KR20230032271A - Pogo pin and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a pogo pin and a manufacturing method thereof, in which matching of pre-designed impedance values is easier. Disclosed are a pogo pin and a manufacturing method thereof, wherein the pogo pin includes: a plunger unit; a barrel into which at least a part of the plunger unit is inserted; a housing in which the barrel is accommodated; and an insulating ring formed of a dielectric material and positioned between an outer circumferential surface of a portion of the plunger unit exposed to the outside of the barrel and an inner circumferential surface of the housing.

Description

포고 핀 및 이의 제조 방법{Pogo pin and manufacturing method of the same}Pogo pin and manufacturing method of the same {Pogo pin and manufacturing method of the same}

본 발명은 포고 핀 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 기 설계된 임피던스 값의 매칭이 보다 용이한 포고 핀 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a pogo pin and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a pogo pin and a method for manufacturing the same, in which it is easier to match a pre-designed impedance value.

포고 핀(pogo pin)은 반도체 소자와 테스트 장치 사이에 마련되어 반도체 소자와 테스트 장치를 전기적으로 연결하는 장치를 의미한다. 반도체 소자의 전기적 특성을 검사하기 위해서는 반도체 소자와 테스트 장치 간 전기적 연결이 원활하게 이루어질 것이 요구되는 바, 이 때 포고 핀이 주요한 역할을 한다.A pogo pin refers to a device provided between a semiconductor device and a test device to electrically connect the semiconductor device and the test device. In order to inspect the electrical characteristics of a semiconductor device, it is required that a smooth electrical connection be made between the semiconductor device and the test device. At this time, the pogo pin plays a major role.

포고 핀은 반도체 소자 또는 테스트 장치와 접하는 플런저(plunger)부, 플런저부의 일부가 삽입되는 배럴 및 내부에 배럴을 수용하는 하우징을 포함한다. 하우징의 내주면과 배럴의 외주면은 절연을 위하여 서로 이격된다. 이때, 하우징은 절연 링에 의하여 배럴의 외주면과 이격된 상태로 결합될 수 있다.The pogo pin includes a plunger portion in contact with a semiconductor device or a test device, a barrel into which a part of the plunger portion is inserted, and a housing accommodating the barrel therein. The inner circumferential surface of the housing and the outer circumferential surface of the barrel are spaced apart from each other for insulation. At this time, the housing may be coupled to the outer circumferential surface of the barrel in a spaced apart state by an insulating ring.

절연 링은 하우징의 내주면과 플런저부의 외주면 사이에 위치된다. 그러나, 일반적으로 절연 링의 유전율은 공기의 유전율보다 크게 형성되는 바, 일정한 임피던스 값을 유지하기 위하여 그 외경이 증가될 필요가 있다. 이에 따라, 하우징의 외경의 증가 또는 배럴의 외경의 감소 없이 구간별 임피던스 값을 일정하게 유지하는 것이 불가하다. 즉, 적절한 임피던스 값의 매칭에 어려움이 있다.The insulating ring is positioned between the inner circumferential surface of the housing and the outer circumferential surface of the plunger portion. However, since the dielectric constant of the insulating ring is generally greater than that of air, the outer diameter needs to be increased to maintain a constant impedance value. Accordingly, it is impossible to maintain a constant impedance value for each section without increasing the outer diameter of the housing or decreasing the outer diameter of the barrel. That is, there is difficulty in matching an appropriate impedance value.

또한, 절연 링의 외경 증가는 하우징의 외경에도 변화를 줄 수 있다. 이는 포고 핀의 구성 요소의 제조 공정 및 조립 공정을 보다 복잡화한다.Also, an increase in the outer diameter of the insulating ring may change the outer diameter of the housing. This further complicates the manufacturing process and assembly process of the components of the pogo pin.

한국등록특허공보 제10-2092674호는 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓을 개시한다. 구체적으로, 파이프삽입부 및 확장부 사이에 프로브지지부재가 삽입되는 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓을 개시한다.Korean Patent Registration No. 10-2092674 discloses a test probe assembly and a test socket. Specifically, a test probe assembly and a test socket in which a probe support member is inserted between a pipe insertion portion and an extension portion are disclosed.

그런데, 이러한 유형의 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓은, 프로브지지부재 및 확장부의 외경이 일정하게 유지되지 않고, 적절한 임피던스 값의 매칭을 위하여 프로브지지부재 외경의 증가가 요구된다.However, in this type of test probe assembly and test socket, the outer diameters of the probe support member and the extension portion do not remain constant, and an increase in the outer diameter of the probe support member is required to properly match the impedance value.

한국등록특허공보 제10-2092674호 (2020.03.24.)Korea Patent Registration No. 10-2092674 (2020.03.24.)

본 발명의 일 목적은, 기 설계된 임피던스 값의 매칭이 보다 용이한 포고 핀 및 이의 제조 방법을 제공하는 것이다.One object of the present invention is to provide a pogo pin and a method for manufacturing the pogo pin in which matching of pre-designed impedance values is easier.

본 발명의 다른 일 목적은, 절연 링이 일정한 직경으로 연장되어 형성되는 포고 핀 및 이의 제조 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a pogo pin formed by extending an insulating ring with a constant diameter and a manufacturing method thereof.

본 발명의 또 다른 일 목적은, 조립 단계가 보다 단순화될 수 있는 포고 핀 및 이의 제조 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a pogo pin and a manufacturing method thereof in which the assembly step can be further simplified.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀은, 외부 단자와 접촉되는 플런저(plunger)부; 내부에 상기 플런저부의 적어도 일부가 삽입되는 배럴; 내부에 상기 배럴이 수용되는 하우징; 및 상기 플런저부의 상기 배럴의 외부로 노출된 일 부분의 외주면과 상기 하우징의 내주면 사이에 위치되고, 유전체 소재로 형성되는 절연 링을 포함한다.In order to achieve the above object, a pogo pin according to an embodiment of the present invention includes a plunger portion contacting an external terminal; a barrel into which at least a portion of the plunger unit is inserted; a housing in which the barrel is accommodated; and an insulating ring disposed between an outer circumferential surface of a portion of the plunger part exposed to the outside of the barrel and an inner circumferential surface of the housing, and formed of a dielectric material.

또한, 상기 절연 링은, 그 외경이 상기 하우징의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성될 수 있다.Also, the outer diameter of the insulating ring may be equal to or smaller than the inner diameter of the housing.

또한, 상기 절연 링은, 그 내경이 상기 플런저부의 상기 일 부분의 외경과 동일하거나 그보다 크게 형성될 수 있다.In addition, the insulating ring may have an inner diameter equal to or greater than an outer diameter of the portion of the plunger part.

또한, 상기 플런저부는, 상기 배럴의 내부에 수용되는 대경부; 및 상기 대경부의 직경보다 작은 직경으로 형성되고, 상기 배럴의 외부로 노출되는 소경부를 포함할 수 있다.In addition, the plunger portion may include a large-diameter portion accommodated inside the barrel; and a small diameter portion formed to have a diameter smaller than that of the large diameter portion and exposed to the outside of the barrel.

또한, 상기 절연 링은, 상기 소경부의 외주면을 감싸도록 배치될 수 있다.In addition, the insulating ring may be disposed to surround an outer circumferential surface of the small diameter portion.

또한, 상기 하우징은, 양 단이 방사상 내측으로 절곡되어 걸림턱이 형성될 수 있다.In addition, both ends of the housing may be radially bent inward to form a locking jaw.

또한, 상기 걸림턱은, 코킹(caulking) 공정에 의하여 형성될 수 있다.In addition, the locking jaw may be formed by a caulking process.

또한, 상기 걸림턱은, 상기 절연 링과 접하는 일 부분이 상기 절연 링의 외주면과 대응되는 형상으로 형성될 수 있다.In addition, the locking jaw may be formed in a shape in which a portion in contact with the insulating ring corresponds to an outer circumferential surface of the insulating ring.

또한, 상기 절연 링은, 상기 하우징의 양 단에 각각 구비될 수 있다.In addition, the insulating rings may be provided at both ends of the housing, respectively.

또한, 상기 하우징의 양 단에 구비되는 두 개의 상기 절연 링 사이에는 공기가 충진될 수 있다.In addition, air may be filled between the two insulating rings provided at both ends of the housing.

또한, 본 발명은, (a) 배럴 내부 공간에 탄성 부재 및 플런저부가 결합되는 단계; (b) 상기 배럴 외부로 노출된 상기 플런저부의 일 부분이 절연 링에 관통 결합되는 단계; 및 (c) 상기 배럴 및 상기 절연 링이 하우징 내부 공간에 삽입되는 단계를 포함하는, 포고 핀의 제조 방법을 제공한다.In addition, the present invention, (a) coupling the elastic member and the plunger portion to the inner space of the barrel; (b) coupling a portion of the plunger portion exposed to the outside of the barrel to an insulating ring; and (c) inserting the barrel and the insulating ring into the inner space of the housing.

또한, 상기 (c) 단계 이후, (d) 상기 하우징의 양 단부가 코킹(caulking)되는 단계가 수행될 수 있다.Also, after step (c), step (d) caulking both ends of the housing may be performed.

본 발명의 다양한 효과 중, 상술한 해결 수단을 통해 얻을 수 있는 효과는 다음과 같다.Among the various effects of the present invention, effects that can be obtained through the above-described solution are as follows.

먼저, 포고 핀은 플런저(plunger)부, 내부에 플런저부의 일부가 삽입되는 배럴, 내부에 배럴이 수용되는 하우징 및 플런저부와 하우징 사이에 위치되는 절연 링을 포함한다. 이 때, 절연 링은 플런저부의 배럴의 외부로 노출된 일 부분의 외주면을 감싸도록 배치된다. 즉, 절연 링은 플런저부의 구동 구간에 관통 결합된다.First, the pogo pin includes a plunger part, a barrel into which a part of the plunger part is inserted, a housing in which the barrel is accommodated, and an insulating ring positioned between the plunger part and the housing. At this time, the insulating ring is disposed to surround an outer circumferential surface of a portion exposed to the outside of the barrel of the plunger unit. That is, the insulating ring is through-coupled to the driving section of the plunger unit.

따라서, 절연 링의 내경 및 플런저부의 상기 일 부분의 외경을 조절함으로써, 임피던스 값이 조절될 수 있다. 이에 따라, 하우징이 일정한 외경으로 연장되어 형성되면서, 동시에 임피던스 또한 전 구간에서 일정한 값으로 유지될 수 있다. 정리하면, 기 설계된 임피던스 값의 매칭이 보다 용이하다. 더 나아가, 포고 핀의 RF 특성이 보다 향상될 수 있다.Accordingly, the impedance value can be adjusted by adjusting the inner diameter of the insulating ring and the outer diameter of the portion of the plunger portion. Accordingly, while the housing is formed to extend with a constant outer diameter, the impedance can also be maintained at a constant value in the entire section. In summary, matching of pre-designed impedance values is easier. Furthermore, RF characteristics of the pogo pin may be further improved.

또한, 하우징의 양 단에 방사상 내측으로 절곡되어 형성되는 걸림턱이 구비된다. 이때, 걸림턱은 코킹(caulking) 공정에 의하여 형성된다.In addition, locking jaws formed by bending radially inward are provided at both ends of the housing. At this time, the locking jaw is formed by a caulking process.

따라서, 절연 링이 일정한 외경으로 연장되어 형성될 수 있다. 이에 따라, 절연 링 전 구간에서의 임피던스 값이 일정하게 유지될 수 있고, 외경의 변화에 따른 임피던스 값의 변화가 설계 시 고려 대상에서 생략될 수 있다. 결과적으로, 포고 핀의 제조 단계가 보다 단순화될 수 있다.Thus, the insulating ring can be formed extending with a constant outer diameter. Accordingly, the impedance value in the entire section of the insulation ring can be kept constant, and the change in impedance value according to the change in the outer diameter can be omitted from consideration in design. As a result, the manufacturing steps of the pogo pin can be further simplified.

또한, 상술한 바와 같이, 하우징 및 절연 링은 각각의 외경이 일정하게 유지되며 연장되어 형성된다. 즉, 하우징 및 절연 링의 형상이 보다 단순화될 수 있다.In addition, as described above, the housing and the insulating ring are formed to be extended while maintaining their respective outer diameters constant. That is, the shapes of the housing and the insulating ring can be further simplified.

따라서, 하우징 및 절연 링 각각의 제조 과정이 보다 단순화될 수 있다. 더 나아가, 플런저부, 배럴, 하우징 및 절연 링의 조립 단계가 보다 단순화될 수 있다.Accordingly, the manufacturing process of each of the housing and the insulating ring can be further simplified. Furthermore, the steps of assembling the plunger part, the barrel, the housing and the insulating ring can be further simplified.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀을 도시하는 단면도이다.
도 2는 도 1의 포고 핀의 구성 요소를 도시하는 분해단면도이다.
도 3은 도 1의 포고핀의 플런저부의 이동 전후 상태를 도시하는 단면도이다.
도 4는 도 1의 포고핀에 구비되는 플런저부 및 절연 링을 도시하는 확대단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀의 제조 방법을 도시하는 순서도이다.
1 is a cross-sectional view showing a pogo pin according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded cross-sectional view showing components of the pogo pin of FIG. 1;
3 is a cross-sectional view showing a state before and after movement of the plunger portion of the pogo pin of FIG. 1;
4 is an enlarged cross-sectional view illustrating a plunger portion and an insulating ring provided in the pogo pin of FIG. 1;
5 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a pogo pin according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀(pogo pin)(1) 및 이의 제조 방법을 도면을 참고하여 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, a pogo pin 1 and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

이하의 설명에서는 본 발명의 특징을 명확하게 하기 위해, 일부 구성 요소들에 대한 설명이 생략될 수 있다.In the following description, descriptions of some components may be omitted to clarify the characteristics of the present invention.

본 명세서에서는 서로 다른 실시 예라도 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조 번호를 부여하고, 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.In this specification, the same reference numerals are given to the same components even in different embodiments, and overlapping descriptions thereof will be omitted.

첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않는다.The accompanying drawings are only for easy understanding of the embodiments disclosed in this specification, and the technical ideas disclosed in this specification are not limited by the accompanying drawings.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르기 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.

이하에서는, 도 1 내지 도 2를 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀(1)에 대하여 설명한다.Hereinafter, a pogo pin 1 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2 .

포고 핀(1)은 반도체 소자와 테스트 장치 사이에 마련되어 반도체 소자와 테스트 장치를 전기적으로 연결한다. 이를 위하여, 포고 핀(1)은 반도체 소자 및 테스트 장치와 각각 접하도록 배치된다.The pogo pin 1 is provided between the semiconductor device and the test device to electrically connect the semiconductor device and the test device. To this end, the pogo pin 1 is disposed to contact the semiconductor device and the test device, respectively.

포고 핀(1)은 반도체 소자에서 테스트 장치를 향하는 방향 또는 테스트 장치에서 반도체 소자를 향하는 방향으로 연장된다.The pogo pin 1 extends from the semiconductor device toward the test device or from the test device toward the semiconductor device.

도시된 실시 예에서, 포고 핀(1)은 배럴(10), 탄성 부재(20), 플런저(plunger)부(30), 하우징(40) 및 절연 링(50)을 포함한다.In the illustrated embodiment, the pogo pin 1 includes a barrel 10, an elastic member 20, a plunger portion 30, a housing 40 and an insulating ring 50.

배럴(10)은 후술하는 플런저부(30)의 일부가 삽입되며, 플런저부(30)의 운동을 가이드한다.A part of the plunger part 30 to be described later is inserted into the barrel 10, and guides the movement of the plunger part 30.

배럴(10)은 일 방향으로 연장되는 기둥 형상으로 형성된다. 일 실시 예에서, 배럴(10)의 양 단은 방사상 내측으로 절곡될 수 있다. 이는 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)의 임의 이탈을 방지하기 위함이다.The barrel 10 is formed in a columnar shape extending in one direction. In one embodiment, both ends of the barrel 10 may be bent radially inward. This is to prevent any separation of the elastic member 20 and the plunger portion 30.

배럴(10)의 내부에는 플런저 수용부(11)가 형성된다. 플런저 수용부(11)에는 후술하는 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)의 일부가 삽입된다.A plunger accommodating portion 11 is formed inside the barrel 10 . A portion of an elastic member 20 and a plunger portion 30, which will be described later, are inserted into the plunger accommodating portion 11.

배럴(10)의 상단 및 하단에는 각각 상부 플런저공(12) 및 하부 플런저공(13)이 형성된다. 이에 대한 상세한 설명은 플런저부(30)에 대한 설명과 함께 후술한다.An upper plunger hole 12 and a lower plunger hole 13 are formed at the top and bottom of the barrel 10, respectively. A detailed description thereof will be described later along with a description of the plunger portion 30 .

배럴(10)의 플런저 수용부(11)에는 탄성 부재(20)가 수용된다.An elastic member 20 is accommodated in the plunger accommodating portion 11 of the barrel 10 .

탄성 부재(20)는 후술하는 플런저부(30)의 이동 시 복원력을 제공한다.The elastic member 20 provides a restoring force when the plunger unit 30, which will be described later, moves.

탄성 부재(20)는 플런저 수용부(11)의 중심부에 위치된다.The elastic member 20 is located in the center of the plunger accommodating portion 11 .

탄성 부재(20)는 배럴(10)의 연장 방향과 동일한 방향으로 연장된다. 또한, 탄성 부재(20)는 연장 방향을 따라 복원력을 인가한다.The elastic member 20 extends in the same direction as the extension direction of the barrel 10 . In addition, the elastic member 20 applies a restoring force along the extension direction.

도시된 실시 예에서, 탄성 부재(20)는 스프링으로 형성된다. 다만, 탄성 부재(20)는 도시된 형태에 한정되지 않고, 플런저부(30)에 복원력을 제공할 수 있는 다양한 형상으로 형성될 수 있다.In the illustrated embodiment, the elastic member 20 is formed of a spring. However, the elastic member 20 is not limited to the illustrated form, and may be formed in various shapes capable of providing restoring force to the plunger portion 30 .

탄성 부재(20)의 양 단에는 플런저부(30)가 접한다.Both ends of the elastic member 20 are in contact with the plunger portion 30 .

플런저부(30)는 포고 핀(1)에서 반도체 소자 또는 테스트 장치와 직접적으로 접하는 부분이다.The plunger part 30 is a part of the pogo pin 1 that directly contacts a semiconductor device or a test device.

플런저부(30)는 배럴(10)의 연장 방향과 동일한 방향으로 연장된다. 또한, 플런저부(30)는 일부가 배럴(10)의 플런저 수용부(11)에 삽입되고, 나머지 일부가 배럴(10)의 외부로 노출된다. 이에 따라, 플런저부(30)는 배럴(10)의 연장 방향을 따라 왕복 운동될 수 있다.The plunger portion 30 extends in the same direction as the extension direction of the barrel 10 . In addition, a part of the plunger part 30 is inserted into the plunger accommodating part 11 of the barrel 10, and the other part is exposed to the outside of the barrel 10. Accordingly, the plunger unit 30 may reciprocate along the extending direction of the barrel 10 .

플런저부(30)는 탄성 부재(20)의 일 단과 접하도록 배치된다. 이에 따라, 플런저부(30)는 이동 시 탄성 부재(20)로부터 복원력을 인가받는다. 이에 대한 상세한 설명은 후술한다.The plunger portion 30 is disposed to come into contact with one end of the elastic member 20 . Accordingly, the plunger portion 30 receives a restoring force from the elastic member 20 when moving. A detailed description of this will be given later.

플런저부(30)는 전기 전도성 소재로 형성된다. 일 실시 예에서, 플런저부(30)는 금속 소재로 형성된다.The plunger portion 30 is made of an electrically conductive material. In one embodiment, the plunger portion 30 is formed of a metal material.

플런저부(30)는 복수 개 구비될 수 있다. 도시된 실시 예에서, 플런저부(30)는 두 개 구비된다. 각각의 플런저부(30)는 상부 플런저공(12) 또는 하부 플런저공(13)에 관통 결합된다.A plurality of plunger parts 30 may be provided. In the illustrated embodiment, two plunger parts 30 are provided. Each plunger portion 30 is coupled through the upper plunger hole 12 or the lower plunger hole 13.

도시된 실시 예에서, 플런저부(30)는 대경부(31) 및 소경부(32)를 포함한다.In the illustrated embodiment, the plunger portion 30 includes a large diameter portion 31 and a small diameter portion 32 .

대경부(31)는 플런저부(30)가 탄성 부재(20)와 직접적으로 접하는 부분이다.The large-diameter portion 31 is a portion where the plunger portion 30 directly contacts the elastic member 20 .

대경부(31)는 배럴(10)의 플런저 수용부(11)에 삽입된다. 따라서, 대경부(31)의 외경은 배럴(10)의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성되는 것이 바람직하다.The large-diameter portion 31 is inserted into the plunger receiving portion 11 of the barrel 10. Therefore, it is preferable that the outer diameter of the large diameter portion 31 is equal to or smaller than the inner diameter of the barrel 10 .

대경부(31)는 플런저 수용부(11) 내에서 배럴(10)의 연장 방향을 따라 왕복 운동될 수 있다. 도시된 실시 예에서, 대경부(31)는 배럴(10)의 양 단에 형성된 절곡부에 의하여 배럴(10) 외부로의 이탈이 차단된다.The large-diameter portion 31 may reciprocate along the extending direction of the barrel 10 within the plunger accommodating portion 11 . In the illustrated embodiment, the large-diameter portion 31 is blocked from leaving the barrel 10 by bent portions formed at both ends of the barrel 10 .

소경부(32)는 배럴(10)의 외부로 노출되는 플런저부(30)의 일 부분이다. 도시된 실시 예에서, 소경부(32)는 상부 플런저공(12) 또는 하부 플런저공(13)에 관통 결합된다.The small diameter portion 32 is a part of the plunger portion 30 exposed to the outside of the barrel 10 . In the illustrated embodiment, the small diameter portion 32 is coupled through the upper plunger hole 12 or the lower plunger hole 13.

소경부(32)는 대경부(31)의 탄성 부재(20)와 반대되는 일 단으로부터 탄성 부재(20)와 멀어지는 방향으로 연장되어 형성된다.The small-diameter portion 32 is formed to extend in a direction away from the elastic member 20 from one end opposite to the elastic member 20 of the large-diameter portion 31 .

소경부(32)는 대경부(31)의 직경보다 작은 직경으로 형성된다. 소경부(32)의 외경은 배럴(10)의 단부의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성되는 것이 바람직하다.The small diameter portion 32 is formed with a smaller diameter than the diameter of the large diameter portion 31 . The outer diameter of the small diameter portion 32 is preferably equal to or smaller than the inner diameter of the end of the barrel 10 .

대경부(31)와 반대되는 소경부(32)의 일 단에는 반도체 소자 또는 테스트 장치와 접하도록 배치되는 접촉첨점부(321)가 형성된다.At one end of the small-diameter portion 32 opposite to the large-diameter portion 31, a contact point portion 321 disposed to be in contact with a semiconductor device or a test device is formed.

탄성 부재(20) 및 플런저부(30)와 결합된 배럴(10)은 하우징(40) 내부 공간에 수용된다.The barrel 10 combined with the elastic member 20 and the plunger portion 30 is accommodated in the inner space of the housing 40 .

하우징(40)은 포고 핀(1)의 외관을 형성하고, 플런저부(30)를 반도체 소자 또는 테스트 장치를 제외한 주변 환경으로부터 전기적 절연시킨다.The housing 40 forms the outer appearance of the pogo pin 1 and electrically insulates the plunger part 30 from the surrounding environment except for the semiconductor device or test device.

하우징(40)은 배럴(10)의 방사상 외측에 위치된다. 이에 따라, 하우징(40)의 내경은 배럴(10)의 외경보다 크게 형성됨이 이해될 것이다.The housing 40 is located radially outward of the barrel 10 . Accordingly, it will be understood that the inner diameter of the housing 40 is larger than the outer diameter of the barrel 10 .

또한, 하우징(40)의 내주면은 배럴(10)의 외주면과 서로 이격된다. 일 실시 예에서, 하우징(40)의 내주면과 배럴(10)의 외주면 사이에는 공기가 충진된다.In addition, the inner circumferential surface of the housing 40 is spaced apart from the outer circumferential surface of the barrel 10 . In one embodiment, air is filled between the inner circumferential surface of the housing 40 and the outer circumferential surface of the barrel 10 .

하우징(40)은 일 방향으로 연장되는 기둥 형상으로 형성된다. 이때, 하우징(40)은 배럴(10)의 연장 방향과 동일한 방향으로 연장된다.The housing 40 is formed in a columnar shape extending in one direction. At this time, the housing 40 extends in the same direction as the extension direction of the barrel 10 .

하우징(40)은 길이 방향에서의 길이가 배럴(10)의 길이보다 크게 형성된다. 또한, 하우징(40)의 상단은 배럴(10)의 상단보다 상측에 위치되고, 하단은 배럴(10)의 하단보다 하측에 위치된다. 즉, 배럴(10)은 하우징(40) 내부에 삽입되어 엄폐된다.The length of the housing 40 in the longitudinal direction is greater than that of the barrel 10 . In addition, the upper end of the housing 40 is located above the upper end of the barrel 10, and the lower end is located below the lower end of the barrel 10. That is, the barrel 10 is inserted into the housing 40 and covered.

하우징(40)의 내부에는 배럴 수용부(41)가 형성된다. 배럴 수용부(41)에는 배럴(10), 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)가 삽입된다.A barrel accommodating portion 41 is formed inside the housing 40 . The barrel 10, the elastic member 20, and the plunger part 30 are inserted into the barrel accommodating part 41.

하우징(40)의 상단 및 하단에는 각각 상부 개구(42) 및 하부 개구(43)가 형성된다.An upper opening 42 and a lower opening 43 are formed at the upper and lower ends of the housing 40, respectively.

상부 개구(42) 및 하부 개구(43)의 경계에는 각각 상부 걸림턱(421) 및 하부 걸림턱(431)이 형성된다.An upper locking step 421 and a lower locking step 431 are formed at the boundary between the upper opening 42 and the lower opening 43, respectively.

상부 걸림턱(421) 및 하부 걸림턱(431)은 하우징(40)의 상단 또는 하단이 방사상 내측으로 절곡되어 형성된다. 일 실시 예에서, 상부 걸림턱(421) 및 하부 걸림턱(431)은 코킹(caulking) 공정에 의하여 형성된다.The upper locking jaw 421 and the lower locking jaw 431 are formed by bending an upper end or a lower end of the housing 40 radially inward. In one embodiment, the upper locking jaw 421 and the lower locking jaw 431 are formed by a caulking process.

하우징(40)과 플런저부(30) 사이에는 절연 링(50)이 위치된다.An insulating ring 50 is positioned between the housing 40 and the plunger portion 30 .

절연 링(50)은 플런저부(30)를 하우징(40)의 중심부에 위치되도록 고정시킨다.The insulating ring 50 fixes the plunger part 30 to be located in the center of the housing 40 .

절연 링(50)은 플런저부(30)의 소경부(32)의 외주면과 하우징(40)의 내주면 사이에 위치된다. 또한, 절연 링(50)은 소경부(32)의 외주면을 감싸도록 배치된다. 즉, 절연 링(50)은 플런저부(30)의 구동 구간에 관통 결합된다. 이에 대한 상세한 설명은 후술한다.The insulating ring 50 is positioned between the outer circumferential surface of the small diameter portion 32 of the plunger portion 30 and the inner circumferential surface of the housing 40 . In addition, the insulating ring 50 is disposed to surround the outer circumferential surface of the small diameter portion 32 . That is, the insulating ring 50 is coupled through the driving section of the plunger unit 30 . A detailed description of this will be given later.

절연 링(50)은 배럴(10)의 상측 또는 하측에 위치된다. 따라서, 절연 링(50)의 내경은 배럴(10)의 외경에 영향을 받지 않는다.An insulating ring 50 is located on the upper or lower side of the barrel 10 . Therefore, the inner diameter of the insulating ring 50 is not affected by the outer diameter of the barrel 10.

절연 링(50)은 중앙부에 중공부(51)가 형성된 원기둥 형상으로 형성된다. 절연 링(50)의 연장 방향은 플런저부(30) 및 하우징(40)의 연장 방향과 나란하게 형성된다.The insulating ring 50 is formed in a cylindrical shape with a hollow part 51 formed at the center thereof. The extension direction of the insulation ring 50 is parallel to the extension directions of the plunger part 30 and the housing 40 .

절연 링(50)의 외경은 하우징(40)의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성된다. 또한, 절연 링(50)의 내경은 플런저부(30)의 소경부(32)의 외경과 동일하거나 그보다 크게 형성된다.The outer diameter of the insulating ring 50 is equal to or smaller than the inner diameter of the housing 40 . In addition, the inner diameter of the insulating ring 50 is equal to or larger than the outer diameter of the small diameter part 32 of the plunger part 30 .

일 실시 예에서, 절연 링(50)의 외주면은 코킹 공정에 의하여 형성되는 상부 걸림턱(421) 및 하부 걸림턱(431)의 일 부분과 접하고, 상부 걸림턱(421) 및 하부 걸림턱(431)과 대응되는 형상으로 형성될 수 있다.In one embodiment, the outer circumferential surface of the insulating ring 50 is in contact with portions of the upper and lower locking jaws 421 and 431 formed by the caulking process, and the upper and lower locking jaws 421 and 431 ) and may be formed in a corresponding shape.

따라서, 절연 링(50)이 일정한 외경으로 연장되어 형성될 수 있다. 이에 따라, 절연 링(50) 전 구간에서의 임피던스 값이 일정하게 유지될 수 있고, 외경의 변화에 따른 임피던스 값의 변화가 설계 시 고려 대상에서 생략될 수 있다. 결과적으로, 포고 핀(1)의 제조 단계가 보다 단순화될 수 있다.Thus, the insulating ring 50 may be formed to extend with a constant outer diameter. Accordingly, the impedance value in the entire section of the insulation ring 50 can be kept constant, and the change in impedance value according to the change in the outer diameter can be omitted from consideration in design. As a result, the manufacturing steps of the pogo pin 1 can be further simplified.

다른 실시 예에서, 절연 링(50)은 압입 공정에 의하여 하우징(40)의 내부에 삽입될 수 있다. 상기 실시 예에서, 하우징(40)의 양 단부에는 걸림턱(421, 431)이 형성되지 않을 수 있다.In another embodiment, the insulating ring 50 may be inserted into the housing 40 by a press-fitting process. In the above embodiment, the locking protrusions 421 and 431 may not be formed at both ends of the housing 40 .

절연 링(50)은 복수 개 구비될 수 있다. 도시된 실시 예에서, 절연 링(50)은 하우징(40)의 상단 및 하단에 총 두 개 구비된다. 일 실시 예에서, 하우징(40)의 양 단에 구비되는 두 개의 절연 링(50) 사이에는 공기가 충진될 수 있다.A plurality of insulating rings 50 may be provided. In the illustrated embodiment, a total of two insulating rings 50 are provided at the upper and lower ends of the housing 40 . In one embodiment, air may be filled between the two insulating rings 50 provided at both ends of the housing 40 .

절연 링(50)은 전기 절연성 소재로 형성된다. 일 실시 예에서, 절연 링(50)은 피크(peek) 소재로 형성된다. 다른 실시 예에서, 절연 링(50)은 공기보다 유전율이 높은 유전체 소재로 형성된다.The insulating ring 50 is formed of an electrically insulating material. In one embodiment, the insulating ring 50 is formed from a peek material. In another embodiment, the insulating ring 50 is formed of a dielectric material having a higher permittivity than air.

이하에서는, 도 3을 참조하여, 플런저부(30)의 이동 과정에 대하여 설명한다.Hereinafter, with reference to FIG. 3, the movement process of the plunger part 30 will be described.

포고 핀(1)은 반도체 소자와 테스트 장치 사이에 마련되는 바, 반도체 소자와 테스트 장치 사이 거리에 대응되어 그 길이가 조절될 수 있다. 상기 길이 조절 과정은 플런저부(30)의 이동에 의하여 달성될 수 있다.Since the pogo pin 1 is provided between the semiconductor device and the test device, its length may be adjusted to correspond to the distance between the semiconductor device and the test device. The length adjustment process may be achieved by moving the plunger part 30 .

도시된 실시 예에서, 두 개의 플런저부(30)가 탄성 부재(20)를 사이에 두고 마주하도록 배치된다. 각 플런저부(30)의 탄성 부재(20)와 반대되는 일 단에는 반도체 소자 또는 테스트 장치와 접하는 접촉첨점부(321)가 형성된다.In the illustrated embodiment, the two plunger parts 30 are arranged to face each other with the elastic member 20 interposed therebetween. At one end opposite to the elastic member 20 of each plunger portion 30, a contact point portion 321 in contact with a semiconductor element or test device is formed.

도 3(a)는 플런저부(30)의 이동 전, 탄성 부재(20)가 최대 길이인 상태의 포고 핀(1)을 도시한다.FIG. 3(a) shows the pogo pin 1 in a state where the elastic member 20 is at its maximum length before the plunger portion 30 moves.

도 3(b)는 플런저부(30)의 이동 후 상태의 포고 핀(1)을 도시한다. 구체적으로, 플런저부(30)가 탄성 부재(20)를 향해 이동된 상태의 포고 핀(1)을 도시한다.FIG. 3(b) shows the pogo pin 1 after the plunger part 30 has moved. Specifically, the pogo pin 1 is shown in a state in which the plunger portion 30 is moved toward the elastic member 20 .

플런저부(30)가 탄성 부재(20)를 향하여 이동되면, 탄성 부재(20)가 압축되며 플런저부(30)로 복원력을 인가한다. 이로 인하여, 플런저부(30)는 반도체 소자 또는 테스트 장치에 밀착될 수 있다.When the plunger portion 30 moves toward the elastic member 20, the elastic member 20 is compressed and applies a restoring force to the plunger portion 30. Due to this, the plunger unit 30 may come into close contact with the semiconductor device or the test device.

상기 과정에서, 플런저부(30)의 소경부(32)는 배럴(10)의 상측 또는 하측으로 노출됨을 확인할 수 있다. 즉, 플런저부(30)의 구동 구간은 배럴(10)의 상측 또는 하측 공간에 형성된다.In the above process, it can be confirmed that the small diameter portion 32 of the plunger portion 30 is exposed to the upper or lower side of the barrel 10 . That is, the driving section of the plunger part 30 is formed in the upper or lower space of the barrel 10 .

이하에서는, 도 4를 참조하여, 절연 링(50)과 플런저부(30) 및 하우징(40)의 관계에 대하여 설명한다.Below, with reference to FIG. 4, the relationship of the insulation ring 50, the plunger part 30, and the housing 40 is demonstrated.

이하, 플런저부(30)의 소경부(32)의 직경을 제1 직경(D1), 절연 링(50)의 외경을 제2 직경(D2)으로 정의한다.Hereinafter, the diameter of the small diameter part 32 of the plunger part 30 is defined as the first diameter D1, and the outer diameter of the insulating ring 50 is defined as the second diameter D2.

제1 직경(D1)은 절연 링(50)의 내경과 동일하거나, 그보다 작게 형성되는 것이 바람직하다. 또한, 제2 직경(D2)은 하우징(40)의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성되는 것이 바람직하다.The first diameter D1 is preferably equal to or smaller than the inner diameter of the insulating ring 50 . In addition, it is preferable that the second diameter D2 is equal to or smaller than the inner diameter of the housing 40 .

절연 링(50)은 플런저부(30)의 구동 구간에 관통 결합된다. 구체적으로, 절연 링(50)은 플런저부(30)의 소경부(32)의 외주면과 하우징(40)의 내주면 사이에 삽입된다.The insulating ring 50 is through-coupled to the driving section of the plunger unit 30 . Specifically, the insulating ring 50 is inserted between the outer circumferential surface of the small diameter portion 32 of the plunger portion 30 and the inner circumferential surface of the housing 40 .

따라서, 제1 직경(D1) 및 제2 직경(D2)을 조절함으로써, 임피던스 값이 조절될 수 있다. 이에 따라, 하우징(40)이 일정한 외경으로 연장되어 형성되면서, 동시에 임피던스 또한 전 구간에서 일정한 값으로 유지될 수 있다. 정리하면, 기 설계된 임피던스 값의 매칭이 보다 용이하다. 더 나아가, 포고 핀(1)의 RF 특성이 보다 향상될 수 있다.Accordingly, the impedance value may be adjusted by adjusting the first diameter D1 and the second diameter D2. Accordingly, while the housing 40 is formed to extend with a constant outer diameter, the impedance can also be maintained at a constant value in the entire section. In summary, matching of pre-designed impedance values is easier. Furthermore, RF characteristics of the pogo pin 1 can be further improved.

반면에, 절연 링(50)이 플런저부(30)의 비구동 구간, 즉, 배럴(10)의 외주면에 관통 결합되는 경우, 하우징(40) 외경의 증가 또는 배럴(10) 외경의 감소 없이는 구간별 임피던스 값을 일정하게 유지하는 데 어려움이 있다.On the other hand, when the insulating ring 50 is penetrated into the non-drive section of the plunger unit 30, that is, the outer circumferential surface of the barrel 10, the section without an increase in the outer diameter of the housing 40 or a decrease in the outer diameter of the barrel 10. It is difficult to keep the star impedance value constant.

또한, 하우징(40) 및 절연 링(50)은 각각의 외경이 일정하게 유지되며 연장되어 형성된다. 즉, 하우징(40) 및 절연 링(50)의 형상이 보다 단순화될 수 있다.In addition, the housing 40 and the insulating ring 50 are formed by extending each outer diameter while maintaining a constant. That is, the shapes of the housing 40 and the insulating ring 50 may be more simplified.

따라서, 하우징(40) 및 절연 링(50) 각각의 제조 과정이 보다 단순화될 수 있다. 더 나아가, 플런저부(30), 배럴(10), 하우징(40) 및 절연 링(50)의 조립 단계가 보다 단순화될 수 있다.Accordingly, the manufacturing process of each of the housing 40 and the insulating ring 50 can be further simplified. Furthermore, the assembling step of the plunger part 30, the barrel 10, the housing 40 and the insulating ring 50 can be further simplified.

이하에서는, 도 5를 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀(1)의 제조 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing the pogo pin 1 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 5 .

본 발명의 실시 예에 따른 포고 핀(1)의 제조 방법은, 배럴(10) 내부 공간에 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)가 결합되는 단계(S100), 배럴(10) 외부로 노출된 플런저부(30)의 일 부분이 절연 링(50)에 관통 결합되는 단계(S200), 배럴(10) 및 절연 링(50)이 하우징(40) 내부 공간에 삽입되는 단계(S300) 및 하우징(40)의 양 단부가 코킹(caulking)되는 단계(S400)를 포함한다.In the manufacturing method of the pogo pin 1 according to an embodiment of the present invention, the elastic member 20 and the plunger part 30 are coupled to the inner space of the barrel 10 (S100), and the barrel 10 is exposed to the outside. A step of penetrating and coupling a portion of the plunger portion 30 to the insulating ring 50 (S200), inserting the barrel 10 and the insulating ring 50 into the inner space of the housing 40 (S300) and the housing Both ends of (40) are caulked (S400).

우선, 배럴(10) 내부 공간에 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)가 결합되는 단계(S100)에 대하여 설명한다.First, the step (S100) of coupling the elastic member 20 and the plunger part 30 to the inner space of the barrel 10 will be described.

배럴(10)은 일정한 직경으로 연장되는 원기둥 형상으로 형성되며, 내부에 플런저 수용부(11)가 형성된다. 플런저 수용부(11)의 중앙부에는 탄성 부재(20)가 수용된다. 또한, 플런저 수용부(11)의 양 단에는 플런저부(30)의 대경부(31)가 삽입된다.The barrel 10 is formed in a cylindrical shape extending with a constant diameter, and a plunger receiving portion 11 is formed therein. An elastic member 20 is accommodated in the central portion of the plunger accommodating portion 11 . In addition, the large-diameter portion 31 of the plunger portion 30 is inserted into both ends of the plunger accommodating portion 11 .

이때, 대경부(31)는 탄성 부재(20)와 접하도록 배치된다. 또한, 플런저부(30)의 소경부(32)는 배럴(10)의 외부로 노출되도록 배치된다.At this time, the large-diameter portion 31 is disposed to come into contact with the elastic member 20 . In addition, the small diameter portion 32 of the plunger portion 30 is disposed to be exposed to the outside of the barrel 10 .

배럴(10) 내부에 탄성 부재(20) 및 플런저부(30)가 결합되면, 배럴(10) 외부로 노출된 플런저부(30)의 일 부분이 절연 링(50)에 관통 결합되는 단계(S200) 및 배럴(10) 및 절연 링(50)이 하우징(40) 내부 공간에 삽입되는 단계(S300)가 수행된다.When the elastic member 20 and the plunger portion 30 are coupled to the inside of the barrel 10, a portion of the plunger portion 30 exposed to the outside of the barrel 10 is penetrated and coupled to the insulating ring 50 (S200). ) and inserting the barrel 10 and the insulating ring 50 into the inner space of the housing 40 (S300) is performed.

먼저, 배럴(10) 외부로 노출된 플런저부(30)의 일 부분이 절연 링(50)에 관통 결합되는 단계(S200)에 대하여 설명한다.First, a step (S200) of penetrating and coupling a portion of the plunger portion 30 exposed to the outside of the barrel 10 to the insulating ring 50 will be described.

내부에 중공부(51)가 형성된 원기둥 형상의 절연 링(50)이 형성된다. 이후, 절연 링(50)의 중공부(51)에 배럴(10) 외부로 노출된 플런저부(30)의 소경부(32)가 관통 결합된다. 이때, 소경부(32)의 외경은 중공부(51)의 내경과 동일하거나, 그보다 작게 형성되는 것이 바람직하다.A cylindrical insulating ring 50 having a hollow part 51 formed therein is formed. Thereafter, the small-diameter portion 32 of the plunger portion 30 exposed to the outside of the barrel 10 is through-coupled to the hollow portion 51 of the insulating ring 50 . At this time, it is preferable that the outer diameter of the small diameter portion 32 is equal to or smaller than the inner diameter of the hollow portion 51 .

다음으로, 배럴(10) 및 절연 링(50)이 하우징(40) 내부 공간에 삽입되는 단계(S300)에 대하여 설명한다.Next, a step (S300) of inserting the barrel 10 and the insulating ring 50 into the inner space of the housing 40 will be described.

플런저부(30)와 절연 링(50)이 결합되면, 배럴(10) 및 피크링을 포함한 구조체가 하우징(40)의 내부 공간에 삽입된다. 이때, 배럴(10)의 외주면은 하우징(40)의 내주면과 서로 이격되고, 배럴(10)은 하우징(40)의 내부에 수용되어 엄폐된다.When the plunger part 30 and the insulating ring 50 are coupled, a structure including the barrel 10 and the pick ring is inserted into the inner space of the housing 40 . At this time, the outer circumferential surface of the barrel 10 is spaced apart from the inner circumferential surface of the housing 40, and the barrel 10 is received and covered inside the housing 40.

또한, 절연 링(50)은 그 외경이 하우징(40)의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성된다.In addition, the outer diameter of the insulating ring 50 is equal to or smaller than the inner diameter of the housing 40 .

다만, 배럴(10) 외부로 노출된 플런저부(30)의 일 부분이 절연 링(50)에 관통 결합되는 단계(S200) 및 배럴(10) 및 절연 링(50)이 하우징(40) 내부 공간에 삽입되는 단계(S300)의 순서는 가변적이며, 둘 중 어느 하나의 단계가 수행된 이후 다른 하나의 단계가 수행될 수 있다.However, a step of penetrating and coupling a portion of the plunger portion 30 exposed to the outside of the barrel 10 to the insulating ring 50 (S200), and the barrel 10 and the insulating ring 50 in the inner space of the housing 40 The order of the steps (S300) inserted in is variable, and after one of the two steps is performed, the other step may be performed.

마지막으로, 하우징(40)의 양 단부가 코킹되는 단계(S400)가 수행된다.Finally, a step (S400) of caulking both ends of the housing 40 is performed.

하우징(40) 내 배럴 수용부(41)의 상단 및 하단에 절연 링(50)이 삽입된 직후에는, 하우징(40)의 단부 및 절연 링(50)의 단부 사이에 소정의 높이차가 존재한다. 이후, 하우징(40)의 양 단부가 코킹됨에 따라, 양 단부가 방사상 내측으로 절곡되고 걸림턱(421, 431)이 형성된다.Immediately after the insulating ring 50 is inserted into the upper and lower ends of the barrel accommodating portion 41 in the housing 40, a predetermined height difference exists between the end of the housing 40 and the end of the insulating ring 50. Then, as both ends of the housing 40 are caulked, both ends are bent radially inward, and locking protrusions 421 and 431 are formed.

이에 따라, 절연 링(50)은 그 상단 또는 하단이 하우징(40)의 걸림턱(421, 431)에 의하여 지지되고, 하우징(40) 외부로의 임의 이탈이 방지될 수 있다.Accordingly, the top or bottom of the insulation ring 50 is supported by the locking protrusions 421 and 431 of the housing 40, and any escape to the outside of the housing 40 can be prevented.

이상 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명은 상기 설명된 실시 예들의 구성에 한정되는 것이 아니다.Although the above has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiments.

또한, 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 이하의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변경될 수 있다.In addition, the present invention can be variously modified and changed by those skilled in the art to which the present invention pertains without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below.

더 나아가, 상기 실시 예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시 예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수 있다.Furthermore, the above embodiments may be configured by selectively combining all or part of each embodiment so that various modifications can be made.

1: 포고 핀(pogo pin)
10: 배럴
11: 플런저 수용부
12: 상부 플런저공
13: 하부 플런저공
20: 탄성 부재
30: 플런저(plunger)부
31: 대경부
32: 소경부
321: 접촉첨점부
40: 하우징
41: 배럴 수용부
42: 상부 개구
421: 상부 걸림턱
43: 하부 개구
431: 하부 걸림턱
50: 절연 링
51: 중공부
1: pogo pin
10: Barrel
11: plunger receiving part
12: upper plunger hole
13: lower plunger hole
20: elastic member
30: plunger part
31: large neck
32: small diameter
321: contact apex
40: housing
41: barrel receiving part
42: upper opening
421: upper holding jaw
43: lower opening
431: lower jaw
50: insulation ring
51: hollow part

Claims (12)

외부 단자와 접촉되는 플런저(plunger)부;
내부에 상기 플런저부의 적어도 일부가 삽입되는 배럴;
내부에 상기 배럴이 수용되는 하우징; 및
상기 플런저부의 상기 배럴의 외부로 노출된 일 부분의 외주면과 상기 하우징의 내주면 사이에 위치되고, 유전체 소재로 형성되는 절연 링을 포함하는,
포고 핀.
A plunger portion in contact with the external terminal;
a barrel into which at least a portion of the plunger unit is inserted;
a housing in which the barrel is accommodated; and
An insulating ring positioned between an outer circumferential surface of a portion of the plunger portion exposed to the outside of the barrel and an inner circumferential surface of the housing and formed of a dielectric material,
pogo pin.
제1항에 있어서,
상기 절연 링은,
그 외경이 상기 하우징의 내경과 동일하거나 그보다 작게 형성되는,
포고 핀.
According to claim 1,
The insulating ring,
Its outer diameter is formed equal to or smaller than the inner diameter of the housing,
pogo pin.
제2항에 있어서,
상기 절연 링은,
그 내경이 상기 플런저부의 상기 일 부분의 외경과 동일하거나 그보다 크게 형성되는,
포고 핀.
According to claim 2,
The insulating ring,
The inner diameter is formed equal to or larger than the outer diameter of the part of the plunger part,
pogo pin.
제1항에 있어서,
상기 플런저부는,
상기 배럴의 내부에 수용되는 대경부; 및
상기 대경부의 직경보다 작은 직경으로 형성되고, 상기 배럴의 외부로 노출되는 소경부를 포함하는,
포고 핀.
According to claim 1,
The plunger part,
a large-diameter portion accommodated inside the barrel; and
Including a small diameter portion formed with a smaller diameter than the diameter of the large diameter portion and exposed to the outside of the barrel,
pogo pin.
제4항에 있어서,
상기 절연 링은,
상기 소경부의 외주면을 감싸도록 배치되는,
포고 핀.
According to claim 4,
The insulating ring,
Arranged to surround the outer circumferential surface of the small diameter portion,
pogo pin.
제1항에 있어서,
상기 하우징은,
양 단이 방사상 내측으로 절곡되어 걸림턱이 형성되는,
포고 핀.
According to claim 1,
the housing,
Both ends are bent radially inward to form a locking jaw,
pogo pin.
제6항에 있어서,
상기 걸림턱은,
코킹(caulking) 공정에 의하여 형성되는,
포고 핀.
According to claim 6,
The stumbling block,
Formed by a caulking process,
pogo pin.
제6항에 있어서,
상기 걸림턱은,
상기 절연 링과 접하는 일 부분이 상기 절연 링의 외주면과 대응되는 형상으로 형성되는,
포고 핀.
According to claim 6,
The stumbling block,
A portion in contact with the insulating ring is formed in a shape corresponding to the outer circumferential surface of the insulating ring,
pogo pin.
제1항에 있어서,
상기 절연 링은,
상기 하우징의 양 단에 각각 구비되는,
포고 핀.
According to claim 1,
The insulating ring,
provided at both ends of the housing,
pogo pin.
제9항에 있어서,
상기 하우징의 양 단에 구비되는 두 개의 상기 절연 링 사이에는 공기가 충진되는,
포고 핀.
According to claim 9,
Air is filled between the two insulating rings provided at both ends of the housing,
pogo pin.
(a) 배럴 내부 공간에 탄성 부재 및 플런저부가 결합되는 단계;
(b) 상기 배럴 외부로 노출된 상기 플런저부의 일 부분이 절연 링에 관통 결합되는 단계; 및
(c) 상기 배럴 및 상기 절연 링이 하우징 내부 공간에 삽입되는 단계를 포함하는,
포고 핀의 제조 방법.
(a) coupling the elastic member and the plunger to the inner space of the barrel;
(b) coupling a portion of the plunger portion exposed to the outside of the barrel to an insulating ring; and
(c) including the step of inserting the barrel and the insulating ring into the inner space of the housing,
A method of manufacturing a pogo pin.
제11항에 있어서,
상기 (c) 단계 이후,
(d) 상기 하우징의 양 단부가 코킹(caulking)되는 단계가 수행되는,
포고 핀의 제조 방법.
According to claim 11,
After step (c),
(d) a step of caulking both ends of the housing is performed,
A method of manufacturing a pogo pin.
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100449204B1 (en) * 2002-11-25 2004-09-18 리노공업주식회사 Air Interface Apparatus for Use in High Frequency Probe
JP2004325305A (en) * 2003-04-25 2004-11-18 Yokowo Co Ltd Ic socket
US20130203298A1 (en) * 2012-02-03 2013-08-08 Jiachun Zhou Electrical Connector With Insulation Member
KR101637035B1 (en) * 2011-06-30 2016-07-20 리노공업주식회사 A Conductive Contactor
KR20190051764A (en) * 2017-11-07 2019-05-15 리노공업주식회사 A test probe assembly and test socket
KR102202827B1 (en) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 Probe pin and coaxial probe assembly using the same

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100449204B1 (en) * 2002-11-25 2004-09-18 리노공업주식회사 Air Interface Apparatus for Use in High Frequency Probe
JP2004325305A (en) * 2003-04-25 2004-11-18 Yokowo Co Ltd Ic socket
KR101637035B1 (en) * 2011-06-30 2016-07-20 리노공업주식회사 A Conductive Contactor
US20130203298A1 (en) * 2012-02-03 2013-08-08 Jiachun Zhou Electrical Connector With Insulation Member
KR20190051764A (en) * 2017-11-07 2019-05-15 리노공업주식회사 A test probe assembly and test socket
KR102092674B1 (en) 2017-11-07 2020-03-24 리노공업주식회사 A test probe assembly and test socket
KR102202827B1 (en) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 Probe pin and coaxial probe assembly using the same

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