KR20230004586A

KR20230004586A - 빔 대응성 파라미터 결정

Info

Publication number: KR20230004586A
Application number: KR1020227039329A
Authority: KR
Inventors: 파울 지몬 홀트 레더; 토마스 하우슈타인
Original assignee: 프라운호퍼 게젤샤프트 쭈르 푀르데룽 데어 안겐반텐 포르슝 에. 베.
Priority date: 2020-04-09
Filing date: 2021-04-08
Publication date: 2023-01-06
Also published as: EP4133291A1; US20230053354A1; WO2021204949A1; CN116057390A

Abstract

테스트 대상 디바이스(DUT)의 빔 대응성 파라미터를 결정하기 위한 방법은 테스트 대상 디바이스와 무선신호의 교환을 허용하도록 측정 환경 내에 테스트 대상 디바이스를 배치하는 단계를 포함한다. 무선신호 교환을 위한 측정 환경에서 제1 빔을 발생하고, DUT로 하여금 DUT의 안테나 배열을 사용하여 제2 빔을 발생하게 하고, 상기 제1 빔과 함께 송신(TX) 빔 및 수신(RX) 빔을 포함하는 빔 쌍을 형성하도록 하며, 상기 제2 빔에 상응하는 제3 빔을 발생하게 한다. 상기 방법은 상기 제2 빔을 특징짓는 측정과 및 상기 제3 빔을 특징짓는 측정을 사용하여, 상기 제2 빔 및 상기 제3 빔에 대한 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계를 포함한다.

Description

빔 대응성 파라미터 결정

본 발명은 무선통신 네트웍에서 운용되는 디바이스의 빔 대응성 파라미터를 결정하는 방법, 측정 환경, 및 측정 환경을 위한 노드에 관한 것이다. 아울러, 본 발명은 패턴 평가를 위한 장치 및 절차에 관한 것이다.

4세대(4G) 시스템의 등장 이후, 이동통신에 다중입력 다중출력(MIMO) 기술이 사용되어 왔다. MIMO는 5G 이후의 시스템, 예컨대 6G 시스템에서도 사용될 것으로 예상된다. 가장 간단한 형태에서, 그리고 일대일 통신만을 고려한다면, MIMO 링크의 일방이 전송을 위해 다양한 신호를 준비 및 배분(또는 다중화)하고 MIMO 링크의 타방 내지 타단에서는 다수의 수신신호들이 수집되어 결합된다(역다중화). 따라서 각 MIMO-가능 네트워킹 장치에 각각이 안테나, RF 송수신 모듈, 및 추가 신호처리 기능을 포함하는 복수의 전송 체인 및 수신 체인을 장착할 필요가 있다.

따라서 무선통신 네트웍에 참여할 디바이스를 측정하거나 평가할 때 정밀한 결과를 확보할 필요가 있다.

미국 공개특허공보 US 2019/0187199 A1, (Rohde & Schwarz) 2019. 6. 20.

R4-1700888, "CDF를 사용한 EIRP/EIS 구면 커버리지 요건", Sumitomo Electric, 3GPP TSG-RAN WG4 #82, 2017. 2. 13.~17, 그리스 아테네. R4-1709769, "밀리미터파 NR을 위한 측정 그리드", Rohde & Schwarz, 3GPP TSG RAN WG4 NR#3, 2017. 9. 18.~21., 일본 나고야. R4-1709832, "비-무반향성 환경에서의 측정", Fraunhofer HHI, Fraunhofer IIS, 3GPP TSG-RAN WG4 #82, 2017. 2. 13.~17., 그리스 아테네. R4-1809666, "OTA 측정에서 (전자적) 빔 스위핑과 기계적 포지셔닝 기술의 조합", Fraunhofer HHI, Fraunhofer IIS, Spirent, Ericsson, 3GPP TSG-RAN WG4 회의 #88, 2018. 8. 20.~24., 스웨덴 예테보리. https://www.compactrange.de/index.php/testi-facility/ detailed-desc ription Chen, Xiaodong, Xiaoming Liu, Yu Jun-sheng, Yuan Yao, Chen Yang, Hai Feng Wang, Hairui Liu, Zejian Lu 및 Richard J. Wylde. "테라헤르츠 대역에서 동작하는 3중 반사경 소형 안테나 테스트 범위." 2015. 제9차 유럽 안테나 및 전파 회의(EuCAP)(2015): 1-3.

따라서 본 발명의 목적은 무선통신을 수행할 장비를 특히 빔 대응성 관점에서 평가할 때 정밀한 결과를 제공할 수 있는 방법, 측정 환경, 및 그 부분, 특히 노드를 제공하는 것이다.

상기 목적은 독립항들에서 정의된 주제에 의해 달성된다.

본 발명자들은 장치가 측정 환경의 빔과 함께 빔 쌍을 형성하는 빔을 생성하게 함으로써, 장치에 의해 야기된 빔이 빔 대응성의 관점에서, 즉 측정 환경의 빔에 대응하도록 장치가 그 빔을 얼마나 정확하게 형성할 수 있는지의 관점에서, 평가될 수 있다는 것을 발견하였다. 장치는 측정 환경의 빔에 대응하도록 자신의 빔을 형성할 수 있다. 이것은 구성 가능하고 조정 가능한 테스트 환경/테스트 절차를 제공함으로써 무선 장치의 성능을 측정하기 위해 측정 환경 및 장치를 평가하는 방법을 제공하는 것을 허용한다.

일 실시예에 따르면, 테스트 대상 디바이스(DUT)의 빔 대응성 파라미터를 결정하는 방법은 DUT와 무선신호의 교환을 허용하도록 측정 환경 내에 DUT를 배치하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 상기 무선신호의 교환을 위한 상기 측정 환경에서 제1 빔을 발생하는 단계와; 상기 DUT로 하여금, 상기 DUT의 안테나 배열을 사용하여 제2 빔을 발생하게 하고, 상기 제1 빔과 함께 송신(TX) 빔 및 수신(RX) 빔을 포함하는 빔 쌍을 형성하도록 하고, 상기 제2 빔에 상응하는 제3 빔을 발생하게 하는 단계를 포함한다. 측정 환경에서 발생되는 빔에 대하여 DUT가 재3 빔을 발생하여 응답한다는 점을 주목해야 한다. 대안으로서 또는 추가적으로, 측정 환경은, DUT가 수신(RX) 빔으로써 제3 빔을 형성하도록 하여, DUT에 의해 생성되는 빔에 응답할 수 있다. 상기 방법은 상기 제2 빔을 특징짓는 측정과 및 상기 제3 빔을 특징짓는 측정을 사용하여, 상기 제2 빔 및 상기 제3 빔에 대한 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계를 포함한다.

일 실시예에 따르면, 이러한 방법을 구현하기 위해 측정 환경이 구성된다.

일 실시예에 따르면, 측정 환경을 위한 노드는 유선 신호 및 안테나 배열을 교환하도록 구성된 인터페이스를 포함한다. 노드는 안테나 장치에서 수신되는 무선신호에 기초하여 유선 신호를 제공하도록, 그리고 무선신호를 수신하기 위한 수신-빔포밍을 위하여 구성된다. 대안으로서 또는 추가적으로, 노드는 인터페이스를 통해 수신되는 유선 신호에 기초한 송신을 위하여 안테나 배열에 유선 신호를 제공하도록 구성되고, 노드는 무선신호를 송신하기 위한 송신-빔포밍을 위하여 구성된다. 측정 환경에 각각 수신-빔포밍 및 송신-빔포밍 기능을 제공함으로써 매우 유연한 측정 환경을 생성할 수 있다.

추가 실시예들은 그와 같은 노드들을 복수 개 구비하는 측정 환경을 제공한다.

다른 실시예들은 본 발명의 방법을 각각 구현하기 위한 컴퓨터 프로그램이 저장된 컴퓨터로 판독가능한 디지털 저장 매체와 관련이 있다.

추가적인 실시예들은 종속항에 정의되어 있다.

본 발명의 실시예들에 따르면, 무선통신을 수행할 장비를 특히 빔 대응성 관점에서 평가할 때 정밀한 결과를 제공할 수 있다.

첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 보다 구체적으로 설명한다. 도면 중,
도 1은 일 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 2a는 일 실시예에 따른 측정 환경의 개략적인 블록도이다.
도 2b는 빔 대응성을 예시하기 위한 일 실시예에 따른, 도 2a의 측정 환경에서의 테스트 대상 디바이스(DUT)의 배치의 개략적인 평면도이다.
도 2c는 일 실시예에 따른 측정 환경과 DUT 사이의 가능한 신호 흐름과 함께 도 2b의 배치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2d는 일 실시예에 따라 DUT가 측정 환경을 활성화시키는 가능한 신호 흐름을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 일 실시예에 따른 버키볼 구조의 개략도이다.
도 4a 내지 도 4d는 일 실시예에 따른 측정 환경 및/또는 버키볼 구조에 대한 노드들의 개략적인 블록도이다.
도 5a 내지 도 5d는 일 실시예에 따른 측정 시스템 및/또는 버키볼 구조의 노드를 구현할 수 있는 추가적인 노드들의 개략적인 블록도이다.
도 6은 DUT의 내부 파라미터를 사용하기 위해 실행될 수 있는 일 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 7은 도 6의 방법에 추가하여 또는 그 대안으로서 실행될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 8a 및 도 8b는 실시예들에 따른 통신 디바이스에 의해 생성되는 다중빔 안테나 배열에 의해 생성될 수 있는 단순화된 빔 패턴의 예를 보여준다.
도 9는 디바이스들 사이에 가시선 경로가 존재하는, 일 실시예에 따른 2개의 디바이스들 사이의 빔 페어링의 예를 보여준다.
도 10은 디바이스들 사이에 비-가시선 경로가 존재하는, 일 실시예에 따른 2개의 디바이스들 사이의 빔 페어링의 예를 보여준다.
도 11은 일 실시예에 따른, 반사 물체에서의 반사에 기초하는 추가적인 비-가시선 경로를 사용하는 도 9의 디바이스들에 대한 개략도이다.
도 12는 일 실시예에 따른, 제2 반사 물체가 제2 비-가시선 경로를 허용하는 도 10의 시나리오를 확장한 예를 보여주는 개략도이다.
도 13은 일 실시예에 따른, 디바이스들 사이에 2개의 송신-수신 빔 쌍들을 제공하는 2개의 디바이스들의 예시적 시나리오를 보여준다.
도 14는 일 실시예에 따른, 가시선 구성요소와 비-가시선 구성요소를 포함하는 2개의 송신-수신 빔 쌍들의 예시적 시나리오를 보여준다.
도 15는 일 실시예에 따른, 디바이스들 간의 3개의 송신-수신 빔 쌍들의 예시적 시나리오를 보여준다.
도 16은 도 15와 비교할 때 송신측과 수신측이 뒤바뀐, 일 실시예에 따른 예시적 시나리오를 보여준다.
도 17은 일 실시예에 따른, 컴팩트 안테나 테스트 레인지(CATR)의 개략적인 평면도이다.
도 18은 일 실시예에 따른, 2개의 부 반사기와 1개의 주 반사기를 구비하는 이동식 CATR을 보여준다.

이하의 설명에서, 동일하거나 동등한 요소들 또는 동일하거나 동등한 기능을 갖는 요소들에 대해서는 비록 다른 도면에서 나타난다 할지라도 동일하거나 동등한 참조번호를 부여한다.

다음 설명에서는, 본 발명의 실시예들을 매우 구체적으로 설명하기 위하여 복수의 세부사항들을 제시한다. 그렇지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 사람에게는 이러한 특정 세부사항들이 없이도 본 발명의 실시예들을 실시할 수 있다는 것이 자명할 것이다. 다른 예에서는, 본 명세서에 설명된 예들이 모호해지는 것을 피할 수 있도록, 주지된 구조 및 장치를 상세하기 묘사하기보다 블록도 형태로 제시한다. 또한, 본 명세서에서 설명된 서로 다른 실시예들의 특징들은, 달리 구체적으로 언급되지 않는 한, 서로 결합될 수 있다.

이하 설명하는 실시예들은 디바이스에 의해 형성되는 안테나 복사 패턴 또는 빔 패턴에 관련되어 있다. 이러한 안테나 복사 패턴은 송신 복사 패턴 및/또는 수신 복사 패턴, 즉, 신호의 송신 및/또는 수신을 위한 공간적 패턴 또는 선호되는 방향들일 수 있다. 따라서 여기에서 주어지는 설명들은 수신 복사 패턴을 나타내는 빔 패턴들에 대한 수신(RX) 빔과 관련된 것일 수 있다. 송신 복사 패턴을 나타내는 빔 패턴들에 대한 송신(TX) 빔과 관련하여, 다른 설명이 제공된다. 수신(RX) 빔 패턴 및 송신(TX) 빔 패턴은 메인 로브와(선택적으로, 추가적인 메인 로브들과) 하나 이상의 사이드 로브를 포함할 수 있다. 두 개의 인접한 로브들 사이에 소위 널(null)이 배치될 수 있다. 밀리미터파 스펙트럼과 관련하여 알려진 바와 같이, 밀리미터파 주파수의 사용은 커버리지 원리가 셀 커버리지로부터 빔 커버리지로 이동할 수 있기 때문에, 밀리미터파 스펙트럼과 관련하여 셀룰러 무선 네트웍에 대한 패러다임 변화를 일으킨다.

본 명세서에 설명되는 실시예들의 적어도 일부는 송신(TX) 빔과 수신(RX) 빔 사이의 대응관계인 빔 대응성의 결정과 관련하여 설명된다. 예를 들어, 송신(TX) 빔은 다른 디바이스로부터 신호를 수신하도록 사용, 적응, 생성 또는 구현되는 수신(RX) 빔에 응답하여 또는 수신(RX) 빔에 기초하여, 디바이스에 의해 예컨대 테스트 대상 디바이스(DUT)에 의해 선택될 수 있다. 예를 들어, 수신(RX) 빔은 다른 노드로부터 신호가 도착하는 경로를 따라 향할 수 있으며, 그에 상응한 송신(TX) 빔이 수신되는 신호의 원점으로 선택 및/또는 생성될 수 있으며, 수신되는 신호는 동일하거나 상이한 경로를 사용할 수 있다. 그렇게 함으로써, 수신(RX) 빔 패턴이 발생되고 송신(TX) 빔 패턴이 발생되어, 이 두 빔 패턴이 함께 빔 쌍을 형성하게 된다. 이러한 실시예들은 설명의 편의를 위해 단지 메인 로브 또는 사이드 로브일 수 있는 단일 로브를 도시함으로써 설명될 수 있다.

이와 대조적으로, 빔 대응성은 동일 엔티티에서 발생되는 빔들에 관련되어 있을 수 있다. 단일 로브와 관련해서만 빔 대응성을 설명하지만, 추가적인 로브들을(즉, 송신(TX) 빔 패턴은 물론 수신(RX) 빔 패턴의 메인 로브 및 사이드 로브와 같은 적어도 두 개의 로브들을) 고려함으로써 해당 빔들을 선택할 수 있도록 하는 것을 배제하지 않는다.

도 1은 일 실시예에 따른 방법(100)의 개략적인 흐름도이다. 방법(100)은 테스트 대상 장치(DUT)의 빔 대응성 파라미터를 결정하기 위해 구현될 수 있다. 빔 대응성 파라미터는 대응하는 빔들, 즉 송신(TX) 빔에 대응하는 수신(RX) 빔 및/또는 그 반대의 경우에 대한 파라미터 또는 척도로 이해될 수 있다. 그와 같은 빔 대응성 파라미터는 빔 파라미터, 패턴 파라미터 등으로 지칭될 수 있다. 빔 대응성 파라미터에 포함이 가능한 정보는, 예컨대 빔들이 서로 맞는지 여부에 대한 ok/not ok(ok) 판단을 들 수 있다. 많은 양의 정보를 제공하기 위하여, 빔 대응성 파라미터는 성능 표시자를 설명하는 하나 이상의 메트릭 또는 관련 값을, 예컨대 이진 방식으로 또는 2개를 초과하는 값들 중에서 선택하는 방식으로, 포함할 수 있다. 이진 방식에 있어서, 표시자는 적합성 테스트의 통과 여부를 나타낼 수 있다. 빔 대응성 파라미터는, 대안으로서 또는 추가적으로, 성능 테스트 결과를, 예컨대 빔들이 얼마나 서로 얼마나 잘 맞는지를, 측정/성능 메트릭으로 나타내는 정보를 포함할 수 있다.

실시예들은 단일 공간 차원을 따른 측정에 한정되지 않는다. 마찬가지로, 빔 대응성 평가는 하나 이상의 공간 차원, 하나 이상의 주파수(범위), 상이한 위상 시프트들, 및/또는 상이한 편파들을 사용하여 이루어질 수 있다.

방법(100)은 테스트 대상 디바이스(DUT)가 측정 환경 내에 배치되어, DUT와의 무선신호 교환이 이루어지도록 하는 단계(제110단계)를 포함한다. 이러한 측정 환경의 예는 다음과 같다. 예를 들어, 그러한 측정 환경은 제110단계의 무선신호가 DUT로 전송되고/되거나 DUT로부터 수신될 수 있도록 무선신호를 수신 및/또는 전송하기 위한 하나 이상의 노드를 포함할 수 있다.

제120단계는 DUT와의 무선신호 교환을 위하여 측정 환경에서 빔을 생성하는 것을 포함한다. 이 빔은 송신(TX) 빔 또는 수신(RX) 빔일 수 있다. 설명의 편의상, 측정 환경의 빔을 송신(TX) 빔인 것으로 설명한다.

측정 환경에서 생성되는 빔은 가장 먼저 생성되는 빔일 수도 있지만, DUT의 빔에 응답하여 형성되는 빔일 수도 있다. 예를 들어, 측정 환경에서 생성되는 빔은 링크 안테나에서 오는 신호를 구현하는 빔일 수 있고/있거나, 예컨대 DUT가 기지국일 때, 링크 안테나로부터 수신되는 신호에 대한 응답인 수신 빔일 수 있고/있거나; 그 전에 링크 안테나로부터 수신된 신호에 대한 응답인 DUT로부터 측정 환경 또는 링크 안테나로의 송신 빔일 수 있다.

제130단계는 DUT의 안테나 배치를 사용해서 제2 빔을 생성하여, 제1 빔과 함께 송신(TX) 빔과 수신(RX) 빔을 포함하는 빔 쌍을 형성하도록 하고, 제2 빔에 상응하는 제3 빔을 생성하도록 하는 것을 포함한다. 위에서 설명한 바와 같이, DUT는 측정 환경의 송신(TX) 빔에 응답하여 수신(RX) 빔을 형성할 수 있고, DUT의 결정 또는 메트릭에 따라 수신(RX) 빔에 대응하도록 자신의 송신(TX) 빔을 선택할 수 있다.

빔 쌍은 측정 환경과 DUT 간의 단방향 링크, 또는 양방향 링크의 일부를 형성하는, RX 및 송신(TX) 빔 쌍으로 이해될 수 있다. 제2 및 제3 빔은 동일한 디바이스에서 생성된다. 예를 들어, DUT는, 예컨대 다수의 수신(RX) 빔(제2 빔)을 결정하거나 시도하고 메트릭 또는 결정 기준에 따라 가장 잘 맞는 빔을 선택함으로써, 신호(측정 환경의 송신 빔)가 수신되는 방향을 결정할 수 있다. 즉, 전송된 실제 송신(TX) 빔과 수신 장치에서의 식별 사이에 편차가 발생할 수 있는데, 여기서 상기 식별은 수신된 빔을 향하거나 다른 방향, 예컨대, 다른 다중경로성분/경로 등을 가리키는 것을 목표로 하는 송신(TX) 빔의 수신 디바이스에서의 선택으로 이어지는 것을 말한다. 그와 같은 절차는, 잘못된 계산, 및/또는 응답될 송신(TX) 빔이 수신되는 정확한 방향을 식별함에 있어서의 수신 디바이스에서의 제한된 능력, 및/또는 자신의 송신(TX) 빔의 공간 분해능의 관점에서 볼 때의 제한된 능력으로 인하여, 오류가 발생하기 쉬울 수 있다. 이러한 오류 또는 대응성은 빔 대응성 파라미터에 의해 표시될 수 있다.

가장 성능이 좋은 수신(RX) 빔, 또는 수신(RX) 빔으로 간주되는 로브, 또는 그 일부에 대해서, 즉 최상의 수신(RX) 빔에 대해서, 대응하는 송신(TX) 빔이 DUT에 의해 제3 빔으로서 선택되어, 수신(RX) 빔이 수신되는 방향과 동일한 방향 또는 RX 측정을 토대로 DUT에 의해 결정된 방향으로 신호를 전송하게 된다.

예를 들어, 측정 환경은 송신(TX) 빔을 생성하도록 제어될 수 있고 DUT는 제130단계에서 측정 환경의 송신(TX) 빔과 빔 쌍을 형성하는 적절한 수신(RX) 빔을 야기할 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, DUT는 송신(TX) 빔을 생성하여 무선신호를 측정 환경으로 방출할 수 있고, 측정 환경은 적합한 수신(RX) 빔을 형성할 수 있다. 따라서, 제120단계 이후에 제130단계를 실행하도록 제120단계와 제130단계의 순서가 제한되는 것은 아니다. 대안으로서 또는 추가적으로, 제120단계는 제130단계와 동시에 또는 제130단계 후에 실행될 수 있다.

방법(100)을 사용하면 상이한 유형의 장치들을 테스트할 수 있다. 예를 들어, 사용자 단말(UE)의 테스트는 측정 환경이 DUT와 통신하는 기지국을 시뮬레이션 내지 에뮬레이션할 수 있게 해준다. 대안으로서, 측정 환경이 UE의 일부를 구현할 수 있도록, DUT는 기지국일 수 있다. 또한, 두 경우 모두에서, 업링크 및/또는 다운링크 동작이 테스트될 수 있다. 즉, DUT에 의해 생성되는 빔에 대한 참조는 두 가지 경우 각각에 대해서 적합화될 수 있다.

제140단계는 제2 빔을 특성화하는 측정과 제3 빔을 특성화하는 측정에 의하여 제2 빔과 제3 빔을 포함하는 빔 세트에 대한 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것을 포함한다. 예를 들어, 측정 환경에 의해/측정 환경에서 취해진 적어도 하나의 측정의 제1 세트와, DUT에 의해 취해진 적어도 하나의 측정의 제2 세트와, 상기 2 측정 세트들 간의 상관 또는 비교가 구현될 수 있다. 예를 들어, 여기에는 DUT와 측정 환경 간의 상대적 및/또는 절대적 공간 관계를 고려하고/하거나, 측정 값들과 관련된 시간적 마커를 사용하는 것이 포함될 수 있다. 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은 송신(TX) 빔 패턴, 작용, 또는 성능과, 수신(RX) 빔 패턴, 작용, 또는 성능을 사용하는 비교, 평가(evaluation), 또는 다른 유형의 판단(assessment)과 관련이 있을 수 있다. 위에서 설명한 바와 같이, 이것은 빔 쌍의 빔들이, 예컨대 공간 중첩 등의 관점에서, 서로 얼마나 잘 맞거나 대응하는지를 평가할 수 있게 해준다.

빔 대응성 파라미터는 적합성 테스트(통과/불합격)에 한정되지 않을 수 있을 뿐만 아니라, 적어도 측정/성능 메트릭에 의한 성능 테스트를 포함할 수도 있다.

제140단계를 구현하기 위하여, DUT의 빔을 특성화하는 하나 이상의 측정이 구현될 수 있다. 예를 들어, 측정은 각각의 수신기 측에서, 즉 DUT의 수신(RX) 빔에 대해서는 DUT에서 및/또는 DUT의 송신(TX) 빔에 대해서는 측정 환경에서, 수행될 수 있다. 평가 내지 비교, 즉 빔 대응성 파라미터의 결정은, 임의의 엔티티에서, 예컨대 측정 환경 또는 다른 엔티티에서 수행될 수 있다.

이에 따라, 제조업체들로 하여금 자신들의 인터페이스에 대한 액세스를 제공하도록 강요하거나 특정 구현 세부사항을 재산권으로 및/또는 비밀로 유지하도록 강요하지 않으면서, DUT들, 즉 무선 네트웍에서 사용할 디바이스들의 구현, 생성, 또는 제조를 가능하게 해준다. 또한, DUT는, DUT가 통신 상대방과의 링크의 적어도 일부를 설정하기 위해, 즉 빔 쌍을 형성하기 위하여, 빔 패턴에 대해 얼마나 정확하게 선택할 수 있는지에 대한 관점에서의 지식이 없는 상태에서 평가될 수 있다.

선택적으로, 상기 방법(100)은, 예컨대 DUT를 테스트 모드로 설정하기 위하여 및/또는 측정 환경과 DUT 간에 무선 연결을 설정하기 위하여, DUT를 측정 환경과 페어링하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 측정 환경과의 가상 또는 물리적 링크 안테나를 구현함으로써, 신호를 발생해서 DUT로 송신하여, DUT가 이 신호에 응답하여 응답신호를 송신하도록 하고/하거나 반대의 동작이 발생하도록 할 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 페어링은 위에서 설명한 바와 같이 하나의 또는 다수의 물리적 및/또는 가상 링크 안테나를 포함하는 측정 환경의 링크 안테나 배열을 사용하는 다중경로 성분들의 도달 스펙트럼에서 가변적 또는 구성가능한 방향으로 DUT를 노출시키는 것을 포함할 수 있다. 그와 같은 가변적 노출은 측정 환경에서 빔 쌍의 일부를 구성하는 빔을 생성하는 동안 대안으로서 또는 추가적으로 사용될 수 있다.

링크 안테나의 배열은 테스트 절차 동안 DUT와 통신하는데 사용될 수 있으며, 여기서 DUT의 동작은 DUT를 탐지하는 측정 환경의 노드들, 즉 프로브를 사용하여 평가될 수 있다. 후술하는 바와 같이, 실시예들는 링크 안테나 배열의 적어도 일부로서 그리고 프로브로서 동시에 또는 순차적으로 사용될 수 있는 노드들을 제공한다.

실시예들은 물리적 링크 안테나의 대안으로서 또는 그에 추가하여 가상 링크 안테나 배열을 사용하는 것에 관한 것이다. 가상 링크 안테나 배열은 물리적 링크 안테나를 에뮬레이션하기 위해 단일 노드 또는 노드들 조합을 사용할 수 있게 해주며, 따라서 물리적 링크 안테나를 DUT에 대해서 이동하지 않고도 편파, 위상, 위치, 전력 등과 같은 속성을 다양하게 구현할 수 있다.

링크 안테나 배열은, 가상 링크 안테나의 관점에서, 예컨대 노드들을 적절히 제어함으로써 물리적 링크 안테나와, 측정 환경 및 DUT 간의 채널 특성을 시뮬레이션할 수 있다. 가상 링크 안테나 배열은 노드들 집합을 사용하여 다중경로 전파 환경과 같은 채널 상태를 에뮬레이션할 수 있다. 즉, 가상 링크 안테나 배열은, 안테나 동작 이외에, 각각의 채널 메트릭을 구현함으로써 채널의 작용을 구현할 수 있다. 가상 링크 안테나는 즉 특정의, 어쩌면 테스트-특이적인, 물리적 링크 안테나를 에뮬레이션하거나 시뮬레이션할 수 있도록, 생성될 수 있다. 즉, 이와 같이 노드들이 제어될 수 있다.

다시 말해서, 가상 링크 안테나에 의해 생성, 시뮬레이션 또는 획득되는 것과 유사한 안테나 특성들은 도달각(DoA: Direction of Arrival) 스펙트럼을 생성하고/하거나, 무선 전파 환경을 통과한 기지국의 특정 안테나 패턴에 해당하는 출발각(DoD: Departure of Departure) 스펙트럼을 측정하기 위한 가상 안테나 배열을 가진 측정 환경과 관련이 있을 수 있다.

도 2a는 일 실시예에 따른 측정 환경(20)의 개략적인 블록도이다. 측정 환경(20)은 DUT(12), 예컨대 방법(100)을 사용하여 테스트되는 DUT의 배치를 허용하도록 적합화된다. DUT(12)는 하나 이상의 안테나 배열들을 포함할 수 있고, 각 안테나 배열은 단독으로 또는 다른 안테나 장치들과 결합하여 빔포밍을 허용하도록 적합화된다.

측정 환경은 복수의 노드들(14₁-14₇)을 포함할 수 있고, 여기서 노드들(14)의 개수는 2 이상의 임의의 적합한 숫자일 수 있다. 노드들(14₁-14₇)은 관심있는 파라미터들에 대한 측정을 허용하기에 적합한 임의의 방식으로 배열될 수 있다. 예를 들어, 노드들은 한 방향(예를 들어, 방위각 방향 또는 앙각 방향) 또는 두 방향을 따라 구의 적어도 일부를 커버할 수 있도록 배열될 수 있다. DUT를 적절한 횟수만큼 회전시키거나 재배치하여 DUT의 전체 구를 측정할 수 있다. 선택적으로, 상기 방향들 중 적어도 하나의 방향은 노드들(14₁-14₇)에 의해 완전히 커버될 수 있으며, 따라서 DUT의 교체를 피할 수 있게 해준다. 복수의 노드들을 배치하는 일 예는 아래에서 도 3과 관련하여 설명할 버키볼 구조의 적어도 일부로서 이들을 배열하는 것이다. 즉, 노드들(14₁-14₇)은 버키볼 구조의 적어도 일부로서 배열될 수 있다.

측정 환경(20)은 DUT(12)를 유지하도록 구성된 DUT 홀더(16)를 포함할 수 있다. DUT 홀더(16)는 DUT(12)의 병진 이동 및/또는 회전을 구현할 수 있게 구성될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 측정 환경(20)은 DUT(12)에 대하여 하나 이상의 노드들(14)이 상대적 이동을 할 수 있도록 구성될 수 있다. 즉, 측정 환경(20)은 복수의 노드들의 회전 운동 및/또는 복수의 노드들의 병진 이동을 구현할 수 있게 구성될 수 있다.

노드들(14₁-14₇)은, DUT와 측정 환경(20) 간에 무선신호(18)가 교환될 수 있도록, 무선신호(18)를 수신 및/또는 송신할 수 있게 구현될 수 있다.

노드들(14₁-14₇) 각각은 개별 송신 체인(22₁-22₇)의 일부일 수 있는데, 여기서 상이한 송신 체인(22₁-22₇)을 사용해서 상이한 채널 조건을 생성 내지 시뮬레이션할 수 있도록, 각 송신 체인(22₁-22₇)은 결합 및 분배 유닛(제어 유닛)(26)의 제어 신호에 따라 신호를 적합화, 감쇠, 또는 등화하도록 구성된 채널 에뮬레이터(24₁-24₇)를 포함한다. 비록 송신 체인들(22₁-22₇)이 단 하나의 노드(14₁-14₇)만을 포함하는 것처럼 도시되어 있지만, 이것은 전송 체인으로 하나 이상의 노드를 제어하는 것을, 즉 한 개를 초과하는 노드들이 채널 에뮬레이터(24₁-24₇)에 연결되는 것을 배제하는 것은 아니다.

측정 환경(20)은 링크 안테나 배열(28)을 포함할 수 있다. 링크 안테나 배열(28)은 기지국 등으로 간주되는 DUT(12)에 대한 통신 상대방, 예컨대 수신(RX) 빔 패턴 및/또는 송신(TX) 빔 패턴을 형성하도록 되어 있는 DUT(12)를 향하는 통신 상대방을 시뮬레이션하도록 동작될 수 있다. 링크 안테나 배열(28)은 물리적 링크 안테나, 가상 링크 안테나, 또는 이들의 조합으로서 구현될 수 있다. 예를 들어, 노드들(14)은 DUT(12)에서 기지국의 링크 안테나로 간주되는 각각의 신호들을 송신하는 데 사용될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 이 목적을 위해 추가적인 또는 전용 안테나가 측정 환경(20)에 배치될 수 있다. 따라서, 링크 안테나 배열(28)은 측정 환경의 적어도 하나의 노드(14₁-14₇)에 의해 구현되는 가상 안테나 배열로서 형성될 수 있다. 한 개를 초과하는 노드(14₁-14₇)를 사용하면, 링크 안테나의 가변 위치 또는 상이한 위치, 및/또는 링크 안테나(28)와 DUT(12) 간의 상이하거나 변화하는 채널 조건을 시뮬레이션할 수 있다.

다시 말해서, 링크 안테나 배열은 단일 소스 안테나일 수도 있고, 또는 공간적으로 국한되거나 분산되고 측정 환경에 속하고 연결되어 예컨대 하나 또는 다수의 링크 안테나를 구현하는 전파송신 안테나 요소들의 배열일 수도 있다. 도 3과 관련하여 설명할 버키볼 구조의 맥락에서, 가상 링크 안테나는 적어도 그룹에서 활성화될 때 다중경로 환경을 에뮬레이션할 수 있는 많은 노드들로 구성될 수 있다. 또한, 실시예들은 둘 이상의 기지국들/링크 안테나들이 포함될 때 DUT의 강화된/확장된 빔 대응성 특성을 평가/결정하는 것을 허용하는 향상된 방법을 제공한다. 이것은 DUT 및/또는 측정 환경에서 빔(예를 들어, RX)을 선택할 때 간섭의 존재하에 빔 대응성을 테스트할 수 있게 해주고/해주거나, 빔(예컨대, DUT의 송신(TX) 빔)에 의해 야기되는 간섭을 억제/회피/경감시키기 위하여 빔 대응성을 테스트할 수 있게 해준다.

측정 환경(20)은 본 발명의 실시예에 따른 방법들, 예컨대 방법(100)을 실행하기 위해 사용될 수 있다.

다시 말해서, 도 2a는 평면형 다중-프로브 측정 환경 내지 시스템의 일 예를 보여준다. 시스템은 테스트 대상 디바이스(DUT)와, 측정 안테나들 내지 프로브들(14)의 배열을 포함하며, 각 안테나 내지 프로브는 자체적인 또는 공유되는 채널 에뮬레이터(CE)에 연결되고, 다시 이 채널 에뮬레이터는 결합 및 분배 유닛(CDU)에 연결된다. 프로브들이 송신 및 수신 모두에 사용될 수 있으므로, 하나 이상의 채널 에뮬레이터를 적합하게 배치하고 CDU를 적절하게 구성하면 DUT를 유효 원거리장(EFF: effective far field) 또는 등가 근거리장(ENF: equivalent near field) 환경에서 테스트할 수 있다. 다중 프로브들의 가용성은 다중경로 전파 채널(MPC)의 생성을 허용하고, 나아가 다중 채널 에뮬레이터의 사용을 통해 DUT의 움직임(페이딩), 정적 및 동적 간섭 등의 효과를 에뮬레이션하는 MPC들을 가능하게 한다. 이러한 동적 효과들은 시간적으로, 공간적으로, 그리고 이 두 가지를 조합하여 에뮬레이션될 수 있다. 즉, 실시예에 따른 방법들, 노드들, 및 장치는 유효 원거리장 또는 유효 근거리장에서, 및/또는 다중경로 전파 채널을 사용하여 DUT를 테스트할 수 있게 해준다.

도 2b는 측정 환경(20)에서의 DUT(12) 배치의 개략적인 평면도이다. 예를 들어, 측정 환경(20)은 빔(29₁), 예컨대 송신(TX) 빔을 생성하고/하거나, 측정 환경의 링크 안테나 배열(28) 또는 다른 노드들을 사용하도록 적합화된다. DUT(12)는 빔(29₁)과 함께 빔 쌍(31₁)을 형성하는 수신(RX) 빔(29₂)을 형성할 수 있다. DUT(12)의 평가 시에, DUT(12)는 빔(29₂)에 상응하도록 제3 빔인 송신(TX) 빔(29₃)을 형성할 수 있다. 빔(29₃)은 선택적으로 측정 환경(20)의 관련 수신(RX) 빔(29₂)과 제2 빔 쌍을 형성할 수 있다. 빔 대응성은, 예컨대 제140단계에서, 빔들(29₂ 및 29₃)과 관련된 메트릭들을 비교함으로써 평가될 수 있다.

이 예에서 제3 빔(29₃)은 DUT에 의해 생성되지만, 측정 환경에서 행해지는 측정에 의해 평가된다. 예를 들어, DUT는 선택된 빔에 대해 보고하거나, 예컨대 LOCK 명령 하에서 특정 (잠긴) 빔을 유지했다고 보고할 수 있다. 아마도 안테나 테스트 기능(ATF)은 측정 환경에서 값이나 결과를 얻을 수 있는 적당한 값을 제공하는 DUT로 생성된 송신(TX) 빔에 대하여 보고할 어떤 것도 측정할 수 없다. 즉, DUT로 형성된 빔에 대한 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은 측정 환경의 안테나 테스트 기능 및/또는 그 결과에 대한 DUT의 보고에 기초할 수 있다.

도 2c는 측정 환경(ME, 20)과 DUT(12) 사이의 가능한 신호 흐름과 함께 도 2b의 배치를 개략적으로 보여준다. 예를 들어, 무선통신 네트웍의 브로드캐스트 채널을 사용하거나 이를 시뮬레이션하여, 랜덤 액세스 절차가 실행될 수 있다(제202단계). DUT를 연결 모드로 설정하기 위하여, 네트웍 자원에 대한 접근 허용을 나타내는 메시지가 DUT로 전송될 수 있다. 그와 같은 신호는 제204단계에서 RRC(Radio Resource Control) 메시지로 전송될 수 있고, 제206단계에서 그 상응하는 수신확인이 뒤따를 수 있다. 이러한 절차는 페어링으로 지칭될 수 있다. 제208단계에서 DUT는 테스트 모드로 설정될 수 있고, 이는 제210단계에서 DUT에 의해 확인될 수 있다. 제212단계에서 DUT는 빔들, 즉 제2 및/또는 제3 빔을 잠그고 및/또는 유지하도록 지시받을 수 있다. 그때까지 DUT는 생성된 빔 패턴들(RX 및/또는 TX)의 방향을 고려하여 링크 안테나(28)를 따를 수 있다. 고정, 유지, 또는 잠금될 때, i번의 반복(iteration)에서 전력 및/또는 위상 또는 기타 파라미터의 측정(214_i)을 수행할 때 측정 환경(20)과 DUT(12) 간의 이동이 링크 안테나 배열로부터 멀리 가리키는 빔으로 이어지도록, DUT에 대한 빔의 상대적 방향이 잠겨질 수 있다. 여기서, i는 적어도 1이고 예컨대 DUT(12)의 복수의 방향 또는 상대적인 방향에 대해 상이할 수 있다. 측정은 DUT 및 측정 환경에서 수행될 수 있지만, DUT가 그 결과를 보고할 수 있다.

제140단계에서 측정 환경(20)은, 예를 들어, DUT의 ATF(i번째 반복에 대한 수신 패턴을 나타냄) 및 측정 환경(20)(i번째 반복에 대한 DUT의 전송 패턴을 나타냄)에서 측정된 진폭 값 및/또는 위상 값을 비교하여, 빔 대응성 파라미터의 적어도 일부를 결정할 수 있다.

빔(29₃)을 선택하기 위하여, 복수의 후보들(29_2a-29_2d)이 DUT(12)에 의해 검사될 수 있다. 예를 들어, 후보(29_2c)가 빔(29₁)과 함께 전송된 신호의 최상의 수신을 허용할 수 있고, 따라서 DUT는 송신 빔 후보(29_2c)를 예컨대 제206단계에 응답하여 생성될 대응하는 빔으로서 내부 결정을 토대로 선택할 수 있다. 그 후에, 잠기게 될 때, 예컨대 홀더(16)에 의해 야기되는 DUT(12)의 상대적인 움직임은, 제2 빔으로서 선택되는 빔(29_2c)의 방향이 빔(29₁)에 대하여 변하기 때문에, 수신 레벨 또는 파라미터를 변하게 할 수 있다. 아울러, 마찬가지로 잠기는 빔(29_3b) 관련 패턴 및/또는 다른 측정치들이 측정 환경(20)을 사용하여 결정될 수 있다. 이러한 측정치들은 무엇보다도 주파수 (범위), 시간 (슬롯, 슬롯 구조), 코딩, 및/또는 편파 및 위상 중 하나 이상을 포함할 수 있다.

그림 2c는 측정 환경이 브로드캐스트하고 DUT가 RACH로 응답하는 신호 흐름 그래프를 보여주지만, 도 2d는 측정 환경(ME)이 (어떤 이유로든) 예를 들어 브로드캐스트하지 않고 제232단계에서 DUT로부터 전송된 신호에 의해 깨어나서 즉 활성화되어 제234단계에서 브로드캐스트하게 되는 시나리오를 보여준다. DUT는 제236단계에서 랜덤 액세스를 구현한다. DUT를 연결 모드로 설정하기 위하여, 네트웍 자원에 대한 접근 허용을 나타내는 메시지가 DUT로 전송될 수 있다. 그와 같은 신호는 제238단계에서 RRC(Radio Resource Control) 메시지로 전송될 수 있고, 제242단계에서 그 상응하는 수신확인이 뒤따를 수 있다. 제244단계에서 DUT는 테스트 모드로 설정될 수 있고, 이는 제246단계에서 DUT에 의해 확인될 수 있다. 제248단계에서 DUT는 빔들, 즉 특정 수신(RX) 빔 및 연관된 송신(TX) 빔을 잠그고 및/또는 유지하도록 지시받을 수 있다. 측정(252i)은, 이 절차가 제234단계 내지 제252_i단계를 대응하는 단계들인 제202단계 내지 제214_i단계로서 적어도 부분적으로 포함할 수 있도록, 수행될 수 있다. 제252_i단계 이후에는, 제140단계가 실행될 수 있다.

도 3은 버키볼 구조(30)의 개략적 도시를 보여준다. 이와 같은 버키볼 구조는 각 꼭지점이 인접한 꼭지점들로부터(예컨대, 3개의 이웃점에 대하여) 동일한 거리만큼 이격되어 있고 구면에 가까운 표면을 가지는 기하학적 몸체로 된 구조로 간주될 수 있다. 도 3은 60개의 노드들을 갖는 버키볼 구조의 개략적 도시를 보여준다. 앞서 언급한 선행기술문헌 중 특허문헌 1 내지 비특허문헌 4는 측정 지점의 분포가 논의되는 무선 테스트 및 측정 시스템의 예들을 제공한다. 본 명세서에서 설명하는 실시예들에서 사용되는 버키볼 구조는 비특허문헌 1에 언급되어 있고, 그 특성에 대한 보다 구체적인 설명은 비특허문헌 3과 4에 제시되어 있다.

도 2를 다시 참조하면, DUT의 성능을 테스트하고 측정하기 위하여, 구성 가능하고 조정 가능한 테스트 환경을 제공하여, 다양한 그리고 복수의 적합한 자극을 제공한다. 본 명세서에 기재된 실시예들에 의해 다루고자 하는 추가적인 문제는 하나 및 하나 이상의 빔들 세트에 대한 빔 대응성, 즉 다중 빔 대응성의 측정이다.

다시 말해서, 도 3은 60개의 노드가 버키볼이라고도 하는 잘린 정이십면체의 꼭지점들을 형성하는 측정 프로브들의 3차원 배열의 예를 보여준다. 도 3에 도시된 형태는 DUT가 그 중심(32)에 배치되는 가상 구의 구면에 걸쳐 측정 프로브를 균일하게 분포시키는 이점을 제공한다. 구조의 부분적 기계적 회전 또는 흔들림으로 공간적 오버샘플링을 수행할 수 있다. 대안으로서, 구현하고자 하는 전체 버키볼 구조 내지 전체 구에 대하여, 이 구의 일부 세그먼트가, 예컨대 반구가, 버키볼의 일부에 의해 형성될 수 있으며 측정 설정에 사용될 수 있다.

버키볼은 중심 주위의 일정한 반경의 구면에 노드들이 분포하여 일정한 꼭지점 기준을 충족하는 한 가지 특정 예이다. 그렇지만 본 명세서에서 설명하는 실시예들은 버키볼 구성에 한정되지 않으며, 예컨대 하나 이상의 고정 회전축을 따른 등각 노드 분포와 같은 다른 노드 분포 방식에 따라 노드들이 배열될 수도 있다.

버키볼의 임의의 노드는 송신기, 수신기, 송수신기 및/또는 이들의 조합으로 사용될 수 있다. 즉, 노드들은 다양한 용도로 사용/배치될 수 있다. 예를 들어, 노드들 중 특정 몫, 예컨대 1/4, 1/2, 1/3 등, 예컨대 30개가 송신에 사용될 수 있고 나머지 노드들(즉, 그 몫, 예컨대 30개)은 수신에 사용될 수 있다. 다른 예에서는, 60개의 노드가 수신에 사용될 수 있고 15개의 노드가 송신에 사용될 수 있다. 또 다른 예에서는, 30개의 노드가 수신에 사용될 수 있고 15개의 노드가 송신에 사용될 수 있다. 그렇지만 수신, 송신, 및/또는 송수신 동작에 대하여 임의의 수의 노드가 구현될 수 있고, 임의의 노드가 개별적으로 구성될 수 있다.

도 4a는 측정 환경(20) 및/또는 버키볼 구조(30)에서 노드(14)로서 사용될 수 있는 노드(40a)의 개략적인 블록도이다. 스위치(34)는 송신 모드와 수신 사이에서 노드(40a)를 스위칭하는데 사용될 수 있으며, 송신 증폭기(36) 및 수신 증폭기(38)는 안테나 부분(ANT, 48)에 연결된 안테나로 송신될 송신 신호(42)를 증폭하기 위해 사용될 수 있고, 수신 신호(44)를 획득할 수 있도록 안테나(46)로 수신된 신호를 증폭하기 위해 사용될 수 있다. 제어 신호(CTRL, 52)는 그 동작 상태 내지 스위칭 상태의 관점에서 스위치(34)를 제어하기 위해 사용될 수 있다.

다시 말해서, 도 4a는 송신 신호를 송신기를 통해 안테나로 라우팅하거나, 대안으로서 안테나로부터의 수신 신호를 수신기를 통해 라우팅하는데 사용되는 스위치의 개략적인 블록도를 보여준다.

도 4b는 측정 환경(20)의 하나 이상의 노드(14₁-14₇) 및/또는 버키볼 구조(30)의 노드를 구현할 수 있는 노드(40b)의 개략적인 블록도이다. 노드(40a)와 비교할 때, 스위치(34)는 공통 연결(common connection)로 대체되고, 제어 신호(52)는 실제 요구사항에 기초하여, 예컨대 신호 송신 또는 신호 수신에 관한 요구사항에 기초하여, 송신 증폭기(36) 및 수신 증폭기(38)를 제어하는데 사용될 수 있다. 예를 들어, 증폭기들(36, 38) 중 하나만 한 시점에서 동작가능하도록/활성화되도록 제어될 수 있다.

도 4c는 측정 환경(20) 및/또는 버키볼 구조(30)에서 노드(14)로서 사용될 수 있는 노드(40c)의 개략적인 블록도이다. 노드(40a)와 비교할 때, 노드(40c)는 두 개의 스위치들(34₁, 34₂)를 포함하며, 이 스위치들(34₁, 34₂)은, 송신 스위치 및 수신 스위치로 칭해질 수 있도록, 송신/수신 모드의 관점에서 제어 신호(52)를 토대로 제어될 수 있다. 노드(40c)는 노드들(40a, 40b)과 비교할 때 공통 입력/출력을 포함하는 송수신 포트(54)를 포함한다. 제어 신호(52)에 따라서, 송수신 포트가 송신 증폭기(36)에 연결될 때 그리고 안테나(46)를 송신 증폭기(36)와 연결함으로써 송신 경로가 제공될 수 있다. 다른 동작 모드에서는, 송수신 포트(54) 및 안테나(46)가 모두 제어 신호(52)에 따라서 수신 증폭기(38)에 연결될 수 있다.

다시 말해서 도 4c는, 무선 송신기 및 수신기의 입력 및 출력 모두에서 스위치에 공통 연결이 사용되는, 도 4a의 수정된 형태를 보여준다.

도 4d는 측정 환경(20) 및/또는 버키볼 구조(30)의 하나 이상의 노드(14)를 구현할 수 있는 노드(40d)의 개략적인 블록도이다. 노드(40b)와 비교할 때, 노드(40d)는 노드(40c)와 관련하여 설명한 바와 같은 공통 송수신 포트(54)를 포함한다.

다시 말해서, 도 4d는 무선 송신기의 입력측과 무선 수신기의 출력측에서 하나의 공통 연결이 사용되는 도 4b 및 도 4c의 확장된 형태를 보여준다. 두 번째 공통 연결은 무선 송신기의 출력측과 무선 수신기의 입력측에서 사용된다. 무선 회로는 심플렉스 방식으로(한 시점에서 하나의 장치만 작동되도록) 제어된다.

도 5a는 측정 시스템(20) 및/또는 버키볼 구조(30)의 노드를 구현할 수 있는 노드(50a)의 개략적인 블록도이다. 노드(50a)는 송신 노드로 간주될 수 있고 송신기(56)를 포함할 수 있는데, 이 송신기(56)에는 수신 신호(42)가 공급될 수 있고 송신기(56)는 제어 신호(58)에 의해 제어될 수 있다. 추가적인 전력 신호(PWR, 62)가 전력 공급을 위해 사용될 수 있다. 다시 말해서, 그림 5a는 송신 목적으로만 사용되는 버키볼의 예시적인 노드의 개략적인 블록도를 보여준다. 노드는 적어도 하나의 송신기와 안테나를 포함한다.

도 5b는 수신기 노드로 적합화되는 노드(50b)의 개략적인 블록도이다. 노드(50a)와 비교할 때, 노드(50b)는 안테나(46)에 연결되고 수신 신호(44)를 제공할 수 있도록 수신 제어 신호(64)의 사용을 통해 제어가능한 수신기(62)를 포함한다. 즉, 노드(50b)는 송신기 대신 수신기로서 노드(50a)에. 대한 상보적 회로가 된다. 즉, 도 5b는 수신용으로만 사용되는 버키볼의 한 노드를 나타내는 예이다. 노드는 적어도 하나의 수신기와 안테나를 포함한다.

도 5c는, 송수신기 제어 신호(68)를 사용하여 제어가능한 송수신기(TRx, 66)를 포함함으로써, 노드(50a)의 송신기 기능과 노드(50b)의 수신기 기능을 결합한 노드(50c)의 개략적인 블록도이다. 예컨대 반이중 또는 전이중의 동작 모드에 따라서, 송수신기(66)는 안테나(46)를 사용하여 신호(42, 44)를 수신 및/또는 제공할 수 있다. 즉, 도 5c는 신호 송신 또는 수신 목적 중 어느 하나에 사용되는 버키볼의 한 노드의 일 예를 보여준다. 노드(50c)는 적어도 하나의 송수신기와 안테나를 포함한다.

노드(50a, 50b, 50c 및 50d)에 대해 설명된 바와 같이, 노드(50a, 50b 및/또는 50c)도 측정 환경(20) 및/또는 버키볼 구조(30)의 노드로서 사용될 수 있다. 노드의 노드는 동일하거나 상이하게 형성될 수 있다. 측정 환경(20)에도 적용되는 버키볼 구조(30)와 관련하여 설명한 바와 같이, 버키볼 구조(30)의 노드들은 동일하게 또는 상이하게 형성될 수 있다.

도 5d는 일 실시예에 따른 노드(50d)의 개략적인 블록도이다. 노드(50d)는 유선 신호 예컨대 신호(42 및/또는 44)를 교환하도록 구성된 인터페이스(72)를 포함한다. 유선 신호(42 및/또는 44)는 유선, 즉, 도전성 물질을 사용하여 전달되거나 통신이 이루어질 수 있는 전기적 신호와 관련되어 있다. 대안으로서, 신호(42 및/또는 44)는 예컨대 광섬유를 사용하여 통신이 이루어지는 광 신호와 같이 다른 의미로 유선일 수 있다. 여기서 두 개념이 결합될 수 있어서, 예컨대 신호들(42, 44) 중 하나는 전기 신호이고 다른 하나는 광 신호일 수 있다.

노드(50d)는 복수의 안테나 소자들(74₁-74_N), 즉 안테나들을 포함하는 안테나 배열(74)을 포함한다. 예를 들어, 안테나 배열(74)은 2, 4, 8 또는 16개의 안테나들을 포함할 수 있으며, 여기서 안테나 개수는 16의 약수나 짝수 또는 2의 거듭제곱으로 제한되지 않으며 예컨대 5, 7 또는 25가 될 수도 있다.

노드(50d)는 수신-빔포밍 및 송신-빔포밍 중 적어도 하나를 위해 구성된다. 예를 들어, 노드(50d)는 송신-빔포밍을 허용하지 않으면서 수신-빔포밍을 허용하도록 구현된다. 대안으로서, 노드(50d)는 수신-빔포밍을 허용하지 않으면서 송신-빔포밍을 허용할 수 있다. 대안으로서 그리고 바람직하게는, 노드(50d)는 송신-빔포밍 및 수신-빔포밍을 허용하도록 적합화된다. 수신-빔포밍의 경우, 노드는 수신-빔포밍을 사용하여 신호(76)를 수신하도록 안테나 장치(74)로 수신되는 무선신호(76)에 기초하여 유선 신호(42)를 제공하도록 구성된다. 송신-빔포밍의 경우, 노드(50d)는 신호(44)를 수신하고 송신-빔포밍을 사용하여 안테나 장치(74)에 의해 무선신호(78)를 송신하도록 구성된다. 신호(42)는 수신될 수 있고 신호(42)는 인터페이스(72)에 제공될 수 있는데, 상기 인터페이스(72)는 두 신호에 대한 공동 인터페이스를 형성할 수 있지만, 또한 예컨대 두 개의 별도 인터페이스를 구현함으로써 신호를 물리적으로 분리할 수 있다.

노드(50d)는 송수신기(66)와 유사하거나 동일하게 구현될 수 있는 송수신기(82)를 포함한다. 제어 신호(84)를 사용하여, 송수신기(82)와, 안테나 장치(74)의 안테나 소자들(74₁-74_N) 및 송수신기(82)에 연결된 어레이 유닛(86)을 제어할 수 있다. 즉, 송수신기(82)는 어레이 유닛(86)에 신호를 제공하고/하거나 어레이 유닛(86)으로부터 신호를 수신할 수 있으며, 여기서 어레이 유닛(86)은 빔포밍을 구현할 수 있도록 각각의 송신 또는 수신 체인들에 빔포밍 가중치를 구현할 수 있다. 예를 들어, 어레이 유닛(86)은 마찬가지로 제어 신호(84)에 의해 제어되는 빔포밍 네트웍 등을 포함할 수 있다.

안테나 소자들(74₁-74_N)이 개별 안테나인 것처럼 도시되어 있지만, 안테나 그룹이 어레이 유닛에 공통 또는 공동으로 연결되어 공동 안테나를 형성하는 실시예를 배제하거나 금지하는 것은 아니다.

노드(50d)는 제어 명령, 예컨대 제어 신호(84)로 수신되는 제어 명령을 실행하여, 안테나 배열(74)을 수신 모드로, 송신 모드로, 또는 전이중 모드로 사용하도록 구성될 수 있다.

제어 신호(84)는 제어 신호(84)를 수신하기 위한 제어 인터페이스를 사용하여 노드(50d)에서 수신될 수 있다. 예를 들어, 이러한 신호는 외부 제어 유닛, 예컨대 측정 환경(20)의 제어 유닛 등으로부터 수신될 수 있고, 수신-빔포밍을 위한 수신 모드 및/또는 송신-빔포밍을 위한 송신 모드에서 노드(50d)를 제어하기 위한 명령을 나타낼 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 노드(50d)는 수신-빔포밍을 위한 수신 모드 및/또는 송신-빔포밍을 위한 천이 모드에서 노드(50d)를 제어하기 위한 제어 유닛을 포함할 수 있다. 즉, 제어 신호(84)는 내부적으로 생성 및/또는 제공될 수도 있다.

어레이 유닛(86)을 다시 살펴보면, 어레이 유닛(86)은, 노드(50d)가 어레이 유닛으로 상이한 빔 패턴(수신 및/또는 송신 빔 패턴)을 생성할 수 있도록, 안테나 배열(74)을 제어하게끔 구성될 수 있다. 특히, 노드는 상이한 빔 패턴을 가변적으로 생성하도록 어레이 유닛(86)을 제어하게끔 구성될 수 있다.

안테나 소자들(74₁-74_N)은 무선신호를 수신할 때 및/또는 무선신호를 송신할 때 유사한 안테나 특성을 가질 수 있다. 유사한 안테나 특성과 관련하여, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 안테나 특성이 예컨대 ±15%, ±10%, 또는 ±5%의 허용오차 범위 내에서 동일하다고 할 수 있고, 여기서 안테나 특성이란 예컨대 단일 안테나 소자의 복사 패턴, 편파, 위상 편이, 및/또는 상호성을 포함할 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.

일 실시예에 따르면, 안테나 소자들(74₁-74_N)은 정의된 메트릭 만큼, 즉 제조 허용 오차를 초과하는 설계 파라미터 만큼 동일하거나 같은 특성에서 벗어날 수도 있다. 예를 들어, 노드가 주어진 이득, 빔폭 등을 갖는 단일 안테나를 포함하는 경우에, 복수의 안테나 소자들을 배치/구성하여 유사한 이득, 빔폭 등을 갖는 어레이를 형성할 수 있다. 예를 들어, 그와 같은 메트릭은 측정 환경 등에 대한 적합화를 허용할 수 있다.

또한, 노드(50d)는, 편차와 관련하여 정의된 메트릭을 고려하거나 고려하지 않고서, 적어도 하나의 특성에 대하여 안테나 소자들(74₁-74_N) 간의 편차들을 보상하도록 구성될 수 있다. 즉, 그러한 메트릭의 요건을 넘어서서, 예컨대 미세조정, 적합화, 및/또는 보정 등의 보정 방법이 사용될 수 있다. 안테나 조합을 사용할 때도 유사한 고려 사항이 적용된다. 예를 들어, 노드(50d)는 다중안테나 배열, 즉 각각이 RX 목적 및/또는 TX 목적에 적합화되어 있고 각각이 독립적인 빔포밍 및/또는 공동 빔포밍을 위해 구성된 다중안테나 배열을 포함할 수 있다.

실시예들은 본 명세서에 설명하는 방법을 구현하기 위해 적합화된 측정 환경에 관련된다. 추가적인 실시예들은, 노드(50d)에 대해 설명한 바와 같이 적합화된 적어도 하나의 또는 바람직하게는 복수의 노드를 갖는 측정 환경에 관련된다. 그와 같은 측정 환경은 적어도 버키볼 구조의 일부로서, 예컨대 버키볼 구조(30)의 일부로서 배치되는 노드들을 포함할 수 있고, 여기서 상이한 개수의 노드들이 사용될 수 있다.

측정 환경은 복수의 노드들의 회전 운동 및/또는 DUT를 기준으로 한 병진 이동을 구현하도록 구성될 수 있다.

측정 환경은, 위에서 설명된 바와 같이, 가상 안테나, 물리적 링크 안테나, 및/또는 이들의 조합으로서 구현되는 링크 안테나 배열을 포함할 수 있다. 가상 안테나 배열로서 형성되는 링크 안테나 배열은 측정 환경의 적어도 하나의 노드에 의해 구현될 수 있으며, 다시 말해서 각각의 노드는 링크 안테나가 동작하리라고 DUT가 예상하는 대로 동작(신호 수신 및/또는 송신)할 수 있다. 이러한 측정 환경은 본 명세서 상의 설명에 따른 방법을 실행하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 측정 환경은 측정 환경(20)에 대해 설명된 바와 같이 복수의 노드를 갖는다. 측정 환경(20)은, 각 노드가 송신 및/또는 수신 목적에 적합화될 수 있도록, 예컨대 노드(40a-40d, 50a-50d) 중 하나로 적합화되도록 구현될 수 있다. 즉, 각 노드는 측정 절차 내에서 DUT로부터 신호를 수신하고/하거나 DUT로 신호를 송신하도록 구성된다. 측정 환경은, 하나의 노드 또는 복수의 노드들에 의해 공동으로 또는 개별적으로 시뮬레이션될 수 있는 위치, 편파, 가시선(LoS) 시나리오, 비-가시선 시나리오, 다중경로 전파 시나리오 등과 같은, 측정 환경 내 링크 안테나의 파라미터들을 자유롭게 조정할 수 있게 해주는 복수의 노드들을 사용하여 가상 링크 안테나 배열을 구현하도록 적합화된다. 이와 같은 측정 환경은 노드들을 사용하여 테스트되는 DUT와 쌍을 이루는데 사용되는 물리적 또는 전용 링크 안테나 없이 구현될 수 있다. 그러나 이는 다른 DUT에 대한 링크 안테나를 구비하는 것을 배제하지 않는다.

다시 말해서, 노드들에서는 하나 이상의 안테나가 송신 또는 수신 또는 둘 다의 목적으로 사용될 수 있다. 이들 노드들과 관련하여, 안테나들의 위치 및/또는 방향은 유사하거나 유사하지 않을 수 있다. 마찬가지로, 그와 같은 안테나 위치 및 방향이 노드들 간에 다를 수도 있다. 이들 안테나들은 송신기, 수신기, 송수신기 또는 이들의 조합에 연결될 수 있다. 아울러, 하나 이상의 노드에 복수의 안테나가 있는 경우에는, 이들 안테나들이 예컨대 도 5d와 관련하여 설명한 바와 같이 송신 및/또는 수신을 위한 안테나 어레이를 형성하도록 배열될 수 있는데, 이 선택된 예에서 무선 노드는 송신 및/또는 수신 목적으로 구성되고 안테나 어레이를 형성하도록 배열될 수 있는 복수의 안테나들이 장착되어 있다. 일 실시예에서, 노드(50d)는 송신 또는 수신 목적을 위해 구성된다. 송신 및/또는 수신에 사용될 때 상기 안테나들의 특성(예컨대, 안테나 복사 패턴, 방향, 위상 중심 및 방향, 편파, 궤도 각운동량 등)은 유사할 수 있다. 이상적으로는, 패턴 상호성을 포함하여 송신 및 수신 속성은 적어도 허용오차 범위 내에서 동일할 수 있다. 정의된 메트릭에 따라서 이상적인 조건에서 벗어나는 것이 용인될 수 있다. 각 노드와 관련하여, 송신, 수신, 또는 둘 다 가능한 회로가 사용될 수 있다. 이 회로는 측정 환경에서 노드에 위치할 수도 있고(분산 배치의 의미상), 노드에서 멀리 이격된 곳에 위치할 수도 있다(중앙집중식 배치의 의미상). 분산 배치와 및 중앙집중식 배치의의 조합도 실시예에 따라 가능하다. 버키볼 구조, 즉 노드 배열은, 예컨대 공간 샘플링을 개선하고, 보상 파라미터를 결정하고, DUT의 복사 기준점을 식별/추정/국소화/계산하기 위하여, 그 중심에 대하여 하나 이상의 방향으로 기계적으로 회전 및/또는 병진 이동할 수 있다.

이하에서는, 일 실시예에 따른 측정 환경에 의해 구현될 수 있는 일 실시예에 따른 빔 대응성 파라미터를 결정하는 방법을 구체적으로 설명한다.

다시 도 1을 참조하면, 상기 방법은 위에서 설명한 바와 같이 물리적 링크 안테나, 가상 링크 안테나, 또는 이들의 조합으로서 실현될 수 있는 측정 환경의 링크 안테나 배열을 사용하는 것을 포함하도록 실행될 수 있다. 예를 들어, DUT와의 페어링은 링크 안테나 배열을 사용하여 달성될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 링크 안테나 배열은 상이한 신호들을 송신 및/또는 수신하기 위해 사용될 수 있다. 링크 안테나 배열은 무선신호를 수신할 때 그리고 무선신호를 송신할 때 유사한 안테나 특성을 포함할 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 가상 링크 안테나는 예컨대 테스트 방법 요구사항 등에 의해 정의될 수 있는 물리적 링크 안테나와 비교할 때 송신 및/또는 수신의 관점에서 유사한 특성을 가질 수 있다. 링크 안테나 배열의 유사한 특성은 예컨대 상호성, 복사 패턴/특성, 수신 패턴/특성, 및/또는 편파를 포함하는 특성에 있어 ±15%, ±10%, 또는 ±5%의 허용오차 범위 내에서 동일한 것으로 이해될 수 있다.

그렇지만 링크 안테나 배열은, 유사한 안테나 특성을 가진다 할지라도, 유사한 특성을 포함하는 것으로 정의된 메트릭만큼 동일한 특성에서 벗어날 수 있다. 즉, 링크 안테나 배열은, 노드(50d)에 대하여 설명한 바와 같이, 단일 안테나 요소 내에서 변할 수 있다.

가상 링크 안테나의 안테나 특성은 대체된 물리적 링크 안테나와 정의된 메트릭만큼 다를 수 있다. 비-가상의, 즉 물리적 링크 안테나와 가상 링크 안테나의 특성을 비교하여 둘간의 유사성을 평가할 수 있다. 그와 같은 특성들의 예로는 이득, 빔 폭, 제1 사이드 로브 레벨, 교차 극성 비율 등이 있다. 서로의 차이 내지 편차의 척도는 각각의 메트릭으로 간주될 수 있다. 다시 말해서, 본 발명의 실시예들은 전용의, 별도의, 물리적 또는 독립적 링크 안테나를 가상 링크 안테나, 즉 측정 환경의 가용 노드들을 사용하여 구성되는 가상 링크 안테나로 대체하는 것에 관련된다.

안테나 특성의 적어도 하나의 특성 내에서의 편차들의 보상과 관련하여, 물리적 링크 안테나와 가상 링크 안테나 간의 편차들은 해당 편차들과 관련하여 정의된 메트릭을 고려하거나 고려함이 없이 보상될 수 있다. 예를 들어, 비가상 링크 안테나와 가상 링크 안테나 사이에 이득 차이가 있는 경우, 이러한 이득 차이는 알 수 있고 보상할 수 있다.

측정 환경과 관련하여 몇 가지 세부 사항을 설명한 후에, 이제 실시예에 따른 방법과 관련하여 추가적인 세부 사항들을 설명한다. 위에서 설명한 바와 같이, DUT는 방법(100)에서 송신 빔 또는 수신 빔인 측정 환경의 제1 빔과 빔 쌍을 형성할 수 있도록 제2 빔을 생성하게 된다.

빔 쌍은 단방향 링크, 예컨대 측정 환경과의 업링크 연결 또는 다운링크 연결을 제공할 수 있지만 양방향 링크의 적어도 일부를 형성할 수도 있다. 예를 들어, DUT는 적어도 하나의 추가 빔 쌍의 적어도 하나의 추가 빔을 생성하도록 야기될 수 있어서, 적어도 2개의 업링크 연결 및/또는 적어도 2개의 다운링크 연결을 가지도록 허용될 수 있지만, 특히 이들의 조합도 허용될 수 있으며 따라서 양방향 통신이 허용될 수 있다. 그렇지만, DUT가 유지해야 하는 빔 쌍의 수는 2에 한정되지 않으며, 예컨대 3, 4, 5, 또는 그 이상이 될 수도 있다.

빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은 DUT의 내부 파라미터의 사용을 포함할 수 있다. 상기 내부 파라미터는 수신기 링크의 성능 평가를 허용하는 DUT 내부의 임의의 값일 수 있다. 예를 들어 DUT에 여러 안테나 포트가 있는 경우, 빔 대응성 파라미터와 관련된 피드백은 최대 비율 결합(MRC: Maximum ratio combining), 또는 DUT에 적용되며 예컨대 구현예에 따라 달라질 수 있는 다른 디지털 신호 처리를 포함할 수 있다.

도 6은 DUT의 내부 파라미터를 사용하기 위해 실행될 수 있고, 따라서 빔 대응성 파라미터의 결정 과정의 적어도 일부로서, 예컨대 제140단계의 일부로서 실행될 수 있는, 방법(600)의 개략적인 흐름도이다. 제610단계는, 예컨대 측정 환경을 사용하거나 DUT의 수신 신호의 진폭을 표시할 수 있는 DUT의 보고를 사용하여, DUT의 안테나 테스트 기능을 평가하는 것을 포함한다. 제620단계는 안테나 테스트 기능에 기초하여 제2 빔 및 제3 빔의 쌍에 대한 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것을 포함한다. 위에서 언급한 바와 같이, UE 내부로부터의 모든 값은 수신기 링크의 성능을 평가할 수 있게 해주는 안테나 테스트 기능으로 사용될 수 있다. 즉, DUT에 의해 선택된 빔이 측정 환경의 빔에 얼마나 잘 맞는지를 정량화하거나 정성적으로 평가할 수 있게 해주는 척도가 결정될 수 있다.

예를 들어, 측정 환경 및/또는 DUT는 (예컨대, 진폭에 추가하여) 위상을 측정할 수 있다. 예를 들어, 측정 환경은 빔의 방사를 제어하는 관점에서 진폭과 위상이 제어될 수 있는 신호/빔을 생성하도록 적합화될 수 있고, 신호 수신에 의해 이루어지는 관찰의 관점에서 신호/빔의 진폭과 위상을 측정할 수 있다.

도 7은 일 실시예에 따른 방법(700)의 개략적인 흐름도로서, 도 7에 도시된 방법(700)은 도 6의 방법(600)에 추가하여 또는 그 대안으로서 실행될 수 있고, 빔 대응성 파라미터를 결정하기 위해, 예컨대 제140단계를 추가로 정의하기 위해, 선택적으로 실행될 수 있는 것이다. 제710단계는 제2 빔과 제3 빔 중 적어도 하나, 예컨대 수신 빔 및/또는 송신 빔을 잠그도록 DUT에 지시하거나, DUT로 하여금 각각의 빔을 유지하게 하는 것을 포함한다. 빔을 잠그거나 유지하는 것은 빔의 적어도 하나의 특성, 예컨대 하나 이상의 로브의 상대적 방향/공간 특성, 편파, 위상, 주파수, 사용된 코드, 심볼 등을 일정하게 유지하는 것과 관련될 수 있다. 따라서 빔을 유지하는 것은 메인 로브, 사이드 로브, 및/또는 한쪽에 대한 널(null) 및/또는 다른 링크 안테나 중 하나 이상의 이득, 전력, 모양, 편파, 위상, 코드 등의 고정 속성을 가진 적응형 빔을 포함할 수 있다. 즉, 실시예들은 전체 빔(수신 빔 및/또는 송신 빔)을 고정/유지하거나 메인 로브, 사이드 로브, 또는 널의 방향/공간 속성과 같은 속성들을 고정/유지하는 것에 관련된다. 이것은 또한 UE가 측정 환경 또는 링크 안테나 또는 기지국에 대한 상대 위치에 있어서 동적으로 변경되는 동안 기지국 또는 측정 환경에 대한 링크를 "추적"하는 것과 같은 동적 성능을 판단/평가하는 것을 허용할 수 있다.

예를 들어, DUT에 제2 빔을 잠그도록 지시할 때, 측정 환경의 노드들은 DUT에 대해 움직일 수 있으며, 노드들과 빔 사이의 상이한 상대 위치를 허용하여, 측정에 있어서 높은 공간 분해능을 제공할 수 있다. DUT로 하여금 제2 빔을 유지하게 할 때, 즉 하나 이상의 로브 및/또는 널의 송신 및/또는 수신 방향을 일정하게 유지하게 할 때에도, 유사한 결과가 얻어질 수 있다. 제720단계는, DUT와 측정 환경 사이의 복수의 상대 위치에 대하여, 예컨대 노드들에 대하여 DUT를 회전시키거나 DUT에 대하여 노드들을 회전시킴으로써, 측정 환경 및/또는 DUT를 사용해서 제2 빔 및/또는 제3 빔과 관련된 측정값을 결정하는 것을 포함한다.

즉, 빔 쌍은 송신 빔과 수신 빔을 포함하고 측정 환경 및 DUT에 의해 공동으로 생성되는 반면, DUT는 해당 대응성이 평가되어야 하는 두 개의 빔을 생성한다. 즉, DUT가 빔 쌍의 일부를 형성하는 빔 세트를 생성하지만, 이 생성은 관련 송신 빔 및/또는 수신 빔을 제공하는 측정 환경과의 협력/상호작용을 토대로 그리고 응답으로서 이루어지는 것이다. 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은 제2 빔에 관련된 메트릭 과 제3 빔에 관련된 메트릭을, 예컨대 송신 전력 및 수신 전력 또는 임의의 다른 적절한 측정치를 비교하는 것을 포함할 수 있다. 그와 같은 메트릭 또는 측정치를 결정하면, 안테나 테스트 기능(ATF) 및/또는 빔 잠금 명령에 접근하거나 접근하지 않고서 빔 대응성 평가가 이루어질 수 있다. 예를 들어, 측정 환경은 전자적 신호를 사용해서, 예컨대 전자식 마커를 사용하여 빔들을 식별할 수 있다.

선택적인 페어링은 가상 링크 안테나. 또는 비가상 안테나 즉 물리적 링크 안테나, 또는 이들의 조합, 즉 측정 환경의 하나 이상의 노드들과 결합된 물리적 링크 안테나를 사용하여 실행될 수 있다. 선택적인 페어링은 신호 교환에 있어 전자식 마커의 사용을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자식 마커는 동기화 블록 신호(SSB), 채널 상태 정보 참조 신호(CSI-RS), 및/또는 사운딩 참조 신호(SRS) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.

주어진 예에서, DUT는 측정 환경의 송신(TX) 빔에 응답하여 형성되는 수신(RX) 빔에 기초하여 송신(TX) 빔을 생성하도록 야기될 수 있다. 대안으로서, DUT가 측정 환경을 향하는 송신(TX) 빔을 생성하고 수신(RX) 빔 패턴을 생성하기 위한 응답을 기다릴 수 있다. 두 경우 모두, DUT의 송신(TX) 빔과 관련된 메트릭은 측정 환경의 물리적 또는 가상 링크 안테나에서, 예컨대 빔 쌍의 송신(TX) 빔에 관한 결과를 결정하기 위해서, 측정될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, DUT가 수신(RX) 빔을 생성할 수 있고, 메트릭은 DUT에서, 예컨대 DUT의 안테나 테스트 기능에서, 즉 DUT 내부에서 임의의 적합한 측정결과를 사용하여 측정될 수 있다. 예를 들어, DUT에서 수신(RX) 및 송신(TX) 빔을 잠긴 상태로 유지하고 패턴 또는 링크 성능이 평가되는 방식으로 측정결과를 비교하면서, 측정 환경을 예컨대 구좌표계 관점에서 두 방향으로 사용함으로써, 잘 조직화된(orchestrated) 측정을 실행할 수 있다.

빔 대응성의 평가, 즉 측정은 특정 안테나 테스트 기능을 평가하거나 평가하지 않고서 그리고/또는 빔 잠금 명령을 사용하여 행해질 수 있다. 위에서 설명한 바와 같이, 빔 잠금 명령은 전체 빔 패턴 또는 그 일부가, 예컨대 널, 메인 로브, 사이드 로브 등의 공간적 특정이 잠기게 할 수 있다. 예를 들어, 측정 환경은 전자 신호/마커를 사용하여 빔들을 식별하도록 구성될 수 있으며, 생성되는 빔들이 수신 중에 분리될 수 있으므로 그와 같은 정보는 두 방향에서 잘 조직화된 측정의 기초를 형성할 수 있다.

메트릭은 빔의 공간적 특성과 관련이 있을 수 있다. 즉, DUT에 의해 선택된 빔이 최적 또는 적합한 빔이고 올바른 적응을 가리키는지 평가될 수 있다.

대안으로서 또는 추가적으로, 메트릭은 방향당 측정치 및/또는 누적 분포 함수(CDF)와 같이 복수의 또는 모든 방향에 걸쳐 누적된 측정치 중 적어도 하나와 관련될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 메트릭은 주파수당 측정치 및/또는 하나 이상의 캐리어, 서브-캐리어 등과 같은 미리 정의된 대역폭에 걸쳐 누적된 측정치에 관련될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, 메트릭은 편파당 측정 및/또는 직교성 편파들에 걸쳐 누적된 측정과 관련될 수 있다.

대안으로서 또는 추가적으로, 메트릭은 하나 이상의 빔들의 변화하는 및/또는 일정한 특성, 예컨대 제2 및/또는 제3 빔의 공간적 특성; 빔 패턴의 적어도 일부의 이득 값; 빔 패턴의 적어도 일부의 파워 값; 빔 패턴의 적어도 일부의 편파; 상기 빔 패턴의 적어도 일부의 위상 편이를 포함하는 위상; 빔 패턴의 적어도 일부의 형태; 및/또는 빔 패턴의 적어도 일부에서 사용되는 코드와 관련될 수 있다.

일 실시예에 따른 방법을 수행할 때, DUT는 테스트 인스턴스 동안에 제1 빔 쌍의 빔과 제2 빔 쌍의 빔을 동시에 유지하도록 야기될 수 있다. 이와 같은 동시 유지는 동일한 시간 인스턴스와 관련될 수 있지만, 서로 상이하지만 관련이 있는 시간 인스턴스에 관련될 수도 있다. 예컨대 주파수분할 이중화(FDD) 또는 코드분할 이중화(CDM) 방식 등을 사용할 때에는, 동일한 시간 인스턴스와 관련될 수 있지만, 예컨대 시분할 이중화(TDD) 방식에서는 시간 프레임의 다른 슬롯들과 관련될 수 있다. 예를 들어, 반드시 그런 것은 아니지만, 제1 빔 쌍과 제2 빔 쌍은 측정 환경의 서로 다른 링크 안테나 배열의 사용에 응답하여 생성된다. 즉, DUT는 상이한 방향으로 또는 상이한 타겟을 향해 통신할 수 있으며, 이는 앞에서 설명한 실시예들에서와 같이 가상 링크 안테나를 사용함으로써 유리하게 가능하다. 이와 같은 구성은 예를 들어 UE가 둘 이상의 기지국과 연결되거나 이를 인식하고 있는 다중 기지국 시나리오를 시뮬레이션할 수 있도록 해줄 수 있고, (가시권 또는 비가시권의) 2개의 기지국을 향하여 빔 쌍의 적어도 일부를 형성하고/하거나 그와 같은 타겟들 중 적어도 하나의 위치에서 간섭을 피할 수 있도록 적합화될 수 있다. 예를 들어, 두 개의 링크 안테나가 이러한 테스트를 허용하는 측정 환경에 배치되거나 구현될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, DUT는 예컨대 단일 기지국 시나리오에서 동일한 타겟을 향하여 또 하나의 빔 쌍을 유지할 수 있다. 제1 빔 쌍 과 제2 빔 쌍이 모두 각각의 업링크 연결의 일부일 수 있거나, 각각의 다운링크 연결의 일부를 형성할 수 있거나, 대안으로서, 이들 중 하나는 업링크 연결의 일부를 형성하고 다른 하나는 다운링크 연결의 일부를 형성할 수 있다.

빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은 측정 절차를 활성화하는 것을 포함할 수 있다. 송신 신호는, 수신 안테나 빔 패턴을 결정할 수 있도록, 측정 환경의 다른 방향에서 DUT로 공급될 수 있다. 송신 신호는 연속적으로 또는 동시에 공급될 수 있다. DUT로부터 보고가 수신될 수 있다. 보고는 직접 또는 간접 보고와 관련된 정보를 포함할 수 있으며, 송신 신호와 연관될 수 있다. DUT는, 예컨대 빔 레이블, 빔 ID 등과 같은 파라미터를 보고함으로써, DUT에 의해 생성된 빔에 대하여 보고할 수 있고/있거나, 수행한 측정의 결과에 대하여, 즉 수신한 것에 대하여, 보고할 수 있다. 예를 들어, 보고는 안테나 테스트 기능에서 결정된 파라미터들에 관한 것일 수 있으며, 즉, DUT의 안테나 테스트 기능 신호들에 관한 것일 수 있다. 보고는 진폭, 이득 값, 편파, 위상 등 중에서 하나 이상에 관한 정보를 포함할 수 있으며, 복수의 이러한 값들은 예컨대 2D 정보 또는 3D 정보와 같은 공간적 정보를 얻을 수 있게 해줄 수 있다. 즉, 측정 환경을 이용하여 DUT로 신호를 전송하고, DUT로부터 수신 전력 또는 수신 품질을 나타내는 파라미터를 수신할 수 있다.

일 실시예에 따른 방법은 DUT의 송신 빔 패턴, 즉 DUT에 의해 송신되는 빔의 패턴, 측정 환경의 페어링 신호에 상응한 빔 패턴, 및 이에 따라 DUT로 수신되는 신호에 응답하여 선택되는 빔을 측정하는 것을 포함할 수 있다. DUT의 송신 빔 패턴은, 링크 안테나 배열과의 페어링을 위한 신호를 공급하면서, DUT로부터 송신되는 신호에 엠베딩된 기준 신호에 기초하여 연속적으로 또는 동시에 측정 환경의 복수의 프로브로 측정될 수 있다. 대안으로서 또는 추가적으로, DUT는 후속 측정을 허용할 수 있도록 하기 위해 빔을 잠그도록 지시될 수 있다. 페어링 신호는 DUT가 알고 있는 파일럿 신호를 기술할 수 있으며, DUT로 하여금 수신을 위해 빔 형성기를 최적화하도록 할 수 있다. 예를 들어, 비콘 등이 이러한 목적을 위해 사용될 수 있다.

빔 대응성 파라미터를 결정하는 것은, DUT의 안테나 테스트 기능 포트 및/또는 측정 환경의 적어도 하나의 노드에서, 포트/노드당 전력, 간섭 레벨, 잡음 레벨, 원치 않는 상호변조 성분, 위상(기준 신호 상의 협대역 위상), 및 전력 지연 프로파일 중에서 적어도 하나를 측정하는 것을 포함할 수 있다. 이들 파라미터들과 이들의 조합 각각은 송신(TX) 빔과 수신(RX) 빔 간의 대응관계를 평가하는 것을 허용할 수 있다. 측정은 공지의 기준 신호 또는 시그니처를 기반으로 할 수 있으며, 교차하여 수행될 수 있다. 또한, 예를 들어, 간섭이나 잡음 레벨은 미지의 식별자 또는 마커를 갖는 결정론적 신호들로부터 잡음을 분리하는 블라인드 신호 추출 방법을 사용하여 측정될 수 있다.

일 실시예에 따른 방법은 측정 환경의 적어도 하나의 측정 노드를 알려진 기하학적 구조로 배열하는 단계, DUT에 대한 신호 노출을 미세조정하여 미세조정된 노출을 획득하는 단계, 즉 DUT에 대하여 알려진 노출을 획득하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 미세조정된 노출을 DUT로부터 송신되어 측정 환경에 의해 수신된 신호와, DUT에 송신돤 응답 신호로서, 비교하는 것에 기초하여 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계를 포함한다. 이를 통해 편파, 위상 변동, 주파수 선택도 등과 같은 특정 속성을 DUT 외부에서 측정할 수 있다.

실시예들은 양방향, 즉 송신(TX) 및 수신(RX) 방향에서 잘 조직화된 측정과, 측정 결과를 상관시키는 것과 관련이 있다. 예를 들어, DUT와 예컨대 제710단계를 사용하여 고정된 빔을 가지는 노드들 간의 상대 위치를 시프트시킴으로써, 전력 레벨의 증감은 물론 위상 시프트와 같은 다른 파라미터들을 측정 환경에 의해 결정될 수 있다. 이를 통하여, 수신 빔 패턴과 송신 빔 패턴의 관점에서 패턴 유사도 테스트에 접근할 수 있다.

다시 말해서, 페어링 등에 사용되는 링크 안테나는 테스트 장비/측정 환경과 DUT 간의 통신 페어링을 형성하는데 사용되는 안테나일 수 있다. 링크 안테나(LA)는 다음과 같을 수 있다:

○ 노드/버키볼 구조와 별개일 수 있음(즉 추가적인 안테나일 수 있음);

○ 버키볼의 일부인 가상 안테나일 수 있음(예컨대, 60개 노드들 중 하나 또는 노드 조합일 수 있으며, 따라서 빔 폭 및/또는 DUT의 지향성 방사를 제어할 수 있음); 및/또는

○ 위의(별도의 링크 안테나와 버키볼의 안테나의) 조합일 수 있음

측정 절차와 관련하여 링크 안테나는 송신 및/또는 수신에 사용할 수 있는 위에서 언급한 옵션들 중 하나일 수 있다. 송신 및/또는 수신에 사용될 때 링크 안테나의 특성(예컨대, 안테나 복사 패턴, 방향, 편파, 궤도 각운동량 등)은 유사할 수 있으며, 링크 안테나는 예컨대 모든 가능한 편파(직선 편파, 원 편파)에서 전파를 자극하고 송신/측정할 수 있다. 이상적으로는 송신 및 수신 속성이 동일할 수 있다. 이상적인 조건에서 벗어나는 것은 정의된 메트릭에 따라 허용될 수 있다. 이 메트릭의 요건을 넘어서면, 예컨대 미세조정, 적합화, 보정 등의 보정 방법이 사용될 수 있다. 링크 안테나는 고유의/식별가능한/번호가 매겨진 (논리적) 안테나 포트로 식별할 수 있다. 링크 안테나에 의해 운반되는 신호들은 측정 장비/측정 환경 및/또는 DUT로부터 송신된 신호에 임베딩된 전자식 마커들(예컨대, SSB, CSI-RS, SRS 등)을 사용하여 식별할 수 있다. DUT의 향상된 측정과 테스트는 안테나 테스트 기능(ATF)과 여기에 정의된 연관 논리 포트에 대한 액세스를 통해 더 원활해질 수 있다.

빔 대응성 파라미터들은 송신 및 수신을 위한 다중 프로브 테스트와 측정 환경으로 결정될 수 있는 송신 및 수신을 위한 단일 링크 안테나로 획득/측정될 수 있다.

송신 및 수신을 위한 하나의 링크 안테나로 빔 대응성을 획득/측정하는 절차는 솔루션 #1로서 다음을 포함할 수 있다:

1. 턴테이블 상의 사용자 장비(UE)/DuT는 위치가 P_K 중에서 P_0으로 설정된다(링크 안테나는 원거리장(FF)에 있고 UE는 신호를, 예컨대 하나 이상의 방향(들)에서 평면파를 받는다)

2. 링크 안테나와 UE 사이에 양방향 링크가 설정된다(UE가 RACCH로 액세스하고, 2 이상의 단계 이내에 UE가 RRC 연결 상태로 설정된다).

3. ME가 테스트를 위한 특정 절차로 UE/DUT를 표시/구성하기 위하여 테스트 모드(측정 모드)를 트리거/개시/구성한다.

4. ME는 송신(TX) 및 수신(RX) 빔에 대하여 "빔 잠금(Lock beam)" 명령을 동시에 또는 연속적으로 송신한다.

5. DUT 및/또는 ME가 기준 신호(RS) 또는 기타 적합한 신호에서 전력 및/또는 위상을 측정하고, 측정된 모든 위치/방향(예컨대, (앙각(θ)/방위각(

)) 및/또는 (방위각/고도) 및/또는 (입체각/스테라디안)에 대하여 저장/교환한다.

(1) UE의 "잠긴" 송신(TX) 빔(예컨대, 빔(29₃), 및/또는 타임스탬프 또는 구성/파라미터 세트(각도)로)에 대하여 링크 안테나에서 측정

(2) UE의 "잠긴" 수신(RX) 빔(예컨대, 빔(29₃), 및/또는 타임스탬프 또는 구성/파라미터 세트(각도)로)에 대하여 ATF에서 측정

빔 대응성의 관점에서 송신(TX) 빔과 수신(RX) 빔을 비교하기 위한 적합한 메트릭은 방향당 (앙각(θ)/방위각(

)), (방위각/고도), 및/또한 (입체각/스테라디안)이며, 다수의 또는 모든 방향들(예컨대 CDF)에 대하여 누적될 수 있다.

송신 및 수신에 대하여 다중 프로브 테스트 및 측정 환경을 사용하는 경우, 측정 환경(20)이 사용될 수 있다. 여기서, 도 3의 버키볼은 하나의 옵션으로 설명되었으며 인접한 프로브들/노드들 간의 거리/꼭지점과 관련하여 균등한 분포를 제공한다. UE/DUT는 전형적인 환경에서의 무선 전파의 다중경로 성분들(MPC)에 대응하는 조정 가능하거나 선택 가능한 도달각(DoA) 스펙트럼에 상응하는 유효 원거리장 및/또는 등가 근거리장 환경에서 무선신호를 경험한다. 이러한 DoA 스펙트럼은 측정 환경으로부터 DUT로의 송신 모드에서 형성될 수 있으며, UE/DUT가 RRC 연결 모드에 있고 "빔 잠금"되어 있는 동안 다른 노드들/프로브들로부터 동시에 또는 연속적으로 송신 또는 수신하는 기능을 활용하여 측정 환경에서 DUT로부터 측정될 수 있다. 절차에는 다음이 포함될 수 있다:

1. 빔 잠금 명령을 사용하는 빔 대응성 측정 절차 1..5(솔루션 #1 참조)를 따른다.

(1) 솔루션 #1과의 특별한 차이점은 링크 안테나가 설명된 구현의 변형일 수 있다는 것이다. 즉, 노드/버키볼 구조와 별개인 추가적인 안테나; 버키볼의 일부인 가상 안테나; 및/또는 위의(별도의 링크 안테나와 버키볼의 안테나의) 조합 등이 사용될 수 있고, UE/DuT에 "빔 잠금" 명령을 보내기 전에 링크를 설정할 때 UE/DuT에 가변되는 또는 구성 가능한 DoA 스펙트럼을 노출한다.

(2) 빔이 "잠김"되면, ME는 측정 절차를 활성화하고, UE/DuT가 연관된 ATF를 보고하는 동안에 ME의 다른 방향/노드들로부터 송신 신호들을 연속적으로 또는 동시에 공급함으로써, 시스템/방법이 수신 안테나 빔 패턴을 결정할 수 있도록 한다.

(3) UE/DuT의 해당 송신 빔 패턴은, UE/DuT로부터의 송신(TX) 빔이 "잠김"되어 있는 동안, DuT로부터의 송신 신호에 임베딩된 RS를 토대로 ME의 분산 노드들/센서들에 의해 연속적으로 또는 동시에 측정될 수 있다.

(4) 상기 두 단계들은 송신/수신 빔(들)이 잠김되어 있는 동안 UE의 회전과 결합될 수 있다.

2. 빔 잠금 없이 1..5(솔루션 #1 참조)를 따른다.

(1) 빔 잠금을 하는 이전의 솔루션 #2와의 특별한 차이점은 UE/DuT가 선택된 수신 빔을 가지는 다중 프로브 링크 안테나의 특정 DoA 스펙트럼을 받아들이고, ATF로부터의 값들을 보고하고, 상응하는 송신 빔으로 ME를 향해 응답한다는 것이다.

(2) ME가 역 빔 대응성 모드에서 그 수신기들을 작동시킬 수 있다(수신 빔 패턴은 링크 안테나의 미세조정된 송신 빔 패턴에 해당한다).

(3) ME는 분산된 수신 안테나들 전체 또는 일부에서 센서 입력을 평가함으로써 UE/DuT의 송신 빔 패턴을 측정할 수 있다.

(4) 위 구성의 변형은 ME의 링크 안테나가 특정 DoA 스펙트럼을 사용하는 반면, 반대 링크 방향은 UE/DuT에 제공되는 것보다 DoA 스펙트럼을 크거나 같거나 작게 샘플링할 수 있도록 ME에서 조리개로 측정하는 것을 포함한다.

위에 설명된 두 변형들은 적어도 실제 시나리오에 가능한 한 최대한으로 가까운 조건에서 DUT를 테스트하기 위해 방향, 편파, DOA 스펙트럼 등과 같은 실질적으로 관련있는 모든 변형들을 조사/감지하는 옵션들을 포함한다. ATF 포트(들) 및 다중 프로브 시스템에서의 측정에는 포트/프로브당 전력 및/또는 위상(기준 신호 상의 협대역 위상) 및/또는 전력 지연 프로파일(송신(TX) 빔(수신(RX) 빔)의 전력 대 방향 표현과, 이러한 거리들에 적용되는 송신(TX) 지연을 나타냄)이 포함될 수 있다.

도 8a 및 8b는 본 명세서에서 설명된 실시예들과 관련하여 통신 디바이스, 예를 들어 DUT에 의해 생성되는 다중빔 안테나 배열에 의해 생성될 수 있는 단순화된 빔 패턴의 예를 보여준다. 설명 편의상, 도 8a(송신 빔 패턴) 및 도 8b(수신 빔 패턴)에 도시된 송신 빔 패턴(92_i) 및 수신 빔 패턴(94_i)은 서로 동일한 것으로 도시되어 있는데, 실제 시스템에서는 두 세트의 패턴들 간에 차이가 다소 존재할 수 있다. 도면들은 빔 페어링이 단일 디바이스에 적용될 수 있으며, 빔 페어링에 의해 다음과 같은 12개의 빔 쌍 세트가 식별될 수 있다는 개념을 소개한다. TX-1/RX-1; TX-2/RX-2; TX3/RX-3; TX-4/RX-4; TX-5/RX-5; TX-6/RX-6; TX-7/RX-7; TX-8/RX-8; TX-9/RX-9; TX-10/RX-10; TX-11/RX-11; 및 TX-12/RX-12. 예를 들어, 위와 같이 식별되는 빔 쌍 중에서 수신 빔(94)을 사용하여 신호를 수신하는 경우, DUT는 그에 상응하는 송신 빔(92)을 사용하여 신호를 송신하도록 야기될 수 있다. 도 8a 및 8b는 12가지 구분가능한/식별가능한 빔들을 포함하는 동일 디바이스의 송신 빔 패턴 및 수신 빔 패턴의 예들을 보여주며, 여기서 각 빔은 특정 안테나 복사 패턴의 메인 로브이다. 편의상 모든 패턴들의 사이드 로브들은 생략하였다.

이하에서는, 두 디바이스들 간의 빔 쌍 조합의 예들을 제시한다. 도 9 및 도 10에는 단일 빔 쌍이 도시되어 있다. 도 9에서는, 디바이스(88a)(디바이스 A)의 빔(1)이 디바이스(88b)(디바이스 B)의 빔(1)과 가시선(LoS) 정렬 내지 경로(102)를 형성하는 두 디바이스들 간의 빔 페어링의 예가 도시되어 있다. 두 디바이스들의 빔들은 송신 또는 수신 목적으로 사용될 수 있다.

도 10은 디바이스들(88a, 88c) 간의 빔 페어링의 예를 보여준다. 차단 물체(96)의 존재로 인하여, 빔들(92₁, 94₁)은 가시선(LoS) 경로를 형성하지 않지만 빔들(92₁, 94₂)이 반사 물체(98)를 사용하여 비-가시선(non-LoS) 경로(104)로 형성되므로, 비-가시선(nLoS) 페어링이 형성된다.

도 11은 반사 물체(98)에서의 반사에 기초하는 추가적인 비-가시선 경로를 사용하는 도 9의 디바이스들(88a, 88b)에 대한 개략도이다. 도시된 예에서는, 디바이스들(88a, 88b) 간에 두 개의 빔 쌍들이 사용된다. 디바이스(88a)의 빔 1(94₁)은 디바이스(88b)의 빔(92₁)과 가시선 페어링을 형성하고, 반사로 인하여 디바이스(88a)의 빔(94₂)과 디바이스(88b)의 빔(92₁₂)은 비-가시선 페어링을 형성한다.

도 12는 제2 반사 물체(98₂)가 디바이스(88c)의 빔(92₁₁) 및 디바이스(88a)의 빔(94₁₂)을 사용한 제2 비-가시선 경로/페어링을 허용하는 도 10의 시나리오를 확장한 예를 보여주는 개략도이다. 즉, 디바이스들(88a, 88c) 간의 두 빔 쌍들의 예가 도시되어 있다. 차단 물체와 반사 물체의 조합이 존재함으로 인하여, 디바이스(88a)의 빔(94₂)과 디바이스(88c)의 빔(92₁)은 비-가시선 페어링을 형성한다. 마찬가지로, 디바이스(88a)의 빔(94₁₂) 및 디바이스(88c)의 빔(92₁₁)도 비-가시선 페어링을 형성한다.

도 13은 디바이스들(88a 및 88b) 간에 2개의 송신(TX)-수신(RX) 빔 쌍들을 제공하는 2개의 디바이스들(88a 및 88b)의 예시적 시나리오를 보여준다. 디바이스(88a)의 송신 빔(TX A1, 92₁)은 디바이스(88b)의 수신 빔(RX B1, 94₁)과 가시선 페어링을 형성하고, 반사로 인하여 디바이스(88a)의 송신 빔(TX A2, 92₂)은 디바이스(88b)의 수신 빔(RX B2, 94₂)와 비-가시선 페어링을 형성한다.

도 14는 디바이스들(88a 및 88b) 간의 2개의 송신(TX)-수신(RX) 빔 쌍들의 예시적 시나리오를 보여준다. 디바이스(88b)의 송신 빔(TX B1, 92₁)은 디바이스(88a)의 수신 빔(RX A1, 94₁)과 가시선 페어링을 형성하고, 반사로 인하여 디바이스(88b)의 송신 빔(TX B2, 92₂)은 디바이스(88a)의 수신 빔(RX A2, 94₂)와 비-가시선 페어링을 형성한다.

도 15는 디바이스들(88a 및 88b) 간의 3개의 송신(TX)-수신(RX) 빔 쌍들의 예시적 시나리오를 보여준다. 디바이스(88a)의 송신 빔(TX A1, 92₁)은 디바이스(88b)의 수신 빔(RX B1, 94₁)과 가시선 페어링을 형성한다. 반사로 인하여 디바이스(88a)의 송신 빔(TX A2, 92₂)은 디바이스(88b)의 수신 빔(RX B2, 94₂)와 비-가시선 페어링을 형성하고, 마찬가지로 디바이스(88a)의 송신 빔(TX A12, 92₁₂)은 디바이스(88b)의 수신 빔(RX B12, 94₁₂)와 비-가시선 페어링을 형성한다.

도 16은 도 15와 비교할 때 송신측과 수신측이 뒤바뀐 디바이스들(88b 및 88a) 간에 3개의 송신(TX)-수신(RX) 빔 쌍들이 존재하는 예시적 시나리오를 보여준다. 디바이스(88b)의 송신 빔(TX B1, 92₁)은 디바이스(88a)의 수신 빔(RX A1, 94₁)과 가시선 페어링을 형성한다. 반사로 인하여 디바이스(88b)의 송신 빔(TX B2, 92₂)은 디바이스(88a)의 수신 빔(RX A2, 94₂)와 비-가시선 페어링을 형성하고, 마찬가지로 디바이스(88b)의 송신 빔(TX B12, 92₁₂)은 디바이스(88a)의 수신 빔(RX A12, 94₁₂)와 비-가시선 페어링을 형성한다.

반사 물체가 도시된 도 10, 11, 12, 13, 14, 15 및 16을 참조하면, 본 명세서에서 설명하는 실시예들의 한 측면은 단 하나의 또는 그 이상의 반사 물체가 단일 또는 다중 프로브들 내지 노드들과 함께 장치의 일부를 형성하게 되는 방식으로 측정 환경을 배치하는 것이라는 점을 유의해야 한다.

즉, 디바이스(88a, 88b, 88c)는 측정 환경에 의해 및/또는 DUT로서 구현될 수 있다.

도 17은 일 실시예에 따른 컴팩트 안테나 테스트 레인지(CATR, 170)의 개략적인 평면도를 보여준다. CATR은 피드 안테나(112)의 신호를 DUT(12) 쪽으로 반사시키기 위한 부 반사기(106) 및 주 반사기(108)를 포함한다. 측정 프로브는 도 17에 도시되어 있지 않다. 측정 장비(114)는 피드 안테나(112) 및 측정 프로브들에 연결된다. 위치(116)는 측정 챔버 내지 측정 영역 내에서 DUT의 상대 위치를 변경하는 데 사용될 수 있다.

이와 같은 챔버에서 예시적인 치수(A, B, C)는 단지 예일 뿐이지만, 6.3미터(A), 7.05미터(B) 및 5.92미터(C)의 값을 가질 수 있다.

다시 말해서, 도 17은 단일 피드, 부 반사기, 및 주 반사기로 구성된 소형 안테나 테스트 레인지를 보여준다.

이에 반하여, 도 18은 피드 혼(112)에 의해 생성되는 파동을 반사하기 위하여 2개의 부 반사기들(106₁, 106₂)과 1개의 주 반사기(108)를 구비하는 이동식 CATR(180)을 보여준다. 반사기들(106₁, 106₂)과 주 반사기(108)는 구면 형태로 되어 있을 수 있다. CATR들(170, 180)은 다중 프로브 또는 다중 노드 측정 환경과 결합될 수 있어서, 실시예들에 따른 하나 이상의 노드들은 DUT와 어쩌면 피드 혼(112)에서 생성된 파동을 측정하도록 배치될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 측정 환경(170)은 본 명세서에 기술된 하나 이상의 노드, 예컨대 노드(50d)를 구비하고/하거나, DUT를 평가하기 위하여 예컨대 도 3과 관련하여 설명한 바와 같은 적어도 하나의 버키볼 구조를 포함하도록 구현된다. 따라서 일 실시예에 따른 측정 환경은 링크 안테나 배열과 DUT 사이에 적어도 하나의 반사기를 포함할 수 있다.

그렇지만 추가적인 실시예는 또한 측정 환경의 다수의 또는 적어도 하나의 노드를 사용하여 가상 링크 안테나로서 피드 혼(112)을 구현하는 것과 관련된다.

다시 말해서, 본 명세서에서 개시된 장치에 의해 제공되는 유연성은 "가상 및 동시 방사 및 관찰"로 기술되는 목적을 위해 측정 환경을 구축될 수 있게 해준다. 즉, 측정 프로브들와 노드들의 배치는 송신 및 수신의 측정, 테스트, 및 평가를 위하여 DUT와 측정 환경 사이에 하나 이상의 이중-중심 링크들을 생성할 수 있게 해준다. 이들은 개별적으로, 순차적으로, 또는 함께 형성될 수 있다.

다시 말해서, 도 18은 차륜형 유닛에 2개의 부 반사경과 1개의 주 반사경이 장착된 콤팩트 안테나 테스트 레인지를 보여준다. 일 실시예에 따르면, 측정 환경(180)은 본 명세서에서 기술된 하나 이상의 노드, 예컨대 노드(50d)를 구비하고/하거나, DUT를 평가하기 위하여 예컨대 도 3과 관련하여 설명한 바와 같은 적어도 하나의 버키볼 구조를 포함하도록 구현된다.

따라서 실시예들은, 다중 프로브 내지 다중 노드 측정 환경을 구비하고 특히 앞에서 설명된 가상 링크 안테나와 관련된, 도 17에 따른 CATR 및/또는 도 18에 따른 CATR의 조합과 관련된다.

실시예들은, 설명된 실시예에 따른 목적을 위하여 현재는 사용되지 않는, 고유한 장치 기능을 사용한다. 다수의 디바이스들에서 제공하는 정보를 사용하여 성능과 사용자 경험의 향상을 얻을 수 있다.

다시 말해서, 도 11 내지 도 14는 이중 빔 쌍들의 예를 보여주고, 도 15 및 도 16은 삼중 빔 쌍들의 예를 보여준다. 디바이스들 간의 다중 빔 페어링의 개념과 그 논리적 확장, 다수의 디바이스들 간에 생성되는 임의의 수의 빔 쌍들의 개념도 실시예들에 의해 커버되며, 다시 말해서 1개, 2개, 3개 또는 그 이상, 예컨대 4개, 5개, 또는 6개의 가시선(LoS) 및/또는 비-가시선(nLoS) 구성요소를 포함하는 경로들이 사용될 수 있다. 도 9 내지 도 12에서는, 어느 한쪽 방향으로의 두 디바이스간 무선 연결을 원활하게 하기 위하여 송신 또는 수신 목적으로 빔들이 사용될 수 있지만, 일 실시예에 따르면 빔들은 송신 및 수신 목적으로 사용될 수 있다.

본 명세서에서 설명한 실시예들은 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것과 관련된다. 본 발명자들은 DUT의, 특히 그 안테나 배열의, 위상 중심을 정밀하게 결정하는 방법을 추가로 발견하였다.

그와 같은 방법은 DUT로 하여금 안테나 배열을 사용하여 빔을 발생하게 하는 단계를 포함한다. 이 단계는 방법(100)과 관련하여 설명한 바와 같이 DUT가 송신(TX) 빔 또는 수신(RX) 빔을 생성하게 하기 위해 구현될 수 있다. 이 방법은 DUT가 빔의 적어도 일부를, 즉 빔의 적어도 하나의 특성을, 잠그거나 유지하게 하는 단계를 더 포함한다. 그러한 단계는 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것과 관련하여 설명한 잠금 또는 유지에 따라 구현될 수 있다.

상기 방법은 측정 결과를 얻기 위하여 DUT에 대한 복수의 상대 방향에 대하여 빔을 측정하는 단계를 더 포함한다. 측정 횟수가 많을수록 공간 분해능이 높을 수 있다. 다른 실시예들과 관련하여 설명한 바와 같이, 이것은 적어도 하나의 또는 다양한 파라미터들을 측정하는 것을 포함할 수 있다. 그와 같은 파라미터들은 DUT의 송신(TX) 빔에 대하여 측정 환경에서 측정될 수 있고/있거나, 예컨대 DUT가 수신(RX) 빔을 형성할 때에는 DUT에서 측정되어 보고될 수 있다. 상이한 위치들을 토대로 노드들 및/또는 DUT가 이동할 수 있다.

상기 방법은 측정 결과를 평가하여 위상 중심을 결정하는 단계를 더 포함한다. 측정 환경은 DUT와 측정 환경 간의 상대 위치를 다르게 하는 것을 허용하므로, 측정 결과를 토대로 수신(RX) 빔 및/또는 송신(TX) 빔에 대한 위상 중심의 정밀한 결과를 획득할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 위상 중심은 DUT와 함께 생성되어 잠기거나 유지되는 복수의 빔에 대하여 결정된다. 예를 들어 가상 링크 안테나 배열을 사용하여, 상이한 빔들이 트리거될 수 있다. 복수의 빔들은 송신(TX) 빔만을, 수신(RX) 빔만을, 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다. 복수의 빔들을 평가하는 것은 DUT에 대한 추가적인 결과를 얻게 해줄 수 있고/있거나, 예컨대 동일하거나 상이한 안테나 어레이들의 상이한 위상 중심들 간의 거리에 대한 추가 결과를 얻는 것을 허용할 수 있다.

다시 말해서, 측정 환경은 DUT의 위상 중심이 결정될 수 있는 방식으로 배치될 수 있다. 또한, 가상 링크 안테나의 사용을 통하여, DUT의 위상 중심이 상이한 스캔 각도들에 대해 결정될 수 있고 필요한 주파수들에서 측정될 수 있다. 측정 환경의 회전 및/또는 병진 이동에 의하여, 위상 중심의 정확도와 분해능이 더욱 향상될 수 있다.

위상 중심과 관련하여, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 "IEEE Std 145-2013: IEEE Standard for Definitions of Terms for Antennas"에서 제공된 정의에 따르면, 안테나와 관련된 지점의 위치는 다음과 같다는 것을 이해할 수 있을 것이다: 반경이 원거리장으로 확장되는 구의 중심으로 간주하면, 복사 구의 표면 상에서 주어진 장 성분의 위상은 최소한 복사가 의미있는 표면의 해당 부분에 대하여 본질적으로 일정하다.

그와 같은 측정들은 함께 수행될 수도 있지만, 빔 대응성 파라미터를 결정하는 것과 독립적으로 수행될 수도 있다.

비록 일부 양태가 장치의 맥락에서 설명되었지만, 그와 같은 양태는 상응하는 방법에 대한 설명을 나타낼 수도 있으며, 이때 블록 또는 장치는 방법 단계 또는 방법 단계의 특징에 상응한다. 마찬가지로, 방법 단계의 맥락에서 설명한 양태는 또한 상응하는 장치의 대응 블록 또는 항목 또는 특징의 설명을 나타낼 수 있다.

어떤 구현 요건들에 따라서, 본 발명의 실시예들은 하드웨어로 또는 소프트웨어로 구현될 수 있다. 구현은 전자적으로 판독가능한 제어신호들이 저장되어 있고 각각의 방법이 수행될 수 있도록 프로그래밍 가능한 컴퓨터 시스템과 협력하는(또는 협력할 수 있는) 디지털 저장 매체, 예컨대 플로피 디스크, 디지털 비디오 디스크(DVD), 컴팩트 디스크(CD), 롬(ROM), 프로그래머블 롬(PROM), 삭제기록 가능형 롬(EPROM), 전기적 삭제기록 가능형 롬(EEPROM) 또는 플래시 메모리를 사용하여 이루어질 수 있다.

본 발명에 따른 일부 실시예들은 전자적으로 판독가능한 제어신호를 갖는 데이터 캐리어를 포함하고, 이 데이터 캐리어는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나가 수행될 수 있도록 프로그램 가능한 컴퓨터 시스템과 협력할 수 있다.

일반적으로, 본 발명의 실시예들은 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 구현될 수 있으며, 상기 프로그램 코드는 컴퓨터 프로그램 제품이 컴퓨터 상에서 실행될 때 방법들 중 하나를 수행하기 위하여 동작할 수 있다. 상기 프로그램 코드는 예컨대 기계 판독 가능한 캐리어에 저장될 수 있다.

다른 실시예들은 기계 판독 가능 캐리어에 저장되어 있고 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하는 컴퓨터 프로그램을 포함한다.

다시 말해서, 본 발명에 의한 방법의 실시예는 컴퓨터 프로그램이 컴퓨터에서 실행될 때 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램이다.

본 발명에 의한 방법들의 추가적인 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록되어 있는 데이터 캐리어(또는 디지털 저장 매체 또는 컴퓨터로 판독가능한 매체)이다.

그러므로, 본 발명에 의한 방법의 추가적인 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 나타내는 데이터 스트림 내지 신호 시퀀스이다. 데이터 스트림 내지 신호 시퀀스는 예컨대 인터넷을 통한 데이터 통신 연결을 통해 전송되도록 구성될 수 있다.

추가적인 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하도록 구성되거나 적합화된 처리 수단, 예컨대 컴퓨터 또는 프로그래밍 가능한 논리 장치를 포함한다.

추가적인 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 설치된 컴퓨터를 포함한다.

일부 실시예들에서는, 프로그래밍 가능한 논리 장치(예컨대, 필드 프로그래머블 게이트 어레이)를 사용하여 본 명세서에서 설명한 방법들의 기능 중 일부 또는 전부를 수행할 수 있다. 일부 실시예들에서, 필드 프로그래머블 게이트 어레이는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위하여 마이크로프로세서와 협력할 수 있다. 일반적으로, 방법들은 바람직하기로는 어떤 하드웨어 장치에 의해 수행된다.

위에서 설명한 실시예들은 본 발명의 원리를 단지 예시하기 위한 것일 뿐이다. 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 사람은 본 명세서에 설명한 배치들과 세부사항들을 수정하거나 변형할 수 있음이 자명함을 이해할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 청구항들에 의해서 정해져야 하고, 본 명세서의 실시예들에 대한 기술과 설명을 통해 제공된 특정 세부사항에 한정되어서는 안된다.

Claims

테스트 대상 디바이스(DUT)의 빔 대응성 파라미터를 결정하는 방법으로서,
상기 DUT와 무선신호의 교환을 허용하도록 측정 환경 내에 DUT를 배치하는 단계;
상기 무선신호의 교환을 위한 상기 측정 환경에서 제1 빔을 발생하는 단계;
상기 DUT로 하여금, 상기 DUT의 안테나 배열을 사용하여 제2 빔을 발생하게 하고, 상기 제1 빔과 함께 송신(TX) 빔 및 수신(RX) 빔을 포함하는 빔 쌍을 형성하도록 하고, 상기 제2 빔에 상응하는 제3 빔을 발생하게 하는 단계; 및
상기 제2 빔을 특징짓는 측정과 및 상기 제3 빔을 특징짓는 측정을 사용하여, 상기 제2 빔 및 상기 제3 빔에 대한 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계;를 포함하는
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1에 있어서,
상기 측정 환경의 링크 안테나 배열을 사용하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 2에 있어서,
상기 링크 안테나 배열이 무선신호를 수신할 때 그리고 무선신호를 송신할 때 물리적 링크 안테나와 유사한 안테나 특성을 가지는 가상 링크 안테나에 의해 구현되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 3에 있어서,
안테나 특성이 동일한 특성으로부터 소정의 메트릭만큼 벗어나서 상기 유사한 안테나 특성을 포함하게 되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 2 내지 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 링크 안테나 배열이 물리적 링크 안테나와 상기 측정 환경 및 상기 DUT 간의 채널 특성을 시뮬레이션하는 가상 링크 안테나인,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 3 내지 5 중 어느 한 항에 있어서,
편차들과 관련하여 정의된 메트릭을 고려하거나 고려하지 않고 안테나 특성의 적어도 하나의 특성 내의 상기 편차들을 보상하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 6 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 빔은 상기 측정 환경에서 발생되는 제1 송신(TX) 빔으로서,
상기 DUT로 하여금 상기 제1 송신(TX) 빔에 응답하여 수신(RX) 빔을 상기 제2 빔으로서 발생하게 하고, 상기 수신(RX) 빔에 상응하는 제2 송신(TX) 빔을 상기 제3 빔으로서 발생하게 하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 7 중 어느 한 항에 있어서,
상기 빔 쌍은 제1 빔 쌍이고,
상기 DUT는 적어도 하나의 추가 빔 쌍 중 적어도 하나의 추가 빔을 생성하도록 야기되고, 상기 적어도 하나의 추가 빔은 송신(TX) 빔 또는 수신(RX) 빔인,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 DUT를 상기 측정 환경과 페어링하되, 상기 페어링이 신호 교환 내에서 전자식 마커의 사용을 포함하도록 하는 단계를 더 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 9에 있어서,
상기 전자식 마커가 동기화 블록 신호(SSB), 채널 상태 정보 참조 신호(CSI-RS), 및 사운딩 참조 신호(SRS) 중 적어도 하나를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 10 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계가
상기 DUT의 내부 파라미터를 사용하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 11에 있어서, 상기 DUT의 상기 내부 파라미터를 사용하는 단계가
상기 DUT에서 수신된 신호를 특성화하는 DUT의 보고를 사용하는 단계; 또는
상기 DUT의 안테나 테스트 기능에 접근하는 단계; 및
상기 안테나 테스트 기능 또는 상기 DUT의 보고에 기초하여, 상기 제2 빔 및 상기 제3 빔에 대한 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 12 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는
상기 제2 빔의 수신 성능을 나타내는 수신 빔 패턴과, 상기 제3 빔의 송신 성능을 나타내는 송신 빔 패턴을 비교하는 단계; 또는
상기 제2 빔의 송신 성능을 나타내는 송신 빔 패턴과, 상기 제3 빔의 수신 성능을 나타내는 수신 빔 패턴을 비교하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 13 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는
상기 DUT에 상기 제2 빔 및/또는 상기 제3 빔 중 적어도 하나를 잠그도록 지시하는 단계; 또는 상기 DUT로 하여금 상기 제2 빔 및/또는 상기 제3 빔의 적어도 하나의 특성을 유지하도록 하는 단계;
상기 DUT와 상기 측정 환경 간의 복수의 상대 위치에 대하여, 상기 측정 환경 및/또는 상기 DUT를 사용하여 상기 제2 빔 및 상기 제3 빔에 관련된 측정치를 결정하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 14에 있어서,
빔을 잠그거나 유지하기 위하여, 상기 빔의 적어도 하나의 특성을 일정하게 유지하되,
상기 적어도 하나의 특성이
빔 패턴의 적어도 메인 로브의 상대 방향;
상기 빔 패턴의 적어도 사이드 로브의 상대 방향;
상기 빔 패턴의 적어도 널의 상대 방향;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 위상;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 이득 값;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 파워 값;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 편파;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 형태;
상기 빔 패턴의 적어도 일부에 사용되는 코드.
중에서 하나 이상을 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 15 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는,
상기 빔 쌍의 상기 제2 빔에 관한 메트릭과 상기 제3 빔에 관한 메트릭을 비교하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 16에 있어서,
상기 메트릭이 상기 DUT에 의해 생성된 상기 송신(TX) 빔에 대하여 상기 측정 환경의 물리적 링크 안테나 또는 가상 링크 안테나에서 측정되고/되거나; 상기 메트릭이 상기 DUT에 의해 형성된 상기 수신(RX) 빔에 대하여 상기 DUT에서 측정되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 16 또는 청구항 17에 있어서, 상기 메트릭이
상기 제2 빔 및/또는 상기 제3 빔의 공간적 특성;
빔 패턴의 적어도 일부의 위상;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 이득 값;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 파워 값;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 편파;
상기 빔 패턴의 적어도 일부의 형태;
상기 빔 패턴의 적어도 일부에 사용되는 코드
중에서 적어도 하나에 관련되어 있는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 18에 있어서,
상기 메트릭이
방향당 측정치; 및/또는 누적분포함수(CDF)와 같이 복수의 또는 모든 방향들에 걸쳐 누적된 측정치;
주파수당 측정치; 및/또는 소정의 대역폭에 걸쳐 누적된 측정치; 및
편파당 측정치; 및/또는 직교성 편파들에 걸쳐 누적된 측정치
중에서 적어도 하나에 관련되어 있는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 16 내지 19 중 어느 한 항에 있어서,
상기 DUT는, 테스트 인스턴스 동안에, 제1 빔 쌍의 송신(TX) 빔과 제2 빔 쌍의 수신(RX) 빔을 유지하도록 야기되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 20에 있어서,
상기 제1 빔 쌍 및 상기 제2 빔 쌍은 측정 환경의 상이한 링크 안테나 배열들의 사용에 응답하여 생성되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 21항에 있어서,
상기 제1 빔 쌍 및 상기 제2 빔 쌍은 단일 기지국 시나리오 내에서 형성되거나, 다중 기지국 시나리오 내에서 상이한 타겟들을 향한 상이한 링크들의 일부인,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 22 중 어느 한 항에 있어서,
상기 측정 환경의 링크 안테나 배열을 사용하여, 다중경로 성분들의 도달 스펙트럼에서 가변적 또는 구성가능한 방향으로 상기 DUT를 노출시키는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 23에 있어서,
상기 링크 안테나 배열이 물리적 링크 안테나 또는 가상 링크 안테나를 사용하여 구현되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 24 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계가
측정 절차를 활성화하여, 상기 측정 환경의 상이한 방향들로부터 송신 신호를 연속적으로 또는 동시에 공급함으로써 상기 수신 안테나 빔 패턴을 결정하는 단계; 및
직접 보고 또는 간접 보고와 관련된 정보를 포함하고 상기 DUT에서 수신된 신호들 및/또는 DUT에 의해 송신된 신호들과 연관된 보고를 상기 DUT로부터 수신하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 25에 있어서,
상기 보고가 상기 DUT의 안테나 테스트 기능 신호들에 관련되어 있는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 26 중 어느 한 항에 있어서,
링크 안테나 배열과의 페어링을 위한 신호를 공급하면서 또는 빔을 잠그기 위한 명령을 상기 DUT에 공급하면서, 상기 DUT로부터 송신되는 신호에 임베딩된 기준 신호들을 토대로 상기 측정 환경의 페어링 신호에 상응하는 상기 DUT의 송신 빔 패턴을 연속적으로 또는 동시에 복수의 프로브들로 측정하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 27 중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는
상기 DUT의 안테나 테스트 기능 포트 및/또는 상기 측정 환경의 적어도 하나의 노드에서, 포트/노드당 전력, 간섭 레벨, 잡음 레벨, 원치 않는 상호변조 성분, 위상(기준신호 상의 협대역 위상), 및 전력 지연 프로파일 중에서 적어도 하나를 측정하는 단계를 포함하는
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 28 중 어느 한 항에 있어서,
알려진 기하학에 측정의 적어도 하나의 측정 노드를 배열하는 단계;
보정된 노출을 얻기 위해 DUT에 대한 신호에 대한 노출을 보정하는 단계;
제1항에 있어서, 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는 보정된 노출을 DUT로부터 전송되고 DUT에 전송된 신호에 대한 응답으로서 측정 환경과 함께 수신된 신호와 비교하는 단계를 포함하는,

상기 측정 환경의 적어도 하나의 측정 노드를 알려진 기하학적 구조로 배열하는 단계;
상기 DUT에 대한 신호 노출을 미세조정하여 미세조정된 노출을 획득하는 단계;를 포함하며,
상기 빔 대응성 파라미터를 결정하는 단계는
상기 미세조정된 노출을 상기 DUT로부터 송신되어 상기 측정 환경에 의해 수신된 신호와 DUT에 송신돤 응답 신호로서 비교하는 단계를 포함하는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
청구항 1 내지 29 중 어느 한 항에 있어서,
상기 DUT는 유효 원거리장에서, 유효 근거리장에서, 및/또는 다중경로 전파 채널을 사용하여 테스트되는,
빔 대응성 파라미터 결정 방법.
테스트 대상 디바이스(DUT)의 안테나 배열의 위상 중심을 결정하는 방법으로서,
상기 DUT가 상기 안테나 배열로 빔을 생성하게 하는 단계;
상기 DUT가 상기 빔의 적어도 일부를 잠그거나 유지하게 하는 단계;
상기 DUT에 대한 복수의 상대 방향들에 대하여 빔을 측정하여, 측정 결과들을 획득하는 단계; 및
상기 측정 결과들을 평가하여 상기 위상 중심을 결정하는 단계;를 포함하는,
안테나 배열의 위상 중심의 결정 방법.
청구항 31에 있어서,
상기 위상 중심이 상기 DUT와 함께 생성되어 잠기거나 유지되는 복수의 빔에 대하여 결정되는,
안테나 배열의 위상 중심의 결정 방법.
청구항 1 내지 32 중 어느 한 항의 방법을 구현하도록 구성되는 측정 환경.
측정 환경을 위한 노드로서,
유선 신호를 교환하도록 구성되는 인터페이스; 및
안테나 배열;
을 포함하도록 구성되고,
상기 안테나 배열로 수싱되는 무선신호에 기초하여 상기 유선 신호를 제공하고 상기 무선신호를 수신하기 위한 수신-빔포밍을 위해 구성되며,
상기 인터페이스로 수신된 상기 유선 신호에 기초한 송신을 위해 상기 안테나 배열에 상기 유선 신호를 제공하도록 구성되고,
상기 무선신호를 송신하기 위한 송신-빔포밍을 위해 구성되는,
측정 노드.
청구항 34에 있어서,
상기 안테나 배열이 복수의 안테나 소자들을 포함하는,
측정 노드.
청구항 34 또는 청구항 35에 있어서,
상기 안테나 배열을, 수신 모드에서, 송신 모드에서, 또는 전이중 모드에서, 사용하기 위한 제어 명령을 실행하도록 구성되는,
측정 노드.
청구항 34 내지 36 중 어느 한 항에 있어서,
상기 측정 노드를 수신-빔포밍을 위한 수신 모드 및/또는 송신-빔포밍을 위한 송신 모드에서 제어하기 위한 제어 유닛; 및/또는
수신-빔포밍을 위한 수신 모드 및/또는 송신-빔포밍을 위한 송신 모드에서 상기 측정 노드를 제어하기 위한 명령을 나타내는 신호를 외부 제어 유닛으로부터 수신하기 위한 제어 인터페이스를 포함하는,
측정 노드.
청구항 34 내지 37 중 어느 한 항에 있어서,
상기 안테나 배열을 제어하도록 구성된 어레이 유닛;
을 더 포함하고,
상이한 빔 패턴들을 가변적으로 생성하도록 상기 어레이 유닛을 제어하도록 구성되는,
측정 노드.
청구항 34 내지 38 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 안테나 소자들이 상기 무선신호를 수신할 때와 상기 무선신호를 송신할 때 유사한 안테나 특성을 가지는,
측정 노드.
청구항 39에 있어서,
상기 안테나 소자들이 소정의 메트릭만큼 동일한 특성에서 벗어나 있는,
측정 노드.
청구항 39 또는 청구항 40에 있어서,
편차들과 관련하여 소정의 메트릭을 고려하거나 고려하지 않고서, 적어도 하나의 특성에 대한 상기 편차들을 보상하도록 구성되는,
측정 노드.
청구항 34 내지 41 중 어느 한 항에 있어서,
다중 안테나 배열을 포함하는
측정 노드.
청구항 34 내지 42 중 어느 한 항에 따른 노드를 복수 개 구비하는 측정 환경.
청구항 43에 있어서,
상기 복수의 노드들이 버키볼 구조의 적어도 일부로서 배열되어 있는,
측정 환경.
청구항 43 또는 청구항 44에 있어서,
상기 복수의 노드들의 회전 이동 및/또는 상기 복수의 노드들의 병진 이동을 구현하도록 구성되는,
측정 환경.
청구항 43 내지 45 중 어느 한 항에 있어서,
상기 측정 환경의 링크 안테나 배열을 포함하는,
측정 환경.
청구항 46에 있어서,
상기 링크 안테나 배열이 상기 측정 환경의 적어도 하나의 노드에 의해 구현되는 가상 안테나 배열로서 형성되는 측정 환경.
청구항 43 내지 47 중 어느 한 항에 있어서,
청구항 1 내지 30 중 어느 한 항에 따른 방법을 실행하도록 구성되는,
측정 환경.
청구항 43 내지 48 중 어느 한 항에 있어서,
상기 링크 안테나 배열과 상기 DUT 사이에 배치되는 적어도 하나의 반사기를 포함하는,
측정 환경.
복수의 노드들을 구비하는 측정 환경으로서,
상기 복수의 노드들 각각이 테스트 대상 디바이스(DUT)로부터 신호를 수신하고/하거나 상기 DUT로 신호를 송신하도록 구성되며,
상기 측정 환경은 상기 복수의 노드들을 사용하여 가상 링크 안테나 배열을 구현하도록 적합화된, 측정 환경.
청구항 50에 있어서,
상기 측정 환경이 상기 노드들을 사용하여 테스트할 상기 DUT와 페어링하기 위한 물리적 링크 안테나를 포함하지 않는,
측정 환경.
청구항 50 또는 청구항 51에 있어서,
적어도 하나의 노드가 청구항 32 내지 42 중 어느 한 항에 따른 노드인 측정 환경.
컴퓨터 상에서 실행될 때 청구항 1 내지 32 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하기 위한 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램이 저장된, 컴퓨터로 판독가능한 디지털 저장 매체.