KR20220134424A - Optical film having improved restoring force after folding and display apparatus comprising the same - Google Patents

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KR20220134424A
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Abstract

The present invention provides an optical film including a light-transmitting substrate and a buffer layer and having a maximum restoration length of 40 to 100 mm and a display device including the optical film.

Description

내충격성 및 굴곡 특성이 우수한 광학 필름 및 이를 포함하는 표시장치 {OPTICAL FILM HAVING IMPROVED RESTORING FORCE AFTER FOLDING AND DISPLAY APPARATUS COMPRISING THE SAME}Optical film with excellent impact resistance and flexural properties and a display device including the same {OPTICAL FILM HAVING IMPROVED RESTORING FORCE AFTER FOLDING AND DISPLAY APPARATUS COMPRISING THE SAME}

본 발명은 내충격성이 우수하고, 폴딩 후 복원력이 개선된 광학 필름 및 이를 포함하는 표시장치에 대한 것이다.The present invention relates to an optical film having excellent impact resistance and improved restoring force after folding, and a display device including the same.

최근, 표시장치의 박형화, 경량화, 플렉서블화로 인하여, 커버 윈도우로 유리 대신 광학 필름을 사용하는 것이 검토되고 있다. 광학 필름이 표시장치의 커버 윈도우로 사용되기 위해서는, 우수한 광학적 특성 및 기계적 특성을 가져야 한다.Recently, due to reduction in thickness, weight reduction, and flexibility of a display device, the use of an optical film instead of glass as a cover window has been studied. In order for the optical film to be used as a cover window of a display device, it must have excellent optical and mechanical properties.

따라서, 불용성, 내화학성, 내열성, 내방사선성 및 저온특성 등과 같은 기계적 특성이 우수하면서 광학 특성이 우수한 필름을 개발하는 것이 필요하고, 또한, 커버 윈도우와 같은 플렉서블 윈도우 부재로 활용 시 굴곡 특성 및 내충격성 등이 우수하고, 폴딩 시 폴딩 흔적이 남지 않는 광학 필름의 개발이 요구되는 실정이다.Therefore, it is necessary to develop a film having excellent optical properties while having excellent mechanical properties such as insolubility, chemical resistance, heat resistance, radiation resistance and low temperature properties. The development of an optical film that has excellent impact properties and does not leave a folding trace when folded is required.

광학 필름 중 대표적으로 폴리이미드(PI)계 수지는 불용성, 내화학성, 내열성, 내방사선성, 저온특성, 굴곡 특성 및 내충격성 등이 우수하여, 자동차 재료, 항공소재, 우주선 소재, 절연코팅제, 절연막, 보호필름 등으로 사용되고 있다.Among optical films, polyimide (PI)-based resins are typically excellent in insolubility, chemical resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature characteristics, flexural characteristics and impact resistance. , and is used as a protective film.

이에 본 발명의 일 실시예는, 신규한 버퍼층을 포함함으로써 폴딩 흔적이 개선되고, 내충격성이 보강된 광학 필름을 제공하고자 한다.Accordingly, an embodiment of the present invention is to provide an optical film having improved folding traces and reinforced impact resistance by including a novel buffer layer.

또한, 본 발명의 다른 일 실시예는, 폴딩 흔적이 개선되고, 내충격성이 보강된 광학 필름을 포함하는 표시장치를 제공하고자 한다.In addition, another embodiment of the present invention is to provide a display device including an optical film with improved folding traces and reinforced impact resistance.

본 발명의 일 실시예는, 광투과성 기재; 및 버퍼층;을 포함하고, 최대 복원 길이(maximum restoration length)가 40mm 내지 100mm인, 광학 필름을 제공한다.One embodiment of the present invention, a light-transmitting substrate; and a buffer layer, including, and having a maximum restoration length of 40 mm to 100 mm, providing an optical film.

상기 최대 복원 길이는, 상기 광학 필름으로부터 취득한 가로 50mm X 세로 100mm 사이즈의 측정 샘플을 세로 방향으로 직경 10mm의 원통 실린더(cylinder)에 감아 고정하고, 상기 실린더에 고정한 상기 측정 샘플을 60oC/90RH%에서 24h 동안 방치한 후, 상기 측정 샘플을 상기 실린더로부터 해제하여 평평한 면 위에 세워서 25oC/50RH%에서 24h 동안 재방치하였을 때, 상기 평평한 면의 수직 방향에서 내려다본 상기 측정 샘플의 형태가 일단과 타단이 겹치는 원을 그리는 경우에는 원의 최대 직경으로 정의되고, 상기 측정 샘플의 일단과 타단이 겹치지 않는 호를 그리는 경우에는 호의 최대 직선 거리로 정의된다.The maximum restoration length is fixed by winding and fixing a measurement sample having a size of 50 mm x 100 mm obtained from the optical film on a cylindrical cylinder having a diameter of 10 mm in the longitudinal direction, and the measurement sample fixed to the cylinder is 60 o C/90RH %, when the measurement sample was released from the cylinder, stood on a flat surface and left again at 25 o C/50RH% for 24 hours, the shape of the measurement sample viewed from the vertical direction of the flat surface was When drawing a circle with one end and the other end overlapping, it is defined as the maximum diameter of the circle, and when drawing an arc where the one end and the other end of the measurement sample do not overlap, it is defined as the maximum straight line distance of the arc.

상기 버퍼층은 우레탄 아크릴레이트 수지를 포함할 수 있다.The buffer layer may include a urethane acrylate resin.

상기 버퍼층은 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 포함할 수 있다.The buffer layer may include a urethane acrylate siloxane resin.

상기 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지는, 하기 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물; 하기 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물; 및 하기 화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물;을 포함하는 조성물에 의하여 형성될 수 있다.The urethane acrylate siloxane resin may include a urethane acrylate silane compound represented by the following Chemical Formula 1; An alkoxy silane compound represented by the following formula (2); and a diol compound represented by Formula 3 below.

[화학식 1][Formula 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 화학식 1에서 R1은 C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, R2 및 R3는 각각 독립적으로 C1~C6의 선형, 분지형 또는 지환형 알킬렌기이고, R4는 아크릴레이트기 또는 메타크릴레이트기이며, n은 1 내지 3의 정수이다.In Formula 1, R 1 is a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, R 2 and R 3 are each independently a C1-C6 linear, branched or alicyclic alkylene group, and R 4 is an acrylate group or a methacrylate group, and n is an integer of 1 to 3.

[화학식 2][Formula 2]

R5 mSi(OR6)4-m R 5 m Si(OR 6 ) 4-m

상기 화학식 2에서 R5 및 R6은 각각 독립적으로, C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, m은 0 내지 3의 정수이다.In Formula 2, R 5 and R 6 are each independently a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, and m is an integer of 0 to 3.

[화학식 3][Formula 3]

HO-R7-OHHO-R 7 -OH

상기 화학식 2에서 R7은 C1~C6의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이다.In Formula 2, R 7 is a functional group derived from a C1-C6 aliphatic or aromatic hydrocarbon.

상기 R4는, 하이드록시기(-OH)를 포함하는 아크릴레이트기일 수 있다.The R 4 may be an acrylate group including a hydroxyl group (-OH).

상기 R4는, 2-하이드록시에틸 아크릴레이트(2-hydroxyethyl acrylate, 2-HEA) 및 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(4-hydroxybutyl acrylate, 4-HBA) 중 하나로부터 유래된 아크릴레이트기일 수 있다.R 4 may be an acrylate group derived from one of 2-hydroxyethyl acrylate (2-HEA) and 4-hydroxybutyl acrylate (4-HBA). .

상기 알콕시 실란 화합물은, 테트라알콕시실란(Tetra alkoxy silane)을 포함할 수 있다.The alkoxy silane compound may include tetraalkoxy silane.

상기 다이올 화합물은, 에틸렌 글리콜(ethylene glycol)을 포함할 수 있다.The diol compound may include ethylene glycol.

상기 버퍼층은, 10 내지 150㎛의 두께를 가질 수 있다.The buffer layer may have a thickness of 10 to 150 μm.

상기 광투과성 기재는, 10 내지 100㎛의 두께를 가질 수 있다.The light-transmitting substrate may have a thickness of 10 to 100 μm.

상기 광학 필름은 3,600 내지 4,700 MPa의 탄성모듈러스를 가질 수 있다.The optical film may have an elastic modulus of 3,600 to 4,700 MPa.

상기 광학 필름은 12mN 기준으로, 60 내지 100 %의 복원률(nIT)을 가질 수 있다.The optical film may have a recovery factor (nIT) of 60 to 100% based on 12mN.

상기 광학 필름은 하드코팅층을 더 포함할 수 있다.The optical film may further include a hard coating layer.

상기 하드코팅층은 0.1 내지 10㎛의 두께를 가질 수 있다.The hard coating layer may have a thickness of 0.1 to 10㎛.

본 발명의 다른 일 실시예는, 표시패널; 및 상기 표시패널 상에 배치된, 상기 광학 필름;을 포함하는, 표시장치를 제공한다.Another embodiment of the present invention provides a display panel; and the optical film disposed on the display panel.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 버퍼층을 포함함으로써, 폴딩 시에도 폴딩 흔적이 발생하지 않거나, 폴딩 흔적이 빠르게 복원되며, 내충격성이 우수한 광학 필름을 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by including the buffer layer, no folding traces occur even when folding, or the folding traces are quickly restored, and an optical film having excellent impact resistance can be provided.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 폴딩 흔적이 시인되지 않는 광학 필름을 제공할 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, it is possible to provide an optical film in which the folding trace is not visually recognized.

본 발명의 다른 일 실시예는, 폴딩 흔적이 개선된 광학 필름을 포함하는 표시장치를 제공할 수 있다.Another embodiment of the present invention may provide a display device including an optical film having an improved folding trace.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.
도 3은 최대 복원 길이를 측정하는 방법을 설명하는 순서도이다.
도 4는 하드코팅층을 더 포함하는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.
도 5는 하드코팅층을 더 포함하는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.
도 6는 하드코팅층을 더 포함하는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 표시장치의 일부에 대한 단면도이다.
도 8은 도 7의 "P" 부분에 대한 확대 단면도이다.
1 is a cross-sectional view of an optical film according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of an optical film according to another embodiment of the present invention.
3 is a flowchart illustrating a method of measuring a maximum restoration length.
4 is a cross-sectional view of an optical film according to another embodiment of the present invention further comprising a hard coating layer.
5 is a cross-sectional view of an optical film according to another embodiment of the present invention further comprising a hard coating layer.
6 is a cross-sectional view of an optical film according to another embodiment of the present invention further comprising a hard coating layer.
7 is a cross-sectional view of a portion of a display device according to still another exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view of a portion “P” of FIG. 7 .

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세하게 설명한다. 다만, 아래에서 설명되는 실시예들은 본 발명의 명확한 이해를 돕기 위한 예시적 목적으로 제시되는 것일 뿐, 본 발명의 범위를 제한하지 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments described below are provided for illustrative purposes only to help a clear understanding of the present invention, and do not limit the scope of the present invention.

본 발명의 실시예들을 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로, 본 발명이 도면에 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 구성 요소는 동일 참조 부호로 지칭될 수 있다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명은 생략된다. Since the shapes, sizes, proportions, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are exemplary, the present invention is not limited to the matters shown in the drawings. Like elements may be referred to by the same reference numerals throughout the specification. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이라는 표현이 사용되지 않는 이상, 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소가 단수로 표현된 경우, 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함한다. 또한, 구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.When 'includes', 'have', 'consists of', etc. mentioned in this specification are used, other parts may be added unless the expression 'only' is used. When a component is expressed in the singular, the plural is included unless specifically stated otherwise. In addition, in interpreting the components, it is interpreted as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이라는 표현이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, unless the expression 'directly' is used, one or more other parts may be positioned between the two parts.

공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below, beneath)", "하부 (lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해 되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 마찬가지로, 예시적인 용어인 "위" 또는 "상"은 위와 아래의 방향을 모두 포함할 수 있다.The spatially relative terms "below, beneath", "lower", "above", "upper", etc. are one element or component as shown in the drawings. and can be used to easily describe the correlation with other devices or components. Spatially relative terms should be understood as terms including different directions of the device during use or operation in addition to the directions shown in the drawings. For example, when an element shown in the figures is turned over, an element described as "beneath" or "beneath" another element may be placed "above" the other element. Accordingly, the exemplary term “below” may include both directions below and above. Likewise, the exemplary terms “above” or “on” may include both directions above and below.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이라는 표현이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, 'immediately' or 'directly' when a temporal relationship is described as 'after', 'following', 'after', 'before', etc. It may include cases that are not continuous unless the expression "

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제1 항목, 제2 항목 및 제3 항목 중 적어도 하나"의 의미는 제1 항목, 제2 항목 또는 제3 항목 각각 뿐만 아니라 제1 항목, 제2 항목 및 제3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다. The term “at least one” should be understood to include all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of “at least one of the first, second, and third items” means each of the first, second, or third items as well as two of the first, second, and third items. It may mean a combination of all items that can be presented from more than one.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시될 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention may be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be implemented independently of each other or may be implemented together in a related relationship. may be

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이고, 도 2는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 광학 필름의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of an optical film according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of an optical film according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예는 광학 필름을 제공한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은 광투과성 기재(110) 및 버퍼층(120)을 포함한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 광학 필름은 광투과성 기재(110)의 하면에 버퍼층(120)이 형성될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니고, 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 광학 필름은 광투과성 기재(110)의 상면에 버퍼층(120)이 형성될 수도 있다. 또는, 도면에 표시하지는 않았으나, 광투과성 기재(110)의 상면 및 하면 모두에 버퍼층(120)이 배치될 수도 있다. 버퍼층(120)은 필요에 따라 임의의 위치에 배치될 수 있고, 광투과성 기재(110) 및 버퍼층(120) 사이에 또 다른 층이 형성될 수도 있다. 다만, 버퍼층(120)을 광투과성 기재(110) 상면에 형성되는 경우, 버퍼층(120)의 경도가 낮아 광학 필름의 내구성, 내스크래치성이 저하될 수 있으므로, 버퍼층(120)은 광투과성 기재(110)의 하면에 형성되는 것이 더 바람직하다.One embodiment of the present invention provides an optical film. The optical film according to an embodiment of the present invention includes a light-transmitting substrate 110 and a buffer layer 120 . As shown in FIG. 1 , in the optical film of the present invention, a buffer layer 120 may be formed on the lower surface of the light-transmitting substrate 110 . However, the present invention is not limited thereto, and as shown in FIG. 2 , in the optical film of the present invention, the buffer layer 120 may be formed on the upper surface of the light-transmitting substrate 110 . Alternatively, although not shown in the drawings, the buffer layer 120 may be disposed on both the upper and lower surfaces of the light-transmitting substrate 110 . The buffer layer 120 may be disposed at any position as needed, and another layer may be formed between the light-transmitting substrate 110 and the buffer layer 120 . However, when the buffer layer 120 is formed on the upper surface of the light-transmitting substrate 110, the hardness of the buffer layer 120 is low, and durability and scratch resistance of the optical film may be reduced, so the buffer layer 120 is the light-transmitting substrate ( 110) is more preferably formed on the lower surface.

본 발명의 일 실시예에 따른 광투과성 기재(110)는 빛이 투과될 수 있는 것이면 어느 것이든 가능하다. 예를 들어, 광투과성 기재(110)는 유리 또는 고분자 수지를 포함할 수 있다. 특히, 고분자 수지는 굴곡 특성 및 내충격성 등이 우수하여, 플렉서블 표시장치의 커버 윈도우로 사용하기 적합하다.The light-transmitting substrate 110 according to an embodiment of the present invention can be any type of light that can be transmitted. For example, the light-transmitting substrate 110 may include glass or a polymer resin. In particular, the polymer resin has excellent bending characteristics and impact resistance, and is suitable for use as a cover window of a flexible display device.

고분자 수지는 필름에 고형분 분말 형태, 용액에 용해되어 있는 형태, 용액에 용해 후 고체화한 매트릭스 형태 등 다양한 모양 및 형태로 포함될 수 있고, 본 발명과 동일한 반복단위를 포함하는 수지이면 모양 및 형태를 불문하고 모두 본 발명의 고분자 수지와 동일한 것으로 볼 수 있다. 일반적으로 필름 내에서 고분자 수지는 고분자 수지 용액을 도포 후 건조하여 고체화한 매트릭스 형태로 존재할 수 있다. The polymer resin may be included in various shapes and forms, such as a solid powder form in a film, a form dissolved in a solution, a matrix form solidified after dissolving in a solution, and the like. And all of them can be seen as the same as the polymer resin of the present invention. In general, the polymer resin in the film may exist in the form of a solidified matrix by applying a polymer resin solution and then drying.

본 발명의 일 실시예에 따른 고분자 수지는 광투과성 수지면 어느 것이든 가능하다. 예를 들어, 시클로올레핀계 유도체, 셀룰로오스계 고분자, 에틸렌아세트산비닐계 공중합체, 폴리에스테르계 고분자, 폴리스티렌계 고분자, 폴리아마이드계 고분자, 폴리아마이드이미드계 고분자, 폴리에테르이미드계 고분자, 폴리아크릴계 고분자, 폴리이미드계 고분자, 폴리에테르술폰계 고분자, 폴리술폰계 고분자, 폴리에틸렌계 고분자, 폴리프로필렌계 고분자, 폴리메틸펜텐계 고분자, 폴리염화비닐계 고분자, 폴리염화비닐리덴계 고분자, 폴리비닐알콜계 고분자, 폴리비닐아세탈계 고분자, 폴리에테르케톤계 고분자, 폴리에테르에테르케톤계 고분자, 폴리메틸메타아크릴레이트계 고분자, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 고분자, 폴리부틸렌테레프탈레이트계 고분자, 폴리에틸렌나프탈레이트계 고분자, 폴리카보네이트계 고분자, 폴리우레탄계 고분자 및 에폭시계 고분자 중 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다. 바람직하게, 본 발명의 일 실시예에 따른 고분자 수지는 폴리이미드계 고분자, 폴리아마이드계 고분자 및 폴리아마이드-이미드계 고분자 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The polymer resin according to an embodiment of the present invention may be any light-transmitting resin. For example, cycloolefin derivatives, cellulose polymers, ethylene vinyl acetate copolymers, polyester polymers, polystyrene polymers, polyamide polymers, polyamideimide polymers, polyetherimide polymers, polyacrylic polymers, Polyimide polymer, polyether sulfone polymer, polysulfone polymer, polyethylene polymer, polypropylene polymer, polymethylpentene polymer, polyvinyl chloride polymer, polyvinylidene chloride polymer, polyvinyl alcohol polymer, Polyvinyl acetal polymer, polyether ketone polymer, polyether ether ketone polymer, polymethyl methacrylate polymer, polyethylene terephthalate polymer, polybutylene terephthalate polymer, polyethylene naphthalate polymer, polycarbonate polymer It may include at least one selected from a polymer, a polyurethane-based polymer, and an epoxy-based polymer. Preferably, the polymer resin according to an embodiment of the present invention may include at least one of a polyimide-based polymer, a polyamide-based polymer, and a polyamide-imide-based polymer.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광투과성 기재(110)는 폴리이미드계 기재, 폴리아마이드계 기재 및 폴리아마이드-이미드계 기재 중 어느 하나일 수 있다. 그러나, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 광투과성을 갖는 기재라면 본 발명의 일 실시예에 따른 광투과성 기재(110)가 될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the light-transmitting substrate 110 may be any one of a polyimide-based substrate, a polyamide-based substrate, and a polyamide-imide-based substrate. However, an embodiment of the present invention is not limited thereto, and as long as it is a substrate having light transmittance, the light transmitting substrate 110 according to an embodiment of the present invention may be used.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광학 필름은, 광학 필름의 최대 복원 길이(maximum restoration length)가 40mm 내지 100mm이다.According to an embodiment of the present invention, the optical film, the maximum restoration length (maximum restoration length) of the optical film is 40mm to 100mm.

상기 최대 복원 길이는, 상기 광학 필름으로부터 취득한 가로 50mm X 세로 100mm 사이즈의 측정 샘플을 세로 방향으로 직경 10mm의 원통 실린더(cylinder)에 감아 고정하고, 상기 실린더에 고정한 상기 측정 샘플을 60oC/90RH%에서 24h 동안 방치한 후, 상기 측정 샘플을 상기 실린더로부터 해제하여 평평한 면 위에 세워서 25oC/50RH%에서 24h 동안 재방치하였을 때, 상기 평평한 면의 수직 방향에서 내려다본 상기 측정 샘플의 형태가 일단과 타단이 겹치는 원을 그리는 경우에는 원의 최대 직경으로 정의되고, 상기 측정 샘플의 일단과 타단이 겹치지 않는 호를 그리는 경우에는 호의 최대 직선 거리로 정의된다.The maximum restoration length is fixed by winding and fixing a measurement sample having a size of 50 mm x 100 mm obtained from the optical film on a cylindrical cylinder having a diameter of 10 mm in the longitudinal direction, and the measurement sample fixed to the cylinder is 60 o C/90RH %, when the measurement sample was released from the cylinder, stood on a flat surface and left again at 25 o C/50RH% for 24 hours, the shape of the measurement sample viewed from the vertical direction of the flat surface was When drawing a circle with one end and the other end overlapping, it is defined as the maximum diameter of the circle, and when drawing an arc where the one end and the other end of the measurement sample do not overlap, it is defined as the maximum straight line distance of the arc.

이하에서는 도면을 참조하여, 본 발명의 최대 복원 길이를 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the drawings, the maximum restoration length of the present invention will be described in more detail.

도 3은 최대 복원 길이를 측정하는 방법을 설명하는 순서도이다.3 is a flowchart illustrating a method of measuring a maximum restoration length.

도 3에서 (a)은 원통 실린더를 표시한 것이고, (b)는 측정 샘플을 원통 실린더에 감아 고정한 것을 표시한 것이며, (c)은 실린더로부터 측정 샘플을 해제하고, 평평한 면 위에 세워둔 것을 표시한 것이고, (d) 및 (e)는 측정 샘플의 최대 직경을 측정하는 것을 표시한 것이다.In FIG. 3, (a) shows a cylindrical cylinder, (b) shows that the measurement sample is wound and fixed on the cylindrical cylinder, (c) shows that the measurement sample is released from the cylinder and stands on a flat surface and (d) and (e) indicate that the maximum diameter of the measurement sample is measured.

도 3에 표시된 바와 같이, 60oC/90RH%에서 24h 동안 실린더에 고정시킨 후 해제하여 평평한 면 위에 세워두면, 측정 샘플은 다시 원래의 상태로 돌아가려고 한다. 그러나, 광학 필름의 탄성과 유연성이 부족할수록 측정 샘플은 회복하지 못하고 말린 원의 형태를 그리게 되고, 탄성과 유연성이 우수한 광학 필름의 측정 샘플은 완만한 호의 형태를 그리게 된다. 이때, 원의 형태란, 측정 샘플의 일단과 타단의 일정 부분 이상이 서로 겹치는 것을 말하며, 호의 형태란, 일단과 타단이 서로 만나지 못한 것을 말한다. 측정 샘플이 원의 형태를 그리는 경우에는, 해당 원의 최대 직경을 최대 복원 길이라 하고, 측정 샘플이 호의 형태를 그리는 경우에는, 해당 호 상에 존재하는 서로 다른 두 점의 최대 직선 거리를 최대 복원 길이라 한다.As shown in FIG. 3 , after being fixed in the cylinder at 60 o C/90RH% for 24 h, releasing and standing on a flat surface, the measurement sample tries to return to its original state. However, as the elasticity and flexibility of the optical film are insufficient, the measurement sample does not recover and draws a curled circle shape, and the measurement sample of the optical film excellent in elasticity and flexibility draws a gentle arc shape. In this case, the shape of a circle means that a predetermined portion or more of one end and the other end of the measurement sample overlap each other, and the shape of an arc means that one end and the other end do not meet each other. When the measurement sample draws the shape of a circle, the maximum diameter of the circle is called the maximum restoration length. called the length

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광학 필름의 최대 복원 길이가 40mm 미만인 경우, 폴딩 후 광학 필름의 복원율이 낮은 것으로, 플렉서블 표시장치의 커버 윈도우로 사용하는데 어려움이 있다. 또한, 폴딩 흔적이 발생하여, 시인성이 저하된다.According to an embodiment of the present invention, when the maximum restoration length of the optical film is less than 40 mm, the restoration rate of the optical film after folding is low, and thus it is difficult to use the optical film as a cover window of a flexible display device. In addition, folding traces are generated, and visibility is lowered.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광학 필름이 40mm 내지 100mm의 최대 복원 길이를 가지기 위해 버퍼층(120)을 포함한다. 버퍼층(120)은 광투과성 기재(110)의 양면 중 적어도 하나의 면 상에 형성될 수 있다. 버퍼층(120)은 광투과성 기재(110)의 상면 방향에 형성될 수도 있고, 하면 방향에 형성될 수도 있으며, 상면 및 하면 방향에 형성될 수도 있다. 내구성 및 내스크래칭성 향상을 위하여, 하면 방향에 버퍼층(120)이 형성되는 것이 바람직하다. 버퍼층(120)은 광투과성 기재(110)와 직접 접할 수도 있고, 버퍼층(120)과 광투과성 기재(110) 사이에 또 다른 층이 배치될 수도 있다. According to an embodiment of the present invention, the optical film includes the buffer layer 120 to have a maximum restoration length of 40mm to 100mm. The buffer layer 120 may be formed on at least one of both surfaces of the light-transmitting substrate 110 . The buffer layer 120 may be formed in the upper surface direction of the light-transmitting substrate 110 , may be formed in the lower surface direction, or may be formed in the upper and lower surface directions. In order to improve durability and scratch resistance, it is preferable that the buffer layer 120 is formed in the lower surface direction. The buffer layer 120 may be in direct contact with the light-transmitting substrate 110 , or another layer may be disposed between the buffer layer 120 and the light-transmitting substrate 110 .

본 발명의 일 실시예에 따르면, 버퍼층(120)은 우레탄 아크릴레이트 수지를 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the buffer layer 120 may include a urethane acrylate resin.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 버퍼층(120)은 바람직하게 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the buffer layer 120 may preferably include a urethane acrylate siloxane resin.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지는 하기 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물; 하기 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물; 및 하기 화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물;을 포함하는 조성물에 의하여 형성될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the urethane acrylate siloxane resin may include a urethane acrylate silane compound represented by the following Chemical Formula 1; An alkoxy silane compound represented by the following formula (2); and a diol compound represented by Formula 3 below.

[화학식 1][Formula 1]

Figure pat00002
Figure pat00002

상기 화학식 1에서 R1은 C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, R2 및 R3는 각각 독립적으로 C1~C6의 선형, 분지형 또는 지환형 알킬렌기이고, R4는 아크릴레이트기 또는 메타크릴레이트기이며, n은 1 내지 3의 정수이다.In Formula 1, R 1 is a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, R 2 and R 3 are each independently a C1-C6 linear, branched or alicyclic alkylene group, and R 4 is an acrylate group or a methacrylate group, and n is an integer of 1 to 3.

[화학식 2][Formula 2]

R5 mSi(OR6)4-m R 5 m Si(OR 6 ) 4-m

상기 화학식 2에서 R5 및 R6은 각각 독립적으로, C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, m은 0 내지 3의 정수이다.In Formula 2, R 5 and R 6 are each independently a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, and m is an integer of 0 to 3.

[화학식 3][Formula 3]

HO-R7-OHHO-R 7 -OH

상기 화학식 2에서 R7은 C1~C6의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이다.In Formula 2, R 7 is a functional group derived from a C1-C6 aliphatic or aromatic hydrocarbon.

본 발명에 따른 버퍼층(120)이 상기 화학식 1 내지 3으로 표시되는 화합물들을 포함하는 조성물에 의하여 형성되는 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 포함함으로써, 버퍼층(120)을 포함하는 광학 필름은 40mm 내지 100mm의 최대 복원 길이를 가질 수 있다.Since the buffer layer 120 according to the present invention includes a urethane acrylate siloxane resin formed by the composition including the compounds represented by Chemical Formulas 1 to 3, the optical film including the buffer layer 120 has a maximum of 40 mm to 100 mm. It can have a recovery length.

보다 구체적으로, 본 발명에 따른 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지가 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물을 포함함으로써, 버퍼층(120)은, 표시장치가 폴딩할 때, 광학 필름 하부의 내부 기판에 가해지는 인장력 또는 압축력을 완충시키는 역할을 수행함으로써, 폴딩 시 발생하는 폴딩 흔적을 감소시킬 수 있다.More specifically, since the urethane acrylate siloxane resin according to the present invention includes the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1, the buffer layer 120 is applied to the inner substrate under the optical film when the display device is folded. By performing a role of buffering tensile or compressive forces, it is possible to reduce folding traces that occur during folding.

본 발명에 따른 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지가 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물을 포함함으로써, 버퍼층(120)이 적절한 경도를 가지도록 할 수 있고, 그에 따라, 외력에 의한 광학 필름의 변형을 최소화할 수 있다.Since the urethane acrylate siloxane resin according to the present invention includes the alkoxysilane compound represented by Chemical Formula 2, the buffer layer 120 can have an appropriate hardness, and accordingly, the deformation of the optical film due to external force can be minimized. have.

본 발명에 따른 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지가 화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물을 포함함으로써, 버퍼층(120)의 유연성을 극대화 시키고, 탄성을 부여할 수 있고, 또한, 광투과성 기재(110) 상에 버퍼층(120) 코팅 시, 코팅면의 평활도를 향상시킬 수 있다. 그로 인하여, 광학 필름의 폴딩 시 광투과성 기재(110)로부터 버퍼층(120)이 박리되는 것을 방지하여 광학 필름의 폴딩 신뢰성을 향상시킬 수 있다. Since the urethane acrylate siloxane resin according to the present invention contains the diol compound represented by Chemical Formula 3, it is possible to maximize the flexibility of the buffer layer 120 and impart elasticity, and also, a buffer layer on the light-transmitting substrate 110 . (120) When coating, it is possible to improve the smoothness of the coating surface. Therefore, when the optical film is folded, it is possible to prevent the buffer layer 120 from being peeled off from the light-transmitting substrate 110 , thereby improving the folding reliability of the optical film.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 형성하는 조성물은 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물을 9:1 내지 5:5의 몰비로 포함할 수 있다. 바람직하게, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 형성하는 조성물은 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물을 8:2 내지 6:4의 몰비로 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the composition for forming the urethane acrylate siloxane resin includes the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxy silane compound represented by Formula 2 in a molar ratio of 9:1 to 5:5 can do. Preferably, the composition for forming the urethane acrylate siloxane resin may include the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxy silane compound represented by Formula 2 in a molar ratio of 8:2 to 6:4.

화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물이 9:1의 몰비보다 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물의 몰비가 큰 경우, 예를 들어, 10:0의 몰비, 즉, 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물만 포함하는 경우에는, 버퍼층(120)의 경도 특성이 매우 저하되어, 단단하지 않고 연한 버퍼층(120)을 형성하여 외부 충격에 의한 복원력이 저하되는 문제점이 발생할 수 있다. 또한, 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물 없이, 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물만 포함하는 경우에는, 중합 반응 자체가 현저히 저하된다는 문제점이 있다. When the molar ratio of the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxy silane compound represented by Formula 2 to the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 is greater than the molar ratio of 9:1, for example, 10:0 In the case of containing only the molar ratio, that is, the urethane acrylate silane compound represented by Chemical Formula 1, the hardness characteristics of the buffer layer 120 are very low, and the buffer layer 120 that is not hard and soft is formed, thereby reducing the restoring force due to external impact. problems may arise. In addition, when only the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 is included without the alkoxysilane compound represented by Formula 2, there is a problem in that the polymerization reaction itself is significantly reduced.

반대로, 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물이 5:5의 몰비보다 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물의 몰비가 큰 경우, 버퍼층(120)의 유연성이 저하되고, 너무 딱딱하여 필름의 코팅층으로 사용 시에 버퍼층(120)이 깨질 수 있으며, 또한, 버퍼층(120)의 탄성이 저하되어 복원력이 저하된다는 문제점이 있다. Conversely, when the molar ratio of the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxysilane compound represented by Formula 2 to the alkoxysilane compound represented by Formula 2 is greater than the molar ratio of 5:5, the flexibility of the buffer layer 120 is lowered. and the buffer layer 120 may be broken when used as a coating layer of a film because it is too hard, and there is a problem that the elasticity of the buffer layer 120 is lowered and the restoring force is lowered.

따라서, 버퍼층(120)이 적당한 경도 및 탄성을 가지기 위해서는 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물이 9:1 내지 5:5의 몰비로 포함돼야 한다. Therefore, in order for the buffer layer 120 to have appropriate hardness and elasticity, the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxysilane compound represented by Formula 2 should be included in a molar ratio of 9:1 to 5:5.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 형성하는 조성물은 "화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물 전체" 및 "화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물"을 8:2 내지 3:7의 몰비로 포함할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the composition for forming the urethane acrylate siloxane resin is "the whole of the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxysilane compound represented by Formula 2" and "Diol represented by Formula 3" compound" in a molar ratio of 8:2 to 3:7.

"화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물 전체"가 "화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물"에 대하여 8:2의 몰비보다 큰 경우, 버퍼층(120)의 유연성 및 탄성이 저하되어, 폴딩 시 버퍼층(120)이 깨지거나 크랙(crack)이 발생할 수 있다는 문제점이 있다. 또한, 버퍼층(120)의 코팅면의 평활도가 감소하여, 광투과성 기재(110)로부터 버퍼층(120)이 박리되는 현상이 발생할 수도 있다.When "the whole of the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxysilane compound represented by Formula 2" is greater than a molar ratio of 8:2 with respect to the "diol compound represented by Formula 3", the flexibility of the buffer layer 120 And elasticity is lowered, and there is a problem that the buffer layer 120 may be broken or cracks may occur during folding. In addition, the smoothness of the coating surface of the buffer layer 120 may decrease, and thus the buffer layer 120 may be peeled off from the light-transmitting substrate 110 .

반대로, "화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물 전체"가 "화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물"에 대하여 5:5의 몰비보다 작은 경우, 저경도의 무른 버퍼층(120)을 형성하므로, 외부 충격에 대한 복원력이 저하된다는 문제점이 발생할 수 있다.Conversely, when "the whole of the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 and the alkoxy silane compound represented by Formula 2" is less than a molar ratio of 5:5 with respect to the "diol compound represented by Formula 3", low hardness and soft Since the buffer layer 120 is formed, there may be a problem in that the restoring force against external impact is reduced.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 화학식 1의 R4는, 하이드록시기(-OH)를 포함하는 아크릴레이트기일 수 있다. 구체적으로, 예를 들어, R4는 2-하이드록시에틸 아크릴레이트(2-hydroxyethyl acrylate, 2-HEA) 및 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(4-hydroxybutyl acrylate, 4-HBA) 중 하나로부터 유래된 아크릴레이트기일 수 있다.According to an embodiment of the present invention, R 4 in Formula 1 may be an acrylate group including a hydroxyl group (-OH). Specifically, for example, R 4 is derived from one of 2-hydroxyethyl acrylate (2-HEA) and 4-hydroxybutyl acrylate (4-HBA). It may be an acrylate group.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물은 하기 화학식 4로 표시되는 실란 화합물 및 하기 화학식 5로 표시되는 실란 화합물 중 적어도 하나의 실란 화합물을 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the urethane acrylate silane compound represented by Formula 1 may include at least one silane compound selected from a silane compound represented by Formula 4 and a silane compound represented by Formula 5 below.

[화학식 4][Formula 4]

Figure pat00003
Figure pat00003

[화학식 5][Formula 5]

Figure pat00004
Figure pat00004

본 발명의 일 실시예에 따르면, 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물은 테트라알콕시실란(Si(OR6)4, Tetraalkoxy silane)을 포함할 수 있다. 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 형성하는 조성물이 테트라알콕시실란을 포함함으로써, 버퍼층(120)이 적절한 경도를 가지도록 하여, 외력에 의한 광학 필름의 변형을 최소화할 수 있다. 반면에, 트리알콕시실란 또는 디알콕시실란을 포함하는 경우에는, 버퍼층(120)의 경도 향상이 저조하여 외력에 의한 광학 필름의 변형 정도가 증가할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the alkoxysilane compound represented by Formula 2 may include tetraalkoxysilane (Si(OR 6 )4, Tetraalkoxy silane). Since the composition for forming the urethane acrylate siloxane resin includes tetraalkoxysilane, the buffer layer 120 has an appropriate hardness, thereby minimizing deformation of the optical film due to external force. On the other hand, when trialkoxysilane or dialkoxysilane is included, the hardness of the buffer layer 120 is poorly improved, so that the degree of deformation of the optical film by external force may increase.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물은 에틸렌 글리콜(ethylene glycol)을 포함할 수 있다. 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 형성하는 조성물이 에틸렌 글리콜을 포함함으로써, 버퍼층(120)의 유연성이 증가하고, 우수한 탄성을 가질 수 있다. 그에 따라, 광학 필름의 최대 복원 길이가 개선될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the diol compound represented by Formula 3 may include ethylene glycol. Since the composition for forming the urethane acrylate siloxane resin includes ethylene glycol, the flexibility of the buffer layer 120 may increase and have excellent elasticity. Accordingly, the maximum recovery length of the optical film can be improved.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광투과성 기재(110)는 10 내지 100㎛의 두께를 가질 수 있다. 광투과성 기재(110)의 두께가 10㎛ 미만인 경우, 내구성 및 내열성이 감소하여, 커버 윈도우로 사용하기 부적합하다. 반면에, 광투과성 기재(110)의 두께가 100㎛ 초과인 경우, 광학 필름 두께가 과도하게 두꺼워지기 때문에 폴딩 시 최소 곡률반경이 증가하여 광학 필름의 굴곡 특성이 저하되고, 광투과율의 감소로 인하여 시인성이 감소한다.According to one embodiment of the present invention, the light-transmitting substrate 110 may have a thickness of 10 to 100㎛. When the thickness of the light-transmitting substrate 110 is less than 10 μm, durability and heat resistance are reduced, making it unsuitable for use as a cover window. On the other hand, when the thickness of the light-transmitting substrate 110 is more than 100 μm, the minimum radius of curvature increases when folding because the optical film thickness becomes excessively thick, thereby reducing the bending characteristics of the optical film, and due to a decrease in light transmittance Visibility decreases.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 버퍼층(120)은 10 내지 150㎛의 두께를 가질 수 있다. 버퍼층(120)의 두께가 10㎛ 미만인 경우, 버퍼층(120)의 폴딩 흔적 및 내충격성 개선 효과가 미미하다. 반대로, 버퍼층(120)의 두께가 150㎛ 초과인 경우, 광학 필름 두께가 과도하게 두꺼워지기 때문에 폴딩 시 최소 곡률반경이 증가하여, 광학 필름의 굴곡 특성이 저하된다.According to an embodiment of the present invention, the buffer layer 120 may have a thickness of 10 to 150 μm. When the thickness of the buffer layer 120 is less than 10 μm, the effect of improving the folding trace and impact resistance of the buffer layer 120 is insignificant. Conversely, when the thickness of the buffer layer 120 is more than 150 μm, the minimum radius of curvature increases during folding because the optical film thickness becomes excessively thick, and the bending characteristics of the optical film are deteriorated.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 본 발명의 광학 필름은 3,600 내지 4,700 MPa의 탄성모듈러스를 가질 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the optical film of the present invention may have an elastic modulus of 3,600 to 4,700 MPa.

광학 필름의 탄성모듈러스는, 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정할 수 있다.The elastic modulus of the optical film can be measured using Nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH% conditions.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 12mN 기준으로, 60 내지 100%의 복원률(nIT)을 가질 수 있다. 광학 필름의 복원률(12mN)은 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정할 수 있다. 복원률(12mN) 측정 시, 버퍼층(120)을 아래 방향으로 하고, 광투과성 기재(110)를 윗 방향으로 하여, 상층 기재의 물성을 측정하는 방식으로 실시한다. 본 발명의 광학 필름은 버퍼층(120)을 포함함으로써, 60% 이상의 복원률(nIT; 12mN)를 가질 수 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a recovery factor (nIT) of 60 to 100% based on 12 mN. The restoration rate (12mN) of the optical film can be measured using Nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH% conditions. When measuring the recovery factor (12 mN), the buffer layer 120 is in the downward direction and the light-transmitting substrate 110 is in the upward direction, and the physical properties of the upper substrate are measured. The optical film of the present invention may have a recovery factor (nIT; 12mN) of 60% or more by including the buffer layer 120 .

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 220 내지 310 N/mm2의 복합경도를 가질 수 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a composite hardness of 220 to 310 N/mm 2 .

광학 필름의 복합경도는 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정할 수 있다. 복합경도 측정 시, 버퍼층(120)을 아래 방향으로 하고, 광투과성 기재(110)를 윗 방향으로 하여, 상층 기재의 물성을 측정하는 방식으로 실시한다.The composite hardness of the optical film can be measured using Nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH%. When measuring the composite hardness, the buffer layer 120 is directed downward and the light-transmitting substrate 110 is turned upward, and the physical properties of the upper substrate are measured.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, R3.5 이하의 크랙포인트를 가질 수 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a crack point of R3.5 or less.

광학 필름의 크랙포인트는 JUNIL Tech社, JIRBT-620-2 Radius Bending Tester 사용하여 곡률반경을 줄여가며 Crack 발생하는 지점을 확인하여 측정할 수 있다. Crack이 발생하는 지점의 R값이 크랙포인트이다.The crack point of the optical film can be measured by reducing the radius of curvature by using JUNIL Tech, JIRBT-620-2 Radius Bending Tester and checking the point where cracks occur. The R value at the point where the crack occurs is the crack point.

이하에서는 도 4 내지 도 6를 참조하여, 본 발명의 다른 일 실시예들을 상세하게 설명한다. 도 4 내지 5는 하드코팅층을 더 포함하는 본 발명의 다른 일 실시예들에 따른 광학 필름의 단면도이다.Hereinafter, other exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 6 . 4 to 5 are cross-sectional views of an optical film according to other embodiments of the present invention further comprising a hard coating layer.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 광학 필름은 하드코팅층(130)을 더 포함할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 광학 필름은 버퍼층(120) 상면에 하드코팅층(130)이 형성될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니고, 도 5에 도시된 바와 같이, 광투과성 기재(110)의 하면에 버퍼층(120)이 형성되고, 광투과성 기재(110)의 상면에 하드코팅층(130)이 형성될 수도 있다. 또한, 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 광학 필름은 광투과성 기재(110) 상면 및 하면에 모두 버퍼층(120)이 형성되고, 상부 버퍼층(120)의 상면에 하드코팅층(130)이 형성될 수도 있다. 버퍼층(120) 및 하드코팅층(130)은 필요에 따라 임의의 위치에, 임의의 수로 배치될 수 있고, 광투과성 기재(110) 및 버퍼층(120) 사이, 또는 광투과성 기재(110) 및 하드코팅층(130) 사이, 또는 버퍼층(120) 및 하드코팅층(130) 사이에 또 다른 층이 형성될 수도 있다.According to another embodiment of the present invention, the optical film may further include a hard coating layer (130). As shown in FIG. 4 , in the optical film of the present invention, a hard coating layer 130 may be formed on the upper surface of the buffer layer 120 . However, the present invention is not limited thereto, and as shown in FIG. 5 , the buffer layer 120 is formed on the lower surface of the light-transmitting substrate 110 , and the hard coating layer 130 on the upper surface of the light-transmitting substrate 110 . may be formed. In addition, as shown in FIG. 6 , in the optical film according to the present invention, the buffer layer 120 is formed on both the upper and lower surfaces of the light-transmissive substrate 110 , and the hard coating layer 130 is formed on the upper surface of the upper buffer layer 120 . may be formed. The buffer layer 120 and the hard coating layer 130 may be arranged in any number at any position as needed, and between the light-transmitting substrate 110 and the buffer layer 120 or the light-transmitting substrate 110 and the hard coating layer. Another layer may be formed between the 130 , or between the buffer layer 120 and the hard coating layer 130 .

본 발명의 광학 필름이 하드코팅층(130)을 더 포함함으로써, 광학 필름의 내구성 및 내스크래치성과 같은 기계적 특성이 향상될 수 있다.By further including the hard coating layer 130 of the optical film of the present invention, mechanical properties such as durability and scratch resistance of the optical film may be improved.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 하드코팅층(130)은 에폭시계 수지, 실록산계 수지 및 아크릴레이트계 수지 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the hard coating layer 130 may include at least one of an epoxy-based resin, a siloxane-based resin, and an acrylate-based resin.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 하드코팅층(130)은 0.1 내지 10㎛의 두께를 가질 수 있다. 하드코팅층(130)의 두께가 0.1㎛ 미만인 경우, 하드코팅층(130)에 의한 내구성 및 내스크래치성 향상이 저조하다. 반면에, 하드코팅층(130)의 두께가 10㎛ 초과인 경우, 광학 필름의 항력이 증가하여 플렉서블 표시장치의 커버 윈도우로 사용하는데 어려움이 있다.According to another embodiment of the present invention, the hard coating layer 130 may have a thickness of 0.1 to 10㎛. When the thickness of the hard coating layer 130 is less than 0.1 μm, the improvement in durability and scratch resistance by the hard coating layer 130 is poor. On the other hand, when the thickness of the hard coating layer 130 is greater than 10 μm, it is difficult to use the optical film as a cover window of the flexible display device because the drag force of the optical film is increased.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광학 필름은 광투과성을 갖는다. 또한, 광학 필름은 플렉서블 특성을 갖는다. 예를 들어, 광학 필름은 벤딩(bending) 특성, 폴딩(folding) 특성 및 롤러블(rollable) 특성을 갖는다. 광학 필름은 우수한 기계적 특성 및 광학적 특성을 가질 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the optical film has light transmittance. In addition, the optical film has flexible properties. For example, the optical film has a bending property, a folding property, and a rollable property. The optical film may have excellent mechanical and optical properties.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 광학 필름은, 광학 필름이 표시패널을 보호하기 충분한 정도의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 광학 필름은 20 내지 300㎛의 두께를 가질 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the optical film may have a thickness sufficient for the optical film to protect the display panel. For example, the optical film may have a thickness of 20 to 300 μm.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 100㎛ 두께를 기준으로, 5.0 이하의 황색도를 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 100㎛ 두께를 기준으로, 4.0 이하의 황색도를 가질 수도 있고, 2.0 이하의 황색도를 가질 수도 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a yellowness of 5.0 or less based on a thickness of 100 μm. In addition, the optical film according to an embodiment of the present invention may have a yellowness of 4.0 or less, or a yellowness of 2.0 or less, based on a thickness of 100 μm.

황색도는 SPECTRO PHOTOMETER CM-3700/KONICA MINOLTA/D65, 2o, Transmittance에 의하여 측정될 수 있다.Yellowness can be measured by SPECTRO PHOTOMETER CM-3700/KONICA MINOLTA/D65, 2 o , Transmittance.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 100㎛ 두께를 기준으로, UV 분광광도계로 측정된 가시광선 영역에서 88.00% 이상의 광투과도를 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 50㎛ 두께를 기준으로, 90% 이상의 광투과도를 가질 수도 있고, 91% 이상의 광투과도를 가질 수도 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a light transmittance of 88.00% or more in a visible light region measured with a UV spectrophotometer based on a thickness of 100 μm. In addition, the optical film according to an embodiment of the present invention may have a light transmittance of 90% or more, or a light transmittance of 91% or more, based on a thickness of 50 μm.

광투과도는 표준규격 JIS K 7361에 따라 분광 광도계(spectrophotometer)에 의하여, 파장 360 내지 740nm의 범위에서 측정될 수 있다. 분광 광도계(spectrophotometer)로, 예를 들어, Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY가 사용될 수 있다.The light transmittance may be measured in a wavelength range of 360 to 740 nm by a spectrophotometer according to standard JIS K 7361. As a spectrophotometer, for example, Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY can be used.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 100㎛ 두께를 기준으로, 2.0 이하의 헤이즈를 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름은, 100㎛ 두께를 기준으로, 1.0 이하의 헤이즈를 가질 수도 있고, 0.5 이하의 헤이즈를 가질 수도 있다.The optical film according to an embodiment of the present invention may have a haze of 2.0 or less based on a thickness of 100 μm. In addition, the optical film according to an embodiment of the present invention may have a haze of 1.0 or less, or a haze of 0.5 or less, based on a thickness of 100 μm.

헤이즈는 표준규격 JIS K 7136에 따라 분광 광도계(spectrophotometer)에 의하여 측정될 수 있다. 분광 광도계(spectrophotometer)로, 예를 들어, Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY가 사용될 수 있다.The haze may be measured by a spectrophotometer according to the standard JIS K 7136. As a spectrophotometer, for example, Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY can be used.

이하, 도 7 및 도 8을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름이 사용된 표시장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, a display device using an optical film according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 and 8 .

도 7은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 표시장치(200)의 일부에 대한 단면도이고, 도 8은 도 7의 "P" 부분에 대한 확대 단면도이다.FIG. 7 is a cross-sectional view of a portion of the display device 200 according to still another exemplary embodiment, and FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view of a portion “P” of FIG. 7 .

도 7을 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 표시장치(200)는 표시패널(501) 및 표시패널(501) 상의 광학 필름(100)을 포함한다. Referring to FIG. 7 , a display device 200 according to another exemplary embodiment includes a display panel 501 and an optical film 100 on the display panel 501 .

도 7 및 도 8을 참조하면, 표시패널(501)은 기판(510), 기판(510) 상의 박막 트랜지스터(TFT) 및 박막 트랜지스터(TFT)와 연결된 유기 발광 소자(570)를 포함한다. 유기 발광 소자(570)는 제1 전극(571), 제1 전극(571) 상의 유기 발광층(572) 및 유기 발광층(572) 상의 제2 전극(573)을 포함한다. 도 7 및 도 8에 개시된 표시장치(200)은 유기발광 표시장치이다.7 and 8 , the display panel 501 includes a substrate 510 , a thin film transistor TFT on the substrate 510 , and an organic light emitting diode 570 connected to the thin film transistor TFT. The organic light emitting diode 570 includes a first electrode 571 , an organic emission layer 572 on the first electrode 571 , and a second electrode 573 on the organic emission layer 572 . The display device 200 illustrated in FIGS. 7 and 8 is an organic light emitting display device.

기판(510)은 유리 또는 플라스틱으로 만들어질 수 있다. 구체적으로, 기판(510)은 고분자 수지 또는 광학 필름과 같은 플라스틱으로 만들어질 수 있다. 도시되지 않았지만, 기판(510) 상에 버퍼층이 배치될 수 있다. The substrate 510 may be made of glass or plastic. Specifically, the substrate 510 may be made of a plastic such as a polymer resin or an optical film. Although not shown, a buffer layer may be disposed on the substrate 510 .

박막 트랜지스터(TFT)는 기판(510) 상에 배치된다. 박막 트랜지스터(TFT)는 반도체층(520), 반도체층(520)과 절연되어 반도체층(520)의 적어도 일부와 중첩하는 게이트 전극(530), 반도체층(520)과 연결된 소스 전극(541) 및 소스 전극(541)과 이격되어 반도체층(520)과 연결된 드레인 전극(542)을 포함한다. The thin film transistor TFT is disposed on the substrate 510 . The thin film transistor TFT includes a semiconductor layer 520 , a gate electrode 530 that is insulated from the semiconductor layer 520 and overlaps at least a portion of the semiconductor layer 520 , a source electrode 541 connected to the semiconductor layer 520 , and A drain electrode 542 is spaced apart from the source electrode 541 and connected to the semiconductor layer 520 .

도 8을 참조하면, 게이트 전극(530)과 반도체층(520) 사이에 게이트 절연막(535)이 배치된다. 게이트 전극(530) 상에 층간 절연막(551)이 배치되고, 층간 절연막(551) 상에 소스 전극(541) 및 소스 전극(541)이 배치될 수 있다.Referring to FIG. 8 , a gate insulating layer 535 is disposed between the gate electrode 530 and the semiconductor layer 520 . An interlayer insulating layer 551 may be disposed on the gate electrode 530 , and a source electrode 541 and a source electrode 541 may be disposed on the interlayer insulating layer 551 .

평탄화막(552)은 박막 트랜지스터(TFT) 상에 배치되어 박막 트랜지스터(TFT)의 상부를 평탄화시킨다.The planarization layer 552 is disposed on the thin film transistor TFT to planarize an upper portion of the thin film transistor TFT.

제1 전극(571)은 평탄화막(552) 상에 배치된다. 제1 전극(571)은 평탄화막(552)에 구비된 콘택홀을 통해 박막 트랜지스터(TFT)와 연결된다. The first electrode 571 is disposed on the planarization layer 552 . The first electrode 571 is connected to the thin film transistor TFT through a contact hole provided in the planarization layer 552 .

뱅크층(580)은 제1 전극(571)의 일부 및 평탄화막(552) 상에 배치되어 화소 영역 또는 발광 영역을 정의한다. 예를 들어, 뱅크층(580)이 복수의 화소들 사이의 경계 영역에 매트릭스 구조로 배치됨으로써, 뱅크층(580)에 의해 화소 영역이 정의될 수 있다. The bank layer 580 is disposed on a portion of the first electrode 571 and on the planarization layer 552 to define a pixel area or a light emitting area. For example, since the bank layer 580 is disposed in a matrix structure in a boundary region between a plurality of pixels, a pixel region may be defined by the bank layer 580 .

유기 발광층(572)은 제1 전극(571) 상에 배치된다. 유기 발광층(572)은 뱅크층(580) 상에도 배치될 수 있다. 유기 발광층(572)은 하나의 발광층을 포함할 수도 있고, 상하로 적층된 2개의 발광층을 포함할 수도 있다. 이러한 유기 발광층(572)에서는 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나의 색을 갖는 광이 방출될 수 있으며, 백색(White) 광이 방출될 수도 있다. The organic emission layer 572 is disposed on the first electrode 571 . The organic emission layer 572 may also be disposed on the bank layer 580 . The organic emission layer 572 may include one emission layer or two emission layers stacked vertically. Light having any one of red, green, and blue may be emitted from the organic emission layer 572 , and white light may be emitted.

제2 전극(573)은 유기 발광층(572) 상에 배치된다.The second electrode 573 is disposed on the organic emission layer 572 .

제1 전극(571), 유기 발광층(572) 및 제2 전극(573)이 적층되어 유기 발광 소자(270)가 이루어질 수 있다. The first electrode 571 , the organic emission layer 572 , and the second electrode 573 may be stacked to form the organic light emitting diode 270 .

도시되지 않았지만, 유기 발광층(572)이 백색(White) 광을 발광하는 경우, 개별 화소는 유기 발광층(572)에서 방출되는 백색(White) 광을 파장 별로 필터링하기 위한 컬러 필터를 포함할 수 있다. 컬러 필터는 광의 이동경로 상에 형성된다.Although not shown, when the organic emission layer 572 emits white light, each pixel may include a color filter for filtering the white light emitted from the organic emission layer 572 for each wavelength. A color filter is formed on the path of light.

제2 전극(573) 상에 박막 봉지층(590)이 배치될 수 있다. 박막 봉지층(590)은 적어도 하나의 유기막 및 적어도 하나의 무기막을 포함할 수 있으며, 적어도 하나의 유기막 및 적어도 하나의 무기막이 교호적으로 배치될 수 있다.A thin film encapsulation layer 590 may be disposed on the second electrode 573 . The thin film encapsulation layer 590 may include at least one organic layer and at least one inorganic layer, and at least one organic layer and at least one inorganic layer may be alternately disposed.

이상 설명된 적층 구조를 갖는 표시패널(501) 상에 본 발명에 따른 광학 필름(100)이 배치된다.The optical film 100 according to the present invention is disposed on the display panel 501 having the above-described laminated structure.

이하, 예시적인 제조예, 실시예 및 비교예를 참조하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다. 그러나, 이하 설명되는 제조예, 실시예 및 비교예에 의하여 본 발명이 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to exemplary Preparation Examples, Examples and Comparative Examples. However, the present invention is not limited by the Preparation Examples, Examples and Comparative Examples described below.

<제조예 1: 광투과성 기재용 고분자 수지 조성물의 제조><Preparation Example 1: Preparation of polymer resin composition for light-transmitting substrate>

4구의 이중 자켓 반응조에 TFDB 80.06g(250 mmol)(디아민계 화합물)을 디메틸아세트아마이드(DMAc)(용매)에 용해시켰다. 여기에, 19.86g(68 mmol)의 BPDA(디안하이드라이드계 화합물)를 투입하고, 반응기의 온도를 25oC로 2시간 동안 유지하면서 교반시켰다. 반응이 완료되면, 6FDA(디안하이드라이드계 화합물) 13.33g(30mmol)을 넣고 1시간 동안 25oC에서 교반시켰다. 이후 TPC 29.945g (154 mmol)를 투입하였다. 1시간 동안 15oC에서 교반하였다.80.06 g (250 mmol) (diamine-based compound) of TFDB was dissolved in dimethylacetamide (DMAc) (solvent) in a 4-neck double jacketed reactor. Here, 19.86g (68mmol) of BPDA (dianhydride-based compound) was added, and the reactor was stirred while maintaining the temperature at 25 ° C for 2 hours. Upon completion of the reaction, 13.33 g (30 mmol) of 6FDA (dianhydride-based compound) was added and stirred at 25 o C for 1 hour. Thereafter, 29.945 g (154 mmol) of TPC was added. Stirred at 15 ° C for 1 h.

중합 반응이 종료된 후, 상기 반응액에, 이미드화 촉매인 피리딘(pyridine, Py)(16.97 g)과 탈수제인 아세트산 무수물(acetic anhydride, AA)(21.97 g)를 투입한 후, 온도를 80oC로 올려 1시간 교반하였다. 이를 상온으로 식히고, 메탄올(3000 ml)에 부어 침전이 이루어지도록 하였다. 침전물을 여과하여 흰색 고체 상태의 고분자 수지를 획득하였다. 획득된 고분자 수지는 고체 분말 상태이다. 제조예 1에서 제조된 고분자 수지는, 폴리아마이드-이미드 고분자 수지이다.After the polymerization reaction was completed, pyridine (Py) (16.97 g) as an imidization catalyst and acetic anhydride (AA) (21.97 g) as a dehydrating agent were added to the reaction solution, and then the temperature was adjusted to 80 o C and stirred for 1 hour. This was cooled to room temperature, and poured into methanol (3000 ml) to cause precipitation. The precipitate was filtered to obtain a polymer resin in a white solid state. The obtained polymer resin is in a solid powder state. The polymer resin prepared in Preparation Example 1 is a polyamide-imide polymer resin.

이와 같이 획득된 고체 분말 상태의 고분자 수지를 디메틸아세트아마이드(DMAc)에 12.7 wt%의 농도로 용해하여, 고분자 수지 조성물을 제조하였다. The polymer resin in the solid powder state thus obtained was dissolved in dimethylacetamide (DMAc) at a concentration of 12.7 wt% to prepare a polymer resin composition.

<제조예 2: 버퍼층용 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물의 제조><Preparation Example 2: Preparation of urethane acrylate siloxane resin composition for buffer layer>

<제조예 2-1><Preparation Example 2-1>

1) 하기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of a compound represented by the following formula (6) (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

[화학식 6][Formula 6]

Figure pat00005
Figure pat00005

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 353g(0.90mmol), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 21g(0.10몰), H2O 28g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) 353 g (0.90 mmol) of the reactant obtained in step 1), 21 g (0.10 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 28 g of H 2 O, and 0.1 g of NaOH are placed in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,512이고, PDI는 1.8이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,512, and the PDI was 1.8.

<제조예 2-2><Preparation Example 2-2>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 314g(0.80몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 42g(0.20몰), H2O 29g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) Put 314 g (0.80 mol) of the reactant obtained in step 1), 42 g (0.20 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 29 g of H 2 O, and 0.1 g of NaOH in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,785이고, PDI는 2.1이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,785, and the PDI was 2.1.

<제조예 2-3><Preparation Example 2-3>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 274g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 30g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) Put 274 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), 62 g (0.30 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 30 g of H 2 O, and 0.1 g of NaOH in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,965이고, PDI는 2.2이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,965, and the PDI was 2.2.

<제조예 2-4><Preparation Example 2-4>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 235g(0.60몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 83g(0.40몰), H2O 31g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) Put 235 g (0.60 mol) of the reactant obtained in step 1), 83 g (0.40 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), H 2 O 31 g, and NaOH 0.1 g in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,754이고, PDI는 1.9이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,754, and the PDI was 1.9.

<제조예 2-5><Preparation Example 2-5>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 196g(0.50몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 104g(0.50몰), H2O 32g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) Put 196 g (0.50 mol) of the reactant obtained in step 1), 104 g (0.50 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 32 g of H 2 O, and 0.1 g of NaOH in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,498이고, PDI는 1.8이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,498, and the PDI was 1.8.

<제조예 2-6><Preparation Example 2-6>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007), 2-하이드록시에틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 2-HEA) 255g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 255 g (2.20) of the compound represented by Formula 6 (3-(triethoxysilyl)propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 2-hydroxyethyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 2-HEA) mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a Mechanical Stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 255g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 30g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) Put 255 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), 62 g (0.30 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 30 g of H 2 O, and 0.1 g of NaOH in a 500 mL glass reactor and use a Mechanical Stirrer and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,836이고, PDI는 2.0이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,836, and the PDI was 2.0.

<제조예 2-7><Preparation Example 2-7>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 274g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 24g(1.33몰), 에틸렌 글리콜(Sigma-Aldrich사) 20g(0.33몰), NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) 274 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 62 g (0.30 mol), H 2 O 24 g (1.33 mol), ethylene glycol (Sigma-Aldrich) 20 g (0.33 mol), 0.1 g of NaOH was placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,415이고, PDI는 1.6이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,415, and the PDI was 1.6.

<제조예 2-8><Preparation Example 2-8>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 274g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 21g(1.17몰), 에틸렌 글리콜(Sigma-Aldrich사) 31g(0.50몰), NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) 274 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 62 g (0.30 mol), H 2 O 21 g (1.17 mol), ethylene glycol (Sigma-Aldrich) 31 g (0.50 mol), 0.1 g of NaOH was placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer, to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,232이고, PDI는 1.4이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,232, and the PDI was 1.4.

<제조예 2-9><Preparation Example 2-9>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 274g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 15g(0.83몰), 에틸렌 글리콜(Sigma-Aldrich사) 51g(0.83몰), NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) 274 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 62 g (0.30 mol), H 2 O 15 g (0.83 mol), ethylene glycol (Sigma-Aldrich) 51 g (0.83 mol), 0.1 g of NaOH was placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,485이고, PDI는 1.6이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,485, and the PDI was 1.6.

<제조예 2-10><Preparation Example 2-10>

1) 상기 화학식 6으로 표시되는 화합물(3-(트리에톡시실릴)프로필이소시아네이트, Shinetsu사, KBE-9007) 495g(2.00몰), 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(OSAKA Organic Chemical Industry사, 4-HBA) 317g(2.20몰), 트리에틸아민 11g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 상온에서 24h 교반하여 반응시켰다.1) 495 g (2.00 mol) of the compound represented by the formula 6 (3-(triethoxysilyl) propyl isocyanate, Shinetsu, KBE-9007), 4-hydroxybutyl acrylate (OSAKA Organic Chemical Industry, 4- HBA) 317 g (2.20 mol) and 11 g of triethylamine were placed in a 500 mL glass reactor and stirred for 24 h at room temperature using a mechanical stirrer to react.

2) 상기 1) 단계에서 얻은 반응물 274g(0.70몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 62g(0.30몰), H2O 9g(0.5몰), 에틸렌 글리콜(Sigma-Aldrich사) 72g(1.16몰), NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물을 수득하였다.2) 274 g (0.70 mol) of the reactant obtained in step 1), 62 g (0.30 mol) of tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A), 9 g (0.5 mol) of H 2 O, 72 g of ethylene glycol (Sigma-Aldrich) (1.16 mol), 0.1 g of NaOH was placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 ° C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a urethane acrylate siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 2,132이고, PDI는 1.3이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 2,132, and the PDI was 1.3.

<제조예 2-11><Preparation Example 2-11>

1) 3-메타아크릴옥시프로필 트리에톡시실란(3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu사, KBM-503) 223g(0.90몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 21g(0.10몰), H2O 28g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 실록산 수지 조성물을 수득하였다.1) 3-Methacryloxypropyl triethoxysilane (3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu, KBM-503) 223 g (0.90 mol), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 21 g (0.10 mol), H 2 28 g of O and 0.1 g of NaOH were placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 실록산 수지의 중량평균 분자량은 6,736이고, PDI는 2.6이다.The weight average molecular weight of the siloxane resin measured using GPC was 6,736, and the PDI was 2.6.

<제조예 2-12><Preparation Example 2-12>

1) 3-메타아크릴옥시프로필 트리에톡시실란(3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu사, KBM-503) 124g(0.50몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 104g(0.50몰), H2O 32g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 실록산 수지 조성물을 수득하였다.1) 3-Methacryloxypropyl triethoxysilane (3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu, KBM-503) 124 g (0.50 mol), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 104 g (0.50 mol), H 2 32 g of O and 0.1 g of NaOH were put into a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 실록산 수지의 중량평균 분자량은 6,532이고, PDI는 2.8이다.The weight average molecular weight of the siloxane resin measured using GPC was 6,532, and the PDI was 2.8.

<제조예 2-13><Preparation Example 2-13>

1) 3-메타아크릴옥시프로필 트리에톡시실란(3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu사, KBM-503) 99g(0.40몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 125g(0.60몰), H2O 32g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 실록산 수지 조성물을 수득하였다.1) 3-Methacryloxypropyl triethoxysilane (3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu, KBM-503) 99 g (0.40 mol), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 125 g (0.60 mol), H 2 32 g of O and 0.1 g of NaOH were placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 실록산 수지의 중량평균 분자량은 6,281이고, PDI는 2.9이다.The weight average molecular weight of the siloxane resin measured using GPC was 6,281, and the PDI was 2.9.

<제조예 3: 하드코팅층용 수지 조성물의 제조><Preparation Example 3: Preparation of resin composition for hard coating layer>

1) 3-메타아크릴옥시프로필 트리에톡시실란(3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu사, KBM-503) 223g(0.90몰), 테트라에톡시실란(EVONIK사, Dynasilane A) 21g(0.10몰), H2O 28g, NaOH 0.1g을 500mL 유리반응기에 넣고 Mechanical Stirrer를 이용하여 80oC에서 8시간 교반하여 반응시켜, 실록산 수지 조성물을 수득하였다.1) 3-Methacryloxypropyl triethoxysilane (3-Methacryloxypropyl triethoxysilane, Shinetsu, KBM-503) 223 g (0.90 mol), tetraethoxysilane (EVONIK, Dynasilane A) 21 g (0.10 mol), H 2 28 g of O and 0.1 g of NaOH were placed in a 500 mL glass reactor and reacted by stirring at 80 o C for 8 hours using a mechanical stirrer to obtain a siloxane resin composition.

GPC를 이용하여 측정한 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지의 중량평균 분자량은 6,736이고, PDI는 2.6이다.The weight average molecular weight of the urethane acrylate siloxane resin measured using GPC was 6,736, and the PDI was 2.6.

<실시예 1><Example 1>

1) 상기 제조예 1의 고분자 수지 조성물 용액을 캐스팅하였다. 캐스팅을 위해 캐스팅 기판이 사용된다. 캐스팅 기판의 종류에 특별한 제한이 있는 것은 아니다. 캐스팅 기판으로, 유리 기판, 스테인레스(SUS) 기판, 테프론 기판 등이 사용될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 캐스팅 기판으로 유기 기판이 사용될 수 있다.1) The polymer resin composition solution of Preparation Example 1 was cast. A casting substrate is used for casting. There is no particular limitation on the type of the casting substrate. As the casting substrate, a glass substrate, a stainless (SUS) substrate, a Teflon substrate, or the like may be used. According to an embodiment of the present invention, an organic substrate may be used as the casting substrate.

구체적으로, 제조예 1의 고분자 수지 용액을 유리 기판에 도포하여, 캐스팅하고 80 oC의 열풍으로 20분, 120 oC에서 20분 건조하여 광투과성 기재를 제조한 후, 제조된 광투과성 기재를 유리 기판에서 박리하여 프레임에 핀으로 고정하였다.Specifically, the polymer resin solution of Preparation Example 1 was applied to a glass substrate, cast, and dried with hot air at 80 o C for 20 minutes and at 120 o C for 20 minutes to prepare a light-transmitting substrate, and then the prepared light-transmitting substrate was It was peeled from the glass substrate and fixed to the frame with a pin.

광투과성 기재가 고정된 프레임을 오븐에 넣고 290 oC에서 등온 30분 열풍으로 건조하였다. 그 결과, 50㎛ 두께의 광투과성 기재가 완성되었다.The frame to which the light-transmitting substrate was fixed was placed in an oven and dried with isothermal hot air at 290 o C for 30 minutes. As a result, a light-transmitting substrate having a thickness of 50 μm was completed.

2) 상기 제조예 2-1의 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물 10g, 2-뷰탄온(2-butanone, MEK) 10g, 1-벤조일싸이클로헥산올(1-benzoylcyclohexanol, BASF사 IRGACURE 184) 0.1g을 혼합한 후, Mayer Bar 또는 어플리케이터를 이용하여 상기 1)에서 제조된 광투과성 기재 상에 도포하여 도막을 형성하였다. 2) 10 g of the urethane acrylate siloxane resin composition of Preparation Example 2-1, 10 g of 2-butanone (2-butanone, MEK), and 0.1 g of 1-benzoylcyclohexanol (1-benzoylcyclohexanol, IRGACURE 184 from BASF) were mixed. After that, it was applied on the light-transmitting substrate prepared in 1) using a Mayer Bar or an applicator to form a coating film.

우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물이 도포된 광투과성 기재를 100 oC 오븐에서 10분동안 건조시킨 후, UV노광(150mW/cm2,2J/cm2)하여 버퍼층이 코팅된 광학 필름을 제조하였다. 버퍼층의 두께는 20㎛이고, 이때, 광투과성 기재가 광학 필름의 상면이고, 버퍼층이 광학 필름의 하면이다..After drying the light-transmitting substrate coated with the urethane acrylate siloxane resin composition in an oven at 100 o C for 10 minutes, UV exposure (150mW/cm 2 , 2J/cm 2 ) was performed to prepare an optical film coated with a buffer layer. The thickness of the buffer layer is 20 μm, in this case, the light-transmitting substrate is the upper surface of the optical film, and the buffer layer is the lower surface of the optical film.

<실시예 2 내지 14><Examples 2 to 14>

실시예 1과 동일한 방법으로, 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물 및 버퍼층의 두께만 달리하여 실시예 2 내지 14의 광학 필름을 제조하였다. In the same manner as in Example 1, optical films of Examples 2 to 14 were prepared by changing only the thickness of the urethane acrylate siloxane resin composition and the buffer layer.

실시예 2 내지 14의 구체적 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물 및 버퍼층의 두께는 하기 표 1과 같다.The thicknesses of the specific urethane acrylate siloxane resin compositions and buffer layers of Examples 2 to 14 are shown in Table 1 below.

<실시예 15><Example 15>

1) 실시예 8과 동일한 방법으로 광학 필름을 제조하였다.1) An optical film was prepared in the same manner as in Example 8.

2) 실시예 8의 광학 필름의 상면(광투과성 기재의 상면)에 상기 제조예 3의 하드코팅층용 수지 조성물을 도포 후, Mayer Bar를 사용하여 도막을 형성하였다. 2) After coating the resin composition for the hard coating layer of Preparation Example 3 on the upper surface of the optical film of Example 8 (the upper surface of the light-transmitting substrate), a coating film was formed using a Mayer Bar.

하드코팅층용 수지 조성물이 도포된 광학 필름을 100 oC 오븐에 10분동안 건조 후, UV 노광(100mW/㎠, 1J/㎠)을 진행하여 하드코팅층이 형성된 광학 필름을 제조하였다. 하드코팅층의 두께는 5㎛이다.After drying the optical film coated with the resin composition for the hard coating layer in an oven at 100 o C for 10 minutes, UV exposure (100 mW/cm 2 , 1J/cm 2 ) was performed to prepare an optical film having a hard coating layer. The thickness of the hard coating layer is 5 μm.

실시예 15의 구체적 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지 조성물은 하기 표 1과 같다.The specific urethane acrylate siloxane resin composition of Example 15 is shown in Table 1 below.

<비교예 1><Comparative Example 1>

1) 상기 제조예 1의 고분자 수지 조성물 용액을 캐스팅하였다. 캐스팅을 위해 캐스팅 기판이 사용된다. 캐스팅 기판의 종류에 특별한 제한이 있는 것은 아니다. 캐스팅 기판으로, 유리 기판, 스테인레스(SUS) 기판, 테프론 기판 등이 사용될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 캐스팅 기판으로 유기 기판이 사용될 수 있다.1) The polymer resin composition solution of Preparation Example 1 was cast. A casting substrate is used for casting. There is no particular limitation on the type of the casting substrate. As the casting substrate, a glass substrate, a stainless (SUS) substrate, a Teflon substrate, or the like may be used. According to an embodiment of the present invention, an organic substrate may be used as the casting substrate.

구체적으로, 제조예 1의 고분자 수지 용액을 유리 기판에 도포하여, 캐스팅하고 80 oC의 열풍으로 20분, 120 oC에서 20분 건조하여 광투과성 기재를 제조한 후, 제조된 광투과성 기재를 유리 기판에서 박리하여 프레임에 핀으로 고정하였다.Specifically, the polymer resin solution of Preparation Example 1 was applied to a glass substrate, cast, and dried with hot air at 80 o C for 20 minutes and at 120 o C for 20 minutes to prepare a light-transmitting substrate, and then the prepared light-transmitting substrate was It was peeled from the glass substrate and fixed to the frame with a pin.

광투과성 기재가 고정된 프레임을 오븐에 넣고 290 oC에서 등온 30분 열풍으로 건조하였다. 그 결과, 50㎛ 두께의 광투과성 기재가 완성되었다.The frame to which the light-transmitting substrate was fixed was placed in an oven and dried with isothermal hot air at 290 o C for 30 minutes. As a result, a light-transmitting substrate having a thickness of 50 μm was completed.

2) 상기 제조예 2-11의 실록산 수지 조성물 10g, 2-뷰탄온(2-butanone, MEK) 10g, 1-벤조일싸이클로헥산올(1-benzoylcyclohexanol, BASF사 IRGACURE 184) 0.1g을 혼합한 후, Mayer Bar 또는 어플리케이터를 이용하여 상기 1)에서 제조된 광투과성 기재 상에 도포하여 도막을 형성하였다. 2) 10 g of the siloxane resin composition of Preparation Example 2-11, 10 g of 2-butanone (2-butanone, MEK), and 0.1 g of 1-benzoylcyclohexanol (1-benzoylcyclohexanol, IRGACURE 184 manufactured by BASF) were mixed, A coating film was formed by applying it on the light-transmitting substrate prepared in 1) using a Mayer bar or an applicator.

실록산 수지 조성물이 도포된 광투과성 기재를 100 oC 오븐에서 10분동안 건조시킨 후, UV노광(150mW/cm2,2J/cm2)하여 버퍼층이 코팅된 광학 필름을 제조하였다. 버퍼층의 두께는 20㎛이고, 이때, 광투과성 기재가 광학 필름의 상면이고, 버퍼층이 광학 필름의 하면이다. After drying the light-transmitting substrate coated with the siloxane resin composition in an oven at 100 o C for 10 minutes, UV exposure (150 mW/cm 2 , 2J/cm 2 ) was performed to prepare an optical film coated with a buffer layer. The thickness of the buffer layer is 20 μm, in this case, the light-transmitting substrate is the upper surface of the optical film, and the buffer layer is the lower surface of the optical film.

<비교예 2><Comparative Example 2>

상기 비교예 1과 동일한 방법으로, 실록산 수지 조성물만 달리하여 비교예 2의 광학 필름을 제조하였다. In the same manner as in Comparative Example 1, an optical film of Comparative Example 2 was prepared by changing only the siloxane resin composition.

비교예 2의 구체적 실록산 수지 조성물 및 버퍼층의 두께는 하기 표 1과 같다.The specific siloxane resin composition of Comparative Example 2 and the thickness of the buffer layer are shown in Table 1 below.

<비교예 3><Comparative Example 3>

상기 비교예 1과 동일한 방법으로, 실록산 수지 조성물만 달리하여 비교예 3의 광학 필름을 제조하였다. In the same manner as in Comparative Example 1, an optical film of Comparative Example 3 was prepared by changing only the siloxane resin composition.

비교예 3의 구체적 실록산 수지 조성물 및 버퍼층의 두께는 하기 표 1과 같다.The specific siloxane resin composition of Comparative Example 3 and the thickness of the buffer layer are shown in Table 1 below.

구분division 실록산 수지의 종류Types of siloxane resins 광투과성 기재의 두께
(㎛)
thickness of the light-transmitting substrate
(μm)
버퍼층의 두께
(㎛)
the thickness of the buffer layer
(μm)
화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물 및 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물의 몰비Molar ratio of the urethane acrylate silane compound represented by the formula (1) and the alkoxy silane compound represented by the formula (2) “H2O" 및 "화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물"의 몰비Molar ratio of “H 2 O” and “diol compound represented by Formula 3”
실시예 1Example 1 제조예 2-1Preparation 2-1 5050 2020 9:19:1 -- 실시예 2Example 2 제조예 2-2Preparation 2-2 5050 2020 8:28:2 -- 실시예 3Example 3 제조예 2-3Preparation 2-3 5050 2020 7:37:3 -- 실시예 4Example 4 제조예 2-4Preparation 2-4 5050 2020 6:46:4 -- 실시예 5Example 5 제조예 2-5Preparation 2-5 5050 2020 5:55:5 -- 실시예 6Example 6 제조예 2-6Preparation 2-6 5050 2020 7:37:3 -- 실시예 7Example 7 제조예 2-7Preparation 2-7 5050 2020 7:37:3 8:28:2 실시예 8Example 8 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 2020 7:37:3 7:37:3 실시예 9Example 9 제조예 2-9Preparation 2-9 5050 2020 7:37:3 5:55:5 실시예 10Example 10 제조예 2-10Preparation Example 2-10 5050 2020 7:37:3 3:73:7 실시예 11Example 11 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 1010 7:37:3 7:37:3 실시예 12Example 12 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 5050 7:37:3 7:37:3 실시예 13Example 13 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 100100 7:37:3 7:37:3 실시예 14Example 14 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 150150 7:37:3 7:37:3 실시예 15Example 15 제조예 2-8Preparation 2-8 5050 2020 7:37:3 7:37:3 비교예 1Comparative Example 1 제조예 2-11Preparation 2-11 5050 2020 -- -- 비교예 2Comparative Example 2 제조예 2-12Preparation Example 2-12 5050 2020 -- -- 비교예 3Comparative Example 3 제조예 2-13Preparation Example 2-13 5050 2020 -- --

<측정예><Example of measurement>

실시예 1 내지 15 및 비교예 1 내지 3에서 제조된 고분자 수지 및 필름에 대하여 다음과 같은 측정을 실행하였다.The polymer resins and films prepared in Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 3 were subjected to the following measurements.

1) 최대 복원 길이(mm): 광학 필름으로부터 취득한 가로 50mm X 세로 100mm 사이즈의 측정 샘플을 세로 방향으로 직경 10mm의 원통 실린더(cylinder)에 감아 고정하고, 상기 실린더에 고정한 상기 측정 샘플을 60oC/90RH%에서 24h 동안 방치한 후, 상기 측정 샘플을 상기 실린더로부터 해제하여 평평한 면 위에 세워서 25oC/50RH%에서 24h 동안 재방치하였을 때, 상기 평평한 면의 수직 방향에서 내려다본 상기 측정 샘플의 형태가 일단과 타단이 겹치는 원을 그리는 경우에는 원의 최대 직경으로 정의되고, 상기 측정 샘플의 일단과 타단이 겹치지 않는 호를 그리는 경우에는 호의 최대 직선 거리로 정의된다.1) Maximum restoration length (mm): A measurement sample having a size of 50 mm x 100 mm obtained from an optical film is wound and fixed in a cylindrical cylinder having a diameter of 10 mm in the longitudinal direction, and the measurement sample fixed to the cylinder is 60 o C After standing at /90RH% for 24h, the measurement sample was released from the cylinder, stood on a flat surface, and left again at 25 o C/50RH% for 24h, the measurement sample viewed from the vertical direction of the flat surface The shape is defined as the maximum diameter of the circle when drawing a circle where one end and the other end overlap, and when drawing an arc where the one end and the other end of the measurement sample do not overlap, it is defined as the maximum straight line distance of the arc.

2) 탄성모듈러스(EIT, MPa): 탄성모듈러스는, 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정하였다.2) Elastic modulus (EIT, MPa): The elastic modulus was measured using nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH% conditions.

3) 12mN 복원률(nIT, %): 광학 필름의 복원률(12mN)은 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정하였다.3) 12mN restoration rate (nIT, %): The restoration rate (12mN) of the optical film was measured using Nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH% conditions.

4) 광투과도(%): 표준규격 JIS K 7361에 따라 분광 광도계(spectrophotometer)에 의하여, 파장 360 내지 740nm의 범위에서 측정하였다. 분광 광도계(spectrophotometer)는 Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY를 사용하였다.4) Light transmittance (%): It was measured in a wavelength range of 360 to 740 nm by a spectrophotometer according to standard JIS K 7361. As a spectrophotometer, Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY was used.

5) 헤이즈: 표준규격 JIS K 7136에 따라 분광 광도계(spectrophotometer)에 의하여 측정하였다. 분광 광도계(spectrophotometer)는 Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY가 사용하였다.5) Haze: It was measured by a spectrophotometer according to the standard JIS K 7136. The spectrophotometer was used by Hazemeter HM-150/MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY.

6) 복합경도(N/mm2): 복합경도는 12mN/12s/Creep 5s/24oC, 40RH% 조건에서 Nanoindentation(Fischer社, HM2000 모델)를 이용하여 측정하였다. 복합경도 측정 시, 버퍼층(120)을 아래 방향으로 하고, 광투과성 기재(110)를 윗 방향으로 하여, 상층 기재의 물성을 측정하는 방식으로 실시하였다.6) Composite hardness (N/mm 2 ): The composite hardness was measured using Nanoindentation (Fischer, HM2000 model) at 12mN/12s/Creep 5s/24 o C, 40RH% conditions. When measuring the composite hardness, the buffer layer 120 was placed in the downward direction and the light-transmitting substrate 110 was in the upward direction, and the physical properties of the upper substrate were measured.

7) 크랙포인트(Crack point, R):크랙포인트는 JUNIL Tech社, JIRBT-620-2 Radius Bending Tester 사용하여 곡률반경을 줄여가며 Crack 발생하는 지점을 확인하여 측정하였다. Crack이 발생하는 지점의 R값이 크랙포인트이다. 7) Crack point (R): Crack point was measured by checking the point where cracks occur while reducing the radius of curvature using JUNIL Tech, JIRBT-620-2 Radius Bending Tester. The R value at the point where the crack occurs is the crack point.

측정결과는 다음 표 2와 같다.The measurement results are shown in Table 2 below.

구분division 최대 복원 길이
(mm)
Maximum Restoration Length
(mm)
EIT
(MPa)
EIT
(MPa)
12mN 복원률
(nIT, %)
12mN recovery rate
(nIT, %)
광투과도
(%)
light transmittance
(%)
헤이즈haze 복합경도
(N/mm2)
composite hardness
(N/mm 2 )
크랙포인트
(R)
crack point
(R)
실시예 1Example 1 4040 41884188 7777 9090 0.30.3 252252 1.01.0 실시예 2Example 2 4040 42504250 8080 9090 0.30.3 263263 1.01.0 실시예 3Example 3 5050 43754375 8282 9090 0.30.3 271271 1.01.0 실시예 4Example 4 5050 44954495 8181 9090 0.30.3 284284 2.02.0 실시예 5Example 5 4040 46324632 8080 9090 0.30.3 301301 3.53.5 실시예 6Example 6 5050 44204420 8080 9090 0.30.3 272272 1.51.5 실시예 7Example 7 7070 41954195 8080 9090 0.30.3 253253 <1.0<1.0 실시예 8Example 8 7070 42034203 8181 9090 0.30.3 246246 <1.0<1.0 실시예 9Example 9 4040 41054105 6565 9090 0.30.3 231231 <1.0<1.0 실시예 10Example 10 4040 40804080 6060 9090 0.30.3 223223 <1.0<1.0 실시예 11Example 11 6060 40954095 6262 9090 0.30.3 232232 <1.0<1.0 실시예 12Example 12 7070 43214321 8888 9090 0.30.3 262262 1.51.5 실시예 13Example 13 7070 45854585 9696 9090 0.30.3 278278 2.22.2 실시예 14Example 14 7070 45724572 9595 9090 0.30.3 276276 2.82.8 실시예 15Example 15 8080 36403640 9090 9292 0.30.3 234234 1.01.0 비교예 1Comparative Example 1 3030 40524052 6262 9090 0.30.3 220220 4.04.0 비교예 2Comparative Example 2 3030 40584058 5959 9090 0.30.3 225225 5.55.5 비교예 3Comparative Example 3 3535 40624062 5555 9090 0.30.3 230230 6.06.0

상기 표 2의 측정결과에 개시된 바와 같이, 본 발명의 실시예 1 내지 15의 광학 필름은 최대 복원 길이가 40 내지 100mm의 필름으로서, 크랙포인트가 3.5R 이하이고 폴딩 후 복원률이 우수하였다.그러나, 비교예 1 내지 3의 광학 필름은 최대 복원 길이가 40mm 미만으로서, 크랙포인트가 3.5R 이상이고 폴딩 후 복원률이 저조하였다.As disclosed in the measurement results in Table 2, the optical films of Examples 1 to 15 of the present invention had a maximum restoration length of 40 to 100 mm, a crack point of 3.5R or less, and excellent restoration rate after folding. However, The optical films of Comparative Examples 1 to 3 had a maximum recovery length of less than 40 mm, a crack point of 3.5R or more, and a low recovery rate after folding.

100: 광학 필름
110: 광투과성 기재
120: 버퍼층
130: 하드코팅층
200: 표시장치
501: 표시패널
100: optical film
110: light-transmitting substrate
120: buffer layer
130: hard coating layer
200: display device
501: display panel

Claims (15)

광투과성 기재; 및
버퍼층;을 포함하고,
최대 복원 길이(maximum restoration length)가 40mm 내지 100mm인,
광학 필름:
상기 최대 복원 길이는, 상기 광학 필름으로부터 취득한 가로 50mm X 세로 100mm 사이즈의 측정 샘플을 세로 방향으로 직경 10mm의 원통 실린더(cylinder)에 감아 고정하고, 상기 실린더에 고정한 상기 측정 샘플을 60oC/90RH%에서 24h 동안 방치한 후, 상기 측정 샘플을 상기 실린더로부터 해제하여 평평한 면 위에 세워서 25oC/50RH%에서 24h 동안 재방치하였을 때, 상기 평평한 면의 수직 방향에서 내려다본 상기 측정 샘플의 형태가 일단과 타단이 겹치는 원을 그리는 경우에는 원의 최대 직경으로 정의되고, 상기 측정 샘플의 일단과 타단이 겹치지 않는 호를 그리는 경우에는 호의 최대 직선 거리로 정의된다.
light transmissive substrate; and
a buffer layer;
The maximum restoration length is 40mm to 100mm,
Optical Film:
The maximum restoration length is fixed by winding and fixing a measurement sample having a size of 50 mm x 100 mm obtained from the optical film on a cylindrical cylinder having a diameter of 10 mm in the longitudinal direction, and the measurement sample fixed to the cylinder is 60 o C/90RH %, when the measurement sample was released from the cylinder, stood on a flat surface and left again at 25 o C/50RH% for 24 hours, the shape of the measurement sample viewed from the vertical direction of the flat surface was When drawing a circle with one end and the other end overlapping, it is defined as the maximum diameter of the circle, and when drawing an arc where the one end and the other end of the measurement sample do not overlap, it is defined as the maximum straight line distance of the arc.
제1항에 있어서,
상기 버퍼층은 우레탄 아크릴레이트 수지를 포함하는,
광학 필름.
According to claim 1,
The buffer layer comprises a urethane acrylate resin,
optical film.
제1항에 있어서,
상기 버퍼층은 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지를 포함하는,
광학 필름.
According to claim 1,
The buffer layer comprises a urethane acrylate siloxane resin,
optical film.
제3항에 있어서,
상기 우레탄 아크릴레이트 실록산 수지는,
하기 화학식 1로 표시되는 우레탄 아크릴레이트 실란 화합물;
하기 화학식 2로 표시되는 알콕시 실란 화합물; 및
하기 화학식 3으로 표시되는 다이올 화합물;을 포함하는 조성물에 의하여 형성되는,
광학 필름:
[화학식 1]
Figure pat00006

상기 화학식 1에서 R1은 C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, R2 및 R3는 각각 독립적으로 C1~C6의 선형, 분지형 또는 지환형 알킬렌기이고, R4는 아크릴레이트기 또는 메타크릴레이트기이며, n은 1 내지 3의 정수이다.
[화학식 2]
R5 mSi(OR6)4-m
상기 화학식 2에서 R5 및 R6은 각각 독립적으로, C1~C8의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이고, m은 0 내지 3의 정수이다.
[화학식 3]
HO-R7-OH
상기 화학식 2에서 R7은 C1~C6의 지방족 또는 방향족 탄화수소로부터 유래된 작용기이다.
4. The method of claim 3,
The urethane acrylate siloxane resin,
A urethane acrylate silane compound represented by the following formula (1);
An alkoxy silane compound represented by the following formula (2); and
Formed by a composition comprising; a diol compound represented by the following formula (3)
Optical Film:
[Formula 1]
Figure pat00006

In Formula 1, R 1 is a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, R 2 and R 3 are each independently a C1-C6 linear, branched or alicyclic alkylene group, and R 4 is an acrylate group or a methacrylate group, and n is an integer of 1 to 3.
[Formula 2]
R 5 m Si(OR 6 ) 4-m
In Formula 2, R 5 and R 6 are each independently a functional group derived from a C1-C8 aliphatic or aromatic hydrocarbon, and m is an integer of 0 to 3.
[Formula 3]
HO-R 7 -OH
In Formula 2, R 7 is a functional group derived from a C1-C6 aliphatic or aromatic hydrocarbon.
제4항에 있어서,
상기 R4는, 하이드록시기(-OH)를 포함하는 아크릴레이트기인,
광학 필름.
5. The method of claim 4,
The R 4 is an acrylate group including a hydroxyl group (-OH),
optical film.
제4항에 있어서,
상기 R4는, 2-하이드록시에틸 아크릴레이트(2-hydroxyethyl acrylate, 2-HEA) 및 4-하이드록시뷰틸 아크릴레이트(4-hydroxybutyl acrylate, 4-HBA) 중 하나로부터 유래된 아크릴레이트기인,
광학 필름.
5. The method of claim 4,
Wherein R 4 is an acrylate group derived from one of 2-hydroxyethyl acrylate (2-HEA) and 4-hydroxybutyl acrylate (4-HBA),
optical film.
제4항에 있어서,
상기 알콕시 실란 화합물은, 테트라알콕시실란(Tetraalkoxy silane)을 포함하는,
광학 필름.
5. The method of claim 4,
The alkoxy silane compound, including tetraalkoxy silane (Tetraalkoxy silane),
optical film.
제4항에 있어서,
상기 다이올 화합물은, 에틸렌 글리콜(ethylene glycol)을 포함하는,
광학 필름.
5. The method of claim 4,
The diol compound includes ethylene glycol,
optical film.
제1항에 있어서,
상기 버퍼층은, 10 내지 150㎛의 두께를 가지는,
광학 필름.
According to claim 1,
The buffer layer has a thickness of 10 to 150㎛,
optical film.
제1항에 있어서,
상기 광투과성 기재는, 10 내지 100㎛의 두께를 가지는,
광학 필름.
According to claim 1,
The light-transmitting substrate has a thickness of 10 to 100㎛,
optical film.
제1항에 있어서,
3,600 내지 4,700 Mpa의 탄성모듈러스를 가지는,
광학 필름.
According to claim 1,
Having an elastic modulus of 3,600 to 4,700 Mpa,
optical film.
제1항에 있어서,
12mN 기준으로, 60 내지 100 %의 복원률(nIT)을 가지는,
광학 필름.
According to claim 1,
Based on 12mN, having a recovery rate (nIT) of 60 to 100%,
optical film.
제1항에 있어서,
하드코팅층을 더 포함하는,
광학 필름.
According to claim 1,
Further comprising a hard coating layer,
optical film.
제13항에 있어서,
상기 하드코팅층은 0.1 내지 10㎛의 두께를 가지는,
광학 필름.
14. The method of claim 13,
The hard coating layer has a thickness of 0.1 to 10㎛,
optical film.
표시패널; 및
상기 표시패널 상에 배치된, 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항의 광학 필름;
을 포함하는, 표시장치.
display panel; and
The optical film of any one of claims 1 to 14, disposed on the display panel;
Including, a display device.
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