KR20220091003A - Display device - Google Patents

Display device Download PDF

Info

Publication number
KR20220091003A
KR20220091003A KR1020200182084A KR20200182084A KR20220091003A KR 20220091003 A KR20220091003 A KR 20220091003A KR 1020200182084 A KR1020200182084 A KR 1020200182084A KR 20200182084 A KR20200182084 A KR 20200182084A KR 20220091003 A KR20220091003 A KR 20220091003A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
data
inspection
signal
switching unit
Prior art date
Application number
KR1020200182084A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
권영성
심우성
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020200182084A priority Critical patent/KR20220091003A/en
Publication of KR20220091003A publication Critical patent/KR20220091003A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 패널의 표시 영역에 배치되고, 제1 방향으로 배열된 복수의 게이트 라인과 제1 방향과 교차하는 방향인 제2 방향으로 배열된 복수의 데이터 라인에 의해 정의된 복수의 화소, 표시 패널의 비표시 영역의 일측 가장자리에 배치되고, 복수의 데이터 라인 각각과 대응하여 연결된 복수의 데이터 패드 및 표시 패널의 비표시 영역에 배치되고, 복수의 데이터 패드와 연결되며, 복수의 화소의 단색 패턴 불량 및 증착 불량 검출 검사를 수행하는 패널 검사부를 포함하고, 패널 검사부는 증착 불량 검출 시 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측에 배치된 데이터 패드에만 검사 신호가 인가되도록 구성될 수 있다.A display device according to an embodiment of the present invention is disposed in a display area of a display panel, and includes a plurality of gate lines arranged in a first direction and a plurality of data lines arranged in a second direction intersecting the first direction. a plurality of pixels defined by: a plurality of data pads disposed on one edge of a non-display area of the display panel and connected to each of the plurality of data lines; and a panel inspection unit configured to perform inspection for detecting monochromatic pattern defects and deposition defects of a plurality of pixels, and the panel inspection unit is configured such that the inspection signal is applied only to the data pads disposed on the outermost sides among the plurality of data pads when the deposition defect is detected can be

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}display device {DISPLAY DEVICE}

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 제조 공정 시 불량을 검출할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device capable of detecting a defect during a manufacturing process.

컴퓨터의 모니터나 TV, 핸드폰 등에 사용되는 표시 장치에는 스스로 광을 발광하는 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED) 등과 별도의 광원을 필요로 하는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)등이 있다.Display devices used in computer monitors, TVs, and mobile phones include organic light emitting displays (OLEDs) that emit light by themselves, and liquid crystal displays (LCDs) that require a separate light source. have.

이러한 표시 장치 중 유기 발광 표시 장치는 자발광 표시 소자로서 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수할 뿐만 아니라 응답 속도가 빠르다는 장점을 가지고 있어서 차세대 소자로써 주목을 받고 있다. Among these display devices, the organic light emitting diode display is a self-luminous display device, which has a wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed, and thus has attracted attention as a next-generation device.

유기 발광 표시 장치는 여러 단계의 제조 공정을 거쳐 제조되고, 필요에 따라 다수의 검사 공정을 진행하기도 한다. 그러나, 검사 공정이 비효율적으로 진행되면 생산성 하락은 물론이고 불량률이 높아지는 문제점이 있다.The organic light emitting display device is manufactured through a manufacturing process of several steps, and a plurality of inspection processes are also performed as needed. However, if the inspection process proceeds inefficiently, there is a problem in that productivity decreases as well as the defect rate increases.

본 발명에서 해결하고자 하는 과제는 단색 패턴 불량뿐만 아니라 증착 불량 공정도 검출할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a display device capable of detecting not only a monochromatic pattern defect but also a deposition defect process.

전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 장치는 표시 패널의 표시 영역에 배치되고, 제1 방향으로 배열된 복수의 게이트 라인과 제1 방향과 교차하는 방향인 제2 방향으로 배열된 복수의 데이터 라인에 의해 정의된 복수의 화소, 표시 패널의 비표시 영역의 일측 가장자리에 배치되고, 복수의 데이터 라인 각각과 대응하여 연결된 복수의 데이터 패드 및 표시 패널의 비표시 영역에 배치되고, 복수의 데이터 패드와 연결되며, 복수의 화소의 단색 패턴 불량 및 증착 불량 검출 검사를 수행하는 패널 검사부를 포함하고, 패널 검사부는 증착 불량 검출 시 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측에 배치된 데이터 패드에만 검사 신호가 인가되도록 구성될 수 있다.In order to solve the above problems, in a display device according to an embodiment of the present invention, the display device is disposed in the display area of the display panel, and a plurality of gate lines arranged in a first direction intersect the first direction A ratio between a plurality of pixels defined by a plurality of data lines arranged in the second direction, a plurality of data pads disposed at one edge of a non-display area of the display panel, and connected to each of the plurality of data lines, and the display panel and a panel inspection unit disposed in the display area, connected to the plurality of data pads, and configured to inspect the monochromatic pattern defects and deposition defects of the plurality of pixels; The test signal may be applied only to the data pad disposed in the .

기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

본 발명은 표시 패널의 단색 패턴 불량을 검출하기 위한 신호와 증착 불량을 검출하기 위한 신호를 인가하여 표시 패널의 단색 패턴 불량 및 증착 불량을 검출할 수 있다.According to the present invention, a monochromatic pattern defect and a deposition defect of the display panel may be detected by applying a signal for detecting a monochromatic pattern defect of the display panel and a signal for detecting a deposition defect.

본 발명은 표시 패널의 표시 영역에서 최외곽 양측에 배치된 데이터 라인에 검사 신호가 인가되도록 하여 커버 글라스와의 미스 얼라인을 검출할 수 있다.According to the present invention, misalignment with the cover glass can be detected by applying the inspection signal to the data lines disposed on the outermost both sides of the display area of the display panel.

본 발명은 표시 패널의 데이터 구동부가 표시 패널에 부착되기 전 단색 패턴 불량 및 증착 불량을 검출할 수 있도록 구성됨으로써 표시 장치의 폐기 자재를 최소화하여 표시 장치의 제조 비용을 절감시킬 수 있다.According to the present invention, since the data driver of the display panel is configured to detect a monochromatic pattern defect and a deposition defect before being attached to the display panel, waste materials of the display device can be minimized, thereby reducing the manufacturing cost of the display device.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 발명 내에 포함되어 있다.The effect according to the present invention is not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 구조 일례를 개략적으로 도시한 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 공정 시 표시 패널을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 공정 후 표시 패널을 나타낸 평면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a display device according to an exemplary embodiment.
2 is a circuit diagram schematically illustrating an example of a pixel structure of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
3 is a plan view schematically illustrating a display panel during an inspection process according to an embodiment of the present invention.
4A and 4B are plan views schematically illustrating a portion of a non-display area of a display device according to the present invention.
5 is a plan view illustrating a display panel after an inspection process according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형상으로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different shapes, only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention pertains It is provided to fully inform those who have the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 면적, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 제한되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 발명 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.The shapes, areas, ratios, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are illustrative and the present invention is not limited to the illustrated matters. Like reference numerals refer to like elements throughout. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. When 'includes', 'have', 'consists of', etc. mentioned in the present invention are used, other parts may be added unless 'only' is used. When a component is expressed in the singular, cases including the plural are included unless otherwise explicitly stated.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다. In interpreting the components, it is construed as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, one or more other parts may be positioned between two parts unless 'directly' is used.

소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.Reference to a device or layer “on” another device or layer includes any intervening layer or other device directly on or in the middle of the other device or layer.

또한 제 1, 제 2 등이 다양한 구성 요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성 요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성 요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제 2 구성 요소일 수도 있다.Also, although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Like reference numerals refer to like elements throughout.

도면에서 나타난 각 구성의 면적 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 면적 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.The area and thickness of each component shown in the drawings are illustrated for convenience of description, and the present invention is not necessarily limited to the area and thickness of the illustrated component.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention can be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be independently implemented with respect to each other or implemented together in a related relationship. may be

본 발명에 따른 표시 장치는 기판 상에 표시 소자(또는, 발광 소자)가 형성된 표시 장치이다. 표시 장치는 전계 발광 표시 장치, 액정 표시 장치 등으로 구현될 수 있으나, 이하에서는 설명의 편의를 위해 유기 발광 다이오드를 포함하는 유기 발광 표시 장치인 경우를 예로 들어 설명한다.A display device according to the present invention is a display device in which a display element (or a light emitting element) is formed on a substrate. The display device may be implemented as an electroluminescent display device, a liquid crystal display device, or the like. Hereinafter, for convenience of description, an organic light emitting display device including an organic light emitting diode will be described as an example.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 화소 구조 일례를 개략적으로 도시한 회로도이다.1 is a plan view schematically illustrating a display device according to an exemplary embodiment. 2 is a circuit diagram schematically illustrating an example of a pixel structure of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130) 및 패널 검사부(140)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1 , the display device 100 may include a display panel 110 , a data driver 120 , a gate driver 130 , and a panel inspector 140 .

표시 패널(110)은 영상을 표시하는 표시 영역(AA)과 표시 영역(AA) 외측에 위치하여 표시 영역(AA)을 둘러싸는 비표시 영역(NA)을 포함한다. The display panel 110 includes a display area AA for displaying an image and a non-display area NA positioned outside the display area AA to surround the display area AA.

표시 영역(AA)에는 제1 방향(행 방향)과 제1 방향과 교차하는 제2 방향(열 방향)을 따라 매트릭스(Matrix) 형태로 배열되고, 영상을 표시하기 위한 복수의 화소(P)가 배치된다. In the display area AA, a plurality of pixels P for displaying an image are arranged in a matrix in a first direction (row direction) and a second direction (column direction) intersecting the first direction. are placed

각 화소(P)는, 도 2를 참조하면, 발광 다이오드(OLED) 및 발광 다이오드(OLED)를 구동하는 화소 구동 회로를 포함할 수 있다. 화소 구동 회로는 제1 트랜지스터(M1), 제2 트랜지스터(M2) 및 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다. 화소 구동 회로는, 이에 한정되는 것은 아니고, 이들 외에 다른 트랜지스터나 커패시터 등의 구동 소자가 더 구비될 수도 있다.Each pixel P may include a light emitting diode OLED and a pixel driving circuit for driving the light emitting diode OLED, referring to FIG. 2 . The pixel driving circuit may include a first transistor M1 , a second transistor M2 , and a capacitor Cst. The pixel driving circuit is not limited thereto, and other driving elements such as transistors or capacitors may be further provided in addition to these.

제1 트랜지스터(M1)는 게이트 라인(GL)을 통해 공급된 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 신호에 대응되는 데이터 전압이 커패시터(Cst)에 저장되도록 한다. 제1 트랜지스터(M1)는 데이터 라인(DL)에 제1 전극이 연결되고, 게이트 라인(GL)에 게이트 전극이 연결되며, 제2 트랜지스터(M2)에 제2 전극이 연결된다. 제1 트랜지스터(M1)의 제1 전극은 드레인 전극이고, 제2 전극은 소스 전극일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 제1 트랜지스터(M1)는 스위칭 트랜지스터라고 지칭될 수 있다.The first transistor M1 stores the data voltage corresponding to the data signal supplied through the data line DL in the capacitor Cst in response to the gate signal supplied through the gate line GL. The first transistor M1 has a first electrode connected to the data line DL, a gate electrode connected to the gate line GL, and a second electrode connected to the second transistor M2. The first electrode of the first transistor M1 may be a drain electrode, and the second electrode may be a source electrode, but is not limited thereto. The first transistor M1 may be referred to as a switching transistor.

제2 트랜지스터(M2)는 커패시터(Cst)에 저장된 데이터 전압에 따라 제1 전원 전압(EVDD)과 제2 전원 전압(VSS) 사이의 전원 라인(VL)에 전류가 흐르도록 한다. 제1 전원 전압(EVDD)은 제2 전원 전압(EVSS)보다 전압 레벨이 높을 수 있다. 보다 구체적으로, 제2 전원 전압(EVSS)은 접지일 수 있다. 제2 트랜지스터(M2)는 게이트 전극이 제1 트랜지스터(M1)에 연결되고, 제1 전극이 제1 전원 전압(EVDD)과 연결되며, 제2 전극이 발광 다이오드(OLED)에 연결될 수 있다. 제2 트랜지스터(M2)의 제1 전극은 드레인 전극이고, 제2 전극은 소스 전극일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 제2 트랜지스터(M2)는 구동 트랜지스터라고 지칭될 수 있다. The second transistor M2 allows a current to flow in the power line VL between the first power voltage EVDD and the second power voltage VSS according to the data voltage stored in the capacitor Cst. The first power voltage EVDD may have a higher voltage level than the second power voltage EVSS. More specifically, the second power voltage EVSS may be a ground. The second transistor M2 may have a gate electrode connected to the first transistor M1 , a first electrode connected to the first power voltage EVDD, and a second electrode connected to the light emitting diode OLED. The first electrode of the second transistor M2 may be a drain electrode, and the second electrode may be a source electrode, but is not limited thereto. The second transistor M2 may be referred to as a driving transistor.

커패시터(Cst)는 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 신호에 대응되는 데이터 전압을 저장한다. 커패시터(Cst)는 제1 트랜지스터(M1)에 제1 전극이 연결되고, 발광 다이오드(OLED)에 제2 전극이 연결된다.The capacitor Cst stores a data voltage corresponding to a data signal supplied through the data line DL. The capacitor Cst has a first electrode connected to the first transistor M1 and a second electrode connected to the light emitting diode OLED.

발광 다이오드(OLED)는 제2 트랜지스터(M2)에 연결된 애노드 전극과 제2 전원 전압(EVSS)에 연결된 캐소드 전극을 포함한다. 발광 다이오드(OLED)는 제2 트랜지스터(M2)에 의해 형성된 구동 전류가 애노드 전극에서 캐소드 전극으로 흐르면 전류의 양에 따라 빛을 발광할 수 있다. 발광 다이오드(OLED)는 적색, 녹색, 청색, 백색 중 어느 하나의 색을 발광할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. The light emitting diode OLED includes an anode electrode connected to the second transistor M2 and a cathode electrode connected to the second power voltage EVSS. The light emitting diode OLED may emit light according to the amount of current when the driving current formed by the second transistor M2 flows from the anode electrode to the cathode electrode. The light emitting diode (OLED) may emit any one of red, green, blue, and white, but is not limited thereto.

비표시 영역(NA)에는 칩 온 필름(Chip On Film; COF) 형식으로 배치된 데이터 구동부(120), 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 형태로 배치된 게이트 구동부(130) 및 데이터 구동부(120)의 외측에 배치되고 표시 패널(110)의 제조 공정 중 불량을 검출하기 위한 패널 검사부(140)를 포함할 수 있다.In the non-display area NA, the data driver 120 disposed in a chip on film (COF) format, the gate driver 130 disposed in a gate in panel (GIP) format, and a data driver ( The panel inspection unit 140 may be disposed outside the 120 and detect defects during the manufacturing process of the display panel 110 .

데이터 구동부(120)는 표시 영역(AA)에 배치된 화소(P)에 데이터 신호(또는 영상 신호)를 인가한다. 데이터 구동부(120)는 회로 필름(121) 및 회로 필름(121) 상에 배치된 구동 IC(122)를 포함한다. 회로 필름(121)은 구동 IC(122)에서 출력되는 데이터 신호를 표시 패널(110)에 전달하기 위한 신호 출력 패드가 배치되고, 신호 출력 패드는 ACF(Anisotropic Conductive Film)와 같은 접속 부재를 통해 표시 패널(110)의 비표시 영역(NA)에 배치된 복수의 데이터 패드에 접속될 수 있다. The data driver 120 applies a data signal (or an image signal) to the pixel P disposed in the display area AA. The data driver 120 includes a circuit film 121 and a driver IC 122 disposed on the circuit film 121 . In the circuit film 121 , a signal output pad for transmitting a data signal output from the driving IC 122 to the display panel 110 is disposed, and the signal output pad is displayed through a connection member such as an ACF (Anisotropic Conductive Film). It may be connected to a plurality of data pads disposed in the non-display area NA of the panel 110 .

게이트 구동부(130)는 표시 영역(AA)에 배치된 화소(P)에 게이트 신호를 인가한다. 게이트 구동부(130)는 화소(P)의 구동 소자를 형성하는 과정에서 비표시 영역(NA)에 직접 형성될 수 있다. 도 1에서, 게이트 구동부(130)가 GIP 형태로 배치된 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 게이트 구동부(130)는 데이터 구동부(120)가 표시 패널(110)에 실장되는 방식인 COF 방식으로도 배치될 수 있고, 또는 COG 방식으로 배치될 수도 있다.The gate driver 130 applies a gate signal to the pixel P disposed in the display area AA. The gate driver 130 may be directly formed in the non-display area NA during the process of forming the driving element of the pixel P. In FIG. 1 , the gate driver 130 is illustrated as being disposed in a GIP shape, but is not limited thereto. For example, the gate driver 130 may be disposed in a COF method, which is a method in which the data driver 120 is mounted on the display panel 110 , or may be disposed in a COG method.

패널 검사부(140)는 데이터 구동부(120)와 근접하게 배치되고, 표시 패널(110)의 제조 공정 중 발생한 불량을 검출할 수 있다. 보다 구체적으로, 패널 검사부(140)는 데이터 구동부(120)와 연결되는 복수의 데이터 패드에 검사 신호를 인가하여 표시 패널(110)의 제조 공정 중 발생된 불량을 검출할 수 있다. 패널 검사부(140)는 화질 불량을 유발하는 단색 패턴 불량(White, Black, Gray, RGB 등)을 검출할 수 있을 뿐만 아니라, 신뢰성 저하를 유발하는 발광 소자 제조 중 증착 이상을 검출할 수 있다. 이러한 패널 검사부(140)는 이하의 도 3 내지 도 4b를 참조하여 보다 상세히 살펴보기로 한다.The panel inspecting unit 140 is disposed adjacent to the data driving unit 120 , and may detect a defect occurring during the manufacturing process of the display panel 110 . More specifically, the panel inspector 140 may detect a defect occurring during the manufacturing process of the display panel 110 by applying inspection signals to a plurality of data pads connected to the data driver 120 . The panel inspector 140 may detect monochromatic pattern defects (white, black, gray, RGB, etc.) that cause image quality defects, as well as detect deposition abnormalities during manufacturing of light emitting devices that cause reliability degradation. The panel inspection unit 140 will be described in more detail with reference to FIGS. 3 to 4B below.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 공정 시 표시 패널을 나타낸 평면도이다. 도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 표시 장치의 패널 검사부의 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 공정 후 표시 패널을 나타낸 평면도이다.3 is a plan view illustrating a display panel during an inspection process according to an embodiment of the present invention. 4A and 4B are diagrams illustrating another exemplary embodiment of a panel inspection unit of a display device according to the present invention. 5 is a plan view illustrating a display panel after an inspection process according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하기 전에, 표시 패널(110)에 대한 제조 공정이 완료되면 이에 대해 오토 프로브(auto probe)를 이용한 검사 공정이 수행되는데, 도 3은 검사 공정 시의 표시 패널(110)을 도시한 것으로, 레이져 컷팅 공정이 진행되기 전의 모기판 상태의 표시 패널(110)을 도시한 도면이다. 즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 레이저 컷팅 전 모기판 상태에서 검사 공정이 이루어질 수 있다.Before referring to FIG. 3 , when the manufacturing process of the display panel 110 is completed, an inspection process using an auto probe is performed thereon. FIG. 3 illustrates the display panel 110 during the inspection process. That is, it is a view showing the display panel 110 in the state of the mother substrate before the laser cutting process is performed. That is, in the display device 100 according to an embodiment of the present invention, the inspection process may be performed in the state of the mother substrate before laser cutting.

도 3을 참조하면, 표시 패널(110)의 표시 영역(AA)에는 제1 방향으로 배치된 복수의 게이트 라인(GL1, GL2, …GLm) 및 제1 방향과 교차하는 방향인 제2 방향으로 배치된 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, …DLn-1, DLn)이 배치된다. Referring to FIG. 3 , in the display area AA of the display panel 110 , a plurality of gate lines GL1 , GL2 , ... GLm are disposed in a first direction and disposed in a second direction crossing the first direction. A plurality of data lines DL1, DL2, ... DLn-1, DLn are arranged.

표시 패널(110)의 비표시 영역(NA)에는 데이터 구동부(120)와 접속되어 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, …DLn-1, DLn)에 데이터 신호를 인가하기 위한 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 및 표시 패널(110)의 제조 공정 중 발생된 불량을 검사하기 위한 패널 검사부(140)가 배치될 수 있다. In the non-display area NA of the display panel 110 , the data signal is applied to the plurality of data lines DL1 , DL2 , ... DLn-1 , DLn connected to the data driver 120 and disposed in the display area AA. A plurality of data pads DP1 , DP2 , ... DPn-1, DPn may be disposed to inspect the plurality of data pads DP1 , DP2 ...

복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)는 표시 패널(110)의 비표시 영역(NA)의 일측 가장자리에 배치될 수 있다. 보다 구체적으로 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)는 비표시 영역(NA)의 가장자리에서 제1 방향으로 배치되고, 복수의 연결 라인(CL)에 의해 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, …DLn-1, DLn)과 연결된다.The plurality of data pads DP1 , DP2 , ... DPn-1 , DPn may be disposed at one edge of the non-display area NA of the display panel 110 . More specifically, the plurality of data pads DP1 , DP2 , ... DPn-1 , DPn are disposed in the first direction from the edge of the non-display area NA, and are connected to the display area AA by the plurality of connection lines CL. It is connected to a plurality of data lines DL1, DL2, ... DLn-1, DLn disposed in .

패널 검사부(140)는 표시 패널(110)의 비표시 영역(NA)에서 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)와 근접하게 배치될 수 있다. 보다 구체적으로, 패널 검사부(140)는 검사 공정 후 데이터 구동부(120)가 부착되는 외곽 지역에 배치될 수 있다. 패널 검사부(140)는 외부로부터 다수의 검사 신호를 인가받는 검사 패드부(141) 및 검사 패드부(141)를 통해 인가된 검사 신호가 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)로 인가되는 것을 제어하는 검사 스위칭부(142)를 포함할 수 있다.The panel inspector 140 may be disposed adjacent to the plurality of data pads DP1, DP2, ...DPn-1, DPn in the non-display area NA of the display panel 110 . More specifically, the panel inspection unit 140 may be disposed in an outer region to which the data driver 120 is attached after the inspection process. The panel inspecting unit 140 includes an inspection pad unit 141 to which a plurality of inspection signals are applied from the outside, and a plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn, in which inspection signals applied through the inspection pad unit 141 are applied. ) may include a test switching unit 142 that controls the application.

검사 패드부(141)는 오토 프로브 검사 장치에 대응되는 검사 핀에 접속되어 검사 신호를 인가받을 수 있다. 검사 패드부(141)는 제1 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드(AP1), 제2 검사 데이터 신호를 인가받는 제2 검사 패드(AP2) 및 검사 인에이블(enable) 신호를 인가받는 제3 검사 패드(AP3)를 포함할 수 있다.The test pad unit 141 may be connected to a test pin corresponding to the auto probe test apparatus to receive a test signal. The test pad unit 141 includes a first test pad AP1 that receives a first test data signal, a second test pad AP2 that receives a second test data signal, and a first test pad that receives an enable signal. 3 may include a test pad AP3.

제1 검사 패드(AP1)는 단색 패턴 불량(White, Black, Gray, RGB 등)을 검출할 수 있는 제1 검사 데이터 신호를 인가받을 수 있다. 제1 검사 패드(AP1)는 제1 검사 라인(APL1) 및 복수의 검사 연결 라인(APCL)을 통해 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)에 제1 검사 데이터 신호를 인가할 수 있다.The first test pad AP1 may receive a first test data signal capable of detecting a monochromatic pattern defect (white, black, gray, RGB, etc.). The first test pad AP1 applies a first test data signal to the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn through the first test line APL1 and the plurality of test connection lines APCL. can do.

제2 검사 패드(AP2)는 발광 소자 제조 중 증착 이상을 검출할 수 있는 제2 검사 데이터 신호를 인가받을 수 있다. 제2 검사 패드(AP2)는 제2 검사 라인(AP2) 및 복수의 검사 연결 라인(APCL) 중 제1 방향으로 배열된 최외곽 양측에 배열된 제1 복수의 검사 연결 라인(APCL1) 및 제n 복수의 검사 연결 라인(APCLn)을 통해 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 중 제1 방향으로 최외곽 양측에 배열된 제1 데이터 패드(DP1) 및 제n 데이터 패드(DPn)에 제2 검사 데이터 신호를 인가할 수 있다.The second inspection pad AP2 may receive a second inspection data signal capable of detecting a deposition abnormality during manufacturing of the light emitting device. The second test pad AP2 includes a plurality of first test connection lines APCL1 and an nth test connection line APCL1 arranged on both outermost sides arranged in the first direction among the second test line AP2 and the plurality of test connection lines APCL. The first data pad DP1 and the n-th data pad DP1 and the n-th data pad DP1 and n-th data pads DP1 and n-th data pads DP1 and n-th data pads DP1 and n-th data pads DP1, DP2 ... A second test data signal may be applied to DPn).

제3 검사 패드(AP3)는 제1 검사 데이터 신호 및 제2 검사 데이터 신호를 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 각각 또는 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 중 적어도 하나 이상에 인가하는 것을 제어할 수 있는 검사 인에이블 신호를 인가받을 수 있다. 제3 검사 패드(AP3)는 제3 검사 라인(AP3)를 통해 검사 스위칭부(142)와 연결될 수 있다.The third test pad AP3 transmits the first test data signal and the second test data signal to each of the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn or the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn- 1, DPn) may be applied with a test enable signal that can control the application to at least one. The third test pad AP3 may be connected to the test switching unit 142 through the third test line AP3 .

검사 스위칭부(142)는 검사 과정에서 턴온(또는 인에이블)되어 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)에 제1 검사 데이터 신호 및 제2 검사 데이터 신호를 전달할 수 있다. 검사 스위칭부(142)는 복수의 트랜지스터(TR1, TR2, …TRn-1, TRn)로 이루어질 수 있다. 보다 구체적으로, 복수의 트랜지스터(TR1, TR2, …TRn-1, TRn) 각각은 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 각각과 대응되도록 배치될 수 있다. 각각의 트랜지스터의 게이트 단자는 검사 인에이블 신호 단자와 공통으로 접속되어 있다. 각각의 트랜지스터의 소스 단자는 검사 제어 신호를 전달하는 제3 검사 신호 라인(APL3)과 연결되고, 드레인 단자는 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 중 해당 데이터 패드와 연결되어 해당 트랜지스터가 턴온된 경우 해당 데이터 패드에 제1 검사 데이터 신호 또는 제2 검사 데이터 신호를 전달하는 복수의 검사 연결 라인(APCL1, …APCLn)과 연결될 수 있다.The test switching unit 142 may be turned on (or enabled) during the test process to transmit the first test data signal and the second test data signal to the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn. The test switching unit 142 may include a plurality of transistors TR1, TR2, ... TRn-1, TRn. More specifically, each of the plurality of transistors TR1 , TR2 , ... TRn-1, TRn may be disposed to correspond to each of the plurality of data pads DP1 , DP2 , ... DPn-1, DPn. A gate terminal of each transistor is commonly connected to a test enable signal terminal. The source terminal of each transistor is connected to the third test signal line APL3 transmitting the test control signal, and the drain terminal is connected to a corresponding data pad among the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn. Thus, when the corresponding transistor is turned on, it may be connected to a plurality of test connection lines APCL1 , ...APCLn that transmits the first test data signal or the second test data signal to the corresponding data pad.

이러한 패널 검사부(140)의 동작 중 단색 패턴 불량(White, Black, Gray, RGB 등)을 검출하는 동작에 대해 보다 상세히 살펴보면, 제3 검사 패드(AP3)에 검사 인에이블 신호가 인가되면 검사 스위칭부(142)의 모든 트랜지스터들이 턴온(turn on)된다. Looking at the operation of detecting a monochromatic pattern defect (white, black, gray, RGB, etc.) during the operation of the panel inspecting unit 140 in more detail, when the inspection enable signal is applied to the third inspection pad AP3, the inspection switching unit All transistors in (142) are turned on.

제1 검사 패드(AP1)에 제1 검사 데이터 신호가 인가되면 제1 검사 라인(APL1)을 통해 제1 검사 데이터 신호가 검사 스위칭부(142)에 전달되고 턴온된 검사 스위칭부(142)를 거쳐 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)에 제1 검사 데이터 신호가 공급된다. 이렇게 공급된 제1 검사 데이터 신호는 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, …DLm-1, DLm)을 통해 각 화소(P)에 전달되고 표시 패널(110)의 단색 패턴 불량을 검출할 수 있다.When the first inspection data signal is applied to the first inspection pad AP1 , the first inspection data signal is transmitted to the inspection switching unit 142 through the first inspection line APL1 and passes through the turned-on inspection switching unit 142 . The first test data signal is supplied to the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn. The supplied first inspection data signal is transmitted to each pixel P through a plurality of data lines DL1, DL2, ...DLm-1, DLm disposed in the display area AA, and the single color of the display panel 110 is displayed. Pattern defects can be detected.

한편, 패널 검사부(140)의 동작 중 발광 소자 증착 불량을 검출하는 동작에 대해 보다 상세히 살펴보면, 제3 검사 패드(AP3)에 검사 인에이블 신호가 인가되면 검사 스위칭부(142) 중 제1 방향으로 최외곽 양측에 배치된 제1 트랜지스터(TR1) 및 제n 트랜지스터(TRn)가 턴온(turn on)된다. Meanwhile, referring to the operation of detecting the light emitting device deposition defect during the operation of the panel inspection unit 140 in more detail, when the inspection enable signal is applied to the third inspection pad AP3, the inspection switch unit 142 moves in the first direction. The first transistor TR1 and the n-th transistor TRn disposed on the outermost both sides are turned on.

제2 검사 패드(AP2)에 제2 검사 데이터 신호가 인가되면 제2 검사 라인(APL2)을 통해 제2 검사 데이터 신호가 검사 스위칭부(142)에 전달되고 턴온된 제1 트랜지스터(TR1) 및 제n 트랜지스터(TRn))를 거쳐 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn) 중 제1 방향의 최외곽 양측에 배치된 제1 데이터 패드(DP1) 및 제n 데이터 패드(DPn)에 제2 검사 데이터 신호가 공급된다. 이렇게 제1 데이터 패드(DP1) 및 제n 데이터 패드(DPn)에 전달된 제2 검사 데이터 신호는 표시 영역(AA)에 배치된 해당 데이터 라인을 통해 화소(P)에 공급되고 화소 발광색으로 인해 증착 불량을 판단할 수 있다. 왜냐하면, 화소(P)를 이루는 유기층 재료가 제대로 증착이 되지 않은 경우 화소가 제대로 발광되지 않을 수 있기 때문이다. 또한, 복수의 데이터 라인 중 최외곽 양측 데이터 라인을 통해 검사하는 이유는 유기층 증착 공정이 각각의 화소(P) 별로 이루어지는 것이 아니라 기판 전체로 유기층 증착 공정이 이루어지기 때문에 최외곽 양측 데이터 라인만을 통해서 유기층 증착 불량을 검출할 수 있기 때문이다. 또한, 본 발명에 따른 표시 장치(100)는 최외곽 양측 데이터 라인을 통해 제2 검사 데이터 신호를 인가함으로써 표시 패널(110)과 커버 글라스 간의 미스 얼라인(align) 또한 검출할 수 있다. When the second test data signal is applied to the second test pad AP2 , the second test data signal is transmitted to the test switching unit 142 through the second test line APL2 , and the turned-on first transistor TR1 and the first transistor TR1 A first data pad DP1 and an n-th data pad DPn disposed at outermost sides in the first direction among the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn via the n transistor TRn) A second test data signal is supplied to the In this way, the second inspection data signal transferred to the first data pad DP1 and the n-th data pad DPn is supplied to the pixel P through a corresponding data line disposed in the display area AA, and is deposited due to the pixel emission color. defects can be judged. This is because, if the organic layer material constituting the pixel P is not properly deposited, the pixel may not emit light properly. In addition, the reason for the inspection through the data lines on both outermost sides of the plurality of data lines is that the organic layer deposition process is performed on the entire substrate instead of for each pixel (P). This is because deposition defects can be detected. In addition, the display device 100 according to the present invention may also detect misalignment between the display panel 110 and the cover glass by applying the second inspection data signal through the outermost both data lines.

이와 같은 검사 과정이 완료되면 표시 패널(110)은 컷팅 라인(CL)을 따라 절단되고, 이에 따라, 검사 스위칭부(142)는 제거되고, 검사 패드부(141)만이 완성품에 잔존하게 된다. 즉, 완성품의 표시 패널(110)에는 검사 패드부(141)만이 잔존하게 되는데, 이에 한정되는 것은 아니고, 검사 패드부(141)의 일부만이 잔존하게 될 수도 있다.When the inspection process is completed, the display panel 110 is cut along the cutting line CL. Accordingly, the inspection switching unit 142 is removed, and only the inspection pad unit 141 remains in the finished product. That is, only the inspection pad unit 141 remains in the display panel 110 of the finished product, but the present invention is not limited thereto, and only a portion of the inspection pad unit 141 may remain.

또한, 본 발명에 따른 표시 장치(100)는 패널 검사부(140)는 다른 형태로 구성될 수도 있다. Also, in the display device 100 according to the present invention, the panel inspection unit 140 may be configured in a different shape.

도 4a를 참조하면, 다른 실시예에 따른 패널 검사부(140')는 검사 패드부(141')의 구성이 도 3의 검사 패드부(141)와 다른 구성을 가질 수 있다. Referring to FIG. 4A , the panel inspection unit 140 ′ according to another exemplary embodiment may have a configuration different from that of the inspection pad unit 141 of FIG. 3 .

다른 실시예에 따른 패널 검사부(140')의 검사 패드부(141')는 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드(AP1), 제1 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드(AP3) 및 제2 검사 인에이블 신호를 인가받는 제4 검사 패드(AP4)로 이루어질 수 있다. 여기서, 제1 검사 인에이블 신호는 도 3의 검사 인에이블 신호와 동일한 신호일 수 있다.According to another exemplary embodiment, the test pad unit 141 ′ of the panel inspecting unit 140 ′ includes a first test pad AP1 receiving the test data signal and a third test pad AP3 receiving the first test enable signal. and a fourth test pad AP4 to which the second test enable signal is applied. Here, the first test enable signal may be the same as the test enable signal of FIG. 3 .

이와 같이, 도 4a에서는 제1 검사 인에이블 신호와 제2 검사 인에이블 신호를 구분하여 인가하고, 단색 패턴 불량을 검사한 후, 제2 검사 인에이블 신호를 인가하여 제1 방향으로 최외곽 양측에 배치된 제1 트랜지스터(TR1) 및 제n 트랜지스터(TRn)만이 턴온되도록 하여 제1 방향으로 최외곽 양측에 배치된 제1 데이터 패드(DP1) 및 제n 데이터 패드(DPn)에 제1 검사 데이터 신호가 인가되도록 하여 유기층 증착 불량도 검출할 수 있다.As described above, in FIG. 4A, the first inspection enable signal and the second inspection enable signal are separately applied, and after inspecting the monochromatic pattern defect, the second inspection enable signal is applied to the outermost both sides in the first direction. The first test data signal is applied to the first data pad DP1 and the n-th data pad DPn disposed on the outermost both sides in the first direction by turning only the first transistor TR1 and the n-th transistor TRn on. is applied to detect a defect in the deposition of the organic layer.

한편, 도 4b를 참조하면, 또다른 실시예에 따른 패널 검사부(140'')는 검사 패드부(141')의 구성은 도 4a와 동일하되, 검사 스위칭부(142')의 구성이 도 3 및 도 4a와 다른 구성을 가질 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 4B , in the panel inspection unit 140 ″ according to another embodiment, the configuration of the inspection pad unit 141 ′ is the same as that of FIG. 4A , but the configuration of the inspection switching unit 142 ′ is shown in FIG. 3 . And it may have a configuration different from that of FIG. 4A.

도 4b를 참조하면, 또다른 실시예에 따른 패널 검사부(140'')의 검사 패드부(141')는, 도 4a와 동일하게, 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드(AP1), 제1 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드(AP3) 및 제2 검사 인에이블 신호를 인가받는 제4 검사 패드(AP4)로 이루어질 수 있다.Referring to FIG. 4B , the test pad unit 141 ′ of the panel inspecting unit 140 ″ according to another exemplary embodiment includes a first inspection pad AP1 to which an inspection data signal is applied, and a second inspection pad unit 141 ′ to which an inspection data signal is applied, as in FIG. 4A . The first test enable signal may be applied to the third test pad AP3 and the second test enable signal may be applied to the fourth test pad AP4 .

검사 스위칭부(142')는 제1 방향으로 배열된 복수 개의 트랜지스터(TR1, TR2, …TRn-1, TRn)로 구성된 제1 스위칭부(142a) 및 복수 개의 트랜지스터(TR1, TR2, …TRn-1, TRn) 중 최외곽 양측에 배치된 제1 트랜지스터(TR1) 및 제n 트랜지스터(TRn) 각각과 제2 방향으로 연결된 제1-1 트랜지스터(TR11) 및 제n-1 트랜지스터(TRn1)를 더 포함하는 제2 스위칭부(142b)를 포함할 수 있다.The inspection switching unit 142' includes a first switching unit 142a including a plurality of transistors TR1, TR2, ...TRn-1, TRn arranged in a first direction, and a plurality of transistors TR1, TR2, ...TRn- 1, TRn), the first transistor TR1 and the n-th transistor TRn disposed on the outermost sides, respectively, and the 1-1-th transistor TR11 and the n-1 th transistor TRn1 connected in the second direction are further added A second switching unit 142b may be included.

단색 패턴 불량을 검출한 후, 검사 스위칭부(142')는 제4 검사 패드(AP4)를 통해 인가된 제2 검사 인에이블 신호가 인가되면 제1-1 트랜지스터(TR1) 및 제n-1 트랜지스터(TRn-1)가 턴온되고, 제1 방향으로 최외곽 양측에 배치된 제1 데이터 패드(DP1) 및 제n 데이터 패드(DPn)에 검사 데이터 신호가 인가되어 유기층 증착 불량도 검출할 수 있다.After detecting the monochromatic pattern defect, when the second inspection enable signal applied through the fourth inspection pad AP4 is applied to the inspection switching unit 142 ′, the 1-1 th transistor TR1 and the n-1 th transistor TR1 TRn-1 is turned on, and an inspection data signal is applied to the first data pad DP1 and the n-th data pad DPn disposed on both outermost sides in the first direction to detect a defect in the deposition of the organic layer.

도 5를 참조하면, 상술한 검사가 완료된 후, 레이저 컷팅 공정을 통해 레이저 컷팅 라인 상에 있는 배선들을 모두 절단할 수 있다. 이에, 패널 검사부(140)는 복수의 데이터 패드(DP1, DP2, …DPn-1, DPn)와 분리될 수 있다.Referring to FIG. 5 , after the above-described inspection is completed, all wirings on the laser cutting line may be cut through a laser cutting process. Accordingly, the panel inspector 140 may be separated from the plurality of data pads DP1, DP2, ... DPn-1, DPn.

본 발명의 다양한 실시예들에 따른 표시 장치는 다음과 같이 설명될 수 있다.A display device according to various embodiments of the present disclosure may be described as follows.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 패널의 표시 영역에 배치되고, 제1 방향으로 배열된 복수의 게이트 라인과 제1 방향과 교차하는 방향인 제2 방향으로 배열된 복수의 데이터 라인에 의해 정의된 복수의 화소, 표시 패널의 비표시 영역의 일측 가장자리에 배치되고, 복수의 데이터 라인 각각과 대응하여 연결된 복수의 데이터 패드 및 표시 패널의 비표시 영역에 배치되고, 복수의 데이터 패드와 연결되며, 복수의 화소의 단색 패턴 불량 및 증착 불량 검출 검사를 수행하는 패널 검사부를 포함하고, 패널 검사부는 증착 불량 검출 시 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측에 배치된 데이터 패드에만 검사 신호가 인가되도록 구성될 수 있다.A display device according to an embodiment of the present invention is disposed in a display area of a display panel, and includes a plurality of gate lines arranged in a first direction and a plurality of data lines arranged in a second direction intersecting the first direction. a plurality of pixels defined by: a plurality of data pads disposed on one edge of a non-display area of the display panel and connected to each of the plurality of data lines; and a panel inspection unit configured to perform inspection for detecting monochromatic pattern defects and deposition defects of a plurality of pixels, and the panel inspection unit is configured such that the inspection signal is applied only to the data pads disposed on the outermost sides among the plurality of data pads when the deposition defect is detected can be

본 발명의 다른 특징에 따르면, 패널 검사부는 외부 검사 장치로부터 제1 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드, 제2 검사 데이터 신호를 인가받는 제2 검사 패드 및 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드를 포함하는 검사 패드부 및 검사 인에이블 신호가 인가되면 제1 검사 데이터 신호 또는 제2 검사 데이터 신호가 해당 데이터 패드에 인가되도록 제어하는 검사 스위칭부를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, the panel inspector includes a first inspection pad receiving a first inspection data signal from an external inspection apparatus, a second inspection pad receiving a second inspection data signal, and a third inspection enable signal receiving the test enable signal. It may include a test pad unit including a test pad and a test switching unit controlling the first test data signal or the second test data signal to be applied to the corresponding data pad when the test enable signal is applied.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 검사 데이터 신호는 복수의 화소의 단색 패턴 불량을 검출하기 위한 신호이고, 제2 검사 데이터 신호는 복수의 화소의 유기층 증착 불량을 검출하기 위한 신호일 수 있다.According to still another feature of the present invention, the first inspection data signal may be a signal for detecting a monochromatic pattern defect of the plurality of pixels, and the second inspection data signal may be a signal for detecting an organic layer deposition defect of the plurality of pixels.

본 발명의 또 따른 특징에 따르면, 검사 스위칭부는 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어지고, 검사 인에이블 신호가 인가되면 복수의 트랜지스터는 턴온될 수 있다.According to another aspect of the present invention, the test switching unit may include a plurality of transistors arranged in a first direction to correspond to a plurality of data pads, respectively, and when a test enable signal is applied, the plurality of transistors may be turned on.

본 발명의 또 따른 특징에 따르면, 패널 검사부는 단색 패턴 불량 검출 시 제1 검사 데이터 신호가 복수의 트랜지스터를 통해 복수의 데이터 패드 신호 각각에 인가되도록 구성되고, 유기층 증착 불량 검출 시에는 제2 검사 데이터 신호가 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측 트랜지스터를 통해 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측 데이터 패드에만 인가되도록 구성될 수 있다.According to another feature of the present invention, the panel inspection unit is configured to apply a first inspection data signal to each of a plurality of data pad signals through a plurality of transistors when a monochromatic pattern defect is detected, and a second inspection data signal when an organic layer deposition defect is detected. The signal may be configured to be applied only to the outermost both data pads among the plurality of data pads through the outermost both side transistors among the plurality of transistors.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 패널 검사부는 외부 검사 장치로부터 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드, 제1 검사 인에이블 신호를 인가받는 제2 검사 패드 및 제2 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드를 포함하는 검사 패드부 및 제1 검사 인에이블 신호가 인가되면 검사 데이터 신호를 복수의 데이터 패드에 인가되도록 하고, 제2 검사 인에이블 신호가 인가되면 검사 데이터 신호를 해당 데이터 패드에 인가되도록 하는 검사 스위칭부를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, the panel inspection unit receives the first inspection pad receiving the inspection data signal from the external inspection device, the second inspection pad receiving the first inspection enable signal, and the second inspection enable signal. When the test pad unit including the third test pad and the first test enable signal is applied, the test data signal is applied to the plurality of data pads, and when the second test enable signal is applied, the test data signal is applied to the corresponding data pad It may include a test switching unit to be applied.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 검사 인에이블 신호는 복수의 화소의 단색 패턴 불량 검출 시 검사 스위칭부에 인가되는 신호이고, 제2 검사 인에이블 신호는 복수의 화소의 유기층 증착 검출 시 검사 스위칭부에 인가되는 신호일 수 있다.According to another aspect of the present invention, the first inspection enable signal is a signal applied to the inspection switching unit when a monochromatic pattern defect of the plurality of pixels is detected, and the second inspection enable signal is inspected when the organic layer deposition of the plurality of pixels is detected. It may be a signal applied to the switching unit.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 검사 스위칭부는 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어지고, 제2 검사 인에이블 신호가 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측에 배치된 트랜지스터에만 인가되도록 구성될 수 있다.According to another feature of the present invention, the test switching unit includes a plurality of transistors arranged in a first direction to correspond to a plurality of data pads, respectively, and a second test enable signal is disposed on both outermost sides of the plurality of transistors. It may be configured to be applied only to a transistor.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 검사 스위칭부는 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어진 제1 스위칭부 및 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측에 배치된 트랜지스터들과 연결된 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터를 포함하여 구성된 제2 스위칭부를 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the test switching unit is connected to the first switching unit including a plurality of transistors disposed in a first direction to correspond to the plurality of data pads, respectively, and transistors disposed on outermost sides of the plurality of transistors. It may include a second switching unit including the first transistor and the second transistor.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 스위칭부에는 제1 검사 인에이블 신호가 인가되고, 제2 스위칭부에는 제2 검사 인에이블 신호가 인가될 수 있다.According to another feature of the present invention, a first test enable signal may be applied to the first switching unit, and a second test enable signal may be applied to the second switching unit.

본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 표시 장치는 복수의 화소 각각에 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하고, 데이터 구동부는 칩 온 필름 방식으로 표시 패널에 부착될 수 있다.According to another feature of the present invention, the display device further includes a data driver for applying a data signal to each of the plurality of pixels, and the data driver may be attached to the display panel in a chip-on-film method.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although embodiments of the present invention have been described in more detail with reference to the accompanying drawings, the present invention is not necessarily limited to these embodiments, and various modifications may be made within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. . Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to explain, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive. The protection scope of the present invention should be construed by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 표시 장치
110: 표시 패널
120: 데이터 구동부
121: 회로 필름
122: 구동 IC
130: 게이트 구동부
140: 패널 검사부
141: 검사 패드부
142: 검사 스위칭부
AA: 표시 영역
NA: 비표시 영역
DP1, DP2, …DPn-1, DPn: 데이터 패드
AP1: 제1 검사 패드
AP2: 제2 검사 패드
AP3: 제3 검사 패드
AP4: 제4 검사 패드
TR1, TR2, …TRn-1, TRn: 트랜지스터100: display device
110: display panel
120: data driving unit
121: circuit film
122: driving IC
130: gate driver
140: panel inspection unit
141: test pad part
142: inspection switching unit
AA: display area
NA: non-display area
DP1, DP2, … DPn-1, DPn: data pad
AP1: first test pad
AP2: second test pad
AP3: Third test pad
AP4: Fourth Inspection Pad
TR1, TR2, … TRn-1, TRn: Transistors

Claims (11)

표시 패널의 표시 영역에 배치되고, 제1 방향으로 배열된 복수의 게이트 라인과 상기 제1 방향과 교차하는 방향인 제2 방향으로 배열된 복수의 데이터 라인에 의해 정의된 복수의 화소;
상기 표시 패널의 비표시 영역의 일측 가장자리에 배치되고, 상기 복수의 데이터 라인 각각과 대응하여 연결된 복수의 데이터 패드; 및
상기 표시 패널의 비표시 영역에 배치되고, 상기 복수의 데이터 패드와 연결되며, 상기 복수의 화소의 단색 패턴 불량 및 증착 불량 검출 검사를 수행하는 패널 검사부를 포함하고,
상기 패널 검사부는 상기 증착 불량 검출 시 상기 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측에 배치된 데이터 패드에만 검사 신호가 인가되도록 하는, 표시 장치.a plurality of pixels disposed in the display area of the display panel and defined by a plurality of gate lines arranged in a first direction and a plurality of data lines arranged in a second direction intersecting the first direction;
a plurality of data pads disposed on one edge of a non-display area of the display panel and connected to each of the plurality of data lines; and
and a panel inspection unit disposed in a non-display area of the display panel, connected to the plurality of data pads, and configured to perform a monochromatic pattern defect and deposition defect detection inspection of the plurality of pixels;
The panel inspection unit applies an inspection signal to only the data pads disposed on the outermost sides among the plurality of data pads when the deposition defect is detected. 제1항에 있어서, 상기 패널 검사부는,
외부 검사 장치로부터 제1 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드, 제2 검사 데이터 신호를 인가받는 제2 검사 패드 및 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드를 포함하는 검사 패드부; 및
상기 검사 인에이블 신호가 인가되면 상기 제1 검사 데이터 신호 또는 상기 제2 검사 데이터 신호가 해당 데이터 패드에 인가되도록 제어하는 검사 스위칭부를 포함하는, 표시 장치.According to claim 1, wherein the panel inspection unit,
an examination pad unit including a first examination pad receiving a first examination data signal from an external examination apparatus, a second examination pad receiving a second examination data signal, and a third examination pad receiving an examination enable signal; and
and a test switching unit controlling the first test data signal or the second test data signal to be applied to a corresponding data pad when the test enable signal is applied. 제2항에 있어서,
상기 제1 검사 데이터 신호는 상기 복수의 화소의 단색 패턴 불량을 검출하기 위한 신호이고,
상기 제2 검사 데이터 신호는 상기 복수의 화소의 유기층 증착 불량을 검출하기 위한 신호인, 표시 장치.3. The method of claim 2,
The first inspection data signal is a signal for detecting a monochromatic pattern defect of the plurality of pixels,
The second inspection data signal is a signal for detecting a deposition defect of the organic layer of the plurality of pixels. 제3항에 있어서,
상기 검사 스위칭부는 상기 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 상기 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어지고, 상기 검사 인에이블 신호가 인가되면 상기 복수의 트랜지스터는 턴온되는, 표시 장치.4. The method of claim 3,
The test switching unit includes a plurality of transistors disposed in the first direction to correspond to the plurality of data pads, respectively, and the plurality of transistors are turned on when the test enable signal is applied. 제4항에 있어서,
상기 패널 검사부는,
상기 단색 패턴 불량 검출 시 상기 제1 검사 데이터 신호가 상기 복수의 트랜지스터를 통해 상기 복수의 데이터 패드 신호 각각에 인가되도록 구성되고,
상기 유기층 증착 불량 검출 시에는 상기 제2 검사 데이터 신호가 상기 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측 트랜지스터를 통해 상기 복수의 데이터 패드 중 최외곽 양측 데이터 패드에만 인가되도록 구성된, 표시 장치.5. The method of claim 4,
The panel inspection unit,
and the first inspection data signal is applied to each of the plurality of data pad signals through the plurality of transistors when the monochromatic pattern defect is detected;
and when the organic layer deposition defect is detected, the second inspection data signal is applied only to the outermost both data pads of the plurality of data pads through the outermost both sides of the plurality of transistors. 제1항에 있어서, 상기 패널 검사부는,
외부 검사 장치로부터 검사 데이터 신호를 인가받는 제1 검사 패드, 제1 검사 인에이블 신호를 인가받는 제2 검사 패드 및 제2 검사 인에이블 신호를 인가받는 제3 검사 패드를 포함하는 검사 패드부; 및
상기 제1 검사 인에이블 신호가 인가되면 상기 검사 데이터 신호를 복수의 데이터 패드에 인가되도록 하고, 상기 제2 검사 인에이블 신호가 인가되면 상기 검사 데이터 신호를 해당 데이터 패드에 인가되도록 하는 검사 스위칭부를 포함하는, 표시 장치. According to claim 1, wherein the panel inspection unit,
a test pad unit including a first test pad receiving a test data signal from an external test apparatus, a second test pad receiving a first test enable signal, and a third test pad receiving a second test enable signal; and
and a test switching unit configured to apply the test data signal to the plurality of data pads when the first test enable signal is applied, and apply the test data signal to the corresponding data pads when the second test enable signal is applied. which is a display device. 제6항에 있어서,
상기 제1 검사 인에이블 신호는 상기 복수의 화소의 단색 패턴 불량 검출 시 상기 검사 스위칭부에 인가되는 신호이고,
상기 제2 검사 인에이블 신호는 상기 복수의 화소의 유기층 증착 검출 시 상기 검사 스위칭부에 인가되는 신호인, 표시 장치.7. The method of claim 6,
The first inspection enable signal is a signal applied to the inspection switching unit when a monochromatic pattern defect of the plurality of pixels is detected;
The second inspection enable signal is a signal applied to the inspection switching unit when the organic layer deposition of the plurality of pixels is detected. 제7항에 있어서,
상기 검사 스위칭부는,
상기 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 상기 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어지고, 상기 제2 검사 인에이블 신호가 상기 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측에 배치된 트랜지스터에만 인가되도록 구성된, 표시 장치.8. The method of claim 7,
The inspection switching unit,
A display device comprising a plurality of transistors disposed in the first direction to correspond to the plurality of data pads, respectively, and configured to apply the second test enable signal only to transistors disposed at outermost sides of the plurality of transistors. . 제7항에 있어서,
상기 검사 스위칭부는,
상기 복수의 데이터 패드와 각각 대응되도록 상기 제1 방향으로 배치된 복수의 트랜지스터로 이루어진 제1 스위칭부; 및
상기 복수의 트랜지스터 중 최외곽 양측에 배치된 트랜지스터들과 연결된 제1 트랜지스터 및 제2 트랜지스터를 포함하여 구성된 제2 스위칭부를 포함하는, 표시 장치.8. The method of claim 7,
The inspection switching unit,
a first switching unit including a plurality of transistors disposed in the first direction to correspond to the plurality of data pads, respectively; and
and a second switching unit including a first transistor and a second transistor connected to transistors disposed on outermost sides of the plurality of transistors. 제9항에 있어서,
상기 제1 스위칭부에는 상기 제1 검사 인에이블 신호가 인가되고,
상기 제2 스위칭부에는 상기 제2 검사 인에이블 신호가 인가되는, 표시 장치.10. The method of claim 9,
The first test enable signal is applied to the first switching unit,
and the second test enable signal is applied to the second switching unit. 제1항에 있어서,
상기 복수의 화소 각각에 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하고,
상기 데이터 구동부는 칩 온 필름 방식으로 상기 표시 패널에 부착된, 표시 장치.According to claim 1,
Further comprising a data driver for applying a data signal to each of the plurality of pixels,
and the data driver is attached to the display panel in a chip-on-film method.
KR1020200182084A 2020-12-23 2020-12-23 Display device KR20220091003A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200182084A KR20220091003A (en) 2020-12-23 2020-12-23 Display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200182084A KR20220091003A (en) 2020-12-23 2020-12-23 Display device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220091003A true KR20220091003A (en) 2022-06-30

Family

ID=82215240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200182084A KR20220091003A (en) 2020-12-23 2020-12-23 Display device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20220091003A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20240107869A1 (en) Display device and method of fabricating the same
KR102468366B1 (en) Organic Light Emitting Diode Display Device
US9852686B2 (en) Display device including repaired defective pixels
US9262953B2 (en) Display device and display panel
US10665158B2 (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and repairing method of the same
US9406250B2 (en) Display panel and method of detecting defects thereof
US10043478B2 (en) Display device
KR20150044328A (en) Organic light emitting display
WO2020134861A1 (en) Display substrate, display device, and test method for display substrate
US20160343279A1 (en) Display device
US11930672B2 (en) Display device
US20230078752A1 (en) Display device
KR20220091003A (en) Display device
US11715427B2 (en) Display device
KR102495832B1 (en) Display device and inspection method thereof
US11187927B2 (en) Display device
KR20190048460A (en) Printed circuit, display panel and display device including the same
US20240169868A1 (en) Display panel, display panel test method, and display device
KR20170080884A (en) Array sibstrate having repair structure, display device comprising the same and method of repairing

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination