KR20220124038A

KR20220124038A - Test handler for electronic component

Info

Publication number: KR20220124038A
Application number: KR1020210027734A
Authority: KR
Inventors: 나윤성; 나명진; 김동현
Original assignee: (주)테크윙
Priority date: 2021-03-02
Filing date: 2021-03-02
Publication date: 2022-09-13
Also published as: TW202238161A; TWI816314B; CN115078896A

Abstract

The present invention relates to an electronic component test handler. The electronic component test handler includes: a first tray on which a plurality of electronic components can be seated; a transfer hand transferring the plurality of electronic components seated on the first tray to a second tray, and including a plurality of pickers arranged in an x-axis direction; a photographing unit obtaining image information by photographing the plurality of pickers; and a control unit obtaining a first picker x-coordinate, which is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers, when the transfer hand is placed on a first tray position on the first tray based on the image information. Therefore, the present invention is capable of preventing damage to an electronic component when the electronic component is separated.

Description

Electronic component test handler {TEST HANDLER FOR ELECTRONIC COMPONENT}

본 발명은 전자부품 테스트 핸들러에 대한 발명이다. The present invention relates to an electronic component test handler.

테스트 핸들러(test handler)는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 반도체 소자 등의 전자부품에 대한 테스트를 지원하고, 테스트 결과에 따라 전자부품을 등급별로 분류하는 기기이다. 이러한 테스트 핸들러는 전자부품을 테스터(tester)에 전기적으로 연결시킴으로써, 반도체 소자 등의 전자부품을 테스트할 수 있다.A test handler is a device that supports testing of electronic components, such as semiconductor devices, manufactured through a predetermined manufacturing process, and classifies electronic components according to test results. The test handler may test electronic components such as semiconductor devices by electrically connecting the electronic components to a tester.

한편, 전자부품은 테스트를 거치기 위하여 고객 트레이에 적재된 상태에서 테스트 핸들러로 공급된다. 또한, 테스트 핸들러로 공급된 전자부품들은 복수 개의 픽커에 의해 셔틀 테이블로 이송된다. 복수 개의 픽커는 고객 트레이에서 전자부품들이 안착되는 공간 사이의 간격과 셔틀 테이블에서 전자부품들이 안착되는 공간 사이의 간격이 상이하다. 따라서, 복수 개의 픽커는 고객 트레이에 적재된 전자부품들을 이송하는 동안 전자부품들 간의 간격을 셔틀 테이블에 맞춰서 조절할 필요가 있다.On the other hand, the electronic components are supplied to the test handler while being loaded on the customer tray for testing. In addition, the electronic components supplied to the test handler are transferred to the shuttle table by a plurality of pickers. In the plurality of pickers, an interval between a space in which electronic components are mounted in a customer tray and a space in which electronic components are mounted in a shuttle table are different from each other. Accordingly, it is necessary to adjust the distance between the electronic components according to the shuttle table while the plurality of pickers transfer the electronic components loaded on the customer tray.

그러나, 복수 개의 픽커는 조립되는 과정에서 위치가 틀어질 수 있으며, 오조립에 의한 공차가 발생할 수 있다. 또한, 복수 개의 픽커 간의 간격을 좁히거나 넓히도록 제어하는 과정에서 정밀하게 제어되지 못해 오차가 발생할 수도 있다. 이처럼, 복수 개의 픽커 간의 간격 제어는 다양한 이유에 의해 오차가 발생하게 된다. 이 경우 복수 개의 픽커는 전자부품들을 정확하게 파지하지 못하며, 파지된 전자부품들을 셔틀 테이블의 정위치에 안착시키지 못하게 된다. 이로 인해 전자부품들이 셔틀 테이블로부터 이탈하는 문제가 발생되며, 이는 테스트의 정확성을 저하시킬 수 있으며 전자부품의 파손을 발생시킬 수 있다.However, positions of the plurality of pickers may be shifted in the process of assembling, and tolerances may occur due to erroneous assembly. In addition, in the process of controlling to narrow or widen the interval between the plurality of pickers, an error may occur because the control is not precisely controlled. As such, an error occurs in the control of the spacing between the plurality of pickers due to various reasons. In this case, the plurality of pickers cannot accurately grip the electronic components, and the gripped electronic components cannot be seated in the correct positions of the shuttle table. This causes a problem that electronic components are separated from the shuttle table, which may deteriorate the accuracy of the test and may cause damage to the electronic components.

따라서, 복수 개의 픽커 간의 간격에 오차가 발생하더라도 이를 보정하여 전자부품들을 정밀하게 파지할 수 있으며, 파지된 전자부품들을 셔틀 테이블의 정위치에 안착시킬 수 있는 전자부품 테스트 핸들러의 필요성이 있다.Accordingly, there is a need for an electronic component test handler capable of accurately gripping electronic components by correcting an error in the spacing between a plurality of pickers, and seating the gripped electronic components at the correct positions of the shuttle table.

본 발명의 일 실시예는 상기와 같은 배경에 착안하여 발명된 것으로서, 복수 개의 픽커 간의 간격에 오차가 발생하더라도 이를 보정하여 전자부품들을 정밀하게 파지할 수 있으며, 파지된 전자부품들을 제1 트레이의 정위치에 안착시킬 수 있는 전자부품 테스트 핸들러를 제공하고자 한다.An embodiment of the present invention was invented based on the above background, and even if an error occurs in the spacing between a plurality of pickers, it is possible to precisely grip the electronic parts by correcting the error, We would like to provide an electronic component test handler that can be seated in place.

또한, 본 발명의 일 실시예는 전자부품들을 정위치에 안착시켜 테스트의 정확성을 향상시킬수 있으며, 전자부품의 이탈로 인해 전자부품이 파손되는 것을 방지할 수 있는 전자부품 테스트 핸들러를 제공하고자 한다.In addition, an embodiment of the present invention is to provide an electronic component test handler that can improve the accuracy of the test by seating the electronic components in their correct positions, and can prevent the electronic components from being damaged due to the separation of the electronic components.

본 발명의 일 측면에 따르면, 복수 개의 전자부품이 안착될 수 있는 제1 트레이; 상기 제1 트레이에 안착된 복수 개의 전자부품을 제2 트레이로 이송할 수 있으며, x축 방향으로 배열되는 복수 개의 픽커를 포함하는 이송 핸드; 상기 복수 개의 픽커를 촬영하여 이미지 정보를 획득할 수 있는 촬영 유닛; 및 상기 이미지 정보에 기초하여 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 상의 제1 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제1 픽커 x좌표를 획득할 수 있는 제어부를 포함하고, 상기 제어부는, 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓였을 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제1 기준 x좌표와 상기 제1 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제1 x좌표 편차값을 산출하고, 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 x편차값이 기 설정된 x임계값 이하인 경우 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 x편차값과 상기 제1 최대 x편차값의 평균인 제1 평균 x편차값만큼 상기 이송 핸드가 x축의 일측으로 이동한 후 상기 복수 개의 전자부품을 상기 제1 트레이로부터 파지하도록 상기 이송 핸드를 제어하는, 전자부품 테스트 핸들러가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, a first tray on which a plurality of electronic components can be seated; a transfer hand capable of transferring a plurality of electronic components seated on the first tray to a second tray and including a plurality of pickers arranged in an x-axis direction; a photographing unit capable of photographing the plurality of pickers to obtain image information; and a control unit configured to obtain a first picker x-coordinate that is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the first tray position on the first tray based on the image information, When the transfer hand is placed in the first tray position, the control unit may include a first reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and a difference between the first picker x-coordinate and each of the plurality of pickers. Calculating a first x-coordinate deviation value, and when a first maximum x-deviation value having a maximum value among the plurality of first x-coordinate deviation values is less than or equal to a preset x threshold value, a minimum value among the plurality of first x-coordinate deviation values After the transfer hand moves to one side of the x-axis by a first average x-deviation value that is an average of a first minimum x-deviation value and the first maximum x-deviation value, the plurality of electronic components are gripped from the first tray. An electronic component test handler that controls the transfer hand may be provided.

또한, 상기 복수 개의 픽커 중 적어도 일부는 y축 방향으로 배열되며, 상기 제어부는, 상기 이미지 정보에 기초하여 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓였을 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 y축 좌표인 제1 픽커 y좌표를 획득할 수 있으며, 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓였을 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 y축 좌표인 제1 기준 y좌표와 상기 제1 픽커 y좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제1 y좌표 편차값을 산출하고, 상기 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 y편차값이 기 설정된 y임계값 이하인 경우 상기 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 y편차값과 상기 제1 최대 y편차값의 평균인 제1 평균 y편차값만큼 상기 이송 핸드가 y축 방향의 일측으로 이동한 후 상기 복수 개의 전자부품을 상기 제2 트레이로부터 파지하도록 상기 이송 핸드를 제어하는, 전자부품 테스트 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, at least some of the plurality of pickers are arranged in a y-axis direction, and the control unit includes, when the transfer hand is placed at the first tray position based on the image information, the y-axis coordinates of each of the plurality of pickers A first picker y-coordinate can be obtained, and when the transfer hand is placed on the first tray position, a first reference y-coordinate that is a preset y-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first picker y-coordinate calculates a first y-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers that is a difference between After the transfer hand moves to one side in the y-axis direction by the first average y deviation value that is the average of the first minimum y deviation value having the minimum value among the first y coordinate deviation values and the first maximum y deviation value, the plurality of An electronic component test handler may be provided that controls the transfer hand to grip the electronic component from the second tray.

또한, 상기 제어부는, 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 상의 제2 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제2 픽커 x좌표를 획득하고, 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 위치에 놓였을 때 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제2 기준 x좌표와 상기 제2 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제2 x좌표 편차값을 산출하며, 상기 복수 개의 픽커 각각의 상기 제1 x좌표 편차값과 상기 제2 x좌표 편차값의 차이인 x보정값을 산출하고, 상기 복수 개의 x보정값의 최대값과 최소값의 평균이 평균 x보정값을 산출하며, 상기 이송 핸드가 x축 방향 일측으로 상기 제1 평균 x편차값만큼 이동하고, x축 방향의 타측으로 상기 평균 x보정값만큼 이동한 후 상기 복수 개의 전자부품을 상기 제2 트레이에 안착시키도록 상기 이송 핸드를 제어하는, 전자부품 테스트 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, the control unit, when the transfer hand is placed on the second tray position on the second tray, obtains a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers, and the transfer hand is placed on the second tray calculating a second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers that is a difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second picker x-coordinate when placed in a position, calculating an x correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of each of the pickers, and an average of the maximum and minimum values of the plurality of x correction values to calculate an average x correction value, , to seat the plurality of electronic components on the second tray after the transfer hand moves by the first average x deviation value to one side in the x-axis direction and moves by the average x correction value to the other side in the x-axis direction An electronic component test handler for controlling the transfer hand may be provided.

또한, 상기 제어부는, 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 하나 이상이 상기 x임계값을 초과하는 경우 상기 복수 개의 픽커가 기타 평균 x편차값만큼 상기 제1 픽커 x좌표로부터 이격된 위치에 놓이도록 상기 이송 핸드를 제어하고, 상기 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커가 상기 복수 개의 전자부품 중 하나 이상의 전자부품 상에 놓이도록 상기 이송 핸드를 제어하며, 상기 기타 평균 x편차값은, 상기 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커 이외의 나머지 픽커들의 최대 x편차값과 최소 x편차값의 평균인, 전자부품 테스트 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, when at least one of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x-threshold value, the controller is configured to place the plurality of pickers at a position spaced apart from the first picker x-coordinate by other average x deviation values. control the transfer hand so that at least one picker exceeding the x threshold is placed on one or more of the plurality of electronic components, and the other average x deviation value is An electronic component test handler may be provided that is an average of the maximum x deviation and minimum x deviation values of the remaining pickers other than the one or more pickers exceeding the threshold.

또한, 상기 제어부는, 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 상의 제2 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제2 픽커 x좌표를 획득하고, 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 위치에 놓였을 때 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제2 기준 x좌표와 상기 제2 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제2 x좌표 편차값을 산출하며, 상기 하나 이상의 픽커의 상기 제1 x좌표 편차값과 상기 제2 x좌표 편차값의 차이인 오프셋 x보정값을 산출하고, 상기 이송 핸드가 x축 방향 일측으로 상기 기타 평균 x편차값만큼 이동하고, x축 방향의 타측으로 상기 오프셋 x보정값만큼 이동한 후 상기 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커가 상기 하나 이상의 전자부품을 상기 제2 트레이에 안착시키도록 상기 이송 핸드를 제어하는, 전자부품 테스트 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, the control unit, when the transfer hand is placed on the second tray position on the second tray, obtains a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers, and the transfer hand is placed on the second tray calculating a second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers that is a difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second picker x-coordinate when placed in a position, An offset x correction value that is the difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of the above picker is calculated, and the transfer hand moves to one side in the x-axis direction by the other average x deviation value, and the x-axis After moving by the offset x correction value to the other side of the direction, one or more pickers exceeding the x threshold control the transfer hand to seat the one or more electronic components on the second tray, an electronic component test handler can be provided.

또한, 복수 개의 픽커를 촬영하여 이미지 정보를 획득할 수 있는 이미지 획득 단계; 상기 이미지 정보에 기초하여 이송 핸드가 제1 트레이 상의 제1 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제1 픽커 x좌표를 획득하는 제1 픽커 x좌표 획득 단계; 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓였을 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제1 기준 x좌표와 상기 제1 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제1 x좌표 편차값을 산출하는 제1 x좌표 편차값 산출 단계; 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 x편차값이 기 설정된 x임계값을 초과하는지 판단하는 판단 단계; 및 상기 제1 최대 x편차값이 x임계값 이하로 판단되는 경우 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 x편차값과 상기 제1 최대 x편차값의 평균인 제1 평균 x편차값만큼 상기 이송 핸드를 x축 방향의 일측으로 이동시키는 제1 이동 단계를 포함하는, 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법이 제공될 수 있다.In addition, an image acquisition step of acquiring image information by photographing a plurality of pickers; a first picker x-coordinate acquiring step of acquiring a first picker x-coordinate that is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the first tray position on the first tray based on the image information; When the transfer hand is placed in the first tray position, the first x of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference x-coordinate that is the preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first x-coordinate of the first picker a first x-coordinate deviation value calculating step of calculating a coordinate deviation value; a determining step of determining whether a first maximum x-deviation value having a maximum value among the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds a preset x-threshold value; and a first average that is an average of a first minimum x deviation value having a minimum value among the plurality of first x coordinate deviation values and the first maximum x deviation value when it is determined that the first maximum x deviation value is equal to or less than an x threshold value An electronic component test handler control method may be provided, including a first moving step of moving the transfer hand to one side in an x-axis direction by an x deviation value.

또한, 상기 이미지 정보에 기초하여 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 y축 좌표인 제1 픽커 y좌표를 획득하는 제1 픽커 y좌표 획득 단계; 상기 이송 핸드가 상기 제1 트레이 위치에 놓였을 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 y축 좌표인 제1 기준 y좌표와 상기 제1 픽커 y좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제1 y좌표 편차값을 산출하는 제1 y좌표 편차값 산출 단계; 상기 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 y편차값이 기 설정된 y임계값을 초과하는지 판단하는 판단 단계; 및 상기 제1 최대 y편차값이 y임계값 이하로 판단되는 경우 상기 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 y편차값과 상기 제1 최대 y편차값의 평균인 제1 평균 y편차값만큼 상기 이송 핸드를 y축 방향의 일측으로 이동시키는 제2 이동 단계를 포함하는, 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법이 제공될 수 있다.In addition, based on the image information, when the transfer hand is placed on the first tray position, a first picker y-coordinate obtaining step of obtaining a first picker y-coordinate that is the y-axis coordinate of each of the plurality of pickers; When the transfer hand is placed in the first tray position, the first y of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference y-coordinate that is the preset y-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first y-coordinate of the first picker a first y-coordinate deviation value calculating step of calculating a coordinate deviation value; a determining step of determining whether a first maximum y-deviation value having a maximum value among the plurality of first y-coordinate deviation values exceeds a preset y-threshold value; and a first average that is an average of a first minimum y deviation value having a minimum value among the plurality of first y coordinate deviation values and the first maximum y deviation value when the first maximum y deviation value is determined to be less than or equal to a y threshold value A method for controlling an electronic component test handler may be provided, including a second moving step of moving the transfer hand to one side in the y-axis direction by the y deviation value.

또한, 상기 이송 핸드가 제2 트레이상의 제2 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제2 픽커 x좌표를 획득하는 제2 픽커 x좌표 획득 단계; 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 위치에 놓였을 때 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제2 기준 x좌표와 상기 제2 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제2 x좌표 편차값을 산출하는 제2 x좌표 편차값 산출 단계; 상기 복수 개의 픽커 각각의 상기 제1 x좌표 편차값과 상기 제2 x좌표 편차값의 차이인 x보정값을 산출하고, 상기 복수 개의 x보정값의 최대값과 최소값의 평균인 평균 x보정값을 산출하는 평균 x보정값 산출 단계; 및 상기 제2 트레이 위치에 놓인 상기 이송 핸드를 x축 방향의 일측으로 상기 제1 평균 x편차값만큼 이동시키고, x축 방향의 타측으로 상기 평균 x보정값만큼 이동시키는 2차 이동 단계를 더 포함하는, 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법이 제공될 수 있다.In addition, a second picker x-coordinate obtaining step of obtaining a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the second tray position on the second tray; When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker a second x-coordinate deviation value calculating step of calculating a deviation value; An x-correction value that is the difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers is calculated, and an average x correction value that is an average of the maximum and minimum values of the plurality of x correction values is obtained. calculating the average x correction value; and a second movement step of moving the transfer hand placed at the second tray position to one side in the x-axis direction by the first average x deviation value and moving the average x correction value to the other side in the x-axis direction. A method for controlling an electronic component test handler may be provided.

또한, 상기 복수 개의 픽커 중 상기 제1 x좌표 편차값이 상기 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커 이외의 나머지 픽커들의 최대 x편차값과 최소 x편차값의 평균인 기타 평균 x편차값을 산출하는 기타 평균 x편차값 산출 단계; 및 상기 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 하나 이상이 상기 x임계값을 초과할 경우 상기 복수 개의 픽커가 상기 기타 평균 x편차값만큼 상기 제1 픽커 x좌표로부터 이격된 위치에 놓이도록 상기 이송 핸드가 이동하고, 상기 하나 이상의 픽커가 상기 복수 개의 전자부품 중 하나 이상의 전자부품 상에 놓이도록 상기 이송 핸드를 이동시키는 1차 순차적 이동 단계를 더 포함하는, 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법이 제공될 수 있다.In addition, calculating other average x deviation values that are the average of the maximum and minimum x deviation values of the remaining pickers other than the one or more pickers in which the first x coordinate deviation value exceeds the x threshold value among the plurality of pickers calculating other average x-deviation values; and when at least one of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x-threshold value, the plurality of pickers are placed at positions spaced apart from the first picker x-coordinate by the other average x deviation values. The electronic component test handler control method may be provided, further comprising a first sequential movement step of moving the transfer hand so that the at least one picker is placed on at least one electronic component among the plurality of electronic components. .

또한, 상기 이송 핸드가 제2 트레이상의 제2 트레이 위치에 놓일 때, 상기 복수 개의 픽커 각각의 x축 좌표인 제2 픽커 x좌표를 획득하는 제2 픽커 x좌표 획득 단계; 상기 이송 핸드가 상기 제2 트레이 위치에 놓였을 때 상기 복수 개의 픽커 각각의 기 설정된 x축 좌표인 제2 기준 x좌표와 상기 제2 픽커 x좌표의 차이인 상기 복수 개의 픽커 각각의 제2 x좌표 편차값을 산출하는 제2 x좌표 편차값 산출 단계; 상기 하나 이상의 픽커의 상기 제1 x좌표 편차값과 상기 제2 x좌표 편차값의 차이인 오프셋 x보정값을 산출하는 오프셋 x편차값 산출 단계; 및 상기 이송 핸드가 x축 방향 일측으로 상기 기타 평균 x편차값만큼 이동하는 기타 평균값 이동단계와 x축 방향의 타측으로 상기 오프셋 x보정값만큼 이동하는 오프셋 보정값 이동단계를 포함하는 2차 순차적 이동 단계를 더 포함하는, 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법이 제공될 수 있다.In addition, a second picker x-coordinate obtaining step of obtaining a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the second tray position on the second tray; When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker a second x-coordinate deviation value calculating step of calculating a deviation value; an offset x-deviation value calculating step of calculating an offset x-correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of the one or more pickers; and an other average value moving step in which the transfer hand moves by the other average x deviation value to one side in the x-axis direction, and an offset correction value moving step in which the transfer hand moves by the offset x correction value to the other side in the x-axis direction Second sequential movement comprising An electronic component test handler control method may be provided, further comprising a step.

본 발명의 일 실시예는, 복수 개의 픽커 간의 간격에 오차가 발생하더라도 이를 보정하여 전자부품들을 정밀하게 파지하거나, 파지된 전자부품들을 제1 트레이의 정위치에 안착시킬 수 있는 효과가 있다.According to an embodiment of the present invention, even if an error occurs in the spacing between a plurality of pickers, the electronic components can be precisely gripped by correcting the error or the gripped electronic components can be seated in the correct position of the first tray.

또한, 본 발명의 일 실시예는 전자부품들을 정위치에 안착시켜 테스트의 정확성을 향상시킬수 있으며, 전자부품의 이탈로 인해 전자부품이 파손되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, it is possible to improve the accuracy of the test by seating the electronic components in the correct positions, and it is possible to prevent the electronic components from being damaged due to the separation of the electronic components.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 개념도이다.
도 2는 도 1의 이송 핸드 및 전자부품 간의 관계를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2의 복수 개의 픽커의 간격이 조절되었을 때의 모습을 나타낸 도면이다.
도 4는 도 1의 복수 개의 픽커가 복수 개의 전자부품 상에 놓인 모습을 나타낸 도면이다.
도 5는 도 4의 이송 핸드가 x축 방향으로 제1 평균 x편차값만큼 이동한 모습을 나타낸 도면이다.
도 6은 도 5의 복수 개의 픽커가 전자부품을 파지한 채로 복수 개의 피커 간의 간격이 조절된 모습을 나타낸 도면이다.
도 7은 도 6의 이송 핸드가 제1 평균 x편차값만큼 이동한 모습을 나타낸 도면이다.
도 8은 도 7의 이송 핸드가 평균 x보정값만큼 이동한 모습을 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법을 순차적으로 나타낸 순서도이다.1 is a conceptual diagram schematically illustrating an electronic component test handler according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a relationship between a transfer hand and an electronic component of FIG. 1 .
FIG. 3 is a diagram illustrating a state when an interval between a plurality of pickers of FIG. 2 is adjusted.
4 is a view illustrating a state in which a plurality of pickers of FIG. 1 are placed on a plurality of electronic components.
5 is a view illustrating a state in which the transfer hand of FIG. 4 moves by a first average x deviation value in the x-axis direction.
FIG. 6 is a view illustrating a state in which the distance between the plurality of pickers of FIG. 5 is adjusted while the plurality of pickers of FIG. 5 hold the electronic component.
7 is a view illustrating a state in which the transfer hand of FIG. 6 moves by a first average x deviation value.
8 is a view showing a state in which the transfer hand of FIG. 7 moves by an average x correction value.
9 is a flowchart sequentially illustrating a method for controlling an electronic component test handler according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. Hereinafter, specific embodiments for implementing the technical idea of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

아울러 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. In addition, in the description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 '연결', '파지'된다고 언급된 때에는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 파지될 수도 있지만 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, when it is mentioned that a certain component is 'connected' or 'grapped' to another component, it may be directly connected or gripped to the other component, but it should be understood that other components may exist in the middle.

본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다.The terminology used herein is only used to describe specific embodiments and is not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise.

또한, 제1, 제3 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 해당 구성요소들은 이와 같은 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 이 용어들은 하나의 구성요소들을 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Also, terms including an ordinal number such as 1st, 3rd, etc. may be used to describe various components, but the components are not limited by these terms. These terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

명세서에서 사용되는 "포함하는"의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.The meaning of "comprising," as used herein, specifies a particular characteristic, region, integer, step, operation, element and/or component, and other specific characteristic, region, integer, step, operation, element, component, and/or group. It does not exclude the existence or addition of

또한, 본 명세서에서 상측, 저면 등의 표현은 도면에 도시를 기준으로 설명한 것이며 해당 대상의 방향이 변경되면 다르게 표현될 수 있음을 미리 밝혀둔다. 한편, 본 명세서의 x축 방향 및 y축 방향은 도 4 내지 도 8의 x축 및 y축이 연장되는 방향을 의미한다.In addition, in the present specification, the expression of the upper side, the bottom surface, etc. is described with reference to the drawings in the drawings, and it is clarified in advance that it may be expressed differently if the direction of the corresponding object is changed. Meanwhile, in the present specification, the x-axis direction and the y-axis direction refer to directions in which the x-axis and the y-axis of FIGS. 4 to 8 extend.

이하, 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트 핸들러(1)는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 전자부품(2)을 테스터에 전기적으로 연결한 후 테스트 결과에 따라 전자부품(2)을 분류할 수 있다. 예를 들어, 전자부품(2)은 반도체 소자일 수 있다. 또한, 전자부품 테스트 핸들러(1)는 테스트되어야 할 전자부품(2)의 종류에 최적화될 수 있도록 다양한 형태로 제작될 수 있다. 이러한 전자부품 테스트 핸들러(1)는 전자부품(2)을 테스트할 수 있는 테스터(3)와 결합될 수 있으며, 전자부품(2)을 테스터(3)와 전기적으로 접속시킬 수 있다. 이러한 전자부품 테스트 핸들러(1)는 프레임(10), 스택커(20), 세트 베이스(30), 이송 핸드(40), 촬영 유닛(50), 제1 트레이(60), 테스트 핸드(70), 셔틀(80), 제어부(90) 및 이동기(100)를 포함할 수 있다.Hereinafter, referring to FIG. 1 , an electronic component test handler 1 according to an embodiment of the present invention electrically connects an electronic component 2 manufactured through a predetermined manufacturing process to a tester, and according to the test result, the electronic component test handler 1 Part (2) can be classified. For example, the electronic component 2 may be a semiconductor device. In addition, the electronic component test handler 1 may be manufactured in various forms so as to be optimized for the type of the electronic component 2 to be tested. The electronic component test handler 1 may be coupled to a tester 3 capable of testing the electronic component 2 , and may electrically connect the electronic component 2 to the tester 3 . The electronic component test handler 1 includes a frame 10 , a stacker 20 , a set base 30 , a transfer hand 40 , a photographing unit 50 , a first tray 60 , and a test hand 70 . , the shuttle 80 , the control unit 90 , and the mobile unit 100 may be included.

프레임(10)은 스택커(20), 세트 베이스(30), 이송 핸드(40), 촬영 유닛(50) 제1 트레이(60), 테스트 핸드(70), 셔틀(80), 제어부(90) 및 이동기(100)를 지지할 수 있으며, 제2 트레이(CT)가 적재되고, 이송되는 공간을 제공할 수 있다. 이러한 프레임(10)은 제2 트레이(CT)를 스택커(20)로부터 세트 베이스(30)로 이송할 수 있는 트랜스퍼(미도시)를 포함할 수 있다. 본 명세서에서 제2 트레이(CT)는 고객 트레이(CT)로 명명될 수도 있다.The frame 10 includes a stacker 20 , a set base 30 , a transfer hand 40 , a photographing unit 50 , a first tray 60 , a test hand 70 , a shuttle 80 , a control unit 90 . And it can support the mover 100, the second tray (CT) can be loaded, it can provide a space to be transported. The frame 10 may include a transfer (not shown) capable of transferring the second tray CT from the stacker 20 to the set base 30 . In this specification, the second tray CT may be referred to as a customer tray CT.

스택커(20)는 전자소자가 적재되는 제2 트레이(CT)를 보관할 수 있다. 이러한 스택커(20)는 프레임(10)에 지지될 수 있다. 또한, 스택커(20)에 적재된 제2 트레이(CT)는 트랜스퍼에 의해 세트 베이스(30)로 이송될 수 있으며, 제2 트레이(CT)는 세트 베이스(30)로부터 다시 스택커(20)로 이송될 수 있다. 이러한 스택커(20)는 세트 베이스(30)의 하방에 배치될 수 있다.The stacker 20 may store the second tray CT on which the electronic device is loaded. The stacker 20 may be supported on the frame 10 . In addition, the second tray CT loaded on the stacker 20 may be transferred to the set base 30 by transfer, and the second tray CT is transferred from the set base 30 back to the stacker 20 . can be transferred to The stacker 20 may be disposed below the set base 30 .

세트 베이스(30)는 스택커(20)로부터 이송된 제2 트레이(CT)를 지지할 수 있다. 이러한 세트 베이스(30)에는 전자부품(2)이 적재된 제2 트레이(CT)가 이송 핸드(40)를 향해 노출되기 위한 개구부(미도시)가 형성될 수 있다. 이러한 개구부의 내측에 전자부품(2)이 적재된 제2 트레이(CT)가 위치하면 전자부품(2)은 이송 핸드(40)에 의해 제2 트레이(CT)로부터 제1 트레이(60)로 이송될 수 있다.The set base 30 may support the second tray CT transferred from the stacker 20 . An opening (not shown) for exposing the second tray CT on which the electronic component 2 is loaded toward the transfer hand 40 may be formed in the set base 30 . When the second tray CT on which the electronic component 2 is loaded is located inside the opening, the electronic component 2 is transferred from the second tray CT to the first tray 60 by the transfer hand 40 . can be

도 2 및 도 3을 참조하면, 이송 핸드(40)는 제2 트레이(CT)에 적재된 전자부품(2)을 제1 트레이(60)로 이송할 수 있다. 이러한 예를 들어, 이송 핸드(40)는 이송 레일(미도시)에 지지되어 이동할 수 있으며, 전자부품(2) 복수 개를 동시에 이송할 수 있다. 또한, 핸드바디(41)는 제1 트레이 위치 및 제2 트레이 위치 중 어느 하나로부터 다른 하나로 이동할 수 있다. 본 명세서에서 제1 트레이 위치는 이송 핸드(40)가 제1 트레이(60) 상에 놓일 때의 위치이며, 제2 트레이 위치는 이송 핸드(40)가 제2 트레이(CT) 상에 놓일 때의 위치이다. 이러한 이송 핸드(40)는 핸드바디(41), 픽커(42) 및 구동모터(43)를 포함할 수 있다.2 and 3 , the transfer hand 40 may transfer the electronic component 2 loaded on the second tray CT to the first tray 60 . For this example, the transfer hand 40 may be moved while being supported by a transfer rail (not shown), and a plurality of electronic components 2 may be transferred at the same time. Also, the handbody 41 may move from one of the first tray position and the second tray position to the other. In this specification, the first tray position is a position when the transfer hand 40 is placed on the first tray 60 , and the second tray position is a position when the transfer hand 40 is placed on the second tray CT. is the location The transfer hand 40 may include a hand body 41 , a picker 42 , and a driving motor 43 .

핸드바디(41)는 복수 개의 픽커(42)를 지지할 수 있다. 이러한 핸드바디(41)는 구동모터(43)에 의해 x축 방향 및 y축 방향 중 하나 이상의 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 핸드바디(41)는 복수 개의 픽커(42) 사이의 간격을 조절할 수 있다. 예를 들어, 핸드바디(41)에는 구동모터(43)에 의해 구동되는 캠 및 캠팔로워가 구비될 수 있다. 이러한 캠 및 캠팔로워에 의해 복수 개의 픽커(42)는 서로 간의 간격이 조절될 수 있다. The hand body 41 may support a plurality of pickers 42 . The hand body 41 may be moved in one or more directions of the x-axis direction and the y-axis direction by the driving motor 43 . In addition, the hand body 41 may adjust the spacing between the plurality of pickers 42 . For example, the hand body 41 may include a cam driven by the driving motor 43 and a cam follower. The distance between the plurality of pickers 42 may be adjusted by the cam and the cam follower.

픽커(42)는 복수 개의 전자부품(2)을 제2 트레이(CT) 및 제1 트레이(60) 중 어느 하나에서 다른 하나로 이송할 수 있다. 예를 들어, 픽커(42)는 제2 트레이(CT)에 안착된 전자부품(2)을 파지할 수 있으며, 파지한 전자부품(2)을 제1 트레이(60)에 안착시킬 수 있다. 이러한 픽커(42)는 복수 개로 제공될 수 있으며, 복수 개의 픽커(42)는 복수 개의 전자부품(2)을 동시 또는 개별적으로 파지할 수 있다. 이러한 복수 개의 픽커(42)는 제1 픽커(42a), 제2 픽커(42b), 제3 픽커(42c) 및 제4 픽커(42d)를 포함할 수 있다. 다만, 본 명세서에서 복수 개의 픽커(42)는 4개로 제공되는 것으로 서술하였으나, 이는 예시에 불과하고, 임의의 개수로 제공될 수 있다.The picker 42 may transfer the plurality of electronic components 2 from one of the second tray CT and the first tray 60 to another. For example, the picker 42 may hold the electronic component 2 seated on the second tray CT, and may seat the held electronic component 2 on the first tray 60 . A plurality of such pickers 42 may be provided, and the plurality of pickers 42 may hold a plurality of electronic components 2 simultaneously or individually. The plurality of pickers 42 may include a first picker 42a, a second picker 42b, a third picker 42c, and a fourth picker 42d. However, in the present specification, it has been described that the plurality of pickers 42 are provided as four, but this is merely an example and may be provided in any number.

한편, 복수 개의 픽커(42)는 서로 간의 간격이 조절 가능하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 픽커(42)는 복수 개의 전자부품(2)을 제2 트레이(CT) 및 제1 트레이(60) 중 어느 하나에서 다른 하나로 이송하는 동안 복수 개의 전자부품(2) 사이의 간격을 조절할 수 있다. 이러한 복수 개의 픽커(42) 간의 간격은 제1 트레이 위치에서보다 제2 트레이 위치에서 더 넓을 수 있다. 이는 제1 트레이(60)에 전자부품(2)이 안착되는 포켓(미도시) 간의 간격이 제2 트레이(CT)에 전자부품(2)이 안착되는 포켓(미도시) 간의 간격보다 넓기 때문이다. 따라서, 복수 개의 픽커(42) 간의 간격은 이송 핸드(40)가 제1 트레이 위치에서 제2 트레이 위치로 이동하는 동안 좁아질 수 있다. 한편, 복수 개의 픽커(42) 간의 간격은 조립 및 제작 공차에 의해 서로 상이한 간격을 가질 수도 있다.Meanwhile, the plurality of pickers 42 may be configured to have an adjustable distance between them. For example, the plurality of pickers 42 are disposed between the plurality of electronic components 2 while transferring the plurality of electronic components 2 from one of the second tray CT and the first tray 60 to the other. You can adjust the spacing. An interval between the plurality of pickers 42 may be wider in the second tray position than in the first tray position. This is because the gap between the pockets (not shown) in which the electronic component 2 is seated on the first tray 60 is wider than the distance between the pockets (not shown) in which the electronic component 2 is seated on the second tray CT. . Accordingly, the gap between the plurality of pickers 42 can be narrowed while the transfer hand 40 moves from the first tray position to the second tray position. Meanwhile, intervals between the plurality of pickers 42 may have different intervals due to assembly and manufacturing tolerances.

촬영 유닛(50)은 이송 핸드(40)를 촬영하여 이미지 정보를 획득할 수 있다. 여기서 이미지 정보는 촬영 유닛(50)에 의해 촬영된 핸드바디(41) 및 복수 개의 픽커(42)의 이미지를 포함할 수 있다. 또한, 촬영 유닛(50)에서 획득된 이미지 정보는 제어부(90)로 전달될 수 있다. 예를 들어, 촬영 유닛(50)은 카메라일 수 있으며, 이송 핸드(40)의 저면을 촬영할 수 있다. 이러한 촬영 유닛(50)은 복수 개로 제공될 수 있다. 또한, 복수 개의 촬영 유닛(50) 중 어느 하나는 제1 트레이(60)와 인접한 위치에 배치되며, 제1 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 촬영하여 제1 이미지 정보를 획득할 수 있다. 또한, 복수 개의 촬영 유닛(50) 중 다른 하나는 제2 트레이(CT)와 인접한 위치에 배치되며 제2 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 촬영하여 제2 이미지 정보를 획득할 수 있다.The photographing unit 50 may acquire image information by photographing the transfer hand 40 . Here, the image information may include images of the hand body 41 and the plurality of pickers 42 photographed by the photographing unit 50 . Also, the image information obtained by the photographing unit 50 may be transmitted to the controller 90 . For example, the photographing unit 50 may be a camera, and may photograph the bottom surface of the transfer hand 40 . A plurality of such photographing units 50 may be provided. In addition, any one of the plurality of photographing units 50 is disposed at a position adjacent to the first tray 60 , and may acquire first image information by photographing the transfer hand 40 placed on the first tray position. In addition, the other one of the plurality of photographing units 50 is disposed at a position adjacent to the second tray CT, and may acquire second image information by photographing the transfer hand 40 placed at the second tray position.

제1 트레이(60)는 이송 핸드(40)로부터 전달받은 전자부품(2)을 셔틀(80)로 이송할 수 있다. 이러한 제1 트레이(60)에는 복수 개의 전자부품이 안착될 수 있는 복수 개의 포켓(미도시)이 형성될 수 있다. 또한, 제1 트레이(60)는 이송 핸드(40)와 테스트 사이트(TP) 사이를 왕복 이동할 수 있다. 여기서, 테스트 사이트(TP)는 전자부품(2)이 테스터(3)와 전기적으로 접속되는 영역을 의미한다. 이러한 제1 트레이(60)는 전자부품이 적재될 수 있으며, 일 예로 셔틀 테이블 또는 테스트 트레이로 명명될 수도 있다.The first tray 60 may transfer the electronic component 2 received from the transfer hand 40 to the shuttle 80 . A plurality of pockets (not shown) in which a plurality of electronic components can be seated may be formed in the first tray 60 . Also, the first tray 60 may reciprocate between the transfer hand 40 and the test site TP. Here, the test site TP refers to a region where the electronic component 2 is electrically connected to the tester 3 . The first tray 60 may be loaded with electronic components, and may be referred to as a shuttle table or a test tray, for example.

테스트 핸드(70)는 셔틀(80)에 안착된 전자부품(2)을 테스트 사이트(TP)로 이송할 수 있으며, 테스트가 수행될 전자부품(2)을 테스터(3)의 테스트 소켓(3a)에 로딩할 수 있다. 여기서 테스트 소켓(3a)은 테스터(3) 중 전자부품(2)이 안착되는 부분을 의미하며, 테스트 핸드(70)가 전자부품(2)을 테스트 소켓(3a)에 안착시킬 때, 테스트 소켓(3a)은 테스트 사이트(TP)에 놓일 수 있다. 한편, 테스트 핸드(70)는 테스트가 완료된 전자부품(2)을 테스트 소켓(3a)으로부터 언로딩하여 셔틀(80)로 이송할 수 있다.The test hand 70 may transfer the electronic component 2 seated on the shuttle 80 to the test site TP, and transfer the electronic component 2 to be tested to the test socket 3a of the tester 3 . can be loaded into Here, the test socket 3a means a portion of the tester 3 on which the electronic component 2 is seated, and when the test hand 70 seats the electronic component 2 on the test socket 3a, the test socket ( 3a) may be placed at the test site TP. Meanwhile, the test hand 70 may unload the electronic component 2 on which the test has been completed from the test socket 3a and transfer it to the shuttle 80 .

셔틀(80)은 제1 트레이(60)로부터 전달받은 전자부품을 테스트 사이트(TP)로 이송할 수 있다. 또한, 셔틀(80)은 테스트가 완료된 전자부품을 이동기(100)로 전달할 수 있다. 이러한 셔틀(80)에는 복수 개의 전자부품이 안착될 수 있는 복수 개의 공간(미도시)이 형성될 수 있다.The shuttle 80 may transfer the electronic component received from the first tray 60 to the test site TP. In addition, the shuttle 80 may deliver the electronic component that has been tested to the mobile device 100 . A plurality of spaces (not shown) in which a plurality of electronic components can be seated may be formed in the shuttle 80 .

제어부(90)는 이송 핸드(40), 촬영 유닛(50), 제1 트레이(60), 테스트 핸드(70), 셔틀(80) 및 이동기(100)의 작동을 제어할 수 있다. 이러한 제어부(90)는 마이크로프로세서를 포함하는 연산 장치, 센서 등의 측정장치 및 메모리에 의해 구현될 수 있으며, 그 구현 방식은 당업자에게 자명한 사항이므로 더 이상의 자세한 설명을 생략한다. The controller 90 may control operations of the transfer hand 40 , the photographing unit 50 , the first tray 60 , the test hand 70 , the shuttle 80 , and the mover 100 . The control unit 90 may be implemented by an arithmetic device including a microprocessor, a measurement device such as a sensor, and a memory, and the implementation method is obvious to those skilled in the art, so a further detailed description will be omitted.

이동기(100)는 셔틀(80)으로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 전달받을 수 있다. 이러한 이동기(100)는 테스트가 완료된 전자부품들을 테스트 결과에 따라 분류하면서 제2 트레이(CT)로 이송할 수 있다. 여기서 이동기(100)는 도 1에 도시된 화살표 방향을 따라 이동할 수 있다.The mobile device 100 may receive electronic components that have been tested from the shuttle 80 . The mover 100 may transfer the electronic components that have been tested to the second tray CT while classifying them according to the test results. Here, the mobile device 100 may move along the arrow direction shown in FIG. 1 .

한편, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 간의 간격이 조절되면, 복수 개의 픽커(42)가 전자부품(2)을 안정적으로 파지하거나 파지 해제하도록 이송 핸드(40)의 위치를 조정할 수 있다. 이하에서는 제어부(90)가 복수 개의 픽커(42)가 전자부품(2)을 파지하거나 파지 해제할 때, 이송 핸드(40)의 위치를 조정하는 제어에 대하여 설명한다.On the other hand, when the distance between the plurality of pickers 42 is adjusted, the controller 90 may adjust the position of the transfer hand 40 so that the plurality of pickers 42 stably grip or release the electronic component 2 . . Hereinafter, a control for adjusting the position of the transfer hand 40 when the control unit 90 holds or releases the electronic component 2 by the plurality of pickers 42 will be described.

도 2를 다시 참조하면, 본 명세서에서 제1 트레이(60)의 제1 정위치(RP1)에 안착된 복수 개의 전자부품(2) 각각의 좌표를 기 설정된 제1 기준 x좌표 및 제1 기준 y좌표로 정의한다. 또한, 복수 개의 픽커(42)가 각각 제1 정위치(RP1)에 놓인 복수 개의 전자부품(2)의 상측에 놓일 때 복수 개의 픽커(42) 각각의 좌표도 제1 기준 x좌표 및 제1 기준 y좌표로 정의될 수 있다. 제1 기준 x좌표는 x축 좌표이고, 제1 기준 y좌표는 y축 좌표이다.Referring back to FIG. 2 , in the present specification, the coordinates of each of the plurality of electronic components 2 seated in the first fixed position RP1 of the first tray 60 are preset first reference x-coordinates and first reference y defined by coordinates. In addition, when the plurality of pickers 42 are respectively placed on the upper side of the plurality of electronic components 2 placed at the first fixed position RP1 , the coordinates of each of the plurality of pickers 42 are also the first reference x-coordinate and the first reference It can be defined by the y-coordinate. The first reference x-coordinate is an x-axis coordinate, and the first reference y-coordinate is a y-axis coordinate.

도 3을 참조하면, 본 명세서에서 제2 트레이(CT)의 제2 정위치(RP2)에 안착된 복수 개의 전자부품(2) 각각의 좌표를 기 설정된 제2 기준 x좌표 및 제2 기준 y좌표로 정의한다. 또한, 복수 개의 픽커(42)가 각각 제2 정위치(RP2)에 놓인 복수 개의 전자부품(2)의 상측에 놓일 때 복수 개의 픽커(42) 각각의 좌표도 제2 기준 x좌표 및 제2 기준 y좌표로 정의될 수 있다. 제2 기준 x좌표는 x축 좌표이고, 제2 기준 y좌표는 y축 좌표이다.Referring to FIG. 3 , in the present specification, the coordinates of each of the plurality of electronic components 2 seated in the second exact position RP2 of the second tray CT are preset second reference x-coordinates and second reference y-coordinates. to be defined as In addition, when the plurality of pickers 42 are respectively placed on the upper side of the plurality of electronic components 2 placed at the second exact position RP2, the coordinates of each of the plurality of pickers 42 are also the second reference x-coordinate and the second reference It can be defined by the y-coordinate. The second reference x-coordinate is an x-axis coordinate, and the second reference y-coordinate is a y-axis coordinate.

한편, 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 제1 트레이 위치에 놓일 때, 촬영 유닛(50)에서 촬영된 제1 이미지 정보에 기초하여 복수 개의 픽커(42)의 각각 좌표를 획득할 수 있다. 본 명세서에서 이송 핸드(40)가 제1 트레이 위치에 놓일 때 획득된 복수 개의 픽커(42)의 x축 좌표를 제1 픽커 x좌표로, y축 좌표를 제1 픽커 y좌표로 정의한다.On the other hand, when the transfer hand 40 is placed on the first tray position, the control unit 90 may obtain the respective coordinates of the plurality of pickers 42 based on the first image information photographed by the photographing unit 50 . . In the present specification, the x-axis coordinates of the plurality of pickers 42 obtained when the transfer hand 40 is placed on the first tray position are defined as the first picker x-coordinates, and the y-axis coordinates are defined as the first picker y-coordinates.

또한, 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 제2 트레이 위치에 놓일 때, 촬영 유닛(50)에서 촬영된 제2 이미지 정보에 기초하여 복수 개의 픽커(42) 각각의 좌표를 획득할 수 있다. 본 명세서에서 이송 핸드(40)가 제2 트레이 위치에 놓일 때 획득된 복수 개의 픽커(42)의 x축 좌표를 제2 픽커 x좌표로, y축 좌표를 제2 픽커 y좌표로 정의한다.In addition, when the transfer hand 40 is placed on the second tray position, the controller 90 may obtain the coordinates of each of the plurality of pickers 42 based on the second image information photographed by the photographing unit 50 . . In the present specification, the x-axis coordinates of the plurality of pickers 42 obtained when the transfer hand 40 is placed on the second tray position are defined as the second picker x-coordinates, and the y-axis coordinates are defined as the second picker y-coordinates.

도 4를 참조하면, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 기준 x좌표와 제1 픽커 x좌표 간의 차이를 통하여 제1 x좌표 편차값을 산출할 수 있다. 예를 들어, 제1 픽커(42a)의 제1 x좌표 편차값은 -1이고, 제2 픽커(42b)의 제1 x좌표 편차값은 0이다. 또한, 제3 픽커(42c)의 제1 x좌표 편차값은 4이고, 제4 픽커(42d)의 제1 x좌표 편차값은 3이다. 한편, 도 4에서 눈금 한 칸은 2의 값을 가진다. 또한, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 기준 y좌표와 제1 픽커 y좌표 간의 차이를 통하여 제1 y좌표 편차값을 산출할 수 있다.Referring to FIG. 4 , the controller 90 may calculate a first x-coordinate deviation value through a difference between the first reference x-coordinate of each of the plurality of pickers 42 and the first picker x-coordinate. For example, the first x-coordinate deviation value of the first picker 42a is -1, and the first x-coordinate deviation value of the second picker 42b is 0. Also, the first x-coordinate deviation value of the third picker 42c is 4, and the first x-coordinate deviation value of the fourth picker 42d is 3 . Meanwhile, in FIG. 4 , one grid has a value of 2. Also, the controller 90 may calculate a first y-coordinate deviation value based on a difference between the first reference y-coordinate of each of the plurality of pickers 42 and the first picker y-coordinate.

제어부(90)는 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 x편차값이 기 설정된 x임계값 이하인 경우 제1 평균 x편차값을 산출할 수 있다. 제1 평균 x편차값은 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 x편차값과 제1 최대 x편차값 사이의 평균일 수 있다. 예를 들어, x임계값은 6일 수 있으며, 이 경우 제1 최대 x편차값(제3 픽커(42c)의 4)이 x임계값 이하이므로 제어부(90)는 제1 최소 x편차값 -1과 제1 최대 x편차값 4의 평균을 구하여 제1 평균 x편차값 1.5를 산출할 수 있다.The controller 90 may calculate a first average x-deviation value when a first maximum x-deviation value having a maximum value among a plurality of first x-coordinate deviation values is equal to or less than a preset x-threshold value. The first average x-deviation value may be an average between a first minimum x-deviation value having a minimum value among a plurality of first x-coordinate deviation values and a first maximum x-deviation value. For example, the x-threshold value may be 6, and in this case, since the first maximum x-deviation value (4 of the third picker 42c) is equal to or less than the x-threshold value, the controller 90 controls the first minimum x-deviation value -1 and the first maximum x-deviation value 4 may be obtained to obtain a first average x-deviation value of 1.5.

또한, 제어부(90)는 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 y편차값이 기 설정된 y임계값 이하인 경우 제1 평균 y편차값을 산출할 수 있다. 제1 평균 y편차값은 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최소값을 가지는 제1 최소 y편차값과 제1 최대 y편차값 사이의 평균일 수 있다.Also, the controller 90 may calculate a first average y-deviation value when a first maximum y-deviation value having a maximum value among a plurality of first y-coordinate deviation values is equal to or less than a preset y-threshold value. The first average y-deviation value may be an average between a first minimum y-deviation value having a minimum value among a plurality of first y-coordinate deviation values and a first maximum y-deviation value.

도 5를 참조하면, 제어부(90)는 제1 평균 x편차값만큼 이송 핸드(40)가 x축 방향의 일측으로 이동하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다. 또한, 제어부(90)는 제1 평균 y편차값만큼 이송 핸드(40)가 y축 방향의 일측으로 이동하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다. 이러한 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 제1 평균 x편차값만큼 x축 방향으로 이동하고, 제1 평균 y편차값만큼 y축 방향으로 이동하면, 복수 개의 픽커(42)가 전자부품(2)을 파지하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다.Referring to FIG. 5 , the controller 90 may control the transfer hand 40 to move the transfer hand 40 to one side in the x-axis direction by a first average x deviation value. Also, the controller 90 may control the transfer hand 40 to move the transfer hand 40 to one side in the y-axis direction by the first average y deviation value. When the transfer hand 40 moves in the x-axis direction by the first average x deviation value and moves in the y-axis direction by the first average y deviation value, the plurality of pickers 42 are electronic components ( 2) it is possible to control the transfer hand 40 to grip.

도 6을 참조하면, 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 복수 개의 전자부품(2)을 파지하면 이송 핸드(40)가 제2 트레이 위치에 놓이도록 이송 핸드(40)를 이동시킬 수 있다. 또한, 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 이동하는 과정에서 복수 개의 픽커(42)가 복수 개의 전자부품(2)을 파지한 채로 서로 간의 간격이 좁아지도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다.Referring to FIG. 6 , the control unit 90 may move the transfer hand 40 so that the transfer hand 40 is placed at the second tray position when the transfer hand 40 grips the plurality of electronic components 2 . . In addition, the controller 90 may control the transfer hand 40 so that the distance between the plurality of pickers 42 is narrowed while the plurality of pickers 42 hold the plurality of electronic components 2 while the transfer hand 40 moves. have.

제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 기준 x좌표와 획득된 제2 픽커 x좌표 간의 차이를 통하여 제2 x좌표 편차값을 산출할 수 있다. 예를 들어, 제1 픽커(42a)의 제2 x좌표 편차값은 -5이고, 제2 픽커(42b)의 제2 x좌표 편차값은 0이다. 또한, 제3 픽커(42c)의 제2 x좌표 편차값은 1이고, 제4 픽커(42d)의 제2 x좌표 편차값은 2이다. 또한, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 기준 y좌표와 제2 픽커 y좌표 간의 차이를 통하여 제2 y좌표 편차값을 산출할 수 있다.The controller 90 may calculate a second x-coordinate deviation value through a difference between the second reference x-coordinate of each of the plurality of pickers 42 and the obtained second picker x-coordinate. For example, the second x-coordinate deviation value of the first picker 42a is -5, and the second x-coordinate deviation value of the second picker 42b is 0. Also, the second x-coordinate deviation value of the third picker 42c is 1, and the second x-coordinate deviation value of the fourth picker 42d is 2. Also, the controller 90 may calculate a second y-coordinate deviation value through a difference between the second reference y-coordinate of each of the plurality of pickers 42 and the second picker y-coordinate.

또한, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각에 대응되는 제1 x좌표 편차값과 제2 x좌표 편차값의 차이인 x보정값을 산출할 수 있다. 예를 들어, 제1 픽커(42a)의 x보정값은 -4이고, 제2 픽커(42b)의 x보정값은 0이다. 또한, 제3 픽커(42c)의 x보정값은 -3이고, 제4 픽커(42d)의 x보정값은 -1이다. 이 경우 제어부(90)는 복수 개의 x보정값 중 최대값과 최소값의 평균인 평균 x보정값을 산출할 수 있다. 여기서 평균 x보정값은 -2일 수 있다. 또한, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 각각에 대응되는 제1 y좌표 편차값과 제2 y좌표 편차값의 차이인 y보정값을 산출할 수 있다. 이러한 제어부(90)는 복수 개의 y보정값에 기초하여 평균 y보정값을 산출할 수 있다.Also, the controller 90 may calculate an x-correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value corresponding to each of the plurality of pickers 42 . For example, the x correction value of the first picker 42a is -4, and the x correction value of the second picker 42b is 0. In addition, the x correction value of the third picker 42c is -3, and the x correction value of the fourth picker 42d is -1. In this case, the controller 90 may calculate an average x-correction value that is an average of the maximum value and the minimum value among the plurality of x-correction values. Here, the average x-correction value may be -2. Also, the controller 90 may calculate a y correction value that is a difference between the first y-coordinate deviation value and the second y-coordinate deviation value corresponding to each of the plurality of pickers 42 . The controller 90 may calculate an average y-correction value based on a plurality of y-correction values.

이후 제어부(90)는 이송 핸드(40)를 제1 평균 x편차값만큼 x축 방향의 일측으로 이동시키고(도 7 참조), 이송 핸드(40)를 평균 x보정값만큼 x축 방향의 타측으로 이동시킬 수 있다(도 8 참조). 또한, 제어부(90)는 이송 핸드(40)를 제1 평균 y편차값만큼 y축 방향의 일측으로 이동시키고, 이송 핸드(40)를 평균 y보정값만큼 y축 방향의 타측으로 이동시킬 수 있다. 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 평균 x보정값 및 평균 y보정값만큼 각각 x축 및 y축을 따라서 이동하면 복수 개의 전자부품(2)을 제2 트레이(CT)에 안착시킬 수 있다. Then, the control unit 90 moves the transfer hand 40 to one side in the x-axis direction by the first average x deviation value (see FIG. 7 ), and moves the transfer hand 40 to the other side in the x-axis direction by the average x correction value. It can be moved (see FIG. 8). In addition, the control unit 90 may move the transfer hand 40 to one side in the y-axis direction by the first average y deviation value, and move the transfer hand 40 to the other side in the y-axis direction by the average y correction value. . When the transfer hand 40 moves along the x-axis and the y-axis by the average x-correction value and the average y-correction value, the controller 90 may seat the plurality of electronic components 2 on the second tray CT.

이처럼, 제어부(90)는 복수 개의 픽커(42) 간의 간격 조절에 의해 픽커(42)의 간격에 오차가 발생하더라도 보정을 통하여 이송 핸드(40)를 이동시킬 수 있다. 이로 인해, 복수 개의 픽커(42)가 복수 개의 전자부품(2)을 놓치는 현상이 최소화 되며, 제1 트레이(60) 또는 제2 트레이(CT)의 정위치로부터 이탈하여 안착시키는 현상을 방지할 수 있다.As such, the controller 90 can move the transfer hand 40 through correction even if an error occurs in the spacing between the pickers 42 by adjusting the spacing between the plurality of pickers 42 . Due to this, the phenomenon that the plurality of pickers 42 miss the plurality of electronic components 2 is minimized, and it is possible to prevent the phenomenon that the plurality of pickers 42 are separated from the original positions of the first tray 60 or the second tray CT and are seated. have.

한편, 제어부(90)는 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 하나 이상이 x임계값을 초과하는 경우 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커(42) 이외의 나머지 픽커(42)들의 기타 평균 x편차값을 산출할 수 있다. 예를 들어, 제어부(90)는 제4 픽커(42d)의 제1 x좌표 편차값이 x임계값을 초과하면 제1 픽커(42a), 제2 픽커(42b) 및 제3 픽커(42c) 중 최대 x편차값과 최소 x편차값의 평균으로부터 기타 평균 x편차값을 산출할 수 있다. 이 경우 제어부(90)는 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커(42)가 복수 개의 전자부품(2) 중 하나 이상의 전자부품(2) 상으로 이동시킨 후 하나 이상의 전자부품(2)을 파지하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다. 또한, 제어부(90)는 x임계값을 초과하지 않는 나머지 픽커(42)들을 제1 픽커 x좌표로부터 기타 평균 x편차값만큼 이격된 위치로 이동시킨 후 전자부품(2)을 파지하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다.Meanwhile, when at least one of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x-threshold value, the control unit 90 controls other average x-deviations of the remaining pickers 42 other than the one or more pickers 42 exceeding the x-threshold value. value can be calculated. For example, if the first x-coordinate deviation value of the fourth picker 42d exceeds the x threshold, the controller 90 may control one of the first picker 42a, the second picker 42b, and the third picker 42c. Other average x deviation values can be calculated from the average of the maximum x deviation value and the minimum x deviation value. In this case, the control unit 90 moves the one or more pickers 42 exceeding the x-threshold value onto one or more electronic components 2 among the plurality of electronic components 2 and then grips the one or more electronic components 2 . The transfer hand 40 can be controlled. In addition, the control unit 90 moves the remaining pickers 42 that do not exceed the x threshold to a position spaced apart from the first picker x-coordinate by other average x deviation values, and then a transfer hand ( 40) can be controlled.

또한, 제어부(90)는 이송 핸드(40)가 전자부품(2)을 파지한 채로 제2 트레이 위치로 이동하면, 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 픽커 x좌표를 획득할 수 있으며, 제2 x좌표 편차값을 산출할 수 있다. 이러한 제어부(90)는 x임계값을 초과한 하나 이상의 픽커(42)의 제1 x좌표 편차값과 제2 x좌표 편차값을 차감하여 오프셋 x보정값을 산출할 수 있다. 이 경우 제어부(90)는 제2 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)가 x축 방향 일측으로 기타 평균 x편차값만큼 이동하고, x축 방향의 타측으로 오프셋 x보정값 만큼 이동한 후 x임계값을 초과한 하나 이상의 픽커(42)가 하나 이상의 전자부품(2)을 제2 트레이(CT)에 안착시키도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다.In addition, when the transfer hand 40 moves to the second tray position while holding the electronic component 2 , the control unit 90 may obtain the second picker x-coordinate of each of the plurality of pickers 42 , 2 x-coordinate deviation values can be calculated. The controller 90 may calculate the offset x correction value by subtracting the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of the one or more pickers 42 exceeding the x threshold value. In this case, the control unit 90 moves the transfer hand 40 placed at the second tray position to one side in the x-axis direction by other average x deviation values, and moves to the other side in the x-axis direction by the offset x correction value and then the x threshold One or more pickers 42 exceeding the above may control the transfer hand 40 to seat one or more electronic components 2 on the second tray CT.

이러한 제어부(90)는 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 하나 이상이 y임계값을 초과하는 경우 y임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커(42) 이외의 나머지 픽커(42)들의 기타 평균 y편차값을 산출할 수 있다. 예를 들어, 제어부(90)는 y임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커(42)의 최대 y편차값과 최소 y편차값의 평균으로부터 기타 평균 y편차값을 산출할 수 있다. 이 경우 제어부(90)는 y임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커(42)가 복수 개의 전자부품(2) 중 하나 이상의 전자부품(2) 상으로 이동시킨 후 하나 이상의 전자부품(2)을 파지하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다. 또한, 제어부(90)는 y임계값을 초과하지 않는 나머지 픽커(42)들을 제1 픽커 y좌표로부터 기타 평균 y편차값만큼 이격된 위치로 이동시킨 후 전자부품(2)을 파지하도록 이송 핸드(40)를 제어할 수 있다.When one or more of the plurality of first y-coordinate deviation values exceeds the y threshold value, the control unit 90 determines other average y deviation values of the remaining pickers 42 other than the one or more pickers 42 exceeding the y threshold value. can be calculated. For example, the controller 90 may calculate other average y deviation values from the average of the maximum y deviation values and the minimum y deviation values of the one or more pickers 42 exceeding the y threshold value. In this case, the control unit 90 moves the one or more pickers 42 exceeding the y threshold onto one or more electronic components 2 among the plurality of electronic components 2 and then grips the one or more electronic components 2 . The transfer hand 40 can be controlled. In addition, the control unit 90 moves the remaining pickers 42 that do not exceed the y threshold to positions spaced apart from the first picker y-coordinate by other average y deviation values, and then holds the electronic component 2 by a transfer hand ( 40) can be controlled.

또한, 제어부(90)는 y임계값을 초과한 하나 이상의 픽커(42)의 제1 y좌표 편차값과 제2 y좌표 편차값을 차감하여 오프셋 y보정값을 산출할 수 있다.Also, the controller 90 may calculate the offset y correction value by subtracting the first y-coordinate deviation value and the second y-coordinate deviation value of the one or more pickers 42 exceeding the y threshold value.

본 명세서에서 제어부(90)는 제1 트레이(60)로부터 제2 트레이(CT)로 전자부품을 이송하는 과정에서 전자부품 간의 간격을 보정하는 제어에 대하여 설명하였으나, 제2 트레이(CT)로부터 제1 트레이(60)으로 전자부품을 이송하는 과정에서도 동일하게 적용될 수 있다. 또한, 제1 트레이(60)와 제2 트레이(CT) 사이에서 전자부품의 간격을 보정하는 것에 대하여 설명하였으나, 제1 트레이(60)와 셔틀(80) 사이에서 전자부품의 간격을 보정하는 과정에서도 동일하게 보정하는 제어가 수행될 수 있다.In this specification, the control unit 90 has described the control for correcting the gap between the electronic components in the process of transferring the electronic components from the first tray 60 to the second tray CT, but The same can be applied to the process of transferring the electronic component to the first tray 60 . In addition, although the description has been given of correcting the distance between the electronic components between the first tray 60 and the second tray CT, the process of correcting the distance between the electronic components between the first tray 60 and the shuttle 80 has been described. The same correction control may be performed in .

이처럼, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트 핸들러(1)는 복수 개의 픽커(42) 간의 간격에 오차가 발생하더라도 이를 보정하여 전자부품(2)들을 정밀하게 파지할 수 있다. 또한, 파지된 전자부품(2)들이 제1 트레이(60)의 정위치에 안착시킬 수 있는 효과가 있다.As such, the electronic component test handler 1 according to an embodiment of the present invention can precisely grip the electronic components 2 by correcting an error in the spacing between the plurality of pickers 42 . In addition, there is an effect that the gripped electronic components (2) can be seated in the original position of the first tray (60).

또한, 전자부품 테스트 핸들러(1)는 제1 트레이(60)와 제2 트레이(CT) 각각에 형성된 전자부품 안착 공간의 피치가 다르다 하더라도 픽커(42) 간의 간격 제어를 통하여 전자부품(2)을 정위치에 안착시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the electronic component test handler 1 controls the electronic component 2 through the distance control between the pickers 42 even if the pitches of the electronic component seating spaces formed in each of the first tray 60 and the second tray CT are different. It has the effect of being seated in the correct position.

이하에서는, 도 9를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트 핸들러(1)를 제어하는 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법(S10)에 대하여 설명한다.Hereinafter, an electronic component test handler control method S10 for controlling the electronic component test handler 1 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 9 .

전자부품 테스트 핸들러 제어 방법(S10)은 전자부품 테스트 핸들러(1)를 제어하여 전자부품(2)의 테스트를 지원할 수 있다. 이러한 전자부품 테스트 핸들러 제어 방법(S10)은 이미지 획득 단계(S100), 1차 좌표 획득 단계(S200), 1차 편차값 산출 단계(S300), 판단 단계(S400), 1차 이동 단계(500), 2차 좌표 획득 단계(S600), 2차 편차값 산출 단계(S700), 평균 보정값 산출 단계(S800), 2차 이동 단계(S900), 기타 평균 편차값 산출 단계(S1000), 1차 순차적 이동 단계(S1100), 오프셋 편차값 산출 단계(S1200) 및 2차 순차적 이동 단계(S1300)를 포함할 수 있다.The electronic component test handler control method S10 may control the electronic component test handler 1 to support testing of the electronic component 2 . The electronic component test handler control method (S10) includes an image acquisition step (S100), a first coordinate acquisition step (S200), a first deviation value calculation step (S300), a determination step (S400), a first movement step (500) , secondary coordinate acquisition step (S600), secondary deviation value calculation step (S700), average correction value calculation step (S800), secondary movement step (S900), other average deviation value calculation step (S1000), first sequential It may include a moving step (S1100), an offset deviation value calculation step (S1200), and a second sequential moving step (S1300).

이미지 획득 단계(S100)는 촬영 유닛(50)을 통하여 복수 개의 픽커(42)를 촬영하여 이미지 정보를 획득할 수 있다. 이러한 이미지 획득 단계(S100)는 제1 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 촬영하여 제1 이미지 정보를 획득할 수 있으며, 제2 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 촬영하여 제2 이미지 정보를 획득할 수 있다.In the image acquisition step S100 , image information may be acquired by photographing a plurality of pickers 42 through the photographing unit 50 . In this image acquisition step (S100), the first image information may be acquired by photographing the transfer hand 40 placed in the first tray position, and the second image information may be obtained by photographing the transfer hand 40 placed in the second tray position. can be obtained.

1차 좌표 획득 단계(S200)는 제1 픽커 x좌표 획득 단계(S210) 및 제1 픽커 y좌표 획득 단계(S220)를 포함할 수 있다.The first coordinate obtaining step S200 may include a first picker x-coordinate obtaining step S210 and a first picker y-coordinate obtaining step S220 .

제1 픽커 x좌표 획득 단계(S210)에서는 제1 이미지 정보에 기초하여 제1 트레이 위치에 놓인 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 픽커 x좌표를 획득할 수 있다.In the first picker x-coordinate acquisition step S210 , the first picker x-coordinate of each of the plurality of pickers 42 positioned at the first tray position may be acquired based on the first image information.

제1 픽커 y좌표 획득 단계(S220)에서는 제1 이미지 정보에 기초하여 제1 트레이 위치에 놓인 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 픽커 y좌표를 획득할 수 있다.In the first picker y-coordinate acquisition step S220 , the first picker y-coordinate of each of the plurality of pickers 42 positioned at the first tray position may be acquired based on the first image information.

1차 편차값 산출 단계(S300)는 제1 x좌표 편차값 산출 단계(S310) 및 제1 y좌표 편차값 산출 단계(S320)를 포함할 수 있다.The first deviation value calculation step ( S300 ) may include a first x-coordinate deviation value calculation step ( S310 ) and a first y-coordinate deviation value calculation step ( S320 ).

제1 x좌표 편차값 산출 단계(S310)에서는 제1 기준 x좌표 및 제1 픽커 x좌표에 기초하여 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 x좌표 편차값을 산출할 수 있다. 또한, 제1 x좌표 편차값 산출 단계(S310)에서는 제1 최소 x편차값과 제1 최대 x편차값의 평균을 내어 제1 평균 x편차값을 산출할 수 있다.In the calculating the first x-coordinate deviation value ( S310 ), a first x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated based on the first reference x-coordinate and the first picker x-coordinate. In addition, in the calculating the first x-coordinate deviation value ( S310 ), the first average x deviation value may be calculated by averaging the first minimum x deviation value and the first maximum x deviation value.

제1 y좌표 편차값 산출 단계(S320)에서는 제1 기준 y좌표 및 제1 픽커 y좌표에 기초하여 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 y좌표 편차값을 산출할 수 있다. 또한, 제1 y좌표 편차값 산출 단계(S320)에서는 제1 최소 y편차값과 제1 최대 y편차값의 평균을 내어 제1 평균 y편차값을 산출할 수 있다.In the calculating the first y-coordinate deviation value ( S320 ), a first y-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated based on the first reference y-coordinate and the first picker y-coordinate. Also, in the first y-coordinate deviation value calculating step S320 , the first average y-deviation value may be calculated by averaging the first minimum y-deviation value and the first maximum y-deviation value.

판단 단계(S400)에서는 1차 편차값 산출 단계(S300)에서 산출된 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 x편차값이 x임계값을 초과하는지 판단할 수 있다. 또한, 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 최대값을 가지는 제1 최대 y편차값이 y임계값을 초과하는지 판단할 수 있다.In the determining step S400 , it may be determined whether the first maximum x deviation value having the maximum value among the plurality of first x coordinate deviation values calculated in the first deviation value calculating step S300 exceeds the x threshold value. Also, it may be determined whether a first maximum y-deviation value having a maximum value among a plurality of first y-coordinate deviation values exceeds a y-threshold value.

1차 이동 단계(S500)는 제1 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 이동시킬 수 있다. 이러한 1차 이동 단계(S500)는 이송 핸드(40)가 전자부품(2)을 파지하기 전에 수행될 수 있다. 1차 이동 단계(S500)는 제1 이동 단계(S510) 및 제2 이동 단계(S520)를 포함할 수 있다.The first moving step (S500) may move the transfer hand 40 placed in the first tray position. This first movement step (S500) may be performed before the transfer hand 40 grips the electronic component (2). The first moving step S500 may include a first moving step S510 and a second moving step S520 .

제1 이동 단계(S510)에서는 제1 최대 x편차값이 x임계값 이하인 경우에 제1 평균 x편차값만큼 이송 핸드(40)를 x축 방향으로 이동시킬 수 있다. In the first moving step ( S510 ), when the first maximum x deviation value is less than or equal to the x threshold value, the transfer hand 40 may be moved in the x-axis direction by the first average x deviation value.

제2 이동 단계(S520)에서는 제1 최대 y편차값이 y임계값 이하인 경우에 제1 평균 y편차값만큼 이송 핸드(40)를 y축 방향으로 이동시킬 수 있다.In the second moving step ( S520 ), when the first maximum y deviation value is less than or equal to the y threshold value, the transfer hand 40 may be moved in the y-axis direction by the first average y deviation value.

2차 좌표 획득 단계(S200)는 제2 픽커 x좌표 획득 단계(S610) 및 제2 픽커 y좌표 획득 단계(S620)를 포함할 수 있다.The second coordinate obtaining step S200 may include a second picker x-coordinate obtaining step S610 and a second picker y-coordinate obtaining step S620 .

제2 픽커 x좌표 획득 단계(S610)에서는 제2 이미지 정보에 기초하여 제2 트레이 위치에 놓인 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 픽커 x좌표를 획득할 수 있다.In the second picker x-coordinate obtaining step S610 , the second picker x-coordinate of each of the plurality of pickers 42 positioned at the second tray position may be acquired based on the second image information.

제2 픽커 y좌표 획득 단계(S620)에서는 제2 이미지 정보에 기초하여 제2 트레이 위치에 놓인 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 픽커 y좌표를 획득할 수 있다.In the second picker y-coordinate acquisition step S620 , the second picker y-coordinate of each of the plurality of pickers 42 positioned at the second tray position may be acquired based on the second image information.

2차 편차값 산출 단계(S700)는 제2 x좌표 편차값 산출 단계(S710) 및 제2 y좌표 편차값 산출 단계(S720)를 포함할 수 있다.The second deviation value calculation step ( S700 ) may include a second x-coordinate deviation value calculation step ( S710 ) and a second y-coordinate deviation value calculation step ( S720 ).

제2 x좌표 편차값 산출 단계(S710)에서는 제2 기준 x좌표 및 제2 픽커 x좌표에 기초하여 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 x좌표 편차값을 산출할 수 있다.In the calculating the second x-coordinate deviation value ( S710 ), a second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated based on the second reference x-coordinate and the second picker x-coordinate.

제2 y좌표 편차값 산출 단계(S720)에서는 제2 기준 y좌표 및 제2 픽커 y좌표에 기초하여 복수 개의 픽커(42) 각각의 제2 y좌표 편차값을 산출할 수 있다.In the calculating the second y-coordinate deviation value ( S720 ), a second y-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated based on the second reference y-coordinate and the second picker y-coordinate.

평균 보정값 산출 단계(S800)는 평균 x보정값 산출 단계(810) 및 평균 y보정값 산출 단계(S820)를 포함할 수 있다.The calculation of the average correction value ( S800 ) may include an operation of calculating an average x correction value ( 810 ) and an operation of calculating an average y correction value ( S820 ).

평균 x보정값 산출 단계(810)에서는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 x좌표 편차값과 제2 x좌표 편차값의 차이인 x보정값을 산출할 수 있다. 또한, 평균 x보정값 산출 단계(810)에서는 산출된 x보정값의 최대값과 최소값의 평균인 평균 x보정값을 산출할 수 있다.In the average x-correction value calculation step 810 , an x-correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated. Also, in the calculating the average x correction value 810 , an average x correction value that is an average of the maximum and minimum values of the calculated x correction values may be calculated.

평균 y보정값 산출 단계(S820)에서는 복수 개의 픽커(42) 각각의 제1 y좌표 편차값과 제2 y좌표 편차값의 차이인 y보정값을 산출할 수 있다. 또한, 평균 y보정값 산출 단계(S820)에서는 산출된 y보정값의 최대값과 최소값의 평균인 평균 y보정값을 산출할 수 있다.In the calculating the average y-correction value ( S820 ), a y-correction value that is a difference between the first y-coordinate deviation value and the second y-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers 42 may be calculated. In addition, in calculating the average y correction value ( S820 ), an average y correction value that is an average of the maximum and minimum values of the calculated y correction values may be calculated.

2차 이동 단계(S900)에서는 제2 트레이 위치에 놓인 이송 핸드(40)를 x축 방향의 일측으로 제1 평균 x편차값만큼 이동시키고, x축 방향의 타측으로 평균 x보정값만큼 이동시킬 수 있다. 또한, 2차 이동 단계(S900)에서는 이송 핸드(40)를 y축 방향의 일측으로 제1 평균 y편차값만큼 이동시키고, y축 방향의 타측으로 평균 y보정값만큼 이동시킬 수 있다.In the second movement step (S900), the transfer hand 40 placed at the second tray position is moved by the first average x deviation value to one side in the x-axis direction, and the average x correction value can be moved to the other side in the x-axis direction. have. In addition, in the secondary movement step (S900), the transfer hand 40 may be moved to one side in the y-axis direction by the first average y deviation value, and may be moved by the average y correction value to the other side in the y-axis direction.

한편, 기타 평균 편차값 산출 단계(S1000)는 기타 평균 x편차값 산출 단계(S1010) 및 기타 평균 y편차값 산출 단계(S1020)를 포함할 수 있다.Meanwhile, the other average deviation value calculation step ( S1000 ) may include another average x deviation value calculation step ( S1010 ) and another average y deviation value calculation step ( S1020 ).

기타 평균 x편차값 산출 단계(S1010)에서는 제1 최대 x편차값이 x임계값을 초과하는 경우 제1 x좌표 편차값이 x임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커 이외의 나머지 픽커(42)들의 기타 평균 x편차값을 산출할 수 있다. 여기서 기타 평균 x편차값은 나머지 픽커(42)들의 제1 x좌표 편차값 중 최대 x편차값과 최소 x편차값의 평균이다.In the other average x-deviation value calculation step ( S1010 ), if the first maximum x-deviation value exceeds the x-threshold value, the other pickers 42 other than the one or more pickers whose first x-coordinate deviation value exceeds the x-threshold value. The mean x-deviation value can be calculated. Here, the other average x deviation value is an average of the maximum x deviation value and the minimum x deviation value among the first x coordinate deviation values of the other pickers 42 .

기타 평균 y편차값 산출 단계(S1020)에서는 제1 최대 y편차값이 y임계값을 초과하는 경우 제1 y좌표 편차값이 y임계값을 초과하는 하나 이상의 픽커 이외의 나머지 픽커(42)들의 기타 평균 y편차값을 산출할 수 있다. 여기서 기타 평균 y편차값은 나머지 픽커(42)들의 제1 y좌표 편차값 중 최대 y편차값과 최소 y편차값의 평균이다.In the other average y-deviation value calculation step (S1020), when the first maximum y-deviation value exceeds the y threshold value, the first y-coordinate deviation value exceeds the y threshold value. The average y-deviation value can be calculated. Here, the other average y deviation value is an average of the maximum y deviation value and the minimum y deviation value among the first y coordinate deviation values of the other pickers 42 .

1차 순차적 이동 단계(S1100)에서는 복수 개의 제1 x좌표 편차값 중 하나 이상이 x임계값을 초과할 경우 이송 핸드(40)를 x축 방향의 일측으로 기타 평균 x편차값만큼 이동시킬 수 있다. 또한, 복수 개의 제1 y좌표 편차값 중 하나 이상이 y임계값을 초과할 경우 이송 핸드(40)를 y축 방향의 일측으로 기타 평균 y편차값만큼 이동시킬 수 있다. 한편, 1차 순차적 이동 단계(S1100)에서는 x임계값 및 y임계값 중 하나 이상을 초과하는 하나 이상의 픽커(42)가 복수 개의 전자부품(2)의 일부 상에 놓이도록 이송 핸드(40)를 이동시킬 수 있다. 즉, 임계값을 초과하는 픽커(42)는 평균 x편차값 또는 평균 y편차값 만큼 이동시키더라도 전자부품(2)을 파지하지 못하므로, 제어부(90)는 임계값을 초과하는 픽커(42)가 전자부품(2)을 파지하도록 추가로 이송 핸드(40)를 제어한다.In the first sequential movement step ( S1100 ), if one or more of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x threshold value, the transfer hand 40 may be moved to one side in the x-axis direction by the other average x deviation values. . In addition, when one or more of the plurality of first y-coordinate deviation values exceeds the y threshold value, the transfer hand 40 may be moved to one side in the y-axis direction by other average y deviation values. On the other hand, in the first sequential movement step (S1100), one or more pickers 42 exceeding one or more of the x threshold value and the y threshold value are placed on a part of the plurality of electronic components 2 by moving the transfer hand 40. can be moved That is, even if the picker 42 exceeding the threshold value is moved by the average x deviation value or the average y deviation value, the electronic component 2 cannot be gripped, so the control unit 90 controls the picker 42 exceeding the threshold value. The transfer hand 40 is further controlled to grip the electronic component 2 .

오프셋 편차값 산출 단계(S1200)는 오프셋 x편차값 산출 단계(S1210) 및 오프셋 y편차값 산출 단계(S1220)를 포함할 수 있다. The step of calculating the offset deviation value ( S1200 ) may include a step of calculating the offset x deviation value ( S1210 ) and the step of calculating the offset y deviation value ( S1220 ).

오프셋 x편차값 산출 단계(S1210)는 제1 x좌표 편차값이 x임계값을 초과한 하나 이상의 픽커(42)의 제1 x좌표 편차값과 제2 x좌표 편차값을 차감하여 오프셋 x보정값을 산출할 수 있다.The offset x-deviation value calculation step (S1210) is performed by subtracting the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of one or more pickers 42 in which the first x-coordinate deviation value exceeds the x threshold value to obtain an offset x correction value. can be calculated.

오프셋 y편차값 산출 단계(S1220)는 제1 y좌표 편차값이 y임계값을 초과한 하나 이상의 픽커(42)의 제1 y좌표 편차값과 제2 y좌표 편차값을 차감하여 오프셋 y보정값을 산출할 수 있다.In the step of calculating the offset y-deviation value (S1220), the first y-coordinate deviation value and the second y-coordinate deviation value of the one or more pickers 42 for which the first y-coordinate deviation value exceeds the y threshold value are subtracted to obtain the offset y correction value can be calculated.

2차 순차적 이동 단계(S1300)는 기타 평균값 이동 단계(S1310) 및 오프셋 보정값 이동단계(S1320)를 포함할 수 있다. The second sequential movement step ( S1300 ) may include other steps of moving the average value ( S1310 ) and moving the offset correction value ( S1320 ).

기타 평균값 이동 단계(S1310)에서는 이송 핸드(40)를 x축 방향 일측으로 기타 평균 x편차값만큼 이동시킬 수 있으며, 이송 핸드(40)를 y축 방향 일측으로 기타 평균 y편차값만큼 이동시킬 수 있다.In the other average value moving step (S1310), the transfer hand 40 may be moved to one side in the x-axis direction by other average x deviation values, and the transfer hand 40 may be moved to one side in the y-axis direction by other average y deviation values. have.

오프셋 보정값 이동단계(S1320)에서는 이송 핸드(40)를 x축 방향의 타측으로 오프셋 x보정값만큼 이동시킬 수 있으며, 이송 핸드(40)를 y축 방향의 타측으로 오프셋 y보정값만큼 이동시킬 수 있다.In the offset correction value moving step (S1320), the transfer hand 40 can be moved to the other side in the x-axis direction by the offset x correction value, and the transfer hand 40 is moved to the other side in the y-axis direction by the offset y correction value. can

이상 본 발명의 실시예들을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기술적 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. 당업자는 개시된 실시형태들을 조합/치환하여 적시되지 않은 형상의 패턴을 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.Although the embodiments of the present invention have been described as specific embodiments, these are merely examples, and the present invention is not limited thereto, and should be construed as having the widest scope according to the technical idea disclosed in the present specification. A person skilled in the art may implement a pattern of a shape not specified by combining/substituting the disclosed embodiments, without departing from the scope of the present invention. In addition, those skilled in the art can easily change or modify the disclosed embodiments based on the present specification, and it is clear that such changes or modifications also fall within the scope of the present invention.

1: 전자부품 테스트 핸들러 2: 전자부품
10: 프레임 20: 스택커
30: 세트 베이스 40: 이송 핸드
50: 촬영 유닛 60: 제1 트레이
70: 테스트 핸드 80: 셔틀
90: 제어부1: Electronic component test handler 2: Electronic component
10: Frame 20: Stacker
30: set base 40: transfer hand
50: photographing unit 60: first tray
70: test hand 80: shuttle
90: control unit

Claims

a first tray on which a plurality of electronic components can be mounted;
a transfer hand capable of transferring a plurality of electronic components seated on the first tray to a second tray and including a plurality of pickers arranged in an x-axis direction;
a photographing unit capable of photographing the plurality of pickers to obtain image information; and
a control unit capable of acquiring a first picker x-coordinate, which is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers, when the transfer hand is placed on the first tray position on the first tray based on the image information;
The control unit is
When the transfer hand is placed in the first tray position, the first x of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference x-coordinate that is the preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first x-coordinate of the first picker Calculate the coordinate deviation value,
When a first maximum x-deviation value having a maximum value among the plurality of first x-coordinate deviation values is less than or equal to a preset x threshold value, a first minimum x-deviation value having a minimum value among the plurality of first x-coordinate deviation values and the second 1 After the transfer hand moves to one side of the x-axis by a first average x deviation value that is an average of the maximum x deviation values, controlling the transfer hand to hold the plurality of electronic components from the first tray,
Electronic component test handler.

The method of claim 1,
At least some of the plurality of pickers are arranged in the y-axis direction,
The control unit is
When the transfer hand is placed on the first tray position based on the image information, it is possible to obtain a first picker y-coordinate, which is a y-axis coordinate of each of the plurality of pickers,
When the transfer hand is placed in the first tray position, the first y of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference y-coordinate that is the preset y-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first y-coordinate of the first picker Calculate the coordinate deviation value,
When a first maximum y-deviation value having a maximum value among the plurality of first y-coordinate deviation values is less than or equal to a preset y threshold value, a first minimum y-deviation value having a minimum value among the plurality of first y-coordinate deviation values and the second 1 After the transfer hand moves to one side in the y-axis direction by a first average y deviation value that is an average of 1 maximum y deviation value, controlling the transfer hand to grip the plurality of electronic components from the second tray,
Electronic component test handler.

The method of claim 1,
The control unit is
When the transfer hand is placed on the second tray position on the second tray, acquiring a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers;
When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker Calculate the deviation value,
An x-correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers is calculated, and the average of the maximum and minimum values of the plurality of x-correction values is the average x-correction value. calculate,
After the transfer hand moves by the first average x deviation value to one side in the x-axis direction and by the average x correction value to the other side in the x-axis direction, the plurality of electronic components are seated on the second tray. to control the transfer hand,
Electronic component test handler.

The method of claim 1,
The control unit is
When at least one of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x-threshold value, the transfer hand is controlled so that the plurality of pickers are placed at positions spaced apart from the first picker x-coordinate by other average x deviation values. do,
controlling the transfer hand so that one or more pickers exceeding the x-threshold value are placed on one or more electronic components of the plurality of electronic components;
The other average x deviation value is an average of the maximum x deviation value and the minimum x deviation value of the remaining pickers other than the one or more pickers exceeding the x threshold value,
Electronic component test handler.

5. The method of claim 4,
The control unit is
When the transfer hand is placed at a second tray position on the second tray, acquiring a second picker x-coordinate that is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers;
When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker Calculate the deviation value,
calculating an offset x correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of the one or more pickers;
After the transfer hand moves by the other average x deviation value to one side in the x-axis direction and moves by the offset x correction value to the other side in the x-axis direction, one or more pickers exceeding the x threshold value are selected from the one or more electronic components. to control the transfer hand to seat on the second tray,
Electronic component test handler.

an image acquisition step capable of acquiring image information by photographing a plurality of pickers;
a first picker x-coordinate acquiring step of acquiring a first picker x-coordinate that is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the first tray position on the first tray based on the image information;
When the transfer hand is placed in the first tray position, the first x of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference x-coordinate that is the preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first x-coordinate of the first picker a first x-coordinate deviation value calculating step of calculating a coordinate deviation value;
a determining step of determining whether a first maximum x-deviation value having a maximum value among the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds a preset x-threshold value; and
When it is determined that the first maximum x deviation value is equal to or less than the x threshold value, a first average x that is an average of a first minimum x deviation value having a minimum value among the plurality of first x coordinate deviation values and the first maximum x deviation value Including a first moving step of moving the transfer hand to one side in the x-axis direction by the deviation value,
Electronic component test handler control method.

7. The method of claim 6,
a first picker y-coordinate acquiring step of acquiring a first picker y-coordinate that is a y-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on the first tray position based on the image information;
When the transfer hand is placed in the first tray position, the first y of each of the plurality of pickers is the difference between the first reference y-coordinate that is the preset y-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the first y-coordinate of the first picker a first y-coordinate deviation value calculating step of calculating a coordinate deviation value;
a determining step of determining whether a first maximum y-deviation value having a maximum value among the plurality of first y-coordinate deviation values exceeds a preset y-threshold value; and
When the first maximum y deviation value is determined to be less than or equal to the y threshold value, a first average y that is an average of a first minimum y deviation value having a minimum value among the plurality of first y coordinate deviation values and the first maximum y deviation value A second moving step of moving the transfer hand to one side in the y-axis direction by a deviation value,
Electronic component test handler control method.

7. The method of claim 6,
a second picker x-coordinate acquiring step of acquiring a second picker x-coordinate that is an x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on a second tray position on the second tray;
When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker a second x-coordinate deviation value calculating step of calculating a deviation value;
An x-correction value that is the difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of each of the plurality of pickers is calculated, and an average x correction value that is an average of the maximum and minimum values of the plurality of x-correction values is calculated calculating the average x correction value; and
A secondary movement step of moving the transfer hand placed at the second tray position by the first average x deviation value to one side in the x-axis direction and moving the average x correction value to the other side in the x-axis direction. ,
Electronic component test handler control method.

7. The method of claim 6,
Other averages for calculating other average x-deviation values that are the average of the maximum and minimum x-deviation values of the remaining pickers other than the one or more pickers whose first x-coordinate deviation value exceeds the x-threshold value among the plurality of pickers x deviation value calculation step; and
When at least one of the plurality of first x-coordinate deviation values exceeds the x-threshold value, the transfer hand is moved so that the plurality of pickers are placed at a position spaced apart from the first picker x-coordinate by the other average x deviation value. and a first sequential movement step of moving the transfer hand so that the one or more pickers are placed on one or more electronic components of the plurality of electronic components.
Electronic component test handler control method.

10. The method of claim 9,
a second picker x-coordinate acquiring step of acquiring a second picker x-coordinate that is the x-axis coordinate of each of the plurality of pickers when the transfer hand is placed on a second tray position on the second tray;
When the transfer hand is placed in the second tray position, the second x-coordinate of each of the plurality of pickers is the difference between a second reference x-coordinate that is a preset x-axis coordinate of each of the plurality of pickers and the second x-coordinate of the second picker a second x-coordinate deviation value calculating step of calculating a deviation value;
an offset x-deviation value calculating step of calculating an offset x-correction value that is a difference between the first x-coordinate deviation value and the second x-coordinate deviation value of the one or more pickers; and
A second sequential movement step comprising a step of moving the other average value in which the transfer hand moves by the other average x deviation value to one side in the x-axis direction and an offset correction value moving step in which the transfer hand moves by the offset x correction value to the other side in the x-axis direction further comprising,
Electronic component test handler control method.