 다는 본 개시에서 논의된 바와 같이 구역 존재 신호를 사용하여 제공될 수 있다. 따라서 화학 제품을 생산하기 위한 생산 프로세스에서 사용되는 재료의 물리적 흐름을 생성되는 실시간 프로세스 또는 시계열 데이터와 연관시켜 관련성이 높은 데이터세트를 생성할 수 있다.
데이터세트는 바람직하게는 화학 제품을 생산하기 위해 처리되는 재료의 개개의 객체 식별자에 첨부된다. 데이터세트 또는 그 일부는 또한 화학 제품의 객체 식별자에 첨부될 수 있다.
본 개시에서 논의된 다른 양상들이 여기에서 마찬가지로 조합될 수 있다.
다른 관점에서 볼 때, ML 모델을 트레이닝하기 위해, 바람직하게는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 결정하거나 예측하기 위해 여기에 개시된 데이터세트의 용도가 또한 제공될 수 있다. 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터가 다운스트림 산업 플랜트에서 생산을 모니터링 및/또는 제어하는 데 사용할 수 있다.
다른 관점에서 볼 때, 예를 들어 스포츠 상품 또는 신발과 같은 신발류를 제조하기 위한 생산 프로세스를 모니터링하기 위해 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 용도가 또한 제공될 수 있다. 따라서, 본 명세서에 개시된 임의의 방법 양상들에 따라 생성된 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터는 예를 들어 스포츠 상품 또는 신발과 같은 신발류 또는 훨씬 더 일반적으로 TPU 및/또는 ETPU로 만든 물품를 제조하기 위해, 다운스트림 산업 플랜트에서 사용될 수 있다. 다운스트림 산업 플랜트는 산업 플랜트와 다르거나 멀리 떨어져 있을 수 있다. 다운스트림 산업 플랜트는 산업 플랜트에 의해 공급되는 전구체 물질의 형태로 화학 제품을 받을 수 있다. 예를 들어, 전구체 물질은 물품 또는 스포츠 용품 또는 신발류의 생산 또는 제조에 사용되는 TPU 및/또는 ETPU일 수 있다.
다른 관점에서 볼 때, 데이터세트를 생성하기 위한 시스템이 또한 제공될 수 있으며, 시스템은 여기에 개시된 임의의 방법을 수행하도록 구성된다.
또 다른 관점에서 볼 때, 생산 프로세스를 모니터링하기 위한 시스템이 제공될 수 있으며, 시스템은 여기에 개시된 임의의 방법을 수행하도록 구성된다. 또는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하는 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 시스템이 제공되며, 제품은 제품 프로세스를 사용하여 복수의 장비 구역을 통해 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되고, 시스템은 본 명세서에 개시된 방법 중 임의의 것을 수행하도록 구성된다.
예를 들어, 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하기 위한 생산 프로세스를 모니터링하기 위한 시스템이 제공될 수 있으며, 산업 플랜트는 컴퓨팅 유닛 및 복수의 물리적으로 분리된 장비 구역을 포함하며, 제품은 생산 프로세스를 사용하여 복수의 장비 구역을 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으써 제조되고, 시스템은:
- 인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고- 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 -;
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 -;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서 투입 물질의 존재를 나타냄 -;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하고;
- 업스트림 개체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하도록 구성된다.
다른 관점에서 볼 때, 명령어를 포함하는 컴퓨터 프로그램이 제공될 수도 있고, 프로그램이 적합한 컴퓨팅 유닛에 의해 실행될 때 컴퓨팅 유닛으로 하여금 본 명세서에 개시된 임의의 방법을 수행하게 한다. 또한 프로그램을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체가 제공될 수 있으며, 프로그램은 적합한 컴퓨팅 유닛으로 하여금 본 명세서에 개시된 임의의 방법 단계를 실행하게 한다.
예를 들어, 컴퓨터 프로그램 또는 프로그램을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체가 제공될 수 있으며, 이는 프로그램이 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리하여 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 복수의 장비 구역에 동작가능하게 결합된 적절한 컴퓨팅 유닛에 의해 실행될 때, 컴퓨팅 유닛으로 하여금:
- 인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고- 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 -;
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 -;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서 투입 물질의 존재를 나타냄 -;
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하고;
- 업스트림 개체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하게 한다.
컴퓨팅 유닛이 인터페이스에 동작가능하게 결합될 수 있고/있거나 인터페이스가 컴퓨팅 유닛의 일부일 수 있음을 이해할 것이다.
컴퓨터 판독가능 데이터 매체 또는 캐리어는 본 명세서에 설명된 방법 또는 기능 중 임의의 하나 이상을 구현하는 하나 이상의 명령어 세트(예컨대, 소프트웨어)가 저장된 임의의 적합한 데이터 저장 디바이스를 포함한다. 명령어는 또한 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 구성할 수 있는 컴퓨팅 유닛, 주 메모리 및 처리 디바이스에 의해 실행되는 동안 주 메모리 및/또는 프로세서 내에 완전히 또는 적어도 부분적으로 상주할 수 있다. 명령어는 또한 네트워크 인터페이스 디바이스를 거쳐 네트워크를 통해 송신되거나 수신될 수 있다.
본 명세서에 기술된 하나 이상의 실시예를 구현하기 위한 컴퓨터 프로그램은 다른 하드웨어와 함께 또는 그 일부로서 공급되는 광학 저장 매체 또는 고체 상태 매체와 같은 적절한 매체에 저장 및/또는 배포될 수 있지만, 인터넷이나 다른 유선 또는 무선 원격통신 시스템과 같은 다른 형태로도 배포될 수 있다. 그러나, 컴퓨터 프로그램은 월드 와이드 웹과 같은 네트워크를 통해 제공될 수도 있으며 이러한 네트워크로부터 데이터 프로세서의 작업 메모리로 다운로드될 수 있다.
또한, 컴퓨터 프로그램 제품을 다운로드할 수 있도록 하기 위한 데이터 캐리어 또는 데이터 저장 매체도 제공될 수 있으며, 컴퓨터 프로그램 제품은 본 명세서에 개시된 임의의 양상에 따른 방법을 수행하도록 구성된다.
다른 관점에서 볼 때, 본 명세서에 개시된 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램 코드를 포함하는 컴퓨팅 유닛이 또한 제공될 수 있다. 또한, 본 명세서에 개시된 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램 코드를 포함하는 메모리 저장소에 동작 가능하게 결합된 컴퓨팅 유닛이 제공될 수 있다.
2개 이상의 컴포넌트가 "동작 가능하게" 결합되거나 연결된다는 것은 당업자에게 명백할 것이다. 비제한적인 방식으로, 이는 적어도 예를 들어, 인터페이스 또는 임의의 다른 적합한 인터페이스를 통해 결합되거나 연결된 컴포넌트 사이에 통신 연결이 있을 수 있음을 의미한다. 통신 연결은 고정되거나 제거 가능할 수 있다. 또한, 통신 연결은 단방향이거나 양방향일 수 있다. 또한, 통신 연결은 유선 및/또는 무선일 수 있다. 일부 경우에, 통신 연결은 제어 신호를 제공하는 데에도 사용될 수 있다.
이 맥락에서 "파라미터"는 온도, 방향, 위치, 양, 밀도, 중량, 색상, 수분, 속도, 가속도, 변화율, 압력, 힘, 거리, pH, 농도 및 조성과 같은 임의의 관련 물리적 또는 화학적 특성 및/또는 그 측정치를 지칭한다. 파라미터는 소정 특성의 유무를 지칭할 수도 있다.
"액추에이터"는 머신과 같은 장비와 관련된 메커니즘을 직간접적으로 이동시키고 제어하는 역할을 하는 임의의 컴포넌트를 지칭한다. 액추에이터는 밸브, 모터, 드라이브 등일 수 있다. 액추에이터는 전기식으로, 유압식으로, 공압식으로 또는 이들의 조합 중 임의의 것으로 작동할 수 있다.
"컴퓨터 프로세서"는 컴퓨터 또는 시스템의 기본 작동을 수행하도록 구성된 임의의 로직 회로부 및/또는 일반적으로 계산 또는 로직 연산을 수행하도록 구성된 디바이스를 지칭한다. 특히, 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서는 컴퓨터 또는 시스템을 구동하는 기본 명령어를 처리하도록 구성될 수 있다. 예로서, 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서는 적어도 하나의 산술 로직 유닛("ALU"), 수학 코프로세서 또는 수치 코프로세서와 같은 적어도 하나의 부동 소수점 유닛("FPU)", 복수의 레지스터, 구체적으로 피연산자를 ALU에 공급하고 연산 결과를 저장하도록 구성된 레지스터, 및 L1 및 L2 캐시 메모리와 같은 메모리를 포함할 수 있다. 특히, 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서는 멀티코어 프로세서일 수 있다. 구체적으로, 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서는 중앙 처리 장치("CPU")일 수 있거나 이를 포함할 수 있다. 처리 수단 또는 컴퓨터 프로세서는 복합 명령어 세트 컴퓨팅("CISC") 마이크로프로세서, 축소 명령어 세트 컴퓨팅("RISC") 마이크로프로세서, 긴 명령어 워드("VLIW") 마이크로프로세서, 또는 다른 명령어 세트를 구현하는 프로세서 또는 명령어 세트의 조합을 구현하는 프로세서일 수 있다. 처리 수단은 또한 주문형 집적 회로("ASIC"), 필드 프로그래머블 게이트 어레이("FPGA"), 복합 프로그래머블 로직 디바이스("CPLD"), 디지털 신호 프로세서("DSP"), 네트워크 프로세서 등과 같은 하나 이상의 특수 목적 처리 디바이스일 수도 있다. 본 명세서에 기술된 방법, 시스템 및 디바이스는 DSP, 마이크로컨트롤러 또는 임의의 다른 사이드 프로세서의 소프트웨어로서 또는 ASIC, CPLD 또는 FPGA 내의 하드웨어 회로로서 구현될 수 있다. 처리 수단 또는 프로세서라는 용어는 또한 복수의 컴퓨터 시스템(예컨대, 클라우드 컴퓨팅)에 걸쳐 배치된 처리 디바이스의 분산 시스템과 같은 하나 이상의 처리 디바이스를 지칭할 수 있으며, 달리 명시되지 않는 한 단일 디바이스로 제한되지 않음을 이해해야 한다.
"컴퓨터 판독가능 데이터 매체" 또는 캐리어는 본 명세서에 설명된 방법 또는 기능 중 임의의 하나 이상을 구현하는 하나 이상의 명령어 세트(예컨대, 소프트웨어)가 저장된 임의의 적합한 데이터 저장 디바이스 또는 컴퓨터 판독가능 메모리를 포함한다. 명령어는 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 구성할 수 있는 컴퓨팅 유닛, 주 메모리 및 처리 디바이스에 의해 실행되는 동안 주 메모리 및/또는 프로세서 내에 완전히 또는 적어도 부분적으로 상주할 수도 있다. 명령어는 또한 네트워크 인터페이스 디바이스를 거쳐 네트워크를 통해 송신되거나 수신될 수 있다.
본 교시의 소정 양상은 이 양상을 예를 들어 설명하는 다음 도면을 참조하여 이제 논의될 것이다. 본 교시의 일반성은 이에 의존하지 않기 때문에, 도면은 축척에 맞지 않을 수 있다. 도면에 도시된 소정 특징은 본 교시의 일반성에 영향을 미치지 않고 이해를 위해 물리적 특징과 함께 도시된 논리적 특징일 수 있다. 임의의 특정 요소나 행위에 대한 논의를 쉽게 식별하기 위해, 참조 번호에서 가장 중요한 숫자 또는 숫자들은 해당 요소가 처음 도입된 도면 번호를 지칭한다.
도 1은 본 교시에 따른 시스템의 소정 양상을 도시한다.
도 2는 본 교시에 따른 방법 양상을 도시한다.
도 3은 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제1 실시예를 도시한다.
도 4는 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제2 실시예를 도시한다.
도 5는 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제3 실시예를 도시한다.
도 6은 제조 또는 생산 프로세스 동안 투입 물질이 진행되는 복수의 장비 디바이스 및 이에 따른 복수의 장비 구역을 포함하는 산업 플랜트 또는 플랜트의 클러스터의 토폴로지 구조를 나타내는 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제1 실시예를 도시한다.
도 7은 도 6에 도시된 바와 같은 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제2 실시예를 도시한다.
도 8은 기계 학습(ML) 프로세스가 클라우드에서 구현되는, 조합된 블록/흐름도를 통해 클라우드 컴퓨팅 플랫폼을 사용하는 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 다른 실시예를 도시한다.
도 1은 본 교시에 따른 시스템의 소정 양상을 도시한다.
도 2는 본 교시에 따른 방법 양상을 도시한다.
도 3은 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제1 실시예를 도시한다.
도 4는 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제2 실시예를 도시한다.
도 5는 조합된 블록/흐름도를 통해 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 제3 실시예를 도시한다.
도 6은 제조 또는 생산 프로세스 동안 투입 물질이 진행되는 복수의 장비 디바이스 및 이에 따른 복수의 장비 구역을 포함하는 산업 플랜트 또는 플랜트의 클러스터의 토폴로지 구조를 나타내는 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제1 실시예를 도시한다.
도 7은 도 6에 도시된 바와 같은 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제2 실시예를 도시한다.
도 8은 기계 학습(ML) 프로세스가 클라우드에서 구현되는, 조합된 블록/흐름도를 통해 클라우드 컴퓨팅 플랫폼을 사용하는 본 교시에 따른 시스템 및 대응하는 방법의 다른 실시예를 도시한다.
도 1은 다운스트림 산업 플랜트에서 화학 제품(170)을 제조하기 위한 다운스트림 생산 프로세스를 제어하기 위한 시스템(168)의 예를 도시한다. 방법 양상의 적어도 일부는 또한 다음 논의에서 이해될 것이다. 산업 플랜트는 생산 프로세스를 사용하여 화학 제품(170)을 제조 또는 생산하기 위한 복수의 장비 구역 또는 적어도 하나의 장비 구역을 포함한다. 화학 제품(170)은 임의의 형태, 예를 들어, 의약품, 발포체, 영양 제품, 농산물 또는 전구체일 수 있다. 예를 들어, 화학 제품(170)은 과립 형태의 열가소성 폴리우레탄일 수 있다. 화학 제품(170)은 배치(batch), 예를 들어 각각 10kg의 패키지일 수도 있다. 논의된 바와 같이 이러한 화학 제품의 특성으로 인해 생산 체인에서 이들을 추적하기 어려울 수 있다. 그러나 각 컴포넌트(예: 각 유닛 또는 패키지 또는 내부 부품)가 일관되고 원하는 특성 또는 품질을 갖도록 하는 것이 중요할 수 있다. 본 교시는 그것을 가능하게 할 수 있다.
장비 구역은 도 1에 장비(예를 들어, 하퍼 또는 믹싱 팟(104))으로 도시되며, 이는 업스트림 장비 구역의 일부일 수 있다. 믹싱 팟(104)은 단일 물질 이거나 다수의 조성물(예를 들면, 메틸렌 디페닐 디이소시아네이트("MDI") 및/또는 폴리테트라하이드로푸란("PTHF"))을 포함할 수 있는 투입 물질을 수용한다. 여기서, 투입 물질은 두 부분으로 수용되는데, 이는 각각 제1 밸브(112a) 및 제2 밸브(112b)를 통해 믹싱 팟(104)에 공급되는 것으로 도시된다. 제1 밸브(112a) 및 제2 밸브(112b)는 또는 업스트림 장비 구역에 속할 수 있다.
객체 식별자, 이 경우에, 업스트림 객체 식별자(122)가 투입 물질(114)에 대해 제공된다. 업스트림 객체 식별자(122)는 고유 식별자, 바람직하게는 다른 객체 식별자와 구별가능한 전역적 고유 식별자("GUID")일 수 있다. GUID는 특정 산업 플랜트의 세부사항 및/또는 제조되는 화학 제품(170)의 세부사항 및/또는 날짜 및 시간의 세부사항, 및/또는 사용되는 특정 투입 물질의 세부사항에 따라 제공될 수 있다. 업스트림 객체 식별자(122)는 메모리 저장소(128)에 제공된 것으로 도시되어 있다. 메모리 저장소(128)는 컴퓨팅 유닛(124)에 동작가능하게 결합된다. 메모리 저장소(128)는 컴퓨팅 유닛(124)의 일부일 수도 있다. 메모리 저장소(128) 및/또는 컴퓨팅 유닛(124)은 적어도 부분적으로 클라우드 서비스의 일부일 수 있다.
컴퓨팅 유닛(124)은 예를 들어, 임의의 적절한 종류의 데이터 전송 매체일 수 있는 다운스트림 네트워크(138)를 통해 다운스트림 장비에 동작가능하게 결합된다. 컴퓨팅 유닛(124)은 플랜트 내의 장비의 일부일 수도 있고, 예를 들어 적어도 부분적으로 업스트림 장비 구역의 일부일 수도 있다. 컴퓨팅 유닛(124)은 적어도 부분적으로 DCS 및/또는 PLC와 같은 플랜트 제어 시스템일 수도 있다. 컴퓨팅 유닛(124)은 업스트림 장비 구역의 장비에 동작가능하게 결합된 하나 이상의 센서로부터 하나 이상의 신호를 수신할 수 있다. 예를 들어, 컴퓨팅 유닛(124)은 충진 센서(144) 및/또는 이송 요소(102a-b)에 관련된 하나 이상의 센서로부터 하나 이상의 신호를 수신할 수 있다. 상기 센서는 업스트림 장비 구역의 일부이기도 하다. 컴퓨팅 유닛(124)은 적어도 부분적으로 업스트림 장비 구역 또는 이의 몇몇 부분을 제어할 수도 있다. 예를 들어, 컴퓨팅 유닛(124)은 예를 들어, 개개의 액추에이터를 통해 밸브(112a, b) 및/또는 히터(118) 및/또는 이송 요소(102a-b)를 제어할 수 있다. 도 1의 예에서 이송 요소(102a, b) 및 다른 요소들은 하나 이상의 모터 및 모터를 통해 구동되는 벨트를 포함할 수 있는 컨베이어 시스템으로서 도시되어 이는 투입 물질(114)이 벨트를 통해 벨트의 횡 방향(120)으로 이송되게 이동한다.
본 교시의 범위 또는 일반성에 영향을 미치지 않으면서, 다른 종류의 이송 요소가 컨베이어 시스템과 함께 또는 대신에 사용될 수도 있다. 일부 경우에, 물질의 흐름, 예컨대, 하나 이상의 물질 유입 및 하나 이상의 물질 유출을 포함하는 임의의 종류의 장비를 이송 요소라고 할 수 있다. 따라서, 컨베이어 시스템 또는 벨트 외에, 압출기, 펠리타이저, 열 교환기, 버퍼 사일로, 믹서가 있는 사일로, 믹서, 믹싱 용기, 커팅 밀, 더블 콘 블렌더, 경화 튜브, 컬럼, 분리기, 추출, 박막 기화기, 필터, 체와 같은 장비도 이송 요소라고 할 수 있다. 따라서, 적어도 어떤 경우에는 물질이 질량 흐름을 통해 한 장비에서 다른 장비로 직접 이동하거나 한 장비를 통해 다른 장비로 정상적인 흐름으로서 이동할 수 있기 때문에 컨베이어 시스템으로서 이송 시스템의 존재는 선택적일 수 있음을 이해할 것이다. 예를 들어, 물질은 열 교환기에서 분리기로 직접 이동하거나 심지어 예컨대, 컬럼 등으로 이동할 수 있다. 따라서, 어떤 경우에는 하나 이상의 이송 요소 또는 시스템이 장비에 고유할 수 있다.
업스트림 객체 식별자(122)는 투입 물질(114)의 양과 관련된 신호 또는 이벤트일 수 있는 트리거 신호 또는 이벤트에 응답하여 제공될 수 있다. 예컨대, 충진 센서(144)는 투입 물질(114)의 충진 정도 및/또는 중량과 같은 적어도 하나의 양의 값을 검출하는 데 사용될 수 있다. 양이 사전결정된 임계값에 도달할 때, 컴퓨팅 유닛(124)은 메모리 저장소(128)에서 제1 업스트림 객체 식별자(122)를 자동으로 제공할 수 있다. 업스트림 객체 식별자(122)는 투입 물질에 관련된 데이터 또는 투입 물질 데이터를 포함한다. 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타낸다.
일부 경우에, 컴퓨팅 유닛(124)은 산업 플랜트의 모든 장비 또는 장비 구역으로부터 프로세스 데이터를 수신할 수 있다. 컴퓨팅 유닛(124)은 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정할 수 있다. 예를 들어, 트리거 신호 또는 이벤트는 업스트림 장비 구역에 대한 구역 존재 신호를 생성하는 데에도 사용될 수 있다. 따라서 구역 존재 신호는 업스트림 장비 구역에서 투입 물질(114)의 처리와 관련된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건뿐만 아니라 실시간 프로세스 데이터에 포함된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 시간 양상을 결정하는 데에도 사용될 수 있다. 컴퓨팅 유닛(124)은 화학 제품(170)과 관련된 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산할 수도 있고, 이는 업스트림 객체 식별자(122)와 관련된다. 계산은 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트를 기반으로 하며, 이 경우 업스트림 객체 식별자(122)에 선택적으로 추가된 것으로 도시된다. 계산은 또한 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함하는 이력 데이터에 기초한다. 각각의 이력 업스트림 객체 식별자는 과거에 업스트림 장비 구역에서 처리되었던 각각의 투입 물질과 관련된다. 각각의 이력 업스트림 객체 식별자에는 업스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질이 처리되었던 장비 동작 조건 및/또는 프로세스 파라미터를 나타내는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부된다.
적어도 하나의 구역별 성능 파라미터는 예를 들어, 메타데이터로서 업스트림 객체 식별자(122)에 첨부될 수 있다. 따라서, 업스트림 객체 식별자(122)는 화학 제품(170)의 품질과 관련된 성능 파라미터로 보강된다. 따라서 예를 들어 품질 관련 데이터를 결과적인 화학 제품(170)과 결합함으로써 추적 가능성을 향상시키면서 품질 제어 프로세스가 단순화되고 향상될 수 있다.
업스트림 장비 구역으로부터의 업스트림 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트는 투입 물질(114)이 업스트림 장비 구역에 있었던 시간 윈도우 내의 데이터일 수 있거나, 시간 윈도우는 훨씬 더 짧아서 그 시간 동안만 투입 물질(114)이 믹싱 팟(104)을 통해 처리되었다. 실시간 프로세스 데이터는 시간 윈도우를 결정하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 업스트림 객체 식별자(122)는 실시간 프로세스 데이터의 시간-차원을 사용함으로써 관련성이 높은 데이터로 보강될 수 있다. 따라서, 객체 식별자는 생산 프로세스에서 물질을 추적하는 데뿐만 아니라 에지 컴퓨팅 및/또는 클라우드 컴퓨팅을 보다 효과적으로 만들 수 있는 고품질 데이터를 캡슐화하는 데 사용될 수 있다. 객체 식별자 데이터는 기계 학습 모델의 빠른 교육 및 재교육에 매우 적합할 수 있다. 객체 식별자에 캡슐화된 데이터가 기존 데이터세트보다 더 콤팩트할 수 있으므로 데이터 통합도 단순화할 수 있다.
실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트의 적어도 일부는 업스트림 장비 구역에서 투입 물질(114)이 처리되는 장비 동작 조건, 즉 믹싱 팟(104) 및 밸브(112a-b)의 작동 조건 및/또는 프로세스 파라미터를 나타내고, 예를 들어, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 충진 정도, 온도, 수분, 타임 스탬프 또는 진입 시간, 진출 시간 등 중 임의의 하나 이상을 나타낸다. 이 경우 장비 동작 조건은 밸브(112a, b) 및/또는 믹싱 팟(104)의 제어 신호 및/또는 설정 포인트일 수 있다. 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트는 시계열 데이터일 수 있거나 이를 포함할 수 있으며, 이는 예를 들어 충진 센서(144)의 출력과 같은 하나 이상의 센서를 통해 얻을 수 있는 시간 의존적 신호를 포함할 수 있음을 의미한다. 시계열 데이터는 연속적인 신호를 포함할 수 있거나 이들 중 임의의 것이 규칙적이거나 불규칙한 시간 간격으로 간헐적일 수 있다. 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트는 믹싱 팟(104)으로부터 하나 이상의 타임 스탬프, 예를 들어 진입 시간 및/또는 진출 시간을 포함할 수도 있다. 따라서, 특정 투입 물질(114)은 업스트림 객체 식별자(122)를 통해 그 투입 물질(114)과 관련된 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트와 연관될 수 있다. 업스트림 객체 식별자(122)는 특정 프로세스 데이터 및/또는 장비 동작 조건이 특정 화학 제품과 상관될 수 있도록 생산 프로세스의 다른 객체 식별자 다운스트림에 첨부될 수 있다. 다른 중요한 이점은 본 개시의 다른 부분, 예를 들어, 요약 섹션에서 이미 논의되었다.
이송 요소(102a, b) 및 관련 벨트를 포함하는 컨베이어 시스템은 업스트림 장비 구역의 다운스트림에 있는 중간 장비 구역으로 간주될 수 있다. 이 예에서 중간 장비 구역은 벨트를 가로지르는 투입 물질에 열을 가하는 데 사용되는 히터(118)를 포함한다. 컨베이어 시스템은 하나 이상의 센서, 예를 들어 속도 센서, 중량 센서, 온도 센서 또는 중간 장비 구역에서 투입 물질(114)의 프로세스 파라미터 및/또는 특성을 측정하거나 검출하기 위한 임의의 다른 종류의 센서 중 임의의 하나 이상을 포함할 수도 있다. 센서의 일부 또는 모든 출력은 컴퓨팅 유닛(124)에 제공될 수 있다.
투입 물질(114)이 횡 방향(120)을 따라 진행함에 따라, 히터(118)를 통해 열이 가해진다. 히터(118)는 컴퓨팅 유닛(124)에 동작가능하게 결합될 수 있으며, 즉, 컴퓨팅 유닛(124)은 히터(118)로부터 신호 또는 실시간 프로세스 데이터를 수신할 수 있다. 또한, 히터(118)는 컴퓨팅 유닛(124)을 통해, 예를 들어 하나 이상의 제어 신호 및/또는 설정 포인트를 통해 제어가능하다. 따라서,
유사하게, 이송 요소(102a, b) 및 관련 벨트를 포함하는 컨베이어 시스템은 또한 컴퓨팅 유닛(124)에 동작가능하게 결합될 수 있으며, 즉, 컴퓨팅 유닛(124)은 신호 또는 프로세스 데이터를 이송 요소(102a, b)로부터 수신할 수 있다. 결합은 예를 들어 네트워크를 통해 이루어질 수 있다. 더욱이, 이송 요소(102a, b)는 컴퓨팅 유닛(124)을 통해, 예를 들어 컴퓨팅 유닛(124)을 통해 제공된 하나 이상의 제어 신호 및/또는 설정 포인트를 통해서도 제어가능할 수 있다. 예를 들어, 이송 요소(102a, b)의 속도는 컴퓨팅 유닛(124)에 의해 관찰가능 및/또는 제어가능할 수 있다. 선택적으로, 투입 물질(114)의 양이 중간 장비 구역에서 일정하거나 거의 일정하기 때문에, 추가 객체 식별자가 중간 장비 구역에 제공되지 않을 수 있다. 따라서, 중간 장비 구역, 즉 히터(118) 및/또는 이송 요소(102a, b)로부터의 프로세스 데이터는 또한 이전 또는 전술한 구역의 객체 식별자, 즉 업스트림 객체 식별자(122)에 첨부될 수 있다. 따라서 첨부된 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트는 중간 장비 구역으로부터의 프로세스 파라미터 및/또는 중간 장비 구역에서 투입 물질(114)이 처리되는 장비 동작 조건, 즉 히터(118) 및/또는 이송 요소(102a, b)의 작동 조건, 예를 들어, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 중간 구역으로부터의 하나 이상의 온도 값, 진입 시간, 진출 시간, 이송 요소(102a, b) 및/또는 벨트의 속도 등 중 임의의 하나 이상을 더 나타내도록 보강될 수 있다. 이 경우 장비 동작 조건은 이송 요소(102a, b) 및/또는 히터(118)의 제어 신호 및/또는 설정 포인트일 수 있다. 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트는 주로 투입 물질(114)이 각각의 장비 구역에 존재하는 시구간과 관련된다는 것이 명백할 것이다. 따라서, 특정 투입 물질(114)에 대한 관련 프로세스 데이터의 정확한 스냅샷이 업스트림 객체 식별자(122)를 통해 제공될 수 있다. 투입 물질(114)의 추가 관찰 가능성은 중간 장비 구역 내의 생산 프로세스(예컨대, 화학 반응)의 특정 부분 또는 일부에 대한 지식을 통해 추출될 수 있다. 대안적으로 또는 추가로, 투입 물질(114)이 중간 장비 구역을 통과하는 속도는 컴퓨팅 유닛(124)을 통해 추가 관찰 가능성을 추출하는 데 사용될 수 있다. 특정 타임 스탬프를 갖는 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트, 또는 시계열 데이터, 및/또는 중간 장비 구역에서 투입 물질(114)의 진입 시간 및/또는 진출 시간과 함께, 투입 물질(114)이 중간 장비 구역에서 처리되는 조건의 보다 세분화된 세부사항이 업스트림 객체 식별자(122)로부터 획득될 수 있다.
업스트림 객체 식별자(122)로부터의 데이터는 생산 프로세스 및/또는 특정 부분(예컨대, 업스트림 장비 구역 및/또는 중간 장비 구역 내의 생산 프로세스의 일부)을 모니터링을 위한 하나 이상의 ML 모델을 트레이닝시키는 데 사용될 수 있다. ML 모델 및/또는 업스트림 객체 식별자(122)는 화학 제품의 하나 이상의 구역별 성능 파라미터를 하나 이상의 구역에서 다운스트림 생산 프로세스의 세부사항에 상관시키는 데에도 사용될 수 있다.
투입 물질(114)이 횡 방향(120)을 따라 진행함에 따라, 그 특성이 변경될 수 있고 유도체 물질(116)로 변환 또는 전환될 수 있음을 이해할 것이다. 예컨대, 히터(118)가 투입 물질(114)을 가열함에 따라, 유도체 물질(116)이 생성될 수 있다. 당업자는 단순함과 이해의 용이함을 위해 유도체 물질(116)이 때때로 본 교시에서 투입 물질로 지칭될 수도 있음을 이해할 것이다. 예를 들어, 논의 중인 장비 구역 또는 컴포넌트의 맥락에서, 투입 물질이 이 예의 설명에서 논의된 생산 프로세스 내에서 어느 단계에 있는지가 명확할 것이다.
이제 물질이 여러 부분으로 나누어지는 구역의 예를 논의한다. 도 1은 그러한 구역을 커팅 밀(142) 및 제2 이송 요소(106a, b)를 포함하는 다운스트림 장비 구역으로서 도시한다. 횡 방향(154)을 따라 가로지르는 유도체 물질(116)은 커팅 밀(142)을 사용하여 분할 또는 단편화되므로, 이 예에서 제1 분할 물질(140a) 및 제2 분할 물질(140b)로서 도시된 복수의 부분이 된다.
따라서, 본 교시의 양상에 따르면, 부분마다 개별 객체 식별자가 제공될 수 있다. 그러나 어떤 경우에는 부분마다 개별 객체 식별자를 제공하는 대신, 객체 식별자가 부분 중 하나 또는 부분 중 일부에 대해서만 제공될 수 있다. 예를 들어, 어떤 부분을 추적하는 것이 관심이 없는 경우가 이에 해당할 수 있다. 예를 들어, 버려지는 유도체 물질(116)의 일부에 대해서는 객체 식별자가 제공되지 않을 수 있다. 이제 다시 도 1을 참조하면, 제1 분할 물질(140a)에 대해 제1 다운스트림 객체 식별자(130a)가 제공되고, 제2 분할 물질(140b)에 대해 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)가 제공된다.
제1 다운스트림 객체 식별자(130a)는 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a)에 선택적으로 첨부되고 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)는 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)에 선택적으로 첨부된다. 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a)는 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)의 사본일 수 있거나 부분적으로 동일한 데이터일 수 있다. 예를 들어, 제1 분할 물질(140a)과 제2 분할 물질(140b)이 동일한 프로세스, 즉 본질적으로 동일한 장소 및 시간을 겪으면, 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)에 첨부된 프로세스 데이터는 동일하거나 유사할 수 있다. 그러나, 다운스트림 장비 구역 내에서 다운스트림 객체 식별자(130a)와 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)가 다르게 취급된다면, 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a)와 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)는 서로 다를 수 있다.
그러나, 일부 경우에 선택적으로 단 하나의 객체 식별자만이 커팅 밀(142)에 제공될 수 있고, 그 후 커팅 밀(142)을 통해 처리된 물질이 복수의 부분으로 분할되면 복수의 객체 식별자가 커팅 밀(142) 다음에 제공될 수 있음을 당업자는 이해할 것이다. 따라서, 특정 생산 프로세스의 세부사항에 따라, 커팅 밀이 분리 디바이스일 수도 있고 아닐 수도 있다. 유사하게, 어떤 경우에는 커팅 밀에 대해 새로운 객체 식별자가 제공되지 않아서 구역으로부터의 프로세스 데이터가 이전 객체 식별자에 첨부될 수 있다. 따라서 물질이 분할 및/또는 결합되는 구역에서 새로운 객체 식별자가 제공될 수 있다. 예를 들어, 일부 경우에, 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)는 커팅 밀(142) 이후에, 예를 들어 커팅 밀(142)에 후속하는 상이한 구역에서 진입시에 제공될 수 있다.
이 예에서, 다운스트림 장비 구역은 또한 카메라 또는 임의의 다른 종류의 광학 센서일 수 있는 이미징 센서(146)를 포함한다. 이미징 센서(146)는 또한 컴퓨팅 유닛(124)에 동작가능하게 결합될 수 있다. 이미징 센서(146)는 다운스트림 장비 구역에 들어가기 전에 유도체 물질(116)의 하나 이상의 특성을 측정하거나 검출하는 데 사용될 수 있다. 이것은 예를 들어 주어진 품질 기준을 충족하지 않는 물질을 거부하거나 전환하기 위해 수행될 수 있다. 물질의 질량 흐름이 다운스트림 장비 구역에서 변경됨에 따라, 본 교시의 양상에 따르면, 다른 객체 식별자(도 1에 도시되지 않음)가 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b) 이전에 제공되었을 수 있다.
다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)의 제공은 이미징 센서(146)를 통해 품질 기준을 통과하는 유도체 물질(116)에 응답하여 트리거될 수 있다. 인접 구역 또는 객체 식별자로부터의 데이터, 예를 들어, 중간 장비 구역으로부터의 질량 흐름 및 다운스트림 장비 구역으로의 질량 흐름을 상관시킴으로써, 컴퓨팅 유닛(124)은 어떤 특정 투입 물질(114) 또는 유도체 물질(116)이 후속 구역에 유입되는 물질과 관련이 있는지 결정할 수 있다. 대안적으로 또는 추가로, 2개 이상의 타임 스탬프, 예를 들어 중간 장비 구역으로부터의 출구의 타임 스탬프 및 이미징 센서(146)를 통한 검출 및/또는 추가 다운스트림 장비 구역에서의 진입의 타임 스탬프는 구역들 사이에 상관될 수 있다. 센서 출력을 통해 직접 측정되거나 2개 이상의 타임스탬프로부터 결정되는 이송 요소(102a, b)의 속도는 투입 물질의 특정 패킷 또는 배치와 이의 객체 식별자 사이의 관계를 수립하는 데 사용될 수도 있다. 따라서 특정 화학 제품(170)이 주어진 시간에 생산 프로세스 내에 있었던 곳이 결정될 수 있으므로, 시공간 관계가 수립될 수 있다. 이러한 양상 중 일부 또는 전부는 투입 물질에서 완제품까지 화학 제품(170)의 추적 가능성을 개선하는 데뿐만 아니라 생산 프로세스를 모니터링 및 개선하고 더 적응 가능하고 제어 가능하게 하는 데에도 사용할 수 있다.
논의된 바와 같이, 제1 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)에는 추가 다운스트림 장비 구역으로부터 각각 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a) 및 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)가 첨부된다. 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a)와 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)는 업스트림 객체 식별자(122)에 링크되거나 첨부될 수 있다. 이전에 논의된 업스트림 객체 식별자(122)와 유사하게, 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a) 및 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건, 즉 이미징 센서(146)의 출력, 추가 다운스트림 장비 구역에서 유도체 물질(116)이 처리되는 커팅 밀(142) 및 제2 이송 요소(106a, b)의 작동 조건, 예를 들어, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 충진 정도, 온도, 광학 특성, 타임 스탬프 등을 나타낸다. 이 경우 장비 동작 조건은 커팅 밀(142) 및/또는 제2 이송 요소(106a, b)의 제어 신호 및/또는 설정 포인트일 수 있다. 다운스트림 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132a) 및 다운스트림 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)는 시계열 데이터를 포함할 수 있으며, 이는 예를 들어 이미징 센서(146)의 출력 및/또는 제2 이송 요소(106a, b)의 속도와 같은 하나 이상의 센서를 통해 획득될 수 있는 시간 의존적 신호를 포함할 수 있음을 의미한다.
유도체 물질(116)이 이미징 센서(146)를 만난 후 진행함에 따라, 제2 이송 요소(106a, b)에 의해 구동되는 횡 방향(154)으로 커팅 밀(142)을 향해 이동된다. 제2 이송 요소(106a, b)는 이 예에서 이송 요소(102a, b)를 포함하는 컨베이어 시스템과 별개인 제2 컨베이어 벨트 시스템의 일부로서 도시되어 있다. 제2 컨베이어 벨트 시스템이 이송 요소(102a, b)를 포함하는 동일한 컨베이어 시스템의 일부일 수도 있음을 이해할 것이다. 따라서, 다운스트림 장비 구역은 다른 구역에서 사용되는 동일한 장비의 일부를 포함할 수 있다.
도 1에서 볼 수 있는 바와 같이, 제1 분할 물질(140a) 및 제2 분할 물질(140b)이 생산시 나중에 상이한 방식으로 진행되더라도, 그들 각각의 객체 식별자, 즉 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)는 나머지 생산 프로세스를 통해 그리고 어떤 경우에는 그 이후에도 그들을 개별적으로 따르거나 추적하는 것을 허용한다.
다운스트림 장비 구역을 빠져나간 후, 제1 분할 물질(140a)은 압출기(150)로 공급되는 반면, 제2 분할 물질(140b)은 경화 장치(162) 및 제3 이송 요소(108a, b)를 포함하는 제3 장비 구역에서 경화를 위해 이송된다. 따라서 도시된 이송 요소(108a, b)는 이전에 논의된 바와 같이 비제한적인 예이다. 제3 장비 구역은 업스트림 장비 구역과 다운스트림 장비 구역의 다운스트림에 있음을 알 수 있다.
제2 분할 물질(140b)이 벨트를 통해 횡 방향(156)으로 이동함에 따라, 경화 장치(162)를 통해 경화 프로세스를 진행하여 제2 분할 물질(160)이 경화된다. 실질적인 질량 변화가 발생하지 않을 수 있으므로, 양상에 따르면, 제3 장비 구역에 대해 새로운 객체 식별자가 제공되지 않을 수 있다. 따라서, 이전에 논의된 바와 같이, 제3 장비 구역으로부터의 프로세스 데이터는 또한 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)에 첨부될 수 있다. 전술한 것과 유사하게, 따라서 첨부된 실시간 프로세스 데이터의 제2 서브세트(132b)는 제3 장비 구역으로부터의 프로세스 파라미터 및/또는 제3 장비 구역에서 제2 분할 물질(140b)이 처리되는 장비 동작 조건, 즉 경화 장치(162) 및/또는 이송 요소(108a, b)의 작동 조건, 예를 들어, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 제3 구역으로부터의 하나 이상의 온도 값, 진입 시간, 진출 시간, 이송 요소(108a, b) 및/또는 벨트의 속도 등 중 임의의 하나 이상을 더 나타내도록 보강될 수 있다. 이 경우 장비 동작 조건은 이송 요소(108a, b) 및/또는 경화 장치(162)의 제어 신호 및/또는 설정 포인트일 수 있다.
유사하게, 제1 분할 물질(140a)은 압출기(150), 온도 센서(148) 및 제4 이송 요소(110a, b)를 포함하는 제4 장비 구역으로 진행한다. 여기서도 실질적인 질량 변화가 발생하지 않을 수 있으므로, 양상에 따르면, 제4 장비 구역에 대해 새로운 객체 식별자가 제공되지 않을 수 있다. 따라서, 이전에 논의된 바와 같이, 제4 장비 구역으로부터의 프로세스 데이터는 또한 다운스트림 객체 식별자(130a)에 첨부될 수 있다. 전술한 것과 유사하게, 따라서 첨부된 실시간 프로세스 데이터의 제1 서브세트(132b)는 제4 장비 구역으로부터의 프로세스 파라미터 및/또는 제4 장비 구역에서 제1 분할 물질(140a)이 처리되는 장비 동작 조건, 즉 압출기(150) 및/또는 온도 센서(148) 및/또는 이송 요소(110a, b)의 작동 조건, 예를 들어, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 제4 구역으로부터의 하나 이상의 온도 값, 진입 시간, 진출 시간, 이송 요소(110a, b) 및/또는 벨트의 속도 등 중 임의의 하나 이상을 더 나타내도록 보강될 수 있다. 이 경우 장비 동작 조건은 이송 요소(110a, b) 및/또는 압출기(150)의 제어 신호 및/또는 설정 포인트일 수 있다. 따라서, 제1 분할 물질(140a)의 압출된 물질(152)로의 변환의 특성 및 의존성도 다운스트림 객체 식별기(130a)에 포함될 수 있다. 제4 장비 구역도 업스트림 장비 구역 및 다운스트림 장비 구역의 하류에 있음을 알 것이다.
알 수 있듯이, 개별 객체 식별자의 수는 생산 프로세스 전반에 걸쳐 물질 및 제품 모니터링을 개선하면서 줄일 수 있다.
압출된 물질(152)이 이송 요소(108a, b)를 통해 생성된 횡 방향(158)으로 더 이동함에 따라, 수집 구역(166)에서 수집될 수 있다. 수집 구역(166)은 저장 유닛일 수 있거나 생산 프로세스의 추가 단계를 적용하기 위한 추가 처리 유닛일 수 있다. 수집 구역(166)에서, 경화된 제2 분할 물질(160)이 압출된 물질(152)과 결합될 수 있는 것으로 여기에 도시된 바와 같이 추가 물질이 결합될 수 있다. 따라서, 이전에 논의된 바와 같이 새로운 객체 식별자가 제공될 수 있다. 그러한 객체 식별자는 마지막 다운스트림 객체 식별자(134)로서 도시된다. 마지막 다운스트림 객체 식별자(134)에는 다운스트림 객체 식별자(130a) 및 제2 다운스트림 객체 식별자(130b)의 전체 또는 일부를 포함할 수 있는 마지막 구역 실시간 프로세스 데이터(136)의 서브세트가 첨부될 수 있다. 따라서 마지막 다운스트림 객체 식별자(134)는 본 교시에서 상세히 논의되었던 바와 유사하게 수집 구역(166)으로부터의 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 구비한다. 수집 구역(166)에서 수행되는 경우 기능 또는 추가 처리에 따라, 유입 질량 흐름, 유출 질량 흐름, 수집 구역(166)으로부터의 하나 이상의 온도 값, 진입 시간, 진출 시간, 속도 등 중 임의의 하나 이상과 같은 데이터가 마지막 구역 실시간 프로세스 데이터(136)로서 포함될 수 있다.
어떤 경우에는, 수집 구역(166)으로부터의 개별 로트(lot)가 저장 및/또는 분류 및/또는 패키징을 위해 보내질 수 있다. 이러한 개별 로트는 제품 수집 빈(product collection bin)(164a)으로서 도시되어 있다. 수량들이 다시 분할됨에 따라, 각각의 사일로에 대해 개별 객체 식별자가 제공되어 사일로 내의 화학 제품(170), 즉 제품 수집 빈(164a)에 대한 개별 객체 식별자가 화학 제품(170)이 거기에 노출되는 프로세스 데이터 또는 조건과 연관될 수 있다.
이해할 수 있는 바와 같이, 각각의 객체 식별자는 GUID일 수 있다. 각각은 이전의 객체 식별자로부터의 데이터를 전부 또는 일부 포함할 수 있거나 또는 이들은 연결될 수 있다. 따라서 관련 품질 데이터는 특정 화학 제품(170)에 대한 스냅샷 또는 추적가능한 링크로서 첨가될 수 있다.
또한 논의되었된 바와 같이, 하나 이상의 ML 모델은 하나 이상의 구역별 성능 파라미터 및/또는 제어 설정을 계산하거나 예측하는 데 사용될 수 있다. ML 모델의 각각 또는 일부가 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터에 대한 신뢰 레벨을 나타내는 신뢰 값을 제공하도록 구성되는 것도 가능다. 예를 들어, 성능 파라미터 예측시 신뢰 레벨이 사전결정된 한계보다 낮은 경우 실험실 분석을 위해 샘플의 물리적 테스트를 시작하도록 경고 신호로서 경고가 생성될 수 있다. 예측의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지는 것에 응답하여, 샘플링 객체 식별자가 인터페이스를 통해 자동으로 제공되는 것도 가능하다. 샘플링 객체 식별자는 유사한 방식으로 제공될 수 있고 컴퓨팅 유닛(124)은 여기서 샘플 물질(172)로서 도시된 샘플링 객체 식별자가 관련된 물질에 대한 샘플링 객체 식별자에 관련 프로세스 데이터의 서브세트를 첨부할 수 있다. 컴퓨팅 유닛(124)은 또한 신뢰 레벨이 낮은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 샘플링 객체 식별자에 첨부할 수 있다. 따라서 샘플 물질(172)은 객체 식별자를 사용하여 품질 관리를 더 개선하기 위해 수집 및 검증 및/또는 분석될 수 있다.
도 2는 특히 제1 장비 구역에서 볼 때, 본 교시의 방법 측면들을 보여주는 흐름도(200) 또는 루틴을 도시한다. 블록(202)에서, 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자(122)가 인터페이스를 통해 제공된다. 투입 물질 데이터는 투입 물질(114)의 하나 이상의 특성을 나타낸다. 블록(204)에서, 인터페이스를 통해 장비 또는 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신한다. 실시간 프로세스 데이터는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건으로 구성된다. 블록(206)에서, 업스트림 객체 식별자(122) 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터(126)의 서브세트가 결정된다. 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서 투입 물질(114)의 존재를 나타낸다. (이 경우 업스트림 장비 구역에서) 블록(208)에서, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터가 계산된다. 이력 데이터는 업스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함한다. 각각의 이력 업스트림 개체 식별자에는 이전에 처리된 투입 물질이 업스트림 장비 구역에서 처리된 장비 동작 조건 및/또는 프로세스 파라미터를 나타내는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부된다. 블록(210)에서, 적어도 하나의 구역-특정 성능 파라미터인 업스트림 객체 식별자(122)에 첨부된다.
유사하게, 투입 물질이 후속 구역으로 진행함에 따라, 다른 객체 식별자가 제공되어야 하는지 여부가 결정될 수 있다. 그렇지 않은 경우, 후속 구역의 프로세스 데이터도 동일한 객체 식별자에 첨부될 수 있다. 다른 객체 식별자가 제공되어야 한다고 결정되면, 후속 구역으로부터의 프로세스 데이터가 다른 객체 식별자에 첨부된다. 중간 장비 구역 및 다운스트림 장비 구역과 같은 이들 옵션 각각에 대한 세부사항은 본 개시에서, 예를 들어 요약 섹션에 및 도 1을 참조하여 상세히 논의된다.
도 3에 도시된 블록도는 본 실시예에서 도시된 전체 제품 처리 라인을 따라 배열된 10개의 제품 처리 디바이스 또는 유닛(300-318) 또는 기술 장비를 각각 포함하는 산업 플랜트의 제품 생산 시스템의 일부를 나타낸다. 본 실시예에서 이들 처리 유닛 중 하나(처리 유닛(308))는 3개의 대응하는 장비 구역(320, 322, 324)을 포함한다(도 3 및 도 5의 보다 상세한 실시예도 참조).
본 예에서 화학 제품은 투입 물질로서 액체 원료 저장소(300), 고체 원료 저장소(302) 및 예컨대, 불충분한 물질/제품 특성 또는 불충분한 물질/제품 품질을 포함하는 임의의 화학 제품 또는 중간 제품을 재활용하는 재활용 사일로(304)를 통해 처리 라인에 제공되는 원료를 기반으로 생산된다. 처리 라인(306-318)에 투입되는 각각의 원료는 각각의 처리 장비, 즉 투여 유닛(306), 후속 가열 유닛(308), 물질 버퍼를 포함하는 후속 트리트먼트 유닛(310) 및 후속 분류 유닛(312)을 통해 처리된다. 이 처리 장비(306-312)의 다운스트림에는, 예를 들어, 생산된 물질의 불충분한 품질로 인해 분류 유닛에서 재활용 사일로(304)로 재활용이 필요한 물질을 이송하는 이송 유닛(314)이 배열된다. 최종적으로, 분류 유닛(312)에 의해 분류된 물질은 해당 물질을 운송을 위해 물질 컨테이너, 예를 들어, 벌크 물질의 경우 물질 백에 또는 액체 물질의 경우 병에 패킹하는 제1 및 제2 패킹 유닛(316, 318)으로 이동된다.
본 실시예에서 생산 시스템(300-318)은 컴퓨팅 유닛의 데이터 인터페이스(둘 다 이 블록도에 도시되지 않음)를 제공하며, 이를 통해 각각의 투입 물질에 대한 데이터 및 처리로 인한 변경을 포함하는 데이터 객체가 제공된다. 전체 생산 프로세스는 적어도 부분적으로는 컴퓨팅 유닛을 통해 제어된다.
처리 장비(306-312)에 의해 처리되는 투입 물질(들)은 물리적 또는 실제 소위 "패키지 객체"(이후 "물리적 패키지" 또는 "제품 패키지"라고도 함)로 나뉘며, 이들 패키지 객체는 각각의 처리 유닛(306-312)에 의해 핸들링 또는 처리된다. 이러한 패키지 객체의 패키지 크기는 예컨대, 물질 중량(예: 10kg, 50kg 등)에 의해 또는 물질 양(예: 1 데시미터, 1/10 입방 미터 등)에 의해 고정될 수 있거나, 또는 상당히 일정한 프로세스 파라미터 또는 장비 작동 파라미터가 처리 장비에 의해 제공될 수 있는 중량 또는 양에 의해 결정될 수도 있다.
투여 유닛(306)은 먼저 투입 액체 및/또는 고체 원료 및/또는 재활용 사일로(304)에 의해 제공된 재활용 물질로부터 그러한 패키지 객체를 생성한다. 패키지 객체를 생성한 후, 투여 유닛(306)은 이들 객체를 균질화 유닛(308)으로 이송한다. 균질화 유닛(308)은 패키지 객체의 물질을 균질화하며, 즉, 예컨대, 처리된 액체 물질과 고체 물질, 또는 2개의 액체 또는 고체 물질을 균질화한다. 가열 프로세스 후에, 가열 유닛(308)은 그에 따라 가열된 패키지 객체를 트리트먼트 유닛(310)으로 이송하는데, 트리트먼트 유닛은 예를 들어, 가열, 건조 또는 가습에 의해 또는 소정의 화학 반응에 의해 투입 패키지 객체의 물질을 상이한 물리적 및/또는 화학적 상태로 변환한다. 그에 따라 변환된 패키지 객체는 3개의 다운스트림 패킹 유닛(316, 318) 중 하나 이상 또는 언급된 이송 유닛(314)으로 이송된다.
실제 패키지 객체의 후속 처리는 장비(306-312)에 동작가능하게 결합되거나 장비의 일부인 컴퓨팅 유닛을 통해 각 패키지 객체에 할당되는 대응하는 데이터 객체(330, 332, 334)(또는 각각 앞서 설명한 "객체 식별자")에 의해 관리되고, 컴퓨팅 유닛의 메모리 저장 요소에 저장된다. 본 실시예에 따르면, 장비(306-312)를 통해 제공되는 트리거 신호에 응답하여, 즉 장비 유닛(306-312) 각각에 배치된 대응하는 센서 또는 각각 그에 따른 스위치의 출력에 응답하여 3개의 데이터 객체(330-334)가 생성되며, 그러한 센서는 장비 유닛(306-312)에 동작가능하게 결합된다. 앞서 언급한 바와 같이, 산업 플랜트는 상이한 유형의 센서, 예컨대, 하나 이상의 프로세스 파라미터를 측정하고/하거나 장비 또는 프로세스 유닛과 관련된 장비 동작 조건 또는 파라미터를 측정하기 위한 센서를 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 장비 유닛(306-312) 내부에서 처리되는 벌크 및/또는 액체 물질의 유속 및 레벨을 측정하기 위한 센서가 이들 유닛에 배치된다.
본 실시예에서, 도 3에 도시된 3개의 예시적인 데이터 객체(330, 332, 334)는 각각 처리 유닛(306-312 및 314-318)에 기초한 전체 제품 생산 프로세스의 상이한 3개의 장비 구역(320, 322, 324)에 관한 것이다.
처음 2개의 데이터 객체(330, 332)는 프로세스 데이터를 포함하는 제품 패키지 객체를 포함한다. 프로세스 데이터는 관련 물리적 패키지가 여러 처리 유닛 내에서 상주/트리트먼트 동안 경험한 처리/트리트먼트 정보를 포함한다. 프로세스 데이터는 관련 처리 유닛 내 기본 물리적 패키지의 상주 시간 동안 계산된 평균 온도와 같은 집계 데이터일 수 있고/있거나 기본 생산 프로세스의 시계열 데이터일 수 있다.
제1 데이터 객체(330)는 본 실시예에서 2개의 처리 유닛, 투여 유닛(306) 및 가열 유닛(308)을 통해 이송되었던 물리적 패키지에 할당되는 제1 종류의 패키지(도 3에서 "A-패키지"로 지칭함)이다. 제1 데이터 객체(330)는 처리 시간의 현재 시점에 각각의 상주 동안 두 유닛의 관련 데이터를 포함한다. 제1 데이터 객체는 해당 "제품 패키지 ID"를 포함한다.
가열 유닛(308)은 여러 장비 구역, 본 실시예에서는 3개의 장비 구역(320, 322, 324)("구역 1", "구역 2", "구역 3")을 포함한다. 이들 서로 다른 장비 구역은 관련 프로세스 데이터를 분류하거나 선택하기 위한 분류 그룹으로서 활용된다. 이러한 분류는 관련 물리적 패키지가 이 장비 구역 내에 있는 해당 시점 내에서 기본 물리적 패키지의 처리와 관련되는 관련 장비 구역 외부의 패키지 객체에 대한 데이터만 얻는 데 도움이 될 수 있다. 그러나, 본 실시예에서, 물리적 패키지의 물질 구성은 처리 유닛(306, 308) 모두에 의해 변경되지 않는다.
일단 A-패키지(330)가 다음 트리트먼트 유닛(310)(본 실시예에서는 "버퍼가 있는 트리트먼트 유닛")에 도달하면, 이 처리 유닛(310)이 플러그 흐름 모드에서 물리적 패키지를 이송하므로 각각의 물리적 패키지의 물질 구성이 변한다. 또한, 해당 물리적 패키지는 원래 패키지 크기보다 큰 버퍼 볼륨을 포함하므로, 그러한 물리적 패키지는 정의된 역혼합 정도를 갖는다. 그 결과, 이 트리트먼트 유닛(310)을 떠나는 각각의 물리적 패키지는 도 3에서 "B-패키지"라고 하는 또 다른 종류의 물리적 패키지이다.
대응하는 제2 데이터 객체(332)("B-패키지")도 대응하는 "제품 패키지 ID"를 포함한다. 데이터 객체(332)는 정의된 수의 이전 데이터 객체, 본 예에서 "A-패키지"로 지정된 데이터 객체(330)의 데이터, 소위 "관련 A-패키지로부터의 집계 데이터"를 정의된 백분율로 더 포함한다. 그에 따른 집계 방식 또는 알고리즘은 예를 들어, 기본 처리 유닛, 기본 물리적 패키지의 크기, 기본 물리적 패키지의 물질의 혼합 기능 및 기본 처리 유닛 내 기본 물리적 패키지의 상주 시간, 또는 처리 유닛의 해당 장비 구역에 의존한다.
일단 처리된 물리적 (제품) 패키지가, 예를 들어, 처리된 물리적 패키지를 컨테이너, 드럼 또는 옥타빈 용기(octabin vessel) 등에 패킹함으로써, 2개의 패킹 유닛(316, 318) 중 하나에 의해 별개의 물리적 패키지로 패킹되면, 본 실시예에서, 대응하는 패킹된 물리적 패키지는 "물리적 패키지"라고 하는 다른 데이터 객체(334)를 통해 핸들링되거나 추적된다. 이 데이터 객체(334)는 그 안에 패킹된 관련된 이전 물리적 패키지(현재 시나리오에서 "A-패키지" 및 "B-패키지"와 같음)를 포함한다. 완전한 데이터 객체를 사용하는 대신 해당 "제품 패키지 ID"의 지정이 예컨대, 추적 목적으로 충분한데, 이는 이러한 제품 패키지 ID가 나중에 데이터 처리, 예컨대, 외부 "클라우드 컴퓨팅" 플랫폼을 통해 수행되는 데이터 처리 동안 쉽게 함께 연결될 수 있기 때문이다.
제1 데이터 객체(또는 "객체 식별자")(330)는 특히 다음 정보를 포함한다:
- 기본 패키지의 "제품 패키지 ID";
- 패키지의 기본 처리된 물질(들)에 대한 정보 또는 사양과 같은 기본 패키지에 대한 일반 정보;
- 전체 처리 라인(306-318) 내 기본 패키지의 현재 위치;
- 즉 기본 패키지의 처리된 물질(들)의 온도 및/또는 중량의 집계 값으로서 프로세스 데이터;
- 기본 생산 프로세스의 시계열 데이터; 및
- 기본 패키지 외부 샘플에 대한 연결, 제품 패키지가 샘플 스테이션을 통과하고, 지정된 순간에, 운영자가 이 제품 패키지에서 샘플을 꺼내 실험실에 제공함. 이 샘플의 경우, 샘플 객체(도 6 참조, 참조 부호 634 및 638)가 생성될 것이고 관련 제품 패키지(도 6 참조, 참조 부호 626 및 630)에 연결될 것이다. 특히 이 샘플 객체는 실험실로부터의 해당 제품 품질 관리(QC) 데이터 및/또는 그에 따른 테스트 머신의 성능 데이터를 포함한다.
제2 객체 식별자(332)는 추가적으로 다음을 포함한다:
- 버퍼가 있는 트리트먼트 유닛(310)에서 생성되는 관련 A-패키지로부터의 집계 데이터.
제3 객체 식별자(334)는 지정 및 타임 스탬프 "물리적 패키지 1976-02-06 19:12:21.123"를 갖는 2개의 패킹 유닛(316, 318)에 의해 생성되고 다음 정보를 포함한다:
- 다시 한 번, 그에 따른 패키지 또는 객체 식별자("패키지 ID")
- 도 3에 도시된 운송 목적을 위해 2개의 물질 컨테이너로 패킹되는 제품의 이름.
- 그에 따라 패킹되는 제품을 주문하기 위한 주문 번호; 및
- 그에 따라 패킹되는 제품의 로트 번호.
제1 및 제2 객체 식별자(330, 332)의 패키지 일반 정보는 각각 본 실시예에서 투입 물질의 화학적 및/또는 물리적 특성을 나타내는 투입 원료의 물질 데이터 또는 물질(들) 온도 및/또는 중량과 같은 처리된 물질(들)의 물질 데이터를 포함하며, 본 실시예에서는 이력 테스트 결과와 같은 투입 물질과 관련된 테스트 데이터 또는 이전에 언급된 실험실 샘플도 포함한다.
도 3에 의해 또한 도시된 제품 생산 프로세스에 따르면, 언급된 인터페이스를 통해, 처리된 물질(들)의 언급된 온도 및/또는 중량과 같은 프로세스 파라미터 및 본 실시예에서는 언급된 히터의 온도 및/또는 적용된 투여 파라미터와 같은 투입 물질이 처리되는 장비 동작 조건도 나타내는 전체 장비로부터의 프로세스 데이터가 수집된다. 수집된 프로세스 데이터, 본 실시예에서는 관련 A-패키지로부터의 집계 데이터와 같은 프로세스 데이터의 일부만이 본 실시예에서 제2 객체 식별자(332)에 첨부된다.
전술한 바와 같이, 본 실시예에서 3개의 객체 식별자(330-334)는 언급된 투입 물질 데이터 및/또는 특정 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 화학 제품의 적어도 하나의 성능 파라미터에 상관시키거나 매핑하는 데 사용되며, 성능 파라미터는 각각 기본 물질(들), 예컨대, 그에 따른 화학 제품의 임의의 하나 이상의 특성이거나 이를 나타낸다.
도 3에 도시된 본 실시예에 따르면, 2개의 객체 식별자(330, 332)에 포함된 수집된 (집계 값으로서의) 프로세스 데이터는 생산 프로세스 동안 측정된 프로세스 파라미터 및 또한 장비 동작 조건을 나타내는 수치 값을 포함한다. 또한, 객체 식별자(330, 332)는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건 중 하나 이상의 시계열 데이터로서 제공되는 프로세스 데이터를 포함한다. 장비 동작 조건은 장비의 상태를 나타내는 임의의 특성 또는 값, 본 실시예에서는 생산 머신 설정포인트, 제어기 출력 및 예를 들어, 진동 측정을 기반으로 하는 임의의 장비 관련 경고일 수 있다. 또한, 이송 요소 속도, 온도 및 필터 차압과 같은 파울링 값, 유지보수 날짜가 포함될 수 있다.
도 3에 도시된 제품 생산 시스템의 실시예에서, 전체 제품 처리 장비(306-318)는 언급된 복수의 3개의 장비 구역(320-324)을 포함하여 생산 프로세스 동안, 투입 원료(들)(300-304)가 전체 처리 라인(306-318)을 따라 이동하고, 본 실시예에서, 제1 장비 구역(320)에서 제2 장비 구역(322)으로 그리고 제2 장비 구역(322)에서 제3 장비 구역(324)으로 진행한다. 이러한 생산 시나리오에서, 제1 객체 식별자(330)는 제1 장비 구역(320)에 제공되고, 제2 객체 식별자(332)는 제1 장비 구역(320)을 통해 처리된 후 제2 장비 구역(322)의 투입 물질의 진입시에 제공된다. 제2 객체 식별자(332)는 제1 객체 식별자(330)가 제공하는 데이터 또는 정보의 적어도 일부이며 마지막 데이터/정보 "관련 A-패키지로부터의 집계 데이터"를 추가로 포함한다.
객체 식별자가 전체적인 생산 프로세스 동안 대응하는 패키지에 신뢰할 수 있고 안전하게 할당될 수 있게 하기 위해 객체 식별자(330-334) 중 임의의 것 또는 각각이 고유 식별자, 바람직하게는 전역 고유 식별자("GUID")를 포함할 수 있다는 점은 주목할 만하다.
본 제품 처리 시나리오에서, 제1 객체 식별자(330)에 첨부된 언급된 프로세스 데이터는 제1 장비 구역(320)으로부터 수집된 프로세스 데이터의 적어도 일부이다. 따라서, 제2 객체 식별자(332)에는 제2 장비 구역(322)으로부터 수집된 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부되고, 제2 장비 구역(322)으로부터 수집된 프로세스 데이터는 제2 장비 구역(322)에서 투입 원료(들)(300-304)가 처리되는 장비 동작 조건 및/또는 프로세스 파라미터를 나타낸다.
다음 표 1에서, 또 다른 예시적인 객체 식별자가 다시 표 형식으로 표시된다. 이 객체 식별자는 이전에 설명한 3개의 객체 식별자(330-334)보다 훨씬 많은 정보/데이터를 포함한다.
이 예시적인 객체 식별자는 도 4에 도시된 것과 같이 기본 날짜 및 타임 스탬프 "1976-02-06 18:31:53.401"을 갖는 소위 "B-패키지"에 관한 것이며, 다음에 설명되지만 도 4에 포함된 것보다 더 많은 데이터를 포함한다.
본 예에서 고유 식별자("고유 ID")는 고유 URL("unique-ObjectURL")을 포함한다. 본 예에서 기본 패키지의 주요 세부사항("패키지 세부사항")은 2개의 값 "02.02.1976 18:31:53.401"을 갖는 패키지 생성 날짜 및 타임스탬프("생성 타임스탬프") 및 본 예에서 패키지 유형 "B"를 갖는 패키지의 유형("패키지 유형")이다. 기본 생산 라인을 따라 패키지의 현재 위치("패키지 위치")는 "패키지 위치 링크"로 정의되며, 본 예에서는 생산 라인의 "컨베이어 벨트 1"로의 이송 링크이다.
컨베이어 벨트 1에는 현재 85 °C의 물질 온도를 나타내는 평균 온도("평균 값")를 측정하기 위한 측정 장비(예시적인 처리 데이터 또는 값을 포함하는 "측정 포인트" 참조) 및 기본 온도 구역, 본 예에서는 "온도 구역 1"의 그에 따른 설명("설명")이 제공된다. 또한, 측정 장비는 컨베이어 벨트 1에서 패키지의 진입 날짜/시간("진입 시간"), 본 예에서는 "02.02.1976 18:31:54.431"을 검출하고 컨베이어 벨트 1에서 패키지가 떠나는 날짜/시간("퇴장 시간"), 본 예에서는 "02.02.1976 18:31:57.234"을 검출하기 위한 센서도 포함할 수 있다. 마지막으로, 측정 장비는 생산 프로세스에 관한 기본 시계열 정보("시계열")의 시계열 값("시계열 값")을 검출하는 센서 장비를 포함한다.
또한, 도시된 객체 식별자는 본 예에서 다운스트림에 위치한 "컨베이어 벨트 2", 다운스트림에 위치한 "믹서 1" 및 이미 처리된 물질(들)을 중간에 저장하는 다운스트림에 위치한 "사일로 1"에 대한 정보를 더 포함한다.
| - B-패키지 1976-02-06 18:31:53.104 | |
| - 고유 ID | |
| - 고유 URL | unique-ObjectURL |
| - 패키지 세부사항 | |
| - 생성 타임스탬프 | 02.02.1976 18:31:53.401 |
| - 패키지 유형 | B |
| - 패키지 위치 | |
| - 패키지 위치 링크 | 컨베이어 벨트 1 |
| - 컨베이어 벨트 1 | |
| - 측정 포인트 | |
| - 평균 값 | 85℃ |
| - 설명 | 온도 구역 1 |
| - 진입 시간 | 02.02.1976 18:31:54.431 |
| - 퇴장 시간 | 02.02.1976 18:31:57.234 |
| - 시계열 | 시계열 값 |
| - 컨베이어 벨트 2 | |
| - 믹서 1 | |
| - 사일로 1 |
<예시적인 표 객체 식별자>
도 4는 본 제2 실시예에서 6개의 제품 처리 디바이스(400, 402, 406, 410, 412, 416) 또는 기술 장비를 각각 포함하는 산업 플랜트의 기본 제품 생산 시스템의 프로세스 부분의 제2 실시예를 도시한다.
패키지 객체를 처리하기 위한 "업스트림 프로세스"(400)는 처리된 패키지 객체를 분류하기 위한 "분류 유닛"(402)에 연결된다. 업스트림 프로세스(400) 및 분류 유닛(402)은 제1 데이터 객체(404)에 의해 관리된다. 이 데이터 객체(404)는 생성 날짜 및 시간을 나타내는 기본 날짜 및 타임 스탬프 "1976-02-06 18:51:43.431"을 갖는 이미 설명된 "B-패키지"에 관한 것이다. 데이터 객체(404)는 현재 처리된 패키지 객체의 "패키지 ID"(소위 "객체 식별자")를 포함한다. 데이터 객체(404)는 현재 처리된 패키지 객체에 대한 n개의 사전설명된 화학적 및/또는 물리적 특성, 본 예에서는 "특성 1" 및 "특성 n"을 더 포함한다.
본 예에서, 투입 물질, 즉 업스트림 프로세스(400)에 공급되는 해당 패키지 객체는 "재활용 사일로"(406)에 의해 제공된다. 반면에 재활용 사일로(406)는 재활용되어야 하고 그에 따라 분류 유닛(402)에 의해 분류되는 패키지 객체를 재활용 사일로(406)로 이송하는 "이송 유닛 1"(410)로부터 기본 재활용 물질을 얻는다. 기본 이송 프로세스 단계(410)는 전술한 "B-패키지"와 관련되고 언급된 기본 날짜 및 타임 스탬프 "1976-02-06 18:51:43.431", 현재 처리된 패키지 객체의 "패키지 ID" 및 2개의 화학적 및/또는 물리적 특성 "특성 1" 및 "특성 n"을 포함하는 제2 데이터 객체(408)에 의해 관리된다. 그러나, 기본 분류된 패키지 객체를 재활용하기 위한 언급된 요구사항으로 인해, 제2 데이터 객체(408)는 기본 패키지 객체의 또 다른 화학적 및/또는 물리적 특성, 본 예에서는 "특성 2"를 더 포함하며, 이는 특히 해당 패키지 객체에 대한 각각의 성능 지표, 본 예에서는 "낮거나 불충분한 물질 또는 제품 성능"을 포함한다.
업스트림 프로세스(400)에 의해 처리되고 분류 유닛(402)에 의해 분류되지 않는 패키지 객체는 해당 패키지 객체에 대한 성능 값에 따라 분류 유닛(402)에 의해 제1 "패킹 유닛 1"(412) 또는 제2 "패킹 유닛 2"(416)에 제공된다. 패킹 유닛(412, 416)은 해당 패키지 객체를 각각의 컨테이너(414, 418)에 패킹하는 데 사용된다. 두 패킹 유닛(412, 416)에 의해 실행되는 패킹 프로세스는 제3 데이터 객체(420) 및 제4 데이터 객체(422)에 의해 관리된다.
2개의 데이터 객체(420, 422)는 모두 "물리적 패키지"에 관한 것이며 전술한 "B-패키지"와 동일한 날짜 "1976-02-06"를 포함하지만, 전술한 "B-패키지"보다 나중의 타임 스탬프 "19:12:21.123"를 포함한다. 이들은 기본 패키지 객체의 "패키지 ID"도 포함한다. 그러나, 데이터 객체(420, 422)는 기본 최종 제품에 대한 성능 지표, 본 예에서는 제1 컨테이너 (또는 충진 자루)(414)에 저장된 제품에 대한 "성능 중간 범위" 및 제2 컨테이너 (또는 충진 자루)(418)에 저장된 제품의 경우 "성능 높은 범위"를 더 포함한다. 또한, 2개의 데이터 객체(420, 422)는 해당 최종 제품의 "주문 번호" 및 "로트 번호"를 포함한다.
도 5는 본 제2 실시예에서, 9개의 제품 처리 디바이스(500-516) 또는 기술 장비를 각각 포함하는 산업 플랜트에서 구현된 기본 화학 제품 생산 프로세스 또는 시스템의 부분의 제3 실시예를 도시한다.
본 제품 처리 접근법은 알려진 방식으로 중합체 물질을 생산하기 위해 2 개의 원료, 즉 "원료 액체"(500) 및 "원료 고체"(502)를 기반으로 한다. 도 3 및 도 4에 따른 이전에 설명된 생산 시나리오와 마찬가지로, 기술 장비는 사전에 설명된 바와 같이 재활용 물질을 사용하기 위한 "재활용 사일로"(504)를 포함한다.
기술 장비는 패키지 객체를 처리하기 위해 도시된 4개의 중합체 반응 구역("구역 1-4")(510, 512, 514, 516)을 따라 이들을 이송하는 "반응 유닛"(508) 및 반응 유닛(508)에서 처리되는 중합체 물질(즉, 해당 패키지 객체)을 경화시키기 위한 "경화 유닛"(518)에 의해 처리되는 언급된 투입 원료에 기초하여 패키지 객체를 생성하는 "투여 유닛"(506)을 더 포함한다. 본 실시예에서, 경화 유닛(518)은 물질 버퍼만 포함하며, 백믹싱 장비는 포함하지 않는다. 경화 유닛(518)은 또한 그에 따라 처리된 패키지 객체를 이송한다.
"이송 유닛 1"(520)은 재활용 사일로(504)에 의해 재활용을 위해 분류되는 패키지 객체를 이송한다. 마지막으로 처리된, 즉 분류되지 않은 유닛은 제1 "패킹 유닛 1"(522) 및 제2 "패킹 유닛 2"(524)로 다시 이송된다. 2개의 패킹 유닛(522, 524)은 해당 패키지 객체를 변환하고 각각의 컨테이너 또는 충진 자루(526, 528)로 이송한다.
도 5에 도시된 생산 프로세스는 제1 데이터 객체(530) 및 제2 데이터 객체(534)에 의해 관리된다.
제1 데이터 객체(530)는 생성 날짜 "1976-02-06" 및 생성 시간 "18:31:53.401"을 갖는 "A-패키지"에 관한 것이다. 본 생산 시나리오에서 데이터 객체(530)는 다시 한번 사전에 기술된 "패키지 ID", 투여 유닛(506)에 의해 수행되는 투여 프로세스에 대한 프로세스 정보("투여 특성") 및 반응 유닛(508)에 의한 중합체 물질의 생산에 대한 추가 프로세스 정보("반응 유닛 특성")를 포함한다. 투여 특성은 각 패키지 객체의 원료 양에 대한 정보, 즉 "백분율 원료 1(액체)", "백분율 원료 2(고체)" 및 제품 온도를 포함한다. 반응 유닛 특성은 4개의 중합체 반응 구역(510-516)("온도 구역 1", "온도 구역 2", "온도 구역 3" 및 "온도 구역 4")의 온도를 포함한다.
그 후, 제1 데이터 객체(530)는 처리 라인(506-524)을 따라 기본 패키지 객체의 현재 위치("현재 패키지 위치")를 포함한다. 본 실시예에서, 그 패키지 객체의 현재 위치는 "패키지 위치 링크" 및 해당 "구역 위치"에 의해 관리된다. 마지막으로 기본 중합체 반응에 대한 화학적 및/또는 물리적 정보, 즉 해당 "반응 엔탈피/턴오버 정도"가 포함된다. 이로써, 주어진 패키지 객체를 이송하는 처리 유닛(506-524)은 반응 엔탈피 값을 계산하고 제1 데이터 객체(530)에 영구적으로 기록/실현한다. 이것은 패키지 위치 및 해당 상주 시간 및 그에 따른 프로세스 값, 예를 들어, 패키지 온도에 대한 기존 정보로 인해 가능하다. 제1 데이터 객체(530)에 포함된 반응 엔탈피 및/또는 턴오버 정도의 현재 값에 기초하여, 제1 데이터 객체(530)와 경화 유닛(518) 사이의 통신 라인(532)을 통해, 반응 엔탈피의 계산된 값에 기초하여 경화 시간 파라미터가 조정된다.
제2 데이터 객체(534)는 패킹 유닛(522, 524) 중 하나에 의해 처리되는 "물리적 패키지"에 관한 것이며 대응하는 생성 날짜/시간 정보 "1976-02-06 19:12:21.123"을 포함한다. "패키지 ID", "제품" 설명/사양, "주문 번호", "로트 번호" 및 계산된 엔탈피 및/또는 턴오버 정도의 언급된 값이 포함된다.
도 6은 산업 플랜트의 클러스터(600)의 일부이고, 그에 따른 제품 처리 라인(604)의 일부인 복수의 장비 디바이스 및 대응하는 장비 구역을 포함하는 기본 산업 플랜트(602)의 계층적 또는 토폴로지 구조를 나타내는 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제1 실시예를 도시한다. 이 토폴로지 구조는 기본 제품 패키지의 개선된 처리 또는 계획을 가능하게 하기 위해 산업 플랜트(602)(또는 기본 플랜트 클러스터(600))의 기본이 되는 상이한 부분 사이의 기능적 관계를 시각화할 수 있게 한다. 그래프 기반 데이터베이스의 표시된 원형 노드는 서로 다른 링크 유형이 가능한 연결선을 통해 연결된다.
이 실시예에서, 장비 디바이스는 처리 유닛(606, 614)의 일부인 센서/액터(608, 616)와의 신호 및/또는 데이터 연결을 통해 연결되고 여러 입출력(I/O) 디바이스(610, 612 및 618, 620)에 연결된 물질 처리 유닛(606, 614)을 포함한다.
본 실시예에서, 제1 처리 유닛(606)은 예시적인 3개의 제품 패키지(제품 패키지 1-3)(622, 624, 626)와 추가로 연결되고, 제2 처리 유닛(614)은 추가의 3개의 제품 패키지(제품 패키지 4-n)(628, 630, 632)와 추가로 연결된다. 예시적으로만, "제품 패키지 3"(626)은 제품 샘플(샘플 1)(634)에 연결되고, "제품 패키지 5"(630)는 다른 제품 샘플(샘플 n)(638)에 연결된다. "샘플 1"(634)은 "검사 로트 1"(636)과 추가로 연결되며, "샘플 n"은 "검사 로트 n"(640)과 추가로 연결된다. 마지막으로, 두 검사 로트(636, 640)는 언급된 검사 로트를 생성하는 방법 및 각각의 기본 샘플(634, 638)의 분석/품질 관리를 실현하는 방법에 대한 사양 역할을 하는 "검사 지침 1" 유닛(642)과 연결된다.
도 6 도시된 토폴로지 구조는 표시된 객체(노드)가 대응하는 실제 객체와 매우 유사하게 모델링되기 때문에 표시된 화학 플랜트의 기능 및 처리의 직관적이고 용이한 이해 및 따라서 사용자, 특히 머신/플랜트 운영자에 의해 화학 플랜트 또는 화학 플랜트의 클러스터에서 그러한 복잡한 생산 프로세스의 용이한 관리능력을 허용하는 데이터 구조를 유리하게 제공한다.
특히, 이 토폴로지 구조는 사용자/운영자가 각 객체의 기술적 및/또는 물질 특성을 쉽게 수집할 수 있는 것에 기초하여 고도의 맥락 정보를 제공한다. 이는 추가적으로 예컨대, 여러 노드 또는 심지어 토폴로지/계층 레벨에 걸친 객체 간의 적절한 생산 관련 연결 또는 관계에 대해 사용자에 의한 다소 복잡한 쿼리를 허용한다. 그러면, 도 6에 도시된 객체(노드)가 런타임 중에 추가 특성 및/또는 값으로 쉽게 확장될 수 있다.
도 7은 생산 라인(700)("라인 1")에 대해서만, 도 6에 도시된 바와 같은 그래프 기반 데이터베이스 배열의 제2 실시예를 도시한다.
본 실시예에서 장비 디바이스는 대응하는 입출력(I/O) 디바이스 "I/O 1"(706) 및 "I/O n"(712)에 연결되는 센서/액터 "센서/액터 1"(704) 및 "센서/액터 n"(710)와 신호 및/또는 데이터 연결부를 통해 연결되는 물질 처리 유닛 "유닛 1"(702) 및 "유닛 n"(708)을 포함한다. 이들 I/O 디바이스는 생산 라인(700)의 동작을 제어하는 PLC(미도시)에 대한 연결을 포함한다.
본 실시예에서, 제1 처리 유닛("유닛 1")(702)은 예시적인 3개의 제품 패키지("제품 부분" 1-3)(714, 716, 718)와 추가로 연결되고, 제2 처리 유닛("유닛 n")(708)은 추가의 2개의 제품 패키지("제품 부분" 4 및 n)(720, 722)와 추가로 연결된다. 예시적으로만, 제품 패키지 3(718)은 제품 샘플("샘플 1")(724)에 연결되고, 제품 패키지 n(722)는 다른 제품 샘플("샘플 n")(728)에 연결된다.
도 6에 도시된 실시예와 대조적으로, 제1 "센서/액터 1"(704)도 제1 제품 샘플("샘플 1")(724)에 연결되고, 제2 "센서/액터 n"(710)도 제2 제품 샘플(샘플 n")(728)에 연결된다. 이 두 개의 추가 연결은 독립적인 시간에 또는 심지어 동시에 상이한 샘플 스테이션에서 독립적으로 샘플을 채취할 수 있다는 이점이 있다. 예를 들어, 센서/액터(704)는 샘플이 채취되는 순간에 사용자 또는 운영자에 의해 눌려지는 샘플 스테이션에 배치되는 푸시 버튼일 수 있다.
이와 달리, 이러한 샘플은 샘플링 머신에 의해 자동으로 생성될 수 있는 신호일 수 있다. 이러한 자동 생성 신호는 예를 들어 도시된 I/O 객체(706)를 통해 센서/액터 객체(704)에 도달할 수 있고, I/O 객체(706)는 (도시되지 않은) PLC/DCS로부터 언급된 푸시 버튼 정보를 수신한다. 샘플을 채취하는 순간, 샘플 객체(724)(예)가 생성될 것이고 그 순간 샘플링 스테이션 위치에 배치된 제품 부분에 연결될 것이다.
그에 따라 생성된 샘플(724, 728)에 기초하여, 단 하나의(동일한) 샘플에 대해서도 하나 이상의 검사 로트(726, 730)가 생성될 수 있다. 그러나 한 처리 라인 내에서 독립적으로 또는 심지어 동시에 하나 이상의 샘플이 생성될 수 있다.
마지막으로, 도 6에 도시된 실시예에서와 같이, "샘플 1"(724)은 제1 "검사 유닛 1"(726)과 추가로 연결되고, "샘플 n"은 제2 "검사 유닛 n"(730)과 추가로 연결된다. 두 검사 유닛(726, 730)은 최종적으로 도 6에 도시된 "검사 지침 1" 유닛(642)의 경우와 같이 다시 언급된 검사 로트를 생성하는 방법 및 기본 샘플(724, 728)의 분석/품질 관리를 실현하는 방법에 대한 사양 역할을 하는 "검사 지침 1" 유닛(732)과 연결된다. "검사 지침 1" 유닛(732)은 독립적으로 생성될 수 있으며, "검사 로트 1"(726) 및 추가로 "검사 로트 n"(730)에 의해 도 7에 도시된 바와 같이, 하나보다 많은 검사 로트에 대해서만 검사 지침(732)을 사용하면서, 한 번만 생성될 수 있다.
도 8은 객체 데이터베이스(801)를 포함하고 사전기술된 생산 장비 및 대응하는 원료 및 어쩌면 사전기술된 물리적 패키지 또는 제품 패키지 관련 데이터를 포함하는 사전기술된 제품 데이터에 대한 추상화 계층, 즉 그에 따른 디지털 트윈으로서의 역할을 하는 추상화 계층(800)을 도시한다.
본 실시예에서, 추상화 계층(800)은 외부 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804)과의 양방향 통신 라인(802)을 제공한다. 또한, 추상화 계층(800)은 다수의 n개의 생산 PLC/DCS 및/또는 머신 PLC(806, 808)와도 "PLC/DCS 1"(806)의 경우와 같이 양방향(810)으로 또는 "PLC/DCS n"(808)의 경우와 같이 단방향(812)으로 통신한다. 본 실시예에서, 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804)은 고객 통합 인터페이스 또는 플랫폼(816)에 대한 양방향 통신 라인(814)을 포함하며, 이를 통해 현재 생산 플랜트 소유자의 고객이 플랜트의 사전기술된 장비 유닛에 제어 신호를 통신 및/또는 전달할 수 있다.
추가로 포함된 객체 데이터베이스(801)는 여기에 관련된 다른 객체, 예컨대, 전술한 샘플, 검사 로트, 샘플 지침, 센서/액터, 디바이스, 디바이스 관련 문서, 사용자(예컨대, 머신 또는 플랜트 운영자), 그에 따른 사용자 그룹 및 사용자 권한, 레시피, 주문, 설정포인트 파라미터 세트 또는 클라우드/에지 디바이스로부터의 인박스 객체이다.
클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804)에서, 전용 배치 파이프라인(818)을 통해 사물 인터넷(IoT) 에지 디바이스 또는 컴포넌트(820)에 배치되는 최적의 알고리즘을 찾거나 생성하는 인공 지능(AI) 또는 기계 학습(ML) 시스템이 구현되어 그에 따라 생성되거나 발견된 알고리즘을 사용하여 에지 디바이스(820)를 제어한다. 본 실시예에서 에지 디바이스(820)는 추상화 계층(800)과 양방향으로 통신(822)한다.
추상화 계층(800) 및 포함된 객체 데이터베이스(801)에 의해, 사전기술된 물리적 패키지 또는 제품 패키지가 이 문서에서 설명된 바와 같이 생성된다. 추상화 계층(800)은 또한 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804) 내의 소정의 처리 및/또는 AI(또는 ML) 컴포넌트에 연결될 수 있다. 이 연결을 위해, 알려진 데이터 스트리밍 프로토콜 "Kafka"가 사용될 수 있다. 이에 의해, 기본 제품 패키지를 생성할 때 또는 그 즈음에, 특히 기본 시계열 데이터와 관계없이 먼저 빈 데이터 패킷을 메시지로서 보낼 수 있다. 그 후 최종 제품 패키지가 처리되면 다른 메시지를 보낼 수 있다. 이들 메시지는 기본 패키지의 객체 식별자를 데이터 패킷 ID로서 포함하므로 관련 패킷이 나중에 클라우드 플랫폼 측에서 서로 다시 연결될 수 있다. 이는 클라우드로의 전송을 위해 대용량 데이터 패킷을 피할 수 있으므로 필요한 전송 대역폭 또는 용량을 최소화할 수 있다는 장점이 있다.
클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804) 내에서, 스트리밍되고 수신된 제품 데이터는 예측된 제품 품질 관리(QC) 값과 같은 기본 제품과 관련된 추가 데이터를 얻기 위한 알고리즘을 찾거나 생성하기 위해 언급된 AI 방법 또는 ML 방법에 의해 사용된다. 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804) 내에서 수행되는 이 절차를 위해, 관련 제품(또는 물리적) 패키지의 QC 데이터 또는 측정된 성능 파라미터와 같은 추가 데이터가 필요하다. 이것은 관련 제품 패키지에 대한 그러한 정보를 포함하는 샘플 객체 및 검사 로트 객체(도 6도 참조)의 형태로 객체 데이터베이스(801)로부터 동일한 방식을 통해 수신될 수도 있다.
이러한 정보는 객체 데이터베이스가 아닌 임의의 다른 시스템으로부터도 수신할 수 있다. 이 경우 다른 시스템은 객체 데이터베이스 중에서 샘플/검사 로트 ID와 함께 QC 및/또는 성능 데이터를 보낸다. 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804) 내에서, 이 데이터는 조합되어 예를 들어, ML 기반 알고리즘/모델을 찾는 데 사용된다. 이로써 클라우드 플랫폼(804) 내의 컴퓨팅 전력을 효과적으로 사용할 수 있다.
본 실시예에서, 그에 따라 발견된 알고리즘 또는 모델은 배치 파이프라인(818)을 통해 에지 디바이스(820)로 배치된다. 에지 디바이스(820)는 추상화 계층(800)의 객체 데이터베이스(801)에 가깝고 따라서 이에 따라 즉, 낮은 네트워크 지연과 직접적이고 안전한 통신을 허용하는 네트워크 보안 레벨 및 위치의 측면에서 PLC/DCS 1 내지 PLC/DCS n(806, 808)에도 가까이 위치하는 컴포넌트일 수 있다.
ML 모델의 사용에 대해서는 이러한 컴퓨팅 전력이 필요하지 않으므로, 에지 디바이스(820)는 ML 모델을 사용하여 언급한 고급 정보를 생성하여 객체 데이터베이스(801)에 제공한다. 따라서, 에지 디바이스(820)는 ML 기반 알고리즘 또는 모델을 생성하기 위해 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804)에서 사용되는 동일한 정보 또는 정보의 서브세트를 필요로 하며, 객체 데이터베이스(801)는 예컨대, 알려진 "MQTT"(Message Queuing Telemetry Transport) 프로토콜과 같은 머신 대 머신 통신을 위한 개방형 네트워크 프로토콜을 통해 이 데이터를 에지 디바이스(820)에 제공할 수 있다.
이 셋업을 통해 AI/ML 기반 고급 프로세스 제어 및 자율 제조 및 이에 따른 자율 작동 머신을 실현할 수 있다.
도 8에 도시된 실시예에 도시된 바와 같이, 사전기술된 데이터 객체(330-334)(도 3)로부터의 데이터에 기초하여, 클라우드 컴퓨팅 플랫폼(804) 측에서, AI/ML 시스템 또는 그에 따른 AI/ML 모델이 이러한 데이터를 트레이닝 데이터로서 사용하여 트레이닝된다. 따라서, 본 실시예에서 트레이닝 데이터는 이력 및 현재 실험실 테스트 데이터, 특히 화학 제품의 성능 파라미터를 나타내는 과거로부터의 데이터를 포함할 수 있다.
AI/ML 모델은 하나 이상의 사전설명된 성능 파라미터를 예측하는 데 사용될 수 있으며, 이 예측은 바람직하게는 컴퓨팅 유닛을 통해 수행된다. 추가적으로 또는 대안적으로, AI/ML 모델은 바람직하게는 장비 동작 조건을 조정하는 것을 통해 생산 프로세스를 적어도 부분적으로 제어하는 데 사용되고, 더 바람직하게는 언급된 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되는 제어에 사용될 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, AI/ML 모델은 예를 들어, 컴퓨팅 유닛에 의해 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건 중 어느 것이 화학 제품에 지배적인 영향을 미치는지 결정하는 데에도 사용될 수 있어서, 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건 중 지배적인 것이 각각 데이터 객체 또는 언급된 객체 식별자에 첨부된다.
당업자는 방법 단계, 적어도 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되는 방법 단계가 "실시간" 또는 거의 실시간 방식으로 수행될 수 있음을 이해할 것이다. 용어는 컴퓨터 기술 분야에서 이해된다. 구체적인 예로서, 컴퓨팅 유닛에 의해 수행되는 임의의 두 단계 사이의 시간 지연은 15초 이하, 구체적으로 10초 이하, 보다 구체적으로 5초 이하이다. 바람직하게는, 지연은 1초 미만, 더욱 바람직하게는 몇 밀리초 미만이다. 따라서, 컴퓨팅 유닛은 실시간 방식으로 방법 단계를 수행하도록 구성될 수 있다. 또한, 소프트웨어 제품은 컴퓨팅 유닛이 방법 단계를 실시간 방식으로 수행하게 할 수 있다.
방법 단계는 예를 들어, 예 또는 양상에 나열된 순서대로 수행될 수 있다. 그러나, 특정 상황에서는 상이한 순서도 가능할 수 있다. 또한, 방법 단계 중 하나 이상을 한 번 또는 반복적으로 수행하는 것도 가능하다. 단계는 정기적 또는 불규칙한 기간에 반복될 수 있다. 또한, 특히 방법 단계 중 몇몇 이상이 반복적으로 수행될 때 방법 단계 중 2개 이상을 동시에 또는 적시에 중첩 방식으로 수행하는 것이 가능하다. 방법은 나열되지 않은 추가 단계를 포함할 수 있다.
"포함하는"이라는 단어는 다른 요소나 단계를 배제하지 않으며 일("a" 또는 "an")은 복수를 배제하지 않는다. 단일 처리 수단, 프로세서 또는 컨트롤러 또는 기타 유사한 유닛이 청구범위에 인용된 여러 항목의 기능을 수행할 수 있다. 어떤 조치가 서로 다른 종속항에 인용되어 있다는 단순한 사실만으로 이러한 조치의 조합이 이익이 되도록 사용될 수 없다는 것을 나타내지는 않는다. 청구범위의 참조 기호는 범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안된다.
또한, 본 명세서에서 "적어도 하나", "하나 이상" 이라는 용어 또는 특징 또는 요소가 한 번 또는 통상적으로 두 번 이상 존재할 수 있음을 나타내는 유사한 표현은 개개의 기능이나 요소를 소개하는 경우에 한 번만 사용될 수 있음에 유의해야 한다. 따라서 달리 구체적으로 언급하지 않는 한, 개개의 특징 또는 요소를 언급할 때 개개의 특징 또는 요소가 한번 또는 두번 이상 존재할 수 있음에도, "적어도 하나" 또는 "하나 이상"이라는 표현은 반복되지 않을 수 있다.
또한, 용어 "바람직하게", "더 바람직하게", "구체적으로", "더 구체적으로", "특히", "더 특히" 또는 이와 유사한 용어는 대안적인 가능성을 제한하지 않고 선택적 특징과 함께 사용된다. 따라서 이러한 용어에 의해 소개된 특징은 선택적 특징이며 어떤 식으로든 청구 범위를 제한하려는 의도가 아니다. 본 교시는 당업자가 인지하는 바와 같이 대안적인 특징을 사용하여 수행될 수 있다. 유사하게, "양상에 따라" 또는 유사한 표현에 의해 도입된 특징은 본 교시의 대안에 관한 어떠한 제한도 하지 않고, 본 교시의 범위에 관한 어떠한 제한도 하지 않으며, 그리고 도입된 특징을 본 교시의 다른 선택적 또는 비선택적 특징과 그러한 방식으로 결합하는 것의 가능성에 관한 어떠한 제한도 하지 않는, 선택적 특징인 것으로 의도된다.
설명에 사용된 모든 제목은 편의를 위한 것일 뿐이므로 이러한 제목은 발명의 대상에 제한적인 영향을 미치지 않는다.
생산 프로세스를 모니터링하기 위한 방법; 본 명세서에 개시된 방법을 수행하는 시스템; 생산 프로세스를 모니터링하는 시스템; 데이터세트; 데이터세트를 생성하는 방법; 데이터세트를 생성하는 시스템; 데이터 세트의 용도; 적어도 하나의 성능 파라미터의 용도; 소프트웨어 프로그램; 및 본 명세서에 개시된 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램 코드를 포함하는 컴퓨팅 유닛에 대한 다양한 예들이 앞에 개시되었다. 보다 구체적으로, 본 교시는 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 방법에 관한 것이며, 방법은: 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계, 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계, 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다. 본 교시는 또한 생산 프로세스를 모니터링하기 위한 시스템, 데이터세트, 용도, 데이터세트를 생성하기 위한 방법 및 이를 위한 소프트웨어 프로그램에 관한 것이다. 그러나 당업자는 첨부된 청구범위 및 그 균등물의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 이들 예에 대한 변경 및 수정이 이루어질 수 있음을 이해할 것이다. 본 명세서에서 논의된 방법 및 제품 실시예로부터의 양상이 자유롭게 조합될 수 있다는 것 또한 이해될 것이다.
추가의 가능한 실시예를 배제하지 않으면서 요약하도록, 본 교시의 특정 예시적 실시예가 다음 조항(clause)에 요약된다:
조항 1. 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 방법으로서, 산업 플랜트는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하고, 제품은 복수의 장비 구역을 통해 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되고, 방법은 적어도 부분적으로 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되며, 이 방법은:
- 인터페이스를 통해, 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계- 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 투입 물질의 존재를 나타냄 - 와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계와,
- 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다.
조항 2. 조항 1의 방법에서, 이력 데이터는 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함한다.
조항 3. 조항 2의 방법에서, 적어도 하나의 이력 업스트림 객체 식별자에는 이전에 처리된 투입 물질이 처리된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 이력 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부된다.
조항 4. 조항 1 내지 조항 3 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 구역별 성능 파라미터 중 적어도 하나는 또한 투입 물질로부터 생산되지만 생산 프로세스 동안 화학 제품보다 먼저 생성되는 유도체 물질과 관련된다.
조항 5. 조항 1 내지 조항 4 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 방법은 실시간 프로세스 데이터 및/또는 "ERP(enterprise resource planning)" 시스템으로부터의 데이터의 서브세트의 적어도 일부를 업스트림 객체 식별자에 추가하는 단계를 더 포함한다.
조항 6. 조항 1 내지 조항 5 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 구역 존재 신호는 구역-시간 변환을 수행함으로써 컴퓨팅 유닛을 통해 생성되고, 변환은 투입 물질과 관련된 적어도 하나의 특성을 실시간 프로세스 데이터로부터의 하나 이상의 시간 종속 신호를 통해 특정 장비 구역에 매핑한다.
조항 7. 조항 1 내지 조항 6 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 컴퓨팅은 이력 데이터를 사용하여 트레이닝된 적어도 하나의 기계 학습("ML") 모델을 사용하여 수행된다.
조항 8. 조항 7의 방법에서, ML 모델은 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산을 위한 신뢰 레벨을 나타내는 적어도 하나의 신뢰 값을 제공하도록 구성된다.
조항 9. 조항 8의 방법에서, 경고 신호가, 바람직하게는 생산 프로세스를 위한 제어 시스템에서 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산 또는 예측의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지는 것에 응답하여 생성된다.
조항 10. 조항 8 또는 조항 9의 방법에서, 샘플링 객체 식별자는 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산 또는 예측의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지는 것에 응답하여 또는 경고 신호에 응답하여 자동으로 생성되고, 샘플링 객체 식별자는 신뢰 레벨 정확도가 정확도 값을 교차한 시간 또는 그 부근에서 개개의 구역에 있는 물질과 관련된다.
조항 11. 조항 9 또는 조항 10의 방법에서, 경고 신호에 응답하여 적어도 하나의 실험실 분석이 수행되고, 바람직하게는 분석은 경고와 관련된 개개의 구역에 있는 물질에 대해 수행된다.
조항 12. 조항 11의 방법에서, 분석의 날짜 및/또는 결과는 샘플링 객체 식별자에 첨부되고, 바람직하게는 샘플링 객체 식별자로부터의 데이터가 컴퓨팅 유닛에 의해 향후 계산을 위해 이력 데이터에 포함된다.
조항 12a. 조항 10 내지 조항 12 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 샘플링 객체 식별자는 샘플링 객체 식별자에 대응하는 개개의 물질 또는 화학 제품에 대해 수행될 하나 이상의 테스트 또는 분석의 종류를 나타내는 테스트 유형 데이터가 첨부된다.
조항 12b. 조항 10 또는 조항 12a중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 샘플링 객체 식별자에는 샘플링 객체 식별자에 대응하는 개개의 물질 또는 화학 제품에 대한 적어도 하나의 테스트 또는 분석을 수행하기 위해 사용되어야 하는 테스트 물질 및/또는 하나 이상의 장치 또는 도구를 나타내는 도구 유형 데이터가 첨부된다.
조항 12c. 조항 12b의 방법에서, 샘플링 객체 식별자에는 테스트 또는 분석을 수행하는 데 사용될 장치 또는 도구 중 적어도 하나에 대한 테스트 구성 데이터가 첨부된다.
조항 12d. 조항 12c의 방법에서, 테스트 구성 데이터는 개개의 하나 이상의 장치 또는 도구 중 적어도 하나에 적어도 부분적으로 자동으로 제공된다.
조항 12e. 조항 12c 또는 조항 12d의 방법에서, 테스트 구성 데이터는 테스트 또는 분석 중 적어도 하나에 대해 사용자가 사용할 수 있는 테스트 레시피를 적어도 부분적으로 포함한다.
조항 13. 조항 1 내지 조항 12e 중 임의의 하나 이상의 방법에서, 복수의 물리적으로 분리된 장비 구역은 또한 다운스트림 장비 구역을 포함하여 생산 프로세스 동안 투입 물질이 업스트림 장비 구역으로부터 다운스트림 장비 구역으로 이동되도록 하며, 방법은 또한,
- 인터페이스를 통해, 업스트림 객체 식별자의 적어도 일부가 첨부된 다운스트림 객체 식별자를 제공하는 단계와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 다운스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트를 결정하는 단계와,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트 및 다른 이력 데이터에 기초하여 다운스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계 - 다른 이력 데이터는 다운스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질 또는 유도체 물질과 관련된 하나 이상의 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함하고, 각각의 이력 다운스트림 객체 식별자에는 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부되고, 프로세스 데이터는 이전에 처리된 투입 물질 또는 유도체 물질이 다운스트림 장비 구역에서 처리된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타냄 - 와,
- 다운스트림 객체 식별자에 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함한다.
조항 14. 조항 1 내지 조항 13 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 객체 식별자 중 임의의 객체 식별자가 컴퓨팅 유닛에 동작가능하게 결합된 메모리 저장소에 제공된다.
조항 15. 조항 14의 방법에서, 컴퓨팅 유닛 및/또는 메모리 저장소는 MS Azure와 같은 클라우드 기반 서비스를 통해 적어도 부분적으로 구현된다.
조항 16. 조항 1 내지 조항 14 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 화학 제품은 화학품, 제약품, 영양제, 화장품 또는 생물학적 제품 중 임의의 하나 또는 이들의 조합이다.
조항 17. 조항 1 내지 조항 16 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 화학 제품은 고체, 반고체, 페이스트, 액체, 에멀젼, 용액, 펠릿, 과립 또는 분말 형태이다.
조항 18. 조항 1 내지 조항 6 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 화학 제품은 열가소성 폴리우레탄("TPU"), 또는 더 구체적으로는 발포 TPU이다.
조항 19. 조항 1 또는 조항 18의 방법에서, 투입 물질이 메틸렌 디페닐 디이소시아네이트("MDI") 및/또는 폴리테트라히드로푸란("PTHF")이다.
조항 20. 조항 1 내지 조항 19 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 임의의 장비 구역은 컨베이어 시스템과 같은 운송 요소, 히터와 같은 열 교환기, 용광로, 냉각 유닛, 반응기, 혼합기, 분쇄기, 절단기, 압축기, 슬라이서, 압출기, 건조기, 분무기, 압력 또는 진공 챔버, 튜브, 빈, 사일로, 옥타빈 또는 산업 플랜트에서 생산 프로세스를 위해 또는 생산 프로세스 중에 직접 또는 간접적으로 사용되는 다른 종류의 장치, 더 바람직하게는 화학 제품의 성능에 영향을 미치는 장치 및/또는 컴포넌트와 같은 임의의 하나 이상의 컴포넌트를 포함한다.
조항 21. 조항 1 내지 조항 20 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 생산 프로세스는 적어도 부분적으로 배치 생산 프로세스이다.
조항 22. 조항 1 내지 조항 21 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 생산 프로세스는 적어도 부분적으로 캠페인 생산 프로세스이다.
조항 23. 조항 1 내지 조항 22 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 생산 프로세스는 적어도 부분적으로 연속 생산 프로세스이다.
조항 24. 조항 1 내지 조항 23 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 장비 동작 조건은 장비의 상태를 나타내는 임의의 특성 또는 값, 예를 들어 설정 포인트, 컨트롤러 출력, 생산 순서, 교정 상태, 모든 장비 관련 경고, 진동 측정, 운송 요소 속도와 같은 속도, 온도 및 필터 차압과 같은 오염 값, 유지보수 날짜 중 임의의 하나 이상이다.
조항 25. 조항 1 내지 조항 24 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 프로세스 데이터는 생산 프로세스 동안 측정된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 적어도 하나의 수치를 포함한다.
조항 26. 조항 1 내지 조항 25 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 프로세스 데이터는 생산 프로세스 동안 측정되거나 검출된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 적어도 하나의 이진 값을 포함한다.
조항 27. 조항 1 내지 조항 26 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 프로세스 데이터는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건 중 하나 이상의 시계열 데이터를 포함한다.
조항 28. 조항 1 내지 조항 27 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 프로세스 데이터는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건의 시간 정보 또는 시계열 데이터를 포함한다.
조항 29. 조항 28의 방법에서, 시간 정보는 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건에 관련된 데이터 포인트 중 적어도 일부에 대한 타임 스탬프를 나타내는 데이터의 형태이거나 시계열 데이터이다.
조항 30. 조항 1 내지 조항 29 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 투입 물질은 화학 제품을 생산하기 위해 사용되는 적어도 하나의 공급원료 또는 미가공 물질이다.
조항 31. 조항 1 내지 조항 30 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 투입 물질은 임의의 유기 또는 무기 물질 또는 임의의 형태의 복수의 유기 및/또는 무기 성분을 포함하는 이들의 조합이다.
조항 32. 조항 1 내지 조항 31 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 투입 물질 데이터는 투입 물질의 특성 또는 속성 중 하나 이상에 관련되거나 이를 나타내는 데이터를 포함한다.
조항 33. 조항 1 내지 조항 32 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 투입 물질 데이터는 이력 테스트 결과와 같은 투입 물질과 관련된 랩 샘플 또는 테스트 데이터를 포함한다.
조항 34. 조항 1 내지 조항 33 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 투입 물질 데이터는 투입 물질과 관련된 밀도, 농도, 순도, pH, 조성, 점도, 온도, 중량, 부피 및/또는 성능 데이터 중 임의의 하나 이상과 같은 투입 물질의 물리적 및/또는 화학적 특성을 나타내는 값을 포함한다.
조항 35. 조항 25 내지 조항 34 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 적어도 하나의 수치 및/또는 적어도 하나의 이진 값 및/또는 시계열 데이터 및/또는 투입 물질의 물리적 및/또는 화학적 특성을 나타내는 값들 중 적어도 일부는 하나 이상의 센서 및/또는 장비에 동작가능하게 결합된 스위치로부터의 신호를 통해 적어도 부분적으로 획득되거나 측정되며, 바람직하게는 센서 및/또는 스위치는 장비의 일부이다.
조항 36. 조항 1 내지 조항 35 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 객체 식별자는 장비 구역에 동작가능하게 결합된 컴퓨팅 유닛을 통해 제공되며, 바람직하게는 컴퓨팅 유닛은 장비의 일부이다.
조항 37. 조항 36의 방법에서, 컴퓨팅 유닛은 분산 제어 시스템("DCS") 및/또는 프로그램 가능 로직 컨트롤러("PLC")와 같은 컨트롤러 또는 제어 시스템이거나 그 일부이다.
조항 38. 조항 1 내지 조항 37 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 객체 식별자는 트리거 이벤트 또는 신호에 응답하여 제공되거나 생성되고, 이벤트 또는 신호는 바람직하게는 장비를 통해, 더 바람직하게는 장비에 동작가능하게 결합된 하나 이상의 센서 및/또는 스위치 중 임의의 것의 출력 응답하여 응답으로 제공된다.
조항 39. 조항 38의 방법에서, 트리거 이벤트 또는 신호는 투입 물질의 양 값, 보다 구체적으로는 미리 결정된 양 임계값에 도달하거나 충족하는 양 값의 발생과 관련되고, 발생은 컴퓨팅 장치 및/또는 장비를 통해 검출된다.
조항 40. 조항 39의 방법으로서, 수량 값은 중량 값 및/또는 충전율(fill factor) 및/또는 레벨 값 및/또는 부피 값이다.
조항 41. 조항 36 내지 조항 40 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 장비는 또한 하나 이상의 액추에이터 및/또는 엔드 이펙터 유닛에 동작가능하게 결합되며, 바람직하게는 액추에이터 및/또는 엔드 이펙터 유닛은 장비의 일부이다.
조항 42. 조항 36 내지 조항 41 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 생산 프로세스는 컴퓨팅 유닛을 통해 적어도 부분적으로 제어 가능하거나 제어된다.
조항 43. 조항 42의 방법으로서, 제조 프로세스는 하나 이상의 액추에이터 및/또는 엔드 이펙터 유닛을 통해 적어도 부분적으로 제어 가능하거나 제어된다.
조항 44. 조항 42 및 조항 43 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 생산 프로세스는 하나 이상의 센서 및/또는 스위치로부터의 임의의 하나 이상의 신호에 응답하여 적어도 부분적으로 제어 가능하거나 제어된다.
조항 45. 조항 1 내지 조항 44 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 임의의 또는 각각의 객체 식별자는 고유 식별자, 바람직하게는 글로벌 고유 식별자("GUID")를 포함한다.
조항 46. 조항 13 내지 조항 45 중 임의의 하나 이상의 조항의 방법에서, 임의의 또는 각각의 장비 구역은 개별 ML 모델을 통해 모니터링 및/또는 제어되고, 개별 ML 모델은 그 구역으로부터의 개개의 객체 식별자로부터의 데이터에 기초하여 트레이닝된다.
조항 47. 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하는 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하기 위한 생산 프로세스를 모니터링하는 모니터링 시스템을 위한 시스템으로서, 제품은 복수의 장비 구역을 통해 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리하여 제조되고, 시스템은 전술한 방법 조항 중 임의의 것에 따라 방법 단계를 수행하도록 구성된다.
조항 48. 데이터세트로서, 데이터세트는 전술한 방법 조항 중 임의의 조항에서 결정된 실시간 프로세스 데이터의 서브세트이다.
조항 49. 전술한 방법 조항 중 어느 하나의 실시간 시계열 데이터 또는 프로세스 데이터의 서브세트를 제공하기 위한 방법으로서, 프로세스는 산업 플랜트의 화학 제품의 생산 프로세스와 관련된 적어도 하나의 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함하고, 방법은 생산 프로세스 동안 메모리 저장소에 동작가능하게 결합된 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되며, 방법은,
- 컴퓨팅 유닛에서 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계와,
- 메모리 저장소에서 시작 신호를 통해 서브세트의 시작을 제공하는 단계와,
- 메모리 저장소에서 정지 신호를 통해 서브세트의 정지(stop)를 제공하는 단계를 포함하고,
시작 신호 및 정지 신호는 서브세트가 실시간 프로세스 데이터로부터 추출되도록 각각 시작 시간과 종료 시간 사이의 서브세트의 범위를 정하는 데 사용된다.
조항 50. 조항 48 또는 조항 49에 따라 생성된 데이터세트의 용도로서, 용도는 ML 모델을 트레이닝하기 위한, 바람직하게는 생산 프로세스에 대한 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 결정하거나 예측하기 위한 것이다.
조항 51. 조항 1 내지 조항 46 중 임의의 하나 이상의 조항에 따라 생성된 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 용도로서, 용도는 다운스트림 생산 프로세스에서, 예를 들어 신발과 같은 신발류 또는 스포츠 용품을 제조하기 위한 것이다.
조항 52. 시스템으로서, 시스템은 전술한 방법 조항 중 임의의 조항에 따라 방법 단계들을 수행하도록 구성된다.
조항 53. 명령어를 포함하는, 컴퓨터 프로그램 또는 프로그램을 저장하는 비 일시적 컴퓨터 판독가능 매체로서, 프로그램은 적절한 컴퓨팅 유닛에 의해 실행되는 경우 컴퓨팅 유닛으로 하여금 전술한 방법 조항 중 임의의 조항의 방법 단계들을 수행하게 한다.
조항 54. 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 시스템으로서, 산업 플랜트는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하고, 제품은 복수의 장비 구역을 통해 생산 프로세스를 이용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되고, 시스템은 컴퓨팅 유닛이,
- 인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고 - 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - ,
- 컴퓨팅 유닛에서 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - ,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 투입 물질의 존재를 나타냄 - ,
- 컴퓨팅 유닛을 통해, 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하며,
- 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하도록 구성되게 하도록 구성되거나 적응된다.
조항 55. 명령어를 포함하는, 컴퓨터 프로그램 또는 프로그램을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체로서,
프로그램은, 산업 플랜트에서 생산 프로세스를 이용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 화학 제품을 제조하기 위한 복수의 장비 구역에 동작가능하게 결합되는 적합한 컴퓨팅 유닛에 의해 실행될 때, 컴퓨팅 유닛으로 하여금,
- 인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고 - 투입 물질 데이터는 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - ,
- 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - ,
- 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 구역 존재 신호는 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 투입 물질의 존재를 나타냄 - ,
- 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 업스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 컴퓨팅 유닛을 통해 계산하며,
- 업스트림 객체 식별자에 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하게 한다.
Claims (22)
- 산업 플랜트(industrial plant)에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 방법으로서,
상기 산업 플랜트는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역(equipment zone)을 포함하고,
상기 화학 제품은 상기 복수의 장비 구역을 통해 상기 생산 프로세스를 사용하여 적어도 하나의 투입 물질(input material)을 처리함으로써 제조되고, 상기 방법은 적어도 부분적으로 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되며, 상기 방법은,
인터페이스를 통해, 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하는 단계- 상기 투입 물질 데이터는 상기 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - 와,
상기 컴퓨팅 유닛에서 상기 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계 - 상기 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - 와,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 상기 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하는 단계 - 상기 구역 존재 신호는 상기 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 상기 투입 물질의 존재를 나타냄 - 와,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 상기 업스트림 객체 식별자와 관련된 상기 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계와,
상기 업스트림 객체 식별자에 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함하는,
방법. - 제1항에 있어서,
상기 이력 데이터는 이전에 처리된 투입 물질과 관련된 하나 이상의 이력 업스트림 객체 식별자(historical upstream object identifier)로부터의 데이터를 포함하는,
방법. - 제2항에 있어서,
상기 적어도 하나의 이력 업스트림 객체 식별자에는 상기 이전에 처리된 투입 물질이 처리된 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타내는 이력 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부되는,
방법. - 제1항 내지 제3항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 방법은,
상기 실시간 프로세스 데이터의 서브세트의 적어도 일부를 상기 업스트림 객체 식별자에 추가하는 단계를 더 포함하는,
방법. - 제1항 내지 제4항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 구역 존재 신호는 구역-시간 변환을 수행함으로써 상기 컴퓨팅 유닛을 통해 생성되고, 상기 변환은 상기 투입 물질과 관련된 적어도 하나의 특성을 상기 실시간 프로세스 데이터로부터의 하나 이상의 시간 종속 신호를 통해 특정 장비 구역에 매핑하는,
방법. - 제1항 내지 제5항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 컴퓨팅은 상기 이력 데이터를 사용하여 트레이닝된 적어도 하나의 기계 학습("ML") 모델을 사용하여 수행되는,
방법. - 제6항에 있어서,
상기 ML 모델은 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산을 위한 신뢰 레벨을 나타내는 적어도 하나의 신뢰 값을 제공하도록 구성되는,
방법. - 제7항에 있어서,
경고 신호가, 바람직하게는 상기 생산 프로세스를 위한 제어 시스템에서 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산 또는 예측의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지는 것에 응답하여 생성되는,
방법. - 제7항 또는 제8항에 있어서,
샘플링 객체 식별자는 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 계산 또는 예측의 신뢰 레벨이 정확도 임계값 아래로 떨어지는 것에 응답하여 또는 경고 신호에 응답하여 자동으로 생성되고, 상기 샘플링 객체 식별자는 상기 신뢰 레벨 정확도가 상기 정확도 값을 교차한 시간 또는 그 부근에서 개개의 구역에 있는 물질과 관련되는,
방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 경고 신호에 응답하여 적어도 하나의 실험실 분석이 수행되고, 바람직하게는 상기 분석은 상기 경고와 관련된 개개의 구역에 있는 상기 물질에 대해 수행되는,
방법. - 제10항에 있어서,
상기 분석의 날짜 및/또는 결과가 상기 샘플링 객체 식별자에 첨부되고, 바람직하게는 상기 샘플링 객체 식별자로부터의 데이터가 상기 컴퓨팅 유닛을 통한 향후 계산을 위해 상기 이력 데이터에 포함되는,
방법. - 제9항 내지 제11항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 샘플링 객체 식별자에는 상기 샘플링 객체 식별자에 대응하는 상기 개개의 물질 또는 화학 제품에 대해 수행될 하나 이상의 테스트 또는 분석의 종류를 나타내는 테스트 유형 데이터가 첨부되는,
방법. - 제9항 내지 제12항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 샘플링 객체 식별자에는 상기 샘플링 객체 식별자에 대응하는 개개의 물질 또는 화학 제품에 대한 적어도 하나의 테스트 또는 분석을 수행하기 위해 사용되어야 하는 테스트 물질 및/또는 하나 이상의 장치 또는 도구를 나타내는 도구 유형 데이터가 첨부되는,
방법. - 제13항에 있어서,
상기 샘플링 객체 식별자에는 테스트 또는 분석을 수행하는 데 사용될 상기 장치 또는 도구 중 적어도 하나에 대한 테스트 구성 데이터가 첨부되는,
방법. - 제14항에 있어서,
상기 테스트 구성 데이터는 상기 개개의 하나 이상의 장치 또는 도구 중 적어도 하나에 적어도 부분적으로 자동으로 제공되는,
방법. - 제14항 또는 제15항에 있어서,
상기 테스트 구성 데이터는 상기 테스트 또는 분석 중 적어도 하나에 대해 사용자가 사용할 수 있는 테스트 레시피를 적어도 부분적으로 포함하는,
방법. - 제1항 내지 제16항 중 임의의 하나 이상의 항에 있어서,
상기 복수의 물리적으로 분리된 장비 구역은 또한 다운스트림 장비 구역을 포함하여 상기 생산 프로세스 동안 상기 투입 물질이 상기 업스트림 장비 구역으로부터 상기 다운스트림 장비 구역으로 이동되도록 하며,
상기 방법은 또한,
상기 인터페이스를 통해, 상기 업스트림 객체 식별자의 적어도 일부가 첨부된 다운스트림 객체 식별자를 제공하는 단계와,
컴퓨팅 유닛을 통해, 다운스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트를 결정하는 단계와,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 실시간 프로세스 데이터의 다른 서브세트 및 다른 이력 데이터에 기초하여 상기 다운스트림 객체 식별자와 관련된 화학 제품의 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하는 단계 - 상기 다른 이력 데이터는 상기 다운스트림 장비 구역에서 이전에 처리된 투입 물질 또는 유도체 물질과 관련된 하나 이상의 이력 다운스트림 객체 식별자로부터의 데이터를 포함하고, 각각의 이력 다운스트림 객체 식별자에는 상기 프로세스 데이터의 적어도 일부가 첨부되고, 상기 프로세스 데이터는 상기 이전에 처리된 투입 물질 또는 유도체 물질이 상기 다운스트림 장비 구역에서 처리된 상기 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 나타냄 - 와,
상기 다운스트림 객체 식별자에 상기 다른 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하는 단계를 포함하는,
방법. - 제1항 내지 제17항의 방법 청구항 중 어느 하나의 실시간 시계열 데이터 또는 프로세스 데이터의 서브세트를 제공하기 위한 방법으로서,
상기 프로세스는 산업 플랜트의 화학 제품의 생산 프로세스와 관련된 적어도 하나의 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함하고, 상기 방법은 상기 생산 프로세스 동안 메모리 저장소에 동작가능하게 결합된 컴퓨팅 유닛을 통해 수행되며, 상기 방법은,
상기 컴퓨팅 유닛에서 상기 실시간 프로세스 데이터를 수신하는 단계와,
상기 메모리 저장소에서 시작 신호를 통해 상기 서브세트의 시작을 제공하는 단계와,
상기 메모리 저장소에서 정지 신호를 통해 상기 서브세트의 정지(stop)를 제공하는 단계를 포함하고,
상기 시작 신호 및 정지 신호는 상기 서브세트가 상기 실시간 프로세스 데이터로부터 추출되도록 각각 시작 시간과 종료 시간 사이의 상기 서브세트의 범위를 정하는 데 사용되는,
방법. - 제18항에 따라 생성된 데이터세트의 용도로서,
상기 용도는 ML 모델을 트레이닝하기 위한, 바람직하게는 생산 프로세스에 대한 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 결정하거나 예측하기 위한 것인,
데이터세트의 용도. - 제1항 내지 제19항 중 임의의 하나 이상의 항에 따라 생성된 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터의 용도로서,
상기 용도는 다운스트림 생산 프로세스에서, 예를 들어 신발과 같은 신발류 또는 스포츠 용품을 제조하기 위한 것인,
구역별 성능 파라미터의 용도. - 산업 플랜트에서 화학 제품을 제조하는 생산 프로세스를 모니터링하는 시스템으로서,
상기 산업 플랜트는 물리적으로 분리된 복수의 장비 구역을 포함하고, 상기 제품은 상기 복수의 장비 구역을 통해 상기 생산 프로세스를 이용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 제조되고, 상기 시스템은 컴퓨팅 유닛이,
인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고 - 상기 투입 물질 데이터는 상기 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - ,
상기 컴퓨팅 유닛에서 상기 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 상기 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - ,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 상기 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 상기 구역 존재 신호는 상기 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 상기 투입 물질의 존재를 나타냄 - ,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 상기 업스트림 객체 식별자와 관련된 상기 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하며,
상기 업스트림 객체 식별자에 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하도록 구성되게 하도록 구성되거나 적응되는,
시스템. - 명령어를 포함하는, 컴퓨터 프로그램 또는 상기 프로그램을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체로서,
상기 프로그램은, 산업 플랜트에서 생산 프로세스를 이용하여 적어도 하나의 투입 물질을 처리함으로써 화학 제품을 제조하기 위한 복수의 장비 구역에 동작가능하게 결합되는 적합한 컴퓨팅 유닛에 의해 실행될 때, 상기 컴퓨팅 유닛으로 하여금,
인터페이스를 통해 투입 물질 데이터를 포함하는 업스트림 객체 식별자를 제공하고 - 상기 투입 물질 데이터는 상기 투입 물질의 하나 이상의 특성을 나타냄 - ,
상기 장비 구역 중 하나 이상으로부터 실시간 프로세스 데이터를 수신하며 - 상기 실시간 프로세스 데이터는 실시간 프로세스 파라미터 및/또는 장비 동작 조건을 포함함 - ,
상기 업스트림 객체 식별자 및 구역 존재 신호에 기초하여 상기 실시간 프로세스 데이터의 서브세트를 결정하고 - 상기 구역 존재 신호는 상기 생산 프로세스 동안 특정 장비 구역에서의 상기 투입 물질의 존재를 나타냄 - ,
상기 컴퓨팅 유닛을 통해, 상기 실시간 프로세스 데이터 및 이력 데이터의 서브세트에 기초하여 상기 업스트림 객체 식별자와 관련된 상기 화학 제품의 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 계산하며,
상기 업스트림 객체 식별자에 상기 적어도 하나의 구역별 성능 파라미터를 첨부하게 하는,
컴퓨터 프로그램 또는 상기 프로그램을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체.
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