KR20220091402A - Electronic device processing spectrum of radioactive dust source in the aire and operating method thereof - Google Patents

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Abstract

본 개시는 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치에 관한 것이다. 일 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법은 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하는 단계; 상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하는 단계; 및 상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함할 수 있다.The present disclosure relates to a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product, and an electronic device for performing the same. According to an embodiment, a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product includes: acquiring a spectrum for a radioactive scattering product in the air; determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum; and obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum; may include

Figure P1020210184583
Figure P1020210184583

Description

방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 전자 장치 및 이의 동작 방법 {ELECTRONIC DEVICE PROCESSING SPECTRUM OF RADIOACTIVE DUST SOURCE IN THE AIRE AND OPERATING METHOD THEREOF}ELECTRONIC DEVICE PROCESSING SPECTRUM OF RADIOACTIVE DUST SOURCE IN THE AIRE AND OPERATING METHOD THEREOF

본 개시는 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 방사선 비산물의 스펙트럼 처리를 통한 핵종 별 방사능 농도를 결정하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치에 관한 것이다.The present disclosure relates to a method for processing a spectrum of a radioactive scattering product and an electronic device for performing the same. More particularly, it relates to a method for determining the concentration of radioactivity for each nuclide through spectrum processing of a radiation scattering product, and an electronic device for performing the same.

원자력 관계시설 운영자는 법적/제도적 요건에 따라 방사성 물질의 공기 중 방출로 인한 작업자, 일반인 및 환경 방호에 필요한 방사선 검사 시스템을 구축 운영해야 한다.Nuclear-related facility operators must establish and operate a radiation inspection system necessary to protect workers, the general public and the environment due to the release of radioactive materials into the air in accordance with legal/institutional requirements.

알파 및 베타 방사성 비산물 오염 측정 기술은 원자력 관계 기술에 중요하게 사용되고 있으며, 최근 전력 수요의 증가에 따라 알파 및 베타 방사성 비산물 오염 측정 기술에 대한 수요 역시 크게 증가하고 있으나, 대부분의 알파 및 베타 방사능 측정 기술의 확보는 아직 미흡한 실정이다.Alpha and beta radioactive scattering contamination measurement technology is important for nuclear-related technologies, and with the recent increase in electricity demand, the demand for alpha and beta radioactive scattering product contamination measurement technology is also greatly increasing, but most of the alpha and beta radioactivity Securing measurement technology is still insufficient.

따라서 대기중 알파 및 베타 방사선 비산물을 모니터링하기 위한 기술 개발이 요구되고 있다.Therefore, there is a need to develop a technology for monitoring alpha and beta radiation scattering in the atmosphere.

한국등록특허 제2313784호Korean Patent No. 2313784

일 실시 예에 따르면, 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치가 제공될 수 있다.According to an embodiment, a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product and an electronic device for performing the same may be provided.

일 실시 예에 의하면 가우시안 함수 및 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 이용하여 스펙트럼을 피팅하고, 피팅된 스펙트럼을 분석하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치가 제공될 수 있다.According to an embodiment, a method of fitting a spectrum using a fitting function determined based on a Gaussian function and an exponential function and analyzing the fitted spectrum, and an electronic device performing the same may be provided.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 개시의 일 실시 예에 따라, 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법에 있어서, 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하는 단계; 상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하는 단계; 및 상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함하는, 방법이 제공될 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure for achieving the above-described technical problem, there is provided a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product, the method comprising: acquiring a spectrum for a radioactive scattering product in the air; determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum; and obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum; A method comprising: may be provided.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 또 다른 실시 예에 의하면, 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 전자 장치에 있어서, 네트워크 인터페이스; 하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리; 및 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하는 적어도 하나의 프로세서; 를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행함으로써, 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하고, 상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하고, 상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는, 전자 장치가 제공될 수 있다.According to another embodiment for achieving the above-described technical problem, an electronic device for processing a spectrum of a radioactive scattering product, comprising: a network interface; a memory storing one or more instructions; and at least one processor executing the one or more instructions. Including, wherein the at least one processor executes the one or more instructions to obtain a spectrum for radioactive scattering in the air, a Gaussian function for a Gaussian peak region in the spectrum, and energy of radioactive scattering particles in the spectrum An electronic device may be provided that determines a fitting function determined based on an exponential function for LOW-TAILING caused by loss, and obtains a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 또 다른 실시 예에 의하면, 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법에 있어서, 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하는 단계; 상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하는 단계; 및 상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함하는, 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체가 제공될 수 있다.According to another embodiment for achieving the above-described technical problem, there is provided a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product, the method comprising: acquiring a spectrum for a radioactive scattering product in the air; determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum; and obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum; A computer-readable recording medium recording a program for executing the method on a computer, including a computer-readable recording medium, may be provided.

일 실시 예에 의하면, 로우-테일링으로 인한 스펙트럼 분석 문제를 해결하고, 타겟이 되는 핵종 별 스펙트럼을 효과적으로 분석할 수 있다.According to an embodiment, it is possible to solve a spectrum analysis problem due to low-tailing and effectively analyze a spectrum for each target nuclide.

일 실시 예에 의하면 대기 중 핵종 별 방사능 농도를 정확하게 결정할 수 있다.According to an embodiment, it is possible to accurately determine the concentration of radioactivity for each nuclide in the atmosphere.

도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 과정을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법의 흐름도이다.
도 3은 또 다른 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법의 흐름도이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 스펙트럼을 피팅하기 위해 이용하는 피팅 함수를 결정하는 구체적인 방법의 흐름도이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 이용하는 피팅 함수의 구조를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 피팅 함수를 이용하여 스펙트럼을 피팅하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 전자 장치(1000)가 복수의 피팅 함수를 이용하여 도출한 변환 스펙트럼 및 스펙트럼의 적합도를 평가한 결과를 나타내는 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블록도이다.1 is a diagram schematically illustrating a process in which an electronic device processes a spectrum of a radioactive scattering product according to an embodiment.
2 is a flowchart of a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product according to an embodiment.
3 is a flowchart of a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product according to another embodiment.
4 is a flowchart of a detailed method of determining a fitting function used by an electronic device to fit a spectrum, according to an embodiment.
5 is a diagram for describing a structure of a fitting function used by an electronic device according to an exemplary embodiment.
6 is a diagram for describing a process of fitting a spectrum by an electronic device using a fitting function, according to an exemplary embodiment.
FIG. 7 is a diagram illustrating a result of evaluating a transform spectrum derived using a plurality of fitting functions by the electronic device 1000 according to an embodiment and the degree of fit of the spectrum.
8 is a block diagram of an electronic device according to an embodiment.

본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 개시에 대해 구체적으로 설명하기로 한다. Terms used in this specification will be briefly described, and the present disclosure will be described in detail.

본 개시에서 사용되는 용어는 본 개시에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 개시에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 개시의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다. The terms used in the present disclosure have been selected as currently widely used general terms as possible while considering the functions in the present disclosure, but these may vary depending on the intention or precedent of a person skilled in the art, the emergence of new technology, and the like. In addition, in a specific case, there is a term arbitrarily selected by the applicant, and in this case, the meaning will be described in detail in the description of the corresponding invention. Therefore, the terms used in the present disclosure should be defined based on the meaning of the term and the contents of the present disclosure, rather than the simple name of the term.

명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.In the entire specification, when a part "includes" a certain element, this means that other elements may be further included, rather than excluding other elements, unless otherwise stated. In addition, terms such as "...unit" and "module" described in the specification mean a unit that processes at least one function or operation, which may be implemented as hardware or software, or a combination of hardware and software. .

아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 개시의 실시예에 대하여 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 개시는 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 개시를 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the embodiments of the present disclosure will be described in detail so that those of ordinary skill in the art to which the present disclosure pertains can easily implement them. However, the present disclosure may be implemented in several different forms and is not limited to the embodiments described herein. And in order to clearly explain the present disclosure in the drawings, parts irrelevant to the description are omitted, and similar reference numerals are attached to similar parts throughout the specification.

도 1은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 과정을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating a process in which an electronic device processes a spectrum of a radioactive scattering product according to an embodiment.

일 실시 예에 의하면 전자 장치(1000)는 공기매개(Air-borne) 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 알파 방사선 비산물 또는 상기 공기 중 베타 방사성 비산물 중 적어도 하나에 관한 스펙트럼(102)을 획득할 수 있다. 예를 들어, 공기매개 알파베타 검출 시스템(2000)은 스테인레스 실드 박스, 검출기 실드, PIPS 검출기, 필터 및 필터를 회전시키기 위한 필터 롤러를 포함할 수 있다. 그러나 상술한 예에 한정되는 것은 아니며 공기 중 방사선 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하기 위한 기타 구성들을 포함할 수 있다.According to an embodiment, the electronic device 1000 may acquire a spectrum 102 regarding at least one of an alpha radiation scattering product or an airborne beta radiation scattering product from the air-borne alpha beta detection system 2000 . can For example, the airborne alpha beta detection system 2000 may include a stainless shield box, a detector shield, a PIPS detector, a filter, and a filter roller for rotating the filter. However, it is not limited to the above-described example and may include other configurations for acquiring a spectrum for radiation scattering in the air.

일 실시 예에 의하면, 스테인레스 실드 박스는 외부 공기를 차폐하며, 필터는 포집된 공기 내 공기 비산물들을 포집하며, 필터 롤러는 미리 설정된 속도로 회전하면서 시간에 따른 스펙트럼이 획득될 수 있도록 필터를 이동시킬 수 있다. 또한, PIPS 검출기는 반도체 검출기로써, 공기 중 알파 방사성 비산물, 베타 방사성 비산물의 스펙트럼을 검출할 수 있다.According to one embodiment, the stainless shield box shields the outside air, the filter collects air debris in the collected air, and the filter roller rotates at a preset speed while moving the filter so that a spectrum over time can be obtained. can do it In addition, the PIPS detector is a semiconductor detector, and can detect spectra of alpha radioactive scattering products and beta radioactive scattering products in the air.

전자 장치(1000)가 공기매개 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 획득한 스펙트럼은 에너지 영역 별로 반응 확률(예컨대 공기매개 알파베타 검출 시스템에 의한 검출 확률)에 관한 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)가 공기매개 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 획득한 스펙트럼은 여러 에너지 영역을 가지는 핵종들의 반응 확률에 관한 스펙트럼 영역들이 일부 겹칠 수 있다. 전자 장치(1000)는 스펙트럼(102)을 획득하고, 스펙트럼에 소정의 피팅 함수를 적용함으로써 그림 (104) 및 그림 (106)에 도시된 바와 같은 목표 핵종에 포커싱된 스펙트럼(156)을 획득할 수 있다.The spectrum obtained by the electronic device 1000 from the air-mediated alpha-beta detection system 2000 may include information about a reaction probability (eg, a detection probability by the air-mediated alpha-beta detection system) for each energy region. For example, in a spectrum obtained by the electronic device 1000 from the air-mediated alpha-beta detection system 2000 , spectral regions related to the reaction probabilities of nuclides having various energy regions may partially overlap. The electronic device 1000 may acquire a spectrum 102 and a spectrum 156 focused on a target nuclide as shown in FIGS. 104 and 106 by applying a predetermined fitting function to the spectrum. have.

일 실시 예에 의하면, 전자 장치(1000)는 하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리(120) 및 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하는 적어도 하나의 프로세서(140)를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서(140)는 상기 메모리에 저장된 하나 이상의 인스트럭션을 실행함으로써 전자 장치(1000)내 구성들의 전반적인 동작을 제어할 수 있다.According to an embodiment, the electronic device 1000 includes a memory 120 that stores one or more instructions and at least one processor 140 that executes the one or more instructions, and the at least one processor 140 includes By executing one or more instructions stored in the memory, overall operations of components in the electronic device 1000 may be controlled.

본 개시에 따른 전자 장치(1000)는 대기 중 알파 및 베타 방사성 비산물에 대한 휴대용 방사성 오염 모니터링 시스템에 사용될 수 있으며, 개발작업자 및 환경의 방사선 방호 확보 및 원자력 관련 시설의 운영 및 해체를 통한 방사선 안전성 확보 용도로 사용될 수 있다.The electronic device 1000 according to the present disclosure may be used in a portable radioactive contamination monitoring system for alpha and beta radioactive scattering in the atmosphere, and radiation safety through securing radiation protection for development workers and the environment and operation and dismantling of nuclear-related facilities It can be used for securing purposes.

일 실시 예에 의하면, 전자 장치(1000)는 목표 핵종에 대한 스펙트럼(156)을 시각화 하여 출력할 수 있을 뿐만 아니라, 목표 핵종에 대한 스펙트럼(156)에 기초하여 핵종 별 방사능 농도(154)를 결정할 수도 있다. 본 개시에 따른 전자 장치(1000)는 공기매개 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 획득한 스펙트럼 내 로우테일링으로 인한 문제를 해결하기 위해 피팅 함수를 결정하고, 결정된 피팅 함수를 이용하여 스펙트럼을 변환함으로써 생성된 변환 스펙트럼(예컨대 목표 핵종에 대한 스펙트럼)을 이용하여 목표 핵종 별 방사능 농도를 정확하게 식별할 수 있다.According to an embodiment, the electronic device 1000 may not only visualize and output the spectrum 156 for the target nuclide, but also determine the radioactivity concentration 154 for each nuclide based on the spectrum 156 for the target nuclide. may be The electronic device 1000 according to the present disclosure determines a fitting function to solve a problem due to low tailing in the spectrum obtained from the air-mediated alpha beta detection system 2000, and converts the spectrum using the determined fitting function. Using the converted spectrum (eg, a spectrum for a target nuclide), it is possible to accurately identify the radioactivity concentration for each target nuclide.

도 2는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법의 흐름도이다.2 is a flowchart of a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product according to an embodiment.

S210에서, 전자 장치(1000)는 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)는 공기매개 알파베타 검출 시스템을 내부에 포함함으로써 스스로 직접 스펙트럼을 획득할 수도 있다. 그러나 또 다른 실시 예에 따르면, 전자 장치(1000)는 공기매개 알파베타 검출 시스템으로부터 미리 설정된 주기에 따라 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득할 수 있다. 전자 장치(1000)가 획득하는 스펙트럼은, 에너지 영역 별로 구분되는, 공기 중 알파 방사선 비산물 또는 공기 중 베타 방사성 비산물 중 적어도 하나에 대한 핵종 별 반응 확률에 대한 정보를 포함할 수 있다.In S210 , the electronic device 1000 may acquire a spectrum for radioactive scattering in the air. For example, the electronic device 1000 may directly acquire a spectrum by itself by including an air-mediated alpha-beta detection system therein. However, according to another embodiment, the electronic device 1000 may acquire a spectrum for radioactive scattering in the air according to a preset period from the air-mediated alpha-beta detection system. The spectrum obtained by the electronic device 1000 may include information about a reaction probability for each nuclide with respect to at least one of an alpha radiation scattering product in the air and a beta radiation scattering product in the air, which are classified for each energy region.

S220에서, 전자 장치(1000)는 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정할 수 있다. S230에서, 전자 장치(1000)는 결정된 피팅 함수를 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득할 수 있다.In S220, the electronic device 1000 performs a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum. can decide In S230 , the electronic device 1000 may obtain a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum.

예를 들어, 전자 장치(1000)가 획득한 공기 중 방사선 비산물에 대한 스펙트럼은, 에너지 영역별로 서로 영향을 줄 수 있는 스펙트럼을 포함할 수 있다. 전자 장치(1000)는 스펙트럼 내 중앙 부분에서 핵종이 형성하는 가우시안 피크 영역을 나타내는 가우시안 함수와, 상기 스펙트럼 내 로우-테일링(LOW-TAILING)을 나타내는 지수 함수에 기초하여, 스펙트럼을 피팅하기 위한 피팅 함수를 결정하고, 결정된 피팅 함수를 스펙트럼에 적용함으로써 목표 핵종 별 스펙트럼들을 변환 스펙트럼들로 획득할 수 있다.For example, a spectrum for a radiation scattering product in the air acquired by the electronic device 1000 may include a spectrum that can influence each other for each energy region. The electronic device 1000 provides a fitting function for fitting a spectrum based on a Gaussian function indicating a Gaussian peak region formed by a nuclide in the central portion of the spectrum and an exponential function indicating LOW-TAILING in the spectrum. , and applying the determined fitting function to the spectrum, spectra for each target nuclide may be obtained as transform spectra.

도 3은 또 다른 실시 예에 따른 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법의 흐름도이다.3 is a flowchart of a method for an electronic device to process a spectrum of a radioactive scattering product according to another embodiment.

S310 내지 S330은 도 2에 도시된 S210 내지 S230에 대응될 수 있으므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다. S340에서, 전자 장치(1000)는 변환 스펙트럼에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)는 스펙트럼에 피팅 함수를 적용함에 따른 핵종 별 계수 값을 획득할 수 있다. 전자 장치(1000)는 핵종 별 계수 값에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정할 수 있다. S350에서, 전자 장치(1000)는 결정된 핵종 별 방사능 농도를 출력할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)는 핵종 별 방사능 농도가 결정되면 해당 핵종 별 방사능 농도에 대한 정보를 전자 장치(1000)와 연결된 외부 디바이스로 출력할 수 있다.Since S310 to S330 may correspond to S210 to S230 shown in FIG. 2 , a detailed description thereof will be omitted. In S340, the electronic device 1000 may determine the radioactivity concentration for each nuclide based on the conversion spectrum. For example, the electronic device 1000 may obtain a coefficient value for each nuclide by applying a fitting function to the spectrum. The electronic device 1000 may determine the radioactivity concentration for each nuclide based on the count value for each nuclide. In S350, the electronic device 1000 may output the determined radioactivity concentration for each nuclide. For example, when the radiation concentration for each nuclide is determined, the electronic device 1000 may output information on the radiation concentration for each nuclide to an external device connected to the electronic device 1000 .

일 실시 예에 의하면, 본 개시에 따른 전자 장치(1000)는 스펙트럼 피팅을 위한 피팅 함수를 결정하고, 결정된 피팅 함수를 이용하여 스펙트럼 검출기로부터 획득된 스펙트럼을 피팅할 뿐만 아니라, 피팅된 스펙트럼에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정하고, 핵종 별 방사능 농도를 목표 핵종 스펙트럼과 함께 제공할 수도 있다.According to an embodiment, the electronic device 1000 according to the present disclosure determines a fitting function for spectrum fitting, and not only fits the spectrum obtained from the spectrum detector using the determined fitting function, but also based on the fitted spectrum. The radioactivity concentration for each nuclide may be determined, and the activity concentration for each nuclide may be provided together with the target nuclide spectrum.

도 4는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 스펙트럼을 피팅하기 위해 이용하는 피팅 함수를 결정하는 구체적인 방법의 흐름도이다.4 is a flowchart of a detailed method of determining a fitting function used by an electronic device to fit a spectrum, according to an embodiment.

도 5는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 이용하는 피팅 함수의 구조를 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram for describing a structure of a fitting function used by an electronic device according to an exemplary embodiment.

도 4 내지 5를 참조하여 전자 장치(1000)가 피팅 함수를 결정하는 방법을 구체적으로 설명하기로 한다.A method in which the electronic device 1000 determines a fitting function will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 5 .

S410에서, 전자 장치(1000)는 스펙트럼 내 중앙 영역에서 핵종이 형성하는 가우시안 피크 영역을 나타내는 가우시안 함수(510)를 결정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)가 결정하는 가우시안 함수(510)는 스펙트럼 내 상기 중앙 영역의 피크 크기(Hg,peak amplitude), 스펙트럼 내 관심 영역의 채널(x, channel in interest region) 또는 스펙트럼 내 피크 채널(xg, peak channel) 중 적어도 하나를 변수로 포함할 수 있다.In S410 , the electronic device 1000 may determine a Gaussian function 510 representing a Gaussian peak region formed by a nuclide in a central region in the spectrum. For example, the Gaussian function 510 determined by the electronic device 1000 may include a peak amplitude (Hg,peak amplitude) of the central region in a spectrum, a channel in a region of interest (x, channel in interest region) in the spectrum, or a spectrum in the Gaussian function 510 . At least one of a peak channel (xg, peak channel) may be included as a variable.

S420에서, 전자 장치(1000)는 스펙트럼 내 알파 방사성 비산물 또는 베타 방사성 비산물이 상기 공기 중 기타 비산물과의 충돌로 인해 에너지 손실로 발생하는 로우 테일링 영역을 나타내는 지수 함수를 결정할 수 있다. 예를 들어, 지수 함수(530)는 스펙트럼 내 상기 스펙트럼 내 로우 테일링 영역에서의 피크 크기(Hs, peak tailing amplitude), 스펙트럼 내 관심 영역의 채널(x, channel in interest region), 스펙트럼 내 피크 채널 값(xg, peak channel) 또는 ts(extent of peak tailing) 중 적어도 하나를 변수로 포함할 수 있다.In S420 , the electronic device 1000 may determine an exponential function representing a low tailing region in which alpha or beta radioactive scattering in the spectrum occurs due to energy loss due to collision with other scattering products in the air. For example, the exponential function 530 may include a peak amplitude (Hs, peak tailing amplitude) in a low tailing region in the spectrum, a channel in a region of interest in the spectrum (x, channel in interest region), and a peak channel value in the spectrum. At least one of (xg, peak channel) and ts (extent of peak tailing) may be included as a variable.

S430에서, 전자 장치(1000)는 가우시안 함수 및 지수 함수의 합에 기초하여 피팅 함수를 결정할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(1000)는 도 5에 도시된 가우시안 함수(520) 및 지수 함수(530)를 합함으로써 피팅 함수(510)를 결정할 수 있다.In S430 , the electronic device 1000 may determine a fitting function based on the sum of the Gaussian function and the exponential function. For example, the electronic device 1000 may determine the fitting function 510 by summing the Gaussian function 520 and the exponential function 530 illustrated in FIG. 5 .

도 6은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 피팅 함수를 이용하여 스펙트럼을 피팅하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.6 is a diagram for describing a process of fitting a spectrum by an electronic device using a fitting function, according to an exemplary embodiment.

전자 장치(1000)는 공기매개(Air-borne) 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 알파성 방사성 비산물에 대한 스펙트럼(601)을 획득할 수 있다. 그러나 전자 장치(1000)는 베타성 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 함께 획득할 수도 있다.The electronic device 1000 may acquire the spectrum 601 of the alpha radioactive scattering product from the air-borne alpha-beta detection system 2000 . However, the electronic device 1000 may also acquire a spectrum for the beta radioactive scattering product.

전자 장치(1000)는 도 4 내지 도 5에서 상술한 피팅 함수를 결정하고, 결정된 피팅 함수를 스펙트럼(601)에 적용함으로써, 그림 (604) 및 (606)에 도시된 바와 같인 변환 스펙트럼을 획득할 수 있다. 스펙트럼 (601)에서는 에너지 영역 별 스펙트럼이 겹쳐진 것과 달리, 그림 (604) 및 그림 (606)에서는 에너지 영역 별 (예컨대 핵종 별) 스펙트럼이 구분된 것을 볼 수 있다.The electronic device 1000 determines the fitting function described above with reference to FIGS. 4 to 5 , and applies the determined fitting function to the spectrum 601 to obtain the transformed spectrum as shown in FIGS. 604 and 606 . can In the spectrum 601 , it can be seen that the spectrum for each energy region is overlapped, whereas in the figures 604 and 606 , the spectrum for each energy region (eg, by nuclide) is divided.

전자 장치(1000)는 피팅 함수를 변환 스펙트럼에 적용함에 따라 변환 스펙트럼을 획득하고, 변환 스펙트럼에서 나타나는 핵종 별 계수 값에 기초하여 목표 핵종 스펙트럼들(608, 610)을 획득할 수 있다. 전자 장치(1000)는 목표 핵종 스펙트럼들에 기초하여, 핵종 별 방사능 농도를 결정할 수 있다.The electronic device 1000 may acquire a transform spectrum by applying the fitting function to the transform spectrum, and may acquire target nuclide spectra 608 and 610 based on a coefficient value for each nuclide appearing in the transform spectrum. The electronic device 1000 may determine the radioactivity concentration for each nuclide based on the target nuclide spectra.

도 7은 일 실시 예에 따른 전자 장치(1000)가 복수의 피팅 함수를 이용하여 도출한 변환 스펙트럼 및 스펙트럼의 적합도를 평가한 결과를 나타내는 도면이다.7 is a diagram illustrating a result of evaluating a transform spectrum derived using a plurality of fitting functions by the electronic device 1000 according to an embodiment and the degree of fit of the spectrum.

도 7을 참조하면 피팅 함수 변경에 따른 적합도 평가 결과가 도시된다. 전자 장치(1000)는 220Rn, 216Po, 212Bi, 214Po; case 2: 222Rn, 218Po 각각의 스펙트럼에 대해 세종류의 피팅함수를 적용하였고, 도 5에 도시된 피팅 함수(703)를 사용한 결과 값에 대한 적합도 평가 결과, RMS는 0.982, Chi-Square Test 값은 6.34E-11로 식별되었다. 따라서, 가장 1에 가까운 RMS 값이 획득되었고, 가장 낮은 Chi-Square Test를 나타낸, 도 5 에 따른 피팅함수가 가장 높은 적합도를 나타낸 것을 볼 수 있다.Referring to FIG. 7 , a fitness evaluation result according to a change in the fitting function is illustrated. The electronic device 1000 may include 220 Rn, 216 Po, 212 Bi, and 214 Po; Case 2: Three types of fitting functions were applied to each spectrum of 222 Rn and 218 Po. As a result of evaluating the fit of the result using the fitting function 703 shown in FIG. 5, RMS was 0.982, Chi-Square Test The value was identified as 6.34E-11. Therefore, it can be seen that the RMS value closest to 1 was obtained, and the fitting function according to FIG. 5 showing the lowest Chi-Square Test showed the highest degree of fit.

도 8은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 블록도이다.8 is a block diagram of an electronic device according to an embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(1000)는 프로세서(1300), 네트워크 인터페이스(1500) 및 메모리(1700)를 포함할 수 있다. 그러나 상술한 예에 한정되는 것은 아니며, 전자 장치(1000)가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법을 수행하는데 필요한 기타 구성들을 더 포함할 수 있음은 물론이다.The electronic device 1000 according to an embodiment may include a processor 1300 , a network interface 1500 , and a memory 1700 . However, it is not limited to the above-described example, and it goes without saying that the electronic device 1000 may further include other components necessary to perform a method for processing a spectrum of a radioactive scattering product.

프로세서(1300)는, 통상적으로 전자 장치(1000)의 전반적인 동작을 제어한다. 예를 들어, 프로세서(1300)는, 메모리(1700)에 저장된 프로그램들을 실행함으로써, 네트워크 인터페이스(1500) 및 디스플레이(1200)를 전반적으로 제어할 수 있다.The processor 1300 generally controls the overall operation of the electronic device 1000 . For example, the processor 1300 may generally control the network interface 1500 and the display 1200 by executing programs stored in the memory 1700 .

일 실시 예에 의하면, 프로세서(1300)는 하나 이상의 인스트럭션을 수행함으로써, 공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하고, 상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하고, 상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득할 수 있다.According to an embodiment, the processor 1300 obtains a spectrum for radioactive scattering in the air by performing one or more instructions, a Gaussian function for a Gaussian peak region in the spectrum, and energy of radioactive scattering particles in the spectrum A transformed spectrum may be obtained by determining a fitting function determined based on an exponential function for LOW-TAILING caused by loss, and applying the determined fitting function to the spectrum.

일 실시 예에 의하면, 프로세서(1300)는 상기 변환 스펙트럼에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정하고, 상기 결정된 핵종 별 방사능 농도를 출력할 수 있다.According to an embodiment, the processor 1300 may determine the radioactivity concentration for each nuclide based on the conversion spectrum, and output the determined radioactivity concentration for each nuclide.

일 실시 예에 의하면, 프로세서(1300)는 상기 공기 중 알파 방사선 비산물 또는 상기 공기 중 베타 방사성 비산물 중 적어도 하나에 대한 핵종 별 반응 확률에 관한 스펙트럼을 획득할 수 있다.According to an embodiment, the processor 1300 may acquire a spectrum regarding the reaction probability for each nuclide with respect to at least one of the alpha radiation scattering product in the air and the beta radiation scattering product in the air.

일 실시 예에 의하면, 프로세서(1300)는 상기 스펙트럼 내 중앙 영역에서 핵종이 형성하는 가우시안 피크 영역을 나타내는 가우시안 함수를 결정하고, 상기 스펙트럼 내 알파 방사선 비산물 또는 베타 방사성 비산물이 상기 공기 중 기타 비산물과의 충돌로 인해 에너지 손실로 발생하는 로우 테일링 영역을 나타내는 지수 함수를 결정하고, 상기 결정된 가우시안 함수 및 상기 지수 함수의 합에 기초하여 상기 피팅 함수를 결정할 수 있다.According to an embodiment, the processor 1300 determines a Gaussian function representing a Gaussian peak region formed by the nuclide in the central region in the spectrum, and the alpha radiation scattering product or the beta radiation scattering product in the spectrum is other ratios in the air. An exponential function representing a low-tailing region caused by energy loss due to collision with a product may be determined, and the fitting function may be determined based on the sum of the determined Gaussian function and the exponential function.

일 실시 예에 의하면, 상기 가우시안 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 중앙 영역의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함하고, 상기 지수 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 스펙트럼 내 로우 테일링 영역에서의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함할 수 있다.According to an embodiment, the Gaussian function includes a peak size of the central region in the spectrum, a channel of the region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum as variables, and the exponential function is A peak size in a low tailing region in the spectrum, a channel in the region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum may be included as variables.

일 실시 예에 의하면, 상기 스펙트럼에 상기 피팅 함수 적용에 따른 핵종 별 계수 값을 획득하고, 상기 핵종 별 계수 값에 기초하여 상기 핵종 별 방사능 농도를 결정할 수 있다.According to an embodiment, a count value for each nuclide may be obtained according to the application of the fitting function to the spectrum, and the radioactivity concentration for each nuclide may be determined based on the count value for each nuclide.

네트워크 인터페이스(1500)는 공기 매개 알파베타 검출 시스템(2000)으로부터 미리 설정된 주기에 따라 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득할 수 있다. 또한, 네트워크 인터페이스(1500)는 전자 장치가 피팅 함수를 적용함에 따라 변환된 스펙트럼에 대한 정보(예컨대 목표 핵종 스펙트럼) 또는 핵종 별 방사능 농도에 대한 정보를 전자 장치(1000)와 연결된 외부 디바이스로 전송할 수도 있다.The network interface 1500 may acquire a spectrum for a radioactive scattering product according to a preset period from the airborne alpha beta detection system 2000 . Also, the network interface 1500 may transmit information on a spectrum (eg, a target nuclide spectrum) or radioactivity concentration for each nuclide to an external device connected to the electronic device 1000 as the electronic device applies a fitting function. have.

메모리(1700)는, 프로세서(1300)의 처리 및 제어를 위한 프로그램을 저장할 수 있고, 전자 장치(1000)로 입력되거나 전자 장치(1000)로부터 출력되는 데이터를 저장할 수도 있다. 일 실시 예에 의하면, 메모리(1700)는 피팅 함수, 가우스 함수, 지수 함수에 대한 정보를 저장할 수 있으며, 외부로부터 획득된 방사성 비산물에 대한 스펙트럼 정보를 더 저장할 수도 있다. 또한, 메모리는 피팅 함수를 적용함에 따른 변환 스펙트럼으로부터 결정되는 핵종 별 방사능 농도에 대한 정보를 저장할 수도 있다.The memory 1700 may store a program for processing and control of the processor 1300 , and may also store data input to or output from the electronic device 1000 . According to an embodiment, the memory 1700 may store information on a fitting function, a Gaussian function, and an exponential function, and may further store spectrum information about a radioactive scattering product obtained from the outside. In addition, the memory may store information on the radioactivity concentration for each nuclide determined from the transformation spectrum by applying the fitting function.

일 실시 예에 의하면, 메모리(1700)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD 또는 XD 메모리 등), 램(RAM, Random Access Memory) SRAM(Static Random Access Memory), 롬(ROM, Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the memory 1700 is a flash memory type, a hard disk type, a multimedia card micro type, or a card type memory (eg, SD or XD memory, etc.), RAM (RAM, Random Access Memory) SRAM (Static Random Access Memory), ROM (Read-Only Memory), EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM (Programmable Read-Only Memory) , a magnetic memory, a magnetic disk, and an optical disk may include at least one type of storage medium.

디스플레이(1200)는 전자 장치(1000)가 생성한 시각화 컨텐츠 또는 검출 결과에 대한 정보를 화면상에 출력할 수 있다. The display 1200 may output the visualization content generated by the electronic device 1000 or information about the detection result on the screen.

일 실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 개시를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. The method according to an embodiment may be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means and recorded in a computer-readable medium. The computer-readable medium may include program instructions, data files, data structures, etc. alone or in combination. The program instructions recorded on the medium may be specially designed and configured for the present disclosure, or may be known and available to those skilled in the art of computer software.

또한, 상기 일 실시 예에 다른 방법을 수행하도록 하는 프로그램이 저장된 기록매체를 포함하는 컴퓨터 프로그램 장치가 제공될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 이상에서 본 개시의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 개시의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음에서 정의하고 있는 본 개시의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 개시의 권리범위에 속한다.In addition, according to the embodiment, a computer program apparatus including a recording medium storing a program for performing another method may be provided. Examples of the computer-readable recording medium include magnetic media such as hard disks, floppy disks and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs and DVDs, and magnetic such as floppy disks. - includes magneto-optical media, and hardware devices specially configured to store and execute program instructions, such as ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of program instructions include not only machine language codes such as those generated by a compiler, but also high-level language codes that can be executed by a computer using an interpreter or the like. Although the embodiments of the present disclosure have been described in detail above, the scope of the present disclosure is not limited thereto, and various modifications and improvements by those skilled in the art using the basic concept of the present disclosure defined below are also within the scope of the present disclosure. belong

Claims (13)

전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법에 있어서,
공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하는 단계;
상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하는 단계; 및
상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함하는, 방법.A method for an electronic device to process a spectrum of radioactive scattering, comprising:
acquiring a spectrum for radioactive scattering in the air;
determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum; and
obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum; A method comprising 제1항에 있어서, 상기 방법은
상기 변환 스펙트럼에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정하는 단계; 및
상기 결정된 핵종 별 방사능 농도를 출력하는 단계; 를 포함하는, 방법.The method of claim 1, wherein the method
determining a radioactivity concentration for each nuclide based on the conversion spectrum; and
outputting the determined radioactivity concentration for each nuclide; A method comprising 제2항에 있어서, 상기 스펙트럼을 획득하는 단계는
상기 공기 중 알파 방사선 비산물 또는 상기 공기 중 베타 방사성 비산물 중 적어도 하나에 대한 핵종 별 반응 확률에 관한 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함하는, 방법.The method of claim 2, wherein acquiring the spectrum comprises:
acquiring a spectrum regarding a reaction probability for each nuclide with respect to at least one of the alpha radiation scattering product in the air or the beta radiation scattering product in the air; A method comprising 제2항에 있어서, 상기 피팅 함수를 결정하는 단계는
상기 스펙트럼 내 중앙 영역에서 핵종이 형성하는 가우시안 피크 영역을 나타내는 가우시안 함수를 결정하는 단계;
상기 스펙트럼 내 알파 방사선 비산물 또는 베타 방사성 비산물이 상기 공기 중 기타 비산물과의 충돌로 인해 에너지 손실로 발생하는 로우 테일링 영역을 나타내는 지수 함수를 결정하는 단계; 및
상기 결정된 가우시안 함수 및 상기 지수 함수의 합에 기초하여 상기 피팅 함수를 결정하는 단계; 를 포함하는, 방법.3. The method of claim 2, wherein determining the fitting function comprises:
determining a Gaussian function representing a Gaussian peak region formed by a nuclide in a central region in the spectrum;
determining an exponential function representing a low tailing region in which alpha or beta radiation scattering in the spectrum occurs due to energy loss due to collision with other scattering particles in the air; and
determining the fitting function based on the sum of the determined Gaussian function and the exponential function; A method comprising 제4항에 있어서,
상기 가우시안 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 중앙 영역의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함하고,
상기 지수 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 스펙트럼 내 로우 테일링 영역에서의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함하는 것을 특징으로 하는, 방법.5. The method of claim 4,
The Gaussian function includes, as variables, a peak size of the central region in the spectrum, a channel in the region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum,
The method, characterized in that the exponential function includes, as variables, a peak magnitude in a low tailing region in the spectrum in the spectrum, a channel in a region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum. 제2항에 있어서, 상기 핵종 별 방사능 농도를 결정하는 단계는
상기 스펙트럼에 상기 피팅 함수 적용에 따른 핵종 별 계수 값을 획득하는 단계; 및
상기 핵종 별 계수 값에 기초하여 상기 핵종 별 방사능 농도를 결정하는 단계; 를 포함하는, 방법. According to claim 2, wherein the step of determining the radioactivity concentration for each nuclide
obtaining a coefficient value for each nuclide according to the application of the fitting function to the spectrum; and
determining the radioactivity concentration for each nuclide based on the count value for each nuclide; A method comprising 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 전자 장치에 있어서,
네트워크 인터페이스;
하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리; 및
상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하는 적어도 하나의 프로세서; 를 포함하고,
상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행함으로써,
공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하고,
상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하고,
상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는, 전자 장치.An electronic device for processing a spectrum of radioactive scattering, comprising:
network interface;
a memory storing one or more instructions; and
at least one processor executing the one or more instructions; including,
The at least one processor by executing the one or more instructions,
Acquire a spectrum for radioactive scattering in the air,
Determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum,
and obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum. 제7항에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는
상기 변환 스펙트럼에 기초하여 핵종 별 방사능 농도를 결정하고,
상기 결정된 핵종 별 방사능 농도를 출력하는, 전자 장치.8. The method of claim 7, wherein the at least one processor comprises:
determining the radioactivity concentration for each nuclide based on the conversion spectrum,
An electronic device for outputting the determined radioactivity concentration for each nuclide. 제8항에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는
상기 공기 중 알파 방사선 비산물 또는 상기 공기 중 베타 방사성 비산물 중 적어도 하나에 대한 핵종 별 반응 확률에 관한 스펙트럼을 획득하는, 전자 장치.9. The method of claim 8, wherein the at least one processor comprises:
An electronic device for acquiring a spectrum related to a reaction probability for each nuclide with respect to at least one of the alpha radiation scattering product in the air or the beta radiation scattering product in the air. 제8항에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는
상기 스펙트럼 내 중앙 영역에서 핵종이 형성하는 가우시안 피크 영역을 나타내는 가우시안 함수를 결정하고,
상기 스펙트럼 내 알파 방사선 비산물 또는 베타 방사성 비산물이 상기 공기 중 기타 비산물과의 충돌로 인해 에너지 손실로 발생하는 로우 테일링 영역을 나타내는 지수 함수를 결정하고,
상기 결정된 가우시안 함수 및 상기 지수 함수의 합에 기초하여 상기 피팅 함수를 결정하는, 전자 장치.9. The method of claim 8, wherein the at least one processor comprises:
determining a Gaussian function representing a Gaussian peak region formed by a nuclide in the central region of the spectrum;
determining an exponential function representing a low tailing region in which alpha or beta radiation scattering in the spectrum occurs due to energy loss due to collisions with other scattering particles in the air;
and determining the fitting function based on the sum of the determined Gaussian function and the exponential function. 제10항에 있어서,
상기 가우시안 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 중앙 영역의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함하고,
상기 지수 함수는, 상기 스펙트럼 내 상기 스펙트럼 내 로우 테일링 영역에서의 피크 크기, 상기 스펙트럼 내 관심 영역의 채널 및 상기 스펙트럼 내 피크 채널 값을 변수로 포함하는 것을 특징으로 하는, 전자 장치.11. The method of claim 10,
The Gaussian function includes, as variables, a peak size of the central region in the spectrum, a channel in the region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum,
The electronic device, characterized in that the exponential function includes, as variables, a peak size in a low tailing region in the spectrum, a channel in the region of interest in the spectrum, and a peak channel value in the spectrum in the spectrum. 제8항에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는
상기 스펙트럼에 상기 피팅 함수 적용에 따른 핵종 별 계수 값을 획득하고,
상기 핵종 별 계수 값에 기초하여 상기 핵종 별 방사능 농도를 결정하는, 전자 장치.9. The method of claim 8, wherein the at least one processor comprises:
Obtaining a coefficient value for each nuclide according to the application of the fitting function to the spectrum,
An electronic device for determining the radioactivity concentration for each nuclide based on the count value for each nuclide. 전자 장치가 방사성 비산물의 스펙트럼을 처리하는 방법에 있어서,
공기 중 방사성 비산물에 대한 스펙트럼을 획득하는 단계;
상기 스펙트럼 내 가우시안 피크 영역에 관한 가우시안 함수 및 상기 스펙트럼 내 방사성 비산물 입자의 에너지 손실로 발생한 로우-테일링(LOW-TAILING)에 대한 지수 함수에 기초하여 결정되는 피팅 함수를 결정하는 단계; 및
상기 결정된 피팅 함수를 상기 스펙트럼에 적용함으로써 변환 스펙트럼을 획득하는 단계; 를 포함하는, 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.A method for an electronic device to process a spectrum of radioactive scattering, comprising:
acquiring a spectrum for radioactive scattering in the air;
determining a fitting function determined based on a Gaussian function with respect to a Gaussian peak region in the spectrum and an exponential function for LOW-TAILING caused by energy loss of radioactive scattering particles in the spectrum; and
obtaining a transformed spectrum by applying the determined fitting function to the spectrum; A computer-readable recording medium recording a program for executing the method on a computer, comprising a.
KR1020210184583A 2020-12-23 2021-12-22 Electronic device processing spectrum of radioactive dust source in the aire and operating method thereof KR102668163B1 (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR102313784B1 (en) 2020-12-29 2021-10-18 (주)오르비텍 Portable Radioactive Contamination Monitoring System for Alpha and Beta Dust Source in the Air

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR102313784B1 (en) 2020-12-29 2021-10-18 (주)오르비텍 Portable Radioactive Contamination Monitoring System for Alpha and Beta Dust Source in the Air

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