KR20230042255A - Recognition apparatus and method for security material - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 특수물질 인식장치 및 이를 이용한 특수물질 인식방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 보안제품에 포함된 특수물질을 인식하기 위한 특수물질 인식장치 및 이를 이용한 특수물질 인식방법을 개선하여 보안제품 및 특수물질 인식장치의 위변조를 더욱 어렵게 하기 위한 것이다.The present invention relates to a special substance recognition device and a special substance recognition method using the same, and more particularly, to a special substance recognition device for recognizing a special substance included in a security product and a special substance recognition method using the same to improve security products and This is to make forgery and alteration of the special material recognition device more difficult.
특정 파장의 광에 의해 여기되어 특정 파장의 광을 방출하는 특성을 가지는 특수물질이 제품의 위변조 방지를 위해 활용되는 예가 증가하고 있다. 예를 들어, 제1 파장 범위의 광을 흡수하여 제2 파장 범위의 광을 방출하는 특수물질을 보안이 필요한 문서나 상품 등의 보안제품에 포함시키는 경우, 제1 파장 범위의 광을 해당 보안제품에 조사하고 방출되는 광을 검출함으로써 제품의 정품인증 및 위변조 여부 판별이 가능하다. 보안제품의 특수물질 포함 영역에 제1 파장 범위의 광을 조사하였음에도 제2 파장 범위의 광이 검출되지 않는 경우 해당 제품은 정품이 아닌 것으로 판별할 수 있으며, 제2 파장 범위의 광이 정상적으로 검출되는 경우 정품으로 인증할 수 있다.The use of special materials having characteristics of emitting light of a specific wavelength when excited by light of a specific wavelength is increasing to prevent counterfeiting and falsification of products. For example, when a special material that absorbs light in a first wavelength range and emits light in a second wavelength range is included in a security product such as a document or product requiring security, light in the first wavelength range is emitted into the corresponding security product. It is possible to determine whether the product is genuine or forged by irradiating and detecting the emitted light. If the light of the second wavelength range is not detected even though the light of the first wavelength range is irradiated to the area containing the special material of the security product, it can be determined that the product is not genuine, and the light of the second wavelength range is normally detected. If so, it can be certified as genuine.
이처럼 특수물질이 적용된 보안제품을 인증하기 위해서는 특수물질 인식장치가 필요하다. 특수물질 인식장치는 보안제품에 적용된 특수물질에 따라 결정되는 제1 파장 범위의 여기광을 조사할 수 있는 발광소자와, 특수물질에서 방출되는 제2 파장 범위의 방출광을 검출할 수 있는 광 검출소자를 구비할 수 있다. 특수물질 인식장치는 동작 버튼 등의 조작에 반응하여 여기광을 조사하고 방출광을 검출하여 정품 여부를 판별할 수 있다.In order to authenticate security products to which special substances are applied, a special substance recognition device is required. The special material recognizing device includes a light emitting element capable of irradiating excitation light in a first wavelength range determined according to the special material applied to the security product, and a light detector capable of detecting emission light in a second wavelength range emitted from the special material. element can be provided. The special material recognizing device may determine whether the product is genuine by irradiating excitation light and detecting emission light in response to manipulation of an operation button or the like.
한편, 종래의 특수물질 인식장치는 동작 방식이 단순하여 리버스 엔지니어링(Reverse engineering) 등의 방법으로 그 동작 원리를 알아내고 복제하는 것이 비교적 용이하다. 예를 들어, 특수물질 인식장치가 여기 및 검출에 사용하는 제1 파장 및 제2 파장을 알아내어 특수물질 인식장치 자체를 위변조할 수 있는 문제가 있다. On the other hand, the conventional special material recognizing device has a simple operation method, so it is relatively easy to find out and copy the operation principle by a method such as reverse engineering. For example, there is a problem in that the special material recognition device itself can be forged or altered by finding out the first wavelength and the second wavelength used for excitation and detection by the special substance recognition device.
또한, 특수물질 인식장치의 동작 원리가 노출되는 경우 보안제품에 적용된 특수물질과 동일하지 않은 유사 특수물질이 적용된 위변조 제품의 출현으로 이어질 수 있다. 가령 정품에 포함된 특수물질과 동일하지는 않지만, 제1 파장에 의해 여기되어 제2 파장의 광을 방출하는 다른 유사물질로 위변조 제품을 제작하는 경우, 기존의 방식으로는 이를 막기 어렵다. 이러한 문제를 해결하기 위해 단순히 방출광의 파장을 검출하는 대신 방출광의 라이프 타임(life time) 등 다른 방출광 특성을 검출하여 정품 여부를 판단하는 알고리즘이 제안되어 있으나, 이러한 방법 역시 검출 대상 파라미터가 변경되었을 뿐 특수물질 인식장치의 동작 방식은 여전히 단순하여 위변조를 원천적으로 해결하기 어려운 문제가 있다.In addition, if the operating principle of the special material recognition device is exposed, it may lead to the emergence of counterfeit products applied with similar special materials that are not identical to the special materials applied to security products. For example, if a counterfeit product is manufactured with another similar material that is not the same as the special material included in the genuine product, but is excited by the first wavelength and emits light of the second wavelength, it is difficult to prevent this in the existing method. In order to solve this problem, an algorithm has been proposed to determine whether the product is genuine by detecting other characteristics of emitted light such as the lifetime of emitted light instead of simply detecting the wavelength of emitted light. However, since the operation method of the special material recognition device is still simple, there is a problem in that it is difficult to fundamentally solve forgery and alteration.
따라서, 보안제품 뿐만 아니라 특수물질 인식장치의 보안성도 향상시킴으로써 특수물질이 적용된 보안제품의 보안성을 궁극적으로 향상시킬 수 있는 새로운 기술이 요구된다.Therefore, there is a need for a new technology that can ultimately improve the security of security products to which special substances are applied by improving the security of not only security products but also special substance recognition devices.
본 발명은 상기 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 구체적으로는 보안성이 강화된 특수물질 인식장치 및 특수물질 인식방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and specifically, an object of the present invention is to provide a special substance recognition device and special substance recognition method with enhanced security.
본 발명의 목적은 전술한 바에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있다. The object of the present invention is not limited to the above, and other objects and advantages of the present invention not mentioned can be understood by the following description.
본 발명의 실시예에 따른 특수물질에 제1 파장 범위의 여기광을 조사하고 특수물질로부터 방출되는 제2 파장 범위의 방출광을 검출하는 특수물질 인식장치를 이용하여 특수물질을 인식하는 방법은, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 특수물질 검출에 사용할 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계; 선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합에 기초하여 방출광 특성을 검출하는 단계; 검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 인증을 수행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method for recognizing a special material using a special material recognizing device for irradiating excitation light in a first wavelength range to a special material and detecting emission light in a second wavelength range emitted from the special material according to an embodiment of the present invention, selecting a combination of reference parameters and reference parameter values to be used for detection of a special material from among a plurality of combinations of reference parameters and reference parameter values stored to be used for detection of a special material; detecting emitted light characteristics based on a selected reference parameter and a combination of reference parameter values; and performing authentication by comparing the detected emission characteristics with reference values.
이때, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 미리 설정된 순서에 따라 규칙적으로 선택되거나 또는 무작위의 불규칙한 방식으로 선택하는 단계일 수 있다.At this time, the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value is regularly selected according to a preset order from among a plurality of combinations of the reference parameter and the reference parameter value stored to be used for detection of the special substance, or Or it may be a step of choosing in a random and irregular way.
또한, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는, 특수물질 인식을 시도할 때마다 수행될 수 있다.Also, the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value may be performed whenever special material recognition is attempted.
또한, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계에 의해 선택되는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은, 특수물질 인식을 시도할 때마다 변할 수 있다.In addition, the combination of the reference parameter and the reference parameter value selected in the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value may change each time special material recognition is attempted.
또한, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 복수의 기준 파라미터들 중에서 기준 파라미터를 선택하는 단계를 포함하고, 상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 선택하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value includes the step of selecting a reference parameter from among a plurality of reference parameters stored to be usable for detection of the special substance, and the selected reference parameter A step of selecting a corresponding reference parameter value may be included.
또한, 상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 선택하는 단계는, 미리 저장된 복수의 기준 파라미터 값들 중 하나를 선택하는 단계일 수 있다.Also, the step of selecting a reference parameter value corresponding to the selected reference parameter may be a step of selecting one of a plurality of previously stored reference parameter values.
또한, 상기 기준 파라미터를 선택하는 단계에서 선택되지 않은 기준 파라미터에 대해서는, 디폴트 값을 이용할 수 있다.Also, default values may be used for reference parameters not selected in the step of selecting the reference parameters.
또한, 상기 선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합의 수는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합들의 수보다 작을 수 있다.Also, the number of combinations of the selected reference parameter and reference parameter values may be smaller than the number of combinations of reference parameters and reference parameter values that are stored to be used for detection of the special material.
또한, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계 및 상기 인증을 수행하는 단계 중 적어도 하나는 특수물질 인식장치와 별도로 구비되는 인증 서버에서 수행될 수 있다.In addition, at least one of the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value and the step of performing the authentication may be performed in an authentication server provided separately from the special substance recognition device.
본 발명의 실시예에 따른 제1 파장 범위의 광을 흡수하여 제2 파장 범위의 광을 방출하는 특수물질을 인식하기 위한 특수물질 인식장치는, A special material recognizing device for recognizing a special material that absorbs light in a first wavelength range and emits light in a second wavelength range according to an embodiment of the present invention,
제어부; 특수물질에 제1 파장 범위의 여기광을 조사하는 여기광 조사부; 특수물질로부터 방출되는 제2 파장 범위의 방출광을 검출하는 방출광 검출부를 포함하고, 상기 제어부는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합에 기초하여 상기 여기광 조사부 및 방출광 검출부 중 적어도 하나가 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 한다.control unit; an excitation light irradiation unit for irradiating excitation light of a first wavelength range to the special material; An emission light detection unit for detecting emission light in a second wavelength range emitted from the special material, wherein the control unit selects among a plurality of combinations of reference parameters and reference parameter values stored to be used for detection of the special material. At least one of the excitation light emitter and the emission light detector may be controlled to operate based on a selected reference parameter and a combination of reference parameter values.
또한, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 선택부를 더 포함할 수 있다.The method may further include a selector for selecting a combination of the reference parameter and the reference parameter value.
상기 선택부는, 기준 파라미터 값을 선택하기 전에, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 복수의 기준 파라미터들 중에서 하나 이상의 기준 파라미터를 선택하는 기능을 먼저 수행하고, 상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값들 중에서 하나의 기준 파라미터 값을 선택하도록 동작될 수 있다.The selector, before selecting a reference parameter value, first performs a function of selecting one or more reference parameters from among a plurality of reference parameters stored to be usable for detection of a special material, and It may be operated to select one criterion parameter value from among the criterion parameter values.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치는, 상기 특수물질의 검출을 위해 사용 가능한 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합들이 저장된 저장부를 더 포함할 수 있다.In addition, the special material recognizing apparatus according to an embodiment of the present invention may further include a storage unit in which combinations of reference parameters and reference parameter values usable for detecting the special material are stored.
이때, 방출광 검출부에서 검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 정품 인증을 수행하는 인증부를 더 포함하고, 상기 기준값은 상기 저장부에 각 기준 파라미터 값들에 대응하여 저장되어 있을 수 있다.In this case, the electronic device may further include an authentication unit that compares the emission characteristics detected by the emission light detection unit with a reference value to perform activation authentication, and the reference value may be stored in the storage unit in correspondence with each reference parameter value.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치는, 인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고, 상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은 인증 서버에서 선택되어 전송될 수 있다.In addition, the special substance recognition device according to an embodiment of the present invention further includes a communication unit capable of exchanging data with the authentication server, and the combination of the reference parameter and the reference parameter value can be selected and transmitted by the authentication server.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치는, 인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고, 상기 방출광 검출부가 검출한 방출광 특성을 인증 서버로 전달할 수 있다.In addition, the special material recognizing device according to an embodiment of the present invention may further include a communication unit capable of exchanging data with the authentication server, and transmit the emission characteristics detected by the emission light detection unit to the authentication server.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치는, 인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고, 상기 제어부는, 특수물질 인식장치의 식별코드를 상기 인증 서버로 전달하도록 상기 통신부를 제어할 수 있다.In addition, the special substance recognition device according to an embodiment of the present invention further includes a communication unit capable of exchanging data with an authentication server, and the control unit transmits the identification code of the special substance recognition device to the authentication server. You can control it.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치는, 인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부 및 기준 파라미터 값들이 각각 식별번호에 대응되도록 저장된 저장부를 더 포함하고, 상기 기준 파라미터 값은 인증 서버에서 전송된 식별번호를 기초로 선택될 수 있다.In addition, the special material recognition device according to an embodiment of the present invention further includes a communication unit capable of exchanging data with the authentication server and a storage unit storing standard parameter values corresponding to identification numbers, and the standard parameter values are stored in the authentication server. It can be selected based on the transmitted identification number.
또한 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치에서 상기 선택되는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은, 특수물질 인식을 시도할 때마다 변할 수 있다.In addition, the combination of the selected reference parameter and the reference parameter value in the special material recognition device according to an embodiment of the present invention may change whenever special material recognition is attempted.
본 발명에 따르면, 특수물질의 방출광 검출에 사용되는 기준 파라미터 값을 규칙적 또는 불규칙적인 방법으로 선택하고 이를 기초로 방출광을 검출하도록 함으로써, 특수물질 인식장치 및 특수물질 인식방법의 보안성을 한층 강화할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the standard parameter value used for detecting the emitted light of the special material is selected in a regular or irregular manner and the emitted light is detected based on this, thereby increasing the security of the special material recognizing device and the special material recognizing method. It has a strengthening effect.
다만, 본 발명의 효과는 위에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the effects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값을 예시한 표이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치의 기능 블록도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 다른 특수물질 인식장치 및 인증 서버의 기능 블록도이다.
도 5는 도 4의 특수물질 인식장치 및 인증 서버를 이용한 특수물질 인식방법을 설명하기 위한 흐름도이다.1 is a flowchart illustrating a special material recognition method according to an embodiment of the present invention.
2 is a table illustrating reference parameters and reference parameter values according to an embodiment of the present invention.
3 is a functional block diagram of a special material recognizing device according to an embodiment of the present invention.
4 is a functional block diagram of a special substance recognition device and an authentication server according to another embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a flowchart illustrating a special material recognition method using the special substance recognition device and authentication server of FIG. 4 .
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예들에 의해 한정되거나 제한되는 것은 아니다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited or limited by the embodiments.
본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 본 명세서의 설명 과정에서 이용되는 숫자(예를 들어, 제 1, 제 2 등)는 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위한 식별기호에 불과하다. 본 발명의 다양한 실시예들을 설명함에 있어, 대응되는 구성요소에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조부호를 부여하여 설명하도록 한다.In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of related known technologies may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted. In addition, numbers (eg, 1st, 2nd, etc.) used in the description process of this specification are only identifiers for distinguishing one component from another component. In describing the various embodiments of the present invention, the same names and the same reference numerals are assigned to corresponding components to be described.
본 명세서에서 '특수물질'이라는 용어는 입사광이 조사되면 특정 파장의 방출광을 방출하는 물질을 의미한다. 여기서 입사광과 방출광의 파장은 특수물질 고유의 특성에 의해 정해질 수 있다.In this specification, the term 'special material' refers to a material that emits emission light of a specific wavelength when incident light is irradiated. Here, the wavelengths of the incident light and the emitted light may be determined by the inherent characteristics of the special material.
또한 본 명세서에서 '기준 파라미터'라는 용어는 특수물질의 검출을 위해 사용할 수 있는 파라미터, 구체적으로는 특수물질의 여기광 및/또는 방출광 특성과 관련된 파라미터를 의미한다. 예를 들어, 기준 파라미터는 여기광 파장, 여기광 세기, 여기광 지속시간, 방출광 특성 파라미터 등일 수 있다.Also, in the present specification, the term 'reference parameter' means a parameter that can be used for detecting a special material, specifically, a parameter related to excitation light and/or emission light characteristics of the special material. For example, the reference parameter may be an excitation light wavelength, an excitation light intensity, an excitation light duration, an emission light characteristic parameter, and the like.
또한 본 명세서에서 '기준 파라미터 값'이라는 용어는 각 기준 파라미터에 대해 선택 가능한 수치 또는 특성을 의미한다. 예를 들어, 기준 파라미터가 여기광 파장인 경우, 기준 파라미터 값은 400nm, 700nm, 1000nm 등일 수 있다. 또한 기준 파라미터가 여기광 세기인 경우, 기준 파라미터 값은 여기 광원에 인가되는 전력값으로서 100mW, 200mW, 300mW 등일 수 있다. 또한, 기준 파라미터가 여기광 지속시간인 경우, 기준 파라미터 값은 여기 광원이 온(ON)된 후 오프(OFF)될 때까지의 시간으로서 0.1sec, 0.2sec, 0.3sec 등일 수 있다. 또한, 기준 파라미터가 방출광 특성 파라미터인 경우, 기준 파라미터 값은 방출광으로부터 정품 인증을 위해 산출하는 특성 파라미터로서, 예를 들어 특정 파장의 방출광 세기, 방출광 라이프 타임 등일 수 있다.Also, in this specification, the term 'standard parameter value' means a value or characteristic selectable for each reference parameter. For example, when the reference parameter is the excitation light wavelength, the reference parameter value may be 400 nm, 700 nm, 1000 nm, or the like. Also, when the reference parameter is the excitation light intensity, the reference parameter value may be 100mW, 200mW, 300mW, etc. as a power value applied to the excitation light source. Also, when the reference parameter is the duration of the excitation light, the reference parameter value is the time from when the excitation light source is turned on to the time when the excitation light source is turned off, and may be 0.1 sec, 0.2 sec, 0.3 sec, or the like. In addition, when the reference parameter is an emitted light characteristic parameter, the reference parameter value is a characteristic parameter calculated for activation from the emitted light, and may be, for example, emission light intensity of a specific wavelength, emission light lifetime, and the like.
도 1은 본 발명에 따른 특수물질 인식방법을 설명하기 위한 흐름도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값을 예시한 표이다.1 is a flowchart illustrating a method for recognizing a special substance according to the present invention, and FIG. 2 is a table illustrating reference parameters and reference parameter values according to an embodiment of the present invention.
도 1 및 도 2를 참조하여 설명하면, 본 발명에 따른 특수물질 인식방법은, 기준 파라미터 선택 단계(S110), 기준 파라미터 값 선택 단계(S120), 선택된 기준 파라미터 값에 기초하여 방출광 특성을 검출하는 단계(S130) 및 검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 인증하는 단계(S140)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2, the special material recognition method according to the present invention includes a standard parameter selection step (S110), a standard parameter value selection step (S120), and emission characteristics are detected based on the selected reference parameter value. It may include a step (S130) and an authentication step (S140) by comparing the detected emission characteristics with a reference value.
먼저 기준 파라미터 선택 단계(S110)는, 특수물질 인식에 사용될 기준 파라미터가 규칙적 또는 불규칙적인 방법으로 선택되는 단계일 수 있다. 도 2를 참조하면 기준 파라미터는 여기광 조사와 관련된 파라미터인 여기광 파장, 여기광 세기, 여기광 지속시간, 방출광 특성과 관련된 파라미터인 방출광 특성 파라미터일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 도 2에 예시된 것 외에도 여기광 펄스 형태나 시간 등 여기광 조사와 관련된 다른 파라미터들, 방출광을 검출하는 광센서 종류(특수물질 인식장치에 복수의 광센서가 탑재된 경우), 방출광 파장(방출광 스펙트럼에 복수의 방출 피크가 포함된 경우) 등 방출광 검출과 관련된 다른 파라미터들이 기준 파라미터에 포함될 수 있다. First, the reference parameter selection step (S110) may be a step in which a reference parameter to be used for special material recognition is selected in a regular or irregular manner. Referring to FIG. 2 , the reference parameter may be an excitation light wavelength, an excitation light intensity, an excitation light duration, and an emitted light characteristic parameter related to emission light characteristics, but is not limited thereto. That is, in addition to those illustrated in FIG. 2, other parameters related to excitation light irradiation, such as excitation light pulse shape and time, type of optical sensor that detects emission light (when a plurality of optical sensors are mounted in the special material recognizing device), emission Other parameters related to emission light detection, such as light wavelength (when the emission light spectrum includes a plurality of emission peaks), may be included as reference parameters.
기준 파라미터 선택 단계(S110)에서 기준 파라미터는 미리 설정된 순서에 따라 규칙적으로 선택되거나, 무작위의 불규칙한 방식으로 선택될 수 있다. 불규칙한 방식으로는 난수 발생을 이용한 방식이 사용될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.In the reference parameter selection step ( S110 ), the reference parameters may be selected regularly according to a preset order or randomly and irregularly. As an irregular method, a method using random number generation may be used, but is not limited thereto.
기준 파라미터 선택 단계(S110)에서 선택되는 기준 파라미터는 하나일 수도 있으나, 복수일 수도 있다. 예를 들어, 여기광 파장만 선택될 수도 있고, 여기광 파장과 여기광 지속시간이 선택될 수도 있다. 선택되는 기준 파라미터가 많을수록 특수물질 인식방법의 복잡성이 증가되어 보안성 측면에서 더 바람직할 수 있다. S110 단계에서 선택되는 기준 파라미터의 수도 별도의 기준 파라미터로서 규칙적 또는 불규칙한 방식으로 선택되도록 할 수 있다.The reference parameter selected in the reference parameter selection step (S110) may be one or may be plural. For example, only the excitation light wavelength may be selected, or the excitation light wavelength and excitation light duration may be selected. As more reference parameters are selected, the complexity of the special material recognition method increases, which may be more desirable in terms of security. The number of reference parameters selected in step S110 may also be selected in a regular or irregular manner as separate reference parameters.
기준 파라미터가 선택되면, 기준 파라미터 값 선택 단계(S120)가 수행될 수 있다. 기준 파라미터 값 선택 단계는 S110 단계에서 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 규칙적 또는 불규칙적으로 선택하는 단계이다.When the reference parameter is selected, a reference parameter value selection step (S120) may be performed. The reference parameter value selection step is a step of regularly or irregularly selecting a reference parameter value corresponding to the reference parameter selected in step S110.
가령 S110 단계에서 기준 파라미터로 여기광 파장이 선택된 경우, S120 단계에서는 여기광 파장에 해당하는 기준 파라미터 값들 중에서 하나인 700nm를 선택할 수 있다. 또한 S120 단계에서 여기광 파장과 여기광 지속시간이 기준 파라미터로 선택된 경우, 여기광 파장에 해당하는 기준 파라미터 값들 중에서 700nm, 여기광 지속시간에 해당하는 기준 파라미터 값들 중에서 0.3sec가 기준 파라미터 값으로 선택될 수 있다. 기준 파라미터 선택 단계(S110)와 마찬가지로 기준 파라미터 값도 미리 설정된 순서에 따라 규칙적으로 선택되거나, 무작위의 불규칙한 방식으로 선택될 수 있다.For example, when the excitation light wavelength is selected as the reference parameter in step S110, 700 nm, which is one of the reference parameter values corresponding to the excitation light wavelength, may be selected in step S120. In addition, when the excitation light wavelength and the excitation light duration are selected as the reference parameters in step S120, 700 nm is selected as the reference parameter value among the reference parameter values corresponding to the excitation light wavelength and 0.3 sec is selected as the reference parameter value among the reference parameter values corresponding to the excitation light duration. It can be. Similar to the reference parameter selection step ( S110 ), the reference parameter value may be selected regularly according to a preset order or selected randomly and irregularly.
한편, 복수의 기준 파라미터 중 어느 하나의 기준 파라미터에만 복수의 기준 파라미터 값들이 설정되어 있고, 나머지 기준 파라미터에 대해서는 디폴트 기준 파라미터 값만 사용할 수 있도록 구성되어 있는 경우에는, 기준 파라미터 선택 단계(S110)는 생략될 수 있다. 예를 들어, 기준 파라미터 중 여기광 파장만 선택할 수 있고, 나머지 기준 파라미터들은 고정된 값만 사용할 수 있는 경우, 기준 파라미터를 선택하는 단계(S110) 없이 바로 기준 파라미터 값 선택 단계(S120)이 진행될 수 있다.On the other hand, when a plurality of reference parameter values are set only for one of the plurality of reference parameters and only the default reference parameter values are used for the remaining reference parameters, the reference parameter selection step (S110) is omitted. It can be. For example, when only the wavelength of excitation light can be selected among the reference parameters and only fixed values can be used for the rest of the reference parameters, the reference parameter value selection step (S120) may proceed directly without the reference parameter selection step (S110). .
기준 파라미터 값이 선택된 후에는 선택된 기준 파라미터 값에 기초하여 방출광 특성을 검출하는 단계를 수행한다(S130). 구체적으로는 후술하는 특수물질 인식장치의 여기광 조사부에서 특수물질을 포함한 보안제품에 여기광을 조사하고, 방출광 검출부에서 방출광을 검출할 수 있다.After the reference parameter value is selected, an emission light characteristic is detected based on the selected reference parameter value (S130). Specifically, the excitation light irradiation unit of the special material recognizing device to be described later may irradiate the excitation light to the security product including the special material, and the emission light detection unit may detect the emission light.
이때, S110 단계에서 기준 파라미터로 선택되지 않은 기준 파라미터들의 경우, 디폴트 값을 이용하여 방출광 특성을 검출할 수 있다. 예를 들어, S110 단계에서 기준 파라미터로 여기광 파장이 선택되고 S120 단계에서 여기광 파장에 해당하는 기준 파라미터 값으로 700nm가 선택된 경우, S130 단계에서는 700nm의 여기광을 100mW의 세기로 0.1sec 동안 조사한 후에 검출된 방출광 특성 중 방출광 세기를 산출할 수 있다. 또는, S120 단계에서 여기광 파장과 여기광 지속시간 및 방출광 특성 파라미터가 기준 파라미터로 선택되고, 여기광 파장에 해당하는 기준 파라미터 값으로 700nm, 여기광 지속시간에 해당하는 기준 파라미터 값으로 0.3sec, 방출광 특성 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값으로 방출광 라이프 타임이 선택된 경우, S130 단계에서는 700nm의 여기광을 100mW의 세기로 0.3sec 동안 조사한 후에 검출된 방출광 특성 중 방출광 라이프 타임을 산출할 수 있다.At this time, in the case of reference parameters not selected as reference parameters in step S110, emission characteristics may be detected using default values. For example, when the excitation light wavelength is selected as the reference parameter in step S110 and 700 nm is selected as the reference parameter value corresponding to the excitation light wavelength in step S120, the excitation light of 700 nm is irradiated at an intensity of 100 mW for 0.1 sec in step S130. Afterward, the emission light intensity among the detected emission light characteristics may be calculated. Alternatively, in step S120, excitation light wavelength, excitation light duration, and emission light characteristic parameters are selected as reference parameters, 700 nm as a reference parameter value corresponding to the excitation light wavelength, and 0.3 sec as a reference parameter value corresponding to the excitation light duration. , When the emission lifetime is selected as the reference parameter value corresponding to the emission characteristic parameter, in step S130, 700 nm excitation light is irradiated with an intensity of 100 mW for 0.3 sec, and then emission lifetime among the emission characteristics detected is calculated. can
다음으로는 검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 인증하는 단계를 수행할 수 있다(S140 단계). 이를 위해, 특수물질 인식장치에는 각 기준 파라미터 값의 조합에 해당하는 기준값이 미리 저장되어 있을 수 있다. Next, an authentication step may be performed by comparing the detected emission characteristics with a reference value (step S140). To this end, a reference value corresponding to a combination of each reference parameter value may be previously stored in the special material recognizing device.
여기서 기준값은 특정 수치 또는 특정 범위일 수 있다. 기준값이 특정 수치인 경우 S140 단계에서는 방출광 특성을 기준값과 비교하여 기준값 이상인 경우 정품으로 인증할 수 있다. 또는 기준값이 특정 범위인 경우 S140 단계에서는 방출광 특성을 기준값과 비교하여 해당 범위에 속하는 경우 정품으로 인증할 수 있다. Here, the reference value may be a specific value or a specific range. When the reference value is a specific value, in step S140 , emission characteristics are compared with the reference value, and if the value is greater than or equal to the reference value, genuine product can be certified. Alternatively, when the reference value is within a specific range, in step S140 , emission characteristics are compared with the reference value, and genuine products can be authenticated if they fall within the corresponding range.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치의 기능 블록도이다.3 is a functional block diagram of a special material recognizing device according to an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 특수물질 인식장치(100)는, 제어부(110), 선택부(120), 여기광 조사부(130), 방출광 검출부(140), 저장부(150), 인증부(160) 및 표시부(170)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3 , the special
제어부(110)는 특수물질 인식장치(100)의 전체적인 동작을 제어하는 부분으로, 동작 알고리즘이 기록된 프로세서일 수 있다.The
선택부(120)는 특수물질의 인식을 위해 사용할 기준 파라미터를 하나 이상 선택하고, 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 선택하기 위한 구성이다. 선택부(120)는 제어부(110)의 제어 하에 저장부(150)에 저장되어 있는 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값을 참조하여 하나 이상의 기준 파라미터와 해당 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 규칙적 또는 불규칙적인 방식으로 선택할 수 있다.The selection unit 120 is a component for selecting one or more reference parameters to be used for recognition of the special material and selecting a reference parameter value corresponding to the selected reference parameter. The selection unit 120 refers to the standard parameters and standard parameter values stored in the storage unit 150 under the control of the
여기광 조사부(130)는 선택부(120)에서 선택된 기준 파라미터 값을 전달받아 여기광을 발광시키는 구성으로, 발광소자(Light emitting diode) 등의 광원일 수 있다. 이때 여기광 파장이 기준 파라미터에 포함되는 경우 선택된 기준 파라미터 값(여기광 파장 값)에 대응할 수 있도록 여기광 조사부(130)에는 복수의 광원이 포함될 수 있다. 예를 들어, 여기광 조사부(130)에는 자외선, 가시광선, 적외선을 각각 조사할 수 있는 복수의 광원이 포함될 수 있다. The excitation light emitter 130 receives the reference parameter value selected by the selector 120 and emits excitation light, and may be a light source such as a light emitting diode. In this case, when the excitation light wavelength is included in the reference parameter, a plurality of light sources may be included in the excitation light irradiator 130 to correspond to the selected reference parameter value (excitation light wavelength value). For example, the excitation light irradiator 130 may include a plurality of light sources capable of irradiating ultraviolet rays, visible rays, and infrared rays, respectively.
여기광 조사부(130)는 제어부(110)의 제어 하에 선택된 기준 파라미터 값에 기초하여 발광할 수 있다. 이때 선택되지 않은 기준 파라미터에 대해서는 디폴트로 설정되어 있는 기준 파라미터 값에 기초하여 여기광이 발광되도록 제어될 수 있다.The excitation light emitter 130 may emit light based on the selected reference parameter value under the control of the
방출광 검출부(140)는 특수물질에서 방출되는 광을 검출하기 위한 구성으로, 포토 다이오드(photo diode) 등의 광 검출 소자를 포함할 수 있다. 방출광 파장은 여기광에 따라 결정되므로, 방출광 검출부(140)는 특수물질 인식장치(100)에서 사용되는 여기광에 따라 방출광 파장 범위에 대응할 수 있도록 구성될 수 있다. 방출광 검출부(140)는 방출광 스펙트럼(spectrum) 중에서 특정 파장만을 걸러내는 물리적 또는 회로적 필터(filter)를 포함할 수 있다. 여기서 물리적 필터는 광 검출 소자 앞단에 배치되어 특정 파장 범위만을 통과시키는 필터 소자일 수 있고, 회로적 필터는 밴드패스 필터(band pass filter)일 수 있다.The
경우에 따라서는 넓은 범위의 방출광 파장 범위에 대응할 수 있도록 복수의 광 검출 소자를 포함할 수 있다. In some cases, a plurality of light detection elements may be included to correspond to a wide range of wavelengths of emitted light.
또한, 검출 파장 범위가 동일한 복수의 광 검출 소자를 포함할 수도 있다. 이때 각 광 검출 소자는 다른 소재 기반으로 제조된 광 검출 소자일 수 있다. 예를 들어, 복수의 광 검출 소자는 실리콘(Si) 기반의 광 검출 소자와 인듐갈륨비소(InGaAs) 기반의 광 검출 소자일 수 있다. 서로 다른 소재 기반의 광 검출 소자의 경우 동일한 파장의 방출광을 검출하더라도 그 검출되는 방출광 특성이 차이가 있을 수 있으므로, 이처럼 방출광 검출부(140)가 복수의 광 검출 소자를 포함하는 경우 방출광 검출부의 종류도 기준 파라미터로 포함시킬 수 있다. In addition, a plurality of photodetection elements having the same detection wavelength range may be included. In this case, each light detecting element may be a light detecting element manufactured based on a different material. For example, the plurality of light detection elements may be a silicon (Si) based light detection element and an indium gallium arsenide (InGaAs) based light detection element. In the case of light detection elements based on different materials, even if emission light of the same wavelength is detected, the detected emission light characteristics may be different. Thus, when the emission
저장부(150)는 기준 파라미터, 기준 파라미터 값 및 기준값 등이 저장된 구성으로, 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다.The storage unit 150 is configured to store reference parameters, reference parameter values, reference values, and the like, and may include a non-volatile memory.
인증부(160)는 방출광 검출부(140)에서 검출된 방출광 특성을 저장부(150)에 저장된 기준값과 비교하여 정품 인증을 하는 구성이다. 인증부(160)에는 검출된 방출광 특성을 저장부(150)에 저장된 기준값과 비교 연산하기 위한 연산 회로가 포함될 수 있다.The authentication unit 160 compares the emission characteristics detected by the emission
표시부(170)는 인증부(170)로부터 인증 결과를 전달받아 정품 여부를 시각적 또는 청각적으로 표시하는 구성으로, 디스플레이, 표시램프, 스피커 등으로 구성될 수 있다.The display unit 170 receives an authentication result from the authentication unit 170 and visually or aurally displays whether or not the product is genuine, and may include a display, a display lamp, a speaker, and the like.
이상 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명한 특수물질 인식장치 및 특수물질 인식방법에 따르면, 특수물질 인식을 시도할 때마다 인식에 사용되는 기준 파라미터가 변하게 되므로, 리버스 엔지니어링(Reverse engineering) 등의 방법으로도 특수물질 인식장치의 동작 원리를 알아내고 복제하는 것이 사실상 불가능하다. 즉 종래의 단순한 작동 원리의 특수물질 인식장치의 경우 작동할 때마다 동일한 파장의 여기광을 조사하고 동일한 파장의 방출광을 검출하는 방식으로 작동하므로 특수물질 인식장치 자체를 위변조하기 용이한 반면, 본 발명에 따른 특수물질 인식장치의 경우 인식을 시도할 때마다 사용되는 기준 파라미터가 변하므로 다음 동작 시 어떠한 여기광을 사용하여 어떠한 방출광 특성을 기초로 정품 인증을 수행할 것인지를 알기 어렵다. 특히 기준 파라미터를 불규칙한 방식으로 선택하고, 복수의 기준 파라미터를 선택하여 동작하는 경우, 작동의 복잡성이 증가하여 보안성을 더욱 향상시킬 수 있다.According to the special material recognizing device and special material recognizing method described above with reference to FIGS. 1 to 3 , since the reference parameter used for recognition is changed every time a special material recognition is attempted, a method such as reverse engineering In fact, it is virtually impossible to find out and replicate the operating principle of the special material recognition device. That is, in the case of the conventional special material recognition device with a simple operating principle, it is easy to forge and alter the special substance recognition device itself because it operates in a manner of irradiating excitation light of the same wavelength and detecting emission light of the same wavelength whenever it operates. In the case of the special material recognition device according to the present invention, since the standard parameter used for each recognition attempt is changed, it is difficult to know which excitation light is used and which emission light characteristic is to be used for activation in the next operation. In particular, in the case of selecting a reference parameter in an irregular manner and operating by selecting a plurality of reference parameters, the complexity of the operation increases and security can be further improved.
또한, 특수물질 인식장치에 포함된 발광 소자 및 광 검출 센서를 알아내고, 이로부터 해당 발광 소자의 여기광에 대해 유사한 파장의 방출광이 방출되는 유사 특수물질을 제조하여 보안제품을 위조하는 경우에도, 본 발명에 따른 특수물질 인식장치 및 특수물질 인식방법에 따르면 여기광의 파장, 방출광 특성 파라미터 등 특수물질 인식에 사용되는 기준 파라미터가 그때 그때 바뀌므로 유사 특수물질에 의해서는 정품으로 인정받을 수 없다. 이로 인해, 특수물질 인식장치의 위변조는 물론 보안제품의 위변조 사례를 대폭 감소시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, even when a security product is counterfeited by finding out the light emitting element and light detection sensor included in the special material recognition device, and manufacturing a similar special material that emits emission light of a similar wavelength to the excitation light of the corresponding light emitting element. , According to the special material recognizing device and special material recognizing method according to the present invention, the standard parameters used for special material recognition, such as the wavelength of excitation light and emission light characteristic parameters, change from time to time, so similar special materials cannot be recognized as genuine products. . Due to this, there is an effect that can significantly reduce forgery and falsification of the special material recognition device as well as forgery and falsification of security products.
도 3에서는 선택부(120), 저장부(150), 인증부(160), 표시부(170)가 모두 특수물질 인증장치(100)에 포함되는 것으로 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 선택부(120), 저장부(150), 인증부(160), 표시부(170) 중 적어도 일부는 별도의 인증 서버에 구비될 수도 있다. 이 경우 특수물질 인식장치(100)는 인증 서버와 상호 작용하면서 도 1의 특수물질 인식방법을 수행할 수 있다.In FIG. 3, it has been described that the selection unit 120, the storage unit 150, the authentication unit 160, and the display unit 170 are all included in the special
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 다른 특수물질 인식장치(200) 및 인증 서버(20)의 기능 블록도이다.4 is a functional block diagram of a special
도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 특수물질 인식장치(200)는, 제어부(210), 여기광 조사부(230), 방출광 검출부(240), 저장부(250), 표시부(270) 및 통신부(280)를 포함하며, 도 3의 특수물질 인식장치(100)와 비교하면 선택부와 인증부가 없고 통신부(280)가 부가된 차이가 있다.Referring to FIG. 4 , the special
제어부(210)는 특수물질 인식장치(200)의 전반적인 동작을 제어하는 구성으로, 통신부(280)를 통해 인증 서버(20)와의 통신 동작을 추가로 제어한다는 점에서 도 3의 제어부(110)와 차이가 있다.The control unit 210 is a component that controls the overall operation of the special
여기광 조사부(230)는 인증 서버(20)로부터 전송받은 기준 파라미터 값에 기초하여 발광하는 구성이며, 방출광 검출부(240)는 특수물질에서 방출되는 광을 검출하기 위한 구성이다. 각각 도 3을 참조하여 설명한 여기광 조사부(130) 및 방출광 검출부(140)와 동일한 구성일 수 있다.The
저장부(250)는 선택적인 구성으로, 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값들이 저장되어 있을 수 있다. 이때 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값 각각에는 식별번호가 부여되어 저장되어 있을 수 있다. 이로 인해 후술하는 인증 서버(20)에서 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값을 선택하여 특수물질 인식장치(200)로 전송할 때, 선택된 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값에 대응하는 식별번호만을 전송하도록 할 수 있다. 이를 전송받은 특수물질 인증장치(200)는 저장부(250)를 참조하여 해당 식별번호에 해당하는 기준 파라미터 값을 읽어낸 후, 이에 기초하여 여기광 조사부(230) 및 방출광 검출부(240)를 제어할 수 있다. 이와는 달리, 인증 서버(20)로부터 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값 자체를 전송받는 경우, 저장부(250)는 생략될 수 있다.The storage unit 250 is an optional configuration and may store reference parameters and reference parameter values. At this time, each of the reference parameter and reference parameter value may be stored with an identification number assigned thereto. Accordingly, when the
표시부(270)는 인증 서버(20)로부터 인증 결과를 전송받아 이를 표시하는 구성으로, 디스플레이, 표시램프 또는 스피커로 구성될 수 있다. 한편, 사용자의 휴대 단말기가 인증 서버(20)의 기능을 하도록 하는 경우에는, 인증 결과를 인증 서버(20)에서 표시하도록 할 수 있다. 이 경우, 특수물질 인식장치(200)에 표시부(270)를 포함시키지 않을 수 있다.The display unit 270 receives an authentication result from the
통신부(280)는 인증 서버(20)와 데이터를 주고받을 수 있는 통신 기능을 부여하기 위한 구성으로, 통신 칩을 포함할 수 있다. 이때 인증 서버(20)와의 통신은 유선 통신 또는 무선 통신으로 수행될 수 있다. 무선 통신의 경우 블루투스(Bluetooth) 등의 근거리 통신을 포함할 수 있다.The communication unit 280 is a component for imparting a communication function capable of exchanging data with the
인증 서버(20)는 제어부(21), 선택부(22), 저장부(24), 인증부(26), 통신부(28)를 포함할 수 있다.The
제어부(21)는 인증서버(20)의 전반적인 동작을 제어하기 위한 구성으로, 동작 알고리즘이 기록된 프로세서일 수 있다.The controller 21 is a component for controlling the overall operation of the
선택부(22)는 특수물질의 인식을 위해 사용할 기준 파라미터를 하나 이상 선택하고, 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 규칙적 또는 불규칙적인 방식으로 선택하기 위한 구성으로, 도 3의 선택부(120)와 동일할 수 있다.The selection unit 22 is a component for selecting one or more reference parameters to be used for recognition of the special material and selecting a reference parameter value corresponding to the selected reference parameter in a regular or irregular manner. ) can be the same as
저장부(24)는 기준 파라미터, 기준 파라미터 값 및 기준값 등이 저장된 구성으로, 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 또한, 저장부(24)는 후술하는 특수물질 인식장치(200)의 식별 코드를 저장할 수 있다.The storage unit 24 is configured to store reference parameters, reference parameter values, reference values, and the like, and may include a non-volatile memory. In addition, the storage unit 24 may store an identification code of the special
인증부(26)는 특수물질 인식장치(200)로부터 전송받은 방출광 특성을 저장부(24)에 저장된 기준값과 비교하여 정품 인증을 하는 구성이다. 인증부(26)에는 전송받은 방출광 특성을 저장부(24)에 저장된 기준값과 비교 연산하기 위한 연산 회로가 포함될 수 있다.The authenticating unit 26 compares the emission characteristics transmitted from the special
통신부(28)는 특수물질 인식장치(200)와 데이터를 주고받을 수 있는 통신 기능을 부여하기 위한 구성으로, 통신 칩을 포함할 수 있다. 이때 특수물질 인식장치(200)와의 통신은 유선 통신 또는 무선 통신으로 수행될 수 있다. 무선 통신의 경우 블루투스(Bluetooth) 등의 근거리 통신을 포함할 수 있다.The communication unit 28 is a configuration for imparting a communication function capable of exchanging data with the special
도 5는 도 4의 특수물질 인식장치(200) 및 인증 서버(20)를 이용한 특수물질 인식방법의 일례를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 5 is a flowchart illustrating an example of a special material recognition method using the special
도 5를 참조하면, 특수물질 인식 동작이 선택되면 특수물질 인식장치(200)는 인증 서버(20)로 특수물질 인식장치(200)의 식별코드를 전달할 수 있다(S210). 특수물질 인식 동작의 선택은 특수물질 인식 장치(200)에 구비된 버튼의 조작에 의해 이루어질 수 있다.Referring to FIG. 5 , when the special material recognition operation is selected, the special
S210 단계에서 전송되는 식별코드는 특수물질 인식장치(200)를 인증하는데 사용될 수 있는 정보이면 특별히 한정되지 않는다. 가령, 식별코드는 특수물질 인식장치(200)의 제조번호, 인증키 등일 수 있다.The identification code transmitted in step S210 is not particularly limited as long as it is information that can be used to authenticate the special
인증 서버(20)는 저장부(24)에 허가된 특수물질 인식장치(200)의 식별코드를 저장해두고 있을 수 있으며, S210 단계에서 전송받은 식별코드가 저장부(24)에 저장되어 있는지를 판단함으로써 특수물질 인식장치(200)를 인증할 수 있다(S222 단계). S222 단계에서 인증에 성공하면 이후 단계로 진행하고, 인증에 실패하면 이후 절차를 중단할 수 있다. The
특수물질 인식장치(200)의 인증 절차가 반드시 필요하지 않은 경우, S210 및 S222 단계는 생략될 수 있다.If the authentication procedure of the special
다음으로 인증 서버(20)는 기준 파라미터 선택 단계(S224) 및 기준 파라미터 값 선택 단계(S226)를 수행할 수 있다. 이 단계들은 특수물질 인식장치가 아닌 인증 서버(20)에서 수행된다는 점에서만 차이가 있으며, 도 1에서 설명한 S110 단계 및 S120 단계와 실질적으로 동일할 수 있다.Next, the
인증 서버(20)는 선택된 기준 파라미터 값을 특수물질 인식장치(200)에 전달한다(S230). 이때 특수물질 인식장치(200)의 저장부(250)에 기준 파라미터 값들이 저장되어 있는 경우, S230 단계에서는 선택된 기준 파라미터 값에 대응하는 식별번호만을 전송할 수 있다. 이를 통해 전송되는 데이터 크기를 감소시킬 수 있다.The
기준 파라미터 값을 전송받은 특수물질 인식장치(200)는 전송받은 기준 파라미터 값에 기초하여 방출광 특성을 검출하는 단계를 수행한다(S240). 이 단계는 도 1에서 설명한 S130 단계와 동일한 방법으로 수행될 수 있다. 한편, 인증 서버(20)로부터 기준 파라미터의 식별번호를 전송받은 경우에는, 특수물질 인식장치(200)는 저장부(250)를 참조하여 해당 식별번호에 대응하는 기준 파라미터 값을 읽어낸 후 이에 기초하여 방출광 특성 검출 단계(S240)를 수행할 수 있다.The special
방출광 특성 검출 단계(S240)를 수행한 후에는, 특수물질 인식장치(200)가 인증 서버(20)로 방출광 특성을 전달하고(S250), 인증 서버(20)는 전달받은 방출광 특성을 저장부(24)에 저장된 기준값과 비교하여 인증을 수행할 수 있다(S260). 인증을 수행하는 S260 단계는 도 1의 S140 단계와 수행 주체 외에는 동일한 방식으로 수행될 수 있다.After performing the emitted light characteristic detection step (S240), the special
인증 서버(20)는 S260 단계의 인증 결과를 특수물질 인식장치(200)에 전달하고(S270), 특수물질 인식장치(200)는 전달받은 인증 결과를 표시부(270)를 통해 표시할 수 있다. 한편, 사용자의 휴대 단말기가 인증 서버(20)의 기능을 하도록 하는 경우에는, 인증 결과를 인증 서버(20)에서 표시하도록 할 수 있으며, 이 경우 S270 및 S280 단계는 생략할 수 있다.The
도 4 및 도 5에서 설명한 실시예에 따르면, 특수물질 인식장치(200)의 구성을 보다 단순하게 할 수 있는 효과가 있다. 가령 선택부 및 인증부를 인증 서버에 구비함으로써, 특수물질 인식장치(200)에서는 기준 파라미터 선택 및 인증을 수행하기 위한 전자부품을 포함시키지 않을 수 있고, 이로써 특수물질 인식장치(200)의 제조비용을 감소시킬 수 있다.According to the embodiment described in FIGS. 4 and 5, there is an effect of simplifying the configuration of the special
또한, 인증 서버(200)를 통해 특수물질 인식장치(200) 자체를 인증하는 절차를 수행할 수 있으므로, 특수물질 인식장치(200)의 보안성을 더욱 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, since a procedure for authenticating the special
도 4 및 도 5에서는 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값 선택 단계(S222, S224)와 인증 단계(S260)를 인증 서버(20)에서 수행하는 것으로 설명하였으나, 이와는 다른 다양한 변형예가 가능하다. 가령 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값의 선택은 특수물질 인식장치에서 수행하고, 인증 단계만 인증 서버에서 수행하도록 할 수 있다. 또는 기준 파라미터 및 기준 파라미터 값의 선택은 인증 서버에서 수행하고, 인증 단계는 특수물질 인식장치에서 수행하도록 할 수도 있다.4 and 5, it has been described that the standard parameter and standard parameter value selection steps (S222 and S224) and the authentication step (S260) are performed in the
이상 한정된 실시예 및 도면을 참조하여 설명하였으나, 이는 실시예일뿐이며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 다양한 변형 실시가 가능하다는 점은 통상의 기술자에게 자명할 것이다. 예를 들어, 각 실시예들은 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명의 보호범위는 특허청구범위의 기재 및 그 균등 범위에 의해 정해져야 한다.Although described above with reference to the limited embodiments and drawings, these are only examples, and it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and implementations are possible within the scope of the technical idea of the present invention. For example, all or parts of each embodiment may be selectively combined. Therefore, the protection scope of the present invention should be defined by the description of the claims and their equivalents.
20: 인증 서버
100, 200: 특수물질 인식장치
110, 210: 제어부
120, 220: 선택부
130, 230: 여기광 조사부
140, 240: 방출광 검출부
150, 250: 저장부
160, 260: 인증부
170, 270: 표시부
280: 통신부
23: 인증부20: authentication server
100, 200: special material recognition device
110, 210: control unit
120, 220: selection unit
130, 230: excitation light irradiation unit
140, 240: emission light detector
150, 250: storage unit
160, 260: authentication unit
170, 270: display unit
280: communication department
23: authentication unit
Claims (19)
특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 특수물질 검출에 사용할 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계;
선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합에 기초하여 방출광 특성을 검출하는 단계;
검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 인증을 수행하는 단계;
를 포함하는 특수물질 인식방법. A method of recognizing a special material using a special material recognizing device that irradiates excitation light in a first wavelength range to a special material and detects emission light in a second wavelength range emitted from the special material,
selecting a combination of reference parameters and reference parameter values to be used for detection of the special material from among a plurality of combinations of reference parameters and reference parameter values stored to be used for detection of the special material;
detecting emitted light characteristics based on a selected reference parameter and a combination of reference parameter values;
performing authentication by comparing the detected emission characteristics with reference values;
Special material recognition method comprising a.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는,
특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 미리 설정된 순서에 따라 규칙적으로 선택되거나 또는 무작위의 불규칙한 방식으로 선택하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식방법.According to claim 1,
The step of selecting a combination of the reference parameter and reference parameter value,
A method for recognizing special substances characterized by regularly selecting them according to a preset order or randomly and irregularly among a plurality of combinations of reference parameters and reference parameter values stored to be used for detection of special substances.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는,
특수물질 인식을 시도할 때마다 수행되는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식방법.According to claim 1,
The step of selecting a combination of the reference parameter and reference parameter value,
Special material recognition method, characterized in that performed every time the special material recognition is attempted.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계에 의해 선택되는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은,
특수물질 인식을 시도할 때마다 변하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식방법.According to claim 3,
The combination of the reference parameter and the reference parameter value selected by the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value,
A special material recognition method characterized in that it changes each time the special material recognition is attempted.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계는,
특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 복수의 기준 파라미터들 중에서 기준 파라미터를 선택하는 단계를 포함하고,
상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식 방법.According to claim 1,
The step of selecting a combination of the reference parameter and reference parameter value,
Selecting a reference parameter from among a plurality of reference parameters stored to be used for detection of a special substance;
and selecting a reference parameter value corresponding to the selected reference parameter.
상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값을 선택하는 단계는,
미리 저장된 복수의 기준 파라미터 값들 중 하나를 선택하는 단계인 것을 특징으로 하는 특수물질 인식 방법.According to claim 5,
The step of selecting a reference parameter value corresponding to the selected reference parameter,
and selecting one of a plurality of pre-stored reference parameter values.
상기 기준 파라미터를 선택하는 단계에서 선택되지 않은 기준 파라미터에 대해서는, 디폴트 값을 이용하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식 방법.According to claim 5,
The method of recognizing special substances, characterized in that for reference parameters not selected in the step of selecting the reference parameters, default values are used.
상기 선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합의 수는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합들의 수보다 작은 것을 특징으로 하는 특수물질 인식 방법.According to claim 1,
The special material recognition method, characterized in that the number of combinations of the selected reference parameter and reference parameter values is smaller than the number of combinations of reference parameter and reference parameter values stored to be used for detection of the special material.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 단계 및 상기 인증을 수행하는 단계 중 적어도 하나는 특수물질 인식장치와 별도로 구비되는 인증 서버에서 수행되는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식방법.According to claim 1,
Characterized in that at least one of the step of selecting the combination of the reference parameter and the reference parameter value and the step of performing the authentication are performed in an authentication server provided separately from the special substance recognition device.
제어부;
특수물질에 제1 파장 범위의 여기광을 조사하는 여기광 조사부;
특수물질로부터 방출되는 제2 파장 범위의 방출광을 검출하는 방출광 검출부;
를 포함하고,
상기 제어부는, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 복수의 조합들 중에서 선택된 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합에 기초하여 상기 여기광 조사부 및 방출광 검출부 중 적어도 하나가 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.A recognition device for recognizing a special material that absorbs light in a first wavelength range and emits light in a second wavelength range,
control unit;
an excitation light irradiation unit for irradiating excitation light of a first wavelength range to the special material;
an emission light detection unit for detecting emission light of a second wavelength range emitted from a special material;
including,
The controller may include at least one of the excitation light irradiator and the emission light detector based on a combination of a reference parameter and a reference parameter value selected from among a plurality of combinations of reference parameter values and reference parameter values stored to be used for detection of the special material. A special material recognition device characterized in that one is controlled to operate.
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합을 선택하는 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
The special material recognition device further comprises a selection unit for selecting a combination of the reference parameter and the reference parameter value.
상기 선택부는, 기준 파라미터 값을 선택하기 전에, 특수물질의 검출을 위해 사용 가능하도록 저장되어 있는 복수의 기준 파라미터들 중에서 하나 이상의 기준 파라미터를 선택하는 기능을 먼저 수행하고, 상기 선택된 기준 파라미터에 해당하는 기준 파라미터 값들 중에서 하나의 기준 파라미터 값을 선택하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 11,
The selector, before selecting a reference parameter value, first performs a function of selecting one or more reference parameters from among a plurality of reference parameters stored to be usable for detection of a special material, and An apparatus for recognizing special substances, characterized in that for selecting one reference parameter value from among reference parameter values.
상기 특수물질의 검출을 위해 사용 가능한 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합들이 저장된 저장부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
The special material recognition device further comprises a storage unit for storing reference parameters and combinations of reference parameter values usable for the detection of the special material.
방출광 검출부에서 검출된 방출광 특성을 기준값과 비교하여 정품 인증을 수행하는 인증부를 더 포함하고,
상기 기준값은 상기 저장부에 각 기준 파라미터 값들에 대응하여 저장되어 있는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 13,
Further comprising an authentication unit for performing genuine authentication by comparing the emission characteristics detected by the emission light detection unit with a reference value,
The reference value is stored in the storage unit corresponding to each reference parameter value.
인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고,
상기 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은 인증 서버에서 선택되어 전송되는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
Further comprising a communication unit capable of exchanging data with the authentication server,
The special substance recognition device, characterized in that the combination of the reference parameter and the reference parameter value is selected and transmitted from the authentication server.
인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고,
상기 방출광 검출부가 검출한 방출광 특성을 인증 서버로 전달하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
Further comprising a communication unit capable of exchanging data with the authentication server,
The special material recognition device, characterized in that for transmitting the emission characteristics detected by the emission light detection unit to the authentication server.
인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부를 더 포함하고,
상기 제어부는, 특수물질 인식장치의 식별코드를 상기 인증 서버로 전달하도록 상기 통신부를 제어하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
Further comprising a communication unit capable of exchanging data with the authentication server,
The control unit controls the communication unit to transfer the identification code of the special material recognition device to the authentication server.
인증 서버와 데이터를 주고받을 수 있는 통신부 및 기준 파라미터 값들이 각각 식별번호에 대응되도록 저장된 저장부를 더 포함하고,
상기 기준 파라미터 값은 인증 서버에서 전송된 식별번호를 기초로 선택되는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.According to claim 10,
Further comprising a communication unit capable of exchanging data with the authentication server and a storage unit in which standard parameter values are stored so as to correspond to identification numbers,
The reference parameter value is selected based on the identification number transmitted from the authentication server.
상기 선택되는 기준 파라미터와 기준 파라미터 값의 조합은,
특수물질 인식을 시도할 때마다 변하는 것을 특징으로 하는 특수물질 인식장치.
According to claim 10,
The combination of the selected reference parameter and reference parameter value,
A special substance recognition device, characterized in that it changes each time a special substance recognition is attempted.
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Legal Events
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| A107 | Divisional application of patent | ||
| E902 | Notification of reason for refusal |