KR20220112572A - Sample chamber for selective plane illumination microscopy - Google Patents

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울산과학기술원
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Abstract

The present invention relates to a sample chamber for a selective planar irradiation microscope. One embodiment of the present invention provides the sample chamber for a selective planar irradiation microscope, comprising: a chamber body having a rectangular parallelepiped-shaped first chamber with an open top, a second chamber coupled to an inner wall surface of the first chamber, and through holes formed through each surface of the first chamber and the second chamber; a glass cap part having a cover glass and a glass cap fixing the cover glass and sealing the through holes by being inserted into the through holes; and a support part supporting the chamber body and coupled to a microscope stage, wherein the chamber body and the glass cap part are magnetically coupled with each other. Accordingly, the sample chamber is suitable for taking large-area samples.

Description

선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버{SAMPLE CHAMBER FOR SELECTIVE PLANE ILLUMINATION MICROSCOPY}SAMPLE CHAMBER FOR SELECTIVE PLANE ILLUMINATION MICROSCOPY

본 발명은 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버에 관한 것으로, 챔버 내부 공간을 확장하여 대면적의 시료 촬영에 적합한 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버에 관한 것이다.The present invention relates to a sample chamber for a selective planar irradiation microscope, and to a sample chamber for a selective planar irradiation microscope suitable for taking samples of a large area by expanding the chamber interior space.

공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)은 시료가 레이저에 의하여 조사되는 특정한 파장의 빛에 노출되었을 때, 이에 의하여 여기(excitation) 되어 발산하는 빛을 이용한 현미경이다. 공초점 레이저 주사 현미경은 초점면(focal plane)에서 반사된 광선만이 광 검출기(detector)에 도달하고, 시료의 다른 면에서 발산된 광선들은 공간 여과기(pinhole)에 의하여 차단되어 검출되지 않으므로, 시료의 한 점에 대한 정보만을 얻을 수 있다. 따라서, 높은 분해능을 가지며, 시료의 절편 처리(slicing) 없이도 3차원 구조의 정보를 얻을 수 있다.A confocal laser scanning microscope is a microscope using light emitted by excitation when a sample is exposed to light of a specific wavelength irradiated by a laser. In a confocal laser scanning microscope, only the light reflected from the focal plane reaches the photodetector, and the light emitted from the other side of the sample is not detected because it is blocked by a pinhole. You can get information about only one point of . Therefore, it has a high resolution, and information of a three-dimensional structure can be obtained without slicing the sample.

그러나, 시료의 공액점(conjugate point) 상의 정보만을 획득할 수 있어, 시료의 전체 영상을 얻기 위해서는 시료를 이동하거나, 주사(Scanning)를 필요로 한다. 따라서, 영상 획득 시간의 단축에 한계가 있으며, 주사 또는 시료의 이동 과정에서 시료의 영상이 왜곡될 수 있었다. 또한, 시료의 촬영 영역이 아닌 부분이 레이저 광선에 의하여 여기 되어 광표백이 일어나거나, 시료가 손상되는 문제점 또한 있었다.However, since only information on the conjugate point of the sample can be obtained, moving the sample or scanning is required to obtain an entire image of the sample. Therefore, there is a limit to shortening the image acquisition time, and the image of the sample may be distorted during scanning or movement of the sample. In addition, there is also a problem in that a portion of the sample other than the imaging area is excited by the laser beam to cause photobleaching or damage the sample.

최근, 대물렌즈와 수직한 방향으로 시료에 조사되어, 초점면 외의 원치 않는 영역에서의 광신호들을 효과적으로 제거한 선택적 평면조사 현미경 기술이 각광받고 있다. 대물렌즈와 수직하게 형성되는 광-시트(Light-sheet)는 초점면 만을 동시에 여기 상태로 만들어, 시료의 3차원 영상을 고속으로 획득 가능하다. 또한 빛에 의한 광표백 및 시료의 손상을 최소화하여, 살아있는 시료의 영상 획득 또한 가능하다.Recently, a selective planar irradiation microscopy technique in which a sample is irradiated in a direction perpendicular to an objective lens, and thus optical signals in an unwanted area other than the focal plane are effectively removed, has been in the spotlight. A light-sheet formed perpendicular to the objective lens makes only the focal plane excited at the same time, so that a three-dimensional image of the sample can be acquired at high speed. In addition, by minimizing photobleaching and damage to the sample due to light, it is possible to acquire an image of a living sample.

도 1은 종래의 기술에 따른 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버의 평면도이다.1 is a plan view of a sample chamber for a selective planar irradiation microscope according to the prior art.

도 1을 참조하면, 시료 챔버(10)는 제1 관측구(12), 제1 투광구(13), 제2 투광구(14) 및 제2 관측구(15)를 갖는 챔버 바디(11)를 포함한다.Referring to FIG. 1 , the sample chamber 10 includes a chamber body 11 having a first observation hole 12 , a first light transmitting hole 13 , a second light transmitting hole 14 , and a second observation hole 15 . includes

상기 제1 관측구(12)는 대물렌즈가 챔버 바디(11) 내에 담지된 시료를 관측하기 위하여 상기 챔버 바디(11)의 일측 벽면을 관통하여 형성되는 것이다. 제1 투광구(13) 및 제2 투광구(14)는 레이저를 조사하여 시료의 초점면에 광-시트를 형성하기 위하여 상기 제1 관측구(12)의 관통 방향과 수직하는 축 상에 마주하여 형성된다. 상기 제2 관측구(15)는 시료를 알맞은 위치에 배치하기 위하여 육안으로 챔버 내부를 확인하기 위한 것으로, 상기 제1 관측구(12)가 형성된 면과 대면하는 면을 관통하여 형성된다.The first observation hole 12 is formed through an objective lens passing through one side wall of the chamber body 11 in order to observe the sample loaded in the chamber body 11 . The first light-emitting hole 13 and the second light-transmitting hole 14 face each other on an axis perpendicular to the penetrating direction of the first observation hole 12 to form a light-sheet on the focal plane of the sample by irradiating the laser. is formed by The second observation hole 15 is for visually checking the inside of the chamber in order to place the sample in an appropriate position, and is formed through a surface facing the surface on which the first observation hole 12 is formed.

상기 챔버 바디(11)는 일반적으로 시료와 쉽게 화학적으로 반응하지 않고, 내구성이 강한 스테인리스 강 재질을 사용하는데, 이러한 스테인리스 강 재질은 높은 기계적 강도로 인하여 정밀한 가공이 어렵다. 따라서, 챔버 바디(11)를 일정 두께 이하로 얇게 제작하는 것이 어려우며, 챔버 바디(11)의 상부에 형성되는 시료 투입부에 돌출부가 형성되게 된다.The chamber body 11 generally does not chemically react easily with the sample and uses a durable stainless steel material, which is difficult to precisely process due to its high mechanical strength. Therefore, it is difficult to manufacture the chamber body 11 as thin as a predetermined thickness or less, and a protrusion is formed in the sample input portion formed on the upper portion of the chamber body 11 .

시료 투입부에 형성되는 돌출부는 촬영 범위를 제한할 뿐 아니라, 대면적 시료의 경우, 시료를 투입하거나, 촬영 위치를 바꾸는 과정에서 시료가 돌출부에 닿아 손상되는 문제점이 존재한다.The protrusion formed in the sample input part limits the photographing range, and in the case of a large-area sample, there is a problem in that the sample is damaged by contact with the protrusion in the process of inserting the sample or changing the photographing position.

또한, 기존의 시료 챔버(10)는 각 관통구들을 밀폐하는 커버 글래스를 오-링(O-Ring)과 나사 덮개를 이용하여 챔버 바디(11)에 고정하였다. 따라서, 챔버 바디(11) 내에 커버 글래스를 고정하기 위한 나사 결합부를 필요로 하여, 챔버 바디(11)의 두께를 감소시키는 데 한계가 존재하였으며, 커버 글래스가 오염되거나 손상되었을 때, 교체 과정이 번거롭고 어려운 문제가 있었다.Also, in the conventional sample chamber 10 , a cover glass sealing each through-hole was fixed to the chamber body 11 using an O-ring and a screw cover. Therefore, there is a limit in reducing the thickness of the chamber body 11 by requiring a screw coupling portion for fixing the cover glass in the chamber body 11, and when the cover glass is contaminated or damaged, the replacement process is cumbersome and There was a difficult problem.

따라서, 이러한 종래의 시료 챔버(10)는 대면적의 시료 촬영에 부적합하여, 다양한 생체 조직 시료에 사용 가능한 시료 챔버가 요구되고 있다.Therefore, the conventional sample chamber 10 is not suitable for photographing a large-area sample, and there is a demand for a sample chamber that can be used for various biological tissue samples.

본 발명의 일 실시예가 해결하고자 하는 기술적 과제는 대면적의 시료 촬영에 적합한 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 제공하는 것이다.Technical problem to be solved by one embodiment of the present invention is to provide a sample chamber for a selective planar irradiation microscope suitable for photographing a large area sample.

상술한 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예는, 상부가 전면 개방된 직육면체형의 제1 챔버, 상기 제1 챔버의 내측 벽면과 결합하는 제2 챔버, 및 상기 제1 챔버와 상기 제2 챔버의 각 면을 관통하여 형성되는 관통구들을 갖는 챔버 바디, 커버 글래스 및 상기 커버 글래스를 고정하고 상기 관통구에 인입되어 상기 관통구를 밀폐하는 글래스 캡을 갖는 글래스 캡부, 및 상기 챔버 바디를 지지하며 현미경 재물대에 결합하는 지지부를 포함하고, 상기 챔버 바디와 상기 글라스 캡부는 자력으로 결합하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 제공한다.In order to solve the above-described technical problem, an embodiment of the present invention provides a first chamber of a rectangular parallelepiped shape with an open top, a second chamber coupled to an inner wall surface of the first chamber, and the first chamber and the second chamber 2 A chamber body having through holes formed through each side of the chamber, a cover glass and a glass cap portion having a glass cap for fixing the cover glass and entering the through hole to seal the through hole, and the chamber body; It provides a sample chamber for a selective planar irradiation microscope, comprising a support for supporting and coupling to a microscope stage, wherein the chamber body and the glass cap are magnetically coupled.

상기 관통구들은, 상기 챔버 바디의 제1 면에 형성되는 제1 관측구, 상기 제1 면과 인접한 제2 면 및 제4 면에 각각 형성되고, 동일한 중심 축을 갖는 제1 투광구와 제2 투광구, 및 상기 제1 면과 마주하는 제3 면에 형성되고, 상기 제1 관측구와 동일한 중심 축을 갖는 제2 관측구 이다.The through-holes include a first observation hole formed on a first surface of the chamber body, a first light-transmitting hole and a second light-transmitting hole respectively formed on a second surface and a fourth surface adjacent to the first surface, and having the same central axis. , and a second observation sphere formed on a third surface facing the first surface and having the same central axis as the first observation sphere.

일 실시예에서, 상기 제2 챔버 및 상기 글래스 캡은 자성 물질을 포함할 수 있다.In an embodiment, the second chamber and the glass cap may include a magnetic material.

다른 일 실시예에서, 상기 챔버 바디는 상기 관통구의 둘레를 따라 제1 자성 결합부를 구비하고, 상기 글래스 캡은 상기 관통구에 인입되었을 때, 상기 제1 자성 결합부에 대응하는 위치에 제2 자성 결합부를 구비할 수 있다.In another exemplary embodiment, the chamber body includes a first magnetic coupling part along a circumference of the through hole, and when the glass cap is introduced into the through hole, a second magnetic coupling part is located at a position corresponding to the first magnetic coupling part. A coupling portion may be provided.

상기 관통구는 상기 챔버 바디의 내측에 가까울수록 작은 반경을 갖고, 상기 챔버 바디의 외측에 가까울수록 큰 반경을 갖도록 테이퍼 되고, 상기 글래스 캡은 상기 관통구에 밀착하여 결합될 수 있도록 상기 관통구에 대응하는 형상을 가질 수 있다.The through hole has a smaller radius as it is closer to the inner side of the chamber body, and is tapered to have a larger radius as it is closer to the outer side of the chamber body, and the glass cap corresponds to the through hole so that it can be closely coupled to the through hole. may have a shape that

상기 글래스 캡은 상기 챔버 바디와 상기 글래스 캡이 자력으로 결합하였을 때, 상기 제2 챔버의 표면에 압착되는 밀폐 수단을 더 포함할 수 있다.The glass cap may further include sealing means pressed against the surface of the second chamber when the chamber body and the glass cap are magnetically coupled.

상기 제1 챔버는 3차원 프린터를 이용하여 형성될 수 있으며, 상기 제1 챔버는 3D-프린터를 이용하여 가공 가능한 고분자 재료를 포함하고, 상기 제2 챔버는 스테인리스 강을 포함할 수 있다.The first chamber may be formed using a 3D printer, the first chamber may include a polymer material that can be processed using a 3D-printer, and the second chamber may include stainless steel.

일 실시예에서 상기 제1 챔버는 폴리 아미드로 형성될 수 있다.In an embodiment, the first chamber may be formed of polyamide.

본 발명은 얇고 정밀하게 제작 가능한 제1 챔버와, 시료에 의하여 쉽게 변성되지 않는 제2 챔버를 결합하여 형성되는 챔버 바디를 포함함으로써, 시료 챔버의 내부 공간을 돌출부 없이 최대화하고, 챔버 바디의 상부를 전면 개방하여 시료 투입을 용이하게 하고, 촬영 범위를 확장하였다.The present invention includes a chamber body formed by combining a thin and precisely manufactured first chamber and a second chamber that is not easily denatured by a sample, thereby maximizing the internal space of the sample chamber without protrusions and removing the upper part of the chamber body. By opening the front, it is easy to insert the sample, and the shooting range is extended.

또한, 글래스 캡부와 챔버 바디가 자력으로 결합하게 하여, 종래 커버 글래스를 챔버 바디와 결합할 때 필요하던 나사 결합부를 제거함으로써, 챔버 바디의 두께를 보다 얇게 만들 수 있었다. 글래스 캡부를 손쉽게 탈착 가능하여, 커버 글래스의 교체를 용이하게 할 수 있다.In addition, the thickness of the chamber body can be made thinner by allowing the glass cap part and the chamber body to be magnetically coupled, thereby eliminating the screw coupling part required when the conventional cover glass is coupled to the chamber body. Since the glass cap is easily detachable, it is possible to easily replace the cover glass.

따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 시료 챔버를 이용하면, 시료 투입부 및 챔버 내부 공간에 불필요한 돌출부를 완전히 제거함으로써, 대면적의 시료를 손상 없이 촬영 가능하다.Accordingly, by using the sample chamber according to an embodiment of the present invention, unnecessary protrusions in the sample input unit and the chamber interior space are completely removed, so that a large-area sample can be photographed without damage.

본 발명의 기술적 효과들은 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The technical effects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other technical effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1은 종래 기술에 따른 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 도시하는 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 도시하는 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버의 측면도이다.
도 4는 도 2에 도시된 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 위에서 내려다 본 도면이다.
도 5는 도3의 절단선 A-A'를 따라 취해진 단면도이다.
도 6은 도 5에 도시된 글래스 캡부를 확대한 도면이다.
1 is a plan view showing a sample chamber for a selective planar irradiation microscope according to the prior art.
2 is a perspective view illustrating a sample chamber for a selective planar irradiation microscope according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a side view of the sample chamber for the selective planar irradiation microscope shown in FIG. 2 .
FIG. 4 is a top down view of the sample chamber for the selective planar irradiation microscope shown in FIG. 2 .
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line A-A' of FIG. 3;
6 is an enlarged view of the glass cap shown in FIG. 5 .

본 발명이 여러 가지 수정 및 변형을 허용하면서도, 그 특정 실시예들이 도면들로 예시되어 나타내어지며, 이하에서 상세히 설명될 것이다. 그러나 본 발명을 개시된 특별한 형태로 한정하려는 의도는 아니며, 오히려 본 발명은 청구항들에 의해 정의된 본 발명의 사상과 합치되는 모든 수정, 균등 및 대용을 포함한다. While the present invention is susceptible to various modifications and variations, specific embodiments thereof are illustrated and shown in the drawings and will be described in detail below. However, it is not intended to limit the invention to the particular form disclosed, but rather the invention includes all modifications, equivalents and substitutions consistent with the spirit of the invention as defined by the claims.

층, 영역 또는 기판과 같은 요소가 다른 구성요소 "상(on)"에 존재하는 것으로 언급될 때, 이것은 직접적으로 다른 요소 상에 존재하거나 또는 그 사이에 중간 요소가 존재할 수도 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. It will be understood that when an element, such as a layer, region, or substrate, is referred to as being “on” another component, it may be directly on the other element or intervening elements in between. .

비록 제1, 제2 등의 용어가 여러 가지 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이러한 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들은 이러한 용어에 의해 한정되어서는 안 된다는 것을 이해할 것이다. Although the terms first, second, etc. may be used to describe various elements, components, regions, layers and/or regions, such elements, components, regions, layers and/or regions are not It will be understood that they should not be limited by these terms.

이하 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 이하 도면상의 동일한 구성 요소에 대하여는 동일한 참조 부호를 사용하고, 동일한 구성 요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다. With reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail. Hereinafter, the same reference numerals are used for the same components in the drawings, and repeated descriptions of the same components are omitted.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버를 도시하는 도면이고, 도 3은 도 2에 도시된 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버의 측면도이다.FIG. 2 is a view showing a sample chamber for a selective planar irradiation microscope according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a side view of the sample chamber for a selective planar irradiation microscope shown in FIG. 2 .

도 2 내지 도 3을 참조하면, 시료 챔버(100)는 챔버 바디(110)와 상기 챔버 바디(110)에 형성된 관통구들(113, 114, 115, 116)에 부착되는 글래스 캡부(120) 및 상기 챔버 바디(110)를 지지하는 지지부(130)를 포함한다.2 to 3 , the sample chamber 100 includes a chamber body 110 and a glass cap part 120 attached to the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 formed in the chamber body 110 , and the and a support part 130 supporting the chamber body 110 .

챔버 바디(110)는 상부가 전면 개방된 직육면체형의 제1 챔버(111)와, 상기 제1 챔버(111)의 내측 벽면과 결합하는 제2 챔버(112)를 구비한다.The chamber body 110 includes a first chamber 111 of a rectangular parallelepiped shape with an open top, and a second chamber 112 coupled to an inner wall surface of the first chamber 111 .

상기 제1 챔버(111)는 3차원 프린터를 이용하여 형성되는 것일 수 있다. 이 때, 상기 제1 챔버(111)는 3차원 프린터를 이용하여 가공 가능한 고분자 재료를 포함하거나, 상기 고분자 재료로 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 챔버(111)는 폴리 아미드를 포함할 수 있다.The first chamber 111 may be formed using a 3D printer. In this case, the first chamber 111 may include a polymer material that can be processed using a 3D printer, or may be formed of the polymer material. In an embodiment, the first chamber 111 may include polyamide.

상기 제2 챔버(112)는 시료와 화학적으로 반응하지 않는 내식성의 재료를 포함할 수 있다. 일 실시예에서 상기 제2 챔버(112)는 스테인리스 강일 수 있다.The second chamber 112 may include a corrosion-resistant material that does not chemically react with the sample. In an embodiment, the second chamber 112 may be made of stainless steel.

챔버 바디(110)의 측벽을 구성하는 네 면에는 상기 제1 챔버(111)와 상기 제2 챔버(112)를 관통하는 관통구들(113, 114, 115, 116)이 각각 형성된다.Through holes 113 , 114 , 115 , and 116 penetrating the first chamber 111 and the second chamber 112 are formed on four surfaces constituting the sidewall of the chamber body 110 , respectively.

상기 관통구들(113, 114, 115, 116)은 제1 관측구(113), 제1 투광구(114), 제2 투광구(115) 및 제2 관측구(116)이다.The through-holes 113 , 114 , 115 , and 116 are a first observation hole 113 , a first light-transmitting hole 114 , a second light-transmitting hole 115 , and a second observation hole 116 .

챔버 바디(110)의 제1 관측구(113)는 선택적 평면조사 현미경의 대물 렌즈를 이용하여 챔버 바디(110) 내부의 시료를 촬영하기 위하여 제1 면에 형성된다.The first observation port 113 of the chamber body 110 is formed on the first surface to photograph the sample inside the chamber body 110 using the objective lens of the selective planar irradiation microscope.

이 때, 챔버 바디(110)의 제1 면은 지지부(130)가 현미경 재물대에 결합하였을 때, 대물 렌즈가 위치하는 면이다.At this time, the first surface of the chamber body 110 is the surface on which the objective lens is located when the support unit 130 is coupled to the microscope stage.

상기 제1 관측구(113)가 형성되는 제1면과 인접한 제2 면 및 제4 면에 각각 마주하여 챔버 바디(110) 내부의 시료의 촬영 영역에 레이저를 조사하기 위한 제1 투광구(114) 및 제2 투광구(115)이 형성된다.A first light-transmitting hole 114 for irradiating a laser to the photographing area of the sample inside the chamber body 110 facing each of the second surface and the fourth surface adjacent to the first surface on which the first observation hole 113 is formed. ) and a second light-transmitting hole 115 are formed.

상기 제1 투광구(114) 및 제2 투광구(115)은 제2 면 및 제4 면의 중심을 벗어나, 시료가 위치하게 되는 제1 관측구(113)가 위치하는 제1 면에 최대한 가깝게 형성될 수 있다.The first light-transmitting hole 114 and the second light-transmitting hole 115 are out of the center of the second surface and the fourth surface, and are as close as possible to the first surface on which the first observation hole 113 where the sample is located is located. can be formed.

상기 제1 면과 마주하는 제3 면에 상기 제1 관측구(113)와 동일한 축을 가지도록 제2 관측구(116)가 형성된다. 상기 제2 관측구(116)를 통하여 사용자는 시료를 육안으로 확인하고 위치를 조정할 수 있다.A second observation sphere 116 is formed on a third surface facing the first surface to have the same axis as the first observation sphere 113 . Through the second observation port 116, the user can visually check the sample and adjust the position.

상기 제1 관측구(113), 제1 투광구(114), 제2 투광구(115) 및 제2 관측구(116)는 챔버 바디(110)의 동일 높이 상에 형성된다. 즉, 각 관통구들의 중심은 동일 수평면 상에 위치하게 된다.The first observation hole 113 , the first light-transmitting hole 114 , the second light-transmitting hole 115 , and the second observation hole 116 are formed on the same height of the chamber body 110 . That is, the centers of the respective through holes are located on the same horizontal plane.

글래스 캡부(120)는 챔버 바디(110)의 내부에 담지된 시료 용액 또는 보존액이 외부로 누출되지 않도록 밀폐하면서도, 챔버 내부의 시료에 광을 조사하고, 관측하기 위하여 광을 투과시키는 커버 글래스(121)와, 상기 제1 관측구(113), 제1 투광구(114), 제2 투광구(115) 및 제2 관측구(116)에 인입되어 고정되는 글래스 캡(122)을 포함한다.The glass cap part 120 irradiates light to the sample inside the chamber and transmits the light to observe the cover glass 121 while sealing the sample solution or the preservative solution carried in the chamber body 110 from leaking to the outside. ), and a glass cap 122 inserted into and fixed to the first observation hole 113 , the first light transmitting hole 114 , the second light transmitting hole 115 , and the second viewing hole 116 .

상기 글래스 캡부(120)는 챔버 바디(110)와 자력으로 결합할 수 있다.The glass cap part 120 may be magnetically coupled to the chamber body 110 .

일 실시예에서 상기 글래스 캡부(120)의 글래스 캡(122)과 상기 챔버 바디(110)는 자성 물질을 포함할 수 있다. 또는, 상기 글래스 캡부(120)는 자성 물질을 포함하고, 상기 챔버 바디(110)의 제2 챔버(112)는 스테인리스 강을 포함하거나, 스테인리스 강으로 형성될 수 있다.In an embodiment, the glass cap 122 and the chamber body 110 of the glass cap part 120 may include a magnetic material. Alternatively, the glass cap part 120 may include a magnetic material, and the second chamber 112 of the chamber body 110 may include or be formed of stainless steel.

다른 일 실시예에서, 상기 챔버 바디(110)는 관통구들의 둘레를 따라 자력 결합을 위한 제1 자성 결합부를 구비하고, 상기 글래스 캡(122)이 상기 관통구에 인입되었을 때, 상기 제1 자성 결합부에 대응하는 위치에, 상기 제1 자성 결합부에 자력 결합하는 제2 자성 결합부를 구비할 수 있다.In another embodiment, the chamber body 110 includes a first magnetic coupling portion for magnetic coupling along the circumference of the through-holes, and when the glass cap 122 is introduced into the through-hole, the first magnetic coupling portion is provided. A second magnetic coupling part magnetically coupled to the first magnetic coupling part may be provided at a position corresponding to the coupling part.

이 때, 상기 제1 자성 결합부 및 제2 자성 결합부 중 어느 하나는 자석일 수 있으며, 다른 어느 하나는 자석이거나, 자석에 자력 결합하는 금속일 수 있다.At this time, any one of the first magnetic coupling part and the second magnetic coupling part may be a magnet, and the other one may be a magnet or a metal magnetically coupled to the magnet.

지지부(130)는 챔버 바디(110)의 하부에 고정되어 챔버 바디(110)를 지지하고, 선택적 평면조사 현미경의 재물대에 결합하여 시료 촬영 시 챔버 바디(110)를 재물대의 움직임에 따라 이동시킬 수 있다.The support unit 130 is fixed to the lower portion of the chamber body 110 to support the chamber body 110, and is coupled to the stage of a selective planar irradiation microscope to move the chamber body 110 according to the movement of the stage when taking a sample. have.

지지부(130)는 챔버 바디(110)를 고정하는 지지부 몸체(131), 시료 챔버(100)의 이동 및 재물대 결합 시 사용 가능한 손잡이부(133), 및 지지부(130)를 현미경의 재물대에 결합시키기 위한 재물대 결합부(132)를 포함한다.The support 130 includes the support body 131 for fixing the chamber body 110, the handle 133 that can be used when the sample chamber 100 is moved and the stage is coupled to the stage, and the support 130 to the stage of the microscope. It includes a stage coupling part 132 for the.

도 4는 도 2에 도시된 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버의 평면도이다.FIG. 4 is a plan view of a sample chamber for a selective planar irradiation microscope shown in FIG. 2 .

도 4를 참조하면, 챔버 바디(110)는 외부 벽면을 형성하는 제1 챔버(111)와 제1 챔버(111)의 내측 벽면과 결합하여 내부 벽면을 형성하는 제2 챔버(112)를 포함하는 것을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 4 , the chamber body 110 includes a first chamber 111 forming an outer wall surface and a second chamber 112 forming an inner wall surface by combining with the inner wall surface of the first chamber 111 . that can be checked

상술한 바와 같이, 챔버 바디(110)의 제1 면에는 제1 관측구(113)가 형성되고, 제1 면과 인접한 제2 면 및 제4 면에는 제1 투광구(114) 및 제2 투광구(115)가 마주 형성되며, 상기 제1 면과 마주하는 제3 면에는 상기 제1 관측구(113)와 동일 축 상에 제2 관측구(116)가 형성된다.As described above, the first observation port 113 is formed on the first surface of the chamber body 110 , and the first light-transmitting hole 114 and the second light-transmitting hole 114 on the second and fourth surfaces adjacent to the first surface The photosphere 115 is formed to face each other, and a second observation sphere 116 is formed on the same axis as the first observation sphere 113 on the third surface facing the first surface.

제1 관측구(113)와 제2 관측구(116)의 중심은 대물렌즈와 일직선을 이루는 제1 축상에 위치하며, 제1 투광구(114)와 제2 투광구(115)의 중심은 상기 제1 축과 수직으로 교차하는 제2 축상에 위치한다.The centers of the first and second observation spheres 113 and 116 are located on a first axis forming a straight line with the objective lens, and the centers of the first and second projections 114 and 115 are It is located on a second axis perpendicular to the first axis.

상기 제1 투광구(114)와 제2 투광구(115)의 중심은 제2 면 및 제4 면의 중심에서 벗어나, 시료가 위치하는 제1 면 측으로 치우쳐져 형성될 수 있다.The centers of the first light-transmitting hole 114 and the second light-transmitting hole 115 may be deviated from the centers of the second surface and the fourth surface, and may be formed to be biased toward the first surface on which the sample is located.

상기 제1 챔버(111)는 3차원 프린터를 이용하여 형성되는 것일 수 있다. 따라서, 현미경 또는 시료의 형상이나 목적에 따라 직육면체의 가로, 세로 또는 높이를 변경할 수 있다.The first chamber 111 may be formed using a 3D printer. Accordingly, the width, length, or height of the cuboid may be changed according to the shape or purpose of the microscope or sample.

일 실시예에서 제1 챔버(111)는 폴리 아미드를 포함할 수 있다. 따라서 보다 챔버 바디(110)의 종래의 물리적 내구성을 유지하면서도 챔버 바디(110) 벽면을 얇게 제작할 수 있다. 따라서 현미경 재물대의 이동을 원활하게 하여 종래의 시료 챔버를 사용할 때 보다 더 넓은 범위를 촬영할 수 있다.In an embodiment, the first chamber 111 may include polyamide. Therefore, while maintaining the conventional physical durability of the chamber body 110, it is possible to make the chamber body 110 thin wall surface. Therefore, it is possible to shoot a wider range than when using a conventional sample chamber by smoothing the movement of the microscope stage.

상기 제2 챔버(112)는 시료와 접촉하였을 때 화학적으로 반응하고, 생물학적 독성이 없으며, 내식성이 강한 재료를 포함할 수 있다.The second chamber 112 may include a material that chemically reacts with a sample, has no biological toxicity, and has strong corrosion resistance.

일 실시예에서 상기 제2 챔버(112)는 스테인리스 강을 포함하거나, 스테인리스 강으로 형성될 수 있다.In an embodiment, the second chamber 112 may include or be formed of stainless steel.

상기 제2 챔버(112)는 상기 제1 챔버(111)의 내측 벽면 및 바닥면에 결합될 수 있다. The second chamber 112 may be coupled to an inner wall surface and a bottom surface of the first chamber 111 .

다른 일 실시예에서, 상기 제2 챔버(112)는 상기 제1 챔버(111)의 내측 벽면을 커버하는 상부 면과 하부 면이 개방된 사각 기둥 형태일 수 있다.In another embodiment, the second chamber 112 may have a rectangular prism shape in which an upper surface and a lower surface covering the inner wall surface of the first chamber 111 are open.

도 5는 도3의 절단선 A-A'를 따라 취해진 단면도이고, 도 6은 도 5에 도시된 글래스 캡부를 확대한 도면이다.5 is a cross-sectional view taken along the cutting line A-A' of FIG. 3, and FIG. 6 is an enlarged view of the glass cap shown in FIG.

도 5 및 도 6을 참조하면, 글래스 캡부(120)는 커버 글래스(121), 상기 커버 글래스(121)를 고정하고 상기 챔버 바디(110)의 관통구들(113, 114, 115, 116)에 인입되어 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)을 밀폐하는 글래스 캡(122)을 구비한다.5 and 6 , the glass cap part 120 fixes the cover glass 121 and the cover glass 121 and is introduced into the through holes 113 , 114 , 115 and 116 of the chamber body 110 . and a glass cap 122 sealing the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 .

상기 커버 글래스(121)는 챔버 바디(110)의 내부 공간을 관측할 수 있도록 투광성이 높은 물질로 형성된다. 상기 커버 글래스(121)는 시중에 판매되는 커버 글래스용 유리일 수 있다.The cover glass 121 is formed of a material having high light transmittance so that the inner space of the chamber body 110 can be observed. The cover glass 121 may be commercially available glass for cover glass.

상기 글래스 캡(122)은 상기 커버 글래스(121)에 결합되어, 상기 커버 글래스(121)를 고정하고, 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 인입되었을 때, 관통구들(113, 114, 115, 116)의 내부에 밀착될 수 있도록, 관통구들(113, 114, 115, 116)에 대응하는 형상을 가질 수 있다.The glass cap 122 is coupled to the cover glass 121 to fix the cover glass 121 , and when introduced into the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 , the through holes 113 and 114 . , 115 , 116 may have a shape corresponding to the through-holes 113 , 114 , 115 , and 116 so as to be in close contact with the inside.

일 실시예에서 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)은 챔버 바디(110)의 내측에 가까울수록 작은 반경을 갖고, 상기 챔버 바디(110)의 외측에 가까울수록 큰 반경을 갖도록 테이퍼드 된 원통형일 수 있다.In one embodiment, the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 have a smaller radius as they are closer to the inside of the chamber body 110 , and are tapered to have a larger radius as they get closer to the outside of the chamber body 110 . It may be cylindrical.

이 때, 글래스 캡(122)은 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 밀착하여 결합될 수 있도록 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 대응하는 형상을 가질 수 있다.In this case, the glass cap 122 may have a shape corresponding to the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 so as to be closely coupled to the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 .

도면에 도시되지 않은 다른 일 실시예에서, 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)은 제1 챔버(111)와 제2 챔버(112)에 형성된 서로 다른 직경을 갖는 원통형 구멍들이 연결된 형상일 수 있다. 이 때, 제1 챔버(111)에 형성되는 원통형 구멍이 제2 챔버(112)에 형성되는 원통형 구멍보다 작은 직경을 가질 수 있다.In another embodiment not shown in the drawings, the through-holes 113 , 114 , 115 , and 116 may have a shape in which cylindrical holes having different diameters formed in the first chamber 111 and the second chamber 112 are connected. can In this case, the cylindrical hole formed in the first chamber 111 may have a smaller diameter than the cylindrical hole formed in the second chamber 112 .

이 때, 글래스 캡(122)은 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 밀착하여 결합될 수 있도록 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 대응하여 서로 다른 직경을 갖는 원통이 동일 축을 따라 연결된 형상일 수 있다.At this time, the glass cap 122 has a cylinder having different diameters corresponding to the through holes 113 , 114 , 115 and 116 so as to be closely coupled to the through holes 113 , 114 , 115 , and 116 . It may be a shape connected along the same axis.

글래스 캡(122)은 챔버 바디(110)와 자력으로 결합할 수 있다.The glass cap 122 may be magnetically coupled to the chamber body 110 .

일 실시예에서, 상기 제2 챔버(112)와 글래스 캡(122)은 자성 물질을 포함할 수 있다. 또는 글래스 캡(122)은 자성 물질을 포함하고. 상기 제2 챔버(112)는 자석에 붙는 금속 물질을 포함할 수 있다.In an embodiment, the second chamber 112 and the glass cap 122 may include a magnetic material. Alternatively, the glass cap 122 includes a magnetic material. The second chamber 112 may include a metal material attached to the magnet.

다른 일 실시예에서, 챔버 바디(110)는 관통구들(113, 114, 115, 116)의 둘레를 따라, 제1 자성 결합부를 구비하고, 상기 글래스 캡(122)는 상기 관통구들(113, 114, 115, 116)에 인입되었을 때, 상기 제1 자성 결합부에 대응하는 위치에 제2 자성 결합부를 구비할 수 있다.In another embodiment, the chamber body 110 includes a first magnetic coupling portion along the periphery of the through holes 113 , 114 , 115 , 116 , and the glass cap 122 includes the through holes 113 , 114 . , 115, 116), it may be provided with a second magnetic coupling portion at a position corresponding to the first magnetic coupling portion.

상기 제1 자성 결합부 및 제2 자성 결합부는 자석이거나, 상기 제1 자성 결합부 또는 제2 자성 결합부 중 어느 하나가 자석이고, 다른 하나는 상기 자석에 붙는 금속 물질일 수 있다.The first magnetic coupling part and the second magnetic coupling part may be a magnet, one of the first magnetic coupling part or the second magnetic coupling part may be a magnet, and the other may be a metal material attached to the magnet.

상기 글래스 캡(122)은 챔버 바디(110)와 글래스 캡(122)이 자력으로 결합하였을 때, 제2 챔버(112)의 표면에 압착되는 밀폐 수단(123)을 더 포함할 수 있다.The glass cap 122 may further include a sealing means 123 pressed against the surface of the second chamber 112 when the chamber body 110 and the glass cap 122 are magnetically coupled.

상기 밀폐 수단(123)은 오-링(O-Ring)일 수 있다. 상기 밀폐 수단(123)은 실리콘 또는 고무로 형성될 수 있다.The sealing means 123 may be an O-ring. The sealing means 123 may be formed of silicone or rubber.

상기 글래스 캡부(120)는 단턱부(125)를 더 포함할 수 있다. 단턱부(125)는 글래스 캡부(120)가 챔버 바디(110)에 결합하였을 때, 제1 챔버(111)의 표면으로부터 일정 높이만큼 돌출되도록 형성될 수 있다. 단턱부(125)는 글래스 캡부(120)가 너무 깊이 삽입되어 커버 글래스(121)가 손상되는 것을 방지하고, 글래스 캡부(120)를 챔버 바디(110)로부터 손쉽게 제거할 수 있게 한다. The glass cap part 120 may further include a stepped part 125 . The stepped portion 125 may be formed to protrude by a predetermined height from the surface of the first chamber 111 when the glass cap portion 120 is coupled to the chamber body 110 . The stepped part 125 prevents the cover glass 121 from being damaged due to the glass cap part 120 being inserted too deeply, and allows the glass cap part 120 to be easily removed from the chamber body 110 .

상기에서는 본 발명에 따른 실시예들을 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 사상과 범위 내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속한다.In the above, the configuration and features of the present invention have been described based on the embodiments according to the present invention, but the present invention is not limited thereto. Various changes or modifications can be made by those skilled in the art to which the present invention pertains within the spirit and scope of the present invention, and therefore such changes or modifications fall within the scope of the appended claims.

100: 시료 챔버 110: 챔버 바디
111: 제1 챔버 112: 제2 챔버
113: 제1 관측구 114: 제1 투광구
115: 제2 투광구 116: 제2 관측구
120: 글래스 캡부 121: 커버 글래스
122: 글래스 캡 123: 밀폐 수단
125: 단턱부 130: 지지부
131: 지지부 몸체 132: 재물대 결합부
133: 손잡이부
100: sample chamber 110: chamber body
111: first chamber 112: second chamber
113: first observation hole 114: first light-emitting hole
115: second light-emitting hole 116: second observation hole
120: glass cap portion 121: cover glass
122: glass cap 123: sealing means
125: step 130: support
131: support body 132: stage coupling part
133: handle part

Claims (9)

상부가 전면 개방된 직육면체형의 제1 챔버, 상기 제1 챔버의 내측 벽면과 결합하는 제2 챔버, 및 상기 제1 챔버와 상기 제2 챔버의 각 면을 관통하여 형성되는 관통구들을 갖는 챔버 바디;
커버 글래스 및 상기 커버 글래스를 고정하고 상기 관통구에 인입되어 상기 관통구를 밀폐하는 글래스 캡을 갖는 글래스 캡부; 및
상기 챔버 바디를 지지하고, 현미경 재물대에 결합하는 지지부를 포함하고,
상기 챔버 바디와 상기 글래스 캡부는 자력으로 결합하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
A chamber body having a rectangular parallelepiped-shaped first chamber with an open top, a second chamber coupled to an inner wall of the first chamber, and through-holes formed through respective surfaces of the first chamber and the second chamber ;
a glass cap part having a cover glass and a glass cap fixing the cover glass and entering the through hole to seal the through hole; and
Supporting the chamber body and comprising a support for coupling to the microscope stage,
and the chamber body and the glass cap are magnetically coupled to each other.
제1항에 있어서,
상기 관통구들은,
상기 챔버 바디의 제1 면에 형성되는 제1 관측구;
상기 제1 면과 인접한 제2 면 및 제4 면에 각각 형성되고, 동일한 중심 축을 갖는 제1 투광구와 제2 투광구; 및
상기 제1 면과 마주하는 제3 면에 형성되고, 상기 제1 관측구와 동일한 중심 축을 갖는 제2 관측구를 포함하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The through holes are
a first observation port formed on a first surface of the chamber body;
a first light-transmitting hole and a second light-transmitting hole formed on a second surface and a fourth surface adjacent to the first surface, respectively, and having the same central axis; and
Formed on a third surface facing the first surface, and comprising a second observation sphere having the same central axis as the first observation sphere, a sample chamber for a selective planar irradiation microscope.
제1항에 있어서,
상기 제2 챔버 및 상기 글래스 캡은 자성 물질을 포함하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
wherein the second chamber and the glass cap include a magnetic material.
제1항에 있어서,
상기 챔버 바디는 상기 관통구의 둘레를 따라 제1 자성 결합부를 구비하고,
상기 글래스 캡은 상기 관통구에 인입되었을 때, 상기 제1 자성 결합부에 대응하는 위치에 제2 자성 결합부를 구비하는 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The chamber body is provided with a first magnetic coupling portion along the periphery of the through hole,
When the glass cap is introduced into the through hole, the sample chamber for a selective planar irradiation microscope having a second magnetic coupling portion at a position corresponding to the first magnetic coupling portion.
제1항에 있어서,
상기 관통구는 상기 챔버 바디의 내측에 가까울수록 작은 반경을 갖고, 상기 챔버 바디의 외측에 가까울수록 큰 반경을 갖도록 테이퍼 되고,
상기 글래스 캡은 상기 관통구에 밀착하여 결합될 수 있도록 상기 관통구에 대응하는 형상을 갖는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The through hole has a smaller radius as it is closer to the inside of the chamber body, and is tapered to have a larger radius as it gets closer to the outside of the chamber body,
wherein the glass cap has a shape corresponding to the through hole so as to be closely coupled to the through hole.
제1항에 있어서,
상기 글래스 캡은,
상기 챔버 바디와 상기 글래스 캡이 자력으로 결합하였을 때, 상기 제2 챔버의 표면에 압착되는 밀폐 수단을 더 포함하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The glass cap is
When the chamber body and the glass cap are magnetically coupled to each other, the sample chamber for a selective planar irradiation microscope further comprises a sealing means pressed against the surface of the second chamber.
제1항에 있어서,
상기 제1 챔버는 3차원 프린터를 이용하여 형성되는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The first chamber is a sample chamber for a selective planar irradiation microscope, which is formed using a three-dimensional printer.
제1항에 있어서,
상기 제1 챔버는 3D-프린터를 이용하여 가공 가능한 고분자 재료를 포함하고,
상기 제2 챔버는 스테인리스 강을 포함하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The first chamber contains a polymer material that can be processed using a 3D-printer,
The second chamber comprises a stainless steel sample chamber for a selective planar irradiation microscope.
제1항에 있어서,
상기 제1 챔버는 폴리 아미드를 포함하는, 선택적 평면조사 현미경용 시료 챔버.
According to claim 1,
The first chamber comprises a polyamide, a sample chamber for a selective planar irradiation microscope.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100537070B1 (en) * 2004-03-06 2005-12-16 이용진 A Chamber-type Specimen Mount for a Microscope
KR101582332B1 (en) * 2011-12-13 2016-01-04 펀다멘탈 솔류션스 코포레이션 Device for rapid detection of infectious agents
JP2018524605A (en) * 2015-04-28 2018-08-30 アテリカ インコーポレイテッド Portable organic molecular sensing device and related systems and methods
US20200309700A1 (en) * 2019-03-28 2020-10-01 The Regents Of The University Of California Systems for fluorescence light sheet microscopy of large samples in high refractive index solutions

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100537070B1 (en) * 2004-03-06 2005-12-16 이용진 A Chamber-type Specimen Mount for a Microscope
KR101582332B1 (en) * 2011-12-13 2016-01-04 펀다멘탈 솔류션스 코포레이션 Device for rapid detection of infectious agents
JP2018524605A (en) * 2015-04-28 2018-08-30 アテリカ インコーポレイテッド Portable organic molecular sensing device and related systems and methods
US20200309700A1 (en) * 2019-03-28 2020-10-01 The Regents Of The University Of California Systems for fluorescence light sheet microscopy of large samples in high refractive index solutions

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